JPS6167241A - 半導体装置用選別機 - Google Patents

半導体装置用選別機

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Publication number
JPS6167241A
JPS6167241A JP18838284A JP18838284A JPS6167241A JP S6167241 A JPS6167241 A JP S6167241A JP 18838284 A JP18838284 A JP 18838284A JP 18838284 A JP18838284 A JP 18838284A JP S6167241 A JPS6167241 A JP S6167241A
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JP
Japan
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section
semiconductor devices
supply
measuring
sorting
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Pending
Application number
JP18838284A
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English (en)
Inventor
Hideo Sakamoto
英夫 坂本
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
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Filing date
Publication date
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Publication of JPS6167241A publication Critical patent/JPS6167241A/ja
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    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L22/00Testing or measuring during manufacture or treatment; Reliability measurements, i.e. testing of parts without further processing to modify the parts as such; Structural arrangements therefor

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  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
  • Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、半導体装置の特性を測定し、その測定結果に
よって該半導体装置を特性毎に分類、選別する半導体装
置用選別機に関するものである。
〔従来技術〕
半導体装置用選別機の一例を第2図に示す。第2図に示
すように、従来の選別機はパーツフィダー1を用いて半
導体装置を整列されこれをシュート2にて送り出す供給
部3と、シュート2にて送られた半導体装置を測定ヘッ
ド4でその特性を測定する測定部5と、測定ヘッド4よ
りの出力信号で半導体装置をソータ6aで収納部6bに
振シ分けて分類、収納する分類部7とからなっている。
そして、従来は分類部1台あたりにつき、供給部3、測
定部5をそれぞれ1台ずつ設置していた。
〔発明が解決しようとする閏勃虎J 従来、選別機の処理能力を上げるには、供給部3、測定
部5、分類部7の各々のスピードを上げるのが一般的で
あるが、分類部7の処理能力は供給部3、測定部5より
も大きく、供給部3、測定部5の処理時間には限界があ
るため、分類部7の能力を最大限に利用することができ
ず、したがって、従来の装置による処理能力には自ずか
ら限度があった。
本発明は装置の処理能力を従来の限界を超えてさらに向
上させる装置を提供するものである。
〔問題点を解決するための手段〕
本発明は、半導体装置を整列させてこれを送り出す供給
部3と、該供給部3から送られた半導体装置の特性を測
定する測定部5と、該測定部5からの信号に基いて、測
定終了後の半導体装置を特性毎に分類、収納する分類部
7とからなり、前記供給部3及び測定部5を、分類部7
1台あたりの処理能力に合せて2組以上並列に設置して
分類部に接続したことを特徴とする半導体装置用選別機
である。
〔作用〕
1台の分類部7に複数組の供給部3及び測定部5を通し
て半導体装置を送り込み、分類部のスピードに見合った
処理を行な〜・、装置全体の処理能力を向上させる。
〔実施例〕
以下に、本発明の一実施例を図によシ説明する。
第1図において、3はツクーツフィーダ1を用いて半導
体装置を整列させこれをシュート2にて送り出す供給部
、5はシュート2にて送られた半導体装置を測定へノド
4でその特性を測定する測定部、7は測定ヘッド4より
の出力信号で半導体装置をノータロaにて収納部6bに
振分けて分類、収納する分類部である。
本実施例にお(・て、分類部7と供給部3及び測定部5
との処理能力の比は2:1であるため、供給部3及び測
定部5を分類部71台あたりの処理能力に合せて2組設
置しである。尚実施例では、分類部7はその処理能力が
供給部3等に比べて2倍あるものを用いたが、これに限
られるものではな% S。
本実施例では、1台の分類部7に2台の供給部3及び測
定部5を通して半導体装置を送り込み、分類部7のスピ
ードに見合った処理が行なわれる。
〔発明の効果〕
本発明は以上説明したように、1台の分類部に複数台の
供給部及び測定部を通して半導体装置を送り込み、分類
部の処理能力に見合った処理を行なうようにしたので、
供給部、測定部の動作を安定させたまま選別機の処理能
力を大巾に向上できる効果を有するものである。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例を示す斜視図、第2図は従来
装置を示す斜視図である。 3・・・供給部、5・・・測定部、7・・・分類部。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)半導体装置を整列させてこれを送り出す供給部と
    、該供給部から送られた半導体装置の特性を測定する測
    定部と、該測定部からの出力信号に基いて、測定終了後
    の半導体装置を特性毎に分類、収納する分類部とからな
    り、前記供給部及び測定部を分類部1台あたりの処理能
    力に合せて少くとも2組以上設置して分類部に接続した
    ことを特徴とする半導体装置用選別機。
JP18838284A 1984-09-08 1984-09-08 半導体装置用選別機 Pending JPS6167241A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01187473A (ja) * 1988-01-22 1989-07-26 Toshiba Corp Icテストハンドリング装置

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS593536B2 (ja) * 1979-10-03 1984-01-24 住友金属工業株式会社 低温部材用鋳鋼

Patent Citations (1)

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