JPH0221523B2 - - Google Patents
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- JPH0221523B2 JPH0221523B2 JP56057749A JP5774981A JPH0221523B2 JP H0221523 B2 JPH0221523 B2 JP H0221523B2 JP 56057749 A JP56057749 A JP 56057749A JP 5774981 A JP5774981 A JP 5774981A JP H0221523 B2 JPH0221523 B2 JP H0221523B2
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light emitting
- light
- signal
- emitting elements
- circuit
- Prior art date
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- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 12
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 8
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 8
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- 230000007274 generation of a signal involved in cell-cell signaling Effects 0.000 description 4
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 230000004907 flux Effects 0.000 description 1
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01C—MEASURING DISTANCES, LEVELS OR BEARINGS; SURVEYING; NAVIGATION; GYROSCOPIC INSTRUMENTS; PHOTOGRAMMETRY OR VIDEOGRAMMETRY
- G01C15/00—Surveying instruments or accessories not provided for in groups G01C1/00 - G01C13/00
- G01C15/02—Means for marking measuring points
- G01C15/06—Surveyors' staffs; Movable markers
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01C—MEASURING DISTANCES, LEVELS OR BEARINGS; SURVEYING; NAVIGATION; GYROSCOPIC INSTRUMENTS; PHOTOGRAMMETRY OR VIDEOGRAMMETRY
- G01C15/00—Surveying instruments or accessories not provided for in groups G01C1/00 - G01C13/00
- G01C15/002—Active optical surveying means
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Radar, Positioning & Navigation (AREA)
- Remote Sensing (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は水準測量に用いる測量機械に関する。
従来の上記測量機械の例として、目盛を持つた
スタツフとこれを視準するレベルとを組合せたも
のが知られている。この測量機械においてはスタ
ツフの目盛の誤読が発生しやすい欠点がある。水
準測量においては、所定距離だけ離してスタツフ
を設置し前視・後視でスタツフの目盛を読取り、
これを繰り返し行なうことにより、数Km〜数10Km
もの水準測量を行なう場合が多い。この水準測量
の過程でスタツフの目盛を誤読するとすべての測
量をやり直さなくてはならず、誤読防止は測量能
率の上から重要な問題となるものである。そのた
めに、スタツフの目盛読取を行なう測定者とは別
に、測定結果を記入するいわゆる手薄者を従事さ
せ、極力誤読を防止する手段がとられている。こ
の時は測定者の他に手薄者を必要とする欠点があ
るだけでなく、測定者自身の誤読は相変らず避け
ることはできず、人に頼らずに自動的に誤りのな
い読取りが可能な測量機械が要求されている。そ
のため従来、レベルから水平にレーザービームを
射出してこれをスタツフ上で検出する装置が提案
されている。この装置においてはレーザー光源の
電源装置等が大型であり野外で使用する測量機械
の大きな欠点となる。またレーザービームのスタ
ツフ上のスポツト径は大きくなるので測定精度上
問題があるだけでなく、特にレベルの視準者がス
タツフ目盛を読取ることができない欠点を有す
る。
スタツフとこれを視準するレベルとを組合せたも
のが知られている。この測量機械においてはスタ
ツフの目盛の誤読が発生しやすい欠点がある。水
準測量においては、所定距離だけ離してスタツフ
を設置し前視・後視でスタツフの目盛を読取り、
これを繰り返し行なうことにより、数Km〜数10Km
もの水準測量を行なう場合が多い。この水準測量
の過程でスタツフの目盛を誤読するとすべての測
量をやり直さなくてはならず、誤読防止は測量能
率の上から重要な問題となるものである。そのた
めに、スタツフの目盛読取を行なう測定者とは別
に、測定結果を記入するいわゆる手薄者を従事さ
せ、極力誤読を防止する手段がとられている。こ
の時は測定者の他に手薄者を必要とする欠点があ
るだけでなく、測定者自身の誤読は相変らず避け
ることはできず、人に頼らずに自動的に誤りのな
い読取りが可能な測量機械が要求されている。そ
のため従来、レベルから水平にレーザービームを
射出してこれをスタツフ上で検出する装置が提案
されている。この装置においてはレーザー光源の
電源装置等が大型であり野外で使用する測量機械
の大きな欠点となる。またレーザービームのスタ
ツフ上のスポツト径は大きくなるので測定精度上
問題があるだけでなく、特にレベルの視準者がス
タツフ目盛を読取ることができない欠点を有す
る。
本発明はこれら従来の問題を解消する測量機械
を提供することを目的とするものであつて、その
構成上の特徴とするところは、スタツフを用いて
水準測量を行う測量機械において、所定間隔をも
つて配置された複数の発光素子と、上記複数の発
光素子を所定のコードにより発光させる電気回路
とを有し、上記コードは、それぞれの素子を各々
が互いに識別でき、その素子の位置を示す信号に
相当するように構成されていることである。さら
に、所定間隔をもつて複数の発光素子を配置し、
該発光素子を各々が互いに識別でき、その素子の
位置を判別可能に発光させるスタツフと、上記発
光素子からの光を集光する測定光学系と、該測定
光学系により集光された光を受光してこれを電気
信号に変換する受光部と、該受光部から上記受光
素子の位置を示す信号を識別する判別回路と、該
判別回路からの出力に基づき測定値を表示する表
示部とを有する水準儀からなることである。本発
明はこのように構成されるから、スタツフの誤読
がなく、またスタツフ・水準儀ともに従来のもの
と大きな差のない嵩・重量のものとすることがで
きる。
を提供することを目的とするものであつて、その
構成上の特徴とするところは、スタツフを用いて
水準測量を行う測量機械において、所定間隔をも
つて配置された複数の発光素子と、上記複数の発
光素子を所定のコードにより発光させる電気回路
とを有し、上記コードは、それぞれの素子を各々
が互いに識別でき、その素子の位置を示す信号に
相当するように構成されていることである。さら
に、所定間隔をもつて複数の発光素子を配置し、
該発光素子を各々が互いに識別でき、その素子の
位置を判別可能に発光させるスタツフと、上記発
光素子からの光を集光する測定光学系と、該測定
光学系により集光された光を受光してこれを電気
信号に変換する受光部と、該受光部から上記受光
素子の位置を示す信号を識別する判別回路と、該
判別回路からの出力に基づき測定値を表示する表
示部とを有する水準儀からなることである。本発
明はこのように構成されるから、スタツフの誤読
がなく、またスタツフ・水準儀ともに従来のもの
と大きな差のない嵩・重量のものとすることがで
きる。
以下本発明の実施例を図について説明する。第
１図において、スタツフ２には、例えば１cm間隔
で赤外発光ダイオード４1，４2……４oが配置さ
れ、各赤外発光ダイオード４1，４2……４oの両
側には視準用指標６が設けられている。各赤外発
光ダイオード４1，４2……４oは相互に異なつた
固有の２進法パターンによりコード化された赤外
光パルスすなわち位置信号を含む発光をなし、例
えばスタツフの測定範囲を５ｍ、赤外発光ダイオ
ードの間隔を１cmとすると上記コード化は９ビツ
トによつて行なわれることを要する。赤外発光ダ
イオード４の作動回路は、第２図に示すように、
パルス発生回路１０で発生されたパルスがコード
信号発生回路１２に出力される。コードメモリ１
４はどの発光素子にどのパルスパターンで発光さ
せるかを前もつて記憶していてそのメモリー信号
を信号発生回路１２に出力する。コード信号発生
回路１２はコード信号を発生してパラレル／シリ
アル交換回路（以下Ｐ／Ｓ回路という。）１５に
出力する。Ｒ／Ｓ回路１５は複数本のビツト信号
として構成される情報を時間経過中レベルが変化
する１本のコード信号に変換してドライバー回路
１６に出力する。ドライバー回路１６は赤外発光
ダイオード４を所定のコードによつて発光させ
る。赤外発光ダイオードは、第３図に示すよう
に、コード信号２０を発光する。コード信号２０
において、Ａ部はコード信号の開始位置を特定す
るための参照信号であり、コード信号部Ｂの最上
位ビツト位置２２を設定するために使用する。コ
ード信号部ＢではＡ部と同一のものを使用しな
い。
１図において、スタツフ２には、例えば１cm間隔
で赤外発光ダイオード４1，４2……４oが配置さ
れ、各赤外発光ダイオード４1，４2……４oの両
側には視準用指標６が設けられている。各赤外発
光ダイオード４1，４2……４oは相互に異なつた
固有の２進法パターンによりコード化された赤外
光パルスすなわち位置信号を含む発光をなし、例
えばスタツフの測定範囲を５ｍ、赤外発光ダイオ
ードの間隔を１cmとすると上記コード化は９ビツ
トによつて行なわれることを要する。赤外発光ダ
イオード４の作動回路は、第２図に示すように、
パルス発生回路１０で発生されたパルスがコード
信号発生回路１２に出力される。コードメモリ１
４はどの発光素子にどのパルスパターンで発光さ
せるかを前もつて記憶していてそのメモリー信号
を信号発生回路１２に出力する。コード信号発生
回路１２はコード信号を発生してパラレル／シリ
アル交換回路（以下Ｐ／Ｓ回路という。）１５に
出力する。Ｒ／Ｓ回路１５は複数本のビツト信号
として構成される情報を時間経過中レベルが変化
する１本のコード信号に変換してドライバー回路
１６に出力する。ドライバー回路１６は赤外発光
ダイオード４を所定のコードによつて発光させ
る。赤外発光ダイオードは、第３図に示すよう
に、コード信号２０を発光する。コード信号２０
において、Ａ部はコード信号の開始位置を特定す
るための参照信号であり、コード信号部Ｂの最上
位ビツト位置２２を設定するために使用する。コ
ード信号部ＢではＡ部と同一のものを使用しな
い。
水準儀の視準光学系３０は、第４図に示すよう
に、プレンパラレル３１、対物レンズ３２、自動
補正装置３４、合焦レンズ３６、指標３８、接眼
レンズ４０から構成される。自動補正装置３４は
水準儀が多少傾いて設置されても常に水平方向を
視準可能とするものであつて、自動水準儀の自動
補正プリズムとして公知である。指標３８は第５
図に示すパターン３９を有する。また合焦レンズ
３６と指標３８との間にはダイクロイツクミラー
４２が光軸に対し傾斜して配置され、ダイクロイ
ツクミラー４２の反射光軸上には赤外発光ダイオ
ード４により発光された光だけを通過する赤外フ
イルタ４４、絞り４６及び光検出器４８が配置さ
れている。絞り４６と指標３８とは共役関係にあ
る。絞４６は唯１個の赤外発光ダイオード４から
の光束のみを光検出器４８に入射させるためのも
ので、最も遠い視準距離例えば100ｍの視準距離
の場合の赤外発光ダイオード像の間隔よりも小さ
い直径である。水準測量においては、水準測量の
種類により視準距離が規定されており、いずれも
30ｍ〜100ｍの範囲で測量が行なわれている。プ
レンパラレル３１は視準光学系の光軸を垂直に通
過する水平軸を中心に回転可能に配置されてい
て、この回転角は回転角検出装置例えばエンコー
ダにより電気的に検出される。
に、プレンパラレル３１、対物レンズ３２、自動
補正装置３４、合焦レンズ３６、指標３８、接眼
レンズ４０から構成される。自動補正装置３４は
水準儀が多少傾いて設置されても常に水平方向を
視準可能とするものであつて、自動水準儀の自動
補正プリズムとして公知である。指標３８は第５
図に示すパターン３９を有する。また合焦レンズ
３６と指標３８との間にはダイクロイツクミラー
４２が光軸に対し傾斜して配置され、ダイクロイ
ツクミラー４２の反射光軸上には赤外発光ダイオ
ード４により発光された光だけを通過する赤外フ
イルタ４４、絞り４６及び光検出器４８が配置さ
れている。絞り４６と指標３８とは共役関係にあ
る。絞４６は唯１個の赤外発光ダイオード４から
の光束のみを光検出器４８に入射させるためのも
ので、最も遠い視準距離例えば100ｍの視準距離
の場合の赤外発光ダイオード像の間隔よりも小さ
い直径である。水準測量においては、水準測量の
種類により視準距離が規定されており、いずれも
30ｍ〜100ｍの範囲で測量が行なわれている。プ
レンパラレル３１は視準光学系の光軸を垂直に通
過する水平軸を中心に回転可能に配置されてい
て、この回転角は回転角検出装置例えばエンコー
ダにより電気的に検出される。
次に上記本発明の測量機械の作動を説明する。
スタツフ２を測点に立て、水準儀を適所に設定す
る。まずプレンパラレル１０を回転させて、第６
図に示すように、視標パターン３９が視準用視標
６の像６′を狭込むようにする。このときのプレ
ンパラレル１０の回転角は、測定値の赤外発光ダ
イオード４の間隔より小さい部分の測定値に対応
し、回転角検出装置によつて電気的に読取られ
る。視標パターン３９が視準用視標６の像６′を
狭込むと、赤外発光ダイオード４からの光束は絞
り４６を通過して光検出器４８に入射する。光検
出器４８は後に説明するパターン検出回路によつ
て各赤外発光ダイオード個有の信号パターンを判
別して、該赤外発光ダイオードのスタツフの下端
からの高さを赤外発光ダイオードの間隔の単位で
検出する。そして上記回転角検出装置の検出値と
光検出器４８の検出値とを加算して測定値とす
る。パターン検出及び加算の回路は、第７図に示
すように、光検出器４８、シリアル／パラレル交
換回路（以下Ｓ／Ｒ回路という）５０、信号識別
回路５２、加算器５４を直列に連結し、また回転
角検出装置５６、Ａ／Ｄ変換器５８及び上記加算
器５４を直列に連結し、さらに上記加算器５４は
表示回路発生回路６０及び表示器６２とに直列に
連結されている。そして光検出器４８には赤外光
によるシリアル信号が入射し、電気的に変換され
た該シリアル信号はＳ／Ｒ回路５０によつてパラ
レル信号に変換される。信号識別回路５２は上記
パラレル信号を入力されて、それが赤外発光ダイ
オード４のうちのいずれであるかを識別して、そ
の識別値を加算器５４に入力する。他方プレンパ
ラレル１０の回転角は回転角検出装置５６より検
出されてＡ／Ｄ変換器５８に入力する。AD変換
器５８からのデジタル信号は加算器５４に入力さ
れる。加算器５４は上記識別値とAD変換器から
のデジタル信号とを加算して表示信号発生回路６
０に入力し、表示信号発生回路６０は表示器６２
に所定の表示を行わせる。
スタツフ２を測点に立て、水準儀を適所に設定す
る。まずプレンパラレル１０を回転させて、第６
図に示すように、視標パターン３９が視準用視標
６の像６′を狭込むようにする。このときのプレ
ンパラレル１０の回転角は、測定値の赤外発光ダ
イオード４の間隔より小さい部分の測定値に対応
し、回転角検出装置によつて電気的に読取られ
る。視標パターン３９が視準用視標６の像６′を
狭込むと、赤外発光ダイオード４からの光束は絞
り４６を通過して光検出器４８に入射する。光検
出器４８は後に説明するパターン検出回路によつ
て各赤外発光ダイオード個有の信号パターンを判
別して、該赤外発光ダイオードのスタツフの下端
からの高さを赤外発光ダイオードの間隔の単位で
検出する。そして上記回転角検出装置の検出値と
光検出器４８の検出値とを加算して測定値とす
る。パターン検出及び加算の回路は、第７図に示
すように、光検出器４８、シリアル／パラレル交
換回路（以下Ｓ／Ｒ回路という）５０、信号識別
回路５２、加算器５４を直列に連結し、また回転
角検出装置５６、Ａ／Ｄ変換器５８及び上記加算
器５４を直列に連結し、さらに上記加算器５４は
表示回路発生回路６０及び表示器６２とに直列に
連結されている。そして光検出器４８には赤外光
によるシリアル信号が入射し、電気的に変換され
た該シリアル信号はＳ／Ｒ回路５０によつてパラ
レル信号に変換される。信号識別回路５２は上記
パラレル信号を入力されて、それが赤外発光ダイ
オード４のうちのいずれであるかを識別して、そ
の識別値を加算器５４に入力する。他方プレンパ
ラレル１０の回転角は回転角検出装置５６より検
出されてＡ／Ｄ変換器５８に入力する。AD変換
器５８からのデジタル信号は加算器５４に入力さ
れる。加算器５４は上記識別値とAD変換器から
のデジタル信号とを加算して表示信号発生回路６
０に入力し、表示信号発生回路６０は表示器６２
に所定の表示を行わせる。
第１図は本発明の実施例であるスタツフの正面
図、第２図は第１図の赤外発光ダイオードの作動
回路のブロツク図、第３図は第１図の発光ダイオ
ードの発光の波形図、第４図は本発明の実施例で
ある水準儀の光学図、第５図は第４図の指標のパ
ターン図、第６図は第４図の指標における結像状
態の説明図、第７図は第４図の水準儀の検出表示
回路のブロツク図である。 ２……スタツフ、４……赤外発光ダイオード、
６……視準用指標、１０……パルス発生回路、１
２……コード信号発生回路、１４……コードメモ
リ、１５……Ｒ／Ｓ回路、１６……ドライバー回
路、３１……プンパラレル、３２……対物レン
ズ、３４……自動補正装置。
図、第２図は第１図の赤外発光ダイオードの作動
回路のブロツク図、第３図は第１図の発光ダイオ
ードの発光の波形図、第４図は本発明の実施例で
ある水準儀の光学図、第５図は第４図の指標のパ
ターン図、第６図は第４図の指標における結像状
態の説明図、第７図は第４図の水準儀の検出表示
回路のブロツク図である。 ２……スタツフ、４……赤外発光ダイオード、
６……視準用指標、１０……パルス発生回路、１
２……コード信号発生回路、１４……コードメモ
リ、１５……Ｒ／Ｓ回路、１６……ドライバー回
路、３１……プンパラレル、３２……対物レン
ズ、３４……自動補正装置。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ スタツフを用いて水準測量を行う測量機械に
おいて、所定間隔をもつて配置された複数の発光
素子と、上記複数の発光素子を所定のコードによ
り発光させる電気回路とを有し、上記コードは、
それぞれの素子を各々が互いに識別でき、その素
子の位置を示す信号に相当するように構成されて
いることを特徴とする測量機械。 ２ 所定間隔をもつて複数の発光素子を配置し、
該発光素子を各々が互いに識別でき、その素子の
位置を判別可能に発光させるスタツフと、上記発
光素子からの光を集光する測定光学系と、該測定
光学系により集光された光を受光してこれを電気
信号に変換する受光部と、該受光部から上記受光
素子の位置を示す信号を識別する判別回路と、該
判別回路からの出力に基づき測定値を表示する表
示部とを有する水準儀からなることを特徴とする
測量機械。
Priority Applications (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56057749A JPS57172210A (en) | 1981-04-16 | 1981-04-16 | Measuring machine |
| US06/368,009 US4488050A (en) | 1981-04-16 | 1982-04-13 | Level measuring instrument having a staff with light-emitting elements |
| DE3213860A DE3213860C2 (de) | 1981-04-16 | 1982-04-15 | Nivelliereinrichtung |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56057749A JPS57172210A (en) | 1981-04-16 | 1981-04-16 | Measuring machine |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS57172210A JPS57172210A (en) | 1982-10-23 |
| JPH0221523B2 true JPH0221523B2 (ja) | 1990-05-15 |
Family
ID=13064536
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP56057749A Granted JPS57172210A (en) | 1981-04-16 | 1981-04-16 | Measuring machine |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4488050A (ja) |
| JP (1) | JPS57172210A (ja) |
| DE (1) | DE3213860C2 (ja) |
Families Citing this family (21)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CH676043A5 (ja) * | 1983-12-30 | 1990-11-30 | Wild Leitz Ag | |
| JPS623610A (ja) * | 1985-06-28 | 1987-01-09 | ライカ・ヘールブルグ・アクチエンゲゼルシヤフト | 二つの対象物の間の相対的位置を決定するための測定装置 |
| US4653910A (en) * | 1985-10-18 | 1987-03-31 | Spectra-Physics | Remote indicator for a laser alignment system |
| DE3601179A1 (de) * | 1986-01-17 | 1987-07-23 | Nestle & Fischer | Nivelliersystem mit rotierendem laserstrahl |
| DD257113A1 (de) * | 1987-01-02 | 1988-06-01 | Univ Dresden Tech | Laengenmessverfahren |
| JPH07119608B2 (ja) * | 1987-01-22 | 1995-12-20 | 株式会社オプテック | 比高測定用水準儀 |
| JPS63252216A (ja) * | 1987-04-08 | 1988-10-19 | Opt:Kk | 比高測定用水準儀 |
| US4982188A (en) * | 1988-09-20 | 1991-01-01 | Grumman Aerospace Corporation | System for measuring positional characteristics of an ejected object |
| US5031328A (en) * | 1989-10-16 | 1991-07-16 | Northrop Corporation | Illuminated optical tooling target |
| JPH086252Y2 (ja) * | 1991-06-21 | 1996-02-21 | 宣真工業株式会社 | 測量杆 |
| DE69320708T3 (de) * | 1992-06-24 | 2005-07-28 | Kabushiki Kaisha Topcon | Elektronisches Höhenmessgerät mit Höhenmesslatte |
| US5537201A (en) * | 1993-02-16 | 1996-07-16 | Kabushiki Kaisha Topcon | Electronic leveling system, electronic leveling apparatus and leveling staff |
| JP3407143B2 (ja) * | 1993-02-16 | 2003-05-19 | 株式会社トプコン | 標尺検出機能付き電子レベル及び標尺 |
| US5886776A (en) * | 1997-02-10 | 1999-03-23 | Spectra Precision, Inc. | Laser beam receiver circuit |
| DE19833996C1 (de) * | 1998-07-29 | 1999-12-09 | Zeiss Carl Jena Gmbh | Elektronisches Nivellier und Verfahren zur Videoanzielung |
| US6510615B1 (en) * | 2001-10-16 | 2003-01-28 | Gerald D. Budd | Model airplane control surface position measurement system and method |
| US6807740B2 (en) * | 2002-12-20 | 2004-10-26 | The Boeing Company | Laser alignment tool |
| DE102006030933B4 (de) * | 2005-07-19 | 2007-05-10 | Argus Geotech Gmbh | Nivellierlatte |
| KR100808468B1 (ko) | 2007-11-08 | 2008-03-03 | (주) 일신하이텍 | 지형측량 장치 |
| CN102735211A (zh) * | 2012-07-04 | 2012-10-17 | 江苏省华建建设股份有限公司 | 单人可操作式全天候水准仪 |
| CN102829757B (zh) * | 2012-08-22 | 2015-01-14 | 邹涛 | 数字水准测量系统、方法、复合编码水准标尺及其生产方法 |
Family Cites Families (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
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| DE2756364C3 (de) * | 1977-12-17 | 1989-06-29 | Ruhrkohle Ag, 4300 Essen | Fotoelektrische Nivellierlatte |
-
1981
- 1981-04-16 JP JP56057749A patent/JPS57172210A/ja active Granted
-
1982
- 1982-04-13 US US06/368,009 patent/US4488050A/en not_active Expired - Lifetime
- 1982-04-15 DE DE3213860A patent/DE3213860C2/de not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS57172210A (en) | 1982-10-23 |
| US4488050A (en) | 1984-12-11 |
| DE3213860C2 (de) | 1985-07-11 |
| DE3213860A1 (de) | 1982-11-04 |
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