JPS6181026A - テスト信号発生システム - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 （産業上の利用分野） 本発明は、信号相互間で位相および周波数の同期関係を
有する？！２数のテスト信号を出力するテスト信号発生
システムに関するものである。

（従来の技術） 例えば、アナログＬＳＩのテストにあたっては、信号相
互間で位相Ｊ３よび周波数の同期関係を有する複数のテ
スト信号が必要である。

そこで、従来から、アナログＬＳＩのテストにあたって
は、例えば第２図に示すように各テスト信号系統毎に独
立した基準周波数信号ＳＳ＋〜Ｓｓｎを発生する少数の
基準信号発生器１．〜１ｎとその出力信号Ｓ　Ｓ　Ｉ〜
Ｓｓｎを所定の形態のテスト信号Ｓ［＋〜３ｔｎに変換
する複数の信号変換器２Ｉ〜２ｎ＠設けてこれら各部を
制御装置３でａｉ制御するようにしたり、第３図に示す
ように共通の基準周波数信号ＳＳを発生ずる基準信号発
生器４とその出力信号３ｓを所定の形態のテスト信号Ｓ
ｔ１〜Ｓｔｎに変換する複数の信号変換器５１〜５０を
設けてこれら各部をＩＩＩ罪装同装置６御するようにし
たものが用いられている。

（発明が解決しようとする問題点） しかし、第２図の構成によれば、各テスト信号系統が独
立していることからテスト信号相互間の周波数同期や位
相同期をどることは困難であり、高精度の測定を行えな
いことが多い。これに対し、第３図の構成によれば、テ
スト信号相互間の周波数同期は確実にとることができる
ものの信号変換器５１〜５０の遅延時間がそれぞれ異な
ることから位相同期をとることはできない。

本発明は、このような点に着目してなされたものであっ
て、その目的は、比較的簡単に複数のテスト信号相互間
で周波数および位相の同期関係を任意に設定することが
できるテスト信号発り；システムを提供することにある
。

（問題点を解決するための手段） このような目的を達成する本発明は、基準周波数信号を
発生する基準信号発生器と、この基準信号発生器から出
力される基準周波数信号を所望の周波数の信号に変換す
る複数の周波数変換器と、これら周波数変換器の出力信
号に所定の遅延時間を与える複数の遅延回路と、これら
遅延回路の出力信号を所定の形態の信号に変換して出力
する複数の信号変換器と、これら信号変換器から出力さ
れる信号相互間の位相および周波数の関係が任意に設定
できるように各部を制御するＬｌ制御回路とで構成され
たことを特徴とする。

（実施例） 以下、図面を用いて詳細に説明する。

第１図は、本発明の一天施例を示すブロック図である。

第１図において、７は基準周波数信号ＳＳを発生する基
準信号発生器であり、この基準信号発生器７から出力さ
れる基準周波数信号Ｓｓは所望の周波数の信号３ｆ、−
３ｆｎに変換する複数の周波数変換器８１〜８ｎに加え
られている。そして、これら周波数変換器８１〜８ｎの
出力信号Ｓｆ、〜Ｓｆｎは、所定の遅延時間ｔｄ、　〜
ｔｄｎを与える？１！数の遅延回路９．〜９ｎを介して
所定の形態のテスト信号Ｓｊ＋〜３ｔｎに変換して出力
する複数の信号変換器１０１〜１００に加えられている
。

１１はこれら信号変換器１０＋〜１０ｎから出力される
テスト信号Ｓｊ＋〜Ｓｔｎ相互間の位相および周波数の
同期関係が任意に設定できるように各部を制御する制御
回路である。

このように構成されるシステムの動作について説明する
。

基準信号発生器７は、制御回路１１から加えられる制御
信号に従って所定の周波数の基準周波数信号３ｓを発生
する。周波数変換器８１〜８ｎは、制御回路１１から加
えられる制御信号に従って基準信号発生器７から出力さ
れる基準周波数信号３ｓが所望の周波数の信号Ｓｆ＋〜
３ｒｎになるように分周あるいは逓倍する。遅延回路９
１〜９ｎは、制御回路１１から加えられる制御信号に従
ってこれら周波数変換器８１〜８ｎの出力信号Ｓｆ＋〜
Ｓ「ｎに対して所定の遅延時間ｔｄ、〜ｔｄｎを与える
。

ここで、制御回路１１は、例えば信ら変換器１０＋〜１
０ｎから出力されるテスト信号Ｓｊ＋〜ｓｔｎ相互間の
位相の同期がとれるように複数の遅延回路９１へ・９ｎ
の遅延時間Ｃｄ、　＝ｔｄｎを設定する。信号変ｊ〜器
１０１〜１０ｎは、制御回路１１から加えられる制御信
号に従って遅延回路９１〜９ｎの出力信号を所定の形態
のテスト信Ｑ　３　（１〜３ｔｌｌに変換して出力する
。

このように構成することにより、基準信号発生器と信８
変換器との間には周波数変換値が制御可能な周波数変換
器と遅延時間が制御可能な遅延回路が設けられているの
で、必要に応じてテスト信号相互の周波数および位相の
同期をとることができる。

なお、上記実施例では、テスト対象物がアナログＬＳＩ
の例を示したが、各種の対象物のテストシステムに応用
できるものである。

（発明の効果） 以上説明したように、本発明によれば、比較的簡単に複
数のテスト信号相互間の周波数および位相の同期関係を
任意に設定することができ、高精度の測定が行えるテス
ト信号発生システムが実現できる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の一実施例を示づ一ブロック図、第２図
Ｊ５よび第３図は従来の装置の一例を示すブロック図で
ある。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 基準周波数信号を発生する基準信号発生器と、この基準
   信号発生器から出力される基準周波数信号を所望の周波
   数の信号に変換する複数の周波数変換器と、これら周波
   数変換器の出力信号に所定の遅延時間を与える複数の遅
   延回路と、これら遅延回路の出力信号を所定の形態の信
   号に変換して出力する複数の信号変換器と、これら信号
   変換器から出力される信号相互間の位相および周波数の
   同期関係が任意に設定できるように各部を制御する制御
   回路とで構成されたことを特徴とするテスト信号発生シ
   ステム。