JPS62119449A - 基質分析装置の校正方法 - Google Patents
基質分析装置の校正方法Info
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- JPS62119449A JPS62119449A JP60260552A JP26055285A JPS62119449A JP S62119449 A JPS62119449 A JP S62119449A JP 60260552 A JP60260552 A JP 60260552A JP 26055285 A JP26055285 A JP 26055285A JP S62119449 A JPS62119449 A JP S62119449A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
従来、この種の分析装置の校正に際して、２点校正を行
う場合、低濃度および高濃度の標準液についてそれぞれ
１回の測定を行い、その測定値を用いて校正係数を算出
する方法がとられてきたが、かかる方法においては、電
極の不安定に起因するノイズや、試料量の影響を受けや
すく、得られた校正係数を用いて算出された分析値は精
度の低いものとなる。特に、分析装置に電源を投入した
後の最初の標準液の測定は、電極の安定度、温度変化、
測定セル内の気泡等の影響を受けやすく、校正係数を算
出するためのデータとして適さない場合がある。
う場合、低濃度および高濃度の標準液についてそれぞれ
１回の測定を行い、その測定値を用いて校正係数を算出
する方法がとられてきたが、かかる方法においては、電
極の不安定に起因するノイズや、試料量の影響を受けや
すく、得られた校正係数を用いて算出された分析値は精
度の低いものとなる。特に、分析装置に電源を投入した
後の最初の標準液の測定は、電極の安定度、温度変化、
測定セル内の気泡等の影響を受けやすく、校正係数を算
出するためのデータとして適さない場合がある。
本発明は、上記の点にかんがみてなされたものであって
、測定電極が不安定な時に測定したデータを用いずに、
正確な校正係数を簡単な操作によって得られるような基
質分析装置の校正方法を提供することを目的とする。
、測定電極が不安定な時に測定したデータを用いずに、
正確な校正係数を簡単な操作によって得られるような基
質分析装置の校正方法を提供することを目的とする。
本発明は、酵素の作用によって試料中の基質が過酸化水
素に変換される際の測定電極（酵素電極。 センサ）の出力に基づいて試料中の基質の定量を行う基
質分析装置を使用する際、予め測定電極の出力の逆数（
１／Ｄ）と基質濃度の逆数（１／Ｓ）とを関係づける（
１１式、 １／Ｄ＝１／Ｖｍ十Ｋｍ／ （Ｖｍ−３） −・−＜
１）の校正係数Ｋｍ、Ｖｍを求める過程で（即ち基質分
析装置の校正を行う過程で）、低基質濃度と高基質濃度
の標準液それぞれについて複数回の測定を行い、低基質
濃度の標準液と高基質濃度の標準液それぞれについて電
極出力の平均値を求める際に、基質分析装置の標準液値
設定スイッチの設定値に基づいて、先に測定される標準
液についての最後の測定を含む連続した所定回の測定に
よって得られた所定個の測定値を用いて、先に測定され
る所定濃度の標準液の電極出力の平均値を求め、これを
校正係数の算出に使用して基質分析装置の校正を行うも
のである。
素に変換される際の測定電極（酵素電極。 センサ）の出力に基づいて試料中の基質の定量を行う基
質分析装置を使用する際、予め測定電極の出力の逆数（
１／Ｄ）と基質濃度の逆数（１／Ｓ）とを関係づける（
１１式、 １／Ｄ＝１／Ｖｍ十Ｋｍ／ （Ｖｍ−３） −・−＜
１）の校正係数Ｋｍ、Ｖｍを求める過程で（即ち基質分
析装置の校正を行う過程で）、低基質濃度と高基質濃度
の標準液それぞれについて複数回の測定を行い、低基質
濃度の標準液と高基質濃度の標準液それぞれについて電
極出力の平均値を求める際に、基質分析装置の標準液値
設定スイッチの設定値に基づいて、先に測定される標準
液についての最後の測定を含む連続した所定回の測定に
よって得られた所定個の測定値を用いて、先に測定され
る所定濃度の標準液の電極出力の平均値を求め、これを
校正係数の算出に使用して基質分析装置の校正を行うも
のである。
第３図は、本発明が実施される基質分析装置の構成図で
ある。 この第３図において、基質濃度に比例する反応電流を測
定する測定電極１は、白金および銀電極表面に、酵素を
固定した選択透過性膜を密着させて構成され、温度補正
電極２とともにセルＣＥにセットされている。緩衝液４
は、液体ポンプ３により吸引され、セルＣＥに送り込ま
れてセルＣＥ内の洗浄を行い、反応後は、廃液５として
廃棄される。エアポンプ６は、反応セルＣＥ内へ注入口
ＯＰから注入された試料をシリコンダイヤフラムＳＤを
振動させることによって撹拌し、セルＣＥ内の濃度を均
一にする。温度センサ７はセルブロックの温度を検出し
、ヒータ８はこのセルブロックを加熱し、セルＣＥ内に
注入された試料を所定の温度に加熱、保持する。 マイクロコンピュータＣＰＵから主として成る制御装置
ＣＣは、ラインＬ Ｉ”” Ｌ ｂによって分析部ＧＵ
と接続されており、ラインＬ、を介して測定電極１から
の反応電流を読取り、ラインＬ２を介して測定値に対す
る温度補正量を読取り、ラインＬ４．ＬＳを介してセル
ブロックの温度の測定および制御を行い、ラインＬ３お
よびり、を介して液体ポンプ３およびエアポンプ６の動
作を制御し、ラインＬ７〜Ｌ１１によって各種スイッチ
ＭＯ，〜Ｍ Ｏａ、 Ｄ Ｓ Ｉ””” Ｄ Ｓ ｚ
、表示器ＤＩおよびプリンタＰと接続されてこれらの入
出力制御等、装置全体の制御を行う。なお、ＤＳ、は検
体番号設定スイッチ（ディジスイッチ）、ＤＳ２は標準
液値設定スイッチ（ディジスイッチ）、ＣＡＬおよびＲ
ＵＮは校正および運転状態を表すモード表示器、ＭＯ，
−ＭＯ４はこれらのモードおよびプリンタＰの紙送りな
らびにＤＳ、のセット等のモード設定スイッチを表す。 第４図は、第３図の主要部を詳細に示すブロック図であ
り、第１図はこの発明による校正方法を示すフローチャ
ート、第２図は基質分析装置における校正時および試料
測定時のセンサの出力特性を示す特性図である。 第３図において、測定電極またはセンサ１の出力は差動
増巾器９に与えられ、Ａ／Ｄ変換器１０、バッファ１１
を介して制御装置を構成するマイクロコンピュータＣＰ
Ｕ１２に与えられる。なお、ＲＡＭ１３はランダム・ア
クセス・メモリ （ＲＡＮ ＤＯＭ ＡＣＣＥＳＳ
ＭＥＭＯＲＹ）である。 ここで、反応セル内に標準液が注入されると、基質測定
電極またはセンサに化学反応にもとづく反応電流が生じ
る。この反応電流は、差動増巾器９によって増巾される
とともに電圧信号に変換され、さらにＡ／Ｄ変換器１０
でディジタル信号に変換されて制御装置を構成するマイ
クロコンピュータＣＰＵ１２へ与えられる。マイクロコ
ンピュータＣＰＵでは、センサからの出力を所定の時間
々隔でサンプリングし、一定時間後のサンプリングデー
タを測定して、ＲＡＭのエリアＤＲへ格納する。 第１図と第２図によって、本発明による基質分析装置の
校正方法の１例を説明する。 例えば低基質濃度（１０χ）標準液を３回、高基質濃度
（２０χ）標準液を２回測定して、校正を行う際に測定
電極が不安定な場合、または高い測定精度が要求される
場合には第３図の標準液値設定スイッチＤＳ、を１０χ
に設定し、その設定値を１０χ標準液の２回目の測定Ｍ
Ｌ、の終了時にＣＰＵが読込み、１０χ標準液の３回目
の測定ＭＬ、を測定後、２０χ標準液の測定Ｍ ｏ １
． Ｍ ｏ ｚを行い、測定Ｍ）Ｉ□の終了時にＣＰＵ
は１０χ標準液の１回目ＭＬ、の測定値ＸＬＩを無視し
、２回目Ｍｔｔ、 ３回目ＭＬ３の測定値ＸＬｚ、
ＸＬＩにより、 Ｘ Ｌｘ＋ ＸＬ３ ＤＬ” ’−−−−−−−−−−−−・・
・−−〜−−・−・−−一一−−−−−・ （２）を求
め、２０χ標準液の測定値ＸＨＩ、 ＸＨ２によりを
求めてそれぞれを（１）式に代入する。 ＤＬ Ｖｍ Ｖｍ １０Ｄ、 Ｖ
ｍ Ｖｍ ２０この連立方程式より ２Ｄ、−Ｄ。 を求める。 電極が安定している場合、高い測定精度が要求されてい
ない場合には標準液値設定スイッチＤ Ｓ ｚを２０χ
に設定し、その設定値を１０χ標準液の２回目の測定Ｍ
Ｌ！終了時にＣＰＵが読み込み、１０χ標準液の３回目
の測定ＭＬ！を行わず２０χ標準液の測定Ｍ１４．．
Ｍ、、に移る。測定Ｍ。終了時にＩＯＸ標準液の測定値
ＸＬ、、 ＸＬ、により を求め、２０χ標準液の測定値Ｘ、、、ｘ、、によりＸ
旧＋Ｘ）１２ ＤＨ＝ □ を求めて、前記と同様に（４１〜（７）式により、Ｖｍ
。 Ｋｍを求める。 この様にして求めたＶｍ、Ｋｍを用いて、実際の試料測
定時に、（１１式を変形した（９）式にサンプリングデ
ータＸ３を代入して、 Ａｓ ＝Ｋｍ／ （Ｖｍ／Ｘｓ −１） −−−−−
−−−−−−−（９）とすることにより、試料中の基質
濃度Ａｓを求める。 第３図に示した基質分析装置においては、測定電極のベ
ース電流を制御装置ＣＣによって監視し、取りこんだベ
ース電流のデータをＣＰＵで判断して、ベース電流が所
定の範囲を越えて変動している場合には、例えば第１図
に示したような測定を開始できぬようにプログラムして
おくことができる。かかるプログラムが装置に内蔵され
ている場合には、通常上記校正方法の実施例におけるが
如く、先に測定されている標準液について、最初の測定
で得られた電極出力のデータをその標準液についての電
極出力の平均値を求める際に使用するかしないかによっ
て校正時間の短縮、あるいは高い測定精度いづれの要請
にも対応することができる。 上記実施例では、低基質濃度の標準液、高基質濃度の標
準液それぞれについて２個の測定データを採用して、電
極出力の平均値を求めているが、各標準液についての電
極出力の平均値を求める際に採用する測定データの数、
従って測定回数は所定の回数を予め装置にプログラムし
ておけばよく、２個に限定されるものではない。 低基質濃度、高基質濃度各標準液それぞれについて、３
個の測定データを平均して電極出力の平均値を求める場
合には、本発明による校正動作は第５図にフローチャー
トで示したようになり、先に測定される標準液（この例
では１０χ標準液）について３回の測定から電極出力の
３個の測定データを得るか、４回の測定を行い、最後の
測定を含む連続３回の測定についての電極出力の測定デ
ータを採用するかは標準液値設定スイッチの設定値を選
択することによって装置に指令すればよく、校正係数を
より正確に求められる効果がある。 次に、初めに測定される標準液（例えば１０Ｘ標準液）
について、所定回数（例えば２回）以上の任意回数（例
えば４回）の測定を行い、次に別の標準液（この場合は
２０χ標準液）について所定回（この場合２回）の測定
を行い、低基質濃度、高基質濃度いづれの標準液につい
ても所定個（この場合は２個）の測定データを平均して
電極出力の平均値を求める場合の校正動作は第６図にフ
ローチャートで示したようになる。この実施例に於いて
は、標準液値設定スイッチは、初め１０に設定しておき
、任意回（この場合４回）１０χ標準液について測定し
た後、２０χ標準液の測定に移行する前に標準液値設定
スイッチを２０に設定し直せばよい。 この実施例によれば、最初に測定される標準液について
任意回の初めの方の測定で得たデータを不採用にするこ
とができるので、電極不安定時に測定したデータの採用
を可及的に回避するのに適している。 上記のいづれの実施例に於いても、基質と酵素の組み合
せとしては、例えばアルコールとアルコールオキシダー
ゼ、グルコースとグルコースオキシダーゼ、尿素とウリ
カーゼ等がある。
ある。 この第３図において、基質濃度に比例する反応電流を測
定する測定電極１は、白金および銀電極表面に、酵素を
固定した選択透過性膜を密着させて構成され、温度補正
電極２とともにセルＣＥにセットされている。緩衝液４
は、液体ポンプ３により吸引され、セルＣＥに送り込ま
れてセルＣＥ内の洗浄を行い、反応後は、廃液５として
廃棄される。エアポンプ６は、反応セルＣＥ内へ注入口
ＯＰから注入された試料をシリコンダイヤフラムＳＤを
振動させることによって撹拌し、セルＣＥ内の濃度を均
一にする。温度センサ７はセルブロックの温度を検出し
、ヒータ８はこのセルブロックを加熱し、セルＣＥ内に
注入された試料を所定の温度に加熱、保持する。 マイクロコンピュータＣＰＵから主として成る制御装置
ＣＣは、ラインＬ Ｉ”” Ｌ ｂによって分析部ＧＵ
と接続されており、ラインＬ、を介して測定電極１から
の反応電流を読取り、ラインＬ２を介して測定値に対す
る温度補正量を読取り、ラインＬ４．ＬＳを介してセル
ブロックの温度の測定および制御を行い、ラインＬ３お
よびり、を介して液体ポンプ３およびエアポンプ６の動
作を制御し、ラインＬ７〜Ｌ１１によって各種スイッチ
ＭＯ，〜Ｍ Ｏａ、 Ｄ Ｓ Ｉ””” Ｄ Ｓ ｚ
、表示器ＤＩおよびプリンタＰと接続されてこれらの入
出力制御等、装置全体の制御を行う。なお、ＤＳ、は検
体番号設定スイッチ（ディジスイッチ）、ＤＳ２は標準
液値設定スイッチ（ディジスイッチ）、ＣＡＬおよびＲ
ＵＮは校正および運転状態を表すモード表示器、ＭＯ，
−ＭＯ４はこれらのモードおよびプリンタＰの紙送りな
らびにＤＳ、のセット等のモード設定スイッチを表す。 第４図は、第３図の主要部を詳細に示すブロック図であ
り、第１図はこの発明による校正方法を示すフローチャ
ート、第２図は基質分析装置における校正時および試料
測定時のセンサの出力特性を示す特性図である。 第３図において、測定電極またはセンサ１の出力は差動
増巾器９に与えられ、Ａ／Ｄ変換器１０、バッファ１１
を介して制御装置を構成するマイクロコンピュータＣＰ
Ｕ１２に与えられる。なお、ＲＡＭ１３はランダム・ア
クセス・メモリ （ＲＡＮ ＤＯＭ ＡＣＣＥＳＳ
ＭＥＭＯＲＹ）である。 ここで、反応セル内に標準液が注入されると、基質測定
電極またはセンサに化学反応にもとづく反応電流が生じ
る。この反応電流は、差動増巾器９によって増巾される
とともに電圧信号に変換され、さらにＡ／Ｄ変換器１０
でディジタル信号に変換されて制御装置を構成するマイ
クロコンピュータＣＰＵ１２へ与えられる。マイクロコ
ンピュータＣＰＵでは、センサからの出力を所定の時間
々隔でサンプリングし、一定時間後のサンプリングデー
タを測定して、ＲＡＭのエリアＤＲへ格納する。 第１図と第２図によって、本発明による基質分析装置の
校正方法の１例を説明する。 例えば低基質濃度（１０χ）標準液を３回、高基質濃度
（２０χ）標準液を２回測定して、校正を行う際に測定
電極が不安定な場合、または高い測定精度が要求される
場合には第３図の標準液値設定スイッチＤＳ、を１０χ
に設定し、その設定値を１０χ標準液の２回目の測定Ｍ
Ｌ、の終了時にＣＰＵが読込み、１０χ標準液の３回目
の測定ＭＬ、を測定後、２０χ標準液の測定Ｍ ｏ １
． Ｍ ｏ ｚを行い、測定Ｍ）Ｉ□の終了時にＣＰＵ
は１０χ標準液の１回目ＭＬ、の測定値ＸＬＩを無視し
、２回目Ｍｔｔ、 ３回目ＭＬ３の測定値ＸＬｚ、
ＸＬＩにより、 Ｘ Ｌｘ＋ ＸＬ３ ＤＬ” ’−−−−−−−−−−−−・・
・−−〜−−・−・−−一一−−−−−・ （２）を求
め、２０χ標準液の測定値ＸＨＩ、 ＸＨ２によりを
求めてそれぞれを（１）式に代入する。 ＤＬ Ｖｍ Ｖｍ １０Ｄ、 Ｖ
ｍ Ｖｍ ２０この連立方程式より ２Ｄ、−Ｄ。 を求める。 電極が安定している場合、高い測定精度が要求されてい
ない場合には標準液値設定スイッチＤ Ｓ ｚを２０χ
に設定し、その設定値を１０χ標準液の２回目の測定Ｍ
Ｌ！終了時にＣＰＵが読み込み、１０χ標準液の３回目
の測定ＭＬ！を行わず２０χ標準液の測定Ｍ１４．．
Ｍ、、に移る。測定Ｍ。終了時にＩＯＸ標準液の測定値
ＸＬ、、 ＸＬ、により を求め、２０χ標準液の測定値Ｘ、、、ｘ、、によりＸ
旧＋Ｘ）１２ ＤＨ＝ □ を求めて、前記と同様に（４１〜（７）式により、Ｖｍ
。 Ｋｍを求める。 この様にして求めたＶｍ、Ｋｍを用いて、実際の試料測
定時に、（１１式を変形した（９）式にサンプリングデ
ータＸ３を代入して、 Ａｓ ＝Ｋｍ／ （Ｖｍ／Ｘｓ −１） −−−−−
−−−−−−−（９）とすることにより、試料中の基質
濃度Ａｓを求める。 第３図に示した基質分析装置においては、測定電極のベ
ース電流を制御装置ＣＣによって監視し、取りこんだベ
ース電流のデータをＣＰＵで判断して、ベース電流が所
定の範囲を越えて変動している場合には、例えば第１図
に示したような測定を開始できぬようにプログラムして
おくことができる。かかるプログラムが装置に内蔵され
ている場合には、通常上記校正方法の実施例におけるが
如く、先に測定されている標準液について、最初の測定
で得られた電極出力のデータをその標準液についての電
極出力の平均値を求める際に使用するかしないかによっ
て校正時間の短縮、あるいは高い測定精度いづれの要請
にも対応することができる。 上記実施例では、低基質濃度の標準液、高基質濃度の標
準液それぞれについて２個の測定データを採用して、電
極出力の平均値を求めているが、各標準液についての電
極出力の平均値を求める際に採用する測定データの数、
従って測定回数は所定の回数を予め装置にプログラムし
ておけばよく、２個に限定されるものではない。 低基質濃度、高基質濃度各標準液それぞれについて、３
個の測定データを平均して電極出力の平均値を求める場
合には、本発明による校正動作は第５図にフローチャー
トで示したようになり、先に測定される標準液（この例
では１０χ標準液）について３回の測定から電極出力の
３個の測定データを得るか、４回の測定を行い、最後の
測定を含む連続３回の測定についての電極出力の測定デ
ータを採用するかは標準液値設定スイッチの設定値を選
択することによって装置に指令すればよく、校正係数を
より正確に求められる効果がある。 次に、初めに測定される標準液（例えば１０Ｘ標準液）
について、所定回数（例えば２回）以上の任意回数（例
えば４回）の測定を行い、次に別の標準液（この場合は
２０χ標準液）について所定回（この場合２回）の測定
を行い、低基質濃度、高基質濃度いづれの標準液につい
ても所定個（この場合は２個）の測定データを平均して
電極出力の平均値を求める場合の校正動作は第６図にフ
ローチャートで示したようになる。この実施例に於いて
は、標準液値設定スイッチは、初め１０に設定しておき
、任意回（この場合４回）１０χ標準液について測定し
た後、２０χ標準液の測定に移行する前に標準液値設定
スイッチを２０に設定し直せばよい。 この実施例によれば、最初に測定される標準液について
任意回の初めの方の測定で得たデータを不採用にするこ
とができるので、電極不安定時に測定したデータの採用
を可及的に回避するのに適している。 上記のいづれの実施例に於いても、基質と酵素の組み合
せとしては、例えばアルコールとアルコールオキシダー
ゼ、グルコースとグルコースオキシダーゼ、尿素とウリ
カーゼ等がある。
以上説明したように、本発明は、測定電極（酵素電極）
の出力の逆数と基質濃度との関係を表すプロットが検量
線として使用できる場合の基質分析装置の校正方法とし
て好適であり、簡単な操作で正確な校正係数を得て、試
料中の基質濃度を正確に測定することを可能とするもの
である。また状況に応じて校正時間の短縮も可能とする
ものである。
の出力の逆数と基質濃度との関係を表すプロットが検量
線として使用できる場合の基質分析装置の校正方法とし
て好適であり、簡単な操作で正確な校正係数を得て、試
料中の基質濃度を正確に測定することを可能とするもの
である。また状況に応じて校正時間の短縮も可能とする
ものである。
第１図は本発明の基質分析装置の校正方法を説明するた
めのフローチャート、第２図は第１図に示した校正の流
れに対応する測定電極の出力特性を示す特性図、第３図
は本発明が適用される基質分析装置の全体的な構成を示
す構成図、第４図は第３図の主要部を詳細に示すブロッ
ク図、第５図は本発明による第２の実施例を説明するた
めのフローチャート、第６図は第３の実施例を説明する
ためのフローチャートである。 １− 測定電極（酵素電極、センサ）９ ・−・差動増
巾器、１０−＝・Ａ／Ｄ変換器、１１−・バッファ、１
２− マイクロコンピュータ（ＣＰ Ｕ） 、１３−
・ランダム・アクセス・メモリ （ＲＡＭ） 、ＣＥ
−一反応セル、ＯＰ−・注入口、ＧＵ −分析部、ＤＳ
２−・標準液値設定スイッチ。 第１図 １−入米升う夙り定 を譜出方 ｐ、−！ｎ−−’シ八へ衾・会 オ ５図 “１Ｅも〔米什う代り定 オ６図 言す（ン沁ミ）ｆｉ入り定 ヲ貝１１定イｉＸｔ＋ ヲ貝り宅（１１ＸＬ２ う貫’Ｉ ンｉ：、イ直ＸＬ３ ′３１１定追ＸＬ）； う貝り定値ＸＨ＋ ５１１１（ＩＸ＋２
めのフローチャート、第２図は第１図に示した校正の流
れに対応する測定電極の出力特性を示す特性図、第３図
は本発明が適用される基質分析装置の全体的な構成を示
す構成図、第４図は第３図の主要部を詳細に示すブロッ
ク図、第５図は本発明による第２の実施例を説明するた
めのフローチャート、第６図は第３の実施例を説明する
ためのフローチャートである。 １− 測定電極（酵素電極、センサ）９ ・−・差動増
巾器、１０−＝・Ａ／Ｄ変換器、１１−・バッファ、１
２− マイクロコンピュータ（ＣＰ Ｕ） 、１３−
・ランダム・アクセス・メモリ （ＲＡＭ） 、ＣＥ
−一反応セル、ＯＰ−・注入口、ＧＵ −分析部、ＤＳ
２−・標準液値設定スイッチ。 第１図 １−入米升う夙り定 を譜出方 ｐ、−！ｎ−−’シ八へ衾・会 オ ５図 “１Ｅも〔米什う代り定 オ６図 言す（ン沁ミ）ｆｉ入り定 ヲ貝１１定イｉＸｔ＋ ヲ貝り宅（１１ＸＬ２ う貫’Ｉ ンｉ：、イ直ＸＬ３ ′３１１定追ＸＬ）； う貝り定値ＸＨ＋ ５１１１（ＩＸ＋２
Claims (2)
- （１）酵素の作用によって試料中の基質が過酸化水素に
変換される際の測定電極の出力を、予め標準液の基質濃
度の逆数と測定電極の出力の逆数との関係から求めてお
いた校正係数を使用して基質濃度に換算し、前記試料中
の前記基質の定量を行う基質分析装置において、低基質
濃度の標準液、高基質濃度の標準液それぞれについて複
数回数の測定を行い、低基質濃度の標準液、高基質濃度
の標準液それぞれについて電極出力の平均値を求める際
に、前記分析装置の標準液値設定スイッチの設定値に基
づいて、先に測定される標準液についての最後の測定を
含む連続した所定回数の測定によって得られる所定個の
測定値を用いて、先に測定される前記標準液の電極出力
の平均値を求めることを特徴とする基質分析装置の校正
方法。 - （２）特許請求の範囲第１項記載の基質分析装置の校正
方法において、酵素がアルコールオキシダーゼ、グルコ
ースオキシダーゼ、またはウリカーゼであることを特徴
とする基質分析装置の校正方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60260552A JPS62119449A (ja) | 1985-11-20 | 1985-11-20 | 基質分析装置の校正方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60260552A JPS62119449A (ja) | 1985-11-20 | 1985-11-20 | 基質分析装置の校正方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62119449A true JPS62119449A (ja) | 1987-05-30 |
Family
ID=17349540
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60260552A Pending JPS62119449A (ja) | 1985-11-20 | 1985-11-20 | 基質分析装置の校正方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS62119449A (ja) |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS53134493A (en) * | 1977-04-27 | 1978-11-24 | Hitachi Ltd | Electrolyte measuring system |
| JPS5774650A (en) * | 1980-10-29 | 1982-05-10 | Fuji Electric Co Ltd | Correcting method for blood sugar value analyzer |
| JPS5774652A (en) * | 1980-10-29 | 1982-05-10 | Fuji Electric Co Ltd | Correcting method for blood sugar value analyzer |
-
1985
- 1985-11-20 JP JP60260552A patent/JPS62119449A/ja active Pending
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| JPS5774650A (en) * | 1980-10-29 | 1982-05-10 | Fuji Electric Co Ltd | Correcting method for blood sugar value analyzer |
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