JPS6187466A - 放射線画像情報読取方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 （産業上の利用分野） 本発明は、蓄積性螢光体シート１０上した放射線画像情
報記録再生システムにおける放射線画像情報読取方法に
関する。

（発明の技術的背景） ある種の螢光体に放射線（Ｘ線、α線、β線、γ線、電
子線、紫外線等）ｒ照射すると、この放射線エネルギー
の一部が螢光体中に蓄積され、この螢光体に可視光等の
励起光？照射すると、蓄積されたエネルギーに応じて螢
光体が輝尽発光？示すことが知られており、このような
性質？示す螢光体は蓄積性螢光体と呼ばれる。

Ｃの蓄積性螢光体を利用して、人体等の被写体の放射線
画像情報？一旦シート状の蓄積性螢光体に記録し、この
蓄積性螢光体シート上レーザ光等の励起光で走査して輝
尽発光光？生ぜしめ、得られた輝尽発光光を光電的に読
み取って画像信号？得、この画像信号に基づき被写体の
放射線画像を写真感光材料等の記録材料、ＣＲＴ等に可
視像として出力させる放射線画像情報記録再生システム
が本出願人によりすでに提案されている。（特開昭５５
−１２４２９号、同５６−１１３９５号など。）この様
な放射線画像情報記録再生システムにおいては、放射線
画像情報が蓄積記録でれた蓄積性螢光体シート”ｚｖ−
ザ光等の励起光で走査して輝尽発光光２発せしめ、得ら
れた輝尽発光光勿光電的に読み取るのに、従来第２図に
示す様な読取装置が提案されている。

図示の装置においては、励起光源ｌから励起光２が発せ
られ、この励起光２はビーム・エクスパンダ−３により
ビーム径の大きさが厳密に調整され、ガルバノメータミ
ラー等の光偏向器４によって平面反射鏡５を介して蓄積
性螢光体シート１０上に偏向せしめられて入射する。光
偏向器４と平面反射鏡５との間にはｆθし／ズ６が配さ
れ、シートｌＯ上勿励起光２が均一なビーム径盆有して
矢印Ｃ方向に等速主走査されるようになっている。シー
ト１０は例えば矢印Ａの方向に移送せしめられて副走査
がなされ、その結果シート１０の全面にわたって励起光
が照射せしめられる。

かように励起光２が照射せしめられると、シート１０は
蓄積記録されている放射線エネルギーに比例する光量の
輝尽発光光２発し、この発光光は集光ガイド（導光性シ
ート）８にその入射面８ａから入射する。集光ガイド８
に入射した輝尽発光光は該ガイド８の内部勿全反射しつ
つ射出面８ｂに伝達され、該射出面８ｂ’に密着せしめ
られたフォトマル等の光検出器９によって受光される。

この集光ガイド８と光検出器９とは光電読取手段７【構
成している。

光検出器９により検出された輝尽発光光は電気信号に変
換されて該検出器から出力され、その出力信号は以後増
幅、Ａ／Ｄ変換、信号処理等された後に写真感光材料等
の記録材料、ＣＲＴ等の表示装置に可視像として出力さ
れる。

図中１４は反射ミラーであり、該反射ミラー１４は、シ
ー）１０上の励起光の走査線に対して集光ガイド８とは
反対側に配設され、励起光走査によジ発せられる輝尽発
光光のうち集光ガイド８とは反対側に向かう光を集光ガ
イド８に向けて反射させることにより、シート１０から
発せられる輝尽発光光の集光効率を向上させて良質な画
像〒得ようとするものである。

ところが、第２図？矢印、Ｂ方向から見た第３図に示す
ように、上記の如き読み取ジに２いては、一般に、シー
ト１０上に入射した走査のための励起光（以下、単に励
起光という）２ａはシートｌＯ上で反射され、この反射
された励起光（以下、散乱光という）２ｂが読取装置の
各種構成部分（反射ミラー１４、集光ガイド端面８ａ、
その他の構成部分等）で再び反射されてシート１０上に
再び入射し、その部分からの輝尽発光光が発せられる、
いわゆる７ンア現象が生じる。このフレア現象が生じる
と、上記散乱光２ｂが再び入射するシート１０面上の位
置は励起光２ａによる走査で読み取り７行なっている画
素部分以外の位置であるので、読み取りを行なっている
画素部分から発せられる輝尽発光光と共にそれ以外の部
分から発せられる輝尽発光光も同時に光電読取手段７に
より読み取られることとなり、正確な画像情報が得られ
ず、画像のコントラストも低下するという不都合が生じ
る。

（発明の目的） 本発明の目的は、上記事情に鑑み、上記の如きフレア現
象の発生に拘らず蓄積性螢光体シートの正確な読み取り
７行なうことができ、上記フレア現象による不都合ｒ回
避することのできる放射線画像情報読取方法？提供する
ことにある。

（発明の構成） 本発明に係る放射線画像清報読取方法は、上記目的ｒ達
成するため、蓄積性螢光体シート上の所定画素紫照射す
る励起光の光量とその励起光照射の際に他の任意画素盆
照射するその励起光の散乱光の光量との比率ｒ予め計算
又は実験により求めておき、例えば上記シートの読み取
りが終了した後に、所定画素の読み取りの際に散乱光に
よって他の任意画素から発せられた輝尽発光光の光量？
上記予め求めておいた比率？利用して算出し、その所定
画素における実際に読み取られた輝尽発光光量から上記
の如くして算出した散乱光による輝尽発光光量上減算す
ること？特徴とする。

上記所定画素の読み取りの際に他の任意画素から発せら
れる散乱光に起因する輝尽発光光量の算出は、まず実際
の読み取りにおいて上記所定画素に照射された励起光の
光量に上記比率を掛算して当該任意画素に照射される散
乱光の光量に求め、次にこの散乱光の光量と実際の読み
取りにおいて上記任意画素に照射された励起光の光量と
の比率？算出し、この比率と上記任意画素における実際
に読み取られた輝尽発光光量と？掛算することにより、
場合によっては更に他の係数を掛算することによシ行な
われる。

（実施態様） 以下、図面勿参照しながら本発明の実施態様について詳
細に説明する。

第１図は本発明に係る方法τ説明するための蓄積性螢光
体シートと該シート上の画素ｒ示す概念図である。

本発明に係る放射線画像情報読取方法は、まず、蓄積性
螢光体シート１０上の所定画素Ａｉｊ（第１サフイクス
ｌは画素の副走査方向の位置？示し、第２サフイクスＪ
は画素の主走査方向の位置？示す。）を照射する励起光
の所定光量Ｑ＋とその照射の際他の任意画素Ａｋｔｔ照
射する上記励起光の散乱光の光量ｑ′ｋｔとの比率ｒｋ
ｌ　ｋ予め実験により又は計算により求めておく。

放射線画像情報読取装置においては、その各構成部分（
前述の反射ミラーや集光ガイド端面等）の配置態様、形
状、材質等が特定されると励起光の散乱状態は常に同一
であり、従ってどの部分にどの程度の散乱光が照射され
るかということは実験によりあるいは計算により求める
ことが可能である。

従って、シートｌＯ上の所定面素人ｉ」が所定光量Ｑ′
ノ励起光により照射されたとぎに他の任意画素Ａｋｔが
どの程度の光量ｑＩｋｔの散乱光によって照射されるか
ｒ実験又は計算により求めて両者の比率ｒｋｔ　＝　ｑ
ｌｋｔ／　Ｑ’　ｗ予め算出しておく。

上記比率？求めておくべき他の任意画素は上記所定画素
を励起光で照射したときに該励起光の散乱光が入射して
輝尽発光光が発せらＢｓ範囲の画素で良く、また該輝尽
発光光が集光系により有効に集光される範囲の画素で良
く、さらにはその散乱光による輝尽発光光量が所定画素
からの輝尽発光光量に比較しである程度大きく、それ？
排除しないと読み取りに実質的な誤差４；含まれ、支障
勿来たす程度の犬ぎ：！”ｒ−Ｒろ画素範囲でも十分で
ある。具体的には、例えば所定画素Ａｉｊｉ中心とする
１０画素四方程度の範囲に存在する各画素について上記
比率を求めておけば良い。

また、上記比率は７−トｌＯ上の全ての画素を所定画素
とした場合について求めておいても良いが、そこまです
る必要はなく、通常主走査方向の１本の走査線上に位置
する各画素ケ所定画素として上記比率？求めておけば十
分である。なぜならば、所定面素人ｌｊと該所定画素に
対して一定の位置関係にある任意画素Ａｋｚとの間にお
ける上記比率ｒｋｔは、一般にその所定面素人ｉＪの位
置が主走査方向にずれた場合は変化するが、副走査方向
にずれた場合は変化しないからである。なお、所定画素
Ａｉｊの位置が主走査方向にずれても比率ｒｋｔが変化
しないかあるいは変化の程度が小さいときは必ずしも主
走査方向の走査線上に位置する全ての画素ｒ所定画素と
して上記比率ｒｋｔｔ求めておく必要はない。

以上要するに、フレア現象に基づく実質的な不都合を排
除するために必要な散乱光による輝尽発光光量ｒ算出す
るために必要な所定画素と任意画素との間の上記比率勿
求めておけば十分である。

この様にして上記比率’ｋｚ　ｌｒ求めておいた上で、
上記シート１０’ｉ励起光で走査してその走査により発
せられる輝尽発光光量ｒ読み取る読み取りｔ行なう。

そして、この読み取り終了後、各画素における実際の読
み取９輝尽発光光量からそのうちの散乱光に基づく他の
任意画素からの輝尽発光光量ｔ＄算し、当該画素からの
真の輝尽発光光量を求める。

散乱光に基づく他の任意画素からの輝尽発光光量は以下
の様にして求める。

まず、読取時に所定画素Ａ１」に実際に照射された励起
光の光量Ｑｉｊ？ｒ求める。この光量は予め設定された
読取条件（励起光強度、励起光ビーム径、走査速度等）
から求めることができる。そして、この励起光の光量Ｑ
ｉＪに上記比率γｋｔ　’Ｚ”掛算してそのときの他の
任意画素Ａｋｚに照射される散乱光の光量Ｑｋｚ　（Ｑ
ｋｔ”’　ｒｋｔ　ＸＱｉｊ　）　”ｊｆ：　求メル。

次に、上記任意画素Ａｋｚの実際の読取時に該任意画素
に照射された励起光の光量Ｑｋｔ　ｈ求め（この光量Ｑ
ｋｚは上記所定画素に照射された読取時の励起光の光量
Ｑｉ」と同様にして求めることができ、通常はＱＩＪ−
Ｑｋｔ′″Ｃある）、この光量Ｑｋｚと上記散乱光の光
量ｑｋｚとの比、ｎｋｔ＝　ｑｋｚ　／　Ｑｋｚ　”ｊ
ｆ：算出し、この比率γＩＩｋｌ匂上記任意画素Ａｋｚ
における実際の読み取り輝尽発光光量Ｓｋｌに乗じるこ
とにより、所定画素ＡＩＪの読取時における任意画素Ａ
ｋｔからの散乱光に基づく輝尽発光光量５ｋｔ−γｎｋ
ｔ×Ｓｋｚ？求める。

この場合、前述の如く、通常読取時に所定画素ＡＩＪに
照射される励起光の光量Ｑｌｊと任意画素Ａｋｔに照射
される励起光の光量Ｑｋｚとは同一であるので、上記比
率γｋｌに直接任意画素Ａｋｚの読み取９輝尽発光光量
Ｓｋｔ　’＜乗じれば上記５ｋｔｔ求めることができる
。これ７式で表わすと次の通りである。

５ｋｔ−ｒｌｌｋｔＸＳｋｔ Ｑｋｔ Ｑｋｔ ＝γに、　ｘ　Ｓｋｚ　Ｃ，°Ｑｉ　ｊ　＝　Ｑｋｚ　
）なお、所定画素Ａｌ」の読取時において散乱光は任意
画素ＡｋｚにもＡｍｎにも入射する場合があり、任意画
素Ａｍｎについても上記と全く同様にして散乱光により
発せられた輝尽発光光量ｓｍｎｋ求めれば良へ しかしながら、本実施態様においては、主走査方向と副
走査方向との関係から、所定画素Ａ！Ｊの読取時には、
一方の任意画素Ａｋｔは既に読取済であり、他方の任意
画素Ａｍｎは未だ読み取りが行なわれていない。従って
、任意画素Ａｍｎについての輝尽発光光量”ｍｎは上記
の通りの計算過程により求めることができるが、任意画
素Ａｋｚについての輝尽発光光量５ｋｔｋ求めるために
はさらに所定の係数η（読取効率から決まる定数）を乗
じて、即ち下式に基づいて求める必要がある。

５ｋｔ−η×γ”ｋｔＸＳｋｔ ＝η×γｋｔＸＳｋｔ なぜならば、所定光量の光が照射された場合、既に読取
済の画素から発せられる輝尽発光光の光量は未だ読み取
りが行なわれていない画素からのそれより一定の割合で
小さくなるからであり、従ってその読取済の画素からの
散乱光による輝尽発光光量？求めるに当っては、さらに
上記小さくなる割合に対応する上記所定の係数ηを乗じ
る必要がある。

この様にして所定範囲内の各任意画素からの散乱光に基
づく輝尽発光光量ヶ求めたら、それら？総計して上記所
定面素人ｉＪにおける読み取り輝尽発光光量ＳＩＪから
減算し、その減算結果盆その所定画素の真の輝尽発光光
量Ｓｉｊ”（！：して取扱う。

これ２式で表わすと、 Ｓｉ　ｊ”　＝　Ｓｉｊ　−（ηΣｒｋｅ　Ｓｋｔ＋Σ
γｍｎ５ｒｒｌ＋１）ｋ＜ｉなら　　　　ｍ、＞ｉなら ｔは全て　　　　　ｔは全て に＝ｉなら　　　　ｍ＝ｉなら ｔ（ｊ　　　　”　　　ｔ）ｊ となる。なお、この式は上記シート１上の全ての任意画
素からの散乱光に基づく輝尽発光光量を考慮したもので
あるが、必ずしもシート上の全ての任意画素？考慮する
必要のないことは上述の通りである。

上記の所定範囲内の任意画素からの散乱光に基づく輝尽
発光光量の減算過程？全ての所定画素について適用する
ことにより、各画素における真の輝尽発光光量を求める
ことができ、上記フレア現象による不都合？排除するこ
とができる。

なお、上記方法は画素に入射する光量（励起光又は散乱
光の光量）と画素から発せられる輝尽発光光量とは比例
関係にあることｔ前提としており、もし両者の関係が著
るしく比例関係からはずれる場合は、前述の実施例にお
いて両者の関係ｒ規定する別途の変数２上記比率、ＩＩ
ｋｔと共にＳｋｔに乗じる様にしても良い。また、上記
方法は散乱光に基づく輝尽発光光量５ｋｔｒ１Ｓｋｔ＝
γｎｋ７×Ｓｋｔトイウ演算ニより求めている。しかし
ながら、５ｋｔ１１’１任意画素Ａｋｌにおける実際の
読み取９輝尽発光光量であって真の輝尽発光光量Ｓｋｌ
”の他に他の画素からの散乱光に基づく輝尽発光光量も
含むものであり、従って上記Ｓｋｔは一次近似というこ
とをなる。本来ならばＳｋｚの代わりにＳｋｔ”　ｋ使
用すべきであるが、そうすると計算？何回も繰り返す必
要があり、面倒であると共にそこまで厳密に計算しなく
ても実用上は十分であることから上記の方法により求め
ることとしたものである。

（発明の効果） 本発明に係る方法は、上記の如く、所定画素の読み取り
盆行なう際に他の任意画素へ入射した散乱光によりその
任意画素から発せられた輝尽発光光量？近似的に算出し
、その光量孕上記所定画素の実際の読み取り輝尽発光光
量から減算して該所定画素の真の輝尽発光光量を求める
ものである。

従って、本方法によればフレア現象の存在に拘らず正確
な読み取り７行なうことができ、従ってフレア現象によ
る前述の不都合勿回避することができる。

また、本方法は、フレア現象の存在ｒ前提とするもので
あり、従って本方法を採用すればフレア現象について考
慮することなく読取装置の各構成部分音最適に設計する
ことができるという効果も奏する。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明に係る方法の一実施態様勿説明するため
の蓄積性螢光体シートと　画素とｔ示す概略図、 第２図は従来の読取方法を実施する読取装置の一例を示
す斜視図、 第３図は第２図の矢印Ｂ方向から見た図である。 ｌＯ・・・・・・蓄積性螢光体シート Ａｉｊ・・・所定画素 ＡｋＬ　、Ａｍｎ・・・・・・任意画素第１図 第２図　　　第３図

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 放射線画像情報が蓄積記録されている蓄積 性螢光体シートを励起光で走査し、該走査により上記シ
   ートから発せられる輝尽発光光を光電読取手段により読
   み取る放射線画像情報読取方法において、 上記シート上の所定画素を照射する上記励 起光の光量と、その照射の際他の任意画素を照射する上
   記励起光の散乱光の光量との比率を予め求めておき、 実際に上記所定画素を読み取る際の該所定 画素に照射される励起光の光量と上記比率とからその読
   み取りの際に上記任意画素を照射する散乱光の光量を求
   め、 その散乱光の光量と上記任意画素を実際に 読み取る際の該任意画素に照射される励起光の光量との
   比率と、その任意画素の実際の読み取り輝尽発光光量と
   に基づいて該任意画素からの散乱光に基づく輝尽発光光
   量を求め、上記所定画素の読み取り輝尽発光光量から 該所定画素に関連する所定範囲内に存在する任意画素か
   らの上記散乱光に基づく輝尽発光光量を減算し、 その減算の結果を上記所定画素の真の輝尽 発光光量として取扱うことを特徴とする放射線画像情報
   読取方法。