JPS62128415A - シヤドウマスク - Google Patents
シヤドウマスクInfo
- Publication number
- JPS62128415A JPS62128415A JP26907485A JP26907485A JPS62128415A JP S62128415 A JPS62128415 A JP S62128415A JP 26907485 A JP26907485 A JP 26907485A JP 26907485 A JP26907485 A JP 26907485A JP S62128415 A JPS62128415 A JP S62128415A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- length
- segregation
- thickness
- less
- rolling
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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- Heat Treatment Of Sheet Steel (AREA)
- Electrodes For Cathode-Ray Tubes (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
発明の分野
本発明は民生用及び産業用のカラー受像管に用いられる
シャドウマスクに関する。
シャドウマスクに関する。
従来、シャドウマスク用素材としてリムド鋼が用いられ
てきたが、冷延鋼板にレジスト塗布後パターンを焼付は
現像し、エツチング穿孔するというシャドウマスクの製
造工程において、エツチング穿孔時に酸化物系介在物に
よるエツチング不良が多く発生し、しかもその後のプレ
ス成形性を付与するため焼鈍を施すと降伏点伸びが発生
しやすく、プレス成形でストレッチャーストレインとい
った不良を生じやすいという間賄がある。そのため脱炭
焼鈍した極低炭素人１キルド函を使用することが多くな
っている。板厚は、エツチング性、プレス成形性、軽量
性、経済性等の観点からα３鱈以下とされている。この
脱炭Ａｌキルド餌の使用により、リムド鋼に較べればエ
ツチング不良が減少したが、それでもまだ圧延方向に平
行なスジムラと呼ばれる透過ムラが発生することが多く
、シャドウマスクとして大きな欠陥となっている。
てきたが、冷延鋼板にレジスト塗布後パターンを焼付は
現像し、エツチング穿孔するというシャドウマスクの製
造工程において、エツチング穿孔時に酸化物系介在物に
よるエツチング不良が多く発生し、しかもその後のプレ
ス成形性を付与するため焼鈍を施すと降伏点伸びが発生
しやすく、プレス成形でストレッチャーストレインとい
った不良を生じやすいという間賄がある。そのため脱炭
焼鈍した極低炭素人１キルド函を使用することが多くな
っている。板厚は、エツチング性、プレス成形性、軽量
性、経済性等の観点からα３鱈以下とされている。この
脱炭Ａｌキルド餌の使用により、リムド鋼に較べればエ
ツチング不良が減少したが、それでもまだ圧延方向に平
行なスジムラと呼ばれる透過ムラが発生することが多く
、シャドウマスクとして大きな欠陥となっている。
発明の概要
本発明者等はかかる点に鑑み、透過不良の発生原因の究
明に努めた結果、シャドウマスク材が塩化第２鉄を主体
としたエツチング液で穿孔する際に、穿孔されたエツチ
ング孔壁面が荒れ、透過光又は反射光がそこで散乱され
たり遮断されて透過不良が生じることが分った。このエ
ツチング孔壁面の荒れは、シャドウマスク材の偏析部で
エツチング性の異なる物の存在により穴状の荒れを生じ
ることにより起る。特にＭｎ及び又はＳの偏析があり、
しかもその偏析が圧延方向に伸びて偏析帯となっている
場合に透過不良が生じることを見い出したものである。
明に努めた結果、シャドウマスク材が塩化第２鉄を主体
としたエツチング液で穿孔する際に、穿孔されたエツチ
ング孔壁面が荒れ、透過光又は反射光がそこで散乱され
たり遮断されて透過不良が生じることが分った。このエ
ツチング孔壁面の荒れは、シャドウマスク材の偏析部で
エツチング性の異なる物の存在により穴状の荒れを生じ
ることにより起る。特にＭｎ及び又はＳの偏析があり、
しかもその偏析が圧延方向に伸びて偏析帯となっている
場合に透過不良が生じることを見い出したものである。
つまり本発明の要旨とするところは、偏析帯の圧延方向
の長さが３００１１１１１以下であることを特徴とする
板厚α３關以下の極低炭素Ａ１キルド冷延鋼板を用いた
シャドウマスクにある。
の長さが３００１１１１１以下であることを特徴とする
板厚α３關以下の極低炭素Ａ１キルド冷延鋼板を用いた
シャドウマスクにある。
本発明で適用される極低炭素Ａｌキルド冷延鋼板はＣ；
ａ、００５重量％以下（以後重量を省略）、Ｓｌ：α０
５％以下、Ｍｎ：α０６〜１００％、ｓ；Ｑ、ｏｏｏｓ
〜α０２００％、Ｐｉ（ＬＯＯ５〜α０１５％、５ｏｌ
Ａ１：α００５〜０．０８０％、Ｎ：α００１０〜α０
１００％、Ｃｒ：０．０２〜０．１０％そして残部Ｆ・
及び不可避的不純物から成る組成を有する。板厚は、エ
ツチング性、プレス成形性、軽量性、経済性等の観点か
らα５ ｍｓ以下とされている。
ａ、００５重量％以下（以後重量を省略）、Ｓｌ：α０
５％以下、Ｍｎ：α０６〜１００％、ｓ；Ｑ、ｏｏｏｓ
〜α０２００％、Ｐｉ（ＬＯＯ５〜α０１５％、５ｏｌ
Ａ１：α００５〜０．０８０％、Ｎ：α００１０〜α０
１００％、Ｃｒ：０．０２〜０．１０％そして残部Ｆ・
及び不可避的不純物から成る組成を有する。板厚は、エ
ツチング性、プレス成形性、軽量性、経済性等の観点か
らα５ ｍｓ以下とされている。
この極低炭素ＡＩキルトン冷延鋼板において圧延方向の
偏析帯の長さが３００藺を超えて存在する場合エツチン
グ穿孔後のクヤドウマスク孔には偏析帯の長さに比例し
た孔壁面の荒れが形成され、その結果透過不良が生じる
。また偏析帯の長さが３００關以下に制御された場合、
その部分のエツチング後の孔壁面に荒れは生じるが、欠
陥となる荒れた孔の個数が少なく、全体のシャドウマス
クの中では実用上問題にならない。
偏析帯の長さが３００藺を超えて存在する場合エツチン
グ穿孔後のクヤドウマスク孔には偏析帯の長さに比例し
た孔壁面の荒れが形成され、その結果透過不良が生じる
。また偏析帯の長さが３００關以下に制御された場合、
その部分のエツチング後の孔壁面に荒れは生じるが、欠
陥となる荒れた孔の個数が少なく、全体のシャドウマス
クの中では実用上問題にならない。
偏析は主に鋳造時の最終凝固部に鋼中の溶質元素が濃縮
しながら凝固することにより生じ、その後の熱処理等で
形を変化させながら、圧延加工により圧延方向に伸ばさ
れて偏析帯となる。従ってシャドウマスクの板厚にまで
加工された際に偏析帯の長さの短いものはその幅も厚み
も相対的に小さくなっており、偏析帯の長さを３００ｆ
ｉ以下に制御しさえすれば、透過不良には問題がない。
しながら凝固することにより生じ、その後の熱処理等で
形を変化させながら、圧延加工により圧延方向に伸ばさ
れて偏析帯となる。従ってシャドウマスクの板厚にまで
加工された際に偏析帯の長さの短いものはその幅も厚み
も相対的に小さくなっており、偏析帯の長さを３００ｆ
ｉ以下に制御しさえすれば、透過不良には問題がない。
一般的には圧延方向の偏析帯の長さが３００闘程度の場
合ｒＬ５ｆＭＩＩの板厚でその偏析帯の幅方向の拡がり
は１〜２■程度で厚みは数μ以下である。
合ｒＬ５ｆＭＩＩの板厚でその偏析帯の幅方向の拡がり
は１〜２■程度で厚みは数μ以下である。
また偏析部には鋼中の含有成分全てが偏析する可能性を
もちシャドウマスクの透過不良に対する原因となりつる
が、そのうち特にＭｎ及び又はＳが偏析帯を形成する場
合に透過不良が最も顕著である。
もちシャドウマスクの透過不良に対する原因となりつる
が、そのうち特にＭｎ及び又はＳが偏析帯を形成する場
合に透過不良が最も顕著である。
これらの具体的内容及び効果を以下の実施例を用いて説
明する。
明する。
実施例１
供試材は、低炭臓銅を２５０トン転炉で出御し、その後
、そのままＦ＠−Ｍｎ、Ａ１４を添加して成分調整を行
い、連続鋳造を行う工程、及び出鋼後ＲＨ脱ガス設備に
より炉外精錬を施し鋼を清浄化し、Ｃ，Ｐ、５ＸＡｌ等
の成分を調整し連続鋳造を行う工程の両方を実施した。
、そのままＦ＠−Ｍｎ、Ａ１４を添加して成分調整を行
い、連続鋳造を行う工程、及び出鋼後ＲＨ脱ガス設備に
より炉外精錬を施し鋼を清浄化し、Ｃ，Ｐ、５ＸＡｌ等
の成分を調整し連続鋳造を行う工程の両方を実施した。
また、連続鋳造においては偏析帯の状況を変えるため、
鋳造凝固中期から末期にかけて゛？Ｍ、磁攪拌もしくは
ロールによる軽圧下等の処理を施した。
鋳造凝固中期から末期にかけて゛？Ｍ、磁攪拌もしくは
ロールによる軽圧下等の処理を施した。
鋳造されたよ片は、Ｃ： ０． ＯＯ２〜α０５０％、
Ｓにα０５％以下、Ｍｎ：α０６〜１．００％、Ｂ ：
ｏ、 ｏ ｏ ｏ ｓ〜０．０２００％、Ｐ ： ０
．００５〜１０１５％、Ｓｏ１人１ ： ０．００５〜
０．０８０％、Ｎ ： α００１０〜α０１００ ％、
Ｃｒ ： ｃＬｏ ２〜α１０％、そして残ＷＳＦ・
及び不可避的不純物から成る組成を有する。
Ｓにα０５％以下、Ｍｎ：α０６〜１．００％、Ｂ ：
ｏ、 ｏ ｏ ｏ ｓ〜０．０２００％、Ｐ ： ０
．００５〜１０１５％、Ｓｏ１人１ ： ０．００５〜
０．０８０％、Ｎ ： α００１０〜α０１００ ％、
Ｃｒ ： ｃＬｏ ２〜α１０％、そして残ＷＳＦ・
及び不可避的不純物から成る組成を有する。
これらの鋼片を
の工程で板厚α１５ｍ１ｍ１の薄鋼板とした。偏析帯の
長さを変えるために、上記工程の熱間圧延でのスラブ加
熱温度、パススケジュール、巻取温度等を変化させると
共に脱炭焼鈍前の冷間圧延率を変えた。
長さを変えるために、上記工程の熱間圧延でのスラブ加
熱温度、パススケジュール、巻取温度等を変化させると
共に脱炭焼鈍前の冷間圧延率を変えた。
これらのα１５１Ｉｌｌ＋の鋼板のＣ量は全てα００５
％以下で、極低炭素鋼の領域であり、そのためＦ ａ
３ Ｃの存在によるエツチングのムラは光生じない。こ
れらの鋼板のコイルから第１（ａ）図に示すように圧延
方向に５０ａｌｔｌｉＩＩ隔で１０個の試料を切り出し
、第１（ｂ）図に示すように幅方向が一致するように圧
延直角方向垂直断面をそろえて（Ｑ、１５ｍ×１０枚）
、該垂直断面を研磨し、ピクリン酸水溶液に界面活性剤
を添加した腐食液で腐食し、光学顕微鏡で偏析帯を調査
した。第１（ｂ）図に模式的に示すが、圧延直角断面で
例えば３個の試料に続けて同一位置に偏析帯がＷｉ詔さ
れれば偏析帯の長さは３Ｘ５０−＝１５０ｍと走義した
。また各コイルで最も長い偏析帯を最大長さとした。こ
の偏析帯をＸ線マイクロアナライザーで分析するとＭ
ｎ Ｓが主体であり、権にＰ単独偏析やＭ ｎ Ｓに脱
Ｓ処−理時に使用し九〇ａが含まれているものがあった
。
％以下で、極低炭素鋼の領域であり、そのためＦ ａ
３ Ｃの存在によるエツチングのムラは光生じない。こ
れらの鋼板のコイルから第１（ａ）図に示すように圧延
方向に５０ａｌｔｌｉＩＩ隔で１０個の試料を切り出し
、第１（ｂ）図に示すように幅方向が一致するように圧
延直角方向垂直断面をそろえて（Ｑ、１５ｍ×１０枚）
、該垂直断面を研磨し、ピクリン酸水溶液に界面活性剤
を添加した腐食液で腐食し、光学顕微鏡で偏析帯を調査
した。第１（ｂ）図に模式的に示すが、圧延直角断面で
例えば３個の試料に続けて同一位置に偏析帯がＷｉ詔さ
れれば偏析帯の長さは３Ｘ５０−＝１５０ｍと走義した
。また各コイルで最も長い偏析帯を最大長さとした。こ
の偏析帯をＸ線マイクロアナライザーで分析するとＭ
ｎ Ｓが主体であり、権にＰ単独偏析やＭ ｎ Ｓに脱
Ｓ処−理時に使用し九〇ａが含まれているものがあった
。
これらの同一フィルから切り出した鋼板を脱脂→レジス
ト液塗布→現像→バーニング処Ｎ等の工程を経て、所定
のシャドウマスク形状のパターンにエツチング開孔し、
その後の光極の透過不良の有無をダ４査した。
ト液塗布→現像→バーニング処Ｎ等の工程を経て、所定
のシャドウマスク形状のパターンにエツチング開孔し、
その後の光極の透過不良の有無をダ４査した。
この透過不良の各コイルの発生率と前記の偏析帯の最大
長さの関係を第２図に示す。この第２図カラ明らかなよ
うに鋼板の中に存在する偏析帯の最大長さが３００１を
超えると透過不良の発生率が著しく簡くなることがわか
る。すなわち、偏析帯の長さが５ＱＱｍ以下の極低炭素
Ａｌキルド簿板金用いたシャドウマスクは欠陥が非常に
少ないことが明らかである。
長さの関係を第２図に示す。この第２図カラ明らかなよ
うに鋼板の中に存在する偏析帯の最大長さが３００１を
超えると透過不良の発生率が著しく簡くなることがわか
る。すなわち、偏析帯の長さが５ＱＱｍ以下の極低炭素
Ａｌキルド簿板金用いたシャドウマスクは欠陥が非常に
少ないことが明らかである。
実施例２゜
供試材は実施例１と同様な工程で熱間圧延及び酸洗まで
行った、表１に示す化学成分の鋼である。
行った、表１に示す化学成分の鋼である。
鋼Ａは２．８１Ｉｓ の酸洗板から０．４Ｍまで冷圧し
連続焼鈍炉で焼鈍し、調質圧延後、さらに（１１５１１
１８まで冷間圧延を行った。
連続焼鈍炉で焼鈍し、調質圧延後、さらに（１１５１１
１８まで冷間圧延を行った。
１１４ Ｂ ＋！： ｍ Ｃハ２．８ ｍ （Ｄ酸洗板
から１６５鶴まで冷圧し、オープンコイル焼鈍炉で脱炭
焼鈍を行い、Ｃを０．００１％以下まで低げた。焼鈍後
調質圧延で形状矯正し、再度冷間圧延し１１５１１１１
１厚さとした。これら３鋼種の各々の冷圧コイルの長手
方向から３個所（Ｔ、Ｍ、Ｂ）について第１図に示す検
査方法で偏析帯の最大長さを測定し、フィルの残りの部
分からシャドウマスクを製造した。
から１６５鶴まで冷圧し、オープンコイル焼鈍炉で脱炭
焼鈍を行い、Ｃを０．００１％以下まで低げた。焼鈍後
調質圧延で形状矯正し、再度冷間圧延し１１５１１１１
１厚さとした。これら３鋼種の各々の冷圧コイルの長手
方向から３個所（Ｔ、Ｍ、Ｂ）について第１図に示す検
査方法で偏析帯の最大長さを測定し、フィルの残りの部
分からシャドウマスクを製造した。
この偏析帯長さとエツチング後の透過不良率を表２に示
す。圧延方向の偏析帯の長さが３００錦を越している鋼
Ｃは透過不良率が１１％であるが、５００ ｍ１１以下
であるｍＡとｗ４Ｂは２％未−である。
す。圧延方向の偏析帯の長さが３００錦を越している鋼
Ｃは透過不良率が１１％であるが、５００ ｍ１１以下
であるｍＡとｗ４Ｂは２％未−である。
第１（＆）図は偏析帯長さの検査のだめの試料の切出し
方法を説明する説明図（斜線部が試料、５０闘間隔で１
０試料）、第１（ｂ）図は、切出した１０枚の試料集合
体（α１５闘Ｘ１０枚）による検査面と及びその一部Ａ
及びＢの拡大図（人においては偏析帯長さは５０Ｘ５＝
２５０關と５０Ｘ２＝１００ｇそしてＢにおいては偏析
帯長さは５０×５＝１ｓ ｏｘ）、そして第２図は偏析
帯長さと不良率の関係を示すグラフである。 同 風 間 弘 志（７第２図 ＋００ ２００ ３００ ４００ ５００傅折
帯の最″Ｐ、、長さ （ｍｍ） 、ｍ比方向
方法を説明する説明図（斜線部が試料、５０闘間隔で１
０試料）、第１（ｂ）図は、切出した１０枚の試料集合
体（α１５闘Ｘ１０枚）による検査面と及びその一部Ａ
及びＢの拡大図（人においては偏析帯長さは５０Ｘ５＝
２５０關と５０Ｘ２＝１００ｇそしてＢにおいては偏析
帯長さは５０×５＝１ｓ ｏｘ）、そして第２図は偏析
帯長さと不良率の関係を示すグラフである。 同 風 間 弘 志（７第２図 ＋００ ２００ ３００ ４００ ５００傅折
帯の最″Ｐ、、長さ （ｍｍ） 、ｍ比方向
Claims (1)
- （１）偏析帯の圧延方向の長さが３００ｍｍ以下である
ことを特徴とする板厚０．３ｍｍ以下の極低炭素Ａｌキ
ルド冷延鋼板を用いたシヤドウマスク。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP26907485A JPS62128415A (ja) | 1985-11-29 | 1985-11-29 | シヤドウマスク |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP26907485A JPS62128415A (ja) | 1985-11-29 | 1985-11-29 | シヤドウマスク |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62128415A true JPS62128415A (ja) | 1987-06-10 |
Family
ID=17467295
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP26907485A Pending JPS62128415A (ja) | 1985-11-29 | 1985-11-29 | シヤドウマスク |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS62128415A (ja) |
-
1985
- 1985-11-29 JP JP26907485A patent/JPS62128415A/ja active Pending
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