JPS62114294A - Manufacture of metal pattern of insulating substrate - Google Patents

Manufacture of metal pattern of insulating substrate

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JPS62114294A
JPS62114294A JP25259785A JP25259785A JPS62114294A JP S62114294 A JPS62114294 A JP S62114294A JP 25259785 A JP25259785 A JP 25259785A JP 25259785 A JP25259785 A JP 25259785A JP S62114294 A JPS62114294 A JP S62114294A
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ジリー ロウバール
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Matsukusushiyuretsutaa & GmbH
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Matsukusushiyuretsutaa & GmbH
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
(57) [Summary] This bulletin contains application data before electronic filing, so abstract data is not recorded.

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は電気的接続のための孔があけられた絶縁基板上
の、減退法を 用いたネガチブ・マスクによる金属パタ
ーン特にプリント回路の製造方法に関する。本発明はさ
らに絶縁基板、特にプリント回路を包含する。
[Detailed Description of the Invention] [Industrial Field of Application] The present invention relates to a method for manufacturing metal patterns, especially printed circuits, using a negative mask using an attenuation method, on an insulating substrate having holes for electrical connection. Regarding. The invention further encompasses insulating substrates, particularly printed circuits.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

減退法を用いてのスルーホールメッキされた印刷回路板
(pcbs )の製造においては、出発点は金属箔で被
覆したラミネートである。絶縁物質としては、特に例え
ばガラスファイバーで補゛  強されたエポキシド樹脂
、フェノール樹脂紙、エポキシ樹脂紙、ポリイミド、P
vCが使用される。
In the manufacture of through-hole plated printed circuit boards (PCBS) using the attenuation method, the starting point is a laminate coated with metal foil. Insulating materials include in particular epoxide resins reinforced with glass fibers, phenolic paper, epoxy paper, polyimide, P
vC is used.

金属箔(通常鋼箔)はラミネートの両面に施用される。Metal foil (usually steel foil) is applied to both sides of the laminate.

両面印刷回路板は、両面上を被覆したこれらの絶縁板か
ら製造される。もしもいくつかの電導パターンの層をお
互いにプレスすれば、それKよって絶縁基板による分離
が起こり、これらは多層回路(多層板)と呼ばれている
Double-sided printed circuit boards are manufactured from these insulating plates coated on both sides. If several layers of conductive patterns are pressed together, thereby resulting in separation by an insulating substrate, these are called multilayer circuits (multilayer boards).

二層もしくは多層の印刷回路板の外面上へのスルーホー
ルメッキ及び印刷回路板の製造は同一原理で成し遂けら
れる。個々の電導パターンに接続するように所望場所に
穴(開口部)を形成(たとえば穴あけ、パンチング、ミ
ーリング加工などによって)した後及び(たとえばブラ
ッシングによりて)金属薄膜の機械的洗浄工程の後で、
スルーホールメッキ及びパターンメッキは原則として下
記の工程系列に従って行われる。
Through-hole plating on the outer surface of a two-layer or multi-layer printed circuit board and the manufacture of the printed circuit board are accomplished on the same principle. After forming holes (openings) at desired locations to connect to the individual conductive patterns (e.g. by drilling, punching, milling, etc.) and after a mechanical cleaning step of the metal thin film (e.g. by brushing),
In principle, through-hole plating and pattern plating are performed according to the following process sequence.

12  スルーホールメッキ 1、 洗浄水溶液中で印刷回路板の洗浄。12 Through hole plating 1. Cleaning the printed circuit board in a cleaning aqueous solution.

2 金属薄膜のエツチング。2 Etching of metal thin film.

五 活性化。5. Activation.

4、 化学メッキ、好ましくは化学鋼メッキ、及び所望
により。
4. Chemical plating, preferably chemical steel plating, and optionally.

5 もし上記工程4の間に薄い層しか析出しない場合に
は化学メッキ層(鋼メッキ)°の強化。
5. Strengthening of the chemical plating layer (steel plating) if only a thin layer is deposited during step 4 above.

■、スクリーン印刷もしくはフォトレジストによるネガ
チブ・マスクの形成 & ボードのブラッシング。
■ Formation of negative mask by screen printing or photoresist & brushing of board.

l たとえばフォトレジストによる被覆及びネガチプ電
導パターンの現像、もしくはスクリーン印刷インクによ
る被覆。
l For example, coating with photoresists and development of negative conductive patterns or coating with screen printing inks.

■、パターンメッキ a 洗浄。■、Pattern plating a. Cleaning.

9 エツチング。9 Etching.

1[L  銅メッキ。1 [L Copper plating.

11、たとえばすすもしくは鉛−すずのようなエツチン
グ・レジストの付着。
11. Deposition of etching resists such as soot or lead-tin.

■、印刷回路板のエツチング 12、ネガチブ・マスク(フォトレジストもしくはスク
リーン印刷インク)の除去。
■ Etching of printed circuit boards 12, removal of negative masks (photoresist or screen printing ink).

1五 エツチングレジストで被覆されていない金属(銅
)のエツチング。
15. Etching of metal (copper) not covered with etching resist.

14、はんだ付けつや出し、所望によりリフローウィン
グ(r@flowing :再溶融)この方法は、専門
分野では”金属レジスト法“と名付けられている。
14. Soldering and polishing, optionally reflowing (r@flowing: remelting) This method is called "metal resist method" in the technical field.

上記の一連の工程は、上記の金属レジスト方法の原理を
記載する。すべての専門家はこの一連の工程中で、例え
ばどの点に洗浄工程を置かねばならないか、もしくは製
造中にボードを輸送することができるようにどの点でボ
ードを適当な装置(例えばフレームまたはバスケット)
上に置かねばならないかを認識している。いくつかの工
程段階の後に、工程を中断する。すなわちボードはある
時間の間貯わ見られ得る。
The above series of steps describes the principle of the above metal resist method. Every expert knows at what point during this process, for example a cleaning step has to be carried out, or at what point the board must be placed in a suitable device (for example a frame or a basket) so that it can be transported during manufacture. )
I am aware of what I have to put on top. After several process steps, the process is interrupted. In other words, the board can be viewed and stored for a certain amount of time.

活性化段階は、金属核が穴の壁土に析出されて穴の壁土
に続く化学金属メッキを開始するような工程を構成して
いる。活性化は、たとえばニー 予備浸漬。
The activation step constitutes a process in which metal nuclei are deposited on the wall of the hole to initiate subsequent chemical metal plating on the wall of the hole. Activation can be done, for example, by knee pre-soaking.

−すず−パラジウムをペースとするコロイドを含有する
溶液中での実際の活性化。
- Actual activation in a solution containing a tin-palladium paced colloid.

−たとえばHl、−溶液中での調節(促進化)。- for example Hl, - conditioning (promotion) in solution.

のようないくつかの工程段階で起こる。occurs in several process steps, such as

他の活性化工程では、銅を主体とするコロイドが使われ
る。この活性化工程は、ヨ〜ロクパ特許出願第0.04
4,878号に記載されている。
Other activation steps use copper-based colloids. This activation process is based on Yo-Rokupa patent application No. 0.04.
No. 4,878.

金属コロイドに基づく活性化は下記に述べられるであろ
うようなある不利な点を有している。
Activation based on metal colloids has certain disadvantages as will be discussed below.

たとえば西ドイツ特許公開第2,116,389号に対
応して、無機の貴金属溶液が代用物となり得る。
Inorganic precious metal solutions can be substituted, for example in accordance with DE 2,116,389.

−減退法によりスルーホールメッキされた印刷回路板を
作成することの他の可能性はいわゆるテンティング法で
ある。この方法においては、一連の工程段階は既に上記
に記載されている金属レジスト法と比較すれば、段階1
ないし5と原理上同じである。工程段階4及び1または
5の操作条件を選択することにより、銅の最終的な層の
厚さが得られる。これに下記の工程が続く  : ■、フォトレジストによるボジテプ・マスクの作成。
- Another possibility of producing through-hole plated printed circuit boards by the attenuation method is the so-called tenting method. In this method, the sequence of process steps is step 1 compared to the metal resist method already described above.
to 5 in principle. By selecting the operating conditions of process steps 4 and 1 or 5, the final layer thickness of copper is obtained. This is followed by the following steps: ■ Creation of the Bozitep mask with photoresist.

&a、ブラッシングによる表面の洗浄。&a, Surface cleaning by brushing.

7、a、 フォトレジストによる被覆、現像、またそれ
によるフォトレジストからのポジ像の形成。
7.a. Coating with photoresist, development and thereby forming a positive image from the photoresist.

瓜、エツチング、熱浸漬すずメッキ aa、エツチング、ボジテプ・マスク(フォトレジスト
)の除去。
Melon, etching, heat immersion tin plating AA, etching, removal of Bozitep mask (photoresist).

9a、 #−1tんだ付はマスクの施用。9a, #-1t soldering is done with a mask.

IQ、A、熱浸漬すずメッキ。IQ, A, heat immersion tin plating.

が続く。continues.

完全圧するために、プリント印刷回路板調造のための付
加的及び半付加的方法を述べるべきである。基材物質と
して、接着剤を塗布したガラスファイバーで補強された
エポキシ樹脂、エポキシ樹脂紙、もしくはフェノール樹
脂紙から出きている被覆σないラミネートが用いられる
To fully press, additive and semi-additive methods for printed circuit board preparation should be mentioned. As base material, an uncoated laminate made of adhesive-coated glass fiber reinforced epoxy resin, epoxy resin paper or phenolic paper is used.

上記に記載した方法は先行技術の一部であり、〔発明が
解決しようとする問題点〕 テンティング(:r enting )法、付加的方法
及び半付加的方法のような他の方法と比較すれば、金属
レジスト法はスルーホールメッキされた印刷回路板の製
造のため(は最も広く使われる方法である。この方法は
、工業的実用性、完成の見地から認容され経済的である
The method described above is part of the prior art and cannot be compared with other methods such as the tenting method, the additive method and the semi-additive method. For example, the metal resist method is the most widely used method for manufacturing through-hole plated printed circuit boards. This method is acceptable and economical from the standpoint of industrial practicality and completion.

それでもやはり、現在使われる形態においては、この方
法は多くの欠点を有している:比較的に工程段階数が多
い。活性化、特に第1節(スルーホールメッキ)におけ
る化学的金属溶着及び(銅メッキ)の強化が金属フィル
ム全表面に起る。
Nevertheless, in its currently used form, this method has a number of drawbacks: a relatively large number of process steps. Activation, especially chemical metal deposition in the first section (through-hole plating) and reinforcement (copper plating), occurs over the entire surface of the metal film.

電導路が全く設けられないようなこれらの場所では、金
属メッキは一般的に無意味であり、メッキ、エツチング
及び流出処理における余分なコストを意味するのみであ
る。
In these locations, where no conductive paths are provided, metal plating is generally pointless and only represents extra costs in plating, etching and flushing.

最近に成し遂げられたある改良にもかかわらず、コロイ
ド溶液に基ずく活性化の体系は、真正な1無機の”溶液
と比較してあまり安定ではなく、不純物に敏感であって
、及び比較的複雑な製造方法のためKたいへん費用がか
かる。
Despite some improvements recently achieved, colloidal solution-based activation systems are less stable, more sensitive to impurities, and relatively complex compared to true inorganic solutions. Due to its unique manufacturing method, it is very expensive.

段階4(化学金属メッキ)では、化学鋼浴がほとんど例
外なく用いられる。しかしながら浴の費用及び浴の維持
に関しては、化学ニッケルメッキが、銅メッキに対して
はより経済的である。濃4液の流出及び化学メッキ浴に
含有される洗浄水の処理のための費用は、特に弱酸性の
ニッケル浴に対しては、たとえばEDTAのような実際
に用いられる強力な錯生成剤を含有するアルカリ銅浴の
場合のようにはそれほど高くはない。
In stage 4 (chemical metal plating), chemical steel baths are almost exclusively used. However, in terms of bath cost and bath maintenance, chemical nickel plating is more economical than copper plating. The cost of treating the concentrated 4 solution runoff and the wash water contained in the chemical plating baths is particularly high for weakly acidic nickel baths containing the strong complexing agents used in practice, such as EDTA. It is not as expensive as in the case of alkaline copper baths.

しかしながら化学ニッケル浴を使うことは次のような重
大な欠点を有している; 金属レジスト方法では、エツチング溶液は適当な速度で
銅をエツチングするように使われなくてはならないが、
(たとえばすすもしくは鉛−すずのような)金属レジス
トを攻撃しないように使われなくてはならない。弱アル
カリ性のエツチング溶液はその目的に適している。ニッ
ケルはこれらのエツチング溶液中ではたいへんゆつくり
かもしくは全く攻撃されないであろうエツチング(■節
段階13の工程)は大いに妨害されるかもしくは実施不
可能であろう。このことは、電導パターンの製造が可能
ではないことを意味している。
However, the use of chemical nickel baths has significant drawbacks; in metal resist methods, the etching solution must be used to etch the copper at a reasonable rate;
It must be used in such a way that it does not attack metal resists (such as soot or lead-tin). Slightly alkaline etching solutions are suitable for that purpose. Nickel will be attacked very slowly or not at all in these etching solutions, and etching (step 13 of Section 1) will be greatly hindered or not possible. This means that the production of conductive patterns is not possible.

金属レジスト法の1節及び■節の工程には、水溶液中で
多種の処理法の連続〆ある。印刷回路板はたとえば台枠
のようなホールグー装置上に置かれそして循環工程に従
りて処理される。
The steps in sections 1 and 2 of the metal resist method include a series of various processing methods in an aqueous solution. The printed circuit board is placed on a hall goose device, such as a frame, and processed according to a circular process.

処理浴間の移動は、手動でもしくは自動設備によってす
みやかに行なわれる。
Transfers between treatment baths can be carried out quickly either manually or by automated equipment.

■節の工程は方法の中断を表示している。ボードはホー
ルダー装置(台枠)より除去されなくてはならない。ボ
ードの機械加工(ブラッシングゝ夛イスルーホールメッ
キの前に行なわれるけれども、この工程段階は、フォト
レジストもしくはスクリーン印刷インクを続いて施用す
るために繰り返されなくてはならない。ネガチブ・マス
クの施用後、ボードはたとえば台枠上に再び置かれ、そ
の後さらに処理を行なう。洗浄及びエツチングもまた繰
り返されなくてはならない。
■The steps in the section indicate interruptions in the method. The board must be removed from the holder device (frame). Although board machining (brushing) is performed before through-hole plating, this process step must be repeated for subsequent application of photoresist or screen printing ink. After application of the negative mask. , the board is placed again, for example on a frame, and then subjected to further processing.The cleaning and etching must also be repeated.

この点におけるエツチングは特に重要である。Etching in this respect is particularly important.

というのはまだ薄い穴の壁の表面上の被覆は、極めて容
易に融通され得るからである。この型の腐食は部分的に
過ぎなくてそのため気がっかなくていわゆる”ガス抜け
”のようなはんだ付は工程での誤差を生ずる。
This is because the coating on the surface of the still thin hole walls can be accommodated very easily. This type of corrosion is only local and therefore insidious, and so-called "out-gassing" soldering can lead to errors in the process.

1節及び■節の工程間を中断させないためには、印刷回
路板のスルーホールメッキの前にネガチブ・マスクが施
用されねばならない。しかしながら、この工程の変法は
、克服できない困難を含んでいる。ネガチブ・マスクを
活性化の前に施用すれば、その待人の壁のみならず同時
にネガチブ・マスクも、慣用の活性化剤を用いる時に活
性化されるであろう。活性化された表面上では、金属メ
ッキは化学メッキ浴中で製造されるであろう。たとえば
金属によるネガテブ・マスクの被覆のような不可避の結
果は、電導パターンの作成を不可能にする。
In order to avoid interruptions between the steps in sections 1 and 2, a negative mask must be applied before through-hole plating of the printed circuit board. However, variations of this process involve insurmountable difficulties. If the negative mask is applied before activation, not only the walls of the waiting room but also the negative mask at the same time will be activated when using conventional activators. On activated surfaces, metal plating will be produced in a chemical plating bath. The unavoidable result, for example the overlay of a negative mask with metal, makes it impossible to create conductive patterns.

少なくとも公知の方法の現存する欠点を大いに除去する
金属レジスト方法を使えるようにすることが本発明の目
的である。
It is an object of the present invention to make available a metal resist method which largely obviates at least the existing drawbacks of the known methods.

上記に記載した型の発明方法は次の順の 工程により特
徴づけられる: 1、 ガス状三酸化硫黄中での処理。
The inventive process of the type described above is characterized by steps in the following sequence: 1. Treatment in gaseous sulfur trioxide.

λ 製造せんとする電導パターンに対応するネガチブ・
マスクの施用。
λ Negative/corresponding to the conductive pattern to be manufactured
Application of masks.

五 下記の工程段階によって実現されるスルーホールメ
ッキ及び続く電導パターンのメッキ:無機貴金属溶液に
よる活性化、還元剤溶液中での処理、化学もしくは化学
及び電気化学メッキ、それにより活性化及び金属メッキ
が製造されるべき金属パターンの表面にのみ起こる。
5. Through-hole plating and subsequent plating of conductive patterns realized by the following process steps: activation with inorganic noble metal solutions, treatment in reducing agent solutions, chemical or chemical and electrochemical plating, whereby activation and metal plating It occurs only on the surface of the metal pattern to be manufactured.

この方法は従来公知の方法に対して次のような利点があ
る: メッキは所望の都合のよい場所にのみ起こる。
This method has the following advantages over previously known methods: Plating occurs only at desired and convenient locations.

それによって金属メッキ、エツチング及び流出処理が節
約される。スルーホールメッキは化学銅メッキによって
のみは実現されない。化学ニッケルメッキもまたこの目
的に使われる。この工程は慣用の工程よりも少ない工程
数で行なわれる。
Metal plating, etching and draining processes are thereby saved. Through-hole plating is not only achieved by chemical copper plating. Chemical nickel plating is also used for this purpose. This process is performed in fewer steps than conventional processes.

ボードの機械的処理(ブラッシング)はただ−変性なわ
れる。電導パターンのメッキ以前の所望の金属パターン
の表面上の洗浄及びエツチングは省くことができる。穴
の壁土の金属メッキに伴なうエツチングの危険はのぞか
れる、方法のいくつかは、例えばプラスチックのメッキ
と同じようにそれ自体公知である。しかしながら上記に
示された連続する公知の工程の結合からなる利点は驚く
べきほどである。
Mechanical treatment (brushing) of the board is done only-denaturing. Cleaning and etching on the surface of the desired metal pattern prior to plating the conductive pattern can be omitted. The risk of etching associated with metal plating of the walls of holes is excluded; some of the methods are known per se, as for example with the plating of plastics. However, the advantages resulting from the combination of the successive known steps indicated above are surprising.

ガス状三酸化硫黄中での処理は続く金属メッキのための
非電導体の条件調節の為の公知の方法の中にある。この
工程は西ドイツ特許公告公報第2,126,781号に
記載されている。
Treatment in gaseous sulfur trioxide is among the known methods for conditioning non-conductors for subsequent metal plating. This process is described in German Patent Application No. 2,126,781.

クロム酸及び/またはクロム酸/硫酸溶液はまた、プラ
スチックの為の公知の条件調節剤である。時おりクロム
酸を含有する溶液中での処理よシ、プラスチック表面を
ある程度粗ろくしたりもしくは膨潤させる処理が先行す
る。化学メッキ中の金属による完全な被覆及びプラスチ
ックの表面上の金属メッキの接着強度に関してはこの処
理はクロム酸を含有する溶液中でのプラスチックの有用
な反応を可能にする。
Chromic acid and/or chromic acid/sulfuric acid solutions are also known conditioning agents for plastics. This is sometimes preceded by a treatment in a solution containing chromic acid, which roughens or swells the plastic surface to some extent. Regarding the complete coverage of the metal during chemical plating and the adhesion strength of the metal plating on the surface of the plastic, this treatment allows a useful reaction of the plastic in solutions containing chromic acid.

印刷回路板の作成に特に関係する方法は西ドイツ特許公
開公報第2,105,845号に記載されている。この
方法を使いて、エポキシF樹脂ラミネートを先づジメチ
ルホルムアミド水溶液中で処理し続いてクロム酸/硫酸
水混浴中で処理する。このようにして調節されたボード
はすず一パラジウムに基ずくコロイドを含有する溶液中
で活性化される。電導パターンは付加工程もしくは生付
加工程を使りて製造される。
A method relating specifically to the production of printed circuit boards is described in German Patent Application No. 2,105,845. Using this method, an epoxy F resin laminate is first treated in an aqueous dimethylformamide solution and then in a chromic acid/aqueous sulfuric acid bath. The board prepared in this way is activated in a solution containing a colloid based on tin-palladium. The conductive pattern is manufactured using an additive or bioadditive process.

クロム酸を主体とする膨潤剤を伴なうかまたは伴わぬ条
件調節剤は、本発明方法に適当でない。組成及び操作条
件が下記により十分に述べられる方法に用いることので
きる活性化剤を用いれば、穴の栄の完全メッキは化学メ
ッキ浴では行なわれない。
Conditioning agents with or without swelling agents based on chromic acid are not suitable for the process of the invention. Complete plating of Ananoei is not accomplished in chemical plating baths using activators whose compositions and operating conditions can be used in the process described more fully below.

西ドイツ特許公開第2,126,781号に開示された
ように1プラスチック表面をガス状三酸化硫黄中で処理
する方法は、プラスチック表面をクロム酸を含有する酸
性溶液で調節する方法の有利な代替法である。
The method of treating plastic surfaces in gaseous sulfur trioxide as disclosed in DE 2,126,781 is an advantageous alternative to the method of conditioning plastic surfaces with acidic solutions containing chromic acid. It is the law.

両方法はグラスチックメッキの他の方法と同じように、
次の工程よりなる: 1、 条件調節。
Both methods, like other methods of glass plating,
Consists of the following steps: 1. Condition adjustment.

2、jl金属塩を用いての活性化もしくはね、2価のす
ず塩を含有する溶液、中での増感及びそれに続く貴金属
塩溶液中での活性化 五 還元剤溶液中での処理。
2. Activation using a metal salt or sensitization in a solution containing a divalent tin salt and subsequent activation in a noble metal salt solution. 5. Treatment in a reducing agent solution.

4、 化学メッキ。4. Chemical plating.

ガス状三酸化硫黄中の条件調節が減退法を用いての絶縁
基板上の金属パターンの製造に適していることは、西ド
イツ特許公告第2,126,781号からでは決りして
明白でない。本発明の実施例19ないし22では、生付
加工程もしくは付加工程に従う印刷回路板の製造の為の
可能性を記述する。
It is by no means clear from DE 2,126,781 that conditioning in gaseous sulfur trioxide is suitable for the production of metal patterns on insulating substrates using the depletion method. Examples 19 to 22 of the invention describe possibilities for the production of printed circuit boards according to a bioadditive or additive process.

本発明による循環工程は、この特許中にいかなる形にお
いても述べられてもおらずまた示唆されてもいない。
A cyclic process according to the present invention is not mentioned or suggested in any way in this patent.

本発明による循環工程は、西ドイツ特許公告第2,12
6,781号による方法と基本的に差異がある。西ドイ
ツ特許公告第2,126,781号による方法ではプラ
スチックはガス状三酸化硫黄中で処理後直接に活性化さ
れる。活性化に使われるパラジウム溶液は、確かに本発
明のような方法に利用できるが、パラジウム溶液は後に
説明されるように有利ではない。すず溶液その後のパラ
ジウム溶液中での処理に基づく活性化は利用できない。
The circulation process according to the invention is described in West German Patent Publication No. 2,12
There is a fundamental difference from the method according to No. 6,781. In the process according to DE 2,126,781, the plastic is activated directly after treatment in gaseous sulfur trioxide. Although the palladium solution used for activation can certainly be used in a method such as the present invention, palladium solutions are not advantageous, as will be explained later. Activation based on treatment in tin solution followed by palladium solution is not available.

というのは絶縁ボード韮びにネガチブ・マスクの穴が活
性化されそれによりて続いて蒸着ぢれるからである。中
断処理と中間処理が本発明による活性化の前に可能であ
ることが、見出されたことは特に驚くべきことである。
This is because the holes in the negative mask on the insulation board will be activated for subsequent deposition. It is particularly surprising that it has been found that interrupting and intermediate processing is possible before activation according to the invention.

条件調節後に敏感に反応するプラスチック表面が難なく
繰り返し乾燥し得るし、活性化工程以前の金属薄膜のエ
ツチングのためのフォトレジスト現像液、湿潤剤を含有
する洗浄液及び酸化剤溶液のような各種の溶液の作用に
さらすことができ、それによって貴金属を有用に受は入
れる能力を失なわないということは専門家にとり自明な
ことでない。
After conditioning sensitive plastic surfaces can be dried repeatedly without difficulty, and various solutions such as photoresist developers, cleaning solutions containing wetting agents and oxidizing agent solutions can be used for etching thin metal films before the activation step. It is not obvious to experts that metals can be exposed to the effects of metals without losing their ability to usefully accept precious metals.

プラスチックの前処理の為のガス状の三酸化硫黄を使う
ための方策は西ドイツ特許公告第2.126,781号
で公知であり原則として本発明による方法にも適用され
る。穴の壁土へのメッキ金属の接着は、穴の作成(ドI
J リング)中尺の壁を粗らくすることKより助長され
る。既に存在する接着に好都合な表面構造のために処理
条件の選択においては、なめらかな表面をもったプラス
チックがメッキされるべき場合と比較してさらに大きな
許容範囲が利用できる。大部分のプラスチックに対して
、使用される濃度は、8 (J310 mf/Lから6
5チ以上の発煙硫酸)25℃の蒸気圧に対応するS03
の濃度に至るまでの範囲に及んでいる。処理時間は1秒
ないし20分の範囲、好ましくは10秒ないし5分の範
囲から選ぶ。
A strategy for using gaseous sulfur trioxide for the pretreatment of plastics is known from German Patent Publication No. 2,126,781 and is also applicable in principle to the process according to the invention. Adhering the plated metal to the wall soil of the hole is
J ring) Roughening of the medium wall is encouraged by K. Due to the already existing adhesion-friendly surface structure, greater latitude is available in the selection of processing conditions compared to the case where plastics with smooth surfaces are to be plated. For most plastics, the concentration used is 8 (J310 mf/L to 6
S03 corresponding to vapor pressure of 25℃
The concentration ranges from . The treatment time is selected from the range of 1 second to 20 minutes, preferably 10 seconds to 5 minutes.

例えばスクリーン印刷インク、光コーティング、もしく
はフォトレジスト薄膜を用いてのネガチブ・マスクの施
用は隔離(l5olation)で見られる公知の方法
であり、さらに説明する必要はない。
The application of negative masks, for example with screen printing inks, photocoatings, or photoresist thin films, are known methods found in isolation and need no further explanation.

たとえば活性化の前にネガチブ・マスクを製造後、ボー
ドを水溶液中で洗浄する。この目的のための洗浄は通常
市販の洗浄剤中で行われる。
For example, after producing a negative mask before activation, the board is cleaned in an aqueous solution. Cleaning for this purpose is usually carried out in commercially available cleaning agents.

これらの洗浄液は酸性かアルカリ性かのタイプ ・によ
って反応するしまたこれらの洗浄液はたとえばりん酸、
硫酸のような酸もしくは他の場合はアルカリ、さらに無
機の中性塩、多種の有機化合物、そして特に湿潤剤を含
んでいる。アルカリ可溶のフォトレジストを用いると酸
性で反応する洗浄剤のみが、使用できると理解される。
These cleaning solutions react depending on whether they are acidic or alkaline.
It contains acids such as sulfuric acid or in other cases alkalis, as well as inorganic neutral salts, various organic compounds, and especially wetting agents. It is understood that with alkali soluble photoresists only acidic and reactive cleaning agents can be used.

いくつかの洗浄剤は、化学金属メッキを強く妨害する物
質、いわゆる触媒毒を含んでいる。たとえばこのグルー
プはチオ尿素を含んでいる。
Some cleaning agents contain substances that strongly interfere with chemical metal plating, so-called catalyst poisons. For example, this group includes thioureas.

これらの洗浄剤中にこのような物質を用いることはその
後の化学蒸着を妨害しないように避けるべきことが理解
できる。
It will be appreciated that the use of such materials in these cleaning agents should be avoided so as not to interfere with subsequent chemical vapor deposition.

金搗はく(多くの場合銅はく〕のエツチングのための慣
用のエツチング剤は過硫酸塩または過酸化水素を主体と
する。
The conventional etching agents for etching gold foil (often copper foil) are based on persulfates or hydrogen peroxide.

原則として貴金属塩溶液は本発明による方法に使われ得
る。この後に還元剤溶液処理が続く。
In principle, noble metal salt solutions can be used in the method according to the invention. This is followed by reducing agent solution treatment.

金属コロイドと作用する活性化組成物もしくはボードが
初めに2価のすすで増感され、次に貴金属塩溶液中で活
性化される組成物は、壁の穴の表面上及びネガチブ・マ
スク上での同時効果のために使用することができない。
An activating composition or board working with metal colloids is first sensitized with divalent soot and then activated in a precious metal salt solution on the surface of the hole in the wall and on the negative mask. Cannot be used due to simultaneous effects.

貴金属°塩溶液は加水分解しやすい。加水分解を防ぐた
めに、pH値を酸を添加することKより低い値に調整す
る。貴金属イオンが非闘体の形で、存在する貴金属イオ
ン溶液特に酸性溶液から、貴金属がイオン交換によって
非金属の表面上にメッキされる。西ドイツ特許公告第2
.126,781号に記載されている続く金属メッキの
ための非電導体の活性化 に使われるイオン生成貴金属
溶液はこのような不利な点を有している。非電導体の慣
用のメッキ法ではこのような欠点は大したことではない
。というのは非電導体の表面のみが処理されるからであ
る。減退法では非電導及び金属(銅はく)が同時に処理
される。金属メッキはイオン交換によって行なわれる。
Noble metal salt solutions are easily hydrolyzed. To prevent hydrolysis, the pH value is adjusted to a value lower than K by adding acid. From the noble metal ion solution, especially an acidic solution, in which the noble metal ions are present in non-competitive form, the noble metal is plated onto the surface of the non-metal by ion exchange. West German Patent Publication No. 2
.. The ion-generating precious metal solutions used to activate nonconductors for subsequent metal plating, as described in US Pat. No. 1,26,781, have such disadvantages. With conventional plating methods for non-conductors, these drawbacks are not significant. This is because only the surface of the non-conductor is treated. In the attenuation method, non-conductors and metals (copper foil) are treated simultaneously. Metal plating is done by ion exchange.

非貴金属上での結合を防止するための方策は公知である
。パラジウムの電気メッキでは、これは例えばpHを上
げること及びたとえばアンモニウム塩のようなキレート
剤を添加すること電気化学浴及び化学パラジウム浴は別
として、活性化溶液中で窒素原子を含有する化合物の施
用は、西ドイツ特許公告第1,621,207号及び西
ドイツ特許公開第2,116,589号より公知である
Strategies for preventing bonding on non-noble metals are known. In the electroplating of palladium, this involves e.g. raising the pH and adding chelating agents such as e.g. ammonium salts.Apart from electrochemical baths and chemical palladium baths, this involves the application of compounds containing nitrogen atoms in the activation solution. is known from DE 1,621,207 and DE 2,116,589.

西ドイツ特許公告による方法ではプラスチック表面を最
初はすすの2価塩溶液で増感し次に窒素原子を含有する
化合物を含有するパラジi溶液中で活性化する方法が請
求されている。この溶液OpH値は、パラジウムが鋼上
で全くセメ/状にメッキせず、しかも2価のすすの化合
物とパラジウム間の反応が表面上で起こるようにセット
される。西ドイツ特許公告第1,621,207号はパ
ラジウムの結合が窒素原子を含有する化合物を添加させ
ることにより防止されるという本発明の出願時に公知で
あった事実を利用している。窒素原子を含有する化合物
を添加することにより、パラジウムイオンの活性は活性
化の点で減少する。西ドイツ特許公告第1,621,2
07号により窒素原子を含有するパラジウム塩溶液によ
る活性化が増感化後に可能となる作動範囲が見出された
。この出版物は変性された活性化組成物を有する公知の
スルーホールメッキ法の実施態様として引用されている
。これらの活性化組成物は上記の如くネガテブ・マスク
の蒸着化の可能性があるため、本発明による方法には使
用できない。
The process according to the West German patent claims that the plastic surface is first sensitized with a divalent salt solution of soot and then activated in a palladium solution containing a nitrogen atom-containing compound. The OpH value of the solution is set such that no palladium deposits on the steel, yet a reaction between the divalent soot compounds and the palladium occurs on the surface. DE 1,621,207 makes use of the fact known at the time of filing of the present invention that the bonding of palladium is prevented by adding compounds containing nitrogen atoms. By adding compounds containing nitrogen atoms, the activity of palladium ions is reduced in terms of activation. West German Patent Publication No. 1,621,2
No. 07 discovered an operating range in which activation with a palladium salt solution containing nitrogen atoms is possible after sensitization. This publication is cited as an embodiment of a known through-hole plating method with a modified activating composition. These activated compositions cannot be used in the method according to the invention because of the possibility of negative mask deposition as described above.

西ドイツ特許公開第2,116,389号による方法で
は、プラスチックを窒素原子を付加的に含有する貴金属
塩溶液中で活性化し、次に貴金属の還元のために例えば
ジメチルアミノボランもしくはナトリウムハイポホスフ
ァイトのような溶液で処理して最終的に化学メッキ浴中
で蒸着される。西ドイツ特許公開第2,116,589
号の明細書ではこの活性化は公知の方法によるスルーホ
ールメッキボード製造に適しており、それによって銅は
くの全表面が活性化され、化学的にメッキされると特に
述べられている。
In the process according to DE 2,116,389, the plastic is activated in a noble metal salt solution which additionally contains nitrogen atoms and then treated with dimethylaminoborane or sodium hypophosphite for the reduction of the noble metal. and finally deposited in a chemical plating bath. West German Patent Publication No. 2,116,589
It is specifically stated in the specification that this activation is suitable for through-hole plated board production by known methods, whereby the entire surface of the copper foil is activated and chemically plated.

活性化溶液の機能容量は西ドイツ特許公開第2.116
,589号によると、大いにp)l値に依存する。さら
に活性化に関して窒素を含有する個々の化合物間には差
がある。たとえば2−アミノピリジンを使う方が、アン
モニアもしくはアンモニウム塩を使うより好都合である
The functional capacity of the activation solution is determined by West German Patent Publication No. 2.116.
, 589, it depends to a large extent on the p)l value. Furthermore, there are differences between individual nitrogen-containing compounds with respect to activation. For example, it is more convenient to use 2-aminopyridine than to use ammonia or ammonium salts.

西ドイツ特許公開第2,116,589号の実施例によ
ると、窒素原子含有化合物を貴金属塩に添加して次にp
H値を約7に上ける。これらの溶液は本発明の如き方法
には使用できない。というのは化学メッキ浴のこのよう
な活性化溶液の影響により、金属が穴の壁土にメッキさ
れるばかりでな〈実施例14に示されるようなネガチブ
・マスクの表面上にもメッキされるからである。
According to the example of German Patent Application No. 2,116,589, a nitrogen atom-containing compound is added to a noble metal salt and then p
Raise the H value to about 7. These solutions cannot be used in methods such as the present invention. This is because under the influence of such an activating solution in the chemical plating bath, the metal is plated not only on the wall of the hole, but also on the surface of the negative mask as shown in Example 14. It is.

本発明に使われる及び/または好ましい活性化溶液は、
可能ならば同時に次のような要件に合ってなければなら
ない。
Activation solutions used and/or preferred in the present invention include:
If possible, the following requirements must be met at the same time:

1、 穴(非金M)の壁土の完全メッキに関して言えば
、貴金属による十分なメッキが保証されねばならない。
1. Regarding the complete plating of the walls of the holes (non-gold M), sufficient plating with precious metals must be ensured.

2 金属薄膜(銅)上の貴金属の凝結が全く起きないか
又は起りても僅かな程度でなければならない。
2. Precious metal condensation on the metal thin film (copper) must not occur at all or only to a small extent.

五 ネガチブ・マスクは活性化されてはならない。5. Negative masks must not be activated.

引用された特許文献中では非を導体(プラスチックス)
の十分な活性化が、たとえば銅のような卑金属上での貴
金属の接着を同時に防止することと共に行われるよりな
方法が記載されている。しかしながら、非電導体に関す
る効果は本発明の場合には望ましくない。というのはさ
もなければネガチブ・マスク(非電導体)が蒸着される
からである。
In the cited patent documents, non-conductors (plastics)
A further method is described in which sufficient activation of the metal is carried out with simultaneous prevention of adhesion of noble metals on base metals, such as copper. However, effects related to non-conductors are undesirable in the case of the present invention. This is because otherwise a negative mask (non-conductor) would be deposited.

塩基性窒素化合物を含有する貴金属溶液が、たとえば濃
度及びpH値のようなある操作条件下での上記の条件に
すべて合致することが見出された。窒素含有化合物とし
て、アンモニア、第1級アミン、第二級アミン、第三級
アミン及び塩基性窒素原子を含む他の化合物ならびにこ
れらの化合物の塩が用いられる。下記の例が挙げられる
:エチルアミン、ブチルアミン、エチレンジアミン、ピ
リジ/、尿素、エチルヘチシルアミン、タウリン、グリ
シン。これらの化合物はたとえば硫酸塩、塩化物もしく
は硝酸塩として用いられる。
It has been found that noble metal solutions containing basic nitrogen compounds meet all of the above conditions under certain operating conditions, such as concentration and pH value. As nitrogen-containing compounds, ammonia, primary amines, secondary amines, tertiary amines and other compounds containing basic nitrogen atoms and salts of these compounds are used. Examples include: ethylamine, butylamine, ethylenediamine, pyridine, urea, ethylhethysylamine, taurine, glycine. These compounds are used, for example, as sulphates, chlorides or nitrates.

窒素含有化合物の利用可能な濃度はパラジウム濃度に依
存する。パラジウムイオンのモル濃度に対するアミノ基
にもとづくモル濃度の比は少なくとも2にすべきである
。溶液のpH値は1ないし7の間、好ましくは2ないし
3にする。
The available concentration of nitrogen-containing compounds depends on the palladium concentration. The ratio of the molar concentration based on amino groups to the molar concentration of palladium ions should be at least 2. The pH value of the solution is between 1 and 7, preferably between 2 and 3.

当業者にとりては、窒素含有化合物の型、パラジウム及
び窒素含有化合物の濃度ならびにpH値が本発明による
方法中の活性化の有用性に影響することは理解できる。
It will be understood by those skilled in the art that the type of nitrogen-containing compound, the concentration of palladium and nitrogen-containing compound and the pH value will influence the usefulness of activation in the process according to the invention.

アンモニア及びアンモニウム塩は、パラジウムイオンに
対しては例えばエチレンジアミンよりも弱いキレート剤
である。鋼上にパラジウムメッキを接合するためKはア
ンモニアを使う際の濃度よりより低い濃度のエチレンジ
アミンが要求される。一方、化学金属メッキ浴中での、
穴の壁の完全な被覆に関しての活性化は、より高濃度の
アンモニアにはあまり敏感でない。強力なキレート剤(
エチレンジアミン)を多量に添加すると、パラジウムの
効果を使用できる程度以下に減じそれによりて非電導体
を完全に被覆するのを防ぐことができよう。
Ammonia and ammonium salts are weaker chelators for palladium ions than, for example, ethylenediamine. Bonding palladium plating on steel requires a lower concentration of ethylenediamine than when using ammonia. On the other hand, in a chemical metal plating bath,
Activation with complete coverage of the hole walls is less sensitive to higher concentrations of ammonia. Strong chelating agent (
Addition of large amounts of ethylenediamine) may reduce the effectiveness of the palladium below a usable level, thereby preventing complete coverage of the nonconductor.

操作条件(濃度及びpH値)は、活性化溶液の有用性に
逆の影響を及ぼす・。活性化の最も好都合な操作範凹は
難女く二、三の試験で見出すことができる。
Operating conditions (concentration and pH value) have an adverse effect on the usefulness of the activation solution. The most favorable operational range of activation can be found in a few trials of Nenjo.

パラジウム塩を溶解後、窒素原子を含有する化合物を加
えて、pH値をたとえば2ないし3に調整する。それか
ら下記の如くに試験を実施し所望の結果が得られる方向
で任意に条件を変史する: 1、 金属薄膜(銅)上へのパラジウムの凝結の試験。
After dissolving the palladium salt, a compound containing nitrogen atoms is added to adjust the pH value to, for example, 2 to 3. Tests are then carried out as follows, varying the conditions arbitrarily in a direction that yields the desired results: 1. Testing the condensation of palladium on thin metal films (copper).

この接合はpH値を増加すること及び/または窒素原子
を含有する化合物の濃度を上げることにより減少する。
This junction is reduced by increasing the pH value and/or by increasing the concentration of compounds containing nitrogen atoms.

2 穴あけしたボードを、ガス状三酸化硫黄中で調節し
て次に洗浄し、エツチングしてそして利用可能な活性化
溶液中で活性化する化学メッキ浴での穴の壁の被覆試験
。窒素原子を含有する化合物を低濃度とする及び/また
はパラジウムを高濃度とすると化学メッキ中での結果を
改善する。
2 Coating test of the hole walls in a chemical plating bath in which the drilled board is conditioned in gaseous sulfur trioxide, then cleaned, etched and activated in an available activation solution. Lower concentrations of nitrogen-containing compounds and/or higher concentrations of palladium improve results during chemical plating.

五 ネガチブ・マスクの被覆試験。試料は2、に記載さ
れたように処理するが、条件論節は行わない。原則的に
この試験は西ドイツ特許公開第2,116,589号も
しくは西ドイツ特許公告第1,621,207号に記載
の方法に対応する。
(5) Negative mask coverage test. Samples are processed as described in 2, but without the conditioning section. In principle, this test corresponds to the method described in DE 2,116,589 or DE 1,621,207.

これらの刊行物に関しては、この点でネガチプな結果が
得られるはずである。
Regarding these publications, negative results should be obtained in this respect.

非電導体(ネガチブ・マスク)の被覆が起きてはならぬ
。このことは多くの場合pH値を低くすることにより任
意に達成できる。
Covering of non-conductors (negative mask) must not occur. This can optionally be achieved in many cases by lowering the pH value.

これらの試験は3個の試料について別々に行なうことが
できるか、もしくは三酸化硫黄中で調整した穴あけした
試料とネガチブ・マスクで被覆した試料について同時に
行なわれる。
These tests can be performed on three samples separately or simultaneously on a drilled sample prepared in sulfur trioxide and a sample coated with a negative mask.

実施例6及び7は、試験中に起こった作用を証明してい
る。
Examples 6 and 7 demonstrate the effect that occurred during testing.

活性化溶液が用いられる温度はN要ではない。The temperature at which the activation solution is used is not critical.

理解できることであるが、活性化は室温で行なわれるが
、より高温でも低温でも許容され得る。
It will be appreciated that activation is performed at room temperature, but higher or lower temperatures may be tolerated.

20秒ないし10分、好ましくは1ないし3分の作用時
間で十分である。
An action time of 20 seconds to 10 minutes, preferably 1 to 3 minutes, is sufficient.

活性化後、たとえばジメチルアミノボランのような還元
剤溶液中で処理を行なう。アルカリ可溶レジストへの攻
撃を除くために、この溶液OpH値を好ましくは弱酸性
(たとえばpH=5)にセットする。
After activation, treatment is carried out in a reducing agent solution such as dimethylaminoborane. The OpH value of this solution is preferably set to be slightly acidic (eg pH=5) to eliminate attack on the alkali-soluble resist.

化学金属メッキは化学銅浴もしくは化学ニッケル浴中で
行なわれ得る。アルカリ化学鋼浴はアルカリ可溶のレジ
ストを使う際には適当でない。この方法を普遍的に使う
ことができるようにするには、好ましくは弱酸性の化学
ニッケル浴が使われるべきである。
Chemical metal plating can be performed in a chemical copper bath or a chemical nickel bath. Alkaline chemical steel baths are not suitable when using alkali soluble resists. To make this method universally usable, preferably a weakly acidic chemical nickel bath should be used.

通常の市販品で実際上用いられている化学ニッケル浴は
、ニッケル塩、キレート剤(通常は有機酸とそれらの塩
)、還元剤(通常はナトリウムハイポホスファイトもし
くはアミノポラ/)、及びたとえば2価の硫黄もしくは
重金属の化合物のような安定化剤を含有する。これらの
浴は原則的には使用上の制限がない。好ましくはアミノ
ボラン化合物のみもしくは、還元剤としての次亜リン酸
ナトリウムを含有する浴が使われる。これらの浴は50
℃までの比較的低い温度で作用し得る。それによってネ
ガチ゛プ・マスクへの可能な温度負荷が低く保持されそ
して発生の可能性のある気胞形成、特にフレーキングに
伴なうネガチブ・マスクのあまりに強い伸長が大きく避
けられる。
The chemical nickel baths used in practice in common commercial products include nickel salts, chelating agents (usually organic acids and their salts), reducing agents (usually sodium hypophosphite or aminopora/), and e.g. containing stabilizers such as sulfur or heavy metal compounds. In principle, there are no restrictions on the use of these baths. Preferably, a bath containing only an aminoborane compound or sodium hypophosphite as a reducing agent is used. These baths are 50
It can work at relatively low temperatures, up to °C. As a result, possible temperature loads on the negative mask are kept low and possible formation of air bubbles, in particular too strong elongation of the negative mask associated with flaking, is largely avoided.

電導パターンをさらに形成することは、慣用の方法によ
り行なわれる。通常はこの点で、酸性浴中での電気銅メ
ッキならびにすず、鉛−すず、ニッケル、特に金のよう
な金属エツチングレジストのメッキが続く。たとえば化
学銅浴中でのような化学メッキは、原則として適当なく
耐アルカリ〕ネガチブ・マスクを使う時に可本発明がそ
のような例に限定されることはない。
Further formation of the conductive pattern is performed by conventional methods. This point is usually followed by electrolytic copper plating in an acid bath and plating of metal etching resists such as tin, lead-tin, nickel and especially gold. Chemical plating, for example in a chemical copper bath, can in principle be carried out when using an alkali-resistant negative mask, but the invention is not limited to such an example.

比較例は上記の説明に関連している。The comparative example is related to the above description.

実施例1 フリント回路は銅で被覆されたエポキシr仙脂ラミネー
トから製造される。処理の順序は次の通りである: 1、 ボードの穴あけ: λ 室温で20秒間35重量−の発煙硫酸と平衡にある
SO3含有雰囲気中での処理:五 水中での洗浄; 4、 ボードの乾燥; 五 ボードのブラッシング、市販のアルカリ可溶フォト
レジストフィルムでの被覆、ネガチブ・マスクの製造; & ボードを台枠上に置くこと; l 通常の市販の酸洗剤で室温で5分間のボードの洗浄
: a 水中での洗浄; 2 過硫酸ナトリウム溶液中での室@2分間エツチング
; 1α 水中での洗浄; 11、次の組成の溶液中での活性化: 硝酸パラジウムとしてのパラジウム200m?/を娘硫
酸            20f/を磯アンモニア溶
液       2b?/lpHは2.6に調整。
Example 1 A flint circuit is fabricated from a copper coated epoxy r-sensin laminate. The sequence of processing is as follows: 1. Drilling of the board: λ Treatment in an atmosphere containing SO3 in equilibrium with 35 wt. of oleum for 20 seconds at room temperature: 5. Washing in water; 4. Drying of the board. 5. Brushing the board, coating it with a commercially available alkali-soluble photoresist film, making a negative mask; & Placing the board on the underframe; l Cleaning the board with a normal commercially available acid detergent for 5 minutes at room temperature. : a Washing in water; 2 Etching chamber @ 2 minutes in sodium persulfate solution; 1α Washing in water; 11. Activation in a solution of the following composition: Palladium as palladium nitrate 200m? / is daughter sulfuric acid 20f / is iso ammonia solution 2b? /lpH was adjusted to 2.6.

この処理は室温で2分間行なわれた: 12− 水中での洗浄; IA  1f/lのジメチルアミノボラン溶液中テpH
=5.5で室温で1分間処理; 14、水中での洗浄: 15、 45℃で15分間化学ニッケルメッキ。
The treatment was carried out for 2 minutes at room temperature: 12-Washing in water; IA TepH in 1 f/l dimethylaminoborane solution
= 5.5 for 1 minute at room temperature; 14. Washing in water: 15. Chemical nickel plating at 45°C for 15 minutes.

化学ニッケル浴は次のような組成である:硫酸ニッケル
としてのニッケル     71/を乳酸      
      50?/を次亜リン酸ナトリウム    
10r/lジメチルアミノボラン       21/
を酢酸塩としての鉛      0.5 mW//1水
酸化ナトリウムで調整された 浴のpHは5.5である。
The chemical nickel bath has the following composition: nickel as nickel sulfate 71/l as lactic acid
50? / Sodium hypophosphite
10r/l dimethylaminoborane 21/
Lead as acetate 0.5 mW//1 The pH of the bath adjusted with sodium hydroxide is 5.5.

1& 水中での洗浄; 1z  室温で20秒間5%の硫酸中への浸漬;1a 
 通常の市販の硫酸銅浴での電気鋼メッキ;層の厚さは
25μm; 19、水中での洗浄; 2I:L  酸中での侵漬; 21、通常の市販の鉛−すず浴からの錫−すず皮膜; 22− 水中での洗浄及びボードの乾燥;2!−白梅か
らボードの除去; 24.フォトレジスト薄膜の除去、残存する露光した銅
薄膜のエツチング。
1 & Washing in water; 1z Immersion in 5% sulfuric acid for 20 seconds at room temperature; 1a
Electrical steel plating in a normal commercial copper sulfate bath; layer thickness 25 μm; 19. Washing in water; Soaking in 2I:L acid; 21. Tin from a normal commercial lead-tin bath. - Tin film; 22- Washing in water and drying the board; 2! - Removal of board from white plum; 24. Removal of photoresist film and etching of remaining exposed copper film.

郷→印刷回路板を双眼顕微鏡下で光学的に評価したスル
ーホールメッキ、電導体路の輪郭の欠陥は全く観察され
なかった。
When the printed circuit board was optically evaluated under a binocular microscope, no defects were observed in the through-hole plating and conductor path contours.

実施例2 ガラス繊維で補強エポキシ樹脂から作られた4枚の銅被
覆して穴あけしたラミネートを実施例1と同様に処理し
た。三酸化硫黄を含有する雰囲気でラミネートを処理す
る条件は次の通りである。
Example 2 Four copper coated and perforated laminates made from glass fiber reinforced epoxy resin were processed as in Example 1. The conditions for treating the laminate in an atmosphere containing sulfur trioxide are as follows.

1、 発煙硫酸中のSO3濃度      35チ処理
時間            20秒2 発煙硫酸中の
SC2濃度      35チ処理時間       
     40秒五 発煙硫酸中のSC2濃度    
  42チ処理時間            20秒4
、 発煙硫酸中のSO3濃度      50チ処理時
間            20秒電気鋼メッキ(段階
18)の間に、5μmの厚さの被膜がメッキされる。
1. SO3 concentration in fuming sulfuric acid 35-chi processing time 20 seconds 2 SC2 concentration in fuming sulfuric acid 35-chi processing time
40 seconds 5 SC2 concentration in fuming sulfuric acid
42chi processing time 20 seconds 4
, SO3 concentration in fuming sulfuric acid 50 seconds Processing time 20 seconds During electrical steel plating (step 18), a 5 μm thick coating is plated.

印刷回路板の光学的試験では、スルーホールメッキと電
導パターンメッキとに欠陥がないことが示された。
Optical testing of the printed circuit board showed that the through-hole plating and conductive pattern plating were free of defects.

実施例3 実施例2と同じように1銅被覆PvC薄膜及び銅被覆エ
ポキシ樹脂含浸紙のボードを処理する。
Example 3 A copper-coated PvC thin film and a copper-coated epoxy resin-impregnated paper board are treated in the same manner as in Example 2.

穴の製造はパンチングによって行なわれ、ネガチブ・マ
スクはスクリーン印刷カラーによフて製造される。ガス
状三酸化硫黄中の処理中の条件は次の通シである。
The production of the holes is done by punching and the negative mask is produced by screen printing colors. The conditions during treatment in gaseous sulfur trioxide are as follows.

PVCK対しての発煙硫酸濃度  65%S03処理時
間            10秒エポキシ樹脂含浸紙
に対しての 発煙硫酸濃度         35チS03処理時間
            20秒銅メツキ(層厚5μm
)後、スルーホールメッキを検査した。その結果は欠陥
がなかった。
Fuming sulfuric acid concentration for PVCK 65% S03 treatment time 10 seconds Fuming sulfuric acid concentration for epoxy resin impregnated paper 35cm S03 treatment time 20 seconds Copper plating (layer thickness 5 μm
), the through-hole plating was inspected. The results were free of defects.

実施例4 穴あけした鋼被覆エポキシ樹脂ラミネートを上記の実施
例1と同じように処理した。段階9のエツチングでは過
酸化水素を生体とする通常の市販のエツチング溶液を5
0℃で2分間用いた。スルーホールメッキと電導パター
ンメッキは欠陥がなかりた。
Example 4 A perforated steel coated epoxy resin laminate was processed as in Example 1 above. In step 9, etching, a normal commercially available etching solution containing hydrogen peroxide as the biological material is
It was used for 2 minutes at 0°C. Through-hole plating and conductive pattern plating had no defects.

実施例5 鋼被覆ガラス繊維補強エポキシ樹脂ラミネートを実施例
1と四じように処理した。段階11(活性化)の処理で
は各種の活性化剤溶液を用いた。活性化剤溶液での処理
は各々の場合3分間継続し室温で処理した。この溶液の
組成は次の通りである: 活性剤、溶液風1 硝酸パラジウとしてのパラジウム  200 mV/L
濃硫酸             20y/lビリジ7
             329/lpH値    
           2.7活性化剤、溶液風2 硝酸パラジウムとしてのパラジウム  200 mW/
を濃硫酸             2oy/lエタノ
ールアミン        245//lエタノールア
ミンを用いて調整したpH値  2.1活性化剤、溶液
N[L3 硝酸パラジウムとしてのパラジウム  200 m?/
L濃硫酸             209/lブチル
アミン          50y/lブチルアミンで
調整したpH値       2.0活性化剤、溶液風
4 二塩化パラジウムとしてのパラジウム200 m?/L
#硫酸             1ay/を塩化アン
モニウム        2.4y/lアンモニアを用
いて調整したpH値     2.6活性化剤、溶液醜
5 硝酸パラジウムとしてのパラジウム  200 m”/
/を濃硝酸              40y/lア
ンモニアを用いて調整したpH値     2.7上H
eのパラジウム溶液中での処理中、銅バッキング上に認
知し得るほどのパラジウムの凝結は観察されなかった。
Example 5 A steel coated fiberglass reinforced epoxy resin laminate was processed as in Example 1. Various activator solutions were used in the step 11 (activation) process. Treatment with the activator solution lasted 3 minutes in each case and was carried out at room temperature. The composition of this solution is as follows: activator, solution flow 1 palladium as palladium nitrate 200 mV/L
Concentrated sulfuric acid 20y/l Viridi 7
329/lpH value
2.7 Activator, solution air 2 Palladium as palladium nitrate 200 mW/
pH value adjusted using concentrated sulfuric acid 2 oy/l ethanolamine 245//l ethanolamine 2.1 Activator, solution N[L3 Palladium as palladium nitrate 200 m? /
L concentrated sulfuric acid 209/l butylamine 50y/l pH value adjusted with butylamine 2.0 activator, solution air 4 Palladium as palladium dichloride 200 m? /L
#Sulfuric acid 1ay/ ammonium chloride 2.4y/l pH value adjusted using ammonia 2.6 activator, solution ugliness 5 Palladium as palladium nitrate 200 m”/
/ adjusted using concentrated nitric acid 40y/l ammonia pH value 2.7 upper H
No appreciable palladium condensation was observed on the copper backing during treatment in the palladium solution.

スルーホールメッキ及びネガチブ・マスクの状態を5μ
mのメッキ後に検査した。スルーホールメッキには欠陥
がなく、ネガチブ・マスクは被覆されないままであり、
そして電導路の輪郭にもまた欠陥がなかった。
Through hole plating and negative mask condition 5μ
It was inspected after plating. The through-hole plating is defect-free and the negative mask remains uncovered.
And the contour of the conductive path was also free of defects.

実施例6 実施例1と同じように、銅被覆し、穴あけしたエポキシ
樹脂ラミネートを処理した。段階11の処理中、パラジ
ウム及びエチルアミンを生体とする活性化を行なった。
Example 6 A copper-coated, perforated epoxy resin laminate was processed as in Example 1. During the step 11 process, activation with palladium and ethylamine was performed.

パラジウム濃度は200 mW/lであった。硫酸の量
は添加したエチルアミンの量に対応した近似的な化学量
論量とした。1y、9y/lのエチルアミン濃度(この
溶液のpHは2.0であった。)を用いると肉眼で知覚
し得るパラジウムの凝結が銅箔上で見つかった。
The palladium concentration was 200 mW/l. The amount of sulfuric acid was approximately stoichiometric, corresponding to the amount of ethylamine added. Macroscopically perceptible palladium precipitates were found on the copper foil using an ethylamine concentration of 1y, 9y/l (the pH of this solution was 2.0).

それでもやはり、スルーホールメッキ及び電気化学的に
メッキされた銅層の接着強度には欠点がなかった。活性
化のpH値が3.1に上昇すると、銅箔上でのパラジウ
ムの凝結が明らかに減少した。スルーホールメッキは欠
陥がなかった。それから硫酸をこの溶液に添加してそし
てpH値をエチルアミンを用いて3.2にyA整した。
Nevertheless, the adhesion strength of the through-hole plated and electrochemically plated copper layers was not defective. When the activation pH value increased to 3.1, the condensation of palladium on the copper foil decreased obviously. The through-hole plating was free of defects. Sulfuric acid was then added to this solution and the pH value was adjusted to 3.2 using ethylamine.

エチルアミンの濃度はその時58 f/lであった。こ
の場合もまたスルーホールメッキには欠陥がなく、一方
金属によるネガチブ・マスクの被覆がなかった。
The concentration of ethylamine was then 58 f/l. Again, the through-hole plating was defect-free, while there was no negative mask coverage by metal.

実施例7 実施例6と同じように、グリシンもしくはエチル・ジア
ミンを主体とした活性化剤溶液を調合した。最初に選択
されたキレート剤及びパラジウムの濃度と活性剤溶液の
pFl値により、不満足な結果が観測された。濃度とp
H値を変化させることによって、使用し得る作業条件を
確立した。下記の表はどのような条件変更が相互に起こ
るかということと、その試験の結果を示している。
Example 7 In the same manner as in Example 6, an activator solution based on glycine or ethyl diamine was prepared. Unsatisfactory results were observed due to the initially selected chelating agent and palladium concentrations and the pFl value of the activator solution. concentration and p
By varying the H value, the working conditions that could be used were established. The table below shows how the conditions change and the results of the tests.

溶液の組成は次の通りである。The composition of the solution is as follows.

硝酸パラジウムとしてのパラジウム・・・會賛烹4−4
.+Sついては表参照 濃硫酸            ・・・10り/Lキレ
ート剤          ・・・表参照NaOHを用
いて任意に調整したpH値 ・・・表参照実施例8 実施例1と同じように1穴あけした銅被覆エポキシ樹脂
ラミネートを処理した。化学ニッケル浴の組成並びにニ
ッケルメッキの条件(随15の方法段階)を変更した。
Palladium as palladium nitrate... 4-4
.. For +S, see the table Concentrated sulfuric acid...10 Li/L chelating agent...See the table pH value arbitrarily adjusted using NaOH...See the table Example 8 Copper coating with one hole drilled in the same way as Example 1 Processed epoxy resin laminate. The chemical nickel bath composition as well as the nickel plating conditions (15th method step) were changed.

化学ニッケル浴随1 実施例1に記載された通り 化学ニッケル温風2 硫酸ニッケルとしてのニッケル     6?/lリン
ゴ酸             5oy7tコハク酸 
            10t/lジメチルアミノボ
ラン       29/を酢酸塩としての鉛    
      0,3 rnf/L水酸化ナトリウムで調
整したpH5、5温度               
 50℃処理時間              15分
化学ニッケル浴嵩5 化学ニッケル浴N12と同じようにするが、鉛の代わり
にチオ尿素(0,2mt/!、 ) f:用いた。
Chemical nickel bath No. 1 Chemical nickel hot air as described in Example 1 2 Nickel as nickel sulfate 6? /l malic acid 5oy7t succinic acid
10t/l dimethylaminoborane 29/lead as acetate
pH 5, 5 temperature adjusted with 0,3 rnf/L sodium hydroxide
50°C treatment time 15 minutes Chemical nickel bath volume 5 Same as chemical nickel bath N12, but thiourea (0.2 mt/!, ) f: was used instead of lead.

これら三種の化学ニッケル浴を用いると、欠陥のないス
ルーホールメッキが観察をれた。
Using these three chemical nickel baths, defect-free through-hole plating was observed.

実施例9 本例は溶媒可溶のレジスト及び化学銅浴の使用を示して
いる。
Example 9 This example demonstrates the use of a solvent soluble resist and a chemical copper bath.

実施例1と同じように、N[L5の工程段階ではネガチ
ブ・マスクを溶媒可溶のフォトレジストを用いて製造し
た。工程段階随15の化学金属メッキは、市販品で得ら
れるような通常の化学鋼浴中で行なわれた。スルーホー
ルメッキ及びネガチブ・マスクの状態を電気銅メッキ後
に検査して欠陥のないことがわかった。
As in Example 1, a negative mask was fabricated using a solvent-soluble photoresist in the N[L5 process step. Chemical metal plating in process step 15 was carried out in a conventional chemical steel bath such as is available commercially. The condition of the through-hole plating and negative mask was inspected after electrolytic copper plating and found to be free of defects.

実施例10 実施例1で示したような継続する方法により、20枚の
ボードをはんだ付は試験のために作成した。ガス状三酸
化硫黄中の処理中の条件は、実施例2 に従って変更し
た。N124の工程段階後、プリント印刷回路をリフロ
ーイングに付した。すべてのプリント印刷回路板がどん
な欠陥もなくはんだ付は試験をバスした。
Example 10 Following the method described in Example 1, 20 boards were made for soldering testing. Conditions during treatment in gaseous sulfur trioxide were varied according to Example 2. After the N124 process step, the printed circuit was subjected to reflowing. All printed circuit boards passed the soldering test without any defects.

実施例11(比較例) エポキシ樹脂ラミネートから出きLいる穴あけした鋼バ
ッキングしたボードをフォトレジストで被俊した。ネガ
チブ・マスクを作成後、通常のスルーホールメッキが遂
行された。個々の処理段階は次の通りであった: 1、 通常の市販の酸洗浄剤中でボードの洗浄。
Example 11 (Comparative) A steel-backed board with holes drilled out of an epoxy resin laminate was coated with photoresist. After creating the negative mask, conventional through-hole plating was performed. The individual processing steps were as follows: 1. Cleaning of the board in a normal commercial acid cleaner.

2 水中での洗浄。2. Washing in water.

& 過硫酸す) IJウム溶液中でボードのエツチング
& persulfate) Etching the board in IJum solution.

4、 水中での洗浄。4. Washing in water.

5、 パラジウム・コロイドを主体とする活性化系にお
ける活性化。そこにおいて活性化の為の個々の工程段階
は次の通りであった:a)予備浸せき。
5. Activation in an activation system based on palladium colloid. Therein, the individual process steps for activation were: a) Presoaking.

b)パラジウム・コロイド中での処理。b) Treatment in palladium colloid.

C)洗浄。C) Washing.

d) 促進化。d) Facilitation.

e)洗浄。e) Washing.

6、 化学ニッケル浴中での化学メッキ。6. Chemical plating in a chemical nickel bath.

化学ニッケル給は、実施例1に記載ちれているのと同じ
組成であった。スルーホールメッキは欠陥がなかった。
The chemical nickel feed had the same composition as described in Example 1. The through-hole plating was free of defects.

ネガチブ・マスクは金属で約半分被覆された。その結果
ボードが使用不能であることがわか−)7’C0 実施例12(比較例) 穴あけした銅被覆のエポキシ樹脂ラミネートを室温でジ
メチルホルムアミド水溶液(1:1)中で5分間処理し
て次に水で洗浄した。その後次の組成ニ クロム酸       10重t% 硫酸         50重t% 水               40重量%を有する
クロム/硫酸−水混合液中で処理した。
The negative mask was approximately half coated with metal. As a result, the board was found to be unusable.)7'C0 Example 12 (Comparative Example) A perforated copper-coated epoxy resin laminate was treated in an aqueous dimethylformamide solution (1:1) at room temperature for 5 minutes. Washed with water. It was then treated in a chromium/sulfuric acid-water mixture having the following composition: 10% by weight of dichromic acid, 50% by weight of sulfuric acid, 40% by weight of water.

この処理は室温で5分間持続した。実施例1に対応して
、ボードは活性化され化学的にニッケルメッキされた。
This treatment lasted 5 minutes at room temperature. Corresponding to Example 1, the board was activated and chemically nickel plated.

即ち詳細にはボードは実施例1で示されるような醜6な
いしN11/lの工程段階により処理された。
Specifically, the boards were processed through a process step of 6 to N11/l as shown in Example 1.

銅メツキ後、穴は被覆されておらず従ってボードはスル
ーホールメッキされてはいなかったことは明らかであっ
た。
After copper plating, it was clear that the holes were uncovered and therefore the board had not been through-hole plated.

実施例15(比較例) この実施例は、一連の方法における変化に言及している
。穴あけした銅でバッキングされたボードを下記の如く
処理した: 1、 実施例1で示されるSU3含有雰囲気中での処理
Example 15 (Comparative) This example refers to a series of changes in method. The perforated copper-backed board was treated as follows: 1. Treatment in an SU3-containing atmosphere as described in Example 1.

2 水中での洗浄。2. Washing in water.

五 実施例1の段階11ないし段階14と同じような活
性化。
5. Activation similar to steps 11 to 14 of Example 1.

4、 ボードの乾燥、連続処理の中断。4. Board drying, interruption of continuous processing.

これに続くネガチプマスクの製造は省略した。The subsequent production of negative chip masks was omitted.

5、 処理の継続:洗浄、エツチング、実施例1の段階
N[L7ないし10及び15ないし1Bと同様に化学ニ
ッケル浴中及び電気化学的銅浴中での処理。
5. Continuation of processing: cleaning, etching, step N of Example 1 [treatment in chemical nickel bath and electrochemical copper bath as in L7 to 10 and 15 to 1B.

結果:完全なスルーホールメッキは全く観察されなかっ
た。
Results: No complete through-hole plating was observed.

実施例14(比較例) 実施例5と同じように、200 mf/lのパラジウム
の活性化溶液を0.9597tの2−アミノピリジンで
試験した。ガス状三酸化硫黄中での処理はいくつかの試
料では省略した。結果を下記の表に示した。
Example 14 (Comparative Example) Analogous to Example 5, an activated solution of 200 mf/l palladium was tested with 0.9597 t of 2-aminopyridine. Treatment in gaseous sulfur trioxide was omitted for some samples. The results are shown in the table below.

/′/′

Claims (18)

【特許請求の範囲】[Claims] (1)基板に電気接続のための穴が設けられ、そして基
板の表面に減退法によりネガチブ・マスクの援けをかり
て金属パターンが製造される方法において、下記の工程
: ガス状三酸化硫黄中の処理、 製造されるべき電導パターンに相応するネ ガチブ・マスクの施用、 イオン生成貴金属溶液による活性化、還元 剤溶液中における処理、金属メッキが製造されるべき金
属パターンの表面のみで行なわれる化学メッキまたは電
気化学メッキ、により実現されるスルーホールメッキ及
びその後の電導パターンのメッキ、 が実施されることを特徴とする絶縁基板上の金属パター
ン、特に印刷回路の製造方法。
(1) A method in which a substrate is provided with holes for electrical connections and a metal pattern is produced on the surface of the substrate by the attenuation method with the aid of a negative mask, comprising the steps of: gaseous sulfur trioxide; application of a negative mask corresponding to the conductive pattern to be produced, activation with an ion-generating noble metal solution, treatment in a reducing agent solution, chemistry in which metal plating is carried out only on the surface of the metal pattern to be produced. A method for producing a metal pattern, in particular a printed circuit, on an insulating substrate, characterized in that through-hole plating realized by plating or electrochemical plating and subsequent plating of a conductive pattern is carried out.
(2)処理中、10mg/lから25℃で65%の発煙
硫酸上の三酸化硫黄の蒸気圧に対応する濃度までの三酸
化硫黄が用いられる特許請求の範囲第1項記載の方法。
(2) A process according to claim 1, in which sulfur trioxide is used during the treatment from 10 mg/l to a concentration corresponding to the vapor pressure of sulfur trioxide over 65% oleum at 25°C.
(3)ガス状三酸化硫黄中の処理が1秒ないし20分、
好ましくは5秒ないし5分続く特許請求の範囲第1項記
載の方法。
(3) treatment in gaseous sulfur trioxide for 1 second to 20 minutes;
A method according to claim 1, which preferably lasts from 5 seconds to 5 minutes.
(4)ネガチブ・マスクがフォトレジストまたはスクリ
ーン印刷によりて製造される特許請求の範囲第1項記載
の方法。
(4) The method according to claim 1, wherein the negative mask is manufactured by photoresist or screen printing.
(5)活性化溶液がパラジウム塩を含有する特許請求の
範囲第1項記載の方法。
(5) The method according to claim 1, wherein the activation solution contains a palladium salt.
(6)塩基性窒素原子を含有する1種またはそれ以上の
化合物を活性化溶液に加える特許請求の範囲第1項記載
の方法。
(6) A method according to claim 1, in which one or more compounds containing basic nitrogen atoms are added to the activation solution.
(7)パラジウム塩のモル濃度に対して、窒素原子を含
有する化合物の窒素に基づくモル濃度比が少くとも2で
ある特許請求の範囲第6項記載の方法。
(7) The method according to claim 6, wherein the nitrogen-based molar concentration ratio of the nitrogen atom-containing compound to the molar concentration of the palladium salt is at least 2.
(8)活性化溶液がアンモニウムイオンを含有する特許
請求の範囲第6項記載の方法。
(8) The method according to claim 6, wherein the activation solution contains ammonium ions.
(9)活性化溶液が第1級、第2級または第3級アミン
を含有する特許請求の範囲第6項記載の方法。
(9) The method according to claim 6, wherein the activation solution contains a primary, secondary or tertiary amine.
(10)活性化溶液のpH値が1ないし7、好ましくは
2ないし3に調整されている特許請求の範囲第6項記載
の方法。
(10) The method according to claim 6, wherein the pH value of the activation solution is adjusted to 1 to 7, preferably 2 to 3.
(11)還元剤溶液がアミノボラン化合物を含有する特
許請求の範囲第1項記載の方法。
(11) The method according to claim 1, wherein the reducing agent solution contains an aminoborane compound.
(12)還元剤溶液がジメチルアミノボランを含有する
特許請求の範囲第11項記載の方法。
(12) The method according to claim 11, wherein the reducing agent solution contains dimethylaminoborane.
(13)ネガチブ・マスクとして、溶媒可溶またはアル
カリ可溶のフォトレジストまたはスクリーン印刷インク
が使われる特許請求の範囲第1項記載の方法。
(13) The method according to claim 1, wherein a solvent-soluble or alkali-soluble photoresist or screen printing ink is used as the negative mask.
(14)化学メッキ浴として、化学ニッケル浴が用いら
れる特許請求の範囲第1項記載の方法。
(14) The method according to claim 1, wherein a chemical nickel bath is used as the chemical plating bath.
(15)化学メッキ浴が還元剤としてのアミノボランを
含有する特許請求の範囲第14項記載の方法。
(15) The method according to claim 14, wherein the chemical plating bath contains aminoborane as a reducing agent.
(16)化学ニッケル浴がジメチルアミノボランを含有
する特許請求の範囲第14項記載の方法。
(16) The method according to claim 14, wherein the chemical nickel bath contains dimethylaminoborane.
(17)化学ニッケル浴のpH値が5と7の間にセット
されている特許請求の範囲第14項記載の方法。
(17) The method according to claim 14, wherein the pH value of the chemical nickel bath is set between 5 and 7.
(18)基板に電気接続のための穴が設けられ、そして
基板の表面に減退法によりネガチブ・マスクの援けをか
りて金属パターンが製造される絶縁基板であって該基板
が下記の工程: ガス状三酸化硫黄中の処理、 製造されるべき電導パターンに相応するネ ガチブ・マスクの施用、 イオン生成貴金属溶液による活性化、還元 剤溶液中における処理、金属メッキが製造されるべき金
属パターンの表面のみで行なわれる化学メッキまたは電
気化学メッキ、により実現されるスルーホールメッキ及
びその後の電導パターンのメッキ、 により行なわれた金属パターン、特に印刷回路を有する
ことを特徴とする絶縁基板。
(18) An insulating substrate in which holes for electrical connections are provided and a metal pattern is fabricated on the surface of the substrate by the attenuation method with the aid of a negative mask, the substrate being subjected to the following steps: treatment in gaseous sulfur trioxide, application of a negative mask corresponding to the conductive pattern to be produced, activation with an ion-generating noble metal solution, treatment in a reducing agent solution, the surface of the metal pattern on which metal plating is to be produced. 1. An insulating substrate characterized in that it has a metal pattern, in particular a printed circuit, made by chemical plating or electrochemical plating carried out by chisel, through-hole plating and subsequent plating of an electrically conductive pattern.
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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62248290A (en) * 1986-04-22 1987-10-29 日本曹達株式会社 Manufacture of circuit board
JPH06275933A (en) * 1992-08-26 1994-09-30 Internatl Business Mach Corp <Ibm> Circuit board and manufacture thereof
JP2009179823A (en) * 2008-01-29 2009-08-13 Sankyo Kasei Co Ltd Plastic spring having conductive circuit
JP2012530844A (en) * 2009-06-19 2012-12-06 マクダーミッド アキューメン インコーポレーテッド Selective deposition of metals on plastic substrates.

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