JPS62113003A - ヘツド浮上量測定装置 - Google Patents
ヘツド浮上量測定装置Info
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- JPS62113003A JPS62113003A JP25307985A JP25307985A JPS62113003A JP S62113003 A JPS62113003 A JP S62113003A JP 25307985 A JP25307985 A JP 25307985A JP 25307985 A JP25307985 A JP 25307985A JP S62113003 A JPS62113003 A JP S62113003A
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- Japan
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- magnetic disk
- slider
- flying height
- disk
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
以下の順序で本発明を説明する。
A産業上の利用分野
B発明の概要
C従来の技術
り発明が解決しようとする問題点
E問題点を解決するための手段(第1図及び第2図)
F作用(第1図及び第2図)
G実施例(第1図〜第5図)
H発明の効果
A産業上の利用分野
本発明はヘッド浮上量測定装置に関し、特にいわゆるハ
ードディスク等に用いられる浮上ヘッドの浮上態様の判
定をなし得るようにしたものである。
ードディスク等に用いられる浮上ヘッドの浮上態様の判
定をなし得るようにしたものである。
B発明の概要
本発明は、回転するディスクと、このディスク表面に生
ずる空気流を利用して浮上するように配設されたヘッド
部との間に生ずる光学的干渉縞によって、ヘッド部の浮
上量を測定するヘッド浮上量測定装置において、ヘッド
部を透明材料で構成することによって、ヘッド部側から
光学的干渉縞を観測し得るようにしたことにより、実際
に使用されるディスクの特性に応動するヘッド部の浮り
特性を適確に観測できるようにし得る。
ずる空気流を利用して浮上するように配設されたヘッド
部との間に生ずる光学的干渉縞によって、ヘッド部の浮
上量を測定するヘッド浮上量測定装置において、ヘッド
部を透明材料で構成することによって、ヘッド部側から
光学的干渉縞を観測し得るようにしたことにより、実際
に使用されるディスクの特性に応動するヘッド部の浮り
特性を適確に観測できるようにし得る。
C従来の技術
いわゆるハードディスクを用いた情報記録再生装置にお
いては、高速回転する磁気ディスクに対して磁気ヘッド
を微小空隙を保って対向させるようにすることにより、
磁気ディスク上に情報を高密度記録し又は再生できるよ
うな工夫がされており、従来、微小空隙を保って磁気ヘ
ッドを磁気ディスク表面に対向させる手段として、磁気
ディスクがその高速回転に伴って連れ回る空気流によっ
て磁気ヘッドを浮上させる方法が採用されている。
いては、高速回転する磁気ディスクに対して磁気ヘッド
を微小空隙を保って対向させるようにすることにより、
磁気ディスク上に情報を高密度記録し又は再生できるよ
うな工夫がされており、従来、微小空隙を保って磁気ヘ
ッドを磁気ディスク表面に対向させる手段として、磁気
ディスクがその高速回転に伴って連れ回る空気流によっ
て磁気ヘッドを浮上させる方法が採用されている。
この種の情報記録再生装置において、磁気ヘッドを浮上
させた際に、その浮上態様を詳細に把握する手段があれ
ば、ヘッドが設計値通りに安定に浮上しているか否かを
評価したり、ヘッドの問題点を改善するための手段を講
する際6ご有効であると考えられる。
させた際に、その浮上態様を詳細に把握する手段があれ
ば、ヘッドが設計値通りに安定に浮上しているか否かを
評価したり、ヘッドの問題点を改善するための手段を講
する際6ご有効であると考えられる。
このような考え方に基づいて、ヘッドの浮j−安定性を
測定する装置が、特開昭60−124071号公報及び
特開昭60−124072号公報に開示されている。
測定する装置が、特開昭60−124071号公報及び
特開昭60−124072号公報に開示されている。
D発明が解決しようとする問題点
この従来の浮上安定性測定装置は、いずれも、磁気ヘッ
ドが対向すべき磁気ディスクに代えて高速回転する透明
ガラス板を用意し、この透明ガラス板を磁気ディスクと
等価であると考えて透明ガラス板を通して磁気ヘッドの
表面をVTRカメラで撮像する。その結果、磁気ヘッド
及び透明ガラス板間に空隙があるために生ずる光学的干
渉縞を、透明ガラス板を透過して観察することができ、
これをVTRカメラによって撮像して記録手段に記録す
るようにすれば、磁気ヘッドの浮上安定性を判断し得る
情報を得ることができる。
ドが対向すべき磁気ディスクに代えて高速回転する透明
ガラス板を用意し、この透明ガラス板を磁気ディスクと
等価であると考えて透明ガラス板を通して磁気ヘッドの
表面をVTRカメラで撮像する。その結果、磁気ヘッド
及び透明ガラス板間に空隙があるために生ずる光学的干
渉縞を、透明ガラス板を透過して観察することができ、
これをVTRカメラによって撮像して記録手段に記録す
るようにすれば、磁気ヘッドの浮上安定性を判断し得る
情報を得ることができる。
この方法は、実際に使用される磁気ディスクとガラス板
とが等価であると考えて、これを前提として光学的干渉
縞に基づく測定を行うようになされている。ところが実
際に使用される磁気ディスクは、透明ガラス板と較べて
、基板のうねりや、基板の歪がある上に、場合によって
は磁気ディスクの表面に突起物がある場合もあり、磁気
ヘッドの浮上量はその影響を受けて、ガラス板とは異な
る静特性又は動特性を呈すると考えられる。
とが等価であると考えて、これを前提として光学的干渉
縞に基づく測定を行うようになされている。ところが実
際に使用される磁気ディスクは、透明ガラス板と較べて
、基板のうねりや、基板の歪がある上に、場合によって
は磁気ディスクの表面に突起物がある場合もあり、磁気
ヘッドの浮上量はその影響を受けて、ガラス板とは異な
る静特性又は動特性を呈すると考えられる。
本発明は以上の点を考慮してなされたもので、光学的干
渉縞の発生を利用して磁気ディスクに対するヘッド部の
浮上状態を、当該ヘッド部の磁気ディスクからの浮上量
に基づいて判知するにつき、実際に使用される磁気ディ
スクを用いてヘッド部の浮上量を測定し得るようにした
ヘッド浮上量測定装置を提案しようとするものである。
渉縞の発生を利用して磁気ディスクに対するヘッド部の
浮上状態を、当該ヘッド部の磁気ディスクからの浮上量
に基づいて判知するにつき、実際に使用される磁気ディ
スクを用いてヘッド部の浮上量を測定し得るようにした
ヘッド浮上量測定装置を提案しようとするものである。
E問題点を解決するための手段
かかる問題点を解決するため本発明においては、回転す
るディスク3と、このディスク3の表面に生ずる空気流
を利用して浮上するように配設されたヘッド部4との間
に生ずる光学的干渉縞によって、ヘッド部4の浮上量を
測定するヘッド浮上量測定装置において、ヘッド部4は
少なくともスライド面4L、4Rの部分が透明となされ
、ディスク3及びヘッド部4間に生じた光学的干渉縞を
スライド面4L、4Rの部分を透過して観測できるよう
にする。
るディスク3と、このディスク3の表面に生ずる空気流
を利用して浮上するように配設されたヘッド部4との間
に生ずる光学的干渉縞によって、ヘッド部4の浮上量を
測定するヘッド浮上量測定装置において、ヘッド部4は
少なくともスライド面4L、4Rの部分が透明となされ
、ディスク3及びヘッド部4間に生じた光学的干渉縞を
スライド面4L、4Rの部分を透過して観測できるよう
にする。
F作用
回転するディスク3に対向するように配設されたヘッド
部4は透明材料で構成され、かくしてヘッド部4を透過
してヘッド部4及びディスク3間の空隙によって生ずる
光学的干渉縞を、ヘッド部4を透過して観測することが
できる。
部4は透明材料で構成され、かくしてヘッド部4を透過
してヘッド部4及びディスク3間の空隙によって生ずる
光学的干渉縞を、ヘッド部4を透過して観測することが
できる。
このようにすることにより、ディスク3として実際に使
用されるディスクを使用しても、その特性に対応する光
学的干渉縞を発生させてこれを観測することができるこ
とにより、実際に使用されるディスクのうねり、歪、表
面の突起物等の影響によってヘッド部4が相対的にどの
ような態様で浮上するかを適確に測定し得るヘッド浮上
量測定装置を容易に実現し得る。
用されるディスクを使用しても、その特性に対応する光
学的干渉縞を発生させてこれを観測することができるこ
とにより、実際に使用されるディスクのうねり、歪、表
面の突起物等の影響によってヘッド部4が相対的にどの
ような態様で浮上するかを適確に測定し得るヘッド浮上
量測定装置を容易に実現し得る。
G実施例
以F図面について、本発明の−・実施例を詳述する。
第1図において、lは全体としてヘッド浮上量測定装置
を示し、モータ2によって回転駆動される磁気ディスク
3と対向するようにヘッド部4が配設され、このヘッド
部4が根元部分をヘッド支持板5に固着されている弾性
部材6の先端に固着されている。これにより、へ・ンド
部4は弾性部材6によって磁気ディスク3の方向に押圧
偏倚され°Cいる。磁気ディスク3としては、例えばア
ルミニコーム製の回転円板に磁性材料を塗布した構成の
ものを適用し得る。
を示し、モータ2によって回転駆動される磁気ディスク
3と対向するようにヘッド部4が配設され、このヘッド
部4が根元部分をヘッド支持板5に固着されている弾性
部材6の先端に固着されている。これにより、へ・ンド
部4は弾性部材6によって磁気ディスク3の方向に押圧
偏倚され°Cいる。磁気ディスク3としては、例えばア
ルミニコーム製の回転円板に磁性材料を塗布した構成の
ものを適用し得る。
ヘッド支持板5ば、固定部7に固定されているステージ
8上を矢印aで示す方向(X方向及びY方向)に進退す
る移動部材91に固定され、移動部材9がステージ送り
ドライバ10の制御出力S1によって矢印aの方向に進
退されると、これに応じてヘッド部4が磁気ディスク3
の半径方向の所定位置に位置決め制御される。
8上を矢印aで示す方向(X方向及びY方向)に進退す
る移動部材91に固定され、移動部材9がステージ送り
ドライバ10の制御出力S1によって矢印aの方向に進
退されると、これに応じてヘッド部4が磁気ディスク3
の半径方向の所定位置に位置決め制御される。
モータ2は、回転制御回路11の駆動出力S2によって
回転駆動され、その出力軸に装着された磁気ディスク3
の回転速度に対応するパルス間隔を有するパルス出力S
3を回転センサ12において発生し、これをタコメータ
13によって回転速度に相当する直情レベルでなる回転
速度検出出力S4に変換して回転制御回路11にフィー
ドバックする。
回転駆動され、その出力軸に装着された磁気ディスク3
の回転速度に対応するパルス間隔を有するパルス出力S
3を回転センサ12において発生し、これをタコメータ
13によって回転速度に相当する直情レベルでなる回転
速度検出出力S4に変換して回転制御回路11にフィー
ドバックする。
かくしてモータ2に対するサーボ系が形成され、回転制
御回路11にマイクロコンピュータ#UD中央処理ユニ
ット15から供給される速度基準信号S5に対応する速
度で、磁気ディスク3を高速回転させるようになされて
いる。
御回路11にマイクロコンピュータ#UD中央処理ユニ
ット15から供給される速度基準信号S5に対応する速
度で、磁気ディスク3を高速回転させるようになされて
いる。
中央処理ユニット15には、回転速度検出出力S4が、
モータ2の現在の回転速度を表すデータとして入力され
る。
モータ2の現在の回転速度を表すデータとして入力され
る。
磁気ディスク3は、高速回転する際に、表面に接触して
いる空気流を連れ回ることにより、第2図に示すように
、ヘッド部4と磁気ディスク3の表面との間に空気流A
Rを発生し、ヘッド部4はこの空気流ARによって浮−
L力を与えられ、かくしてヘッド部4が弾性部材6の押
圧力に抗して磁気ディスク3から離れる方向に浮上する
。
いる空気流を連れ回ることにより、第2図に示すように
、ヘッド部4と磁気ディスク3の表面との間に空気流A
Rを発生し、ヘッド部4はこの空気流ARによって浮−
L力を与えられ、かくしてヘッド部4が弾性部材6の押
圧力に抗して磁気ディスク3から離れる方向に浮上する
。
ヘッド部4は空気流ARに対して必要に応じて所定量だ
け浮上し得るような第3図に示す構成を有する。
け浮上し得るような第3図に示す構成を有する。
ヘッド部4は横断面が凹状の透明材料でなるスライダ4
Aを有し、表面上に磁気ディスク3の表面に対向する一
対のスライド面4L及び4Rが形成されている。スライ
ド面4L及び4Rは空気流ARに沿う方向に溝4Bを挟
んで平行に延長し、その表面は鏡面仕上げされている。
Aを有し、表面上に磁気ディスク3の表面に対向する一
対のスライド面4L及び4Rが形成されている。スライ
ド面4L及び4Rは空気流ARに沿う方向に溝4Bを挟
んで平行に延長し、その表面は鏡面仕上げされている。
スライド面4L及び又は4Rの後端部には、ヘッド4C
が装着されている。第3図の場合のヘッド部4は1つの
磁気ヘッド4Cを含んでなるブロックを、一方のスライ
ド面4Rの後縁部に穿設された切り溝4D内に挿入され
、接着材によってスライダ4Aに接着されている。
が装着されている。第3図の場合のヘッド部4は1つの
磁気ヘッド4Cを含んでなるブロックを、一方のスライ
ド面4Rの後縁部に穿設された切り溝4D内に挿入され
、接着材によってスライダ4Aに接着されている。
かかるヘッド部4の構成をモノリシックな構造と呼ぶが
、これに対して第3図において破線で示すように、スラ
イド面4L側にも、ヘッド4Eを搭載するいわゆるコン
ポジット構造にも構成し得る。
、これに対して第3図において破線で示すように、スラ
イド面4L側にも、ヘッド4Eを搭載するいわゆるコン
ポジット構造にも構成し得る。
スライダ4Aのスライド面4 i−及び4Rの先端部に
は、斜めに面取りされた空気流流入用斜面4M及び4N
が形成され、この空気流流入用斜面4M及び4Nから流
入した空気流ARが、この空気流流入用斜面4M及び4
Nを磁気ディスク3から離す方向に押しながらスライド
面4 L及び4Rと、磁気ディスク3との間に流れ込む
ようになされている。
は、斜めに面取りされた空気流流入用斜面4M及び4N
が形成され、この空気流流入用斜面4M及び4Nから流
入した空気流ARが、この空気流流入用斜面4M及び4
Nを磁気ディスク3から離す方向に押しながらスライド
面4 L及び4Rと、磁気ディスク3との間に流れ込む
ようになされている。
ここで、スライダ4Aのスライド面4L及び4Rが鏡面
仕上げされているのに対して、$413の内表面は鏡面
仕上げされていないので、第2図に示すように、スライ
ダ4Aの上方から照射光11が照射されたとき、スライ
ド面4 L及び4Rの部分を通る光のうち、一部がスラ
イド面4L及び4Rにおいて反射光[21として反射さ
れ、またスライド面4L及び4R部分を透過した光が磁
気ディスク3の表面において反射光I2□として反射さ
れる。かくして、反射光I!l及び■2□の合成反射光
Rによって光学的干渉縞が発生するようになされている
。
仕上げされているのに対して、$413の内表面は鏡面
仕上げされていないので、第2図に示すように、スライ
ダ4Aの上方から照射光11が照射されたとき、スライ
ド面4 L及び4Rの部分を通る光のうち、一部がスラ
イド面4L及び4Rにおいて反射光[21として反射さ
れ、またスライド面4L及び4R部分を透過した光が磁
気ディスク3の表面において反射光I2□として反射さ
れる。かくして、反射光I!l及び■2□の合成反射光
Rによって光学的干渉縞が発生するようになされている
。
実際上スライダ4Aは、第2図に示すように、空気流A
Rが流入する前端縁が比較的高く浮き上がるのに対して
、磁気ヘッド4Cが搭載されている後端部と、磁気ディ
スク3との間の空隙が狭くなる(例えば0.2〜0.3
(μva )から0.5(,171+〕程度まで)よ
うな姿勢で浮上する。かくして磁気ディスク3から得ら
れる再生出力の出力レベルをできるだけ大きくすること
により、高密度記録された情報を有効にピックアップで
きるようになされている。
Rが流入する前端縁が比較的高く浮き上がるのに対して
、磁気ヘッド4Cが搭載されている後端部と、磁気ディ
スク3との間の空隙が狭くなる(例えば0.2〜0.3
(μva )から0.5(,171+〕程度まで)よ
うな姿勢で浮上する。かくして磁気ディスク3から得ら
れる再生出力の出力レベルをできるだけ大きくすること
により、高密度記録された情報を有効にピックアップで
きるようになされている。
透明材料で構成されたスライダ4Aには、その上方に配
設された顕微鏡21 (第1図)から対物レンズ21A
を通じて照射光■1が照射され、この照射光■1がスラ
イダ4Aを透過して磁気ディスク3の表面に到達し得る
ようになされている。
設された顕微鏡21 (第1図)から対物レンズ21A
を通じて照射光■1が照射され、この照射光■1がスラ
イダ4Aを透過して磁気ディスク3の表面に到達し得る
ようになされている。
一方、光源22から発生される光のうら、所定の波長の
単色光が、色フィルタ23によってフィルタリングされ
た後、顕微鏡21内に設けられたハーフミラ−21Bを
介して対物レンズ21Aからヘッド部4に照射光I、と
して照射する。
単色光が、色フィルタ23によってフィルタリングされ
た後、顕微鏡21内に設けられたハーフミラ−21Bを
介して対物レンズ21Aからヘッド部4に照射光I、と
して照射する。
その結果光学的干渉縞を発生している合成反射光Rは、
対物レンズ21A、ハーフミラ−21Bを通してテレビ
ジョンカメラ24に入射されてラスク映像信号VDIN
に変換される。このラスク映像信号VDINはモニタ3
0に与えられ、第4図(B)に示すように、その表示画
面DIS上に、スライダ4Aのスライド面4L、4Rと
共に、スライド面4L、4R上に発生した光学的干渉縞
を映し出す。
対物レンズ21A、ハーフミラ−21Bを通してテレビ
ジョンカメラ24に入射されてラスク映像信号VDIN
に変換される。このラスク映像信号VDINはモニタ3
0に与えられ、第4図(B)に示すように、その表示画
面DIS上に、スライダ4Aのスライド面4L、4Rと
共に、スライド面4L、4R上に発生した光学的干渉縞
を映し出す。
またラスク映像信号VD、HはIH切取り回路31に与
えられる。IH切取り回路31は、ラスク映像信号VD
INから1本の走査ライン分の映像信号を抜き取るよう
になされ、そのIH映像信号VDMをアナログ/ディジ
タル変換回路32においてディジタル信号に変換して中
央処理ユニット15に取り込ませる。このIH映像信号
VD□は、第4図(B)に示すように、表示画面DIS
のうち、スライド面4L又は4Rの一方(例えば4R)
上の1本の走査ラインSCHによって抽出された映像信
号を内容とし、かくしてこのIH映像信号VD、から干
渉縞次数1次、2次・・・・・・の干渉縞の位置及び干
渉縞の間隔λ/2についてのデータを、中央処理ユニッ
ト15に取り込むことができるようになされている。
えられる。IH切取り回路31は、ラスク映像信号VD
INから1本の走査ライン分の映像信号を抜き取るよう
になされ、そのIH映像信号VDMをアナログ/ディジ
タル変換回路32においてディジタル信号に変換して中
央処理ユニット15に取り込ませる。このIH映像信号
VD□は、第4図(B)に示すように、表示画面DIS
のうち、スライド面4L又は4Rの一方(例えば4R)
上の1本の走査ラインSCHによって抽出された映像信
号を内容とし、かくしてこのIH映像信号VD、から干
渉縞次数1次、2次・・・・・・の干渉縞の位置及び干
渉縞の間隔λ/2についてのデータを、中央処理ユニッ
ト15に取り込むことができるようになされている。
なお、モニタ30の表示画面DIS上に、走査ラインS
CHを表示させるための表示信号S7がIH切取り回路
31からモニタ30に与えられる。
CHを表示させるための表示信号S7がIH切取り回路
31からモニタ30に与えられる。
中央処理ユニット15はデータを外部記憶装置、例えば
フロッピディスク35に蓄積し、必要に応じて読み出し
て演算データとして用いると共に、プリンタ36によっ
てプリントアウトする。
フロッピディスク35に蓄積し、必要に応じて読み出し
て演算データとして用いると共に、プリンタ36によっ
てプリントアウトする。
中央処理ユニット15は、かかる光学的干渉縞の明暗に
ついてのデータに基づいて、ヘッド部4のスライド面4
L及び4R上の各点について、対向する磁気ディスク3
の表面との間の距離(従つて浮上量h)を次のような原
理に基づいて演算により求める。
ついてのデータに基づいて、ヘッド部4のスライド面4
L及び4R上の各点について、対向する磁気ディスク3
の表面との間の距離(従つて浮上量h)を次のような原
理に基づいて演算により求める。
先ず第2図において反射光121及び1.を合成して得
られる合成反射光R(すなわち干渉光)は、次式 %式%(1) で表され、λは照射される単色光の波長(例えば0.4
〜0.8 (、czm)程度)、Ig+はスライダ4A
の表面からの反射光Iitの振幅を表し、■zgは磁気
ディスク3の表面からの反射光■、の振幅を表すものと
する。
られる合成反射光R(すなわち干渉光)は、次式 %式%(1) で表され、λは照射される単色光の波長(例えば0.4
〜0.8 (、czm)程度)、Ig+はスライダ4A
の表面からの反射光Iitの振幅を表し、■zgは磁気
ディスク3の表面からの反射光■、の振幅を表すものと
する。
従って単色光の波長λを固定したときの合成反射光Rの
値は、スライド面4L、4R(第4図(B))の各部分
について、反射光II+及び122の位相差(従って磁
気ディスク3の表面からのスライド面4 L、4Rの浮
上量h(第4図(C))に相当する明るさをもっている
。そこでスライド面4 L、4Rの長さ方向の座標位置
Xについて移動させるように明るさを見たとき、スライ
1゛面4L。
値は、スライド面4L、4R(第4図(B))の各部分
について、反射光II+及び122の位相差(従って磁
気ディスク3の表面からのスライド面4 L、4Rの浮
上量h(第4図(C))に相当する明るさをもっている
。そこでスライド面4 L、4Rの長さ方向の座標位置
Xについて移動させるように明るさを見たとき、スライ
1゛面4L。
4Rの各位置における合成反射光Rの明るさの変化は、
正弦波形的になる(第4図(A))。このようになるの
は、スライド面4L、4Rの表面が平面のとき(2)式
の浮上1hがスライド面4I4.4Rの座標位置Xに比
例して変化することになるからである。
正弦波形的になる(第4図(A))。このようになるの
は、スライド面4L、4Rの表面が平面のとき(2)式
の浮上1hがスライド面4I4.4Rの座標位置Xに比
例して変化することになるからである。
これに対して、平面でなく、多少の凹凸がある場合には
、その特徴に応じて正弦波形の位相が部分的にずれるよ
うに変化する。
、その特徴に応じて正弦波形の位相が部分的にずれるよ
うに変化する。
かくしてスライド面417.4Rの座標位置Xの方向に
見たときスライド面4F7.4Rの表面の明るさは正弦
波形的に明暗を繰り返すが、その最も暗い部分DP(第
4図(B))(又は最も明るい部分)の間隔は、照射光
1.として選択された単色光の波長λに対してλ/2の
関係にある。従ってスライド面4L、4Rが延長する方
向の座標位lxの任意の座標位置X。(例えばヘッド4
Cのギャップの座標位置(これをヘッド位置と呼ぶ))
を固定して反射光Rの値R0を求め、このR。
見たときスライド面4F7.4Rの表面の明るさは正弦
波形的に明暗を繰り返すが、その最も暗い部分DP(第
4図(B))(又は最も明るい部分)の間隔は、照射光
1.として選択された単色光の波長λに対してλ/2の
関係にある。従ってスライド面4L、4Rが延長する方
向の座標位lxの任意の座標位置X。(例えばヘッド4
Cのギャップの座標位置(これをヘッド位置と呼ぶ))
を固定して反射光Rの値R0を求め、このR。
に対応する浮上量り。を求めれば、固定位置X。
(すなわちヘッド4Cのギャップ位置)の浮上量を測定
し得る。
し得る。
ところで、(1)弐及び(2)式において、ヘッドの浮
上量りを変数と考えると、第5図に示すように、ヘッド
位置における浮上量りが大きくなって行けば当該ヘッド
位置における明るさは正弦波形的に繰り返し変化する。
上量りを変数と考えると、第5図に示すように、ヘッド
位置における浮上量りが大きくなって行けば当該ヘッド
位置における明るさは正弦波形的に繰り返し変化する。
従って測定したいヘッドの浮上量h0を正確に知るため
には、浮上量hoかどのサイクル(すなわち干渉縞のど
の次数)のどの位相位置にあるかを測定すれば良い。
には、浮上量hoかどのサイクル(すなわち干渉縞のど
の次数)のどの位相位置にあるかを測定すれば良い。
実際上中央処理ユニット15において測定する情報は、
合成反射光Rの最大値RIThaX及び最小値R□ゎで
あり、ヘッド位置における明るさRoに対応するヘッド
浮上量h0は、干渉縞の位相λ/4を単位とした次数m
との関係から次のようにして求めることができる。
合成反射光Rの最大値RIThaX及び最小値R□ゎで
あり、ヘッド位置における明るさRoに対応するヘッド
浮上量h0は、干渉縞の位相λ/4を単位とした次数m
との関係から次のようにして求めることができる。
すなわち第5図において、次数m−3の位相範囲の測定
点の明るさR8に対応する浮上量り。は、すぐ隣の次数
m=2までの浮上量をk)、とし、当該次数]71=2
における位相区間の明るさの最大値R□つの位置(すな
わち3λ/4の位置)から明るさR6の位置までの位相
差に相当する浮上量をh2としたとき、 hO=h、+h、 ・・・・・・(3)
のように浮上量h1及びb2の和として表すことができ
る。
点の明るさR8に対応する浮上量り。は、すぐ隣の次数
m=2までの浮上量をk)、とし、当該次数]71=2
における位相区間の明るさの最大値R□つの位置(すな
わち3λ/4の位置)から明るさR6の位置までの位相
差に相当する浮上量をh2としたとき、 hO=h、+h、 ・・・・・・(3)
のように浮上量h1及びb2の和として表すことができ
る。
ここで浮上量h1は、
λ
h 、 = −x m ・・・・・・(
4)で表される値になる。これに対してh2は、次数m
=3の位相区間における最大値RnmX及び最小値R、
Ii、1間の明るさRoの位相を求める演算としく17
) て、(1)式及び(2)式のC,OS δをhについて
解く演算を実行することによって、値R0を横軸に変換
することにより得られる。従ってヘッド浮上量h0は ・・・・・・(5) として表すことができる。
4)で表される値になる。これに対してh2は、次数m
=3の位相区間における最大値RnmX及び最小値R、
Ii、1間の明るさRoの位相を求める演算としく17
) て、(1)式及び(2)式のC,OS δをhについて
解く演算を実行することによって、値R0を横軸に変換
することにより得られる。従ってヘッド浮上量h0は ・・・・・・(5) として表すことができる。
(5)式において、値RO、Ratn % Ram8、
m、照射光■1の波長λは全て既知であるので、(5)
式によって測定点に対応する合成反射光Rの明るさRo
に対応する浮上量h0を求めることができる。
m、照射光■1の波長λは全て既知であるので、(5)
式によって測定点に対応する合成反射光Rの明るさRo
に対応する浮上量h0を求めることができる。
中央処理ユニット15はかかる演算結果を、必要に応じ
てフロッピディスク35に格納し得る。
てフロッピディスク35に格納し得る。
さらに第1図のヘッド浮上量測定装置1は、顕微鏡21
のテレビジョンカメラ24への反射光の導入径路にハー
フミラ−40を介挿し、このハーフミラ−40によって
反射光Rの光量を検出回路41において検出し、その検
出出力S6をアナログ/ディジタル変換回路42におい
てディジクルデータに変換した後、中央処理ユニット1
5に入力し、必要に応じてフロッピディスク35に格納
する。
のテレビジョンカメラ24への反射光の導入径路にハー
フミラ−40を介挿し、このハーフミラ−40によって
反射光Rの光量を検出回路41において検出し、その検
出出力S6をアナログ/ディジタル変換回路42におい
てディジクルデータに変換した後、中央処理ユニット1
5に入力し、必要に応じてフロッピディスク35に格納
する。
かくして磁気ディスク3上の1本のトラック位置にスラ
イダ4A及び顕微鏡21を設定した後、磁気ディスク3
が1回転する間に、光検出回路41から得られる検出出
力S6が変化したとき、その変化幅を当該トラックにお
けるヘッド浮上状態の変化に関する特性(すなわち動特
性)を表すデータとして中央処理ユニット15に取り込
ませる。
イダ4A及び顕微鏡21を設定した後、磁気ディスク3
が1回転する間に、光検出回路41から得られる検出出
力S6が変化したとき、その変化幅を当該トラックにお
けるヘッド浮上状態の変化に関する特性(すなわち動特
性)を表すデータとして中央処理ユニット15に取り込
ませる。
この実施例の場合、色フィルタ23は、複数色例えば2
色のフィルタを有し、中央処理ユニット15からフィル
タ交換指令SIOが色フィルタ23を選択駆動する色フ
イルタドライバ43に与えられたとき、その出力Sll
によって色フィルタを交換し得るようになされ、かくし
て波長の異なる複数の色フィルタを用いてスライダ4A
(従ってへ゛ノド4C)の浮上量を求めることができる
ようになされている。
色のフィルタを有し、中央処理ユニット15からフィル
タ交換指令SIOが色フィルタ23を選択駆動する色フ
イルタドライバ43に与えられたとき、その出力Sll
によって色フィルタを交換し得るようになされ、かくし
て波長の異なる複数の色フィルタを用いてスライダ4A
(従ってへ゛ノド4C)の浮上量を求めることができる
ようになされている。
以上の構成において、浮上態様を判定しよう上する磁気
ディスク3をモータ2の出力軸に装着し、その表面にヘ
ット部4を対向させると共に、ヘッド部4を透過させる
ように顕微鏡21から照射光を照射させる。ヘッド部4
の浮上に関するデータは、合成反射光Rに基づいて、そ
の光学的干渉縞についてのデータをIH切取り回路31
を介して中央処理ユニット15に取り込むことによって
検出される。
ディスク3をモータ2の出力軸に装着し、その表面にヘ
ット部4を対向させると共に、ヘッド部4を透過させる
ように顕微鏡21から照射光を照射させる。ヘッド部4
の浮上に関するデータは、合成反射光Rに基づいて、そ
の光学的干渉縞についてのデータをIH切取り回路31
を介して中央処理ユニット15に取り込むことによって
検出される。
そこで、中央処理ユニット15において、反射光Rの明
るさRoを指定することによって、必要に応じてスライ
ド面4L、4R上の任意の点の浮上量を演算することが
でき、この演算結果に基づいて、磁気ディスク及びヘッ
ド部4間の静特性についての判定をなし得る。
るさRoを指定することによって、必要に応じてスライ
ド面4L、4R上の任意の点の浮上量を演算することが
でき、この演算結果に基づいて、磁気ディスク及びヘッ
ド部4間の静特性についての判定をなし得る。
また、光検出回路41の検出出力S6に基づいて磁気デ
ィスク3上の1つの点について、磁気ディスク3の1周
回分の浮上データを中央処理ユニット15に取り込むこ
とによって、磁気ディスク3及びヘッド部4間の動特性
を、中央処理ユニ・ン)15において判定することがで
きる。
ィスク3上の1つの点について、磁気ディスク3の1周
回分の浮上データを中央処理ユニット15に取り込むこ
とによって、磁気ディスク3及びヘッド部4間の動特性
を、中央処理ユニ・ン)15において判定することがで
きる。
かくするにつき、ヘッド部4を透明材料で構成したこと
により、実際に使用される磁気ディスク3を用いて光学
的干渉縞を作ることができ、従って実際の装置に即した
ヘッドの浮−L態様の判定をなし得る。
により、実際に使用される磁気ディスク3を用いて光学
的干渉縞を作ることができ、従って実際の装置に即した
ヘッドの浮−L態様の判定をなし得る。
なお上述においては、スライダ4Aとして、2つのスラ
イド面4L、4Rを有する構成のものを用いたが、その
数及び形状を必要に応じて変更しても、上述の場合と同
様の効果を得ることができる。
イド面4L、4Rを有する構成のものを用いたが、その
数及び形状を必要に応じて変更しても、上述の場合と同
様の効果を得ることができる。
■]発明の効果
以上のように本発明によれば、ヘッド部4を透明材料に
よって構成するようにしたことにより、基板にうねり、
歪、又は表面の突起物をもっているような実際に使用さ
れる磁気ディスクを用いて、ヘッド部4の浮上量を測定
することができるので、実際の装置におけるヘッドの浮
上態様に近い判定結果を得ることができる。
よって構成するようにしたことにより、基板にうねり、
歪、又は表面の突起物をもっているような実際に使用さ
れる磁気ディスクを用いて、ヘッド部4の浮上量を測定
することができるので、実際の装置におけるヘッドの浮
上態様に近い判定結果を得ることができる。
第1図は本発明によるfiヘッド浮上量測定装置の一実
施例を示すブロック図、第2図はそのヘッド部4の浮上
原理及び光学的干渉縞の発生の説明に供する路線図、第
3図はヘッド部4の詳細構成を示す路線的斜視図、第4
図はヘッド部4のスライド面4L及び4R上に発生する
光学的干渉縞の説明に供する路線図、第5図はヘッド浮
上量と光学的干渉縞との関係を示す特性曲線図である。 1・・・・・・ヘッド浮上量測定装置、2・・・・・・
モータ、3・・・・・・磁気ディスク、4・・・・・・
ヘッド部、5・・・・・・ヘッド支持板、6・・・・・
・弾性部材、15・・・・・・中央処理ユニット、21
・・・・・・顕微鏡、22・・・・・・光源、23・・
・・・・色フィルタ、24・・・・・・テレビジョンカ
メラ、30・・・・・・モニタ、31・・・・・・11
]切取り回路、321.42・・・・・・アナログ/デ
ィジタル変換回路、35・・・・・・フロッピディスク
、36・・・・・・プリンタ、41・・・・・・光検出
回路。
施例を示すブロック図、第2図はそのヘッド部4の浮上
原理及び光学的干渉縞の発生の説明に供する路線図、第
3図はヘッド部4の詳細構成を示す路線的斜視図、第4
図はヘッド部4のスライド面4L及び4R上に発生する
光学的干渉縞の説明に供する路線図、第5図はヘッド浮
上量と光学的干渉縞との関係を示す特性曲線図である。 1・・・・・・ヘッド浮上量測定装置、2・・・・・・
モータ、3・・・・・・磁気ディスク、4・・・・・・
ヘッド部、5・・・・・・ヘッド支持板、6・・・・・
・弾性部材、15・・・・・・中央処理ユニット、21
・・・・・・顕微鏡、22・・・・・・光源、23・・
・・・・色フィルタ、24・・・・・・テレビジョンカ
メラ、30・・・・・・モニタ、31・・・・・・11
]切取り回路、321.42・・・・・・アナログ/デ
ィジタル変換回路、35・・・・・・フロッピディスク
、36・・・・・・プリンタ、41・・・・・・光検出
回路。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 回転するディスクと、このディスクの表面に生ずる空気
流を利用して浮上するように配設されたヘッド部との間
に生ずる光学的干渉縞によって、上記ヘッド部の浮上量
を測定するヘッド浮上量測定装置において、 上記ヘッド部は少なくともスライド面部分が透明となさ
れ、 上記ディスク及びヘッド部間に生じた光学的干渉縞を上
記スライド面部を透過して観測することを特徴とするヘ
ッド浮上量測定装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP25307985A JPS62113003A (ja) | 1985-11-12 | 1985-11-12 | ヘツド浮上量測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP25307985A JPS62113003A (ja) | 1985-11-12 | 1985-11-12 | ヘツド浮上量測定装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS62113003A true JPS62113003A (ja) | 1987-05-23 |
Family
ID=17246195
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP25307985A Pending JPS62113003A (ja) | 1985-11-12 | 1985-11-12 | ヘツド浮上量測定装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS62113003A (ja) |
-
1985
- 1985-11-12 JP JP25307985A patent/JPS62113003A/ja active Pending
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