JPS5828165Y2 - 材料試験機における試験片伸び測定装置 - Google Patents
材料試験機における試験片伸び測定装置Info
- Publication number
- JPS5828165Y2 JPS5828165Y2 JP1978018166U JP1816678U JPS5828165Y2 JP S5828165 Y2 JPS5828165 Y2 JP S5828165Y2 JP 1978018166 U JP1978018166 U JP 1978018166U JP 1816678 U JP1816678 U JP 1816678U JP S5828165 Y2 JPS5828165 Y2 JP S5828165Y2
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- lever
- test piece
- elongation
- displacement detection
- piece
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
Landscapes
- A Measuring Device Byusing Mechanical Method (AREA)
- Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)
- Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
- Investigating Strength Of Materials By Application Of Mechanical Stress (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
本考案は試験片に変位検出レバーを取り付け、この変位
検出レバーからの信号によってサーボ機構を作動させて
変位検出レバーを試験片の伸びにしたがって移動させ、
その移動量から試験片の伸びを測定する装置に関するも
のである。
検出レバーからの信号によってサーボ機構を作動させて
変位検出レバーを試験片の伸びにしたがって移動させ、
その移動量から試験片の伸びを測定する装置に関するも
のである。
例えばゴム、プラスチックなどのように伸びの大きい試
験片の標点間伸びを測定する方法としては、試験片にマ
ークをしてこれを光電式に検出する隔測方式、あるいは
マグネットを使用する無接触方式が使用されているが、
いずれにしろ測定精度が低く、また高温域での測定は不
可能である欠点を有している。
験片の標点間伸びを測定する方法としては、試験片にマ
ークをしてこれを光電式に検出する隔測方式、あるいは
マグネットを使用する無接触方式が使用されているが、
いずれにしろ測定精度が低く、また高温域での測定は不
可能である欠点を有している。
本考案はこれらの欠点を解決する測定装置を提供しよう
とするものである。
とするものである。
すなわち本考案の測定装置は、試験片の伸びを変位とし
て検出する変位検出レバーを試験片に取り付けるいわゆ
る接触方式であり、この変位検出レバーからの検出信号
によってサーボ機構を作動させ、その作動によって変位
検出レバーが試験片の伸びにしたがって移動することに
よりその移動量から試験片の伸びを測定するように構成
した材料試験機であり、特にその変位検出レバーをスト
レンゲージを取り付けて構成し、構造簡単にして精度良
好な測定ができる装置を提供しようとするものである。
て検出する変位検出レバーを試験片に取り付けるいわゆ
る接触方式であり、この変位検出レバーからの検出信号
によってサーボ機構を作動させ、その作動によって変位
検出レバーが試験片の伸びにしたがって移動することに
よりその移動量から試験片の伸びを測定するように構成
した材料試験機であり、特にその変位検出レバーをスト
レンゲージを取り付けて構成し、構造簡単にして精度良
好な測定ができる装置を提供しようとするものである。
以下図示実施例を説明する。
第1図は試験片の伸び測定装置全体の構成を概略的に示
すもので、1は試験片で、上下がチャック(図示せず)
で把持されて負荷される。
すもので、1は試験片で、上下がチャック(図示せず)
で把持されて負荷される。
DL、DL’は試験片1の伸びを検出する上下の変位検
出レバー、10.11は取付具12,13によって試験
片1の標点に取り付けられるレバー片でありションクア
プソーバ8.9を介してそれぞれ検出筒6,7に係止さ
れている。
出レバー、10.11は取付具12,13によって試験
片1の標点に取り付けられるレバー片でありションクア
プソーバ8.9を介してそれぞれ検出筒6,7に係止さ
れている。
検出筒6,7はそれぞれさらにピン4,5を介してレバ
一本体2,3に保持されている。
一本体2,3に保持されている。
取付具12.13とレバー片10.11は回動自在な構
造になっている。
造になっている。
レバ一本体2,3の他端はそれぞれ連結具17.18を
介してプーリ21〜24に張掛げわたされたロープ19
.20に連結されている。
介してプーリ21〜24に張掛げわたされたロープ19
.20に連結されている。
14.15はそれぞれのレバ一本体2,3に備えられた
案内具で、試験機の機枠Fに垂架された案内棒16に係
合され、レバ一本体2,3はこの案内棒16により試験
方向に移動するのを案内する。
案内具で、試験機の機枠Fに垂架された案内棒16に係
合され、レバ一本体2,3はこの案内棒16により試験
方向に移動するのを案内する。
プーリ23.24はサーボ増幅器27.28に入力され
た変位検出レバーDL、DL’からの検出信号が増幅さ
れてサーボモータ25.26が回転されることにより回
転し、ロープ19,20を回わして変位検出レバーDL
、DL’のレバ一本体2゜3を移動させる。
た変位検出レバーDL、DL’からの検出信号が増幅さ
れてサーボモータ25.26が回転されることにより回
転し、ロープ19,20を回わして変位検出レバーDL
、DL’のレバ一本体2゜3を移動させる。
問題はこの検出信号がどのような構造によって発生する
かであって本考案はこの検出信号を発生する変位検出レ
バーDL、DL’の構造に特徴を有する。
かであって本考案はこの検出信号を発生する変位検出レ
バーDL、DL’の構造に特徴を有する。
すなわち第2図A−Cは本考案の要部を示す図で、変位
検出レバーDLを代表としてその要部を拡大して示す。
検出レバーDLを代表としてその要部を拡大して示す。
第2図Aは第1図の状態において変位検出レバーDLの
検出筒6を中心に縦断して示す図で、レバー片10と検
出筒6の内部構成が明示されている。
検出筒6を中心に縦断して示す図で、レバー片10と検
出筒6の内部構成が明示されている。
レバー片10はショツクアブンーバ8を介してレバー片
10′に連接されており、レバー片10′は板バネSを
介してレバー片10“に連接されている。
10′に連接されており、レバー片10′は板バネSを
介してレバー片10“に連接されている。
そして両レバー片10’、10“は検出筒6に対して検
出筒6内を左右に移動可能な軸受R15R2を介して曲
げ変形による揺動が自在にできるよう保持されている。
出筒6内を左右に移動可能な軸受R15R2を介して曲
げ変形による揺動が自在にできるよう保持されている。
軸受R□、R2が移動できるようにされているのは試験
片の伸びによりレバーが引張られるからである。
片の伸びによりレバーが引張られるからである。
この検出筒6は前記したとおりピン4、軸受R3を介し
てレバ一本体2に回動(揺動)自在に取り付けられてい
るが、このピン4の位置はB図に示すように軸受R0の
位置から距離t(この距離は軸受R1s R2の移動に
より多少変化するが)だけ離れている(B図はA図のB
−B’面図である)。
てレバ一本体2に回動(揺動)自在に取り付けられてい
るが、このピン4の位置はB図に示すように軸受R0の
位置から距離t(この距離は軸受R1s R2の移動に
より多少変化するが)だけ離れている(B図はA図のB
−B’面図である)。
そしてこのような構成において上記板バネSの両面にス
トレンゲージSG1.SG2が設置されている。
トレンゲージSG1.SG2が設置されている。
以上のような構成であるので試験片1が負荷によって伸
び変位すると、レバー片10は矢印方向へ付勢されよう
とする。
び変位すると、レバー片10は矢印方向へ付勢されよう
とする。
この付勢力を受けてレバー片10′は軸受を中心にC図
に示すように矢印方向に揺動され、さらにその影響を受
けて検出筒6全体がビイ4の回りに揺動しようとする。
に示すように矢印方向に揺動され、さらにその影響を受
けて検出筒6全体がビイ4の回りに揺動しようとする。
しかしレバー片10′と検出筒6の揺動中心が離れてい
るためレバー片10′と10“との間にはC図に示すよ
うに板バネSを中心に曲げ変形が生じることになる。
るためレバー片10′と10“との間にはC図に示すよ
うに板バネSを中心に曲げ変形が生じることになる。
この曲げ変形をストレンゲージSG1.SG2が感知し
曲げ変形量に相応した信号を出力するこの信号を検出信
号として出力するようにした点に本考案の特徴があるの
である。
曲げ変形量に相応した信号を出力するこの信号を検出信
号として出力するようにした点に本考案の特徴があるの
である。
ションクアブンーバ8は試験片破断時におけるショック
を検出筒6に直接的に与えないようにするためのもので
ある。
を検出筒6に直接的に与えないようにするためのもので
ある。
本考案の特徴は変位検出レバーが試験片の伸び(変位)
を検出する方式として、レバー片に板バネ部分(弾性部
分)を設けてここにストレンゲージを設置し、その弾性
体ら曲げ変形によりストレンゲージがそれを感知するこ
とによって試験片1の伸びを検出するようにした点であ
り、差動トランス方式やマグネスケール方式に比して構
造簡単であり小形軽量であるから試験片伸び測定精度を
高めるのにきわめて有利である。
を検出する方式として、レバー片に板バネ部分(弾性部
分)を設けてここにストレンゲージを設置し、その弾性
体ら曲げ変形によりストレンゲージがそれを感知するこ
とによって試験片1の伸びを検出するようにした点であ
り、差動トランス方式やマグネスケール方式に比して構
造簡単であり小形軽量であるから試験片伸び測定精度を
高めるのにきわめて有利である。
本考案は図示例に限定されるものではない。
特に第2図に示される変位検出レバーの構造は一実施例
であって抽出筒などを介在させないでレバー片とレバ一
本体を直接結合させレバー片に弾性体部分を設けてそこ
にストレンゲージを設置する方式も実施可能である。
であって抽出筒などを介在させないでレバー片とレバ一
本体を直接結合させレバー片に弾性体部分を設けてそこ
にストレンゲージを設置する方式も実施可能である。
尤も第2図に示される実施例は検出筒が熱遮断材の効果
を有し高温炉にこれら全体を収容して試験する場合には
ストレンゲージが熱の影響を受けないので精度を維持で
きる利点を有している。
を有し高温炉にこれら全体を収容して試験する場合には
ストレンゲージが熱の影響を受けないので精度を維持で
きる利点を有している。
また検出筒は軸受R1tR2の案内をも兼ねている。
第1図にサーボ機構、作動機構の→りを示したが、本考
案はこれらの点に特徴を有するものではむく、これらは
一実施例であって他の多くの変形実施例も可能である。
案はこれらの点に特徴を有するものではむく、これらは
一実施例であって他の多くの変形実施例も可能である。
第1図は本考案による材料式験機な概略的に示す図、第
2図A、B、Cは本考案の要部である変位検出レバーの
構成を示す一実施例図である。 1・・・・・・試験片、2,3・・・・・・レバ一本体
、10゜10’、 10’、 11・・・・・・レバー
片、6,7・・・・・・検出筒、19,20・・・・・
・ローフ″X 21〜24・・・・・・プーリ、25,
26・・・・・・サーボモータ%R1〜R3・・・・・
・軸受、S・・・・・・板バネ、SG1.SG2・・・
・・・ストレンゲージ、DL、DL’・・・・・唆位検
出レバー。
2図A、B、Cは本考案の要部である変位検出レバーの
構成を示す一実施例図である。 1・・・・・・試験片、2,3・・・・・・レバ一本体
、10゜10’、 10’、 11・・・・・・レバー
片、6,7・・・・・・検出筒、19,20・・・・・
・ローフ″X 21〜24・・・・・・プーリ、25,
26・・・・・・サーボモータ%R1〜R3・・・・・
・軸受、S・・・・・・板バネ、SG1.SG2・・・
・・・ストレンゲージ、DL、DL’・・・・・唆位検
出レバー。
Claims (1)
- 試験片に取り付けられた変位検出レバーと、この変位検
出レバーが試験片の伸びを検出したときその検出信号に
より作動するサーボ機構と、このサーボ機構の作動を受
けて前記変位検出レバーを試験片の試験方向に沿って移
動させる作動機構とからなり、この変位検出レバーの移
動量から試験片の伸びを測定するようにした材料試験機
において、変位検出レバーを前記サーボ機構によって移
動されるレバ一本体と、曲げ変形される弾性体を有し一
端が試験片に固定され他端が前記レバ一本体に取り付け
られたレバー片と、このレバー片の弾性体部分に設置さ
れたストレンゲージとによって構成し、このレバー片が
試験片の伸びにより曲げ変形されることをストレンゲー
ジが感知し、その感知信号に応動するサーボ機構の作動
による変位検知レバーの移動量によって試験片の伸びを
検出するようにしたことを特徴2する材料試験機におけ
る試験片伸び測定装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1978018166U JPS5828165Y2 (ja) | 1978-02-14 | 1978-02-14 | 材料試験機における試験片伸び測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1978018166U JPS5828165Y2 (ja) | 1978-02-14 | 1978-02-14 | 材料試験機における試験片伸び測定装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS54123759U JPS54123759U (ja) | 1979-08-29 |
JPS5828165Y2 true JPS5828165Y2 (ja) | 1983-06-20 |
Family
ID=28844912
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1978018166U Expired JPS5828165Y2 (ja) | 1978-02-14 | 1978-02-14 | 材料試験機における試験片伸び測定装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS5828165Y2 (ja) |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS49107265A (ja) * | 1973-02-13 | 1974-10-11 | ||
JPS49135593A (ja) * | 1973-05-01 | 1974-12-27 |
-
1978
- 1978-02-14 JP JP1978018166U patent/JPS5828165Y2/ja not_active Expired
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS49107265A (ja) * | 1973-02-13 | 1974-10-11 | ||
JPS49135593A (ja) * | 1973-05-01 | 1974-12-27 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS54123759U (ja) | 1979-08-29 |
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