JPS6178000A - 光電式煙感知器の感度試験方法 - Google Patents
光電式煙感知器の感度試験方法Info
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- JPS6178000A JPS6178000A JP19990384A JP19990384A JPS6178000A JP S6178000 A JPS6178000 A JP S6178000A JP 19990384 A JP19990384 A JP 19990384A JP 19990384 A JP19990384 A JP 19990384A JP S6178000 A JPS6178000 A JP S6178000A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
［技術分野ｊ
本発明は発光素子と受光素子とを暗箱内に互いの光軸が
一致しないように配置し、ＩＩＡ ｆＱ内に流入する煙
粒子による故６シシた発光素子の尤を受光素子で受光し
て電気信号に変換し煙を感知゛ｒる光電式煙感知器の感
度試験方法に関するらのである。
一致しないように配置し、ＩＩＡ ｆＱ内に流入する煙
粒子による故６シシた発光素子の尤を受光素子で受光し
て電気信号に変換し煙を感知゛ｒる光電式煙感知器の感
度試験方法に関するらのである。
［背ご技術）
第５図は感度ナエ／りのための成能を持つ従来の范１ｕ
式煙感知器の概略構成をｌＪクシており、互いの丸軸が
一致しないように且つ衝立Ｇ’Ｃ隔離して＋＋３ｉ１１
１に配置した検出用発光索子２と検出用受光索子３以外
に、検出用発光索子２の光軸と一致させて対向配置した
感度チェック用の受光２７−４と、検出用受光素子３の
丸軸と一致させて対向配置したチェック用の発光索子５
とを設けており、通常の煙検出の場合は発光素子２の光
が暗箱１内に流入した煙の粒子−に散乱された光を受光
素子；（が受光して電気信号に変換し煙粒子による検出
（ご号を得るようになっている。そして感度のチェック
時には発光索子２に対向したチェック用の受光素子４の
受光レベルに対応したレベルの光をチェック用の発光索
子５から発光させて受光素子３で受光させそのレベルを
弁別することにより感度のチェックを行っていた。
しかしながらかがる従来例の方式ではチェック用の、受
光素子４．発光索子５を必要とするとともにその取付構
造を必要としコストが高くなるという問題があるうえに
、これら−の２ ：ｆ ＝ｔ、 Ｓの劣化、故障まで感
知器の不良と見され故ηの要因が増加するという問題ら
ある。さらに煙の散乱光を受光した受光素Ｆ３の受光電
流は数１０〜数１００ｎＡ程度の非常にＶ＆弱なもので
あるため、それに対応する光量を発光索子５から発光さ
せるには制御が難しく、Ｍ度の良い感度チェックが出来
なかった。
式煙感知器の概略構成をｌＪクシており、互いの丸軸が
一致しないように且つ衝立Ｇ’Ｃ隔離して＋＋３ｉ１１
１に配置した検出用発光索子２と検出用受光索子３以外
に、検出用発光索子２の光軸と一致させて対向配置した
感度チェック用の受光２７−４と、検出用受光素子３の
丸軸と一致させて対向配置したチェック用の発光索子５
とを設けており、通常の煙検出の場合は発光素子２の光
が暗箱１内に流入した煙の粒子−に散乱された光を受光
素子；（が受光して電気信号に変換し煙粒子による検出
（ご号を得るようになっている。そして感度のチェック
時には発光索子２に対向したチェック用の受光素子４の
受光レベルに対応したレベルの光をチェック用の発光索
子５から発光させて受光素子３で受光させそのレベルを
弁別することにより感度のチェックを行っていた。
しかしながらかがる従来例の方式ではチェック用の、受
光素子４．発光索子５を必要とするとともにその取付構
造を必要としコストが高くなるという問題があるうえに
、これら−の２ ：ｆ ＝ｔ、 Ｓの劣化、故障まで感
知器の不良と見され故ηの要因が増加するという問題ら
ある。さらに煙の散乱光を受光した受光素Ｆ３の受光電
流は数１０〜数１００ｎＡ程度の非常にＶ＆弱なもので
あるため、それに対応する光量を発光索子５から発光さ
せるには制御が難しく、Ｍ度の良い感度チェックが出来
なかった。
［発明の目的１
本発明は上述の問題点に鑑みて為されたものでその目的
とするところは使用素子数が少なくてコストが安い上に
不必要な不良要因がなく、しかも精度良い感度チェック
が行える光電式煙感知器の感度ｔｊ、験方法を提供する
にある。
とするところは使用素子数が少なくてコストが安い上に
不必要な不良要因がなく、しかも精度良い感度チェック
が行える光電式煙感知器の感度ｔｊ、験方法を提供する
にある。
［発明の開示ｌ
第１図は実施例の概略構成を示しており、暗箱１内には
互いの光軸が直交するようにＬＥＤからなる発光素子２
とＳＰＤ素子からなる受光素子３とを配設して暗箱１の
中央部に検知類ＱＢを形成し、夫々の素子２．３は発光
ユ、受光量を調整する絞り器７ ａ、 ７ ｂ内に収納
８７′Ｌる。そして各般り器７ ｍ、 ７ ｂには尤フ
ァイバー８の両端を挿入してあって、発光素子２からの
光を直接光７アイパー８の一端から導入させ、池端から
導き出して受光素子３に受光させているのである。尚光
ファイバー８の途中にはフィルタ９を設は発光素子２の
光出力が大き過ぎる場合に一定量以下に抑えるようにな
っている。第２図は実施例の回路構成を示しており、受
信？ｆｉＡから回＃ｉＬを介して供給される電源を１！
源晶１０は一定化し各回路部に電源を供給する１発光素
子駆動回路１１は間欠的に発光索子２を駆動している。
互いの光軸が直交するようにＬＥＤからなる発光素子２
とＳＰＤ素子からなる受光素子３とを配設して暗箱１の
中央部に検知類ＱＢを形成し、夫々の素子２．３は発光
ユ、受光量を調整する絞り器７ ａ、 ７ ｂ内に収納
８７′Ｌる。そして各般り器７ ｍ、 ７ ｂには尤フ
ァイバー８の両端を挿入してあって、発光素子２からの
光を直接光７アイパー８の一端から導入させ、池端から
導き出して受光素子３に受光させているのである。尚光
ファイバー８の途中にはフィルタ９を設は発光素子２の
光出力が大き過ぎる場合に一定量以下に抑えるようにな
っている。第２図は実施例の回路構成を示しており、受
信？ｆｉＡから回＃ｉＬを介して供給される電源を１！
源晶１０は一定化し各回路部に電源を供給する１発光素
子駆動回路１１は間欠的に発光索子２を駆動している。
受光アンプ部１６は受光素子３の電気信号を増幅するも
のであり、増幅された信号はレベル判定回路１２でレベ
ル弁別され、レベル判定回路１２は一定以上の受光レベ
ルの変化が有れば出力回路１３を駆動し回＃ｌＬを介し
て検出信号を送るようになっている。
のであり、増幅された信号はレベル判定回路１２でレベ
ル弁別され、レベル判定回路１２は一定以上の受光レベ
ルの変化が有れば出力回路１３を駆動し回＃ｌＬを介し
て検出信号を送るようになっている。
チェック電圧発生部１４は感度チェック時にレベル判定
回路１２の入力レベルに所定の電圧を加えるための回路
であり、ツヤツク端子１５に発生ｔｔ圧を設定するため
の試験器１７をプラグ１８で接続するようになっている
。試験器１７はスイッチＳＷ、・・・と抵抗Ｒ５・・・
との直列回路を複数並列接続したものであり、適宜なス
イッチを投入することにより適宜な抵抗値の抵抗がレベ
ル判定回路１２の電圧設定端に後続され、それに対応し
た電圧をチェック電圧発生部１４から発生させることが
できるのである。
回路１２の入力レベルに所定の電圧を加えるための回路
であり、ツヤツク端子１５に発生ｔｔ圧を設定するため
の試験器１７をプラグ１８で接続するようになっている
。試験器１７はスイッチＳＷ、・・・と抵抗Ｒ５・・・
との直列回路を複数並列接続したものであり、適宜なス
イッチを投入することにより適宜な抵抗値の抵抗がレベ
ル判定回路１２の電圧設定端に後続され、それに対応し
た電圧をチェック電圧発生部１４から発生させることが
できるのである。
次に本発明の原理と動作を第４図に基づいて説明する。
まず本実施例の受光素子３は暗箱１の煙が流入しない状
態では発光素子２から出た光が暗箱１の壁面で乱反射し
た光の一部（！１′１１図の破線で示す光）と光ファイ
バー８を介して送らｈで（る光とを受光する。ここで初
期時の受光アンプ１２部の出力レベルが第４図に示すよ
う２００ｍＶであって、そして動作判定レベルを５００
ｍＶとしその動作判定レベルに達する煙濃度を１０％と
すると、初期特性はイのＵ線で示される。この直線を式
で表すと、 Ｙ、＝３０Ｘ（％／ ｍ）＋ ２ ０ ０ （ｍＶ ）
−−−■となる。
態では発光素子２から出た光が暗箱１の壁面で乱反射し
た光の一部（！１′１１図の破線で示す光）と光ファイ
バー８を介して送らｈで（る光とを受光する。ここで初
期時の受光アンプ１２部の出力レベルが第４図に示すよ
う２００ｍＶであって、そして動作判定レベルを５００
ｍＶとしその動作判定レベルに達する煙濃度を１０％と
すると、初期特性はイのＵ線で示される。この直線を式
で表すと、 Ｙ、＝３０Ｘ（％／ ｍ）＋ ２ ０ ０ （ｍＶ ）
−−−■となる。
ここで２００ａ＋Ｖは発光及び受光能力すなわち直線の
阿ｊさに比例１−ることは本発明名の実験でわかった。
阿ｊさに比例１−ることは本発明名の実験でわかった。
従って式■は
Ｙ、＝３０［Ｘ＋（２００／３０）ｌ・・・・・・・・
・・・■と書き直すことができる。
・・・■と書き直すことができる。
さて本実施例の煙感知器の感度許容中を５〜１５（９１
ｉ／ｍ）とすれば受光、発光能力が変化せず暗箱１内に
積もってくるほこり等により内部乱反射光が増加する、
つまりＹ切片のみ変化し傾きが変わらない場合（劣化モ
ード１）に感度が５％／−に達する限界は Ｙ、＝３（ＩＸ＋ｄ、・・・・・・・・・■ （ｄ＋
＝３５０■■）となって、口の直線となる。
ｉ／ｍ）とすれば受光、発光能力が変化せず暗箱１内に
積もってくるほこり等により内部乱反射光が増加する、
つまりＹ切片のみ変化し傾きが変わらない場合（劣化モ
ード１）に感度が５％／−に達する限界は Ｙ、＝３（ＩＸ＋ｄ、・・・・・・・・・■ （ｄ＋
＝３５０■■）となって、口の直線となる。
従って不作動チェックの限界はＹ切片の初期との差１５
０驕■で１１見られるので不作動チェックのチェック電
圧は＋１５０瞳Ｖとなる。
０驕■で１１見られるので不作動チェックのチェック電
圧は＋１５０瞳Ｖとなる。
また受光、２尤能力が低下して内部乱反射率が変化しな
い場合（劣化モード２）を想定すると感度が１５％／―
に達する限界は式ＣＤより５１１０＝＝ａ［１５＋（２
ｔｌＯ／３１））Ｉ・＝−−■となる。しｔってこのと
きの傾、！ａはａ＝２：（となりこの特性方程式は Ｙ ｒ＝ ２ ３ Ｘ ＋ ｄｒ−−−−（９（
ｄｌ＝ １５３．）１ｍＶ ）となって第４図のへの
直線となり、（１１）式と０式とを比べるとＹ切片の差
は約４６−■である。これに初期特性の１０％／鵠点に
おける増加分３００ 喝■を加えて＋３４６瞳Ｖが作動
チェックのチェック電圧とすることができる。
い場合（劣化モード２）を想定すると感度が１５％／―
に達する限界は式ＣＤより５１１０＝＝ａ［１５＋（２
ｔｌＯ／３１））Ｉ・＝−−■となる。しｔってこのと
きの傾、！ａはａ＝２：（となりこの特性方程式は Ｙ ｒ＝ ２ ３ Ｘ ＋ ｄｒ−−−−（９（
ｄｌ＝ １５３．）１ｍＶ ）となって第４図のへの
直線となり、（１１）式と０式とを比べるとＹ切片の差
は約４６−■である。これに初期特性の１０％／鵠点に
おける増加分３００ 喝■を加えて＋３４６瞳Ｖが作動
チェックのチェック電圧とすることができる。
しかして試験！Ｓ１７のスイッチＳＷ１を不作動試験用
とし、スイッチＳＷ２を動作試験用とするとともに、抵
抗Ｒ１、Ｒ２を配線抵抗、接触抵抗等に影響されない範
囲で一定の差をつけておけば各スイッチｓｗ、、ｓｗ２
のオン信号はチェック電圧発生部１４で区別できる。
とし、スイッチＳＷ２を動作試験用とするとともに、抵
抗Ｒ１、Ｒ２を配線抵抗、接触抵抗等に影響されない範
囲で一定の差をつけておけば各スイッチｓｗ、、ｓｗ２
のオン信号はチェック電圧発生部１４で区別できる。
さて初期時において感度チェックの為に、まずスイッチ
ＳＷ１を１分間オンさせると、レベル判定回路１２の入
力端の電圧は初期特性のＹ切片の電圧（２００噛■）と
チェック電圧発生部１４から発生する不作動チェックの
電圧（１５０噛■）とが加Ｗ、された電圧（３５０噛■
）となる、この電圧はレベル１１定［１路１２の動作ｔ
ｑ 定レベルＬ５１） ＯｍＶ ）を１・回るのＣ、レ
ベルｔｌＩ疋回路１２からはｆｊ号が出力せず出力回路
ｌ、（は勤１１シない。−）まりド１１：勤チェックは
良好であることを示す。
ＳＷ１を１分間オンさせると、レベル判定回路１２の入
力端の電圧は初期特性のＹ切片の電圧（２００噛■）と
チェック電圧発生部１４から発生する不作動チェックの
電圧（１５０噛■）とが加Ｗ、された電圧（３５０噛■
）となる、この電圧はレベル１１定［１路１２の動作ｔ
ｑ 定レベルＬ５１） ＯｍＶ ）を１・回るのＣ、レ
ベルｔｌＩ疋回路１２からはｆｊ号が出力せず出力回路
ｌ、（は勤１１シない。−）まりド１１：勤チェックは
良好であることを示す。
次にスイッチＳＷ、をオフしてスイッチＳ Ｗ ｒを３
（）秒オンさせるとレベル判定回路１２の入力端の４圧
は初期特性のＹ切片の電圧（２００噛■）とチェック電
圧発生部１４から発生する作動チェックの電圧（３１６
端■）とが加ユされｔこ電Ｔｉ（５４６鵠■）となる。
（）秒オンさせるとレベル判定回路１２の入力端の４圧
は初期特性のＹ切片の電圧（２００噛■）とチェック電
圧発生部１４から発生する作動チェックの電圧（３１６
端■）とが加ユされｔこ電Ｔｉ（５４６鵠■）となる。
この電圧はレベル判定回路１２の動作判定レベル（５１
１１１ｍ＼／）を上回るので、レベルＮ ’ｊ： ｌ！
！ｌ ｉ１３ ｌ ２かト、はイ、：号が出力して出力
回路１；（は動作する。つまＩ）（１動ナエ、りは良げ
ｒあつｒこことをボｒ。
１１１ｍ＼／）を上回るので、レベルＮ ’ｊ： ｌ！
！ｌ ｉ１３ ｌ ２かト、はイ、：号が出力して出力
回路１；（は動作する。つまＩ）（１動ナエ、りは良げ
ｒあつｒこことをボｒ。
このようにして試９器のスイッチＳＷ、、ＳＷ。
を選択投入するだけで各チェックが行えることになる。
また１；１ヤ動チエツクで動作したり、ｌ′１′：動チ
ェックで動（１ニジなかっなりするので、感度が許容中
から外れたことらチェックでさ、さらに受イご成Ａて・
動ＩＴチェックを行うので／ステムのチェックら同時に
（ｒ北る・ 尚劣化モード１と、劣化モード２の組み分わせも考えら
れろ、つまりｆｆ３箱ｌの内部の改乱丸にが一定で受光
、発光能力のみが低下しｔこ場合である。
ェックで動（１ニジなかっなりするので、感度が許容中
から外れたことらチェックでさ、さらに受イご成Ａて・
動ＩＴチェックを行うので／ステムのチェックら同時に
（ｒ北る・ 尚劣化モード１と、劣化モード２の組み分わせも考えら
れろ、つまりｆｆ３箱ｌの内部の改乱丸にが一定で受光
、発光能力のみが低下しｔこ場合である。
この場合初期特性の内部故δし尤によるＹ切片の値が５
０＋ｏＶで、光ファイバー８による値が］５０糟■であ
って合計が２００＋ｓＶとすると、上記劣化モードでは
特性の傾きとＹ切片の内１５０ｍＶのみが低下する。従
って感度が１５％／端に達する限界では０式より ５００＝ａ１［１５＋（１５０／３＋ｌ）ｌ＋５０１と
なり、ｕ＝２２ 、 ’、＋となる５すなｌフちＹ”
２２，５Ｘ＋１６２，５・・・■となり、このらのの作
動チェ、りを打つと、１６２．５ｍＶ＋３４６ｍＶ＝Ｓ
Ｏ８，Ｓ＠Ｖ’Ｊ：ＸＩ電圧がレベル判定回路１２の入
力端に人力し、レベル判定回路１２から出力が発生する
こととなる。
０＋ｏＶで、光ファイバー８による値が］５０糟■であ
って合計が２００＋ｓＶとすると、上記劣化モードでは
特性の傾きとＹ切片の内１５０ｍＶのみが低下する。従
って感度が１５％／端に達する限界では０式より ５００＝ａ１［１５＋（１５０／３＋ｌ）ｌ＋５０１と
なり、ｕ＝２２ 、 ’、＋となる５すなｌフちＹ”
２２，５Ｘ＋１６２，５・・・■となり、このらのの作
動チェ、りを打つと、１６２．５ｍＶ＋３４６ｍＶ＝Ｓ
Ｏ８，Ｓ＠Ｖ’Ｊ：ＸＩ電圧がレベル判定回路１２の入
力端に人力し、レベル判定回路１２から出力が発生する
こととなる。
つまりチェックは良好であることをボす、不良となる限
界はＹ切片が５ ｔｌ ＵｍＶ−：＜・口”＋ｗＶ＝＋
５４輪■になるときであるから尤７Ｔイ・イー８による
分は１５４＋＋Ｖ−５＋）＋＋Ｖ＝１１１１ｍＶとｆる
。
界はＹ切片が５ ｔｌ ＵｍＶ−：＜・口”＋ｗＶ＝＋
５４輪■になるときであるから尤７Ｔイ・イー８による
分は１５４＋＋Ｖ−５＋）＋＋Ｖ＝１１１１ｍＶとｆる
。
従っ′ζ１１１４ 、／ ｌ ５ ｔ＋二１１．６！１
３で、°屹ｔｌ Ｘ ｔ） 。
３で、°屹ｔｌ Ｘ ｔ） 。
６９：＋＝２０．１１となる。つまり
Ｙ＝２ｆｌ、ｄＸ＋１５４−−＝■
で、この０式のＹの値が５０ｆ１ｍＶになるとｓｘ（煙
濃度）の値はＸ”１６．６となり、許′８′範［１１１
（１５％ｚ′ｓ）を１．６％／ｍだけ越える−８こなる
。ここでこの程度なら良好とｒるか、作動チェックの電
圧を３３７，５糟Ｖと少し厳しくするかの選択のｒ地１
ｊ ノＬ ７Ｊ 、勿ｍＱ 内３１Ｓ ７＆ ｌ’ｌＬ
Ｘ； ノｉ＞ ？ ｌｔ ｉｔ ｌコ％付ければこの
誤差分は少なくなり精度は向１する。
濃度）の値はＸ”１６．６となり、許′８′範［１１１
（１５％ｚ′ｓ）を１．６％／ｍだけ越える−８こなる
。ここでこの程度なら良好とｒるか、作動チェックの電
圧を３３７，５糟Ｖと少し厳しくするかの選択のｒ地１
ｊ ノＬ ７Ｊ 、勿ｍＱ 内３１Ｓ ７＆ ｌ’ｌＬ
Ｘ； ノｉ＞ ？ ｌｔ ｉｔ ｌコ％付ければこの
誤差分は少なくなり精度は向１する。
ところで−ヒ記−ＬＥ！ｉｌｌ、例では丸７ＴイＩイー
８を用腎・たもの′Ｃ″あるが、劣化モード１のみを考
ｌｉ！するだけの場合は内部散乱丸のみでチェックして
もよ−１゜％ ｒコＩＱ ７ ｒイ・１−８を辿して得
られる光−は光ファイ・（−の径、フィルタ３」で、シ
ＩＩ竪してもよ１喜。
８を用腎・たもの′Ｃ″あるが、劣化モード１のみを考
ｌｉ！するだけの場合は内部散乱丸のみでチェックして
もよ−１゜％ ｒコＩＱ ７ ｒイ・１−８を辿して得
られる光−は光ファイ・（−の径、フィルタ３」で、シ
ＩＩ竪してもよ１喜。
（発明の効果１
本児明は初期に設定した感度における煙のＺ友人力ｆ！
！、い状！！！での受光出力＝Ｉｉ圧に、感知器の、Ｘ
１含される感度「１１に村応した１ヤ勤及び工作動限界
の２種題のチェック゛・１［を品別に加見て該加立電圧
と動作判定レベルと比較させ作動及びイ；作勅をチェッ
クするから、チェック用の受光素子、発光素子なしに作
動、不作動チェックを行うことができ、そのため煙感知
器の部品、σ敗は少なくなりコストが安価となるうえに
、不必要な不良原因が増えず信頼性も高いという効果が
ある。
！、い状！！！での受光出力＝Ｉｉ圧に、感知器の、Ｘ
１含される感度「１１に村応した１ヤ勤及び工作動限界
の２種題のチェック゛・１［を品別に加見て該加立電圧
と動作判定レベルと比較させ作動及びイ；作勅をチェッ
クするから、チェック用の受光素子、発光素子なしに作
動、不作動チェックを行うことができ、そのため煙感知
器の部品、σ敗は少なくなりコストが安価となるうえに
、不必要な不良原因が増えず信頼性も高いという効果が
ある。
さらに併せて発光素子の光を光ファイバーを介して受光
素子に受光させる光路を設けているから、受光、発光素
子の能力変化を１哨箱の改乱効率の変化に関係なく撓ら
えることができるから作動試験が確実に行える。
素子に受光させる光路を設けているから、受光、発光素
子の能力変化を１哨箱の改乱効率の変化に関係なく撓ら
えることができるから作動試験が確実に行える。
第１図は本発明による＊ｍ例の煙感知器の概略構成図、
！Ｒ２図は同上の回路図、第３図は同上の試験器の回路
図、第４図は同上の動作説明図、第５図は従来例の煙感
知器の概略構Ｉｌｔ図であり、１は暗箱、２は発光素子
、３は受光素子、１２はレベル判定回路、１４はチェッ
ク電圧発生部である。 代理人 弁理士 石 １）艮 七 第２閏 第３図
！Ｒ２図は同上の回路図、第３図は同上の試験器の回路
図、第４図は同上の動作説明図、第５図は従来例の煙感
知器の概略構Ｉｌｔ図であり、１は暗箱、２は発光素子
、３は受光素子、１２はレベル判定回路、１４はチェッ
ク電圧発生部である。 代理人 弁理士 石 １）艮 七 第２閏 第３図
Claims (2)
- （１）発光素子と受光素子とを暗箱内に互いの光軸が一
致しないように配置し、暗箱内に流入する煙粒子による
散乱した発光素子の光を受光素子で受光して電圧信号に
変換し該受光出力電圧と予め設定した動作判定レベルの
電圧とをレベル判定回路で比較して煙を感知する光電式
煙感知器において、初期に設定した感度における煙の流
入が無い状態での受光出力電圧に、感知器の許容される
感度巾に対応した作動及び不作動限界の２種類のチェッ
ク電圧を各別に加えて該加算電圧と動作判定レベルと比
較させ作動及び不作動をチェックすることを特徴とする
光電式煙感知器の感度試験方法。 - （２）発光素子と受光素子とを暗箱内に互いの光軸が一
致しないように配置し、暗箱内に流入する煙粒子による
散乱した発光素子の光を受光素子で受光して電圧信号に
変換し該受光出力電圧と予め設定した動作判定レベルの
電圧とをレベル判定回路で比較して煙を感知する光電式
煙感知器において、発光素子の光を光ファイバーを介し
て受光素子に受光させる光路を設け、初期に設定した感
度における煙の流入が無い状態での受光出力電圧に、感
知器の許容される感度巾に対応した作動及び不作動限界
の２種類のチェック電圧を各別に加えて該加算電圧と動
作判定レベルと比較させ作動及び不作動をチェックする
ことを特徴とする光電式煙感知器の感度試験方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19990384A JPS6178000A (ja) | 1984-09-25 | 1984-09-25 | 光電式煙感知器の感度試験方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19990384A JPS6178000A (ja) | 1984-09-25 | 1984-09-25 | 光電式煙感知器の感度試験方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6178000A true JPS6178000A (ja) | 1986-04-21 |
| JPH0330914B2 JPH0330914B2 (ja) | 1991-05-01 |
Family
ID=16415513
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP19990384A Granted JPS6178000A (ja) | 1984-09-25 | 1984-09-25 | 光電式煙感知器の感度試験方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6178000A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0277998A (ja) * | 1988-09-14 | 1990-03-19 | Matsushita Electric Works Ltd | 煙感知器の点検回路 |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS507583A (ja) * | 1973-05-17 | 1975-01-25 | ||
| JPS5715694A (en) * | 1980-06-27 | 1982-01-27 | Fuji Machine Mfg | Chuck device for chip-shaped electronic part |
| JPS5932094A (ja) * | 1982-08-14 | 1984-02-21 | 松下電工株式会社 | 光電式煙感知器の動作試験システム |
-
1984
- 1984-09-25 JP JP19990384A patent/JPS6178000A/ja active Granted
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS507583A (ja) * | 1973-05-17 | 1975-01-25 | ||
| JPS5715694A (en) * | 1980-06-27 | 1982-01-27 | Fuji Machine Mfg | Chuck device for chip-shaped electronic part |
| JPS5932094A (ja) * | 1982-08-14 | 1984-02-21 | 松下電工株式会社 | 光電式煙感知器の動作試験システム |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0277998A (ja) * | 1988-09-14 | 1990-03-19 | Matsushita Electric Works Ltd | 煙感知器の点検回路 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0330914B2 (ja) | 1991-05-01 |
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