JPH09325007A - ３次元位置・姿勢計測装置 - Google Patents
３次元位置・姿勢計測装置Info
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- JPH09325007A JPH09325007A JP8143980A JP14398096A JPH09325007A JP H09325007 A JPH09325007 A JP H09325007A JP 8143980 A JP8143980 A JP 8143980A JP 14398096 A JP14398096 A JP 14398096A JP H09325007 A JPH09325007 A JP H09325007A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 磁界や室温などの影響を受けずに安定して、
しかも非常に安価に３次元計測を行うことができる３次
元位置・姿勢計測装置を提供する。 【解決手段】 入力装置として投影面Ｂの中心点Ｃで直
交する直線上の等距離の位置に４個のフォトダイオード
Ｄを配置した受光センサ１、および既存のディスプレイ
装置等を用いることにより、安価に、かつ設置スペース
をあまり必要としない装置とする。また、受光センサ１
の３次元位置および姿勢は、受光センサ１による２つの
線分の４端点の観測情報を用い、この４端点に対応する
ディスプレイ装置の表示面Ｆ上の対応点を求めて、幾何
学計算で導出することで計測する。このような光学的特
徴を利用することにより、環境変動の影響を受けない、
３次元位置および姿勢の計測を可能にする。
しかも非常に安価に３次元計測を行うことができる３次
元位置・姿勢計測装置を提供する。 【解決手段】 入力装置として投影面Ｂの中心点Ｃで直
交する直線上の等距離の位置に４個のフォトダイオード
Ｄを配置した受光センサ１、および既存のディスプレイ
装置等を用いることにより、安価に、かつ設置スペース
をあまり必要としない装置とする。また、受光センサ１
の３次元位置および姿勢は、受光センサ１による２つの
線分の４端点の観測情報を用い、この４端点に対応する
ディスプレイ装置の表示面Ｆ上の対応点を求めて、幾何
学計算で導出することで計測する。このような光学的特
徴を利用することにより、環境変動の影響を受けない、
３次元位置および姿勢の計測を可能にする。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、計算機等に３次元
位置および姿勢を入力する時、必要となる３次元位置・
姿勢計測装置に関するものである。
位置および姿勢を入力する時、必要となる３次元位置・
姿勢計測装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】機械部品設計あるいは建築設計に利用さ
れるＣＡＤシステムや作業用マニピュレーターシステム
の操作、教示等では、３次元的な位置姿勢を入力するイ
ンタフェースが必要とされる。また、ＶＲ（バーチャル
・リアリティ）、家庭用ゲーム機の分野においても、３
次元入力デバイスの需要が顕在化しつつある。
れるＣＡＤシステムや作業用マニピュレーターシステム
の操作、教示等では、３次元的な位置姿勢を入力するイ
ンタフェースが必要とされる。また、ＶＲ（バーチャル
・リアリティ）、家庭用ゲーム機の分野においても、３
次元入力デバイスの需要が顕在化しつつある。
【０００３】現在、ＣＡＤシステム等に利用されるイン
タフェースはマウス、タブレット等で２次元的に操作す
るものが主流であり、３次元的操作を行うものは少な
い。３次元デバイスを入力する装置としては、磁場計測
方式、音響方式、マニピュレータ方式等のものが発売さ
れているが、外乱の影響を著しく受けるものが多く、ま
たほとんどがパーソナルユースに購入可能な価格ではな
い。
タフェースはマウス、タブレット等で２次元的に操作す
るものが主流であり、３次元的操作を行うものは少な
い。３次元デバイスを入力する装置としては、磁場計測
方式、音響方式、マニピュレータ方式等のものが発売さ
れているが、外乱の影響を著しく受けるものが多く、ま
たほとんどがパーソナルユースに購入可能な価格ではな
い。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】上記従来から市販され
ている３次元入力装置として、磁場計測方式の装置は、
空間中の磁場変動を計測するため、金属部品、電子機
器、地磁気などの影響を受ける。また、音響方式の装置
は、音波の位相あるいは到達時間を計測するため、室内
の気圧、温度の影響を受ける。また、両方式とも、発生
装置および検波装置の組みを必要とするため、大がかり
な設置スペースを要求する。さらにマニピュレータ方式
の装置は、複数の可動部を要するため、頻繁な使用には
メンテナンス問題、精度補償問題などが起こる。
ている３次元入力装置として、磁場計測方式の装置は、
空間中の磁場変動を計測するため、金属部品、電子機
器、地磁気などの影響を受ける。また、音響方式の装置
は、音波の位相あるいは到達時間を計測するため、室内
の気圧、温度の影響を受ける。また、両方式とも、発生
装置および検波装置の組みを必要とするため、大がかり
な設置スペースを要求する。さらにマニピュレータ方式
の装置は、複数の可動部を要するため、頻繁な使用には
メンテナンス問題、精度補償問題などが起こる。
【０００５】本発明は、磁界や室温などの影響を受けず
に安定して、しかも非常に安価に３次元計測を行うこと
ができる３次元位置・姿勢計測装置を提供することを目
的とする。
に安定して、しかも非常に安価に３次元計測を行うこと
ができる３次元位置・姿勢計測装置を提供することを目
的とする。
【０００６】
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
め、本発明は、ディスプレイ装置に対する受光センサの
３次元位置と姿勢を計測する３次元位置・姿勢計測装置
であって、前記受光センサ内の投影面上に４個の受光素
子を設置し、一定周期で走査する前記ディスプレイ装置
表示面上のビームが前記各受光素子を通過する時刻に基
づき、前記各受光素子に対応した該通過する時のビーム
のディスプレイ装置表示面上の２次元座標値を求める手
段と、該２次元座標値に基づき前記受光センサの前記デ
ィスプレイ装置表示面を基準とした３次元位置と姿勢を
求める手段と、を有することを特徴とする。
め、本発明は、ディスプレイ装置に対する受光センサの
３次元位置と姿勢を計測する３次元位置・姿勢計測装置
であって、前記受光センサ内の投影面上に４個の受光素
子を設置し、一定周期で走査する前記ディスプレイ装置
表示面上のビームが前記各受光素子を通過する時刻に基
づき、前記各受光素子に対応した該通過する時のビーム
のディスプレイ装置表示面上の２次元座標値を求める手
段と、該２次元座標値に基づき前記受光センサの前記デ
ィスプレイ装置表示面を基準とした３次元位置と姿勢を
求める手段と、を有することを特徴とする。
【０００７】また、前記受光センサは、指先または身体
の一部への装着手段あるいは手または身体の一部で把持
可能とする手段を有するのが、計算機等へ３次元位置・
姿勢を入力する場合に好適である。
の一部への装着手段あるいは手または身体の一部で把持
可能とする手段を有するのが、計算機等へ３次元位置・
姿勢を入力する場合に好適である。
【０００８】また、前記受光センサ内の４個の受光素子
は、投影面の中心点から直交した直線上の等距離の位置
に設置した、ことを特徴とする。
は、投影面の中心点から直交した直線上の等距離の位置
に設置した、ことを特徴とする。
【０００９】また、前記４個の受光素子に代えて、１個
の受光素子を配置するとともに、該受光素子の手前に４
個のピンホールを配置し、２次元座標値を求める手段
が、一定周期で走査するディスプレイ装置表示面上のビ
ームが前記各ピンホールを通過する時刻に基づき、前記
各ピンホールに対応した該通過する時のビームのディス
プレイ装置表示面上の２次元座標値を求めるものであ
る、としてもよい。
の受光素子を配置するとともに、該受光素子の手前に４
個のピンホールを配置し、２次元座標値を求める手段
が、一定周期で走査するディスプレイ装置表示面上のビ
ームが前記各ピンホールを通過する時刻に基づき、前記
各ピンホールに対応した該通過する時のビームのディス
プレイ装置表示面上の２次元座標値を求めるものであ
る、としてもよい。
【００１０】また、ディスプレイ装置が、ラスタスキャ
ン方式ディスプレイ装置であり、２次元座標値を求める
手段が、一定周期で走査する前記ディスプレイ装置表示
面上のビームが４個の受光素子または４個のピンホール
を通過する時のディスプレイ装置表示面上の位置をディ
スプレイ装置のスキャン信号検出時間により求めるもの
である、ことを特徴とする。
ン方式ディスプレイ装置であり、２次元座標値を求める
手段が、一定周期で走査する前記ディスプレイ装置表示
面上のビームが４個の受光素子または４個のピンホール
を通過する時のディスプレイ装置表示面上の位置をディ
スプレイ装置のスキャン信号検出時間により求めるもの
である、ことを特徴とする。
【００１１】さらに、振動等による外乱影響を回避する
手段を有するのが、安定した計測を行う点で好適であ
る。
手段を有するのが、安定した計測を行う点で好適であ
る。
【００１２】本発明では、入力装置として４個の受光素
子または１個の受光素子と４個のピンホールからなる受
光センサ、および既存のディスプレイ装置等を用いるこ
とにより、安価に、かつ設置スペースをあまり必要とし
ない、計算機等への３次元位置・姿勢の入力手段を提供
する。また、受光センサの３次元位置および姿勢は、受
光センサによる２つの線分の４端点の観測情報を用い、
この４端点に対応するディスプレイ装置上の対応点を求
めて、幾何学計算で導出することで計測するという光学
的特徴を利用することにより、従来手法に見られた環境
変動の影響を受けない３次元位置および姿勢の入力手段
を提供する。また、ディスプレイ装置表示面で走査され
るビームのスポットを受光センサで感知した観測情報を
用いることで、照明変動による計算誤差をも低減してい
る。
子または１個の受光素子と４個のピンホールからなる受
光センサ、および既存のディスプレイ装置等を用いるこ
とにより、安価に、かつ設置スペースをあまり必要とし
ない、計算機等への３次元位置・姿勢の入力手段を提供
する。また、受光センサの３次元位置および姿勢は、受
光センサによる２つの線分の４端点の観測情報を用い、
この４端点に対応するディスプレイ装置上の対応点を求
めて、幾何学計算で導出することで計測するという光学
的特徴を利用することにより、従来手法に見られた環境
変動の影響を受けない３次元位置および姿勢の入力手段
を提供する。また、ディスプレイ装置表示面で走査され
るビームのスポットを受光センサで感知した観測情報を
用いることで、照明変動による計算誤差をも低減してい
る。
【００１３】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施形態例を、図
を用いて詳細に説明する。
を用いて詳細に説明する。
【００１４】図１に本発明の一実施形態例の概略図を示
す。本実施形態例では、計算機に、３次元の位置および
姿勢情報を入力することを目的とした３次元ポインター
を例として述べる。
す。本実施形態例では、計算機に、３次元の位置および
姿勢情報を入力することを目的とした３次元ポインター
を例として述べる。
【００１５】図１中、１は受光センサ、１０はラスタス
キャン方式ディスプレイ（以下、ディスプレイと略記す
る）、１３は３次元位置出力装置である。
キャン方式ディスプレイ（以下、ディスプレイと略記す
る）、１３は３次元位置出力装置である。
【００１６】本発明の基本原理は、ディスプレイ１０の
表示面上に描画された図形等を、受光センサ１で観測
し、その観測情報および描画情報を３次元位置出力装置
１３で処理し、受光センサ１の位置および姿勢を出力す
る。本実施形態例では、受光センサ１を複数のフォトダ
イオードを組み合わせた装置とし、ディスプレイ１０を
ラスタスキャン方式ディスプレイとしている。
表示面上に描画された図形等を、受光センサ１で観測
し、その観測情報および描画情報を３次元位置出力装置
１３で処理し、受光センサ１の位置および姿勢を出力す
る。本実施形態例では、受光センサ１を複数のフォトダ
イオードを組み合わせた装置とし、ディスプレイ１０を
ラスタスキャン方式ディスプレイとしている。
【００１７】受光センサ１の概略図を図２に示す。図２
中、Ａはレンズ、ＢはレンズＡを通過した光の投影面、
Ｃはレンズ光軸と投影面Ｂが交わる中心点、Ｄはフォト
ダイオード、Ｆはラスタスキャン方式ディスプレイの表
示面である。フォトダイオードＤは、投影面Ｂの中心点
Ｃから十字方向の位置に４個設置されている。表示面Ｆ
は、一定周期で電子ビームの照射を受けており、矢印Ｇ
のように高輝度スポットが高速移動することになる。
中、Ａはレンズ、ＢはレンズＡを通過した光の投影面、
Ｃはレンズ光軸と投影面Ｂが交わる中心点、Ｄはフォト
ダイオード、Ｆはラスタスキャン方式ディスプレイの表
示面である。フォトダイオードＤは、投影面Ｂの中心点
Ｃから十字方向の位置に４個設置されている。表示面Ｆ
は、一定周期で電子ビームの照射を受けており、矢印Ｇ
のように高輝度スポットが高速移動することになる。
【００１８】ここで、任意のダイオードＤとレンズＡの
中心を結ぶ直線と表示面Ｆの交点（例えばＨ）上を高輝
度スポットが通過した時、フォトダイオードＤの出力
は、図３に示すようなピークを持つ。このピークの発生
した時間とディスプレイの表示面Ｆの垂直表示開始時間
のタイムラグを求めることで、画面上のどこが交点であ
ったかを計測することができる。この計測は、３次元位
置出力装置１３でなされる。
中心を結ぶ直線と表示面Ｆの交点（例えばＨ）上を高輝
度スポットが通過した時、フォトダイオードＤの出力
は、図３に示すようなピークを持つ。このピークの発生
した時間とディスプレイの表示面Ｆの垂直表示開始時間
のタイムラグを求めることで、画面上のどこが交点であ
ったかを計測することができる。この計測は、３次元位
置出力装置１３でなされる。
【００１９】図４は、３次元位置出力装置１３の構成を
示す図である。カウンタ８はパルス発生器９の信号を計
数し、ディスプレイ１０の垂直描画開始信号をリセット
信号として自動カウントを行う。出力は、ＡＮＤゲート
４ａ〜４ｄに送られる。ディスプレイ１０に向けられた
フォトダイオードを含む受光部１ａ〜１ｄの電圧変化
は、増幅器２ａ〜２ｄによって増幅され、その変化の最
大をピーク検出器３ａ〜３ｄで検出する。ピーク検出器
３ａ〜３ｄは、しきい値設定部１１で定めた値を越える
と出力側よりローレベル信号を出力し、ディスプレイ１
０の垂直描画開始信号を受けてハイレベル信号を出力す
る。ＡＮＤゲート４ａ〜４ｄはピーク検出器３ａ〜３ｄ
の信号を受け不能動化あるいは能動化する。したがっ
て、カウンタ８は、ディスプレイ１０の垂直描画が開始
されてから受光部１ａから１ｄが反応を受けるまでの時
間を２次元位置換算回路５の入力に個別に送ることがで
きる。２次元位置換算回路５は、相関値設定部７で定め
た値に従い、カウンタ８の値をディスプレイ上での２次
元座標に変換する。３次元位置姿勢演算回路６は、２次
元位置換算回路５により出力される座標値の組を用い
て、文献「加藤晃市他“能動的図形更新によるカメラキ
ャリブレーション”電子情報通信学会、信学技報、ＰＲ
Ｕ９４−１１２（１９９５−０１）、３９〜４６頁」や
特平願６−６０６５８号に示されているような演算手法
で受光センサ１の３次元位置および姿勢を計算し出力す
る。図中、１２は、手ぶれ等の振動影響を軽減するため
の回路であり、以下の原理で動作する。まず、キャリブ
レーションモードにおいて、装置側から人間に対し受光
センサ１の移動および停止さらに回転および停止を指示
し、その際に発生した移動、停止時のノイズ的な微小位
置変動距離および回転を閾値として設定する。次に、実
際の計測に際し、この閾値を越えて受光センサ１の移動
および回転が発生した場合のみその計測結果を出力し、
閾値以下の場合は手振れ等による振動と判断して前の計
測結果を保持して出力する。
示す図である。カウンタ８はパルス発生器９の信号を計
数し、ディスプレイ１０の垂直描画開始信号をリセット
信号として自動カウントを行う。出力は、ＡＮＤゲート
４ａ〜４ｄに送られる。ディスプレイ１０に向けられた
フォトダイオードを含む受光部１ａ〜１ｄの電圧変化
は、増幅器２ａ〜２ｄによって増幅され、その変化の最
大をピーク検出器３ａ〜３ｄで検出する。ピーク検出器
３ａ〜３ｄは、しきい値設定部１１で定めた値を越える
と出力側よりローレベル信号を出力し、ディスプレイ１
０の垂直描画開始信号を受けてハイレベル信号を出力す
る。ＡＮＤゲート４ａ〜４ｄはピーク検出器３ａ〜３ｄ
の信号を受け不能動化あるいは能動化する。したがっ
て、カウンタ８は、ディスプレイ１０の垂直描画が開始
されてから受光部１ａから１ｄが反応を受けるまでの時
間を２次元位置換算回路５の入力に個別に送ることがで
きる。２次元位置換算回路５は、相関値設定部７で定め
た値に従い、カウンタ８の値をディスプレイ上での２次
元座標に変換する。３次元位置姿勢演算回路６は、２次
元位置換算回路５により出力される座標値の組を用い
て、文献「加藤晃市他“能動的図形更新によるカメラキ
ャリブレーション”電子情報通信学会、信学技報、ＰＲ
Ｕ９４−１１２（１９９５−０１）、３９〜４６頁」や
特平願６−６０６５８号に示されているような演算手法
で受光センサ１の３次元位置および姿勢を計算し出力す
る。図中、１２は、手ぶれ等の振動影響を軽減するため
の回路であり、以下の原理で動作する。まず、キャリブ
レーションモードにおいて、装置側から人間に対し受光
センサ１の移動および停止さらに回転および停止を指示
し、その際に発生した移動、停止時のノイズ的な微小位
置変動距離および回転を閾値として設定する。次に、実
際の計測に際し、この閾値を越えて受光センサ１の移動
および回転が発生した場合のみその計測結果を出力し、
閾値以下の場合は手振れ等による振動と判断して前の計
測結果を保持して出力する。
【００２０】このような構成の３次元位置出力装置１３
の３次元位置姿勢演算回路６による、受光センサの位置
姿勢計測の具体的な動作は、次のとおりである。ピーク
検出器３ａ〜３ｄにより、４ａ〜４ｄのＡＮＤゲートが
能動化され、カウンタ８の値が２次元位置換算回路５に
送られる。この時、カウンタ８の値は各受光部１ａ〜１
ｄの延長線上をスポット光が通過した時間を示してい
る。ここで、カウンタ８の値をディスプレイ１０の水平
同期時間で割った時の、商がＹ座標値、余りがＸ座標値
となる。上記の計測を、図２中の受光センサの投影面Ｂ
の中心点Ｃから等距離になる４個のフォトダイオードＤ
で行えば、受光センサ１上で見かけの角度で垂直に交わ
る線分の端点の組が得られる。この座標データに対し
て、例えば上記文献等による演算方法を使えば、ディス
プレイ表示面Ｆを基準として受光センサ１の３次元位置
および姿勢を幾何学計算によって導出し計測することが
可能である。
の３次元位置姿勢演算回路６による、受光センサの位置
姿勢計測の具体的な動作は、次のとおりである。ピーク
検出器３ａ〜３ｄにより、４ａ〜４ｄのＡＮＤゲートが
能動化され、カウンタ８の値が２次元位置換算回路５に
送られる。この時、カウンタ８の値は各受光部１ａ〜１
ｄの延長線上をスポット光が通過した時間を示してい
る。ここで、カウンタ８の値をディスプレイ１０の水平
同期時間で割った時の、商がＹ座標値、余りがＸ座標値
となる。上記の計測を、図２中の受光センサの投影面Ｂ
の中心点Ｃから等距離になる４個のフォトダイオードＤ
で行えば、受光センサ１上で見かけの角度で垂直に交わ
る線分の端点の組が得られる。この座標データに対し
て、例えば上記文献等による演算方法を使えば、ディス
プレイ表示面Ｆを基準として受光センサ１の３次元位置
および姿勢を幾何学計算によって導出し計測することが
可能である。
【００２１】ここで、上記文献等の演算方法の原理を簡
単に説明する。受光センサ上で見かけの角度で垂直に等
間隔に交わる線分の端点の組は、ディスプレイ表示面上
では、角度θで交わる線分の端点の組であり、これらの
ディスプレイ表示面上の端点は受光センサの３次元空間
上の位置を頂点とする円錐の断面上の点である。なお、
等間隔でない場合は、楕円錐の断面上の点である。この
円錐の頂点とディスプレイ表示面上の線分の交点を結ぶ
直線はこの円錐の軸であり、この軸を含む円錐の断面は
３角形となり、その軸は頂角の２等分線である。従っ
て、この頂角を挟む２辺の比はディスプレイ表示面上の
交点での線分の比となる。この条件から受光センサの位
置の存在範囲を求めると、ディスプレイ表示面上の上記
２つの線分の延長上にそれぞれ中心をもつ２つの球の交
わる円上に拘束される。一方、２直線が直交するように
観測される受光センサの位置は、ディスプレイ表示面上
の上記線分の交点を頂点としたｃｏｓ（ｓｉｎ-1（ｔａ
ｎ（θ／２）））：１である楕円を底面とする楕円錐の
表面上にある。この楕円錐の表面と前述した円は２点で
交わり、この内ディスプレイ表示面方向に位置する点が
受光センサの位置である。以上のように、ディスプレイ
表示面上の対応点の位置情報から、ディスプレイ表示面
に対する受光センサの位置が幾何学的に計算可能であ
る。
単に説明する。受光センサ上で見かけの角度で垂直に等
間隔に交わる線分の端点の組は、ディスプレイ表示面上
では、角度θで交わる線分の端点の組であり、これらの
ディスプレイ表示面上の端点は受光センサの３次元空間
上の位置を頂点とする円錐の断面上の点である。なお、
等間隔でない場合は、楕円錐の断面上の点である。この
円錐の頂点とディスプレイ表示面上の線分の交点を結ぶ
直線はこの円錐の軸であり、この軸を含む円錐の断面は
３角形となり、その軸は頂角の２等分線である。従っ
て、この頂角を挟む２辺の比はディスプレイ表示面上の
交点での線分の比となる。この条件から受光センサの位
置の存在範囲を求めると、ディスプレイ表示面上の上記
２つの線分の延長上にそれぞれ中心をもつ２つの球の交
わる円上に拘束される。一方、２直線が直交するように
観測される受光センサの位置は、ディスプレイ表示面上
の上記線分の交点を頂点としたｃｏｓ（ｓｉｎ-1（ｔａ
ｎ（θ／２）））：１である楕円を底面とする楕円錐の
表面上にある。この楕円錐の表面と前述した円は２点で
交わり、この内ディスプレイ表示面方向に位置する点が
受光センサの位置である。以上のように、ディスプレイ
表示面上の対応点の位置情報から、ディスプレイ表示面
に対する受光センサの位置が幾何学的に計算可能であ
る。
【００２２】なお、上記の実施例では４端点を４個の受
光部で検出する例を示したが、受光部は１個として、レ
ンズ面に、あるいはレンズに代えて４つのピンホールを
設け、各ピンホールと受光部を結ぶ直線上をディスプレ
イ装置表示面上のビームが通過するのを観測して４端点
を検出するようにすることができる。
光部で検出する例を示したが、受光部は１個として、レ
ンズ面に、あるいはレンズに代えて４つのピンホールを
設け、各ピンホールと受光部を結ぶ直線上をディスプレ
イ装置表示面上のビームが通過するのを観測して４端点
を検出するようにすることができる。
【００２３】
【発明の効果】本発明によれば、光学的に受光センサの
位置姿勢情報が得られるため、磁界や室温などの影響を
受けずに安定して３次元計測を行うことができる。ま
た、コンピュータなどへの３次元入力を想定した場合、
受光センサ以外は既存の装置を利用して構築することが
可能であるため、非常に安価で提供することができる。
位置姿勢情報が得られるため、磁界や室温などの影響を
受けずに安定して３次元計測を行うことができる。ま
た、コンピュータなどへの３次元入力を想定した場合、
受光センサ以外は既存の装置を利用して構築することが
可能であるため、非常に安価で提供することができる。
【図１】本発明の一実施形態例を示す概略図である。
【図２】上記実施形態例における受光センサの概略構成
を示す図である。
を示す図である。
【図３】上記受光センサを構成するフォトダイオードの
電圧変化を示す図である。
電圧変化を示す図である。
【図４】上記実施形態例の３次元位置・姿勢計測装置の
ブロック構成図である。
ブロック構成図である。
１…受光センサ １ａ〜１ｄ…受光部 ２ａ〜２ｄ…増幅器 ３ａ〜３ｄ…ピーク検出器 ４ａ〜４ｄ…ＡＮＤゲート ５…２次元位置換算回路 ６…３次元位置姿勢演算回路 ７…相関値設定部 ８…カウンタ ９…パルス発生器 １０…ディスプレイ １１…しきい値設定部 １２…外乱変動制御部 １３…３次元位置出力装置
Claims (6)
- 【請求項１】 ディスプレイ装置に対する受光センサの
３次元位置と姿勢を計測する３次元位置・姿勢計測装置
であって、 前記受光センサ内の投影面上に４個の受光素子を設置
し、 一定周期で走査する前記ディスプレイ装置表示面上のビ
ームが前記各受光素子を通過する時刻に基づき、前記各
受光素子に対応した該通過する時のビームのディスプレ
イ装置表示面上の２次元座標値を求める手段と、 該２次元座標値に基づき前記受光センサの前記ディスプ
レイ装置表示面を基準とした３次元位置と姿勢を求める
手段と、を有する、 ことを特徴とする３次元位置・姿勢計測装置。 - 【請求項２】 受光センサが、指先または身体の一部へ
の装着手段あるいは手または身体の一部で把持可能とす
る手段を有する、 ことを特徴とする請求項１記載の３次元位置・姿勢計測
装置。 - 【請求項３】 受光センサ内の４個の受光素子は、投影
面の中心点から直交した直線上の等距離の位置に設置し
た、 ことを特徴とする請求項１記載の３次元位置・姿勢計測
装置。 - 【請求項４】 ４個の受光素子に代えて、１個の受光素
子を配置するとともに、該受光素子の手前に４個のピン
ホールを配置し、 ２次元座標値を求める手段が、一定周期で走査するディ
スプレイ装置表示面上のビームが前記各ピンホールを通
過する時刻に基づき、前記各ピンホールに対応した該通
過する時のビームのディスプレイ装置表示面上の２次元
座標値を求めるものである、 ことを特徴とする請求項１または３に記載の３次元位置
・姿勢計測装置。 - 【請求項５】 ディスプレイ装置が、ラスタスキャン方
式ディスプレイ装置であり、 ２次元座標値を求める手段が、一定周期で走査する前記
ディスプレイ装置表示面上のビームが４個の受光素子ま
たは４個のピンホールを通過する時のディスプレイ装置
表示面上の位置をディスプレイ装置のスキャン信号検出
時間により求めるものである、 ことを特徴とする請求項１または３または４に記載の３
次元位置・姿勢計測装置。 - 【請求項６】 振動による外乱影響を回避する手段を有
する、 ことを特徴とする請求項１記載の３次元位置・姿勢計測
装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14398096A JP3299441B2 (ja) | 1996-06-06 | 1996-06-06 | ３次元位置・姿勢計測装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14398096A JP3299441B2 (ja) | 1996-06-06 | 1996-06-06 | ３次元位置・姿勢計測装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH09325007A true JPH09325007A (ja) | 1997-12-16 |
| JP3299441B2 JP3299441B2 (ja) | 2002-07-08 |
Family
ID=15351524
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP14398096A Expired - Lifetime JP3299441B2 (ja) | 1996-06-06 | 1996-06-06 | ３次元位置・姿勢計測装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3299441B2 (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP1091315A2 (en) * | 1999-10-05 | 2001-04-11 | Nippon Telegraph and Telephone Corporation | Input device for 3-D translation and rotation of an image |
| JP2011232335A (ja) * | 2010-04-26 | 2011-11-17 | Samsung Electronics Co Ltd | 位置および方向を推定するシステムおよび方法 |
| CN108613625A (zh) * | 2018-05-03 | 2018-10-02 | 艾律有限责任公司 | 一种利用增强现实技术的测量设备及其测量方法 |
-
1996
- 1996-06-06 JP JP14398096A patent/JP3299441B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP1091315A2 (en) * | 1999-10-05 | 2001-04-11 | Nippon Telegraph and Telephone Corporation | Input device for 3-D translation and rotation of an image |
| EP1091315A3 (en) * | 1999-10-05 | 2004-02-04 | Nippon Telegraph and Telephone Corporation | Input device for 3-D translation and rotation of an image |
| US6710765B1 (en) * | 1999-10-05 | 2004-03-23 | Nippon Telegraph And Telephone Corporation | Input device of 3-D translation and rotation and its method and recording medium |
| US7253801B2 (en) | 1999-10-05 | 2007-08-07 | Nippon Telegraph And Telephone Corporation | Input device of 3-D translation and rotation and its method and recording medium |
| JP2011232335A (ja) * | 2010-04-26 | 2011-11-17 | Samsung Electronics Co Ltd | 位置および方向を推定するシステムおよび方法 |
| CN108613625A (zh) * | 2018-05-03 | 2018-10-02 | 艾律有限责任公司 | 一种利用增强现实技术的测量设备及其测量方法 |
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| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3299441B2 (ja) | 2002-07-08 |
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