KR20020096266A - Ｘ선 ｃｔ장치 - Google Patents

Ｘ선 ｃｔ장치 Download PDF

Info

Publication number
KR20020096266A
KR20020096266A KR1020010034621A KR20010034621A KR20020096266A KR 20020096266 A KR20020096266 A KR 20020096266A KR 1020010034621 A KR1020010034621 A KR 1020010034621A KR 20010034621 A KR20010034621 A KR 20010034621A KR 20020096266 A KR20020096266 A KR 20020096266A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
guide rails
guide rail
turntable
guide
ray
Prior art date
Application number
KR1020010034621A
Other languages
English (en)
Inventor
요네다요시유키
하시모토노부히코
Original Assignee
가부시키가이샤 히다치 엔지니어링 서비스
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 가부시키가이샤 히다치 엔지니어링 서비스 filed Critical 가부시키가이샤 히다치 엔지니어링 서비스
Priority to KR1020010034621A priority Critical patent/KR20020096266A/ko
Publication of KR20020096266A publication Critical patent/KR20020096266A/ko

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
    • G01N23/02—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material
    • G01N23/04—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and forming images of the material
    • G01N23/046—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and forming images of the material using tomography, e.g. computed tomography [CT]
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
    • G01N23/02—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material
    • G01N23/06—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and measuring the absorption
    • G01N23/083—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and measuring the absorption the radiation being X-rays
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
    • G01T7/00—Details of radiation-measuring instruments
    • G01T7/08—Means for conveying samples received
    • G01T7/10—Means for conveying samples received using turntables
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2223/00—Investigating materials by wave or particle radiation
    • G01N2223/30—Accessories, mechanical or electrical features
    • G01N2223/308—Accessories, mechanical or electrical features support of radiation source
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2223/00—Investigating materials by wave or particle radiation
    • G01N2223/30—Accessories, mechanical or electrical features
    • G01N2223/309—Accessories, mechanical or electrical features support of sample holder
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2223/00—Investigating materials by wave or particle radiation
    • G01N2223/30—Accessories, mechanical or electrical features
    • G01N2223/321—Accessories, mechanical or electrical features manipulator for positioning a part
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2223/00—Investigating materials by wave or particle radiation
    • G01N2223/40—Imaging
    • G01N2223/419—Imaging computed tomograph
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2223/00—Investigating materials by wave or particle radiation
    • G01N2223/50—Detectors
    • G01N2223/501—Detectors array

Abstract

본 발명의 목적은 간단한 구성으로 소형화할 수 있는 재현화상의 정밀도를 향상시킬 수 있는 X선 CT장치를 제공하는 데 있다.
이를 위하여 본 발명에서는 X선 발생기(11)와 X선 검출기(14)를 평행 배치된 소정 길이의 2개의 가이드레일(1, 2)의 길이방향을 따라 일정 높이위치에 대향하여 고정배치한다. X선 발생기(11)와 X선 검출기(14) 사이에 피검체(21)를 얹어 놓은 상태에서 회전구동되는 턴테이블(20)을 배치한다. 이 턴테이블(200을 가이드레일 길이방향, 2개의 가이드레일(1, 2)의 평행배치 폭 방향 및 상하방향으로 이동시킨다.

Description

Ｘ선 ＣＴ장치{X-RAY CT APPARATUS}
본 발명은 피검체의 비검파장치를 행하는 X선 컴퓨터단층촬영장치(X선 CT장치)에 관한 것이다.
일반적으로 X선 CT장치는 의학분야에서 실용화되어 있을 뿐만 아니라, 소포나 방사성 폐기물 등의 피검체를 비파괴검사하는 데 채용하는 것이 제안되고 있다. X선 CT장치는 X선 발생기로부터 피검체에 X선을 조사하여 피검체를 투과한 X선을 X선 검출기에 의해 검출하여 투과 X선에 의해 투시화상을 작성하는 것이다.
투시화상(재생화상)의 계조치(階調値)(휘도)는 X선 발생기에 인가하는 관전압의 크기에 따라 다르다. 또 X선 검출기는 다수의 검출기를 병설한 직선형상과 곡선형상의 것이 있고, 비용면에서 직선형상의 X선 검출기가 많이 사용되고 있다.
그런데, 피검체를 X선 검사할 때에는 피검체의 다수의 각도로부터의 단층상을 촬영하는 것이 필요하게 되는 일이 있다. 이와 같은 경우, 종래는 X선 발생기나 X선 검출기를 포함하는 피검체를 복수의 각도로부터 투시상을 촬영하기 위한 X선 장치(CT장치용 C선 검사장치)를 구동하도록 하고 있다. 이것은 소포를 X선 검사하는 예로서, 예를 들면 일본국 특개 2000-235007호 공보에 기재되어 있다.
종래기술은 피검체의 다수의 각도로부터의 단층상을 촬영하는 경우에는 CT장치용 X선 검사장치를 구동하도록 하고 있기 때문에 구성이 복잡하게 되어 대형이 될 수 밖에 없다는 문제점을 가지고 있다. 또 피검체의 크기가 다르면 X선 검출기를 구성하는 다수의 검출기를 유효하게 사용할 수 없어 분해능이 저하하므로, 촬영한 단층화상의 정밀도가 나빠진다는 문제점도 가지고 있다.
본 발명의 목적은 간단한 구성으로 소형화할 수 있어 단층화상의 정밀도를 향상시킬 수 있는 X선 CT장치를 제공하는 데 있다.
도 1은 본 발명의 CT장치용 X선 검사장치의 일례를 나타내는 구성도,
도 2는 본 발명의 일 실시예를 나타내는 구성도,
도 3은 본 발명을 설명하기 위한 도이다.
본 발명이 특징으로 하는 점은 X선 발생기와 X선 검출기를 평행 배치한 소정 길이의 2개의 가이드레일의 길이방향을 따라 일정 높이위치에 대향하여 고정배치함과 동시에, X선 발생기와 X선 검출기의 사이에 피검체를 얹어 놓은 상태로 회전구동되는 턴테이블을 배치하고, 이 턴테이블을 가이드레일 길이방향, 2개의 가이드레일의 평행배치 폭방향 및 상하방향으로 이동시켜 X선 검출기에서 검출된 투시화상과 턴테이블의 회전각도신호에 의해 피검체의 단면형상을 구하도록 한 데에 있다.
또한 본 명세서에 있어서는 가이드레일 길이방향을 X방향, 2개의 가이드레일의 평행배치 폭방향을 Y방향, 상하방향을 Z방향이라 칭한다.
본 발명은 X선 발생기와 X선 검출기의 사이에 배치되어 피검체를 얹어 놓은 상태로 회전구동되는 턴테이블을 X방향, Y방향, Z방향의 3차원 방향으로 이동시켜 피검체를 구동하고 있기 때문에 피검체의 다수의 각도로부터의 단층상을 촬영하는 CT촬영용 X선 검사장치를 간단한 구성으로 소형화할 수 있다.
또 피검체의 크기에 따라 턴테이블을 X방향으로 이동함으로써, 방사상으로 확산되어 피검체를 통과한 X선이 X선 검출기를 구성하는 다수의 검출기에서 검출되게 되어 분해능이 좋아짐으로 촬영한 단층화상의 정밀도를 향상시킬 수 있다.
도 1에 본 발명의 일 실시예를 나타낸다.
도 1에 있어서 소정 길이의 2개의 가이드레일(1, 2)이 평행배치되어 있고, 가이드레일(1, 2)에는 각각 길이방향을 따라 2조의 가이드홈(1a, 1b, 2a, 2b)이 형성되어 있다. 가이드레일(1, 2)은 장방체이고, 그 길이는 2m 정도이다.
가이드레일(1, 2)의 한쪽 끝(도시 오른쪽 끝)은 장방체의 연결재(3)에 의해 연결고정되어 있고, 또 가이드레일(1, 2)의 안쪽 측벽에는 장방체의 유지부재(4, 5)가 고정되어 있다. 유지부재(4, 5)의 안쪽 측벽에는 가이드레일(1, 2) [유지부재(4, 5)]의 길이방향의 3개소에 고정부재(6, 7, 8)가 고정배치되어 있다. 고정부재(8)는 유지부재(4, 5)[가이드레일(1, 2)]의 다른쪽 끝(도시 왼쪽 끝)에 고정배치되어 있다.
가이드레일(1, 2)의 한쪽 끝측에는 유지부재(4, 5)와 고정부재(6)에 걸쳐 설치판(9)이 유지부재(4, 5), 고정부재(6)의 표면에 고정배치되어 있다. 설치판(9)에는 X선 발생기(11)를 가이드레일(1, 2)로부터 일정 높이위치에 지지하는 장방체의 지지다리(제 1 지지다리)(10)가 고정되어 있다. 지지다리(10)는 설치판(9)의 가이드레일(2)측에 고정되어 있다. 원통형상의 X선 발생기(11)는 지지다리(10)의 상단에 설치되어 있다.
설치판(9)에는 레이저광을 사용하여 X선 발생기911) 등의 위치맞춤조정을 행하는 위치조정장치(12)도 고정배치되어 있다.
가이드레일(1, 2)의 다른쪽 끝에는 고정부재(8)에 X선 검출기(14)를 가이드레일(1, 2)로부터 일정 높이위치에 지지하는 장방체의 지지다리(13)(제 2 지지다리)가 고정되어 있다. X선 검출기(14)는 다수의 검출기를 직선상에 병설한 구성으로 되어 있다.
가이드판(15)은 2개의 가이드레일(1, 2)에 걸쳐 배치되고, 가이드레일(1, 2)을 길이방향(X방향)으로 슬라이딩한다. 가이드판(15)은 가이드레일(1)의 가이드홈 (1a)과 가이드레일(2)의 가이드홈(2a, 2b)에 끼워 고정하여 가이드레일(1, 2)상을 슬라이딩한다. 가이드판(15)에는 길이방향[가이드레일(1, 2)의 평행배치 폭방향]을 따라 2조의 가이드홈(15a, 15b)이 형성되어 있다.
가이드판(16)은 가이드판(15)의 가이드홈(15a, 15b)에 끼워 고정하여 가이드판(15) 위를 2개의 가이드레일(1, 2)의 평행배치 폭방향(Y방향)으로 슬라이딩한다. 가이드판(16)에는 피검사물(피검체)(21)를 가이드레일(1, 2)로부터 설정 높이위치에 유지하는 장방체의 지지다리(17)(제 3 지지다리)가 고정되어 있다. 지지다리 (17)에는 상하방향(높이방향)을 따라 끼워맞춤홈(18)이 형성되어 있다.
아암(19)은 지지다리(17)의 끼워맞춤홈(18)에 끼워 고정되어 상하방향으로 이동한다. 아암(19)의 선단에 피검체(21)를 얹어 놓은 상태로 회전구동되는 턴테이블(20)이 설치되어 있다. 턴테이블(20)은 도시 생략한 회전구동장치에 의해 회전제어되고, 위치검출기(22)에 의하여 회전위치가 검출된다.
도 2에 도 1과 같이 구성되는 CT장치용 X선 검사장치를 사용하여 피검체의 단층상을 촬영하여 표시하는 X선 CT장치의 전체 구성도를 나타낸다.
도 2에 있어서 X선 발생기911)는 전압발생장치(31)로부터 고전압(관전압)을 인가시키면 X선을 피검체(21)에 조사한다. 피검체(21)는 턴테이블(20)에 얹어 놓여져 있다. X선 검출기(14)는 도 1에 나타내는 바와 같이 피검체(21)를 끼워 X선 발생기(11)의 대향위치에 배치되어 피검체(21)를 투과한 X선을 검출한다.
전압발생장치(31)는 조작반(조작장치)(30)으로부터 가해지는 제어신호에 의해 X선 발생기(11)에 가하는 관전압의 발생과 크기를 제어한다. 회전구동장치(32)는 조작반(30)으로부터 가해지는 제어신호에 의해 턴테이블(20)을 회전구동한다. 회전구동장치(32)에는 위치검출기(22)로부터 턴테이블(20)의 회전위치신호가 입력된다.
X선 검출기(14)에서 검출된 투과 X선 데이터(투과데이터)는 검출회로(33)에 입력된 후에 A/D 변환기(34)에서 디지털신호로 변환되어 컴퓨터(CPU)(35)에 도입된다. CPU(35)로서는 퍼스널컴퓨터가 사용되어 투과데이터(투시화상)로부터 단층상의 단층화상을 연산에 의해 구하는 재구성연산장치는 중첩(重疊)적분 등의 특정한 연산을 하지 않으면 안되어, 전용 하드웨어로서 CPU(35)에 조립되어 있다.CPU(35)에서 구한 피검체(21)의 단층화상은 CPU(35)의 표시부(36)에 표시된다.
다음에 동작을 설명한다.
피검체(21)를 턴테이블(20)에 얹어 놓은 상태로 가이드판(15)[지지다리(17)]을 X방향으로 이동시킨다. 가이드판(15)의 X방향 이동은 피검체(21)의 크기에 따라 결정된다. X선 발생기(11)의 X선 조사영역이 도 3에 나타내는 바와 같이 방사상영역(40)으로 하면 피검체(21)의 크기가 21A이면 X선 발생기(11)측으로 이동시키고, 또 피검체(21)의 크기가 21B이면 X선 검출기(14)측으로 이동시킨다. 이와 같이 하면 피검체(21)를 투과한 X선은 X선 검출기(14)를 구성하는 모든 검출기에 검출되게 되어 분해능을 좋게 할 수 있다.
X방향의 위치맞춤종료 후에 가이드판(16)을 가이드판(15) 위를 이동시켜 피검체(21)가 X선의 방사상영역(40)의 중심위치가 되도록 Y방향의 위치맞춤을 실행한다. 다음에 피검체(21)의 높이와 단층상을 취하는 피검체위치에 의해 턴테이블 (20)을 Z방향으로 이동시킨다.
이와 같이 하여 턴테이블(20), 즉 피검체(21)의 위치조정이 종료한 후에 조작반(30)을 조작하여 전압발생장치(31)에 제어신호를 인가한다. 제어신호에는 관전압의 발생지령과 크기지령의 관전압신호를 포함하고 있다. 관전압의 크기는 피검체(21)의 크기에 따라 설정된다. 관전압을 크게 하면 단층화상의 계조치(휘도)를 밝게 할 수 있다.
전압발생장치(31)는 조작반(조작장치)(1)의 제어신호를 입력하면 X선 발생기(11)에 지령된 크기의 관전압을 인가한다. X선 발생기(11)는 관전압이 인가되면 X선을 피검체(21)에 조사한다. X선 발생기(11)로부터 조사되어 피검체(21)를 투과한 X선은 X선 검출기(14)에 의해 검출된다.
X선 검출기(14)에서 검출된 투과 X선 데이터(투과데이터)는 검출회로(33)에 입력된 후에 A/D 변환기(34)에서 디지털신호로 변환되어 컴퓨터(CPU)(35)에 도입된다.
CPU(35)에 입력된 디지털신호의 투과데이터는 CPU(35)내의 재구성연산장치 (22)에 의해 중첩적분이나 역촬영 등의 연산이 이루어져 단층상이 구해진다. CPU(35)에서 구해진 피검체(21)의 단층화상은 표시부(36)에 표시된다.
이와 같이 피검체(21)의 소정의 각도로부터의 단층상을 촬영하였으면 조작반(30)으로부터 회전구동장치(32)에 다시 지령신호를 가하여 턴테이블(20)을 소정 각도만큼 회전시킨다. 조작반(30)으로부터의 각도 지령신호(회전각도신호)는 CPU(35)에도 부여된다. 회전구동장치(32)는 위치검출기(22)의 위치신호를 입력하여 턴테이블(20)을 조작반(30)으로부터의 각도지령신호에 의거하여 소정각도만큼 회전시킨다. 소정각도는 5도 정도이다.
턴테이블(20)을 소정각도 만큼 회전시켰으면 조작반(30)을 조작하여 전압발생장치(31)에 제어신호를 인가하여 상기와 마찬가지로 하여 피검체(21)의 단층상을 촬영한다. 이후, 마찬가지로 하여 턴테이블(20)을 360도 회전시켜 피검체(21)의 단층상을 촬영한다.
이와 같이 하여 피검체(21)는 다수의 각도로부터의 단층상이 촬영된다. 피검체(21)의 높이위치가 다른 위치의 단층상을 촬영하는 경우에는 아암(19)을 상승(또는 하강)시켜 상기와 마찬가지로 하여 피검체(21)의 다수의 각도로부터의 단층상을 촬영한다.
이와 같이 하여 피검체의 단층상을 촬영하는 것이나, X선 발생기와 X선 검출기 사이에 배치되어 피검체를 얹어 놓은 상태로 회전구동되는 턴테이블을 X방향, Y방향, Z방향의 3차원 방향으로 이동시켜 피검체를 구동하고 있기 때문에, 피검체의 다수의 각도로부터의 단층상을 CT장치용 X선 검사장치를 간단한 구성으로 소형화할 수 있다.
또 피검체의 크기에 따라 턴테이블을 X방향으로 이동함으로써 방사상으로 확산되어 피검체를 투과한 X선이 X선 검출기를 구성하는 모든 검출기에서 검출되게 되어 분해능이 좋아지므로 촬영한 재생화상의 정밀도를 향상시킬 수 있다.
또한 CT 장치용 X선 검사장치를 소형화할 수 있으므로, CT장치용 X선 검사장치를 이송하는 경우에 특수한 차량을 필요로 하지 않아 이송을 용이하게 행할 수 있다는 효과도 가질 수 있다.
또한 상기한 실시예는 턴테이블을 단속적으로 구동하고 있으나, 연속적으로 구동하여 피검체의 단층상을 촬영할 수 있음은 물론이다.
이상 설명한 바와 같이 본 발명은 X선 발생기와 X선 검출기 사이에 배치되어 피검체를 얹어 놓은 상태로 회전구동되는 턴테이블을 X방향, Y방향, Z방향의 3차원 방향으로 이동시켜 피검체를 구동하고 있기 때문에 피검체의 다수의 각도로부터의 투시상을 촬영하는 CT장치용 X선 검사장치를 간단한 구성으로 소형화할 수 있다.
또 피검체의 크기에 따라 턴테이블을 X방향으로 이동함으로써 방사상으로 확산되어 피검체를 투과한 X선이 X선 검출기를 구성하는 모든 검출기에서 검출되게 되어 분해능이 좋아지므로 촬영한 단층화상의 정밀도를 향상시킬 수 있다.

Claims (7)

  1. 평행 배치된 소정 길이의 2개의 가이드레일과,
    상기 가이드레일의 길이방향의 한쪽 끝측의 상기 2개의 가이드레일 사이에 상기 가이드레일로부터 일정 높이위치에 지지되어 있는 X선 발생기와,
    상기 가이드레일의 길이방향의 다른쪽 끝측의 상기 2개의 가이드레일 사이에 상기 가이드레일로부터 일정 높이위치에 지지되어 있는 X선 검출기와,
    상기 X선 발생기와 상기 X선 검출기 사이에 배치되어 피검체를 얹어 놓은 상태로 회전구동되는 턴테이블과,
    상기 턴테이블을 상기 가이드레일의 길이방향, 상기 2개의 가이드레일의 평행배치 폭방향 및 상하방향으로 이동시키는 위치조정부재와,
    상기 X선 검출기에서 검출된 투시화상과 상기 턴테이블의 회전각도신호에 의해 상기 피검체의 단면형상을 구하는 컴퓨터를 구비하는 것을 특징으로 하는 X선 CT장치.
  2. 평행 배치된 소정 길이의 2개의 가이드레일과,
    상기 가이드레일의 길이방향의 한쪽 끝측의 상기 2개의 가이드레일 사이에 상기 가이드레일로부터 일정 높이위치에 지지되어 있는 X선 발생기와,
    상기 가이드레일의 길이방향의 다른쪽 끝측의 상기 2개의 가이드레일 사이에 상기 가이드레일로부터 일정 높이위치에 지지되어 있는 X선 검출기와,
    상기 X선 발생기와 상기 X선 검출기 사이에 상기 가이드레일보다 높은 위치에서 상향방향이동 자유롭게 지지되고, 피검체를 얹어 놓은 상태로 회전구동되는 턴테이블과,
    상기 턴테이블을 상기 가이드레일의 길이방향과 상기 2개의 가이드레일의 평행배치 폭방향으로 이동시키는 위치조정부재와,
    상기 X선 검출기에서 검출된 투시 X선에 의한 투시화상과, 상기 턴테이블의 회전각도신호에 의해 상기 피검체의 단면형상을 구하는 컴퓨터를 구비하는 것을 특징으로 하는 X선 CT장치.
  3. 평행 배치된 소정 길이의 2개의 가이드레일과,
    상기 가이드레일의 길이방향의 한쪽 끝측의 상기 2개의 가이드레일 사이에 상기 가이드레일로부터 일정 높이위치에 지지되어 있는 X선 발생기와,
    상기 가이드레일의 길이방향의 다른쪽 끝측의 상기 2개의 가이드레일 사이에 상기 가이드레일로부터 일정 높이위치에 지지되어 있는 X선 검출기와,
    상기 X선 발생기와 상기 X선 검출기 사이에 배치되어 피검체를 얹어 놓은 상태로 회전구동되는 턴테이블과,
    상기 턴테이블을 상기 가이드레일보다 높은 위치에서 상하방향이동 자유롭게 지지하는 지지부재와,
    상기 지지부재를 상기 가이드레일의 길이방향과 상기 2개의 가이드레일의 평행배치 폭방향으로 이동시키는 위치조정부재와,
    상기 X선 검출기에서 검출된 투시 X선에 의한 투시화상과,
    상기 턴테이블의 회전각도신호에 의해 상기 복수개의 단면형상을 구하는 컴퓨터를 구비하는 것을 특징으로 하는 X선 CT장치.
  4. 평행 배치된 소정 길이의 2개의 가이드레일과,
    상기 가이드레일의 길이방향의 한쪽 끝측의 상기 2개의 가이드레일 사이에 상기 가이드레일로부터 일정 높이위치에 지지되어 있는 X선 발생기와,
    상기 가이드레일의 길이방향의 다른쪽 끝측의 상기 2개의 가이드레일 사이에 상기 가이드레일로부터 일정 높이위치에 지지되어 있는 X선 검출기와,
    상기 X선 발생기와 상기 X선 검출기 사이에 배치되어 피검체를 얹어 놓은 상태로 회전구동되는 턴테이블과,
    상기 2개의 가이드레일을 걸쳐 배치하고, 상기 2개의 가이드레일을 길이방향방향으로 슬라이딩하는 가이드판과,
    상기 턴테이블을 상기 가이드레일보다 높은 위치에서 상하방향이동 자유롭게 지지하고,
    상기 가이드판 위를 상기 2개의 가이드레일의 평행배치 폭방향으로 슬라이딩하는 지지부재와,
    상기 X선 검출기에서 검출된 투시 X선에 의한 투시화상과, 상기 턴테이블의 회전각도신호에 의해 상기 피검체의 단층형상을 구하는 컴퓨터를 구비하는 것을 특징으로 하는 X선 CT장치.
  5. 평행배치된 소정 길이의 2개의 가이드레일과,
    상기 가이드레일의 길이방향의 한쪽 끝측의 상기 2개의 가이드레일 사이에 고정배치되고, X선 발생기를 상기 가이드레일로부터 일정높이 위치에 지지하는 제 1 지지다리와, 상기 가이드레일의 길이방향의 다른쪽 끝측의 상기 2개의 가이드레일 사이에 고정배치되어 X선 검출기를 상기 가이드레일로부터 일정높이 위치에 지지하는 제 2 지지다리와,
    상기 2개의 가이드레일을 걸쳐 배치되고, 상기 2개의 가이드레일을 길이방향으로 슬라이딩하는 가이드판과,
    상기 가이드판 위를 상기 2개의 가이드레일의 평행배치 폭방향으로 슬라이딩하고, 높이방향을 따라 끼워맞춤홈이 형성되어 있는 제 3 지지다리와,
    상기 제 3 지지다리의 상기 끼워맞춤홈에 끼워 고정되어 상하방향으로 이동하는 아암과,
    상기 아암에 설치되고, 피검체를 얹어 놓은 상태로 회전구동되는 턴테이블과,
    상기 X선 검출기에서 검출된 상기 피검체를 투시한 X선에 의한 투시화상과 상기 턴테이블의 회전각도신호에 의해 상기 피검체의 단층화상을 구하는 컴퓨터를 구비하는 것을 특징으로 하는 X선 CT장치.
  6. 길이방향을 따라 가이드홈을 형성하고, 평행배치된 소정길이의 2개의 가이드레일과,
    상기 가이드레일의 길이방향의 한쪽 끝측의 상기 2개의 가이드레일 사이에 고정배치되어 X선을 방사상으로 조사하는 X선 발생기를 상기 가이드레일로부터 일정높이 위치에 지지하는 제 1 지지다리와,
    상기 가이드레일의 길이방향의 다른쪽 끝측의 상기 2개의 가이드레일 사이에 고정배치되고, 복수의 검출기로 구성되는 X선 검출기를 상기 가이드레일로부터 일정높이 위치에 지지하는 제 2 지지다리와,
    상기 2개의 가이드레일을 걸쳐 배치되고, 상기 2개의 가이드레일을 길이방향으로 슬라이딩하는 가이드판과,
    상기 가이드판 위를 상기 2개의 가이드레일의 평행배치 폭방향으로 슬라이딩하여 높이방향을 따라 끼워맞춤홈이 형성되어 있는 제 3 지지다리와,
    상기 제 3 지지다리의 상기 끼워맞춤홈에 끼워 고정되어 상하방향으로 이동하는 아암과,
    상기 아암에 설치되어 피검체를 얹어 놓은 상태로 회전구동되는 턴테이블과,
    상기 턴테이블의 회전각도를 지령하는 조작장치와,
    상기 X선 검출기에서 검출된 상기 피검체를 투시한 X선에 의한 투시화상과, 상기 조작장치로부터 부여되는 상기 턴테이블의 회전각도신호에 의해 상기 피검체의 단층화상을 구하는 컴퓨터를 구비하는 것을 특징으로 하는 X선 CT장치.
  7. 길이방향을 따라 가이드홈을 형성하고, 평행배치된 소정길이의 2개의 가이드레일과,
    상기 가이드레일의 길이방향의 한쪽 끝측의 상기 2개의 가이드레일 사이에 고정배치되어 X선을 방사상으로 조사하는 X선 발생기를 상기 가이드레일로부터 일정높이 위치에 지지하는 제 1 지지다리와,
    상기 가이드레일의 길이방향의 다른쪽 끝측의 상기 2개의 가이드레일 사이에 고정배치되고, 복수의 검출기를 직선상에 병설하여 구성되는 X선 검출기를 상기 가이드레일로부터 일정높이 위치에 지지하는 제 2 지지다리와,
    상기 2개의 가이드레일을 걸쳐 배치되어 상기 2개의 가이드레일을 길이방향으로 슬라이딩하는 가이드판과,
    상기 제 1 가이드판 위를 상기 2개의 가이드레일의 평행배치 폭방향으로 슬라이딩하는 제 2 가이드판과,
    상기 제 2 가이드판에 고정되어 높이방향을 따라 끼워맞춤홈이 형성되어 있는 제 3 지지다리와,
    상기 제 3 지지다리의 상기 끼워맞춤홈에 끼워 고정되어 상하방향으로 이동하는 아암과,
    상기 아암에 설치되어 피검체를 얹어 놓은 상태로 회전구동되는 턴테이블을 구비하는 것을 특징으로 하는 CT장치용 X선 검사장치.
KR1020010034621A 2001-06-19 2001-06-19 Ｘ선 ｃｔ장치 KR20020096266A (ko)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020010034621A KR20020096266A (ko) 2001-06-19 2001-06-19 Ｘ선 ｃｔ장치

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020010034621A KR20020096266A (ko) 2001-06-19 2001-06-19 Ｘ선 ｃｔ장치

Publications (1)

Publication Number Publication Date
KR20020096266A true KR20020096266A (ko) 2002-12-31

Family

ID=37490948

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020010034621A KR20020096266A (ko) 2001-06-19 2001-06-19 Ｘ선 ｃｔ장치

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR20020096266A (ko)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101300269B1 (ko) * 2012-07-06 2013-08-23 이비테크(주) 3ｄ 단층촬영 장치
KR101426245B1 (ko) * 2013-06-03 2014-08-05 이비테크(주) 3ｄ 단층 촬영장치
CN104698012A (zh) * 2013-12-06 2015-06-10 北京固鸿科技有限公司 X射线工业dr/ct卧式自动无损检测系统及其卡具
CN113588690A (zh) * 2021-07-20 2021-11-02 中国电子科技集团公司第三十八研究所 一种用于大型构件的x射线无损检测装置

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101300269B1 (ko) * 2012-07-06 2013-08-23 이비테크(주) 3ｄ 단층촬영 장치
KR101426245B1 (ko) * 2013-06-03 2014-08-05 이비테크(주) 3ｄ 단층 촬영장치
CN104698012A (zh) * 2013-12-06 2015-06-10 北京固鸿科技有限公司 X射线工业dr/ct卧式自动无损检测系统及其卡具
CN113588690A (zh) * 2021-07-20 2021-11-02 中国电子科技集团公司第三十八研究所 一种用于大型构件的x射线无损检测装置
CN113588690B (zh) * 2021-07-20 2023-10-03 中国电子科技集团公司第三十八研究所 一种用于大型构件的x射线无损检测装置

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6411674B1 (en) Radiation tomography device and subject examination apparatus using the same
CN103237498B (zh) X射线计算机断层摄影装置
CN1138975A (zh) 计算机层析x射线摄影仪
JP2005527800A (ja) 大視野の対象物を画像化するシステムおよび方法
JP2000245728A (ja) コンピュータ断層撮影装置
JP2006075236A (ja) Ｘ線撮影装置
US20110222648A1 (en) Scanner device and method for computed tomography imaging
CN201271257Y (zh) 诊断用x射线照相扫描数字装置
JP2005087592A (ja) Ｘ線計測装置
US5367554A (en) X-ray diagnostic apparatus of a circulatory organ system
KR20020096266A (ko) Ｘ선 ｃｔ장치
JPH0724658B2 (ja) Ｘ線写真写像方法および装置
JP2003061946A (ja) Ｃｔ装置
JP4493102B2 (ja) 動態撮影システム
JP4590702B2 (ja) Ｘ線検査装置
JP4788272B2 (ja) Ｘ線断層撮像装置及びｘ線断層撮像方法
JP2006138869A (ja) コンピュータ断層撮影装置並びに回転中心位置を求める方法及びプログラム
JP5110295B2 (ja) Ｘ線診断装置
JP5138279B2 (ja) コンピュータ断層撮影装置
JP2007322384A (ja) Ｘ線断層撮像装置及びｘ線断層撮像方法
JPS6027532B2 (ja) Ｃｔスキヤナ
JP2002333408A (ja) 産業用ｘ線ｃｔ装置
JP2006214841A (ja) Ｘ線ｃｔ装置
JP6925799B2 (ja) Ｘ線ｃｔ装置
JPH09187453A (ja) 放射線ｃｔ装置

Legal Events

Date Code Title Description
WITN Withdrawal due to no request for examination