JPS617401A - 材料試験機 - Google Patents
材料試験機Info
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- JPS617401A JPS617401A JP12894184A JP12894184A JPS617401A JP S617401 A JPS617401 A JP S617401A JP 12894184 A JP12894184 A JP 12894184A JP 12894184 A JP12894184 A JP 12894184A JP S617401 A JPS617401 A JP S617401A
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
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- G01B5/30—Measuring arrangements characterised by the use of mechanical techniques for measuring the deformation in a solid, e.g. mechanical strain gauge
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（イ）産業上の利用分野
この発明は、丸棒試験片に圧縮または引張荷重を加える
材料試験機に関するもめであり、特にその丸棒試験片の
円周または直径ひずみを測定するための円周または直径
ひずみ測定装置に関するものである。
材料試験機に関するもめであり、特にその丸棒試験片の
円周または直径ひずみを測定するための円周または直径
ひずみ測定装置に関するものである。
（ロ）従来技術
第３図に示すように、材料試験機によってパイプ状の丸
棒試験片（Ｔ、Ｐ）に圧縮荷重を加えると、試験片（Ｔ
、Ｐ）が変形し、その直径が増加する。
棒試験片（Ｔ、Ｐ）に圧縮荷重を加えると、試験片（Ｔ
、Ｐ）が変形し、その直径が増加する。
反対に、丸棒試験片（Ｔ’、Ｐ）に引張荷重を加えると
、試験片（Ｔ、Ｐ）の直径が減少するのはよく知られて
いるところである。したがって、普通、この種の試験片
（、Ｔ 、 Ｐ ）については、その円周または直径ひ
ずみを測定することが要求され、試験片（Ｔ、Ｐ）の円
周または直径ひずみによって試験片（Ｔ、Ｐ）の強度が
査定される。
、試験片（Ｔ、Ｐ）の直径が減少するのはよく知られて
いるところである。したがって、普通、この種の試験片
（、Ｔ 、 Ｐ ）については、その円周または直径ひ
ずみを測定することが要求され、試験片（Ｔ、Ｐ）の円
周または直径ひずみによって試験片（Ｔ、Ｐ）の強度が
査定される。
第４図および第５図は従来の円周または直径ひずみ測定
方式を示す。これは２つまたは３つの接触子（１，）を
試験片（Ｔ 、 Ｐ ）の外周に接触させ、各接触子（
１）を試験片（Ｔ、Ｐ）の変形に追随させるようにした
もので、各接触子（１）は直線変位検出器、たとえば差
動トランスに連結されている。したがって、接触子（１
）および直線変位検出器によって試験片（Ｔ、Ｐ）の円
周または直径ひずみを測定することができる。
方式を示す。これは２つまたは３つの接触子（１，）を
試験片（Ｔ 、 Ｐ ）の外周に接触させ、各接触子（
１）を試験片（Ｔ、Ｐ）の変形に追随させるようにした
もので、各接触子（１）は直線変位検出器、たとえば差
動トランスに連結されている。したがって、接触子（１
）および直線変位検出器によって試験片（Ｔ、Ｐ）の円
周または直径ひずみを測定することができる。
しかしながら、この方式は接触子・（１）と試験片（Ｔ
、Ｐ）間の接圧に問題がある。この接圧を小さくする七
、接触子（１）が試験片（Ｔ、Ｐ）から外れるおそれが
ある。反対に、接触子（１）と試験片（Ｔ−ＰＪ間の接
圧を大きくすると、試験片（Ｔ、Ｐ）が円滑に変形ゼす
、試験結果に影響する。また、この方式は接触子（１）
を試験片（Ｔ、Ｐ）のまわりの特定の角度位置に配置す
ることができるだけであ乞。試験片（Ｔ、Ｐ）の直径は
その全周にわたって均一・に増加または減少するとは限
らない。むしろ、角度位置によって試験片（Ｔ、Ｐ）の
直径が種々に異なるのが普通である。したがって、２つ
または３つの接触子（１）を試験片（］”、Ｐ）の外周
に接触させるだけては、試験片（Ｔ、Ｐ）の円周または
直径ひずみを正確に測定することばてきない。
、Ｐ）間の接圧に問題がある。この接圧を小さくする七
、接触子（１）が試験片（Ｔ、Ｐ）から外れるおそれが
ある。反対に、接触子（１）と試験片（Ｔ−ＰＪ間の接
圧を大きくすると、試験片（Ｔ、Ｐ）が円滑に変形ゼす
、試験結果に影響する。また、この方式は接触子（１）
を試験片（Ｔ、Ｐ）のまわりの特定の角度位置に配置す
ることができるだけであ乞。試験片（Ｔ、Ｐ）の直径は
その全周にわたって均一・に増加または減少するとは限
らない。むしろ、角度位置によって試験片（Ｔ、Ｐ）の
直径が種々に異なるのが普通である。したがって、２つ
または３つの接触子（１）を試験片（］”、Ｐ）の外周
に接触させるだけては、試験片（Ｔ、Ｐ）の円周または
直径ひずみを正確に測定することばてきない。
（２′Ｘ） 目 的
したがって、この発明は、前記従来の問題を解決し、丸
棒試験片の円周または直径ひずみを正確に測定すること
を目的としてなされたものである。
棒試験片の円周または直径ひずみを正確に測定すること
を目的としてなされたものである。
（ニ）構 成
この発明は、丸棒試験片の外周にワイヤなどの索条を巻
き付け、この索条の一端を直線変位検出器に連結する。
き付け、この索条の一端を直線変位検出器に連結する。
そして、索条および直線変位検出器によって丸棒試験片
の円周または直径ひずみを測定するようにしたことを特
徴とするものである。
の円周または直径ひずみを測定するようにしたことを特
徴とするものである。
（ホ）実施例
以下、この発明の詳細な説明する。第１図はこの発明の
一実施例を示す。丸棒試験片（Ｔ、Ｐ）はパイプ状のも
のて、上下一対の圧盤＜ ２ Ｈ＞。
一実施例を示す。丸棒試験片（Ｔ、Ｐ）はパイプ状のも
のて、上下一対の圧盤＜ ２ Ｈ＞。
（２Ｌ）間に配置されている。この試験機は圧盤（２Ｈ
）、（２Ｌ＞によって試験片（Ｔ、Ｐ）に圧縮荷重を加
えるようにしたもので、上方の圧盤（２Ｈ）はクロスヘ
ッド（３）のロードセル（４）に連結されている。下方
の圧盤（２Ｌ）はテーブル（５）の支柱（６）に設置さ
れている。
）、（２Ｌ＞によって試験片（Ｔ、Ｐ）に圧縮荷重を加
えるようにしたもので、上方の圧盤（２Ｈ）はクロスヘ
ッド（３）のロードセル（４）に連結されている。下方
の圧盤（２Ｌ）はテーブル（５）の支柱（６）に設置さ
れている。
この実施例では、ワイヤ（７）が試験片（Ｔ、Ｐ）の外
周に巻き付けられている。ワイヤ（７）は試験片（Ｔ、
Ｐ）の軸方向中央位置で外周に１．５巻きされ、その一
端はキャリジ（８）のフック（９）に固定されている。
周に巻き付けられている。ワイヤ（７）は試験片（Ｔ、
Ｐ）の軸方向中央位置で外周に１．５巻きされ、その一
端はキャリジ（８）のフック（９）に固定されている。
他端はキャリジ（８）の方向変換プーリ（１０）に導び
かれ、差動トランスのコア（１１）に連結されている。
かれ、差動トランスのコア（１１）に連結されている。
そして、差動トランスのコイル（１２）がキャリジ（８
）に取り付けられ、支持され、ワイヤ（７）に張力を与
えるテンションウェイト（１３）が差動トランスのコア
（１１）に連結されている。
）に取り付けられ、支持され、ワイヤ（７）に張力を与
えるテンションウェイト（１３）が差動トランスのコア
（１１）に連結されている。
キャリジ（８）はリニアウェイ（１４）およびスライド
ボールヘアリング（１５）によって昇降可能に案内され
ている。さらに、ワイヤ（１６）がキャリジ（８）の動
滑車（１７）に係合され、ワイヤ（１６）の一端はクロ
スヘッド（３）のフック（１８）に固定されている。
ボールヘアリング（１５）によって昇降可能に案内され
ている。さらに、ワイヤ（１６）がキャリジ（８）の動
滑車（１７）に係合され、ワイヤ（１６）の一端はクロ
スヘッド（３）のフック（１８）に固定されている。
他端はフレーム（１９）のフック（２０）に固定されて
いる。したがって、クロスヘッド（３）が上昇すると、
ワイヤ（１６）および動滑車（１７）によってキャリジ
（８）が引き上げられ、上昇する。反対に、クロスヘッ
ド（３）が下降すると、ワイヤ（１６）および動滑車（
１７）によってキャリジ（８）か引き下げられ、下降す
る。キャリジ（８）が昇降する距離はクロスヘッド（３
）が昇降する距離の１／２である。
いる。したがって、クロスヘッド（３）が上昇すると、
ワイヤ（１６）および動滑車（１７）によってキャリジ
（８）が引き上げられ、上昇する。反対に、クロスヘッ
ド（３）が下降すると、ワイヤ（１６）および動滑車（
１７）によってキャリジ（８）か引き下げられ、下降す
る。キャリジ（８）が昇降する距離はクロスヘッド（３
）が昇降する距離の１／２である。
前記のように構成された試験機において、クロスヘッド
（３）を下降させると、上方の圧盤（２Ｈ）が押し下げ
られ、各圧盤（２）１）、＜２Ｌ＞間で試験片（Ｔ、Ｐ
）に圧縮荷重が加えられる。したがって、試験片（Ｔ、
Ｐ）が変形し、その直径が増加する。
（３）を下降させると、上方の圧盤（２Ｈ）が押し下げ
られ、各圧盤（２）１）、＜２Ｌ＞間で試験片（Ｔ、Ｐ
）に圧縮荷重が加えられる。したがって、試験片（Ｔ、
Ｐ）が変形し、その直径が増加する。
試験片（Ｔ、Ｐ）の荷重の反力はクロスヘッド（３）の
ロードセル（４）およびテーブル（５）の支柱（６）に
伝達される。したがって、ロードセル（４）によって試
験片（Ｔ、Ｐ）の荷重を検出することができる。
ロードセル（４）およびテーブル（５）の支柱（６）に
伝達される。したがって、ロードセル（４）によって試
験片（Ｔ、Ｐ）の荷重を検出することができる。
また、試験片（Ｔ、Ｐ）の直径が増加すると、その円周
ひずみに応じてワイヤ（７）の巻付量が増加し、ワイヤ
（７）によって差動トランスのコア（１１）が引き上げ
られる。差動トランスのコア（１１）はコイル（１２）
に対し相対的に直線変位する。したがって、コイル（１
２）の電圧が変化する。これによってコア（１１）の変
位量が検出される。
ひずみに応じてワイヤ（７）の巻付量が増加し、ワイヤ
（７）によって差動トランスのコア（１１）が引き上げ
られる。差動トランスのコア（１１）はコイル（１２）
に対し相対的に直線変位する。したがって、コイル（１
２）の電圧が変化する。これによってコア（１１）の変
位量が検出される。
また、圧盤（２Ｈ）、（２Ｌ＞間で試験片＜Ｔ、Ｐ）に
圧縮荷重が加えられると、試験片（Ｔ、Ｐ）が軸方向に
収縮され、その外周のワイヤ（７）の位置はわずかに下
降する。ワイヤく７）が試験片（Ｔ、Ｐ）の外周に巻き
付けられているのは試験片（Ｔ、Ｐ）の軸方向中央位置
であり、ワイヤ（７）の位置か下降する距離は試験片（
Ｔ、Ｐ）の軸方向収縮量のｌ／２、すなわちクロスヘッ
ド（３）および上方の圧盤（２Ｈ）が下降する距離の１
／２である。しかしながら、前述したようにクロスヘッ
ド（３）の下降に追随してキャリジ（８）が下降し、ワ
イヤ（７）のフック（９）、方向変換プーリ（ｌＯ）お
よび差動トランスのコイル（１２）の位置も下降する。
圧縮荷重が加えられると、試験片（Ｔ、Ｐ）が軸方向に
収縮され、その外周のワイヤ（７）の位置はわずかに下
降する。ワイヤく７）が試験片（Ｔ、Ｐ）の外周に巻き
付けられているのは試験片（Ｔ、Ｐ）の軸方向中央位置
であり、ワイヤ（７）の位置か下降する距離は試験片（
Ｔ、Ｐ）の軸方向収縮量のｌ／２、すなわちクロスヘッ
ド（３）および上方の圧盤（２Ｈ）が下降する距離の１
／２である。しかしながら、前述したようにクロスヘッ
ド（３）の下降に追随してキャリジ（８）が下降し、ワ
イヤ（７）のフック（９）、方向変換プーリ（ｌＯ）お
よび差動トランスのコイル（１２）の位置も下降する。
その距離はクロスヘッド（３）が下降する距離の１／２
である。
である。
したがって、試験片＜Ｔ、Ｐ）が軸方向に収縮されても
、その外周のワイヤ（７）、フック（９）、方向変換プ
ーリ（１０）および差動トランスのコイル（１２）の位
置関係は一定に保たれる。
、その外周のワイヤ（７）、フック（９）、方向変換プ
ーリ（１０）および差動トランスのコイル（１２）の位
置関係は一定に保たれる。
したがって、差動トランスのコア（１１）の変位量を検
出すると、試験片（Ｔ、Ｐ）の円周ひずみを測定するこ
とができる。その測定値を円周率で割ると、試験片（Ｔ
、Ｐ）の直径ひずみを測定することもてきる。
出すると、試験片（Ｔ、Ｐ）の円周ひずみを測定するこ
とができる。その測定値を円周率で割ると、試験片（Ｔ
、Ｐ）の直径ひずみを測定することもてきる。
したがって、試験片（Ｔ、Ｐ）の直径がその全周にわた
って均一に増加せず、試験片（Ｔ、Ｐ）の角度位置によ
ってその直径が異なっても、それに関係なく、試験片（
Ｔ、Ｐ）の円周または直径ひずみを正確に測定すること
ができる。
って均一に増加せず、試験片（Ｔ、Ｐ）の角度位置によ
ってその直径が異なっても、それに関係なく、試験片（
Ｔ、Ｐ）の円周または直径ひずみを正確に測定すること
ができる。
この試験機は電気炉によって試験片（Ｔ、Ｐ）を高温に
加熱し、これを高温圧縮試験することも可能である。こ
の場合は、線膨張係数の小さいワイヤ（７）を使用し、
試験片（Ｔ、Ｐ）を高温に加熱して、ワイヤ（７）が熱
膨張しても差動トランスのコイル（１２）を軸方向に若
干修正すればよい。これによって試験片（Ｔ、Ｐ）の円
周または直径ひずみを正確に測定することができる。ま
た、圧盤（２Ｈ）。
加熱し、これを高温圧縮試験することも可能である。こ
の場合は、線膨張係数の小さいワイヤ（７）を使用し、
試験片（Ｔ、Ｐ）を高温に加熱して、ワイヤ（７）が熱
膨張しても差動トランスのコイル（１２）を軸方向に若
干修正すればよい。これによって試験片（Ｔ、Ｐ）の円
周または直径ひずみを正確に測定することができる。ま
た、圧盤（２Ｈ）。
（２Ｌ）に代えて、一対のチャックをロードセル（４）
および支柱（６）に連結し、各チャックによって試験片
（Ｔ、Ｐ）をチャッキングする。そして、クロスヘッド
（３）を上昇させる七、試験片（Ｔ、Ｐ）に引張荷重を
加え、その直径を減少させるこ七もできる。この場合も
、試験片（Ｔ、Ｐ）の直径がその全周にわたって均一に
減少しなくても、それに関係なく、試験片（Ｔ、Ｐ）の
円周または直径ひずめを正確に測定することができる。
および支柱（６）に連結し、各チャックによって試験片
（Ｔ、Ｐ）をチャッキングする。そして、クロスヘッド
（３）を上昇させる七、試験片（Ｔ、Ｐ）に引張荷重を
加え、その直径を減少させるこ七もできる。この場合も
、試験片（Ｔ、Ｐ）の直径がその全周にわたって均一に
減少しなくても、それに関係なく、試験片（Ｔ、Ｐ）の
円周または直径ひずめを正確に測定することができる。
なお、この実施例では、試験片（Ｔ、Ｐ）の外周にワイ
ヤ（７）を１．５巻きし、その一端をキャリジ（８）の
フック（９）に固定したものについて説明したが、試験
片（Ｔ、Ｐ）の外周にワイヤ（７）を１巻きし、その一
端を試験片（Ｔ、Ｐ）の外周に接着してもよい。この場
合も、ワイヤ（７）の他端を差動トランスのコア（１１
）に連結すると、試験片（Ｔ。
ヤ（７）を１．５巻きし、その一端をキャリジ（８）の
フック（９）に固定したものについて説明したが、試験
片（Ｔ、Ｐ）の外周にワイヤ（７）を１巻きし、その一
端を試験片（Ｔ、Ｐ）の外周に接着してもよい。この場
合も、ワイヤ（７）の他端を差動トランスのコア（１１
）に連結すると、試験片（Ｔ。
Ｐ）の円周または直径ひずみを正確に測定することかて
きる。また、試験片（Ｔ、Ｐ）を高温に加熱する必要か
ないとき、必すしも線膨張係数の小さいワイヤ（７）を
使用する必要はなく、これに代えて糸なとその他の索条
を試験片（Ｔ、Ｐ）の外周に巻きイ；１げてもよい。差
動トランスに代えて、その他の直線変位検出器を使用し
てもよい。
きる。また、試験片（Ｔ、Ｐ）を高温に加熱する必要か
ないとき、必すしも線膨張係数の小さいワイヤ（７）を
使用する必要はなく、これに代えて糸なとその他の索条
を試験片（Ｔ、Ｐ）の外周に巻きイ；１げてもよい。差
動トランスに代えて、その他の直線変位検出器を使用し
てもよい。
（へ）効 果
以上説明したように、この発明は、丸棒試験片の円周ま
たは直径ひずみを正確に測定することができ、所期の目
的を達成することができるものである。
たは直径ひずみを正確に測定することができ、所期の目
的を達成することができるものである。
第１図はこの発明の一実施例を示す側面図、第２図は第
１図の■−■線断面図、第３図は丸棒試験片に圧縮荷重
を加えた状態を示す説明図、第４図および第５図はそれ
ぞれ従来の丸棒試験片の円周または直径ひずみ測定装置
を示す説明図である。
１図の■−■線断面図、第３図は丸棒試験片に圧縮荷重
を加えた状態を示す説明図、第４図および第５図はそれ
ぞれ従来の丸棒試験片の円周または直径ひずみ測定装置
を示す説明図である。
Claims (1)
- 丸棒試験片の外周にワイヤなどの索条を巻き付け、前記
索条の一端を直線変位検出器に連結し、前記索条および
直線変位検出器によって前記丸棒試験片の円周または直
径ひずみを測定するようにしたことを特徴とする丸棒試
験片の円周または直径ひずみ測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59128941A JPH0638041B2 (ja) | 1984-06-21 | 1984-06-21 | 丸棒材料試験機 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59128941A JPH0638041B2 (ja) | 1984-06-21 | 1984-06-21 | 丸棒材料試験機 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS617401A true JPS617401A (ja) | 1986-01-14 |
| JPH0638041B2 JPH0638041B2 (ja) | 1994-05-18 |
Family
ID=14997192
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59128941A Expired - Lifetime JPH0638041B2 (ja) | 1984-06-21 | 1984-06-21 | 丸棒材料試験機 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0638041B2 (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| ES2166264A1 (es) * | 1999-06-04 | 2002-04-01 | Univ Cantabria | Sistema de medida de la variacion perimetral en ensayos de materiales. |
| CN110375638A (zh) * | 2019-08-28 | 2019-10-25 | 中国工程物理研究院化工材料研究所 | 一种基于lvdt传感器的径向变形测量装置 |
| CN113280769A (zh) * | 2021-04-15 | 2021-08-20 | 西安理工大学 | 一种拉线式位移测量装置及测量物体移动方法 |
| CN114941996A (zh) * | 2022-07-26 | 2022-08-26 | 西北工业大学 | 一种圆棒疲劳试样光纤光栅应变测量系统 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS525670U (ja) * | 1975-06-26 | 1977-01-14 | ||
| JPS5214468U (ja) * | 1975-07-19 | 1977-02-01 |
-
1984
- 1984-06-21 JP JP59128941A patent/JPH0638041B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS525670U (ja) * | 1975-06-26 | 1977-01-14 | ||
| JPS5214468U (ja) * | 1975-07-19 | 1977-02-01 |
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| ES2166264A1 (es) * | 1999-06-04 | 2002-04-01 | Univ Cantabria | Sistema de medida de la variacion perimetral en ensayos de materiales. |
| CN110375638A (zh) * | 2019-08-28 | 2019-10-25 | 中国工程物理研究院化工材料研究所 | 一种基于lvdt传感器的径向变形测量装置 |
| CN113280769A (zh) * | 2021-04-15 | 2021-08-20 | 西安理工大学 | 一种拉线式位移测量装置及测量物体移动方法 |
| CN113280769B (zh) * | 2021-04-15 | 2023-11-07 | 西安理工大学 | 一种拉线式位移测量装置及测量物体移动方法 |
| CN114941996A (zh) * | 2022-07-26 | 2022-08-26 | 西北工业大学 | 一种圆棒疲劳试样光纤光栅应变测量系统 |
| CN114941996B (zh) * | 2022-07-26 | 2022-11-01 | 西北工业大学 | 一种圆棒疲劳试样光纤光栅应变测量系统 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0638041B2 (ja) | 1994-05-18 |
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