JPS62102973A - Full automatic polisher - Google Patents
Full automatic polisherInfo
- Publication number
- JPS62102973A JPS62102973A JP60240956A JP24095685A JPS62102973A JP S62102973 A JPS62102973 A JP S62102973A JP 60240956 A JP60240956 A JP 60240956A JP 24095685 A JP24095685 A JP 24095685A JP S62102973 A JPS62102973 A JP S62102973A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- workpiece
- polishing
- polishing head
- conveyance path
- workpieces
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Mechanical Treatment Of Semiconductor (AREA)
- Finish Polishing, Edge Sharpening, And Grinding By Specific Grinding Devices (AREA)
Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の技術分野〕
この発明は、たとえば半導体ウェーハなどの被加工物を
ポリシングする全自動ポリシング装置に関する。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Technical Field of the Invention] The present invention relates to a fully automatic polishing apparatus for polishing a workpiece such as a semiconductor wafer.
半導体ウェーハなどをポリシングする場合には、セラミ
ック、金属あるいはガラスなどの材料によって形成され
たリファレンスプレートにワックスなどを用いて多数枚
のウェーハを貼り付け、このリファレンスプレートをポ
リシング円盤上に前記ウェーハを下にしてinし、ポリ
シング円盤を回転させながらウェーハのポリシングを(
うなっていた。When polishing semiconductor wafers, etc., a large number of wafers are attached using wax or the like to a reference plate made of a material such as ceramic, metal, or glass, and the wafers are placed on the polishing disk using the reference plate. and polish the wafer while rotating the polishing disk (
It was growling.
ところが、最近ウェーハの大径化が進むと、ポリシング
加工後にリファレンスプレーI−からつ工−ハを取り外
す作業も困難で、ウェーハの取扱いに注意を要していた
。However, as wafers have recently become larger in diameter, it has become difficult to remove the reference plate I after polishing, and care has been required in handling the wafers.
このような問題点を解消するために、たとえば特開昭5
9−129660号公報に示すように、ウェーハのラッ
ピングを自動化した片面ランプ盤が知られている。これ
はラップ円盤上に被加工物であるウェーハをローディン
グしたり、アンローディングする機能を備え、加工ヘッ
ドによってつ工−ハを加圧しながら公転および自転させ
てラッピングを自動的に行なえるようにしたものである
。In order to solve these problems, for example,
As shown in Japanese Patent No. 9-129660, a single-sided lamp board that automates wafer wrapping is known. This has the function of loading and unloading the wafer to be processed onto the lapping disk, and allows the processing head to press the wafer and rotate it around and around its axis to perform lapping automatically. It is something.
しかしながら、前記片面ラップ盤は、装置本体にウェー
ハをラップ円盤に対してローディングするローダおよび
アンローディングするアンローダを備えているために、
装置本体に対してラッピングしようとするウェーハを供
給したり、ラッピングされたウェーハを収納する作業は
、作業者の手作業によって行われ、生産性を向上させる
ために、この片面ラップ盤を複数台として同時に稼働さ
せた場合には各装置へのウェーハの供給および各装置か
らのウェーハの搬出作業に多くの労力を要するという不
都合がある。However, since the single-sided lapping machine is equipped with a loader for loading the wafer onto the lapping disc and an unloader for unloading the wafer from the lapping disc,
The work of feeding wafers to be wrapped into the equipment body and storing the wrapped wafers is done manually by workers.In order to improve productivity, this single-sided lapping machine is installed in multiple units. If they are operated at the same time, there is an inconvenience that much labor is required to supply wafers to each device and to carry out wafers from each device.
この発明は、前記事情に着目してなされたもので、その
目的とするところは、ポリシングヘッドに対する被加工
物のローディングおよびアンローディングが自動的に行
なえるとともに、装置本体を複数台並設した場合にも人
手を介することなく、全自動的にポリシングができる全
自動ポリシング装置を提供することにある。This invention was made in view of the above-mentioned circumstances, and its purpose is to automatically load and unload a workpiece to and from a polishing head, and also to be able to automatically load and unload a workpiece to and from a polishing head, and also to be able to automatically load and unload a workpiece to and from a polishing head, and also to be able to automatically load and unload a workpiece to and from a polishing head, and also to be able to automatically load and unload a workpiece to and from a polishing head. To provide a fully automatic polishing device capable of fully automatic polishing without any manual intervention.
〔発明の概要)
この発明は、前記目的を達成するために、一端側に被加
工物の供給部、他端側に被加工物の搬出部を有する搬送
路を装置本体に設け、この装置本体に前記供給部に供給
された被加工物を1個づつポリシングヘッドにローディ
ングするとともに、ポリシングされた被加工物をアンロ
ーディングして前記搬送路に供給する受渡し機構を設け
、前記装置本体を複数台並設したとき、各装置本体の搬
送路が一直線状に連設されて搬送上流側に被加工物の共
通供給部が、搬送下流側に被加工物の共通収納部が形成
され、被加工物を自動的にポリシングできるように構成
したことにある。[Summary of the Invention] In order to achieve the above object, the present invention provides a conveyance path having a workpiece supply section on one end side and a workpiece discharge section on the other end side, and A delivery mechanism is provided that loads the workpieces supplied to the supply section one by one onto the polishing head, unloads the polished workpieces, and supplies them to the conveyance path, and a plurality of apparatus main bodies are provided. When installed in parallel, the conveyance paths of each device main body are arranged in a straight line, and a common supply section for workpieces is formed on the upstream side of conveyance, and a common storage section for workpieces is formed on the downstream side of conveyance. The reason is that it is configured so that it can be policed automatically.
以下、この発明の一実施例を第1図乃至第4図に基づい
て説明する。An embodiment of the present invention will be described below with reference to FIGS. 1 to 4.
第1図は全自動ポリシング装置の全体を示すもので、1
は装置本体である。この装置本体1の上部には駆動機構
(図示しない)によって回転駆動するポリシング円盤2
が設けられ、この上部にはポリシングヘッド3が対向し
て設けられている。Figure 1 shows the entire fully automatic polishing device.
is the main body of the device. A polishing disk 2 that is rotatably driven by a drive mechanism (not shown) is mounted on the top of the device main body 1.
A polishing head 3 is provided above the polishing head 3 to face the polishing head 3.
すなわち、装置本体1の上部には揺動軸4が突設されて
いて、この揺動軸4には内部に回転駆動源す諦えた揺動
ボックス5が設けられている。そして、この揺動ボック
ス5には下方に突出する回転軸6が設けられ、この回転
軸6の先端に前記ポリシングヘッド3が固定されている
。さらに、回転軸6はエヤシリンダ(図示しない)によ
って上下動可能に設けられ、このポリシングヘッド3を
前記ポリシング円盤2に対して進退できるように構成さ
れている。そして、このポリシングヘッド3の下面には
たとえば半導体ウェーハなどの被加工1勿aの1枚を真
空吸着もしくは発泡ウレタンシートに水を含ませて吸着
する保持部7を有しており、被加工paをポリシング円
M2に対して一定の押圧力によって押付けることができ
るようになっている。また、前記ポリシングヘッド3の
揺動軌跡上に位置する前記装置本体1の上面にはポリシ
ングヘッド3の保持部7を洗浄するヘッド洗浄ブラシ8
が設けられている。また、ポリシング円盤2に対向する
一部にはポリシング円盤2の上面に張設された研磨t5
2 aを洗浄する研磨布洗浄ブラシ9が設けられている
。この研磨布洗浄ブラシ9は上下動および揺動可能な駆
動軸10に取付けられた揺動アーム11に設けられ、さ
らに揺動アーム11に内蔵された回転駆動源によって回
転して研磨布2aを洗浄するようになっている。That is, a swing shaft 4 is protruded from the upper part of the apparatus main body 1, and a swing box 5 having a rotational drive source is provided inside the swing shaft 4. The swing box 5 is provided with a rotating shaft 6 that projects downward, and the polishing head 3 is fixed to the tip of the rotating shaft 6. Further, the rotating shaft 6 is provided so as to be movable up and down by an air cylinder (not shown), and is configured to move the polishing head 3 forward and backward with respect to the polishing disk 2. The lower surface of the polishing head 3 is provided with a holding part 7 that holds one of the workpieces, such as a semiconductor wafer, by vacuum suction or by adsorbing a foamed urethane sheet moistened with water. can be pressed against the polishing circle M2 with a constant pressing force. Further, a head cleaning brush 8 for cleaning the holding portion 7 of the polishing head 3 is provided on the upper surface of the apparatus main body 1 located on the rocking trajectory of the polishing head 3.
is provided. Further, in a part facing the polishing disk 2, a polishing t5 is provided which is stretched over the upper surface of the polishing disk 2.
An abrasive cloth cleaning brush 9 for cleaning the polishing cloth 2a is provided. This polishing cloth cleaning brush 9 is provided on a swinging arm 11 attached to a drive shaft 10 that can move up and down and swing, and is further rotated by a rotary drive source built into the swinging arm 11 to clean the polishing cloth 2a. It is supposed to be done.
一方、前記装置本体1の上部における前縁には被加工物
aを搬送する搬送路12が設けられている。この搬送路
12はプーリ13.13間に掛渡された複数本の搬送ベ
ルト14.14によって構成され、被加工物aを搬送ベ
ルト14.14上に載置して矢印方向に搬送するように
構成されている。さらに、このw1送路12はトンネル
状のカバー15によって覆われており、このカバー15
の内部には被加工物aの乾燥を防止するために純水シャ
ワー16が設置されている。さらに、搬送路12の一端
側には被加工物aの供給部17が、他端側には被加工物
aの搬出部18が設けられている。そして、供給部17
にはポリシングしようとする多数枚の被加工物a・・・
を収容するカセット1つが着脱可能に設けられ、このカ
セット19の近傍に位置する装置本体1の上部には受渡
し機構20が設けられている。この受渡し機構20につ
いて説明すると、21はガイドレールであり、このガイ
ドレール21にはロータリソレノイドなどによって構成
された駆り機構22が前記搬送路12に対して進退自在
であるとともに旋回自在に設けられている。そして、こ
の駆動機122には被加工物aを把持する把持機構23
が設けられている。On the other hand, at the front edge of the upper part of the apparatus main body 1, a conveyance path 12 for conveying the workpiece a is provided. This conveyance path 12 is composed of a plurality of conveyor belts 14.14 stretched between pulleys 13.13, and the workpiece a is placed on the conveyor belts 14.14 and conveyed in the direction of the arrow. It is configured. Furthermore, this w1 feed path 12 is covered with a tunnel-shaped cover 15, and this cover 15
A pure water shower 16 is installed inside to prevent the workpiece a from drying out. Furthermore, a supply section 17 for the workpiece a is provided at one end of the conveyance path 12, and a delivery section 18 for the workpiece a is provided at the other end. And supply section 17
There are many workpieces to be polished...
A delivery mechanism 20 is provided in the upper part of the apparatus main body 1 located near the cassette 19. To explain this delivery mechanism 20, 21 is a guide rail, and this guide rail 21 is provided with a drive mechanism 22 constituted by a rotary solenoid or the like so that it can move forward and backward with respect to the conveyance path 12 and can freely turn. There is. This drive machine 122 has a gripping mechanism 23 for gripping the workpiece a.
is provided.
そして、この受渡し機構20は搬送路12上の1枚の被
加工物aを把持して反転させたのち矢印イ方向に旋回し
、前記ポリシングヘッド3の保持部7にローディングし
たり、ポリシング加工された被加工vIJaをポリシン
グヘッド3からアンローディングしたのち矢印口方向に
旋回する。さらに被加工物aを反転させて研磨面を上に
して搬送路12に供給するように機能を有している。The transfer mechanism 20 grips and inverts one workpiece a on the conveyance path 12, and then rotates in the direction of arrow A to load the workpiece a into the holding part 7 of the polishing head 3 and perform the polishing process. After unloading the processed workpiece vIJa from the polishing head 3, the polishing head rotates in the direction of the arrow. Furthermore, it has a function of inverting the workpiece a and supplying it to the conveyance path 12 with the polished surface facing up.
ざらに、前記搬送路12の搬出部18に対向する装ご本
体1の端側にはテーブル24が股(プられ、このテーブ
ル24の上部には前記受渡し機構20と基本的に同一(
M造の取出し孜構25が設けられている。そして、この
取出し機構25によって胎送路12上の被加工物aを把
持して収納部26に設けたカセット27に供給するよう
になっている。Roughly speaking, a table 24 is installed on the end side of the packaging main body 1 facing the unloading section 18 of the conveyance path 12, and a table 24, which is basically the same as the delivery mechanism 20, is installed on the upper part of the table 24.
A take-out structure 25 of M construction is provided. The take-out mechanism 25 grips the workpiece a on the fetal passage 12 and supplies it to a cassette 27 provided in the storage section 26.
なお、28は前記ポリシングヘッド3、搬送路12I3
よび受渡し機v420等を制御するわj御装置である。Note that 28 represents the polishing head 3 and the conveyance path 12I3.
This is a machine control device that controls the delivery machine V420 and the delivery machine V420.
つぎに、前述のように構成された全自動ポリシング装冒
の作用について説明する。カセット1つに収納された被
加工物aは1枚づつ搬送路12に供給され、供給された
被加工物aは受渡し機構20の把持機構23によって被
加工物aの周縁が把持される。被加工物aが把持される
と、庄動艮構22はガイドレール21上を回転後退した
のち、矢印イ方向に旋回する。一方、ポリシングヘッド
3は揺動ボックス5とともに揺動してポリシング円盤2
の予め定めた位置の授受ポジションXに待機しているた
め、把持機構23によって把持された被加工物aはポリ
シングヘッド3の保持部7にローディングされる。この
場合、保持部7には真空吸着機能もしくは水吸着鏝能を
有しているために被加工物aは保持部7に吸着される。Next, the operation of the fully automatic polishing device configured as described above will be explained. The workpieces a stored in one cassette are supplied to the conveyance path 12 one by one, and the peripheral edges of the supplied workpieces a are gripped by the gripping mechanism 23 of the delivery mechanism 20. When the workpiece a is gripped, the pushing mechanism 22 rotates backward on the guide rail 21 and then turns in the direction of arrow A. On the other hand, the polishing head 3 swings together with the swing box 5 to rotate the polishing disk 2.
The workpiece a gripped by the gripping mechanism 23 is loaded into the holding portion 7 of the polishing head 3 because the polishing head 3 is waiting at the transfer position X at a predetermined position. In this case, the workpiece a is attracted to the holding part 7 because the holding part 7 has a vacuum adsorption function or a water adsorption ability.
被加工物aのローディングが完了すると、ポリシングヘ
ッド3は旋回して回転するポリシング円盤2に対向し、
回転しながら一定の押圧力によって被加工物aを研磨布
2aに押し付けるとともに、矢印方向に揺動する。した
がって、研磨布2aのほぼ全域をFiItg而として被
加工物aをポリシングすることができる。加工が完了し
たのち研磨布洗浄ブラシ9は回転しながら揺動して研磨
布2aの表面を洗浄するため、常に洗浄された研磨面に
よってポリシングされることになる。洗浄ブラシは洗浄
乾燥後AあるいはB方向に逃げて特捜している。このよ
うにしてポリシングが完了すると、ポリシングヘンド3
の回転が停止して再び前記授受ポジションXに位置する
。そして、受渡し数構20が旋回して把持機構23が授
受ポジションXに移動してポリシングヘッド3の保持部
7に保持された被加工物aをアンローティングする。ポ
リシングが完了した被加工物aが把持機構23に把持さ
れると、受渡し機構20は矢印口方向に旋回するととも
に反転して加工面を上にする。つぎに、把持機構23が
前進して被加工物aを搬送路12上に移載する。移載さ
れた被加工物at、tv8送ベルト14.14の走行に
よって搬出部18方向に搬送され、搬送中は純水シャワ
ー16からの噴射される純水によって被加工物aの乾燥
が防止され、後工程の洗浄処理を容易にしている。限出
部18に被加工物aが到達すると、取出しl1jl +
(i!25によって被加工物aは把持され、収納部26
のカセ/ト27に立位状態に収納されることになる。When the loading of the workpiece a is completed, the polishing head 3 turns to face the rotating polishing disk 2,
While rotating, the workpiece a is pressed against the polishing cloth 2a by a constant pressing force and is swung in the direction of the arrow. Therefore, it is possible to polish the workpiece a by using almost the entire area of the polishing cloth 2a as FiItg. After the processing is completed, the polishing cloth cleaning brush 9 rotates and swings to clean the surface of the polishing cloth 2a, so that polishing is always performed with the cleaned polishing surface. After cleaning and drying, the cleaning brush runs away in direction A or B and is being searched for. When polishing is completed in this way, the polishing hand 3
stops rotating and returns to the transfer position X. Then, the transfer mechanism 20 rotates, the gripping mechanism 23 moves to the transfer position X, and unloads the workpiece a held in the holding part 7 of the polishing head 3. When the workpiece a that has been polished is gripped by the gripping mechanism 23, the delivery mechanism 20 rotates in the direction of the arrow and is reversed so that the processed surface is facing upward. Next, the gripping mechanism 23 moves forward to transfer the workpiece a onto the conveyance path 12. The transferred workpiece at is transported in the direction of the unloading section 18 by the running of the tv8 transport belt 14.14, and during transport, the workpiece a is prevented from drying by pure water sprayed from the pure water shower 16. This makes post-process cleaning easier. When the workpiece a reaches the limiting part 18, it is taken out l1jl +
(The workpiece a is gripped by i! 25, and
It is stored in the case/tray 27 in an upright position.
このように構成された全自動ポリシング装百を第4図に
示すように複数台、たとえば2台並設すると、第1のポ
リシング装置Aの搬出部18が第2のポリシング装置B
の供給部17に対向し、搬送路12.12が一直線状に
連設される。そして、搬送路12.12の搬送上流側に
被加工物a・・・を収納したカセット19を3Ω石こと
により、この力セラ1−19を共通供給部29とするこ
とができ、搬送下流側の収納部26を共通収納部30と
することができる。そして、共通供給部2つからの被加
工11’J aを第1のポリシング装置Aのポリシング
ヘッド3にローディングしたり、アンローディングして
再び搬送路12に供給したり、第2のポリシングHf1
Bのポリシングヘッド3にローディングしたり、アンロ
ーディングして再び搬送路12に供給することができる
。したがって、複数台のポリシング装置を並設し同時に
稼働しても、被加工物aの供給部17および収納部26
がそれぞれ1箇所とすることができる。なお、この場合
、共通供給部29にカセット19を設ける代わりに前工
程、たとえばエツチング工程、1次ポリシング工程と接
続することも可能であり、被加工物aを位置センサ等に
よって確認することによって多数台のポリシング装置を
接続することが可能である。When a plurality of fully automatic polishing apparatuses configured in this way are installed in parallel, for example two, as shown in FIG.
A conveyance path 12.12 is arranged in a straight line facing the supply section 17 of the conveyance path 12.12. By placing the cassette 19 containing the workpiece a on the transport upstream side of the transport path 12.12 by 3Ω, this force cellar 1-19 can be used as a common supply section 29, and on the transport downstream side. The storage section 26 can be used as a common storage section 30. Then, the workpiece 11'Ja from the two common supply parts is loaded into the polishing head 3 of the first polishing device A, unloaded and supplied to the conveyance path 12 again,
It can be loaded onto the polishing head 3 of B or unloaded and supplied to the conveyance path 12 again. Therefore, even if a plurality of polishing apparatuses are installed in parallel and operated simultaneously, the supply section 17 and storage section 26 for the workpiece a
can be set to one location each. In this case, instead of providing the cassette 19 in the common supply section 29, it is also possible to connect it to a previous process, such as an etching process or a primary polishing process, and by checking the workpiece a with a position sensor, etc. It is possible to connect as many polishing devices as possible.
なお、第5図はこの発明の他の実施例を示すもので、ポ
リシング円盤2を挟んで一側に加工しようとする被加工
物aを供給する供給搬送路31を設け、他側に加工され
た被加工物aを搬出する搬出搬送路32を設けたちので
ある。このように構成することによって供給搬送路31
からポリシングl\ツド33に被加工物aをローディン
グし、搬出搬送路32からアンローディングして被加工
物aの流れを一方向にすることができる。また、第1の
ポリシング装fiAと第2のポリシング装置Bとを連設
した場合には供給搬送路31の途中にバッファ34を設
けることにより、第2のポリシング装置Bへ供@する前
に被加工物aを一次的にスI・ツタすることができる。FIG. 5 shows another embodiment of the present invention, in which a supply conveyance path 31 is provided for supplying the workpiece a to be processed on one side of the polishing disk 2, and a supply conveyance path 31 for supplying the workpiece a to be processed is provided on the other side. A carry-out conveyance path 32 is provided for carrying out the processed workpiece a. With this configuration, the supply conveyance path 31
The workpiece a can be loaded into the polishing l\d 33 and unloaded from the unloading conveyance path 32, so that the flow of the workpiece a can be made unidirectional. In addition, when the first polishing device fiA and the second polishing device B are installed in series, by providing a buffer 34 in the middle of the supply conveyance path 31, it is possible to Workpiece a can be temporarily scratched.
前記実施例においては、被加工物を真空吸着した場合に
はリファレンスプレートの大口径のつ工−ハをワックス
などの接着剤により貼り付け、接着層のバラツキによる
ウェーハ平面度のバラツキの発生を改善することができ
る。In the above embodiment, when the workpiece is vacuum-adsorbed, the large-diameter pin of the reference plate is attached with an adhesive such as wax to improve the occurrence of variations in wafer flatness due to variations in the adhesive layer. can do.
(発明の効果)
以上説明したように、この発明によれば、ポリシングヘ
ッドに対する被加工物のローディングおよびアンローデ
ィングが自動的に行なえるとともに、装ば本体を複数台
並設した場合にも被加工物の刃送路を一直線状に接続す
ることができる。したがって、人手を介することなく全
自動的にポリシングができ、生産性を向上することがで
きるという効果を奏する。(Effects of the Invention) As explained above, according to the present invention, it is possible to automatically load and unload the workpiece to and from the polishing head, and even when a plurality of polishing bodies are installed in parallel, the workpiece can be processed automatically. The blade feed paths of objects can be connected in a straight line. Therefore, polishing can be performed fully automatically without manual intervention, and productivity can be improved.
第1図はこの発明の一実施例を示すポリシング装置の全
体の斜視図、第2図は同じく概略的平面図、第3図は同
じく搬送路の断面図、第4図は同じく複数台のポリシン
グ装置を連設した場合の概略的構成図、第5図はこの発
明の他の実施例を示す概略的構成図である。
1・・・装置本体、2・・・ポリシング円悠、3・・・
ポリシングヘッド、12・・・搬送路、17・・・供給
部、18・・・搬出部、20・・・受渡し纏構、29・
・・共通供給部、30・・・共通収納部。FIG. 1 is an overall perspective view of a polishing device showing an embodiment of the present invention, FIG. 2 is a schematic plan view, FIG. 3 is a sectional view of a conveyance path, and FIG. FIG. 5 is a schematic diagram showing another embodiment of the present invention. 1...Device body, 2...Polishing Enyu, 3...
Polishing head, 12... Conveyance path, 17... Supply section, 18... Carrying out section, 20... Delivery arrangement, 29.
...Common supply section, 30...Common storage section.
Claims (1)
の供給部、他端側に被加工物の搬出部を有する搬送路と
、前記装置本体に設けられ前記供給部に供給された被加
工物を1個づつポリシングヘッドにローディングすると
ともに、ポリシングされた被加工物をアンローディング
して前記搬送路に供給する受渡し機構とからなり、前記
装置本体を複数台並設したとき、各装置本体の搬送路が
一直線状に連設されて搬送上流側に被加工物の共通供給
部が、搬送下流側に被加工物の共通収納部が形成される
ことを特徴とする全自動ポリシング装置。an apparatus main body, a conveyance path provided in the apparatus main body and having a workpiece supply section at one end and a workpiece unloading section at the other end; It consists of a delivery mechanism that loads the workpieces one by one into the polishing head, unloads the polished workpieces, and supplies them to the conveyance path, and when a plurality of the device bodies are installed in parallel, each device body A fully automatic polishing apparatus characterized in that the conveyance paths are arranged in a straight line, and a common supply section for workpieces is formed on the upstream side of the conveyance, and a common storage section for the workpieces is formed on the downstream side of the conveyance.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60240956A JPS62102973A (en) | 1985-10-28 | 1985-10-28 | Full automatic polisher |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60240956A JPS62102973A (en) | 1985-10-28 | 1985-10-28 | Full automatic polisher |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS62102973A true JPS62102973A (en) | 1987-05-13 |
Family
ID=17067151
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP60240956A Pending JPS62102973A (en) | 1985-10-28 | 1985-10-28 | Full automatic polisher |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS62102973A (en) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0453674A (en) * | 1990-06-20 | 1992-02-21 | Fujikoshi Kikai Kogyo Kk | Polishing finish device |
US6283822B1 (en) | 1995-08-21 | 2001-09-04 | Ebara Corporation | Polishing apparatus |
USRE38228E1 (en) | 1992-09-24 | 2003-08-19 | Ebara Corporation | Polishing apparatus |
JP2007335876A (en) * | 2006-06-14 | 2007-12-27 | Inopla Inc | Semiconductor wafer polishing device |
CN104310037A (en) * | 2014-10-30 | 2015-01-28 | 芜湖杰诺科技有限公司 | Transposition conveying device of tightness testing, clamping and unloading machine |
-
1985
- 1985-10-28 JP JP60240956A patent/JPS62102973A/en active Pending
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0453674A (en) * | 1990-06-20 | 1992-02-21 | Fujikoshi Kikai Kogyo Kk | Polishing finish device |
USRE38228E1 (en) | 1992-09-24 | 2003-08-19 | Ebara Corporation | Polishing apparatus |
US6283822B1 (en) | 1995-08-21 | 2001-09-04 | Ebara Corporation | Polishing apparatus |
US6942541B2 (en) | 1995-08-21 | 2005-09-13 | Ebara Corporation | Polishing apparatus |
JP2007335876A (en) * | 2006-06-14 | 2007-12-27 | Inopla Inc | Semiconductor wafer polishing device |
CN104310037A (en) * | 2014-10-30 | 2015-01-28 | 芜湖杰诺科技有限公司 | Transposition conveying device of tightness testing, clamping and unloading machine |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US9144881B2 (en) | Polishing apparatus and polishing method | |
JP3696690B2 (en) | Wafer polisher system | |
JPS60155358A (en) | Method and device for grinding surface of semiconductor wafer | |
CN111386598B (en) | Substrate conveying device, substrate processing system, substrate processing method and computer storage medium | |
KR20030062222A (en) | Wafer edge grinding system | |
JPS62102973A (en) | Full automatic polisher | |
JP2003282673A (en) | Transport device for semiconductor wafer | |
JPH07130692A (en) | Surface grinder | |
TW380084B (en) | Modular wafer polishing apparatus and method | |
JP2023172162A (en) | Chuck table and dry-polishing device | |
JP4294162B2 (en) | Double-side polishing machine | |
JP4037511B2 (en) | Wafer polishing apparatus and system | |
TWI811489B (en) | Wafer fabrication device | |
JPH0530592B2 (en) | ||
JP2014099435A (en) | Cutting device | |
TW201733739A (en) | Substrate holding module, substrate processing apparatus, and substrate processing method | |
JP2017174940A (en) | Polishing device and polishing method | |
JP4009367B2 (en) | Spin cleaning / drying method | |
TW434089B (en) | Polishing apparatus | |
JP3979451B2 (en) | Polishing device | |
JP2002321132A (en) | Workpiece transfer device | |
JPH07299734A (en) | Method and device for transportation of wafer | |
JPH0521406A (en) | Tandem full automatic wafer polishing device and polishing method | |
JPS61219570A (en) | Manufacture of semiconductor device | |
JPH11254306A (en) | Polishing device |