JPS618628A - 穀粒の秤量袋詰装置 - Google Patents

穀粒の秤量袋詰装置

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JPS618628A
JPS618628A JP12949784A JP12949784A JPS618628A JP S618628 A JPS618628 A JP S618628A JP 12949784 A JP12949784 A JP 12949784A JP 12949784 A JP12949784 A JP 12949784A JP S618628 A JPS618628 A JP S618628A
Authority
JP
Japan
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measuring
grains
valve
tank
grain
Prior art date
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Pending
Application number
JP12949784A
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English (en)
Inventor
Toshihiko Satake
佐竹 利彦
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Satake Engineering Co Ltd
Original Assignee
Satake Engineering Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Satake Engineering Co Ltd filed Critical Satake Engineering Co Ltd
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Publication of JPS618628A publication Critical patent/JPS618628A/ja
Pending legal-status Critical Current

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  • Weight Measurement For Supplying Or Discharging Of Specified Amounts Of Material (AREA)
  • Basic Packing Technique (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は穀粒の秤量袋詰装置の改良に関する。
供給タンクに設けた開閉弁から排出する穀粒を下部に設
けた計量タンクに供給し、該計量タンクに設けた重量測
定部の測定信号によって前記開閉弁を作動して開閉し、
計量タンクで秤量した任意の所定重量の穀粒を袋詰する
秤量袋詰装置では、計量タンクに設けた重量測定部の測
定信号によって上部の供給タンクに設けた開閉弁を作動
して開閉する構成が多用されており、また、上部の供給
タンクに設けた排出弁と下部の計量タンクとの間の穀粒
流下距離の大小に応じて前記重量測定部に設けた設定器
に、実験値による弁制御用重量設定値(例えば、3oh
gの穀粒を袋詰するときは、29.Gkgに相当する設
定値)を設定して秤量精度を確保するように形成しであ
るが、精米装置で搗精した一般精白米と、加湿精米装置
で米粒に加湿して除糠精白した超光沢精白米とでは、米
粒表面の滑面度、米粒の含有水分量等の相違により容積
重が5〜10%程度変化すると共に、排出時の穀粒の流
下速度もそれぞれ変化し、ために前記秤量装置の穀粒流
下行程を流れる穀量が増減変化し、しばしば計量誤差を
誘起する等の欠点を有し、また、白米加工のロットの変
わる都度計量装置の再調整を要す煩しさがあった。
本発明は上記の諸点に鑑み、秤量装置の計量タンク内に
形成される山形穀粒層の層高を測定する層高測定装置を
設け、該層高測定装置を制御回路を介して前記供給タン
クの開閉弁の開閉作動装置に連絡することにより、前記
層高測定装置の測定信号によって前記開閉弁を閉成する
前記重量測定部からの作動信号を補正して発するように
し、以て、前述した穀粒流下距離間の穀量変化と、安息
角を形成する前記山形穀粒層から測定した層高に基づく
排出弁の開閉作動信号の補正による排出量とを一致させ
て前述した従来装置の欠点を排除すると共に、高精度に
計量した精白米の袋詰体を確実に量産する高性能な穀粒
秤量袋詰装置を開発して提供せんとするものである。
本発明を実施例図について説明す。図面は上部に穀粒秤
量装置1を設け、その下部に穀粒袋詰装置2を設けて一
体的に形成した穀粒の秤量袋詰装置である。
穀粒秤量装置1は、箱形機枠3の土壁部に設けた供給口
部4の下部位置に、漏斗状の供給タンク5を設けて上部
横杆6に吊架して固定し、供給タンク5の排出口部には
、ソレノイド等の開閉作動装置7,8をそれぞれ備えた
流量の異なる大投入弁9と小投入弁10から成る開閉弁
11を設け、供給タンク5の下部位置に、漏斗形の計量
タンク12を設けると共に、該タンク12に設けたブラ
ケット13と下部横杆14との間にロードセル15を介
装してタンク内穀粒を測定する重量測定部16となし、
17は計量タンク12の排出口部に設けた自動排出弁で
ある。
穀粒袋詰装置2は、前記計量タンク1゛2の排出口部の
下部位置に、穀粒を袋詰する包装の開口部を吸引して開
口する開口吸引装置18と、包装の開口部をシールする
シール装置19を設け、その下方に前記包装を上載する
袋用基台20を設けると共に、その側方に前記包装の重
体送出装置21を設けて繰出ロール22によって包装を
連続的に供給するようにし、23は基台20上の袋詰体
を取出す袋体取出口である。
次に、層高測定装置24は、(第2図参照)前記計量タ
ンク12の下側部の側壁に、複数個の穀粒検出用センサ
ー25・・・を上下方向に重設してタンク12内に形成
される山形穀粒層Aの低位側層高を測定するようにし、
また層高測定装置24は制御回路26を介して前記供給
タンク5の開閉弁11の小投入弁10に設けた開閉作動
装置8に連絡し、また、(第3図参照)前記制御回路2
6は、重量測定部16の測定信号を比較器27.28に
それぞれ入力し、比較器27では、その設定器29に設
定した大投入側の基準設定値(例えば、30k17の穀
粒を袋詰するときは29.0k17とし、補正係数を乗
じて使用する)と比較してその一致信号によって開閉作
動装置7のソレノイドを作動して大投入弁9を閉成し、
比較器28では、層高測定装置24の測定信号を可変設
定器30に入力して対応する任意の設定値を選定すると
共に、該可変設定器30からの選定した設定信号と重量
測定部16の測定信号との一致信号によって開閉作動装
置8のソレノイドを作動して小投入弁10を閉成するよ
うにし、また可変設定器30には、小投入弁10の開成
を補正するための複数の重量設定値(例えば、30kg
の穀粒を袋詰するときは、安全係数を含めて30゜01
klJを基準となし、更に1g単位の数段階の偏差値に
相当する電圧等)をそれぞれ設定する。したがって、層
高測定装置24が測定した信号により可変抵抗器など選
択手段を介して可変設定器30に設定した各重量設定値
をそれぞれ選定すると共に、その選定した設定信号によ
り計量タンク12に設けた重量測定部16からの測定信
号を補正し、その補正した作動信号によって小投入弁1
0を閉成するように形成しである。
上述の構成であるから、精白米を袋詰する場合は、精米
加工機から排出する精白米を供給口部4に流入するよう
に適宜な手段によって連結すると共に、各弁を適宜に開
閉して該装置を起動すると、供給口部4から流下する穀
粒(精白米)は供給タンク5に流下して集積する。供給
タンク5内に集積した穀粒は、制御信号によって開閉作
動装置7が作動して大投入弁9を開成するから、下部の
計量タンク12に流下し集積して山形穀粒層Aを形成し
、その穀粒の重量が29kl)に達すると、比較器27
からの比較信号が開閉作動装置7を作動して大投入弁9
を閉成すると共に、層高測定装置24が作動して計量タ
ンク12内の山形穀粒層Aの低位側層高を複数個の穀粒
検出用センサー25・・・によって測定し、その測定信
号は制御回路26の可変設定器30に設定した各重量設
定値を適宜に選定すると共に、その選定した設定信号に
より計量タンク12に設けた重量測定部16からの測定
信号を補正し、その補正した作動信号によって小投入弁
10を閉成するので、計量誤差の要因である前述した穀
粒流下距離内の穀量の変化と前記山形穀粒層を測定した
層高に基づく排出弁の開閉作動信号の補正による排出量
が一致するから、計量誤差のない正確な所定重量の穀粒
が計量タンク12に貯留される。計量タンク12内の所
定重量に計量された穀粒は、自動排出弁17の開成によ
って下部の基台に上載した包装内に流下して供給される
と共に、包装の開口部はシールされて所定重量の袋詰体
に形成されて機外に成田され次行程に委ねられることに
なる。
前記山形穀粒層Aにおいて測定する層高は、図示したよ
うに計量タンク2の低位側層高を測定する場合に限定さ
れることなく、山形に形成される穀粒層の安息角の大小
変化によって穀粒の流下速度(流量)に関係のある粒子
面の滑面度、穀粒の粒子径、穀粒の含有水分量等の変化
量を検出するためであるから、山形穀粒層の頂部層高ま
たは任意の所定位置の層高を測定する場合もある。
また、前記供給タンク5に設けた開閉弁11は、例示し
た大投入弁9および小投入弁10と、穀粒を微量に振動
排出する振動排出樋から成る排出弁とを設けて3段階に
分けて排出する場合があり、また、前記開閉弁11の各
投入弁9゜10の開閉動作を層高測定装置24の測定信
号によってそれぞれ補正する場合もある。
このように本発明の穀粒の秤量袋詰装置は、前記計量タ
ンク内に任意の所定重鎖穀粒によって形成される山形穀
粒層の層高を測定する層高測定装置を設け、その測定信
号によって前記開閉弁を閉成する前記計量タンクに設け
た重量測定部からの作動信号を補正するので、前述した
計量誤差の要因である穀粒流下距離内の穀量の変化と、
その安息角を形成した山形穀粒層から測定した層高に基
づく排出弁の開閉作動信号の補正による排出量が一致す
るから、前述した従来装置の欠点を排除できると共に、
簡潔な構造により安息角の変化する各種穀粒の排出量調
節の自動化を達成でき、高精度に計量した穀粒の袋詰体
を確実に量産できる等の効果を奏するものである。
【図面の簡単な説明】
図面は本発明の実施例図である。第1図は本装置の側断
面図、第2図はそ“の計量タンクの拡大断面図、第3図
はその制御回路の要部回路図である。 1・・・穀粒秤量装置   2・・・穀粒秤量装置3・
・・箱形機枠     4・・・供給口部5・・・供給
タンク    6・・・上部横杆7・・・開閉作動装置
   8・・・開閉作動装置9・・・大投入弁    
10・・・小投入弁11・・・開閉弁     12・
・・重量タンク13・・・ブラケット   14・・・
下部横杆15・・・ロードセル   16・・・重量測
定部17・・・自動排出弁   18・・・開口吸引装
置19・・・シール装置   20・・・袋用基台21
・・・重体送出装置  22・・・繰出ロール23・・
・袋体取出口   24・・・層高測定装置25・・・
穀粒検出用センサー 26・・・制御回路27・・・比
較器     28・・・比較器29・・・設定器  
   30 用可変設定器A・・・山形穀粒層

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)、供給タンクの開閉弁から排出する穀粒を下部に
    設けた計量タンクに供給し、計量タンクに設けた重量測
    定部の測定信号によって前記開閉弁を作動して開閉し、
    計量タンクで秤量した任意の所定重量の穀粒を袋詰する
    秤量袋詰装置において、前記計量タンク内に任意の所定
    重量の穀粒によって形成される山形穀粒層の層高を測定
    する層高測定装置を設け、該層高測定装置を制御回路を
    介して前記供給タンクの開閉弁の開閉作動装置に連絡し
    、前記層高検出装置の検出信号によって前記開閉弁を閉
    成する前記重量測定部からの作動信号を補正して発する
    ようにした穀粒の秤量袋詰装置。
  2. (2)、前記開閉弁が、投入量を異にする複数個の投入
    弁によって構成されている特許請求の範囲第(1)項記
    載の穀粒の秤量袋詰装置。
JP12949784A 1984-06-22 1984-06-22 穀粒の秤量袋詰装置 Pending JPS618628A (ja)

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JP12949784A JPS618628A (ja) 1984-06-22 1984-06-22 穀粒の秤量袋詰装置

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JP12949784A JPS618628A (ja) 1984-06-22 1984-06-22 穀粒の秤量袋詰装置

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JPS618628A true JPS618628A (ja) 1986-01-16

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JP12949784A Pending JPS618628A (ja) 1984-06-22 1984-06-22 穀粒の秤量袋詰装置

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JP (1) JPS618628A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5754015A (en) * 1995-02-23 1998-05-19 Pioneer Electronic Corporation Horizontal deflection circuit for multiscan type display devices
US10066445B2 (en) 2015-12-16 2018-09-04 Artifex Engineering, Inc. Tubular connection assembly for improved fatigue performance of metallic risers

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5754015A (en) * 1995-02-23 1998-05-19 Pioneer Electronic Corporation Horizontal deflection circuit for multiscan type display devices
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