JPS62123309A - 光源の位置および移動速度の測定装置 - Google Patents

光源の位置および移動速度の測定装置

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JPS62123309A
JPS62123309A JP24312685A JP24312685A JPS62123309A JP S62123309 A JPS62123309 A JP S62123309A JP 24312685 A JP24312685 A JP 24312685A JP 24312685 A JP24312685 A JP 24312685A JP S62123309 A JPS62123309 A JP S62123309A
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清 名村
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の利用分野〕 本発明は光源の位置および移動速度の測定装置に係り、
特に三次元空間にある1つの点状光源の位置およびその
移動速度または三次元空間に固定されたた点状光源に対
する受光装置を搭載した機器の位置およびその移動速度
を測定するのに好適な光源の位置および移動速度の測定
装置に関するものである。
〔発明の背景〕
種々の気体、液体の粒子あるいは流体中に浮遊もしくは
移動する固体粒子または物体の3次元空間での位置およ
び移動速度あるいは移動軌跡をできるだけ正確に簡便な
手段で知ることができるならば、工業上の様々な面で有
効な利用が可能となる6そのいくつかの例を列挙すれば
、 (1)種々の流体機械の内部では、?![雑な3次元流
れの様相を呈しているが、回転中の羽根車間の流れを始
めとして有効な計測手段がないのが現状であり、これを
正確に計測し、流れを適正化することにより、流体機械
の性能をより向上させる手段を見出すこと。
(2)航空機を始め各種飛しよう物体および移動物体の
位置、速度、軌跡等に関する正確な情報を得ること。
(3)空間的に固定された基準点に対する観測者(ある
いは被測定物)の位Wおよび移動速度に関する正確な情
報を得、必要に応じて位置および移動速度をフィードバ
ックして制御することを可能にすると。
などが考えられる。しかしながら、物体の載置を測る方
法としてよく知られている通常の三角測量法等は、移動
物体の計測には不向きであり、また。
光学カメラ等による撮像面に投影された物体の移動軌跡
の記録は可能であるが、物体の三次元空間での移動軌跡
および速度を同時に知ることは困難である。また、物体
の空間での移動速度を知る方法としては、計装・26−
4 198・3月号P32〜37の前田氏によるrl、
、DV法による流動中の粒子群の径と流速の測定」と題
する論文に示してあるように、2本の同一位相のレーザ
光の交差点を通過する粒子の速度をいわゆるLDVによ
り計測する手段などがあるが、この方法は、特定の物体
の移動軌跡の測定は不可能である。
このように、それぞれの計測法には一長一短があり、特
定の物質の位置とその移動速度さらに軌跡を同時に計測
する簡便で有効な手段を見出すのは困難な状況にある。
〔発明の目的〕
本発明は上記に鑑みてなされたもので、その目的とする
ことろは、観測者に対して移動する対象物体あるいは空
間的に固定された対象物体に対する観測者の移動状態さ
らには対象物体とam者の両方が移動する場合の両者の
相対位置と速度の両方を知る方法として対象物体を1つ
の点状光源で代表して置き換え、その光源からの光を利
用して光源の位置および移動方向さらに速度を測定する
ことができる光源の位置および移動速度の測定装置を提
供することにある。
〔発明の概要〕
本発明の第1の特徴は、1つ1つの光源からの光を電気
信号に変換する微小な光電変換素子をマトリックス状に
配置して受光面を形成した光検知手段と、上記光源と上
記受光面との間に設けた光が通過する2個の光通過手段
を設けた遮光板と。
上記1つの光源からの光を上記遮光板の一方の光通過手
段を介して上記受光面上の一点に照射せしめるとともに
、同時に他方の光通過手段を介して上記光源からの光を
上記受光面上の他の一点に照射せしめ、上記マトリック
ス状に配置した各光電変換素子のうち光を受光した素子
が発する電気信号により上記受光した素子の位置と受光
時刻を検知するとともに、ある瞬間において、上記受光
面上の光が照射された2点と上記2個の光通過手段とを
それぞれ結ぶ4本の直線の上記遮光板の上記光源側にお
ける交点または距離が最も近くなる2つの直線上の位置
をもって上記光源の概略位置とし、上記光源の移動にと
もない上記受光面の上記各光電変換素子によって光が検
知される時刻の差によって上記光源の移動速度を演算す
る演算手段とを具備する構成とした点にある。第2の特
徴は、上記受光面を第1.第2の受光面に分け、上記光
源と上記第1.第2の受光面との間にそれぞれ光が通過
する1個の光通過手段を有する第1.第2の遮光板を設
け、上記1つの光源からの光を上記第1の遮光板の光通
過手段を介して上記第1の受光面上の一点に照射せしめ
るとともに、同時に上記第2の遮光板の光通過手段を介
して上記第2の受光面上の一点に照射せしめ、丘記第1
.第2の受光面の光を受光した上記光電変換素子の位置
と受光時刻を検知するとともに、ある瞬梓において。
上記第1の受光面上の受光点と上記第1の遮光板の光通
過手段とを結ぶ第1の直線と上記第2の受光面上の受光
点と上記第2の遮光板の光通過手段とを結ぶ第2の直線
との交点または距離が最も近くなる上記第1.第2の直
線上の位置をもって上記光源の概略位置とし、上記光源
の移動にともない上記第1.第2の受光面の上記各光電
変換素子によって光が検知される時刻の差によって上記
光源の移動速度を演算する演算手段を具備した構成とし
た点にある。
〔発明の実施例〕
以下本発明を第1図、第2図、第5図〜第13図に示し
た実施例におよび第3図、第4図を用いて詳細に説明す
る。
第1図は本発明の光源の位置および移動速度の測定装置
の光源からの光を検知する部分の一実施例を示す斜視図
である。光を検知する手段として光を受光して電気信号
に変換する微小な光電変換素子1が密集してマトリッヘ
状に配置され、全体として受光面2を形成したものを用
いる。このとき、受光面2上の各光電変換素子1の位置
は、各素子1の中心位置を代表点として、例えば、マト
リックス状の配置番号によって表わすことができる。次
に、1つの点状光源6からの光を受光面2で受光する場
合に、受光面2と光源6との間に遮光板3を設け、遮断
板3に2個のピンホール4゜5を設け、それぞれのピン
ホール中心位置をA。
B点とする。いま、1つの点状光源6がOxの位置から
02の位置に移動した場合を考える。01の位置から出
た光は、ピンホール4.5を介して受光面2トの2点P
1.Q1に照射される。また、Ozの位置から出た光は
、ピンホール4,5を介して受光面2上の2点I”z、
Q2に照射される。
01からOxまでの光源6の移動経路7は、同様の原理
により受光面2」二の2つの経路8,9によって表され
る。
第2図は第1図の受光面2の一実施例を示す正面図で、
受光面2の上を光源6からの照射光が2つの経路8.9
で通過したときにこれを受光する各光電変換素子1の出
力として得られる電気信号の時間的変化の例を示してあ
る。第2図において、経路8,9によって光が照射され
たときの受光信号が得られる光電変換素子1をハツチン
グを施して示してある。受光した素子1の判別方法は後
述するが、ここではそれがわかっているものとして説明
する。この場合、各光[1変換素子1はたとえ微小であ
っても、ある有限の大きさを有しているので、受光した
素子1を順次連ねても、実際の照射光の経路8,9とは
一致しないのが普通である。
また、一般に光源6は点状光源とはいつでもある有限の
大きさを持っており、その照射経路8,9も厳密な意味
での線状ではなく、ある幅を持った経路になると考えら
れ、その場合、ある瞬間では光源6から照射された光が
同時に複数個の光電変換素子1で検出されることになる
。この場合の処理の方法としては、簡単のため受光面2
が平面の場合で説明すると、第4図に示すように、受光
信号が得られた素子1の中心座標を受光面2に相当する
X−Y平面にプロットし、それらのデータ点より最小自
乗法等によって実際の光の照射経路に近い曲線10の式
を得ることができる。さて、このようにして定められた
照射光の経路から光源6の位置を算出する方法について
第5図によって説明する。前述の方法によって定められ
た光の照射経路8,9上の同時刻の点をP、Qとする。
P。
Qとピンホール4,5の中心A、Bを結ぶ3次元空間に
おける直線をPALL、QB12.PB13、QA14
とするとき、直線PAとQBの交点または直線PBとQ
Aの交点のいずれか一方がもとの光源6の位置と考える
ことができるが、この2つの交点ができるとき、その一
方は遮光板3を境にして必らず受光面2側に、他の一方
は本来の光源6側にできるので5本来の光源6側の点を
容易に判別できる1次に、上記説明では、直線PAとQ
Bまたは直線PBとQAは必ず交わると考えたが、前述
の方法で受光面2ヒで計測された照射光の経路8,9は
必ずしも真の経路ではなく。
若干の誤差を持ったものであるので、3次元空間内の直
線PAとQBまたはPBとQAとは必ずしも空間上のた
だ一点で交わるとは限らない。しかしながら、それぞれ
の2直線間の距離が非常に近くなると考えられ、そこで
、第5図において、直線PAとQBについて説明すると
、直線PAとQBの距離が最も近くなる直線PAおよび
QBJ:の点o’ 、o’をとり、実際の光源6の位置
の概略位置を表わす2点を決定できる。
このようにして、移動する光源6の実際の位置に対して
、それぞれその近傍の2点(または直線PA、QBが完
全に一点で交差する場合は1点)が対応して求められる
。これらx、y、zの3次元直交座標上の座標値のデー
タを用いて1例えば、最小自乗法などの方法を適用して
3次元空間における曲a(光源6が直線運動をしている
場合は直S)が得られ、これを光源6の軌跡を表わすも
のと考えることができる。
以上で光源6の位置を求める方法を中心に説明したが、
次に、光源6の移動速度を求める方法について述べる。
光源6の移動速度を求める方法は。
受光面2で各光電変換素子1が光源6からの光を受光し
た時刻を知ることが基本となる。第3図は第2図に対応
して各光電変換素子1から出力される電気信号の時間的
変化例を示すもので、例えばある瞬間に同時に第2図の
PL  (マトリックス上の配列でI=7.J=1)と
Ql  (マトリックス上の配列でI=12.J=2)
に光源6からの光が受光されたとすると、第3図(a)
、(b)にパルス状の信号が立ち上がる(ただし、光源
装置が移動せず、同じ光電変換素子1で連続的に受光さ
れている場合には、電気信号は受光1に瞬間にステップ
状に変化し、その後はそのままの状態を保つ。)。
同様にして他の光電変換素子1で光源6からの光が受光
される都度、同図(b)、(c)に示すように、時間的
ずれをともなってパルス状の電気信号が出力される。こ
の各光電変換素子1の電気出力信号の時間的変化を計測
することによって、各素子1が光源6の光を受光した時
刻を知ることができる。
次に、各光電変換素子1が受光した時刻を測定する具体
的な方法について第6図、第7図を用いて説明する。第
6図、第7図は信号処理系統の一実施例を示すブロック
図で、第6図では、それぞれの光電変換素子1から出力
された電気信号は、必要に応じてそれぞれ増櫂器15で
増幅され、また、波形整形器16によって整形され、ア
ナログ信号−ディジタル信号変換器(A/D変換器)1
7によりディジタル信号に変換され、そのデータがメモ
リ18に記憶される。このとき、それぞれのA/D変換
器17のサンプリングの時間間隔は、演算処理部19に
内蔵のクロック信号20により共通的に与えられ、この
サンプリングの時間間隔によって、各光電変換素子1か
らの電気信号に対応する時刻を知ることができる。なお
、第6♂ゝ 図の構成にいて、A/D変換器17を電気信号がある敷
居値レベルより大か小かを判定する機能を持ったものと
し、A/D変換器17の出力として、例えば、その敷居
値レベル以下の信号の場合は(l O”、以上の場合は
# I I+の出力が出るようにすれば、A/D変換器
17に続くメモリ18では。
電気信号に対応するディジタル信号を記憶する代りに“
0″か# I I+に対応するディジタル信号を記憶す
るだけでよく、1つのデータに対応するメモリ18のビ
ット数を最小にすることができ、メモリ18の大幅な節
減、小形化ならびにデータの書き込みと記憶されたデー
タの読み出しの大幅な高速化が可能となる。メモリ18
に記憶されたデータは、続いて演算処理装置19にて順
次読み出され、受光した素子1のマトリックス上の番地
および受光した時刻が判別され、先に述べた光源位置の
算出方法によりその位置と時刻が演算され。
その演算結果として光源1の3次元空間での位置。
軌跡、移動速度などに関する情報が表示袋ハ21により
表示される。
次に、第7図においては、光電変換素子1からの電気信
号が必要に応じて増幅器15.波形整形器16に導かれ
ることは第6図の場合と同様であるが、本構成では、演
算処理装置19からの指令により、時々刻々の時刻を表
わすディジタルのクロック信号がクロック信号発生器2
2により発せられ、各光tn変換素子1からの電気信号
は5素子1が受光して電気信号が立ち上がった瞬間にク
ロック信号を参照す機能を有する計時器23を介して受
光時刻のみをメモリ18に記憶する構成としてある0本
構成によれば、メモリ18には光電変換素子1が受光し
たときのみの時刻情報が記憶されるので、メモリ18の
大幅節減となるだけでなく、逆にある程度メモリ18の
容量を確保しておけば、比較的長時間にわたる光源6の
位置、移動速度等の軌跡の追跡に有利になる。なお、受
光が記憶された素子1の番地と記憶された時刻を演算処
理装置19に読み呂して演算し、表示装置21に演算結
果を表示する方法は、第6図の場合と同様である。
以上述べた本発明の実施例によれば、空間を移動する光
g6の瞬時瞬時の位置、移動方向および速度を3次元的
に測定することが可能となる。
なお、上記した実施例においては、1つの受光面2に対
する遮光板3上に2つのピンホール4゜5を持つものを
示したが、次に1本発明の主旨を損なうことがない他の
実施例について説明する。
第8図は本発明の他の実施例を示す第1図に相当する斜
視図で、第8図においては、受光面として最少限第1と
第2の2つの受光面2’ 、2’を設け、遮光板3’ 
、3’上にそれぞれの受光面2′。
2′に対応させたただ1個のピンホール4と5を設け、
光源6の位置、移動速度を測定するようにしてある。こ
の場合、受光面2′と2′の相対位n関係があらかじめ
正碓にわかっていることが必要である。また、遮光板3
′と3′は同一のものであっても、Zll々のものであ
ってもよいが、1つの点光源からの光がピンホール4を
介して受光面2′のみに、また、ピンホール5を介して
受光面2′のみに照射されるように配置することが必要
である。なお、各受光面2’ 、2’上には光g6から
の光の照射経路がただ1本だけ描かれるため、それぞれ
の受光点とピンホール4.5とを結ぶ2直線の交点また
は2直線の距離が最も近い2点を算出する上で有利であ
る。また、第1図および第8図に示した本発明の実施例
では、ピンホール4゜5の数を全体で2個に限定して示
したが、3個以上でもよい、しかし、この場合、その場
合、受光面2(または2′と2′)上に描かれる1つの
光源6からの光の照射経路の数が3本以上となり、それ
を用いて光WX1の位置および移動速度を算出する方法
が2個の場合よりもかなり繁雑になる。
また1以上述べた実施例では、例えば、第4図の説明で
述べたように、受光面2が回部状の場合としだが、これ
は平面に限るものではなく、曲面状であってもよい。こ
の場合、第9図(a)。
(b)かられかるように、受光面2の全体の面積が同じ
であっても1曲面状の場合は、光源6の位置および移動
速度の測定可能範囲が斜線を引いである光源位置、移動
測度可能の比較かられかるように広くなるという利点が
ある〔第9図(a)は平面の場合、同図(b)は曲面の
場合〕、ただし。
曲面の形状は、3次元的となるため、光源6からの光が
照射された受光面2上の経路から光′g6の位置および
移動速度を演算する方法が、受光面2が平面の場合より
も複雑になる。
また1以上の実施例においては、遮光板3(または3’
、3’)上に単なるピンホール4.5を設けたものにつ
いて説明したが、光源6の大きさによっては、必ずしも
点状光源となり鷺いものがあることから、受光面2(ま
たは2’、2’)に照射される光源6の像をできるだけ
小さく絞λ込むため、ピンホールの代りに可変の絞りま
たは焦点距離調節可能なレンズ系を用いるようにしても
よい。
さらに、以上述べた実施例においては、受光面2(また
は2’、2’)に直接光電変換素子1を設置するものと
して説明したが、光電変換素子1の前に光ファイバを設
置して、集合した光ファイバの端面を受光面2(または
2’、2’)としてもよい。
以下、受光面を光ファイバで形成する他の実施例につい
て図面によって説明する。第10図は受光面を形成する
光フアイババンドルの一実施例を示す斜視図で、第10
図では集合された光ファイバの一方の端面を受光面2と
して形成してあり、第11図は第10図(a)の光ファ
イバの集合体の一区画24を取り出して拡大して示した
もので、本例では、光ファイバの一区画24はさらに非
常に細い素線25の集合体で形成してあり、光ファイバ
の一区画24の一方の端面が受光面2の一部を形成して
おり、他方の端部には1個の光電変換素子1が結合して
ある。ここで、第11図の例では、光フアイバ集合体(
バンドル)の一区画の断面形状が正方形(矩形を含む)
となっているが、これを第10図(b)に示すように断
面が円形の1区画26となっている光フアイババンドル
であってもよい。また、第11−図に示したように、光
フアイババンドルの一区画24は、さらに光ファイバ素
1!25の集合体で形成されているが、光フアイバジン
ドルの一区画24自体が単一の光フアイバ素線で形成さ
れていてもよい。
また、光フアイババンドルの一区画24と光電変換素子
1とを結合するのに、第12図に示すように、光フアイ
ババンドルの一区画24の中に密集した光フアイバ素線
25の集合体を後方で2系統に分けて、それぞれ第1の
光電変換素子1′と第2の光電変換素子1′に結合する
ようにしてもよい。この場合、第1.第2の光電変換素
子1′。
1″への光フアイバ素線25の分は方は、光フアイババ
ンドルの一区画24の受光面2に配置された光フアイバ
素線25のそれぞれをできるだけランダムに2つに分け
たものとすることが望ましい。
ところで、第12図に示すように、光フアイババンドル
の一区画24に対して2個の光電変換素子1’ 、1’
を設けると、別の有利な効果を発揮させることができる
。これを第13図を用いて説明する。第13図は本発明
の他の宿場処理系統の一実施例を示すブロック図である
。第13図においては、簡単のため光フアイババンドル
の一区画24が縦、横3列ずつ合計9つある場合を例に
とり、光電変換素子1’ 、1’から得られる電気信号
の処理形態を模式的に示してある。それぞれの区画24
の光ファイバの一方の端部にはそれぞれ第1.第2の光
電変換素子1’ 、1’が結合してあり、ここでそれぞ
れの区画24の位置の表示をマトリックスの表示になら
ってArJ(I=1〜3行方向、521〜3列方向)と
表示することにする0次に、I=1の行にある各区画の
それぞれ第1の光電変換素子1′の2本のリード線を並
列的に結合して、それを信号検知部27に接続する。
同様にI=2.I=3の行にある各区画のそれぞれ第1
の光電変換素子1′の2本のリード線も並列接続してそ
れぞれ別の信号検知部28.29に接続する。一方、こ
れと全く同様にしてそれぞれ、■=1〜3の列にある各
区画の第2の光電変換素子1′を信号検知部30,31
.32に接続する。
かくして1例えば、I=2の行にある3つの区画のどれ
か1つの区画が光源6からの光を受光しても、信号検知
部28には電気信号の変化(立ち上がり)が検知され、
一方、例えば、J=3の列にある3つの区画のどれか1
つの区画が光源6からの光を受光しても、信号検知部3
2には電気信号の変化(立ち上がり)が検知されること
になる。
すなわち、例えば、I=2.、T=3の区画において、
光源6からの光を受光した場合、直ちに信号検知部28
と32で電気信号が変化し、受光した区画の番地がAz
sであることを知ることができる。
このようにして知られた受光した区画のIとJの番地を
図示しない別の記憶部に記憶し、かつ、その記憶された
時刻も合わせて記憶するとともに、それらを光源6の移
動(あるいは時間の経過)にともない時々刻々記憶する
ようにすれば、それぞれの光電変換素子に1個ずつ対応
したメモリを設置することなく、非常に簡便、かつ、迅
速に光源6の位置および移動速度を測定することが可能
となる。
なお、温室対象としては、もっばら光源という言葉で表
現したが、明るい光を発するものだけの概念に限らず、
空間的に比較的一様な明るさまたは暗さの中で明度的に
明らかに区別できる空間内のほぼ点状の物体であればよ
く、これに合致するものとしては、光を自ら発するいわ
ゆる通常の光源、蛍光体さらには一様な光の中で光を反
射する物体、一様な明るさの中で自ら光を発することも
反射することもないいわゆる暗点てあってもよい。
また、上記した各実施例では、空間を移動する光源の瞬
時瞬時の位置および移動方向、速度を3次元的に測定す
ることについて説明したが、逆に空間に固定された光源
を上記した装置を搭載した物体、機器が観測しながら移
動するとき、この物体、機器の瞬時瞬時の位置および移
動方向、速度を知ることも可能であり、さらに、光源と
これを観測する物体または機器の両方が相対的に運動す
る場合でも両者の相対位置および相対移動方向、速度を
知ることも可能である。
〔発明の効果〕
以上説明したように、本発明によれば、aiim者に対
して移動する対象物体あるいは空間的に固定された対象
物体に対するwl測者の移動状態さらには対象物体と観
測者の両方が移動する場合の両者の相対位置と速度の両
方を光源を用いて知ることができるという効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の光源の位置および移動速度の測定装置
の光源からの光を検知する部分の一実施例を示す斜視図
、第2図は第1図の受光面の一実施例を示す正面図、第
3図は第2図に対応して各光電変換素子から出力される
電気信号の時間的変化例を示す図、第4図は第2図の受
光面のX−Y平面上の受光点を表わす図、第5図は受光
点と光源の位W関係を表わす図、第6図、第7図はそれ
ぞれ本発明の装置の信号処理系統の一実施例を示すブロ
ック図、第8図は本発明の他の実施例を示す第1図に相
当する斜視図、第9図は受光面形状に関する第2図とそ
の他の実施例に関する側面図。 第10図は本発明のさらに他の実施例における光フアイ
ババンドルの一実施例を示す斜視図、第11図、第12
図はそれぞれ第10図の一部分の一実施例を示す拡大斜
視図、第13図は第12図における信号処理系の一実施
例を示すブロック図である。 1・・・光電変換素子、2・・・受光面、3・・・遮光
板、4゜5・・・ピンホール、6・・・光源、15・・
・増幅器、16・・・波形整形器、17・・・A/D変
換器、18・・・メモリ、19・・・演算処理部、20
・・・クロック信号、21・・・表示装置、22・・・
クロック信号発生器、23・・・計時器、24.26・
・・一区画、25・・・光フ(ほか1名) X    = 帛 10  ’7 早 /2 図

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、光源からの光を検知する装置において、1つ1つの
    光を電気信号に変換する微小な光電変換素子をマトリツ
    クス状に配置して受光面を形成した光検知手段と、前記
    光源と前記受光面との間に設けた光が通過する2個の光
    通過手段を有する遮光板と、前記1つの光源からの光を
    前記遮光板の一方の光通過手段を介して前記受光面上の
    一点に照射せしめるとともに、同時に他方の光通過手段
    を介して前記光源からの光を前記受光面上の他の一点に
    照射せしめ、前記マトリツクス状に配置した各光電変換
    素子のうち光を受光した素子が発する電気信号により前
    記受光した素子の位置と受光時刻を検知するとともに、
    ある瞬間において、前記受光面上の光が照射された2点
    と前記2個の光通過手段とをそれぞれ結ぶ4本の直線の
    前記遮光板の前記光源側における交点または距離が最も
    近くなる2つの直線上の位置をもつて前記光源の概略位
    置とし、前記光源の移動にともない前記受光面の前記各
    光電変換素子によつて光が検知される時刻の差によつて
    前記光源の移動速度を演算する演算手段とを具備するこ
    とを特徴とする光源の位置および移動速度の測定装置。 2、前記光通過手段はピンホールである特許請求の範囲
    第1項記載の光源の位置および移動速度の測定装置。 3、前記光通過手段は、光の絞り位置、集光レンズある
    いはその両方を備えたものである特許請求の範囲第1項
    記載の光源の位置および移動速度の測定装置。 4、前記演算手段は、前記各光電変換素子からのアナロ
    グ電気信号をそれぞれ増幅、整形する増幅整形手段と、
    該各増幅整形手段の出力をそれぞれデイジタル信号に変
    換するA/D変換器と、前記各デイジタル信号を記憶す
    る記憶手段と、前記各A/D変換器のサンプリング時間
    間隔を共通に設定するとともに、前記各記憶手段に記憶
    された前記デイジタル信号を処理して前記光源の位置と
    移動速度を演算する演算処理部とよりなり、その結果を
    表示装置に表示する構成としてある特許請求の範囲第1
    項または第2項または第3項記載の光源の位置および移
    動速度の測定装置。 5、前記演算手段は、前記各光電変換素子からのアナロ
    グ電気信号をそれぞれ増幅、整形する増幅整形手段と、
    時々刻々の時刻を表わすデイジタルクロツク信号を発生
    するクロツク信号発生器と、前記各光電変換素子が受光
    したときの電気信号の立上り瞬時に前記クロツク信号を
    参照して受光時刻と番地のみをそれぞれ前記記憶手段に
    記憶させる計時器と、前記各記憶手段に記憶された時刻
    と前記各光電変換素子の番地とから前記光源の位置と移
    動速度を演算する演算処理部とよりなり、その結果を表
    示装置に表示する構成としてある特許請求の範囲第1項
    または第2項または第3項記載の光源の位置および移動
    速度の測定装置。 6、前記受光面は、一端がそれぞれ1個の前記光電変換
    素子または対となる2個の光電変換素子に結合され他端
    が前記受光面の一部を形成するそれぞれ光フアイバを密
    集させたバンドル光フアイバの集合により形成してある
    特許請求の範囲第1項または第2項または第3項または
    第4項または第5項記載の光源の位置および移動速度の
    測定装置。 7、前記各バンドル光フアイバの一端が対となる2個の
    光電変換素子に結合されたものは、マトリツクス状の行
    と列に配置された対となる2個の光電変換素子の第1の
    光電変換素子の電気信号は位置情報の行を判定する信号
    検知器に接続され、第2の光電変換素子の電気信号は位
    置情報の列を判定する信号検知器に接続され、前記行と
    列の情報とその発生時刻を前記記憶手段に記憶する構成
    としてある特許請求の範囲第6項記載の光源の位置およ
    び移動速度の測定装置。 8、光源からの光を検知する装置において、1つ1つの
    光を電気信号に変換する微小な光電変換素子をマトリツ
    クス状に配置して第1の受光面と第2の受光面とを形成
    した光検知手段と、前記光源と前記第1、第2の受光面
    との間にそれぞれ設けた光が通過する1個の光通過手段
    を有する第1、第2の遮光板と、前記1つの光源からの
    光を前記第1の遮光板の光通過手段を介して前記第1の
    受光面上の一点に照射せしめるとともに、同時に前記第
    2の遮光板の光通過手段を介して前記第2の受光面上の
    一点に照射せしめ、前記第1、第2の受光面の光を受光
    した前記光電変換素子からの電気信号により前記受光し
    た光電変換素子の位置と受光時刻を検知するとともに、
    ある瞬間において、前記第1の受光面上の受光点と前記
    第1の遮光板の光通過手段とを結ぶ第1の直線と前記第
    2の受光面上の受光点と前記第2の遮光板の光通過手段
    とを結ぶ第2の直線との交点または距離が最も近くなる
    前記第1、第2の直線上の位置をもつて前記光源の概略
    位置とし、前記光源の移動にともない前記第1、第2の
    受光面の前記各光電変換素子によつて光が検知される時
    刻の差によつて前記光源の移動速度を演算する演算手段
    とを具備することを特徴とする光源の位置および移動速
    度の測定装置。
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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01259204A (ja) * 1988-04-08 1989-10-16 Hitachi Ltd 三次元自動位置検出装置
JPH06174463A (ja) * 1992-12-01 1994-06-24 Agency Of Ind Science & Technol 実時間3次元運動測定装置およびその方法
US5517298A (en) * 1993-06-01 1996-05-14 Virginia Tech Intellectual Properties, Inc Diode array velocimeter
KR20040027080A (ko) * 2002-09-27 2004-04-01 주식회사 포스코 수평식 루퍼의 스트립 센터링 장치

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