JPS62109578A - 電圧レベルシフト装置 - Google Patents

電圧レベルシフト装置

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JPS62109578A
JPS62109578A JP61181820A JP18182086A JPS62109578A JP S62109578 A JPS62109578 A JP S62109578A JP 61181820 A JP61181820 A JP 61181820A JP 18182086 A JP18182086 A JP 18182086A JP S62109578 A JPS62109578 A JP S62109578A
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    • A61N1/18Applying electric currents by contact electrodes
    • A61N1/32Applying electric currents by contact electrodes alternating or intermittent currents
    • A61N1/36Applying electric currents by contact electrodes alternating or intermittent currents for stimulation
    • A61N1/362Heart stimulators

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は、成る電圧レベルの信号を受は取りそして所定
のより大きな電圧レベルの対応信号を発生する電圧シフ
ト論理回路に係る。本発明は、特に、CMO3論理で実
施され、必要とされる電流が比較的低く且つ植え込み式
の心臓ペースメーカにおいて電圧レベルを確実にシフト
するのに適した上記形式の回路に係る。
従来の技術 近代的な論理回路においては、例えば、デジタル論理部
品のような成る形式の電気部品を付勢及び作動するため
の比較的電圧レベルの低い信号と、例えば、キャパシタ
のような別の形式の関連部品を付勢及び作動するための
比較的電圧レベルの高い信号とを供給することがしばし
ば必要とされる。それ故、実際には、回路の種々の点に
別々の電圧レベルを有する信号を供給することがしばし
ば必要とされる。
近代的な植え込み式の心臓ペースメーカは、色々な電圧
レベルの作動信号を必要とする比較的複雑な電子装置の
一例である。このような装置においては、複雑な論理回
路の成る部分を付勢するための例えば2ボルトの低い電
圧レベルと、他の回路部分を作動するための例えば8ボ
ルトの高い電圧とがしばしば必要とされる。従って、ペ
ースメーカを制御するTTL論理回路を付勢及び作動す
るためには比較的低レベルの電圧信号が送られ、一方、
心臓を刺激するキャパシタを付勢するためにはより強力
な信号が必要とされる。
植え込み式の心臓ペースメーカは、そのハウジング内に
配置された比較的小型のバッテリによって供給される電
力で何年という周期で作動しなければならない。それ故
、信頼性が高く、安定性が良く、然も、バッテリの消費
を少なくするために比較的低い動的電流しか消費しない
ようなペースメーカを提供することが必要である。実際
の問題として、ペースメーカは、これが静止もしくは休
止状態にある時のバッテリの消費を最小とするように静
的な電流の消費も比較的低くなければならない。
発明が解決しようとする問題点 ペースメーカ及びこれと同様の装置は、その作動に必要
な2レベルの電圧を供給するためにCMOSレベルシフ
ト回路を使用している。このような回路は、低電力のP
チャンネル及びNチャンネルデジタル論理装置と共に作
動するために比較的大きくて強力なPチャンネルトラン
ジスタのスイッチング装置を典型的に必要とする。比較
的大型で強力なPチャンネル装置を使用する場合には、
レベルシフト回路が状態を変える時に比較的大きな電流
が引き出される。又、大型のPチャンネル装置の比較的
高いキャパシタンスは、レベルシフト回路の作動速度を
減少する傾向がある。更に、装置の物理的なサイズが比
較的大きいことは、例えば、心臓のペースメーカのよう
にできるだけ小型化しなければならないような装置では
、欠点となる。
更に、既存のレベルシフト回路では1回路の静止もしく
は休止状態に認知し得る漏れ電流が流れて回路の電源を
常時消費する。これは、心臓ペースメーカのような電源
内蔵装置の場合、著しい欠点となる。
問題点を解決するための手段 そこで、本発明の目的は、比較的大きなPチャンネル装
置を使用する必要なく作動するレベルシフト論理回路を
提供することである。
本発明の更に別の目的は、比較的小型のPチャンネル及
びNチャンネルトランジスタ装置で作動して回路のサイ
ズ及び電力消費を最小とする上記形式の回路を提供する
ことである。
本発明の更に別の目的は、回路の作動部品のキャパシタ
ンスを最小とすることによって回路の作動速度を高める
ようなレベルシフト回路を提供することである。
本発明の更に別の目的は、静止もしくは休止状態におけ
る漏れ電流を最小とすることによって回路の電力消費を
減らし且つ回路の内蔵電源の寿命延長を図るようなレベ
ルシフト回路を提供することである。
本発明の更に別の目的は、植え込み式の心臓ペースメー
カにおいて作動信号の電圧レベルをシフトするのに適し
た比較的低電力で且つ比較的高速のレベルシフト回路を
提供することである6本発明のこれら及び他の目的は、
添付図面を参照とした以下の詳細な説明より明らかとな
ろう。
作用 公知の問題を解消し、本発明の目的を達成するために、
本発明の改良された電圧レベルシフト回路は、交差結合
されたNチャンネル及びPチャンネルのCMO3’4界
効果トランジスタを使用して電圧レベルシフト動作を実
行する。これらトランジスタは、入力データ信号に極性
及びタイミングが対応する電圧シフトされた信号を発生
するようにPチャンネル及びNチャンネル装置が構成さ
れた時にこれら装置が互いに他を引っ張らないように制
御される。
実施例 以下、同様の部分が同じ参照番号で示された添付図面を
参照し、本発明のレベルシフト装置の好ましい実施例に
ついて詳細に説明する。
第1図は、基準電圧VSSIと電圧VDDとの間に定め
られた電圧レベルからの入力信号VINの電圧揺動を、
基準電圧VSS2から電圧VDDへのより大きな電圧揺
動を有する対応出力信号VLSにシフトする公知の回路
を示している。
当業者に明らかなように、第1A図の回路は、金属酸化
物半導体(MOS)電界効果トランジスタ(F、ET)
で構成される。第1A図の回路は、Nチャンネル及びP
チャンネルの電界効果トランジスタを使用しており、こ
れらはブツシュ−プルの相補的なデジタル回路を形成す
るように相互接続される。第1A図のPチャンネル電界
効果トランジスタはrPJと示されており、Nチャンネ
ルのトランジスタはrNJと示されている。従って、第
1A図のトランジスタP1、P2及びP3は、Pチャン
ネル装置であり、トランジスタN1、N2及びN3は、
Nチャンネル装置である。
Pチャンネル及びNチャンネルの電界効果トランジスタ
は、ソリッドステートスイッチとして作動し、ゲートリ
ードに印加される電圧に基づいてソースリードとドレイ
ンリードとの間で電流を導通する。従って、例えば、ト
ランジスタP1は、論理低レベルの電圧信号がそのゲー
ト4に送られた時にソース1とドレイン3との間に電流
を導通する。トランジスタP1は、導通状態において。
オンに切り換わるといえる。論理高レベルの電圧信号が
ゲート4に送られた時には、トランジスタP1がオフと
なり、ソース1とドレイン3との間が実質的に開路とな
る。
Nチャンネルトランジスタ、例えば、Nチャンネル装置
N1については、逆の動作が行なわれる。動作中、装置
N1は、そのゲート11に送られる論理高レベルの電圧
信号に応答してソース7とドレイン9との間に電流を導
通する。装@N1は、そのゲート11に論理低レベルの
信号が送られるのに応答してオフとなって電流の導通を
停止する。
第1A図の回路の動作は、レベルシフト回路12につい
て説明する。この回路においては、正の電圧VDDが論
理高レベルを定めると共に、入力ライン13にデ」り入
力として送られる第1B図の入力信号VINの正の電圧
揺動も定める。低い電圧信号VSSIは、低い論理レベ
ルを定めると共に、入力信号VINの電圧揺動の低レベ
ル点を定める。
第1B図には、出力信号VLSIが示されている。この
VLS 1信号はタイミング的には信号■工Nに対応す
るが、レベルシフト回路12により正の電圧VDDと電
圧VSS2 (これは電圧VSS1より低い)との間に
与えられる大きな電圧揺動を有している。
作動中、第1A図のトランジスタP1及びN1は、ライ
ン13に送られた信号VINに対して極性が反転された
信号をライン15に発生するインバータを形成する。従
って、信号VINが高レベルである時には、装置P1が
オフにされ、VDDライン17とインバータの出力ライ
ン15との間を開路にする。然し乍ら、ライン13の高
電圧レベルは、トランジスタN1をオンにし、従って、
低電圧VSSIをライン15に印加させる。それ故、導
通するトランジスタN1は、ライン13の信号VINの
比較的高い電圧に対して極性が逆の低い信号をライン1
5に発生することが明らかであろう。信号VINが低い
電圧VSSIまで低下した時には、トランジスタP1が
オンになり、トランジスタN1がオフになる。Plがオ
ンになると、高い電圧VDDがライン15に送られる。
従って、ライン15の電圧は、入力ライン13の信号V
INの電圧と逆であり、即ち、その補数である。
入力信号VINは、PチャンネルトランジスタP3のゲ
ート19に送られ、ライン15の反転された信号は、P
チャンネル装置P2のゲート21に送られる。入力信号
VINが論理高レベルである時には(即ち信号がVDD
に等しい時には)、ライン15の反転された論理低信号
に応答して。
トランジスタP3がオフとなり、トランジスタP2がオ
ンとなる。
P2がオンになると、これが導通して高い電圧VDDを
NチャンネルトランジスタN3のゲート23に供給する
。ゲート23に送られるこの高い電圧によりN3がオン
となり、これが導通して低い電圧VSS2をNチャンネ
ル装置N2のゲート25に供給する。ゲート25に送ら
れるこの低い電圧によりN2がオフとなる。導通する装
置P2及び非導通の装置NZは、高い電圧VDDを出力
信号VLSのための回路ノード27に供給する。
第1A図の回路は、ライン13に高レベルの入力信号V
INが供給される限り高レベルの出力信号VLSを発生
するようにラッチされたま\となる。
このラッチ状態においては、入力信号VIN及び出力信
号VLSIの両方がVDDの電圧値を有する。この定常
状態では、第1A図の回路は、古典的な低い静的な電流
消費を示し、これは相補的な金属酸化物半導体回路(0
MO8)の特性である。
反転された出力信号VLSIIは、第1A図の回路のノ
ード29に送られる。それ故、この信号VLSIIは、
ノード27の信号VLSIが高レベルである時に低レベ
ルとなる。ノード29に低レベルのVLSII信号が与
えられる理由は、前記したように、P3がオフにされそ
してN3がオンにされるからである。導通ずるN5)−
ランジスタは、最も低い電圧信号VSS2をノード29
に供給する。従って、反転された出力信号VLSI1は
、出力信号VLSIがノード27の正電圧VDDである
時にVSS2の最も低い電圧となる。
トランジスタP2及びN2の組合体は、ライン13に送
られた入力信号VINの極性に対応する出力信号VLS
Iをノード27に発生することが明らかである。トラン
ジスタP3及びN3は、装置P2及びN2と反転ラッチ
関係で作動し、それ故、それに対応する反転出力信号V
LS I 1をノード29に発生する。
ライン13の信号VINによって低レベルの電圧VSS
Iが供給される時には、P3がオンに切り換わり、ライ
ン15に現われる反転されたゲート電圧によって装置P
2がオフとなる。装置P3がオンに切り換わる時点で、
それに関連した対である装置N3はまだオンである。従
って、P3は、N3が導通していて回路ノード29を低
電圧VSS2に接続する時に、回路ノード29に正の電
圧VDDを供給すべく導通を試みる。スイッチング動作
を行なうためには、装置P3が装置N3より「強力」で
あって、ノード29を高い電圧に向かって引っ張り、N
3の導通状態に対してシフト回路をラッチしなければな
らない。
P3の「強度」は、N3に対するその物理的なサイズ、
キャパシタンス及び電流通流能力によって決定される。
実際には、P3のサイズが40であるのに対してN3の
サイズが0.5である場合に、P3がN3に打ち勝つこ
とができると分かった。当業者に明らかなように、CM
OSトランジスタのサイズは、そのゲートのサイズを2
としそしてそのゲートの長さをLとすれば、Z/Lの比
によって決定される。P3のサイズ40は、ゲートの巾
を200ミクロンとしゲートの長さを5ミクロンとする
ことによって達成される。N3のサイズは、ゲートの巾
を5ミクロンとしゲートの長さを10ミクロンとするこ
とによって達成される。、P3に対するZ/Lの比をよ
り大きなものとすると、P3はN3よりも大きな電流を
引き出すことができる。然し乍ら、P3は、N3よりも
比較的キャパシタンスが大きく、それ故、N3よりも一
層ゆっくりと切り換わる。
P3のサイズが大きいことにより、N3がオンにされた
時にP3がオンにされると、より強力なP3装置が導通
して回路ノード29を高いVDD電圧まで引っ張り、従
って、装置N3を短絡し、これをオフに切り換える。ノ
ード29に強制的に送られた論理高レベルにより、論理
高信号がN2のゲート25に送られ、それ故、N2をオ
ンにする。N2がオンになると、これが導通し、負の電
圧VSS2を回路ノード27及びN3のゲート23に印
加する。ゲート23の論理低レベルによりN3がオフに
切り換えられる。従って、出力信号VLSIは強制的に
論理低電圧VSS2とされ、一方、ノード29の反転出
力信号VLSIIは、導通する装@P3によって強制的
に論理高電圧VDDとされる。レベルシフト回路12の
装置は、入力信号VINが再び高電圧VDDに復帰して
P3をオフに切り換えP2をオンに切り換えそして出力
信号VLSI及びVLSIIの論理レベルを切り換える
まで、指示された作動状態にラッチされる。
装置P3及びN3について説明したように、サイズ0.
5の装置N2に打ち勝つようにP2には約40のサイズ
が与えられている。このサイズの差は、装置P3及びN
3について前記したようにレベルシフト回路の状態を変
えるためにP2及びN2が一緒に作動する時に必要とさ
れるものである。
レベルシフト回路が状態を変えるためには、Pチャンネ
ル装置(P2、P3)が、導通しているNチャンネル装
置1(N2、N3)を完全に過剰付勢しなければならな
いことを理解されたい。例えば、心臓のペースメーカに
おいて信号レベルをシフトするのに用いられるような典
型的な回路にあっては、例えば、2ボルトから8ボルト
のレベルシフトを与えることが必要とされる。装[N2
、N3に関連して装置P2、P3について上記したサイ
ズは、このような電圧シフトを得るために与えられる。
レベルシフト回路の各切り換え動作に対して完全なレベ
ルの移行を確保するためには、P装置のサイズを相当に
大きくしなければならない。入ってくるレベルの移行に
より、非常に大きな電流が引き出され、ひいては、心臓
ペースメーカのような植え込み式装置の電源が早期に尽
きてしまうことになる。
P装置の物理的なサイズが大きいことは欠点である。と
いうのは、これが作動する装置で達成できる小型化を妨
げるからである。これは、第1A図に示されたように多
数のレベルシフト回路を必要とする心臓ペースメーカに
ついて特に云えることである。又、比較的サイズの大き
いP装置は、キャパシタンスも相当に大きく、それ故、
近代的な心臓ペースメーカに使用されるようなマイクロ
プロセッサ駆動式の回路に所望されるものよりも切り換
え速度が非常にゆっくりとしたものとなる。
第1A図の回路は、回路の出力状態が変化する時にP−
N対を同時にオンにするという更に別の欠点がある。又
、この回路は、これらの移行点において不所望な電流ス
パイクを発生する。この電流スパイクにより、回路の電
源にかNる電流負荷が回路のスイッチング周波数の増加
と共に増大する。上記の電流スパイクは、心臓ペースメ
ーカに使用された回路の比較的高いスイッチング速度に
おいて不所望な電流消費をもたらす。
従って、第1A図の回路は、CMO8回路の特性として
静的な電流消費は所望通りに低いものであるが、レベル
シフト回路のスイッチング中に生じる電流スパイクによ
り不所望に高い動的な電流消費を招く。又、この回路は
、比較的大型のP型装置を使用しているために、物理的
なサイズが若干大きなものである。
第2図は、本発明によるレベルシフト回路の一実施例を
示す。この回路は大型の電界効果形トランジスタを必要
とせず、更に、第1A図の公知回路に対し動的な電流消
費量が低い。第2図のフロント・エンド型ストローブ回
路37は、複数の関連レベルシフト段35を作動させる
駆動回路である。前記ストローブ回路37は、第1A図
に示す場合と全く同様に作動される。従って、装置P2
及びP3は、そのサイズがZ/L比で40であり、一方
、装置N2及びN3は、そのサイズがZZL比で0.5
である。第2図のレベルシフト回路の利点は、図示の回
路35に対応するレベルシフト回路をストローブ回″J
@37に加えることによって達成される。第2図のPチ
ャンネル電界効果トランジスタ装置P4.P5、P6及
びP7は、Z/L比が1015である。Nチャンネル装
置N4、N5、N6、N7、N8及びN9は、Z/L比
が515である。従って1回路35のP及びN装置は、
サイズ的には比較的小さく、それ故、比較的キャパシタ
ンスが低く、比較的スイッチ時間が速く且つ比較的小さ
な空間しか必要としない。
多数の電圧レベルをシフトするように多数の回路35が
回路37によって駆動される時には、空間の節減が特に
明らかである。
回路37は、一連のレベルシフト回路35に一連の比較
的狭いストローブパルスVALSを発生する。第3図の
制御回路は、第2図のストローブ回路37及びレベルシ
フト回路35を作動させるためのタイミング信号を発生
させる。第4図は第2図及び第3図の回路の作動信号を
示すタイミング図である。
改良されたこのレベルシフト回路35の動作は、Pチャ
ンネル装[P5、P6とNチャンネル装置N6、N8が
第1A図の回路の装置P2.P3及びN2、N3にそれ
ぞれ一般的に対応することに最初に注目することにより
正しく理解されよう。従って、装置P5、P6.”N6
、N8は、レベルシフト機能を発揮するように、装置P
2、P3、N2、N3について説明したように一般的に
作動する。第2図の回路の改善された動作は、レベルシ
フト回路35の状態が変化した時にN8からP6をそし
てN6からP5を選択的に切断するように制御される装
置P4、P7、N4、N5、N7及びN9の動作によっ
て達成される。切断されたP−N対は独立して作動し、
それ故、Pチャンネル装置(P5、P6)がその関連N
チャンネル装置(N6、N8)を過剰付勢する必要なく
、レベルシフトを行なうことができる。それ故、レベル
シフト回路35は、過剰サイズのPチャンネル装置を必
要とせず、且つシフト回路の状態が変化する時に不当に
高い動的な電流負荷を必要とせずに作動される。
第3図と第4図について説明すると、制御回路のタイミ
ングをとるためにクロック信号が41に送られる。本発
明の望ましい実施例によれば、約IKHzのクロック周
波数が使用される。然し乍ら1本発明の範囲内で他のク
ロック周波数を使用することもできる。
クロックパルスは、NORゲート43及びインバータ4
5に通され、このインバータは、それに対応する反転し
たクロックパルスをNORゲート47に供給する。
クロックパルスが高いものであれば、NORゲート43
の出力は低くされ、低レベルの信号が出力インバータ4
9と一連の遅延インバータ51−57に供給される。最
後の遅延インバータ57は遅延した論理低信号をNOR
ゲート47の入力に供給する。NORゲート47の反対
側の入力はインバータ45から論理低信号を受信し、か
くてインバータ47の出力に論理高信号を発生させる。
NORゲート47の高レベル出方は、遅延インバータ5
9−65によりNORゲート43の入力へ送信される。
最後の遅延インバータ65の高レベル出力はNORゲー
ト43をラッチし、該NORゲートの出力を低レベルに
保持する。
NORゲート43の出力が低レベルに保たれる限り、出
力インバータ49は、クロック信号に対し遅れた関係で
高い位相信号φ1を発生させる。
クロックパルスが最終的に論理低レベルに下がる時、論
理高信号がインバータ45によりNORゲート47の入
力に供給され、NORゲートの出力を論理低に強制する
。インバータ59−65によって決定された遅延の後、
NORゲート43の出力は強制的に高論理レベルとされ
、インバータ49の出力は低論理レベルに下がる。NO
Rゲート47の出力は反転信号φ2を発生する出力イン
バータ67に供給される。
第4図のタイミング図を説明すると、NORゲート43
.47及び関連インバータが作動し、位相信号φ1を発
生する。この信号は、時間的に遅延され且つクロック信
号に対しパルス幅が増大されるが、クロック信号と同じ
極性を保持する。
ここに示す論理要素は、更に、φ2位相信号を発生し、
この信号は、クロック信号に対し反転され且つφ1位位
相量の正のパルス内に入る。
クロックと位相信号φ1.φ2の指示されたタイミング
関係は、タイミング遅延の使用により達成される。従っ
て、φ1信号の先端7oは、NORゲート43及びその
関連出力インバータ49によってもたらされた遅延によ
り、クロック信号の先端68に対し遅延される。φ22
位相信の先端72は、インバータ51−57、NORゲ
ート47及びインバータ67によって与えられた遅延に
より、φ11位相信の先端70に対し遅延される6φ2
位相信号の後端74は、φ11位相信の後端76の前に
発生する。これは、2つの信号を発生させる構成要素の
時間遅延の差によるものである。かくて、クロック信号
の後端78が論理低レベルに下がると、φ22位相信は
、インバータ45、NORゲート47及びインバータ6
7によって定められた遅延の後に74で立ち上る。然し
乍ら、φ11位相信の後端は、インバータ45、NOR
ゲート47、遅延インバータ59−65゜NORゲート
43及びインバータ49によって定められた遅延の後ま
では高レベルがら低レベルに落ちない。かくて、第3図
回路の時間遅延動作は、位相信号φ1の先端が位相信号
φ2の先端に先行し、φ2の後端がφ1の後端に先行す
るように確保する。かくて、位相信号φ1とφ2は、非
重畳関係で発生される。即ち、位相信号φ2は、位相信
号φ1が論理高である時、常に状態を変える。
位相信号φ1とφ2を発生させるための上記論理回路は
、本発明の望ましい実施例を説明するためのものである
ことを理解されたい。上記の非重畳関係で位相信号を発
生させる他の論理回路も本発明の範囲内で使用できる。
φ1及びφ2の位相信号は、NANDゲート69.71
及び73及びインバータ75と77を備えるエツジ検出
器に供給される。作動中、正のφ1信号はNANDゲー
ト69の入力に供給され、反転され遅延されたφ1信号
はNANDゲート69の反対の入力に送られる。NAN
Dゲート69はインバータ75によって与えられる遅延
で定められたパルス幅をもつ負の出力パルスを発生する
負のパルスは、φ11位相信の先端70を表わす。
同様に、NANDゲート71とその関連インバータ77
は、φ・2位相信号の後端74を表わす負のパルスを発
生する。作動中、φ2信号はNANDゲート71の1つ
の入力に供給され、そして反転遅延された信号はインバ
ータ77からNANDゲート71の別の入力に供給され
る。NANDゲート71の出力は、ゲートに供給された
信号の後端間の重畳点以外は、全ての場合に高レベルで
ある。重畳は、それぞれの信号が論理高である時に生じ
、それ故、NANDゲートはインバータ77の遅延によ
って定められたパルス幅をもつ対応する負のパルスを発
生する。
NANDゲート69及び71の負のパルスはNANDゲ
ート73に付与され、NANDゲート73の出力に正の
対応パルスVAを発生させる。
第4図のタイミング図を参照すると、VAパルスは、φ
1及びφ2信号それぞれの先端及び後縁で発生すること
が明らかである。
φ1及びφ2信号はANDゲート83の入力にも供給さ
れる。このゲートの出方は関連ORゲート85と87に
供給される。ORゲート85の反対入力はデータフリッ
プフロップ89のQ出方に接続され、ORゲート87の
反対入力はフリップフロップ89の反転Q出力に接続さ
れる。入力データ信号VINはフリップフロップ89の
データ人力に供給され、NANDゲート73の出力はフ
リップフロップ89のクロック入力に供給される。フリ
ップフロップ89はNANDゲート73によって供給さ
れたVAパルスの先端においてQ出力に信号VINの論
理レベルを通す。フリップフロップの転倒Q出力は、Q
出力の信号に対して反転した信号を供給する。
代表的なVIN信号が第4図に示されている。
本発明の詳細な説明を簡単にするため、特定のVIN信
号が示されている。然し乍ら、本発明の範囲内で所望の
VIN信号を使用できることを理解されたい。
一般に、第2図の第ルベルシフト回路35は、入力信号
VINと同じ極性であるが信号VINの電圧レベルに対
し電圧レベルがシフトされた出力信号VLS Iを発生
する。がくて、説明の目的上、VIN信号は、VDDと
V3Si間で第1B図に示す電圧揺動をもつことができ
る。第2図の回路は、電圧VDDとVSS2との間でよ
り大きな電圧揺動をもつ対応出力信号を発生する。
第3図の回路において、入力信号VINの論理状態は、
フリップフロップ89がNANDゲート73の出力の正
のVAパルスによってゲート作動された時にのみデータ
フリップフロップ89の出力に現われる。かくて、フリ
ップフロップ89は、VIN信号の変化がVAパルスと
同期して検出されるようにする。
第3図と第4図について言えば、もしVIN信号が論理
高であるならば、論理高信号がフリップフロップ89を
介してQ出力に送られ、そしてORゲート85の出力に
論理高信号VC2を発生させる。かくて、ゲートを通さ
れた論理高のVIN信号は、第4図のタイミング図に示
したVC2制御信号として一定の論理高レベルを与える
。フリップフロップ89は、ゲートを通1されたされた
高レベルのVIN信号に応答し、低論理信号をORゲー
ト87に供給する。それ故、ORゲート87は、AND
ゲート83によッテ発イ1 だVCI信号を通過させる
VIN信号が論理低である場合、データフリップフロッ
プ89は上記とは逆に作動され、ORゲート87の出力
に論理高信号VCIを発生させると共に、ORゲート8
5がANDゲート83からのVC2信号を通せるように
する。
第3図の制御回路によって発生したφ1、φ2、VA、
VCI及びVC2信号は、第2図のストローブ回路37
とレベルシフト回路35を作動させるために供給される
。作動中、VAパルスはストローブ回路37のインバー
タトランジスタPL トN 1 ニ供給され、tl 圧
V D D、VSSl及びVSS2は第1A図の回路に
ついて説明したように回路に供給される。ストローブ回
路37は、第1A図の回路について述べたように作動さ
れ、VA倍信号同じ極性及びはゾ同じタイミングをもつ
がVA倍信号対して与えられたVDDからvsslの電
圧範囲ではなくてVDDがらVSS2の電圧範囲で定め
られた出力VALSパルスを発生する。VA倍信号この
レベル変換は、レベルシフト回路35のMC3装置を作
動するため必要とされるものである。
第2図に詳細に示した第1のレベルシフト回路35の作
動をストローブ回路37と第3図の制御回路しこよって
発生した信号について以下に説明する。追加のレベルシ
フト回路35をストローブ回路37に接続して、追加の
対応レベル変換を行なえることを一般に理解されたい。
然し、本発明の理解を容易にするために、ここでは1つ
のレベルシフト回路35のみについて説明する。
作動中、vCl及びVC2信号は、装置P5及びP6の
動作を制御し、ひいては、出力VLS1信号の論理レベ
ルを決定するために供給される。
第4図のタイミング図について言えば、v01信号は最
初に点95において論理低であり、VC2信号は対応す
る点97において論理高である。
第2図について言えば、論理低のvClは、装置P5と
対応する装置P7をオンにする。かくて。
装置P5は正のVDD電圧を装置N8のゲート99に供
給し、更にライン101の出力信号VLS1として正の
VDD電圧を定める。装[N8のゲート99に送られる
正の信号は装置をオンにし、負の電圧VSS2が回路点
103に供給される。
回路点103の低電圧VSS2は、回路ノード107に
供給される。何故なら、装置N7はVCIの低論理レベ
ルによって装置P7がオンになった結果としてオンにな
るからである。特に、P7がオンになると、P7は高電
圧VDDを装置N7のゲート109に供給し、この装置
を導通させる。
それ故、ノード107の低論理レベル信号は装置N6の
ゲート11]に供給され、これをオフにする。更に、装
置P4は論理高信号VC2によってオフにされ、N4と
N9はVALS信号が論理低であることによってオフに
され、装置N5は中間状態にある。
VCI信号が時間113に論理高レベルに上昇すると、
装置P5とP7はオフにされるが、回路ノード100及
び102にはこれらノードのキャパシタンスによって高
電圧が維持され、従って、N7とN8は導通のま\とな
る。VCIとVC2が共に高レベルになった後、VAL
Sパルス115が発生されて装置N4とN9をオンにし
、ノード102と107に低いVSS2電圧を印加する
これらノードの低電圧は装置N5とN7をオフにするが
、ライン101のVLSI信号の出力状態には影響を及
ぼさない。何故なら、上述の如く。
ノード100の電圧は回路キャパシタンスにより保持さ
れるからである。VALS信号のタイミングは正に向か
うVCI信号内に入るよう第3図の回路によって決定さ
れることを理解すべきである。
それ故、第3図の制御回路のタイミングは、VALS信
号が発生されて装置N4とN9をオンにする前に、両装
置P4及びP7をVClとVC2のそれぞれの高レベル
によってオフにするよう確保する。かくて、装置N4と
N9は、装置P4とP7を短絡せずにオンにされる。V
ALS信号115が論理低に下がった後、VCI信号も
論理低に下がり、装置P5とP7を再びオンにし、それ
故高電圧が回路ノード100に保持され、出力信号VL
S1を正の論理レベルに確実に保持する。
第4図のタイミング図について言うと、連続的なVAL
S信号119.121及び123は、VCI信号の対応
する正のパルス内で発生され、出力信号VLSIとして
正の電圧を維持するということが明らかである。かくて
、第2図の回路はVLSIとして一定の論理高信号を保
持し、一方CMO3論理の特徴である低レベルの静的電
流消費を確保するように作動する。
上述した通り、第3図の回路は、VINデータ信号の論
理レベル変化をストローブするようにVAパルスを供給
する。かくて、第3図の回路はVAパルスが生じる時に
のみVIN状態信号の論理レベル変化を認識する。従っ
て、第4図のタイミング図に関しては、VINデータ信
号は、次々のVAパルス間の時間にその論理状態を変え
ることができる。V A、 L Sレベルシフトパルス
のタイミングがVAパルスと同じであるという事実に鑑
み、以下VALSパルスのタイミングについて説明する
。なお、第3図に関しては、対応するVAパルスは要求
されたゲート機能を発揮することを理解されたい。
第4図に関しては、VINデータ信号は次々のVALS
パルス間の時間にその論理状態を変えることができ、そ
の状態の変化は、VALSパルスが発生する時にのみ第
3図の回路によって認識される。従って1例えば、VI
N信号の状態は、次々のVALSパルス123と127
間の時間に変えることができる。説明を単純するため、
第4図のタイミング図は、VALSパルス発生時に生じ
るVINの変化を示している。このタイミング図は、本
発明の理解を容易にするためのもので、VINがVAL
Sパルスの発生中にのみ変化するということを示唆する
ものではない。上述の通り、VIN信号の論理状態の変
化は非同期的に発生し、これらの変化はVALSレベル
シフトパルスにタイミング的に一致するVAパルスによ
って同期的にストローブされる。
第4図に図示の通り、VINデータ信号はタイミング点
125において低論理レベルに下がる。
VIN信号の状態変化はVALSパルス127に一致す
るVAパルスによってストローブされる。
データフリップフロップ89はVINデータ信号の論理
レベルの変化を記憶し且つ記憶された論理レベルをVC
IとVC2信号の状態を制御するため供給する。
第3図の回路は、vCl、VC2信号が共に論理高であ
る場合にのみVALSパルスを発生することを理解され
たい。このシステムの制約は、VALSパルスを発生し
且つVCIとVC2信号の論理レベルを制御するための
重畳しないφ1及びφ2位相信号を定めることによって
達成される。
かくて、第4図のタイミング図に示す通り、VALSパ
ルス127は、φ1及びφ2信号が論理高である場合に
指定の時点129で発生される。第3図のANDゲート
83は、VCIとVC2信号の論理状態を制御するため
φ1とφ2信号の論理状態を供給する。かくて、第4図
に関しては、φ1及びφ2信号が同時に論理高レベルに
なることにより、VCI及びVC2信号の双方が強制的
に論理高にされる。これは、VCI及びVC2信号が出
力信号VLSIの論理状態を決定する装置P5と26を
制御する故に重要である。もしVCIとVC2信号が共
に高いならば、装置P5とP6はオフにされ、それ故、
各回路ノード100及び107を論理高のVDD電圧に
もっていくことはない。
従って、第3図のタイミング回路は、各VALS信号が
発生する時にvCl及びVO2が同時に高論理信号にな
ることによって装置P5とP6がオフになるように確保
する。VALS信号は。
各々、装置N4、N9をオンにし、論理低電圧VSS2
を回路ノード117及び102に供給する。
ノード117及び102の低レベルにより、装置N5と
N7がオフにされ、それ故、装置P5を装置N6から又
装置P6を装置N8から切断する。
第4図のタイミング図と第2図の回路に関して言えば、
VINデータ信号が125゛で論理低に下がりそしてV
ALSパルスが発生する時、装置N4とN9がオンにさ
れて、ノード117と102に負のVSS2電圧を印加
し、それ故、装置N5とN7をオフにする。前述した通
り、VALSパルス127はVCIとVO2が論理高で
ある時発生され、それ故、装置P4、P5.P6とP7
は点117と102の負の電圧が正の電圧VDDに対し
て短絡されないようにオフにされる。
VALSパルス127が発生される直前に、VCI信号
は論理低であり且つVC2信号は論理高であった。低レ
ベルのVCI信号は装置P5とP7をオンにし、従って
、回路ノード100及び102に正の電圧VDDを供給
した。ノード100の正の電圧は装置N8をオンにし、
回路点103に負の電圧VSS2を供給した。回路ノー
ト1o2の正の電圧は装置N7をオンにし、それ故、1
03の負の電圧を回路ノード107と装置N6のゲート
111に供給し、装置N6をオフにした。
従って、VALSパルス127が発生する時点で。
信号VCIとVO2が論理高であり、回路ノート100
のキャパシタンスによって正の電圧が保持され、装置N
8をオンに保持し、回路点103と回路ノード107に
負の電圧を保持する。
VALS信号127がタイミング点131で完了する時
、VClとVC2信号の論理レベルはVINデータ信号
の変更した論理状態を表わすように第3図の回路によっ
て調整される。かくて、低いVINデータ信号は、VC
L信号を論理高に保持し、VC2信号が、ANDゲート
83を駆動するφ1とφ2信号の論理状態に従って論理
状態を変えられるようにする。タイミング点131で、
VC2信号は、φ2の当該時点で生ずる低信号により論
理低となる。
VO2の低論理レベルは装置P6とP4をオンにする。
導通装置P6は正の電圧VDDを回路ノード107に供
給する。装置P6は尊通装@N8に打ち勝つ必要はない
。何故なら、VALSパルス127が予め装置N9をオ
ンにし、回路ノード102の低電圧を供給して装置N7
をオフにしているからである。装置N7は装置P6を装
置N8から切断している。従って、P6がVO2の低論
理レベルによってオンにされた時、装置N8はP6から
切り離され、それ故、正の電圧VDDの回路ノード10
7への印加を妨げていない。更に、VO2の低論理レベ
ルは装置P4をオンにし、それ故、何等問題なく回路ノ
ード117に正の電圧を付加している。何故なら、装置
N4は、装置N4のゲートが低論理レベルになることに
よってオフにされているからである。
ノード107の高論理、レベルは装置N6をオンにし、
それ故、負の電圧VSS2を導通装置N5を介して回路
ノード100に供給する。回路ノード100の低電圧は
、装置N8をオフにすると共に、出力信号VLS Lと
して強力な負の電圧■SS2を供給する。その後、VI
Nデータ信号がその低論理レベルを保持する限り、信号
VLS1は低論理電圧VSS2に保持される。前述した
通り、VCLとVC2信号は、VALSパ)I、i ス
(7) 発生を受は入れるため、ここではVC2信号の
論理レベルを」二げることによって高レベルに周期的に
同時に上昇される。、VALSパルスが発生されている
間に、回路ノード107と117の高論理しベルがノー
ドのキャパシタンスによって保持される。各V A T
、、、 Sパルスが完了した後、低論理レベルが再びV
C2信号によって与えられ、第2図の回路は再び強くラ
ッチし、VLSIとして負の電圧VSS2を発生する。
VINデータ信号がその論理状態をVALSパルス13
5と137との間の論理高レベルに変える時、VALS
パルス137に対応するVAパルスが第3図のフリップ
フロップ89に論理変化をストローブし、VCIとVC
2信号の各々の調整をスタートさせる。VALSパルス
137が発生する時、VCIとVC2信号は論理高に保
持され、VALSパルス137は装置N4をオンにし且
つ装置N5をオフにすべく供給される。装置N5は装置
P5とN6を分離させ、それ故、タイミング点139の
VCI信号の論理低レベルにより装置P5をオンにし、
導通装置N6に競合せずに回路ノード100に正の電圧
VDDを供給できるようにする。第2図のレベルシフト
回路35は、上記したように作動され、装置N8をオン
にし且つ装置N6をオフにし、VLS 1として負の電
圧VSS2を与え1反転借号VLS I 1として正の
電圧VDDを与える。
第2図のレベルシフト回路35は、VSSIからVDD
へ電圧が揺動する入力論理信号VINを受信し、VSS
2からVDDへより大きく電圧が揺動する同じ極性の対
応出力信号VLSIを発生することを理解されたい。作
動中、第2図の回路は周期的にVALSパルスを供給し
、N4とN9で各々N5.N7のゲートを低レベルに引
っ張ることによりN5とN7をオフにするする。装置N
5とN7がオフになると、回路ノート100と107及
び装置P5、P6 (VLSIとVLSllを定める)
から負の電圧VSS2へ至る一連の導通経路が取り去ら
れる。制御信号VCIとVO2の非重畳関係は、各VA
LSパルスが発生する時にVCIとVO2が共に論理高
になるようにし、それ故、装置P5とP6は、VALS
信号が装置N5とN7をオフにしてP5とP6を各々の
関連表[N’6とN8から分離する時にオフにされる。
それ故、第2図の回路は、制御入力装置P5とP6がそ
の関連制御出力装置N6とN8から切断された後にのみ
出力信号VLSIの論理状態の変化を開始させる。
効果 第2図のレベルシフト回路35の作動中に、V’ D 
DとVSS2との間に直流電流経路が確立されることは
なく、更に、ノードのキャパシタンスに保持される電圧
のみが充電又は放電されることが明らかである。この便
利な動作により、第1A図の公知回路について述べた貫
通供給電流スパイクが除去され、従って、第2図の改良
された回路では動的な電流消費が減少される。更に、第
2図の回路の場合には、第1A図の公知回路よりも、多
数の1ヘランジスタが必要とされるが、第2図の回路は
、Z/L比の大きいトランジスタを使用する必要がなく
、従って、非常に小さく、好ましくは、小型構成で実施
することができる。又、第2図の回路は、そのほとんど
の作動サイクル中に(即ち、比較的狭いVALSパルス
中を除き)、CMO3装置によって出力論理レベルが維
持されるという設計上の利点を有する。この動作によっ
て、一般的に漏れの影響を受けない強力に駆動された出
力信号が発生される。更に、第2図の回路は、ランチと
して作動し、従って、第3図の回路への入力クロックが
停止した場合にも、レベルシフト回路の出力は、その最
後に定められた状態に保持され、浮動することはない。
それ故、第2図の回路は、改良された低電流のCMOS
レベルシフト装置となる。この回路は、動的な論理技術
を用いて直流スイッチング電流を減少すると共に、トラ
ンジスタのサイズを小型化し、ひいては、回路の全サイ
ズを小型化する。
第2図のレベルシフト回路35及びそれに関連した第3
図の制御回路の好ましい特定の実施例について説明した
が、本発明の精神から逸脱せずに、別の回路及び部品を
用いて本発明の目的を達成できることを理解されたい。
それ故、上記の実施例は、あらゆる点で、本発明を単に
解説するものに過ぎず、本発明をこれに限定するもので
はない。本発明の範囲は、前記の説明ではなく、特許請
求の範囲によって規定される。特許請求の範囲内に入る
全ての変更は、本発明に包含されるものとする。
【図面の簡単な説明】
第1A図は、公知のCMOSレベルシフト回路を示す図
、 第1B図は、第1A図の回路の入力及び出力信号を示す
図。 第2図は、本発明によるCMOSレベルシフト回路を示
す図、 第3図は、第2図のレベルシフト回路の駆動信号を発生
する回路を示す図、そして 第4図は、第2図の回路の作動信号を示すタイミング図
である。 Pl、P2、P3・・PチャンネルトランジスタN1、
N2、N3・・Nチャンネルトランジスタ1.7・・・
ソース  3.9・・・ドレイン4.11・・・ゲート 12・・・レベルシフト回路 35・・・レベルシフト回路 37・・・ストローブ回路 図面の浄書(内容に変更なし) 手続補正書(方式) 61.1.1.27 昭和  年  月  日 同 特許庁長官 黒 1)明 雄 殿 1、事件の表示   昭和61年特許願第181820
号2、発明の名称   電圧レベルシフト装置3、 ?
1i正をする者 事件との関係  出願人 名 称 インターメディソクス インコーポレーテノド
・18代理人

Claims (8)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)第1のP及びNチャンネル対のトランジスタが第
    2のP及びNチャンネル対のトランジスタに交差結合さ
    れていて、所定の大きさの電圧を有する入力信号を受信
    しそしてラッチ関係で作動してより大きな電圧を有する
    出力信号を発生するような形式の電圧レベルシフト装置
    において、各トランジスタ対のP及びNトランジスタを
    選択的に接続するスイッチング手段と、 上記入力信号の各極性変化の前に各対のトランジスタを
    切断しそして各々の上記極性変化の後に各対のトランジ
    スタを再接続するように上記スイッチング手段を制御す
    る制御手段とを具備したことを特徴とする電圧レベルシ
    フト装置。
  2. (2)上記スイッチング手段は、制御信号に応答して上
    記対のトランジスタを切断するように各対のPトランジ
    スタとNトランジスタとの間に接続されたトランジスタ
    を備えている特許請求の範囲第1項に記載の電圧レベル
    シフト装置。
  3. (3)上記制御手段は、上記制御信号を周期的に発生す
    ると共に各制御信号を発生する間に上記入力信号をオフ
    にする手段を備えており、入力信号は各制御信号に続い
    てオンにされる特許請求の範囲第2項に記載の電圧レベ
    ルシフト装置。
  4. (4)所定の大きさの電圧を有する入力信号を受信しそ
    してより大きな電圧の出力信号を発生する電圧レベルシ
    フト装置において、 上記入力信号の2つの論理状態のうちの第1の状態に応
    答してオンになる第1の入力トランジスタと、 上記入力信号の上記2つの論理状態のうちの第2の状態
    に応答してオンになる第2の入力トランジスタと、 上記第1の入力トランジスタに接続されていてこの第1
    の入力トランジスタが導通である時に導通して上記出力
    信号を発生する第1の出力トランジスタと、 上記第2の入力トランジスタに接続されていてこの第2
    の入力トランジスタが導通である時に導通して上記出力
    信号の逆信号を発生する第2の出力トランジスタと、 上記第1の入力トランジスタと上記第2の出力トランジ
    スタとの間に接続され、上記第1の入力トランジスタと
    上記第2の出力トランジスタとを接続するように選択的
    にオンになると共にこれら第1の入力トランジスタと第
    2の出力トランジスタを切断するように選択的にオフに
    なる第1のリセットトランジスタと、 上記第2の入力トランジスタと上記第1の出力トランジ
    スタとの間に接続され、上記第2の入力トランジスタと
    上記第1の出力トランジスタとを接続するように選択的
    にオンになると共にこれら第2の入力トランジスタと第
    1の出力トランジスタを切断するように選択的にオフに
    なる第2のリセットトランジスタと、 上記入力信号の各極性変化の前に上記第1及び第2のリ
    セットトランジスタをオフにすると共に各極性変化の後
    に上記第1及び第2のリセットトランジスタをオンにす
    る制御手段とを具備したことを特徴とする電圧レベルシ
    フト回路。
  5. (5)上記制御手段は、所定の時間中上記第1及び第2
    の入力トランジスタを周期的にオフにしそして上記所定
    時間の少なくとも一部分中上記リセットトランジスタを
    オフにする手段を備え、上記制御手段は、その後上記入
    力トランジスタが上記入力信号の論理状態に応答できる
    ようにする手段を備えている特許請求の範囲第4項に記
    載の電圧レベルシフト装置。
  6. (6)上記制御手段は、 リセット制御信号を周期的に発生する手段と、上記第1
    のリセットトランジスタに接続され、上記入力信号の第
    1論理状態に応答してオンになり、これにより、上記第
    1リセットトランジスタをオンにするような第1のリセ
    ット制御トランジスタと、 上記第2のリセットトランジスタに接続され、上記入力
    信号の第2論理状態に応答してオンになり、これにより
    、上記第2リセットトランジスタをオンにするような第
    2のリセット制御トランジスタと、 上記第1リセットトランジスタに接続され、上記リセッ
    ト制御信号に応答して上記第1リセットトランジスタを
    オフにする第3のリセット制御トランジスタと、 上記第2リセットトランジスタに接続され、上記リセッ
    ト制御信号に応答して上記第2リセットトランジスタを
    オフにする第4のリセット制御トランジスタと、 上記リセット制御信号が発生された時に上記第1及び第
    2の入力トランジスタと上記第1及び第2のリセット制
    御トランジスタとをオフにする手段とを備えている特許
    請求の範囲第4項に記載の電圧レベルシフト装置。
  7. (7)上記第1及び第2の入力トランジスタと上記第1
    及び第2のリセット制御トランジスタはP−型の電界効
    果トランジスタであり、上記出力、リセット並びに第3
    及び第4のリセット制御トランジスタはN−型の電界効
    果トランジスタである特許請求の範囲第6項に記載の電
    圧レベルシフト装置。
  8. (8)上記P−型トランジスタは、10/5のZ/L比
    を有し、上記N−型トランジスタは、5/5のZ/L比
    を有する特許請求の範囲第7項に記載の電圧レベルシフ
    ト装置。
JP61181820A 1985-08-02 1986-08-01 電圧レベルシフト装置 Expired - Lifetime JPH0647018B2 (ja)

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BR (1) BR8603649A (ja)
CA (1) CA1253584A (ja)
DE (1) DE3677444D1 (ja)

Families Citing this family (27)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01226218A (ja) * 1988-03-07 1989-09-08 Canon Inc レベルシフト用集積回路
US4982317A (en) * 1988-10-13 1991-01-01 Siemens Aktiengesellschaft Integrated voltage multiplier circuit for low supply voltage
JPH0355914A (ja) * 1989-07-25 1991-03-11 Fujitsu Ltd 半導体装置
JP2975122B2 (ja) * 1990-12-26 1999-11-10 富士通株式会社 レベル変換回路
US5399915A (en) * 1992-03-23 1995-03-21 Nec Corporation Drive circuit including two level-shift circuits
US5444408A (en) * 1993-12-13 1995-08-22 Micron Technology, Inc. Active pull-up voltage spike reducer
JP3623004B2 (ja) * 1994-03-30 2005-02-23 松下電器産業株式会社 電圧レベル変換回路
US5635861A (en) * 1995-05-23 1997-06-03 International Business Machines Corporation Off chip driver circuit
US5798972A (en) * 1996-12-19 1998-08-25 Mitsubishi Semiconductor America, Inc. High-speed main amplifier with reduced access and output disable time periods
US5735881A (en) * 1997-04-14 1998-04-07 Sulzer Intermedics Inc. Variable atrail blanking period in an implantable medical device
US5843133A (en) * 1997-04-14 1998-12-01 Sulzer Intermedics Inc. Dynamic bandwidth control in an implantable medical cardiac stimulator
US5800466A (en) * 1997-04-14 1998-09-01 Sulzer Intermedics Inc. Dynamic atrial detection sensitivity control in an implantable medical cardiac simulator
US5772691A (en) * 1997-04-14 1998-06-30 Sulzer Intermedics Inc. Implantable cardiac stimulator with polarity detection for detecting ectopic beats
US6081108A (en) * 1997-12-18 2000-06-27 Texas Instruments Incorporated Level shifter/amplifier circuit
US6163721A (en) * 1998-04-29 2000-12-19 Medtronic, Inc. Power consumption reduction in medical devices by employing pipeline architecture
US6185454B1 (en) 1998-04-29 2001-02-06 Medtronic, Inc. Power consumption reduction in medical devices employing just-in-time voltage control
US6167303A (en) * 1998-04-29 2000-12-26 Medtronic, Inc. Power consumption reduction in medical devices employing just-in-time clock
US6091987A (en) * 1998-04-29 2000-07-18 Medtronic, Inc. Power consumption reduction in medical devices by employing different supply voltages
US6087881A (en) * 1998-07-23 2000-07-11 International Business Machines Corporation Integrated circuit dual level shift predrive circuit
GB2341246A (en) 1998-09-03 2000-03-08 Ericsson Telefon Ab L M Differential level shifting circuit
US6300796B1 (en) 1999-02-19 2001-10-09 Zilog, Inc. High voltage PMOS level shifter
JP4340195B2 (ja) * 2004-06-10 2009-10-07 Okiセミコンダクタ株式会社 信号発生回路および信号発生回路付きレベルシフタ
US7265600B2 (en) * 2005-10-04 2007-09-04 International Business Machines Corporation Level shifter system and method to minimize duty cycle error due to voltage differences across power domains
TWI395403B (zh) * 2010-05-20 2013-05-01 Orise Technology Co Ltd 轉壓器
US8981831B1 (en) 2013-09-11 2015-03-17 International Business Machines Corporation Level shifter with built-in logic function for reduced delay
US10326449B2 (en) * 2017-10-06 2019-06-18 The Regents Of The University Of Michigan Level converter circuitry
US11218137B2 (en) * 2020-04-14 2022-01-04 Globalfoundries U.S. Inc. Low clock load dynamic dual output latch circuit

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3942047A (en) * 1974-06-03 1976-03-02 Motorola, Inc. MOS DC Voltage booster circuit
IT1073440B (it) * 1975-09-22 1985-04-17 Seiko Instr & Electronics Circuito elevatore di tensione realizzato in mos-fet
US4039862A (en) * 1976-01-19 1977-08-02 Rca Corporation Level shift circuit
US4344003A (en) * 1980-08-04 1982-08-10 Rca Corporation Low power voltage multiplier circuit
EP0064569B1 (de) * 1981-05-13 1985-02-27 Ibm Deutschland Gmbh Eingangsschaltung für einen monolithisch integrierten Halbleiterspeicher mit Feldeffekttransistoren
US4486670A (en) * 1982-01-19 1984-12-04 Intersil, Inc. Monolithic CMOS low power digital level shifter
AU2148183A (en) * 1982-11-17 1984-05-24 E R & D Pty Ltd Pulse width modulated battery charging

Also Published As

Publication number Publication date
DE3677444D1 (de) 1991-03-14
EP0217504B1 (en) 1991-02-06
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BR8603649A (pt) 1987-03-10
US4663701A (en) 1987-05-05
CA1253584A (en) 1989-05-02
AU6065886A (en) 1987-02-05
JPH0647018B2 (ja) 1994-06-22
EP0217504A1 (en) 1987-04-08

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