JPS6198238A - 断層撮影装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 し発明の技術分野］ この発明は、被検査体に放射線を照射透過して被検査体
の断層像を得る断層撮影装置に関する。

［発明の技術−的背景とその問題点コ 断層撤影装置は放射線発生器から放射線を被検査体の所
定の断面に向けてファンビーム状に放射して被検査体の
所定の断面における放射線透過率データを収集し、この
収集した透過率データから断層像を構成している。とこ
ろで、被検査体に向けて放射される）７ンビーム状の放
射線は放射線発生器に近いほど狭く、遠いほど広くなっ
ていて、断層撮影装置の撮影領域の大きさを可変し得る
ようになっている。

第１１図は従来の断層撮影装置を承りものであるが、こ
の装置において放射線発生器２０１からの放射線は角度
θを有するファンビーム２０３として放射または爆射さ
れ、図示しない被検査体を透過した後放射線検出器２０
５で検出されている。

そして、放射線発生器２０１から放射されるファンビー
ム状の放射線の経路内に被検査体を載置し回転するため
の回転テーブル２０７が放射線経路に沿って放射線発生
器２０１に接離層する方向に、すなわち図において左右
に移動し得るように設けられている。この回転テーブル
２０７が放射線発生器２０１に近づいた位置に移動した
場合には、この回転テーブル２０７に載置された被検査
体にファンビーム状の放射線が照射される領域、すなわ
ち断層像の撮影領域は符号２０９で示すように小さく、
また回転テーブル２０７が放射線検出器２０５に近づい
た位置に移動した場合には、撮影領域は符号２１１で示
すように大きくなっている。

このように撮影領域の大きさを可変し得ることは、放射
線発生器２０１から放射される放射線母、多チャンネル
の放射線検出器２０５の数、また時間を有効に利用し、
得られる断層像の空間分解能を可能な限り向上させるた
めに重要なことである。

ところで、断ｍ撮影装置においては、被検査体の所定の
断面の断層像を得るために、放射線のフ粛 ！７：ｚｔ’−１−の被検査体″′相対的な照射角度が
（１８０°十放射線の）７ンビームの角度θ）以上にな
るように例えば被検査体を回転させることが必要である
。しかも、この被検査体の回転動作は、放射線のファン
ビームがいずれの回転角度からでも被検査体の所定の断
面を常に正確に通過するように、その回転中心を常に一
定として被検査体の所定の断面が同じ平面内を正確に回
転することが必要であり、このためにはかなり精巧な機
構が必要である。

上記第１１図に示す従来の断層撮影装置は、その撮影領
域を可変するために回転テーブル２０７を放射線経路に
沿って移動できるようにしているが、このように回転テ
ーブル２０７が移動することによりその回転中心がずれ
易くなり、被検査体の所定の断面が放射線のファンビー
ムの通過する同じ平面内を回転しなくなる可能性が高く
なって、再構成される断層像の画質劣化のおそれがある
。

また、この従来の断層撮影装置のように、回転　　　□
テーブル２０７を移動させる場合には、回転テーブル２
０７の直径は一般に第１１図において大きい撮影領域２
１１の直径に合わせるように形成されるが、このような
場合には回転テーブル２０７の大きい直径のために放射
線発生器２０１に近づける距離に限界が存在し、この限
界以下には放射線発生器２０１に近づけないため、撮影
倍率はこれにより制限されてしまい、大きな撮影倍率を
取れないという問題がある。

［発明の目的Ｊ この発明は、上記に鑑みてなされたもので、その目的と
するところは、適切な撮影倍率で撮影でき、高品質高分
解能の断層像を得ることができるＶｆＩ層忍影装置を提
供することにある。

［発明の概要］ 上記目的を達成するため、この発明は、被検査体に放射
線を照射透過して被検査体の断面における放射線の透過
率を測定し、被検査体の断面の断層像を形成する断層撮
影装置において、被検査体を載置し回転するための回転
台を放射線を照射する経路に沿って複数設けたことを要
旨とする。

Ｆ発明の実施例］ 以下、図面を用いてこの発明の詳細な説明する。

第１図はこの発明の一実施例を示すものである。

同図において、Ｘ線発生器１はＸ線を符号３で示すよう
にファンビーム状にＸ線検出器５に向けて放射する。こ
のＸ線のファンビーム３の下方には被検査体く図示せず
）を載置し回転するための直径の小さい円板状の回転テ
ーブル７および直径の大ぎい円板状の回転テーブル９が
小さい回転テーブル７がＸ線発生器１に近接し、大きい
回転テーブル９がＸ線検出器５に近接して配設されてい
る。

各回転テーブル７および９はそれぞれ回転駆動装置１１
および１３により回転させられるようになっている。回
転テーブル７および９にはそれぞれ重量センサ１９およ
び２１が連結され、いずれかの回転テーブルに被検査体
が載置された場合、この重量センサ１９または重量セン
サ２１はこれを検出し、この検出信号を回転駆動装置１
１および１３に連結されている大小テーブル切換装置２
３に出力するようになっている。このテーブル切換装置
２３は、被検査体が載置されたいずれかの回転テーブル
７または９を選択的に回転するようにいずれかの回転駆
動装置を選択制御するようになっている。この選択制御
は、前記重量センサ１９または２１からの前記検出信号
によるかまたはテーブル切換装置２３に連結されれてい
る操作部２５からの指示信号により行なわれる。また、
回転駆動装置１１および１３にはそれぞれ回転検出装置
１５および１７が接続されている。回転検出装置１５お
よび１７はそれぞれ回転駆動装置１１および１３で回転
駆動される回転テーブル７および９の回転状態を検出し
、その回転の一定角度毎に回転信号をテーブル切換装置
２３に出力する。

テーブル切換装＠２３にはＸ線発生器制御装置２７が接
続されている。このＸ線発生器制御装置２７は高電圧発
生装置を有し、この高電圧発生装置からの高電圧をＸ線
発生器１に供給してＸ線発生器１の動作を制御するよう
になっている。また、ｘｉ検出器５にはデータ収集装置
２つが接続され週　　　　でおり、Ｘ線検出器５で検出
されたＸ線発生器１１１　　　　　からのＸ線の被検査
体に対する透過率データは、テーブル切換装置２３から
データ収集装置２９に供給されるテーブルの回転動作に
同期したデータ収集制御信号によってデータ収集装置２
９に収集されるようになっている。データ収集装置２９
は画像再構成装置３１に接続され、画像再構成装置３１
は操作部２５からの照影領域選択信号によりデータ収集
装置２９からの透過率データを受信して再構成画像デー
タを形成し、この再構成画像データを画像表示装置３３
に供給して再構成された画像、すなわち、断層像を画像
表示装置３３に表示する。なお、回転テーブル７および
９の上方のファンビーム３内に示されている符号３５お
よび３７で示す円はそれぞれ回転デープル７および９に
載置された被検査体に対する撮影領域である。

以上のように構成された断固撮影装置においては、回転
テーブル７はＸ線発生器１に近接した位置に固定されて
配設され、また、回転テーブル９はＸ線検出器５に近接
された位置に固定されて配設され、各回転テーブル７．
９の回転中心は容易（、：ｆゎないよう、なつ工い。、
）１、各。転ヶーア　　　　１ルア、９の上に被検査体
が載置され回転させられでもその回転中心もずれること
がないようになっていて、得られる断層像の画質が劣化
しないようになっている。また回転テーブル７に載置さ
れた被検査体の撮影領域３５は小さく、回転テーブル９
に載置された被検査体の撮影領域３７は大きくなってい
るため、被検査体の大きさに応じて被検査体を所望の回
転テーブルに載置してその断層像を測定することができ
る。

被検査体はＸ線発生器１に近い側の回転テーブル７に載
置した方が撮影倍率が増大する。Ｘ線発生器１の焦点の
大きさによる制限はあるが撮影倍率が増大すると、得ら
れる断層像の空間分解能が向上する。ここで握彰倍率と
は、第２図に示すように、Ｘ線発生器１から放射される
Ｘ線の焦点、すなわち、発生源１ａから被検査体３９の
回転中心３９ａまでの距離をＦＣＤとし、Ｘ線の焦点１
ａからＸ線検出器５の中心点までの距離をＦＤＤとする
と、撮影倍率はＦＤＤ／ＦＣＤで与えられる。従って、
ＦＤＤが一定である場合にはＦＣＤが小さい程、すなわ
ち被検査体の回転中心がｘｍ発生器１の発生源に近い程
、撮影倍率は大きくなり、断層像の分解能は向上するの
である。

次に、第１図の断固撮影装置の作用を説明する。

まず、断層像を測定したい被検査体をその大きさに応じ
て回転テーブル７または９のいずれかに載置する。被検
査体が回転テーブル７または９の、いずれかの上に載置
されると、載置された回転テーブル７または９に連結さ
れている対応するＦｆｆ＋ｆＪｉセンサ１９ま・たは２
１がこれを検出し、検出信号をテーブル切換装置２３に
供給する。テーブル切換装置２３はこの検出信号に基づ
き被検査体を載置された回転テーブル７または９を駆動
づる回転駆動装置１１または１３を選択制御する。

なお、被検査体を載置された回転テーブル７または９を
回転駆動する方法は、上述したように重量センサ１９．
２１による方法でなく、操作部２５を介して外部等から
供給される指示信号により行なうこともできる。そして
、このいずれの方法で行なうかは例えば操作部２５に選
択キー等を設け、この選択キーの状態によって決定され
るようにすることができる。

上述したいずれの方法かによって回転テーブル７または
９のいずれかが回転駆動されると、対応する回転検出装
置１５または１７はこの回転を検出し、前記回転信号を
その回転の一定角度毎にテーブル切換装置２３に出力す
る。その結果、テーブル切換装置２３はこの回転信号に
同期してＸ線発生器制御装置２７を制御し、Ｘ線発生器
１からＸ線を被検査体に向けてファンビーム状に放射す
る。被検査体を透過したＸ線はＸ線検出器５で検出され
、その検出されたＸ線の透過率データはテーブル切換装
置２３からデータ収集装置２９に供給されるデータ収集
制御信号によってデータ収集装置２９に収集される。デ
ータ収集装置２９で収集された透過率データは必要な処
理を施された後、画像再構成装置３１に供給される。画
像再構成装置３１はこの透過率データおよび操作部２５
から１　　　　　供給ｇｔ’ｔａｍ彰領域選択信号９よ
°１被検査休０：　　　　　断層像データを再構成し、
この断層像データを画像表示装置３３に供給して断層像
を表示するのである。

第３図は、第１図に示す断層踊影装置を利用して、被検
査体４２を測定する場合の応用例を示しているものであ
る。この被検査体は４２は内部に矢印状の空洞部４２ａ
を有している。

一般に被検査体はその周囲を空気により囲まれているが
、被検査体によりＸ線の吸収率と空気によるＸ線の吸収
率はその差はかなり大きい。このため、得られる断層像
に偽像が発生することがある。第３図に示す被検査体４
２もその内部に空洞部４２ａを有しているので、空洞部
４２ａにより偽像が発生する恐れがある。第３図はこの
偽像を防止ずめために、空洞部４２ａを有する被検査体
４２を一方の回転テーブル７に載置し、他方の回転テー
ブル９に前記空洞部４２ａと相似形をしている補正用の
ウェッジ４４を載置しているものである。ウェッジ４４
は被検査体４２の材質と同じ材質で形成されている。こ
のように被検査体４２およびウェッジ４４をそれぞれ回
転テーブル７および９に載置した後、回転テーブル７お
よび９を周期しかつ同一角速度で回転して測定すれば被
検査体４２の材質部分と空洞部４２ａの空間部分とのＸ
線の吸収率の差により発生する偽像はウェッジ４４で補
正され、偽像の発生を防止することができる。また、逆
に被検査体４２が矢印状の物体であり、ウェッジ４４が
矢印状の空洞部を有しているものでも同じである。この
ように第１図に示すＩｇｉ層搬影装置は２台の回転テー
ブル７および９を有し、ているので、上述したような補
正用のウェッジを設けて偽像を防止することができるの
である。

また、第１図の実施例において被検査体を回転テーブル
７に載置したかまたは回転テーブル９に載置したかによ
って測定系のフィルタ関数の周波数特性を可変するよう
に制御し偽像を防止することもできる。フィルタ関数は
周波数に対して得られる画像の圧縮の程度を制御し得る
ものである。

そして、例えば同じ被検査体を回転テーブル７に載置し
た場合よりも回転テーブル９に載置した方が白色がぼけ
やすいがこの場合においてフィルタ関数を変えることに
より画像を補正することができるのである。

更に、フィルタ関数を制御する以外に、被検査体を回転
テーブル７に載置したかまたは回転テ、−プル９に載置
したかによってＸ線強度を可変するように制御すること
もできる。Ｘ線の強度を可変するにはＸ線発生器１を駆
動する信号のパルス幅、電流、電圧を可変１れ°ばよい
。例えば、Ｘ線強度・　を上げる場合には前記パルス幅
、電流、電圧を増大するように制御すればよい。

以上のようなフィルタｌＩＩ数やＸ線強度の制御は、前
記テーブル切換装置２３に例えばマイクロコンピュータ
等を設けることにより容易に行なうことができる。

第４図は、この発明の他の実施例を示しているも、ので
ある。この実施例は第１図に示す実施例に回転テニブル
７および９を上下動させるための機構が付加された点が
異なるのみで、その他の点は第１の如のと同じであり、
上下動用の機構の関係ない部分は省略されている。

第４図において、回転テーブル７および９は支持部４０
に一体的に取り付けられている。支持部４０はガイドレ
ール４１および４３によって上下方向の移動を案内され
ている。また、支持部４０の一方の側部の中程は長ねじ
４５に螺合している。

長ねじ４５の上部は大径のプーリ４７が一体的に取り付
けられ、このプーリ４７はベルト４９を介して小径のプ
ーリ５１に連結されている。プーリ５１の回転支軸は上
下動用モータ５３の回転軸に連結されている。そして、
モータ５３が回転すると、プーリ５１は回転し、更にベ
ルト４９を介してプーリ４７が回転−するようになって
いる。プーリ４７が回転すると、長ねじ４５が回転し、
これにより長ねじ４５に螺合する支持部４０が長ねじ４
５の回転方向によって上下動し、回転テーブル７および
９を所望の上下位置に移動し得るようになっている。こ
の様な上下動作は回転テーブル７４　　　　または９の
上にｉｔした被検査体の所望の高さ位；ｊ　　　　置の
断層像を取る場合、また所望の高さ位置の断層像を複数
または連続して取るような場合に必要なものである。な
お、この第４図に示す装置においては、回転テーブル７
および９は１つの支持部４０により連結され、上下動機
構は一系統でよいという利点がある。

第５図は、上下動機構を回転テーブル７および９に対し
てそれぞれ独立に設けた他の実施例を示すものである。

すなわち、回転テーブル７および９に対してそれぞれ独
立に支持体５５および５７が取り付けられ、各支持体５
５および５７には上下方向に延出した長ねじ５９および
６９が螺合している。また、８長ねじ５９および６９の
上部には第４図の場合と同様にそれぞれ大径のプーリ６
１および７１が一体的に取り付けられ、各大径のプーリ
６１および７１はそれぞれベルト６３および７３を介し
て小径のプーリ６５および７５に連結されている。また
、プーリ６５および７５の回転支軸はそれぞれ上下動用
モータ６７および７７の回転支軸に取り付けられている
。そして、モータ６７を回転した場合には第３図の場合
と同　　　　１様な動作により回転テーブル７が上下リ
ノし、モータ７７を回転した場合には回転テーブル９が
上下動するようになっている。このように、各回転テー
ブル７および９の上下方向の位置をそれぞれ独立に調節
できるようにすることにより位置精度を向上することが
できる。これは、特にＸ線発生器１に近い位置にある回
転テーブル７はどその上下方向の位置を精度よ（設定す
ることが必要であるが、このような場合に有効なもので
ある。

第６図は、第５図と同様に回転テーブル７および９をそ
れぞれ独立に上下動できる別の実施例を示しているもの
であるが、この実施例においては回転テーブル７および
９の下方に直列に上下動駆動装置７９および８１がそれ
ぞれ設けられており、仝休のスペースが小さくなるよう
になっている。

なお、上記実施例においては、回転テーブルを２台布す
る場合について説明したが、２台に限定されるものでな
く、３台以上であってもよいこと勿論であるが、少なく
とも２台、すなわち複数台あることが必要である。

第７図は、この発明の更に他の実施例を示すものである
。この実施例においては、２台ある回転テーブル８３Ｊ
３よび８５のうらいずれの回転テーブルに被検査体がＨ
，＠されたのかを検出し、その被検査体を載置された回
転テーブルを自動的に回転駆動して被検査体の断層像を
得ようとしているものである。このようにすることによ
り、操作の煩雑さを解除し、誤りを防止しようとしてい
るものである。なお、第１図の実施例においては重囲セ
ンサ１９および２１により同様なことを行なっているが
、この実施例においてはその検出に光技術を使用してい
るものであり、その内容を更に詳細に示している。

第７図において、回転テーブル８３および８５にはそれ
ぞれ被検査物検出部９５および９３が接続されている。

この被検査物検出部９５および９３は後述するように光
技術を使用して回転テーブル８３および８５の上に被検
査体が載置されているかどうかを検出しているものであ
る。被検査物検出部９５および９３の検出出力は回転テ
ーブル選択部１０１に供給され、この回転テーブル選択
部１０１は被検査物検出部９５または９３からの検出出
力により被検査体の載置された回転テーブル８３または
８５を判定し、その出力信号を機構制御部１０３および
画像再構成部１０９に供給している６機構制御部１０３
は前記回転テーブル選択部１０１からの出力信号に基づ
ぎ回転テーブル８３を回転駆動するための回転テーブル
駆動部９１または回転テーブル８５を回転駆動するため
の回転テーブル駆動部９７のいずれかを駆動し、これに
より回転テーブル８３または８５を回転させる。

また、回転テーブル８３および８５にはテーブル回転検
出部９９が接続されている。このテーブル回転検出部９
９は、回転テーブル８３または８５の回転を検出し、そ
の回転の一定角度毎に回転信号をシステム制御部１０５
に供給する。システム制御部１０５はこの回転信号に同
期して各部すなわちシステム制御部１０５に接続されて
いる遁 １１　　　　　　放射線制御部１０７．この放射線制御
部１０７により駆動制御される放射線発生部８７．放射
線検出部８９からの被検査体を透過した放射線を検出す
る放射線検出部８９２画像再構成部１０９、放射線検出
部８９からの透過率データを収集する投影データ収集部
１１１などを制御する。画像再構成部１０９は、回転テ
ーブル選択部１０１からの出力信号、すなわちいずれの
回転テーブルに被検査体が載置されたかという情報に基
づき、前述したようなフィルタ関数、Ｘ線強度信号など
の各種パラメータを適宜選択するとともに、投影データ
収集部１１１からの透過率データをシステム制御部１０
５からの同期信号に応じて受信し、また必要に応じて適
当に処理して再構成画像データを形成し、ＣＲＴで構成
される画像表示部１１３に供給して表示する。

第８図ぼ前記第７図の被検査物検出部９５および９３の
詳細を示しているものである。被検査物検出部９５およ
び９３は上述したように光技術を使用してそれぞれ回転
テーブル８３および８５上に被検査体が載置されている
かどうかを検出しているものである。すなわち、被検査
物検出部９５は、回転テーブル８３の周辺部側近に並ん
で配設されている発光部１２１および受光部１２３を有
し、また回転テーブル８３を挾んだ発光部１２１および
受光部１２３に対抗した側には部分円弧状の凹面鏡１２
５が配設されている。そして、回転テーブル８３の上に
被検査体が載置されていない状態においては発光部１２
１から出力された光は回転テーブル８３の上面をくまな
く通過して凹面鏡１２５で反射され、受光部１２３に集
光されるようになっている。すなわち、凹面鏡１２５の
焦点位置が丁度受光部１２３の位置になるようになって
いる。また、発光部１２１から出力される光および凹面
鏡１２５から受光部１２３に反射される光は回転テーブ
ル８３の上面に平行に進むようになっている。

また、回転テーブル８５に対する被検査物検出部９３も
、回転テーブル８３に対する被検査物検出部９５と同様
に、回転テーブル８５の周辺側近にそれぞれ並んで配設
された発光部１２７および受光部１２９．また発光部１
２７および受光部１２９に対抗して配設された凹面鏡１
３１で構成されている。

発光部１２１および１２７は発光部用電源１３３から供
給される電圧により作動し、また受光部１２３および１
２９で検出された光はそれぞれ受光部１２３および１２
９により光電変換され、この光電変換された電気信号は
それぞれ増幅器１３５および１３７で増幅された後、コ
ンパレータ１３９および１４１に供給されている。コン
パレータ１３９および１４１はそれぞれ増幅器１３５お
よび１３７から供給ぎれる信号を所定の基準値と比較し
増幅器１３５および１３７からの信号が発光部１２１，
１２７から凹面鏡１２５゜１３１を介して受光部１２３
．１２９に至る光経路が被検査体のｌｉＥによりさえぎ
られることでそれぞれ所定の基準値以下になった場合、
対応する回転テーブルに被検査体が載置されたことを示
す出力信号を発生する。この出力信号の一部は被検査物
有無信号として出力されるとともに、一部は回転テーブ
ル選択部１０１を構成するフリップフロップ１４３をセ
ットまたはリセットし、このフリップフロップ１４３か
らテーブル選択信号として機構制御部１０３および画像
再構成部１０９に出力されるようになっている。このフ
リップフロップ１４３は、一度、一方の回転テーブルが
選択されると、次に他方の回転テーブルが選択されるま
で、かりに一方の回転テーブルに載置された被検査体が
途中で取り除かれても、不必要に別の回転テーブルに切
り変えられないようにしているものである。

次に上記被検査物検出部９５および９３の光学系の詳細
を第９図を参照して説明する。

第９図は一例として回転テーブル８３に対する被検査物
検出部９５を取り上げて説明している。

第９図に示すように、回転テーブル８３に対して凹面鏡
１２５が半径Ｒの部分円弧状でほぼ９０’の角度で広が
って配設されている。この図４　　　　はこの凹面１１
２５の焦点位置Ａを原点Ｏ”　　　　　（Ｘ　＝　Ｏ）
　？！：　Ｌ／−ｃ４ｆｔ　方向に−Ｘ　軸’＆　取Ｚ
−Ｃ示ａ　ｆ’Ｌ、原点０からＸ軸に直角な方向に延出
した中心線１４７上に回転テーブル８３の回転中心８３
ａが位置付けられている。発光部１２１を構成する発光
素子１２１ａは位置Ａ１すなわち原点０からＸ軸の正方
向に距離ａの位置にその中心部が配設され、また受光部
１２３を構成する光検出素子１２３ａは位置Ａ１すなわ
ち原点ＯからＸ軸の負方向に距＠ａの位置にその中心部
が配設されている。両者、すなわち発光素子１２１ａと
光検出素子１２３ａとは中心線１４７を中心に対称に配
設されている。従って発光素子１２１ａから出力された
光は回転テーブル８３上を通過して凹面鏡１２５により
反射された後、光検出素子１２３ａに集光されるように
なっている。

今、回転テーブル８３の直径をＤ、凹面鏡１２５の曲率
半径をＲ１発光素子１２１ａの回転テーブル８３上面に
平行な方向の長さをｄ、凹面鏡１２５に集光された光の
回転テーブル８３上面′″″Ｆ　ｈ　′″″Ｕ（７）ｆ
ｆｌｇｔ−ｄ−・［！１ｉｌｆｉ！ｊｔ１２５１．：に
８　　　。

反射光が位置Ａから最遠に結ぶ実像と発光素子１２１ａ
の中心から発した光の凹面鏡１２５により反射光が形成
する実像との間の距離をｄｌ　、凹面鏡１２５による反
射光が位置Ａから最近に結ぶ実像と発光素子１２１ａの
中心から発した光の凹面鏡１２５により反射光が形成す
る実像との間の距離をｄｌとする。また、発光素子１２
１ａの中心から出力された光は中心線１４７に対して対
称な位置に実像が形成され、また光は入射角と反射角が
等しいので、次の式がそれぞれ成立する。

ｄ　＋　　＝ａ　Ｒ／　（Ｒ−ｆａ　＞−ａｄ　２　＝
ａ　−ａ　Ｒ／　（ＲＪａ　）ここにおいて、Ｒ＝　（
１＋、Ｈ＞　Ｄ／２であるので、距離ｄ′は次式のよう
になる。

ｄ−＝ｄ１＋ｄ２ −２５ａ　２　Ｒ／　（Ｒ２−２ａ　２）ここにおいて
、今、具体的にＤ＝１５０１１１１１゜ａ　＝５ｍｍ、
　ｄ　＝１ｉ＋Ｉｌｌとすると、各距離はそれぞれ次の
ようになる。

ｄ　＋　＃０．７４７ＩＩ１ｍ ｄ　２　＝０．６５３ｍｍ ｄ　　　−＝ｄ　　ｌ　　　＋ｄ２　　−１．　　４ｍ
ｍこの計算結果かられかるように、光検出素子１２３ａ
の受光面積はかなり小さくてよいことがわかる。

次に第７図および第８図に示す断層撮影装置のの用を説
明する。

まず、回転テーブル８３または８５のいずれか、例えば
回転テーブル８３に被検査体が載置されたとすると、被
検査物検出部９５を構成する発光部１２１からの光の多
くはその被検査体により遮られるため、凹面＆１１２５
に当って反射され受光部１２３に受光される光量は低減
する。その結果、受光部１２３の出力信号も低減し、ま
た、増幅器１３５の出力信号も低減する。そのため、コ
ンパレータ１３９は上述したように回転テーブル８３に
被検査体が載置されたことを示す出力信号を発生ずる。

この出力信号は回転テーブル選択部１０１を構成するフ
リップフロップ１４３をセットまたはリセットしてテー
ブル選択信号、すなわち回転テーブル８３に被検査体が
載置されていることを示すテーブル選択信号を機構制御
部１０３および画像再構成部１０９に供給する。

この結果、機構制御部１０３は回転テーブル駆動部９１
を駆動して回転テーブル８３を回転する。

この回転テーブル８３の回転はテーブル回転検出部９９
で検出され、テーブル回転検出部９９はシステム制御部
１０５に前記回転信号を供給する。

システム制御部１０５はこの回転信号によって放射線制
御部１０７を制御して放射線発生部８７から放射線を出
力する。放射線発生部８７からの放射線は回転テーブル
８３の上に載置された被検査体を透過し、放射線検出部
８９で検出される。放射線検出部８９で検出された透過
率データは投影データ収集部１１１に供給され、画像再
構成部１０９に供給される。画像再構成部１０９はこの
透過率データを回転テーブル選択部１０１から供給され
るテーブル選択信号およびシステム制御部１０５から供
給される回転信号に基づいて再構成セ　　　　画像デー
タを構成し、この再構成画像データを画す 像表示部１１３に供給して断層像を表示するのである。

第１０図は、この発明の更に別の実施例を示しているも
のである。

この実施例のものは、変調器１５５を設け、この変調器
１５５により発光体用電源１５３を介して発光体１５１
から出力される光信号に光変調をかけて出力するように
している。そして、この光変調された光の反射光を受光
体１５７で受光し、更に増幅器１５９で増幅した後、復
調器１６１で復調してからコンパレータ１６３に供給す
るようにしているものである。このように光信号に変調
をかけ、また受光時に復調することにより外来光による
影響を極めて少なくすることができるのである。

なお、上記第８図に示す実施例においては発光部１２１
と受光部１２３は別体としているが、一体形のものを使
用し、その相互の素子間で予め必要な光軸の調整などを
完了しておくこ、とによりその組立て後の光軸の調整は
簡単になる。

以上説明した実施例に５いては、被検査体を載置した回
転テーブルを光を利用して検出し、その被検査体の載、
置された回転テーブルを回転制御するようにしているの
で、人為的な操作が不要となり、煩雑さがなくなり、回
転テーブルの選択あやまりが防止される。また、発光部
１２１と受光部１２３とは回転テーブル上をくまなく監
視し得るので、被検査体を確実にかつ迅速に検出するこ
とができ、仮りに被検査体が回転テーブルから落下した
としてもこれを直ちに検出し、回転テーブルの回転を停
止するとともに、警報などを発生してこのような事態に
迅速に対応できる。また、誤って２台以上の回転テーブ
ルに被検査体をそれぞれａｍしたような場合にもこれを
迅速に検出して警報などを発生し、必要な処置を迅速に
取り、誤撮影なども未然に防止できる。

［発明の効果］ 以上説明したように、この発明によれば、放射線の照射
経路に被検査体を載置し回転するための回転台を複数設
けたので、被検査体の大きさ等に応じた適切な撮影倍率
で撮影して高品質高分解能の断層像を得ることができる
。また、従来のように回転台を移動することがないため
、その回転中心がずれることがなく、河買が劣化するこ
ともない。更に、従来のように１個の回転台のみで移動
を行ない回転台を兼用するようなことはしてないので、
従来のように回転台め大きさで撮影倍率が制限されるこ
ともなく、撮影倍率を増大することができる。

【図面の簡単な説明】

第１図はこの発明の一実施例を示す断層撮影装置の構成
図、第２図は第１図の装置の撮影倍率を説明するための
図、第３図は第１図の装置の応用例を説明するための図
、第４図乃至第６図はそれぞれこの発明の他の実施例を
示す断層撮影装置の上下動機構部の斜視図、第７図はこ
の発明の別の実施例を示す断層撮影装置のブロック図、
第８図は第７図の装置の被検査物検出部の詳細図、第９
図は第８図に示す被検査物検出部の光学系を説明す′る
ための図、第１０図はこの発明の更に他の実施例を示す
断層撮影装置の被検査物検出部の伯の例を示すブロック
図、第１１図は従来の断層撮影装置を説明するための図
である。 １・・・Ｘ線発生器　　　３・・・Ｘ線ファンビーム５
・・・Ｘ線検出器　　　７，９・・・回転テーブル１１
．１３・・・回転駆動装置 １５．１７・・・回転検出装置 ２３・・・テーブル切換装置 ２７・・・Ｘ線発生器制御装置 ２９・・・データ収集８置 ３１・・・画像再構成装置 ３３・・・画像表示装置 第１図 第３図 第４図 第７図

Claims (3)

【特許請求の範囲】
1. （１）被検査体に放射線を照射透過して被検査体の断面
   における放射線の透過率を測定し、被検査体の断面の断
   層像を形成する断層撮影装置において、被検査体を載置
   し回転させるための回転台を放射線を照射する経路に沿
   って複数設けたことを特徴とする断層撮影装置。
2. （２）特許請求の範囲第１項に記載の断層撮影装置にお
   いて、前記回転台は、被検査体の載置面積がそれぞれ異
   なることを特徴とする断層撮影装置。
3. （３）特許請求の範囲第１項および第２項に記載の断層
   撮影装置において、前記回転台は、当該回転台を上下動
   させる手段を有することを特徴とする断層撮影装置。