JPS61946A - 光デイスク評価装置 - Google Patents
光デイスク評価装置Info
- Publication number
- JPS61946A JPS61946A JP12236884A JP12236884A JPS61946A JP S61946 A JPS61946 A JP S61946A JP 12236884 A JP12236884 A JP 12236884A JP 12236884 A JP12236884 A JP 12236884A JP S61946 A JPS61946 A JP S61946A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- signal
- frequency
- optical disc
- optical
- amount
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B33/00—Constructional parts, details or accessories not provided for in the other groups of this subclass
- G11B33/10—Indicating arrangements; Warning arrangements
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B17/00—Guiding record carriers not specifically of filamentary or web form, or of supports therefor
- G11B17/32—Maintaining desired spacing between record carrier and head, e.g. by fluid-dynamic spacing
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B17/00—Guiding record carriers not specifically of filamentary or web form, or of supports therefor
- G11B17/34—Guiding record carriers during transducing operation, e.g. for track following
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/24—Record carriers characterised by shape, structure or physical properties, or by the selection of the material
- G11B7/26—Apparatus or processes specially adapted for the manufacture of record carriers
Landscapes
- Optical Recording Or Reproduction (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Manufacturing Optical Record Carriers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は情報記録媒体としての光ディスクの形状を評価
する装置に関するものである。
する装置に関するものである。
従来例の構成とその問題点
高密度大容量の情報記録として期待きれている光ディス
クの生産工法確立及び管理、品質保障の意味から、光デ
ィスク記録面の面芯振れ量もしくはフォーカス方向及び
トラッキング方向の加速度を測定する必要がある。光デ
ィスク記録面の面振れ量、芯振れ量及び加速度を測定す
る手段の従来例を第１図に示す。
クの生産工法確立及び管理、品質保障の意味から、光デ
ィスク記録面の面芯振れ量もしくはフォーカス方向及び
トラッキング方向の加速度を測定する必要がある。光デ
ィスク記録面の面振れ量、芯振れ量及び加速度を測定す
る手段の従来例を第１図に示す。
第１図に示すように、半導体レーザー１から発成形され
、ビームスプリッタ４、λ／４ 板５を経て絞りレンズ
らによりディスク７の記録面上に絞り込まれる。その反
射光は再び絞りレンズ６λ／４板５を経てビームスプリ
ッタ４を透過し、光検出部に至る。絞りレンズ６はホル
ダー８によシ保持されており、ホルダー８にはＡｌ製の
ターゲット９．１０が固設されており、うず電流変位計
のプローブ１１．１２の先端面をそれぞれターゲット９
，１ｏに対向させることにより、ピンクアンプのトラッ
キング方向、フォーカス方向の変位量をうず電流変位計
ドライバーより検出する。
、ビームスプリッタ４、λ／４ 板５を経て絞りレンズ
らによりディスク７の記録面上に絞り込まれる。その反
射光は再び絞りレンズ６λ／４板５を経てビームスプリ
ッタ４を透過し、光検出部に至る。絞りレンズ６はホル
ダー８によシ保持されており、ホルダー８にはＡｌ製の
ターゲット９．１０が固設されており、うず電流変位計
のプローブ１１．１２の先端面をそれぞれターゲット９
，１ｏに対向させることにより、ピンクアンプのトラッ
キング方向、フォーカス方向の変位量をうず電流変位計
ドライバーより検出する。
このうず電流変位計ドライバーの出力信号をスペクトラ
ムアナライザーによって周波数分析することによシ、信
号成分とノイズ成分を識別しつつディスク記録面の面芯
振れ量及び加速度を測定することが出来る。しかし、ピ
ックアップ変位量の測定能力には限界があシ、（うず電
流変位削ではコンマ数μｍが測定分解能である。）たと
えば６００ Ｈｚ以上の高周波領域における０、０１μ
ｍオーダーの面芯振れ量、もしくは０．０１Ｇオーダー
の加速度を測定することは不可能である。ここに従来よ
シ、高周波数領域においても光ディスク記録面の面芯振
れ量もしくは加速度を正確に測定する方法の確立が要請
されていた。
ムアナライザーによって周波数分析することによシ、信
号成分とノイズ成分を識別しつつディスク記録面の面芯
振れ量及び加速度を測定することが出来る。しかし、ピ
ックアップ変位量の測定能力には限界があシ、（うず電
流変位削ではコンマ数μｍが測定分解能である。）たと
えば６００ Ｈｚ以上の高周波領域における０、０１μ
ｍオーダーの面芯振れ量、もしくは０．０１Ｇオーダー
の加速度を測定することは不可能である。ここに従来よ
シ、高周波数領域においても光ディスク記録面の面芯振
れ量もしくは加速度を正確に測定する方法の確立が要請
されていた。
発明の目的
本発明は上記従来の問題点を解消するもので、低周波数
から高周波数領域に至るまでの光ディスク記録面の可振
れ量、芯振れ量もしくは加速度の正確な測定を実現する
光ディスク評価装置を提供することを目的とする。
から高周波数領域に至るまでの光ディスク記録面の可振
れ量、芯振れ量もしくは加速度の正確な測定を実現する
光ディスク評価装置を提供することを目的とする。
発明の構成
本発明は光源から放射される光を光ディスク記録面に絞
り込む第１の光学系と、記録面から反射される光を光検
出器に導く第２の光学系と、記録面に追従する光学ピッ
クアップと、光学ピックアップの変位を検出する手段と
をもち、記録面の面芯振れ量もしくはフォーカス方向及
びトラッキング方向の加速度測定を行なう装置において
、面芯振れの低い周波数領域においては光学ピックアッ
プの変位を検出する手段によって測定を行ない、高い周
波数領域においては光検出器の差信号すなわちフォーカ
スエラー信号とトラッキングエラー信号によって測定を
行なうことを特徴とする光ディスク評価装置であり、光
ディスク記録面の低周波数から高周波数領域に至るまで
の面芯振れ量もしくは加速度の正確な測定を実現できる
ものである。
り込む第１の光学系と、記録面から反射される光を光検
出器に導く第２の光学系と、記録面に追従する光学ピッ
クアップと、光学ピックアップの変位を検出する手段と
をもち、記録面の面芯振れ量もしくはフォーカス方向及
びトラッキング方向の加速度測定を行なう装置において
、面芯振れの低い周波数領域においては光学ピックアッ
プの変位を検出する手段によって測定を行ない、高い周
波数領域においては光検出器の差信号すなわちフォーカ
スエラー信号とトラッキングエラー信号によって測定を
行なうことを特徴とする光ディスク評価装置であり、光
ディスク記録面の低周波数から高周波数領域に至るまで
の面芯振れ量もしくは加速度の正確な測定を実現できる
ものである。
実施例の説明
以下の説明で、フォーカス方向もトラッキング方向も原
理的には全く同じであるのでフォーカス方向のみを代表
させて説明してゆく。本発明の実施例の構成図は第１図
と同じであり、本発明の実施例におけるディスク評価装
置の回路説明図を第２図に示す。第２図において、ディ
スク記録面上の可振れ量畔加え合せ点、１ ｆｘ経て、
光学系１３、光検出器１４によシ信号検出され、その信
号はプリアンプ１６により増幅された後、オペアンプ１
６によシ差分されフォーカスエラー信号となシ、このフ
ォーカスエラー信号は増幅回路及びフィルター１７、駆
動回路１８を経て、光学ピックアップコイル１９に流れ
光学ピックアップを駆動し、ピックアップの変位量は引
出し点Ｃより引出され加え合せ点ａに代数差として入る
。１だピックアップの変位量はうず電流変位計２０によ
り検出されドライバー２１によシ面振れ信号として出力
され、スペクトラムアナライザー２２により周波数分析
される。一方、オペアンプ１６によυ差分されたフォー
カスエラー信号は引き出し点すより引き出されスペクト
ラムアナライザー２２によシ周波数分析される。ここで
光ディスク記録面の可振れ量の低い周波数領域において
は可振れ信号の周波数分析データを用い、高い領域では
フォーカスエラー信号の周波数分析データを用いて、こ
れらのデータを併用することで低周波数から高周波数に
至るまでの可振れ量もしくは加速度の叩定を行なう。
理的には全く同じであるのでフォーカス方向のみを代表
させて説明してゆく。本発明の実施例の構成図は第１図
と同じであり、本発明の実施例におけるディスク評価装
置の回路説明図を第２図に示す。第２図において、ディ
スク記録面上の可振れ量畔加え合せ点、１ ｆｘ経て、
光学系１３、光検出器１４によシ信号検出され、その信
号はプリアンプ１６により増幅された後、オペアンプ１
６によシ差分されフォーカスエラー信号となシ、このフ
ォーカスエラー信号は増幅回路及びフィルター１７、駆
動回路１８を経て、光学ピックアップコイル１９に流れ
光学ピックアップを駆動し、ピックアップの変位量は引
出し点Ｃより引出され加え合せ点ａに代数差として入る
。１だピックアップの変位量はうず電流変位計２０によ
り検出されドライバー２１によシ面振れ信号として出力
され、スペクトラムアナライザー２２により周波数分析
される。一方、オペアンプ１６によυ差分されたフォー
カスエラー信号は引き出し点すより引き出されスペクト
ラムアナライザー２２によシ周波数分析される。ここで
光ディスク記録面の可振れ量の低い周波数領域において
は可振れ信号の周波数分析データを用い、高い領域では
フォーカスエラー信号の周波数分析データを用いて、こ
れらのデータを併用することで低周波数から高周波数に
至るまでの可振れ量もしくは加速度の叩定を行なう。
第３図は第２図を簡単にしたブロック線図であシ、伝達
関数Ｇ１は光学系１３からオペアンプ１６に至るまでの
結合伝達関数、伝達関数０２は増幅回路及びフィルター
１７から光学ピックアップコイル１９に至るまでの結合
伝達関数である。これよリディスク記録面上の可振れ量
をＲとして、可振 〜で表わされる。伝達関数
０１ は一般にＱ〜１００ＫＨｚ 、までの領域で
は周波数によらずほぼ一定であるのに対し、Ｇ２は第４
図に示す如く、低周波数ではｌＧ２１は大きく、高周波
数では小さくなる。よってたとえば５００ Ｈｚ以下の
低周波数では１Ｇ１Ｇ２１＞１ であり Ｃ″：、Ｒ
となるのに対し、たとえば２ＫＨｚ以上の高周波数では
ＩＧ、Ｇ２１（１であり ＥζＧ１ＲとなるｌＧ１１．
ｌＧ２１はディスクの反射率差等により若干ばらつくた
め、低周波数では反射率差によらず面振れ信号Ｃが安定
し、高周波数では反射率差程度の変動（数パー士ント程
度）はあるがフォーカスエラー信号Ｅの方が安定してい
る。また、第５図は本発明の光ディスク評価装置の光学
ピックアップの閉ループ蒔性図であシ、ωｂは帯域幅で
ある。一般にＬＩＭｂは１〜３ＫＨｚ の大きさであ
り、ωｂを越える周波数では光ディスク記録面上に凹凸
があってもピックアップは追従せず、記録面上の面振れ
量は而振れ信号では検出不能であるのに対し、フォルカ
スエラー信号では信号として感度よく現われる。また、
ディスク記録面上の面振れ量がコンマ数μｍ以下の非常
に小さい量である時も、光学ピックアップは光ディスク
記録面上の凹凸に追従せず、面振れ量はフォーカスエラ
ー信号にのみよく現われる。
関数Ｇ１は光学系１３からオペアンプ１６に至るまでの
結合伝達関数、伝達関数０２は増幅回路及びフィルター
１７から光学ピックアップコイル１９に至るまでの結合
伝達関数である。これよリディスク記録面上の可振れ量
をＲとして、可振 〜で表わされる。伝達関数
０１ は一般にＱ〜１００ＫＨｚ 、までの領域で
は周波数によらずほぼ一定であるのに対し、Ｇ２は第４
図に示す如く、低周波数ではｌＧ２１は大きく、高周波
数では小さくなる。よってたとえば５００ Ｈｚ以下の
低周波数では１Ｇ１Ｇ２１＞１ であり Ｃ″：、Ｒ
となるのに対し、たとえば２ＫＨｚ以上の高周波数では
ＩＧ、Ｇ２１（１であり ＥζＧ１ＲとなるｌＧ１１．
ｌＧ２１はディスクの反射率差等により若干ばらつくた
め、低周波数では反射率差によらず面振れ信号Ｃが安定
し、高周波数では反射率差程度の変動（数パー士ント程
度）はあるがフォーカスエラー信号Ｅの方が安定してい
る。また、第５図は本発明の光ディスク評価装置の光学
ピックアップの閉ループ蒔性図であシ、ωｂは帯域幅で
ある。一般にＬＩＭｂは１〜３ＫＨｚ の大きさであ
り、ωｂを越える周波数では光ディスク記録面上に凹凸
があってもピックアップは追従せず、記録面上の面振れ
量は而振れ信号では検出不能であるのに対し、フォルカ
スエラー信号では信号として感度よく現われる。また、
ディスク記録面上の面振れ量がコンマ数μｍ以下の非常
に小さい量である時も、光学ピックアップは光ディスク
記録面上の凹凸に追従せず、面振れ量はフォーカスエラ
ー信号にのみよく現われる。
以上のように、本実施例によれば記録面の面振れ量の低
い周波数領域では面振れ信号を用い、高い周波数領域で
はフォーカスエラー信号を用いこれらを併用することで
、低周波数から高周波数領域に至るまでの、ディスク記
録面の面振れ量もしくは加速度の正確な測定を行なうこ
とが出来る。なお以上の実施例ではピックアップ変位量
の検出としてうず電流変位計を用いたが、他の検出方法
を用いてもよい。さらに上記実施例ではフォーカス方向
の面振れ量もしくは加速度測定に限り説明したが、トラ
ッキング方向についても全く同様である。
い周波数領域では面振れ信号を用い、高い周波数領域で
はフォーカスエラー信号を用いこれらを併用することで
、低周波数から高周波数領域に至るまでの、ディスク記
録面の面振れ量もしくは加速度の正確な測定を行なうこ
とが出来る。なお以上の実施例ではピックアップ変位量
の検出としてうず電流変位計を用いたが、他の検出方法
を用いてもよい。さらに上記実施例ではフォーカス方向
の面振れ量もしくは加速度測定に限り説明したが、トラ
ッキング方向についても全く同様である。
発明の効果
本発明の光ディスク評価装置は、記録面の面振れ量、芯
振れ量の低い周波数領域では面振れ信号および芯振れ信
号を用い、高い周波数領域ではフォーカスエラー信号お
よびトラッキングエラー信号を用いこれらを併用するこ
とで、低周波数から高周波数に至るまでのディスク記録
面の面振れ量芯振れ量及びフォーカス方向及びトラッキ
ング方向の加速度の正確な測定を行なうことが出来、そ
の実用的効果は大きい。
振れ量の低い周波数領域では面振れ信号および芯振れ信
号を用い、高い周波数領域ではフォーカスエラー信号お
よびトラッキングエラー信号を用いこれらを併用するこ
とで、低周波数から高周波数に至るまでのディスク記録
面の面振れ量芯振れ量及びフォーカス方向及びトラッキ
ング方向の加速度の正確な測定を行なうことが出来、そ
の実用的効果は大きい。
第１図は従来の光ディスク評価装置の原理図、第２図は
本発明の実施例における光ディスク評価装置のブロック
線図、第３図は同ブロック線図、第４図は同伝達関数Ｇ
２の周波数特性を示す特性図、第５図は同光学ピックア
ップの閉ループ特性図である。 １３・・・・・・光学系、１４・・・・・・光検出器、
１６・・・・・・プリアンプ、１６・・・・・・オペア
ンプ、１７・・・山増幅回路及びフィルター、１８・・
・・・・駆動回路、１９・・・光学ピックアップコイル
、２０・・・・・・うず電流変位計、２１・・・・・・
ドライバー、２２・・・・・・スペクトラムアナライザ
ー。 代理人の氏名 弁理士 中 尾 敏 男 ほか１名１１
５！ＩＩ 第２図
本発明の実施例における光ディスク評価装置のブロック
線図、第３図は同ブロック線図、第４図は同伝達関数Ｇ
２の周波数特性を示す特性図、第５図は同光学ピックア
ップの閉ループ特性図である。 １３・・・・・・光学系、１４・・・・・・光検出器、
１６・・・・・・プリアンプ、１６・・・・・・オペア
ンプ、１７・・・山増幅回路及びフィルター、１８・・
・・・・駆動回路、１９・・・光学ピックアップコイル
、２０・・・・・・うず電流変位計、２１・・・・・・
ドライバー、２２・・・・・・スペクトラムアナライザ
ー。 代理人の氏名 弁理士 中 尾 敏 男 ほか１名１１
５！ＩＩ 第２図
Claims (1)
- 光源から放射される光を光ディスク記録面に絞り込む第
１の光学系と、前記光ディスク記録面から反射される光
を光検出器に導く第２の光学系と、前記光ディスク記録
面に追従する光学ピックアップと、前記光学ピックアッ
プの変位を検出する手段とをもち、前記光ディスク記録
面の面振れ量、芯振れ量及びフォーカス方向及びトラッ
キング方向の加速度測定を行なう装置において、面芯振
れ量の低い周波数領域においては前記光学ピックアップ
の変位を検出する手段によって測定を行ない、高い周波
数領域においては前記光検出器の差信号、すなわちフォ
ーカスエラー信号とトラッキングエラー信号とによって
測定を行なうことを特徴とする光ディスク評価装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12236884A JPS61946A (ja) | 1984-06-14 | 1984-06-14 | 光デイスク評価装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12236884A JPS61946A (ja) | 1984-06-14 | 1984-06-14 | 光デイスク評価装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61946A true JPS61946A (ja) | 1986-01-06 |
| JPH0556572B2 JPH0556572B2 (ja) | 1993-08-19 |
Family
ID=14834130
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP12236884A Granted JPS61946A (ja) | 1984-06-14 | 1984-06-14 | 光デイスク評価装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS61946A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63249055A (ja) * | 1987-04-06 | 1988-10-17 | Yokogawa Electric Corp | 光デイスク検査装置の加速度計算方法 |
| KR100813946B1 (ko) * | 2001-09-01 | 2008-03-14 | 삼성전자주식회사 | 광정보저장매체의 기록 및 재생장치, 편향크기 산출 방법, 재생 시스템, 기록 및 재생 시스템 |
-
1984
- 1984-06-14 JP JP12236884A patent/JPS61946A/ja active Granted
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63249055A (ja) * | 1987-04-06 | 1988-10-17 | Yokogawa Electric Corp | 光デイスク検査装置の加速度計算方法 |
| KR100813946B1 (ko) * | 2001-09-01 | 2008-03-14 | 삼성전자주식회사 | 광정보저장매체의 기록 및 재생장치, 편향크기 산출 방법, 재생 시스템, 기록 및 재생 시스템 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0556572B2 (ja) | 1993-08-19 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US5978091A (en) | Laser-bump sensor method and apparatus | |
| US4504939A (en) | Storage medium track pitch detector | |
| JPS6367549A (ja) | 光ディスク用レジスト原盤の欠陥検査及び膜厚測定装置 | |
| WO1997034124A1 (en) | Optical surface detection for magnetic disks | |
| JPS61946A (ja) | 光デイスク評価装置 | |
| US5805284A (en) | Optically verified glide | |
| US4566090A (en) | Storage medium track pitch detector | |
| JP2002503801A (ja) | 記録ヘッドの浮上量を決定する方法と装置 | |
| JPS63122930A (ja) | 光磁気メモリ媒体のカ−回転角測定装置 | |
| JP2671437B2 (ja) | トラックピッチむらの測定方法 | |
| JPS58147824A (ja) | デイスク検査装置 | |
| JP2653105B2 (ja) | ウォーブリングトラックの測定方法 | |
| JPS6071903A (ja) | 光ディスク検査装置 | |
| JPS60210733A (ja) | レンズ光軸検査装置 | |
| JPH05342676A (ja) | 光磁気ディスク検査装置 | |
| JP2869589B2 (ja) | 光磁気信号を用いた集光ビ−ム径測定方法及びそれを利用した光ディスク装置の光学系検査方法 | |
| JPS62147340A (ja) | 光学ヘツド検査装置 | |
| JP2003042713A (ja) | レーザー計測方法及び装置 | |
| JP2652887B2 (ja) | 光ディスクのグループ欠陥の大きさ測定方法 | |
| JPS60258739A (ja) | フオ−カシング誤差検出装置 | |
| JPH05332879A (ja) | 光学ヘッドの光スポット径測定方法 | |
| KR100588154B1 (ko) | 자기기록매체의 검사장치 및 그 검사방법 | |
| JPS6371608A (ja) | 偏心測定装置 | |
| JPH02183446A (ja) | 光記録媒体の検査装置 | |
| JPH0291840A (ja) | 光磁気検出装置 |