JPS62128629U - - Google Patents
Info
- Publication number
- JPS62128629U JPS62128629U JP1715986U JP1715986U JPS62128629U JP S62128629 U JPS62128629 U JP S62128629U JP 1715986 U JP1715986 U JP 1715986U JP 1715986 U JP1715986 U JP 1715986U JP S62128629 U JPS62128629 U JP S62128629U
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- etched
- sample
- photon
- reactive gas
- light beam
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000005530 etching Methods 0.000 claims description 5
- 239000010453 quartz Substances 0.000 description 1
- 239000000376 reactant Substances 0.000 description 1
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N silicon dioxide Inorganic materials O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
Landscapes
- Drying Of Semiconductors (AREA)
Description
第1図は本考案にかかるエツチング装置の概要
断面図、第2図はその回転ミラーの反射を示す斜
視図、第3図は従来のエツチング装置の概要断面
図、第4図は被エツチング試料の一例の断面図で
ある。 図において、1は真空処理室、2は被エツチン
グ試料、3はステージ、4は透明石英板、5は紫
外線または遠紫外線の光源、6は反応ガス流入口
、7は真空排気口、10はレーザ光源、11,1
2は振動ミラー、Lはレーザ光、を示している。
断面図、第2図はその回転ミラーの反射を示す斜
視図、第3図は従来のエツチング装置の概要断面
図、第4図は被エツチング試料の一例の断面図で
ある。 図において、1は真空処理室、2は被エツチン
グ試料、3はステージ、4は透明石英板、5は紫
外線または遠紫外線の光源、6は反応ガス流入口
、7は真空排気口、10はレーザ光源、11,1
2は振動ミラー、Lはレーザ光、を示している。
Claims (1)
- 反応ガス気流中に光ビームを照射し、該反応ガ
スを光量子で励起して被エツチング試料をエツチ
ングするホトンアシストエツチング装置において
、複数の振動ミラーを作動させて、前記光ビーム
の反射光をスキヤンニングし、被エツチング試料
全面に該反射光を照射するように構成したことを
特徴とするホトンアシストエツチング装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1715986U JPS62128629U (ja) | 1986-02-07 | 1986-02-07 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1715986U JPS62128629U (ja) | 1986-02-07 | 1986-02-07 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS62128629U true JPS62128629U (ja) | 1987-08-14 |
Family
ID=30809664
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1715986U Pending JPS62128629U (ja) | 1986-02-07 | 1986-02-07 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS62128629U (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH02288332A (ja) * | 1989-04-19 | 1990-11-28 | Galram Technol Ind Ltd | 半導体ウェーハからパターンが描かれた焼成後のフォトレジスト層を除去する方法 |
-
1986
- 1986-02-07 JP JP1715986U patent/JPS62128629U/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH02288332A (ja) * | 1989-04-19 | 1990-11-28 | Galram Technol Ind Ltd | 半導体ウェーハからパターンが描かれた焼成後のフォトレジスト層を除去する方法 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JPS62128629U (ja) | ||
JPS59208741A (ja) | 半導体ウエ−ハ用吸着チヤツク装置 | |
JPS63187328U (ja) | ||
JP2001149877A (ja) | 処理装置内のクリーニング方法及び装置 | |
JPS5538068A (en) | Preparation of semiconductor device | |
JPH0281036U (ja) | ||
JPS6237918U (ja) | ||
JPH0425230U (ja) | ||
JPH079884B2 (ja) | 光励起プロセス装置 | |
JPH0178027U (ja) | ||
JPS6318763U (ja) | ||
JPH031532U (ja) | ||
JPS62170760U (ja) | ||
JPS6356261U (ja) | ||
JPS62188138U (ja) | ||
JPS63200110U (ja) | ||
JPS6142141A (ja) | 選択光化学反応装置 | |
JPS6134496Y2 (ja) | ||
JPS63241929A (ja) | レジスト除去装置 | |
JPS63103738U (ja) | ||
JPH0211159U (ja) | ||
JPH0244325U (ja) | ||
PAHK | In-situ differential reflectance study of the etching of SiO 2 films(Interim Technical Report No. 29) | |
JPH01108925U (ja) | ||
JPS6276536U (ja) |