JPS6166902A - 誘電体フアイバの直径を測定する容量性デバイスに関する改良 - Google Patents
誘電体フアイバの直径を測定する容量性デバイスに関する改良Info
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- JPS6166902A JPS6166902A JP60188752A JP18875285A JPS6166902A JP S6166902 A JPS6166902 A JP S6166902A JP 60188752 A JP60188752 A JP 60188752A JP 18875285 A JP18875285 A JP 18875285A JP S6166902 A JPS6166902 A JP S6166902A
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- 239000000835 fiber Substances 0.000 title claims description 42
- 230000006872 improvement Effects 0.000 title claims description 10
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 claims description 29
- 230000005684 electric field Effects 0.000 claims description 13
- 230000000694 effects Effects 0.000 claims description 3
- 239000010453 quartz Substances 0.000 claims description 3
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N silicon dioxide Inorganic materials O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 230000005291 magnetic effect Effects 0.000 claims description 2
- 238000005476 soldering Methods 0.000 claims 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 4
- 230000008859 change Effects 0.000 description 3
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 2
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 230000009467 reduction Effects 0.000 description 2
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 2
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 description 1
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 description 1
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 1
- 230000001627 detrimental effect Effects 0.000 description 1
- 238000010291 electrical method Methods 0.000 description 1
- 239000003302 ferromagnetic material Substances 0.000 description 1
- 239000002657 fibrous material Substances 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
- 239000013307 optical fiber Substances 0.000 description 1
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 description 1
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 1
- 230000008569 process Effects 0.000 description 1
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- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C03—GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
- C03B—MANUFACTURE, SHAPING, OR SUPPLEMENTARY PROCESSES
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- General Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
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- Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)
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- Inorganic Insulating Materials (AREA)
- Multicomponent Fibers (AREA)
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
分−野
本発明は、対象物の物理的寸法の遠隔測定のための電気
デバイスに関し、そしてより詳細には、本発明は誘電体
ファイバ(dielectric fibre)の直径
を測定する容量性デバイス(capacitive d
e−ν1ce)に対する改良に関する。
デバイスに関し、そしてより詳細には、本発明は誘電体
ファイバ(dielectric fibre)の直径
を測定する容量性デバイス(capacitive d
e−ν1ce)に対する改良に関する。
−駆帽梢
vJ電体ファイバの圧伸成形(drawing)の間は
、一様な横断面のファイバが得られる様に、そして円形
横断面の場合には一定の直径のファイバが得られる様に
、プラントの装備が調節される事が知られている。ファ
イバの物理的寸法において生し得る変動の手動的修正作
動或いは自動的修正作動は、上記寸法の値について連続
的上つ更新された認識を必要とする。しかし、測定は製
造工程を妨げてはならない。それ故に、接触測定は避け
るべきである。この場合、既に知られている?#に、光
学的方法或いは電気的方法を用いて遠隔測定が適用され
るべきである。
、一様な横断面のファイバが得られる様に、そして円形
横断面の場合には一定の直径のファイバが得られる様に
、プラントの装備が調節される事が知られている。ファ
イバの物理的寸法において生し得る変動の手動的修正作
動或いは自動的修正作動は、上記寸法の値について連続
的上つ更新された認識を必要とする。しかし、測定は製
造工程を妨げてはならない。それ故に、接触測定は避け
るべきである。この場合、既に知られている?#に、光
学的方法或いは電気的方法を用いて遠隔測定が適用され
るべきである。
電気的な測定装置がイタリー特許出願第67936−A
/81号中に記載されており、該特許出願は1981年
7月6日に本出願人の名の下に出願されたものであり、
そしてヨー口・2バ特許出願として1983年2月12
日に公告番号第69332号を付して公告されている。
/81号中に記載されており、該特許出願は1981年
7月6日に本出願人の名の下に出願されたものであり、
そしてヨー口・2バ特許出願として1983年2月12
日に公告番号第69332号を付して公告されている。
この装置においては、圧伸成形されている間にファイバ
は平行プレートコンデンサ(parallel−pla
te capa−citor)のプレート間を通過し、
そしてプレート間の空間の実効誘電率(effecti
ve dielectricconstant)中の変
化に基づくキャパシタンス(ca−pacitance
:静電容量)の変動により検出が為され、該誘電率の変
化はファイバを前記空間内に導入する事によって、且つ
ファイバに沿って直径が変動する事によって生じ、該フ
ァイバは2枚のプレート間の空間中に包含された空気或
いはその他のガスと一緒に、コンデンサの誘電体を形成
する。
は平行プレートコンデンサ(parallel−pla
te capa−citor)のプレート間を通過し、
そしてプレート間の空間の実効誘電率(effecti
ve dielectricconstant)中の変
化に基づくキャパシタンス(ca−pacitance
:静電容量)の変動により検出が為され、該誘電率の変
化はファイバを前記空間内に導入する事によって、且つ
ファイバに沿って直径が変動する事によって生じ、該フ
ァイバは2枚のプレート間の空間中に包含された空気或
いはその他のガスと一緒に、コンデンサの誘電体を形成
する。
直径の大きさ或いは直径の変動の大きさは、キャパシタ
ンスの変動から求められる。コンデンサのプレート間を
j11遇する際のファイバの振動に基づいて、製造プラ
ントにおいて、その様な装置を用いる場合は多数の欠点
と遭遇する。その様な振動は測定コンデンサのキャパシ
タンスにおける変動を生じ、そしてそれ故に該測定装置
はく該キャパシタンス変動を)直径の変動として誤って
読み出し得る。
ンスの変動から求められる。コンデンサのプレート間を
j11遇する際のファイバの振動に基づいて、製造プラ
ントにおいて、その様な装置を用いる場合は多数の欠点
と遭遇する。その様な振動は測定コンデンサのキャパシ
タンスにおける変動を生じ、そしてそれ故に該測定装置
はく該キャパシタンス変動を)直径の変動として誤って
読み出し得る。
この現象はプレート端部近傍の弱い電界強度に基づくも
のであり、該端部においては電気力線が曲がっており、
且つ幅がより広(分離している。
のであり、該端部においては電気力線が曲がっており、
且つ幅がより広(分離している。
そして電気的なキャパシタンスはプレート間の誘電体フ
ァイバの位置に更に依存し、■つ(該キャパシタンスは
)電界に対して直角な方向における誘電体ファイバの軸
線が縁部により近接する様に動いた場合に減少する。そ
してファイバは実際よりも小さいものと思われてしまう
。
ァイバの位置に更に依存し、■つ(該キャパシタンスは
)電界に対して直角な方向における誘電体ファイバの軸
線が縁部により近接する様に動いた場合に減少する。そ
してファイバは実際よりも小さいものと思われてしまう
。
この欠点はプレート縁部と検査しているファイバとの間
の距離を増加する事によっては解決する事ができない。
の距離を増加する事によっては解決する事ができない。
プレートの拡張及びそれ故にコンデンサのキャパシタン
スCの増加を必要とするからである。この結果感度を悪
くし、そしてそれ故に、正確な測定に有害である:実際
、プレート間の空間内に半径↓の光ファイバ(opti
cal fibre)を導入する事による相対的なキャ
パシタンスの変動(ΔC) /Cは、式 %式%) により与えられ、ここでSは矩形状であると仮定した場
合において、コンデンサプレートに直角な、且つファイ
バ軸線に直角な横断面の面積であり、ε1はファイバの
材料の誘電率であり、ε0は媒介物(空気或いはその他
のガス)の誘電率であり、該媒介物は2枚のコンデンサ
プレート間の空間内のファイバを包囲しており、そして
Cは、誘電体が全部誘電率ε0の媒介物である場合のコ
ンデンサのキャパシタンスである。
スCの増加を必要とするからである。この結果感度を悪
くし、そしてそれ故に、正確な測定に有害である:実際
、プレート間の空間内に半径↓の光ファイバ(opti
cal fibre)を導入する事による相対的なキャ
パシタンスの変動(ΔC) /Cは、式 %式%) により与えられ、ここでSは矩形状であると仮定した場
合において、コンデンサプレートに直角な、且つファイ
バ軸線に直角な横断面の面積であり、ε1はファイバの
材料の誘電率であり、ε0は媒介物(空気或いはその他
のガス)の誘電率であり、該媒介物は2枚のコンデンサ
プレート間の空間内のファイバを包囲しており、そして
Cは、誘電体が全部誘電率ε0の媒介物である場合のコ
ンデンサのキャパシタンスである。
fi1式よりその様な相対的な(キャパシタンスの)変
動はSに反比例し、それ故にSは小さい状態に保たれな
ければならない旨が導かれる。例えば、1pF(ピコフ
プラソド)の容量を有するコンデンサを用いる装置にお
いて、約125μmの直径及び約4に等しい誘電率を有
するファイバの導入後に約0. OO3p Fの変動が
あるが、一方、測定器具は1/1000の直径の変動、
及びそれ故に6・IQ−’pFの容量の変動を検出する
のに充分な感度を保たなければならない。
動はSに反比例し、それ故にSは小さい状態に保たれな
ければならない旨が導かれる。例えば、1pF(ピコフ
プラソド)の容量を有するコンデンサを用いる装置にお
いて、約125μmの直径及び約4に等しい誘電率を有
するファイバの導入後に約0. OO3p Fの変動が
あるが、一方、測定器具は1/1000の直径の変動、
及びそれ故に6・IQ−’pFの容量の変動を検出する
のに充分な感度を保たなければならない。
プレートに平行な平面における振動成分は、垂直な平面
における振動成分よりも通常有害である旨が注目される
べきである;しかしながら、両方の成分に基づく影響を
最小にする事が得策である。
における振動成分よりも通常有害である旨が注目される
べきである;しかしながら、両方の成分に基づく影響を
最小にする事が得策である。
ファイバの振動に基づくキャパシタンスの変動に加えて
、プレート及びコンデンサを形成しているその他の構成
物の熱膨張に基づく変動、及び測定器具に基づ(変動が
更に存在し、該変動について好適な補償(compen
sation)が提供されるべきである。
、プレート及びコンデンサを形成しているその他の構成
物の熱膨張に基づく変動、及び測定器具に基づ(変動が
更に存在し、該変動について好適な補償(compen
sation)が提供されるべきである。
相−ヱ路
これ等及びその他の欠点は、本発明により提供される誘
電体ファイバの直径を測定する容量性デバイスに対する
改良によって解決され、そして本発明は誘電体ファイバ
の振動を最小にすると云う効果を許容する。容量性装置
は安価な器具によって容易に組み立てる事ができ、そし
て容易に据え付けられ且つ測定デバイス中で調整され、
ファイバがプレート間に含まれた空間の大部分内を動く
場合に、10−7mのオーダーで直径の変動の大きさを
検出する事を許容する様になっている。
電体ファイバの直径を測定する容量性デバイスに対する
改良によって解決され、そして本発明は誘電体ファイバ
の振動を最小にすると云う効果を許容する。容量性装置
は安価な器具によって容易に組み立てる事ができ、そし
て容易に据え付けられ且つ測定デバイス中で調整され、
ファイバがプレート間に含まれた空間の大部分内を動く
場合に、10−7mのオーダーで直径の変動の大きさを
検出する事を許容する様になっている。
本発明は誘電体ファイバの直径を測定するための容量性
デバイスに関する改良を提供し、該容量性デバイスにお
いては、プレート間の空間へのファイバの導入及びファ
イバに沿って直径が変動する事によって生ずるコンデン
サ中の前記空間の誘電特性(dielectric p
roperty)における変化に基づくキャパシタンス
の変動が測定され、前記コンデンサは、 その縁部に近接して強電界を有する区域を発生する様に
延長部を伴ったプレートを含み、電界の変動について補
償し、そしてそれ故にプレート間に包含された空間の大
部分における誘電体ファイバの振動の影響を最小にする
事を特徴としている。
デバイスに関する改良を提供し、該容量性デバイスにお
いては、プレート間の空間へのファイバの導入及びファ
イバに沿って直径が変動する事によって生ずるコンデン
サ中の前記空間の誘電特性(dielectric p
roperty)における変化に基づくキャパシタンス
の変動が測定され、前記コンデンサは、 その縁部に近接して強電界を有する区域を発生する様に
延長部を伴ったプレートを含み、電界の変動について補
償し、そしてそれ故にプレート間に包含された空間の大
部分における誘電体ファイバの振動の影響を最小にする
事を特徴としている。
本発明の更に別の特徴は、別添の図面を参照して、本発
明の好ましい実施例についての以下の記載から明らかに
なるであろう。
明の好ましい実施例についての以下の記載から明らかに
なるであろう。
大庭±
プレート縁部に近接している電界の歪について補償する
方法は、プレート形状を変形する事により構成されてい
る。より詳細には第1図中に表示されたタイプの同面積
平行プレートコンデンサの電界がより弱(なる場合にお
いて、(プレート)相互の距離は減少する。プレートは
C1及びC2で表わされ、且つ誘電体ファイバはFDで
表わされる。
方法は、プレート形状を変形する事により構成されてい
る。より詳細には第1図中に表示されたタイプの同面積
平行プレートコンデンサの電界がより弱(なる場合にお
いて、(プレート)相互の距離は減少する。プレートは
C1及びC2で表わされ、且つ誘電体ファイバはFDで
表わされる。
本発明に従って変形されたコンデンサの第1の実施例は
第2図中に表示されている。プレートD1及びD2は凹
形の表面を有し、相互に向かい合った対応する凹所を伴
っている。縁部における延長部は、プレート間に含まれ
る空間の大部分において一様となるべき電界を生ずる。
第2図中に表示されている。プレートD1及びD2は凹
形の表面を有し、相互に向かい合った対応する凹所を伴
っている。縁部における延長部は、プレート間に含まれ
る空間の大部分において一様となるべき電界を生ずる。
本発明に従って実施される平行プレートコンデンサの第
2の実施例は、第3図中に示されている。
2の実施例は、第3図中に示されている。
A3およびA4は、端部における延長部に装備された薄
いプレートであり、縁部における減少に対して補償する
為に、強い電界を伴う区域を発生する様になっている。
いプレートであり、縁部における減少に対して補償する
為に、強い電界を伴う区域を発生する様になっている。
その結果、コンデンサ周囲区域におけるファイバ露出長
さが増加するという効果が得られる。初期調整段階の間
、一方のプレートは固定状態に保持され、そして他方の
プレートは誘電体ファイバFDの振動に対する最小の感
度が得られるまで変位される事が明らかである。
さが増加するという効果が得られる。初期調整段階の間
、一方のプレートは固定状態に保持され、そして他方の
プレートは誘電体ファイバFDの振動に対する最小の感
度が得られるまで変位される事が明らかである。
これ等のプレートは好ましくは金属化クォーツ(met
allized quartz)製であり、従って異な
る温度について、高い安定性が達成される。
allized quartz)製であり、従って異な
る温度について、高い安定性が達成される。
本発明の第3の実施例は、平行プレートコンデンサを使
用し、そして電界の歪は周囲区域において電界のピーク
を発生する事により補償される。
用し、そして電界の歪は周囲区域において電界のピーク
を発生する事により補償される。
この態様において、ファイバ露出長さは周囲区域におい
て増加する。
て増加する。
第4図において、A1とA2とはコンデンサプレートを
表示し、そしてB1、B2は2つの矩形プレートを表示
し、該矩形プレートの長さはコンデンサプレートの幅に
略々等しく、そして該矩形プレートは、一方便の端部に
ついて2つの延長部を備えている。これ等のプレートは
上方部分についてコンデンサプレートと電気的に接続さ
れており、そしておそらくは、図示されていないコンデ
ンサ下方部分においても、類似した1対(の矩形プレー
ト)が位置されているであろう。該プレートは、延長部
が相互に向かい合う様に位置されている;これ等のプレ
ートを介して、誘電体ファイバFDが通過している。種
々の部分を好適な強磁性体材料で製造する事により、こ
れ等のプレートは最初の調節工程において、磁力によっ
て適所に保持できる。それ等は最終的には、好適な接着
剤と一緒にはんだ付け(soldθr)される。
表示し、そしてB1、B2は2つの矩形プレートを表示
し、該矩形プレートの長さはコンデンサプレートの幅に
略々等しく、そして該矩形プレートは、一方便の端部に
ついて2つの延長部を備えている。これ等のプレートは
上方部分についてコンデンサプレートと電気的に接続さ
れており、そしておそらくは、図示されていないコンデ
ンサ下方部分においても、類似した1対(の矩形プレー
ト)が位置されているであろう。該プレートは、延長部
が相互に向かい合う様に位置されている;これ等のプレ
ートを介して、誘電体ファイバFDが通過している。種
々の部分を好適な強磁性体材料で製造する事により、こ
れ等のプレートは最初の調節工程において、磁力によっ
て適所に保持できる。それ等は最終的には、好適な接着
剤と一緒にはんだ付け(soldθr)される。
変形されたコンデンサはファイバFDの振動に対して最
早敏感ではない。縁部における電場の減少は、プレート
間に包含される空間の大部分において、延長部間に存在
する強電場区域によって補償されるからである。前述の
場合における様に、電場があまり強くないコンデンサ周
囲区域におけるファイバの露出長さを増加する様になっ
ている。
早敏感ではない。縁部における電場の減少は、プレート
間に包含される空間の大部分において、延長部間に存在
する強電場区域によって補償されるからである。前述の
場合における様に、電場があまり強くないコンデンサ周
囲区域におけるファイバの露出長さを増加する様になっ
ている。
最初の調節段階の間、ファイバは振動を生じ、且つプレ
ートは測定用具が最小のキャパシタンス変動を読み出す
まで動かせる。その後、該ファイバ及びプレートはそれ
等の最終位置に固定される。
ートは測定用具が最小のキャパシタンス変動を読み出す
まで動かせる。その後、該ファイバ及びプレートはそれ
等の最終位置に固定される。
上記記載は限定的ではない実施例としてのみ開示された
ものであり、そして本発明の範囲内で変化及び変形を為
し得る事が明らかである。
ものであり、そして本発明の範囲内で変化及び変形を為
し得る事が明らかである。
第1図は通常の平行プレートコンデンサの斜視図であり
;第2図は本発明に従った第1のコンデンサの斜視図で
あり;第3図は第2のコンデンサの斜視図であり;第4
図は第3のコンデンサの斜視図である。 A1、A2 ・−コンデンサプレート、B1.B2−
一知形プレート、 A3.A4゜c1、c2.D1
、D2 −−プレート、FD−−誘電体ファイバ。
;第2図は本発明に従った第1のコンデンサの斜視図で
あり;第3図は第2のコンデンサの斜視図であり;第4
図は第3のコンデンサの斜視図である。 A1、A2 ・−コンデンサプレート、B1.B2−
一知形プレート、 A3.A4゜c1、c2.D1
、D2 −−プレート、FD−−誘電体ファイバ。
Claims (6)
- (1)コンデンサのプレート間の空間内へのファイバの
導入及びファイバに沿った直径の変動によって生じた前
記空間の誘電特性における変化に基づくキャパシタンス
の変動が測定される、誘電体ファイバの直径を測定する
容量性デバイスに関する改良において、前記コンデンサ
は、 縁部に近接した強電界区域を発生する様に、延長部を伴
ったプレート(A1、A2、A3、A4、D1、D2)
を含み、電界の変動について補償し、そしてそれ故に、
プレート間に包含された空間の大部分中で誘電体ファイ
バ(FD)の振動の影響を最小にする事を特徴とする誘
電体ファイバの直径を測定する容量性デバイスに関する
改良。 - (2)前記プレート(A1、A2)は矩形プレート(B
1、B2)を含み、該矩形プレートは一方の側の端部に
おいて2つの延長部を設けており、該矩形プレートは相
互に向かい合っている延長部を伴ってプレートへ電気的
に接続されており、該延長部を介して誘電体ファイバ(
FD)が通過しており、そして該矩形プレートは調節の
ため動かされ得る事を特徴とする特許請求の範囲第1項
記載の改良。 - (3)前記矩形プレート(B1、B2)は、磁力により
プレート(A1、A2)上に保持される事を特徴とする
特許請求の範囲第2項記載の改良。 - (4)前記矩形プレート(B1、B2)は、はんだ付け
によってプレート(A1、A2)上に保持される事を特
徴とする特許請求の範囲第2項記載の改良。 - (5)前記プレート(A3、A4)は金属化クォーツで
製造される事を特徴とする特許請求の範囲第1項記載の
改良。 - (6)前記プレート(D1、D2)の内面は、凹形をし
ており、そしてそれ等の凹所は相互に向かい合っている
事を特徴とする特許請求の範囲第1項記載の改良。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
IT67878/84A IT1179098B (it) | 1984-09-06 | 1984-09-06 | Perfezionamenti alle apparecchiature a condensatore per la misura del diametro di fibre dielettriche |
IT67878-A/84 | 1984-09-06 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6166902A true JPS6166902A (ja) | 1986-04-05 |
Family
ID=11306025
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP60188752A Pending JPS6166902A (ja) | 1984-09-06 | 1985-08-29 | 誘電体フアイバの直径を測定する容量性デバイスに関する改良 |
Country Status (12)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4706014A (ja) |
EP (1) | EP0174017B1 (ja) |
JP (1) | JPS6166902A (ja) |
AT (1) | ATE39023T1 (ja) |
AU (1) | AU4694685A (ja) |
BR (1) | BR8504076A (ja) |
CA (1) | CA1242579A (ja) |
DE (2) | DE174017T1 (ja) |
DK (1) | DK399785A (ja) |
ES (1) | ES8700427A1 (ja) |
IT (1) | IT1179098B (ja) |
NO (1) | NO853489L (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009014546A (ja) * | 2007-07-05 | 2009-01-22 | Fujikura Ltd | 光ファイバ心線対照装置及び光ファイバ内の伝送光強度測定方法 |
JP2010145288A (ja) * | 2008-12-19 | 2010-07-01 | Fujikura Ltd | 空孔付き光ファイバの空孔径の測定方法および装置、ならびに空孔付き光ファイバの製造方法および装置 |
Families Citing this family (19)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4845983A (en) * | 1986-11-06 | 1989-07-11 | Zellweger Uster Ag | Testing apparatus for textile strands |
CH678172A5 (ja) * | 1989-06-07 | 1991-08-15 | Zellweger Uster Ag | |
AU640149B2 (en) * | 1989-07-06 | 1993-08-19 | Sumitomo Electric Industries, Ltd. | Method and device for producing an optical fiber |
US5138268A (en) * | 1990-08-15 | 1992-08-11 | Steve Mulkey | Thickness measuring system for nonconducting materials |
FR2692978A1 (fr) * | 1992-06-30 | 1993-12-31 | Alcatel Fibres Optiques | Dispositif et procédé de contrôle de l'épaisseur et de la régularité d'un revêtement déposé sur un corps isolant allongé. |
FR2698962B1 (fr) * | 1992-12-07 | 1995-02-10 | Commissariat Energie Atomique | Procédé et dispositif de mesure sans contact de la tension et de la vitesse de défilement d'un fil. |
EP0701105A1 (en) * | 1994-09-12 | 1996-03-13 | AT&T Corp. | Method and apparatus for controlling the cross-sectional dimensions of optical fibers during fabrication |
JPH0913237A (ja) * | 1995-06-29 | 1997-01-14 | Zellweger Luwa Ag | スライバの太さ又はムラを求めるための装置 |
DE59706964D1 (de) * | 1996-01-17 | 2002-05-16 | Patent Treuhand Ges Fuer Elektrische Gluehlampen Mbh | Schaltungsanordnung zur messtechnischen bestimmung von durchmessern metallischer körper |
US6168080B1 (en) | 1997-04-17 | 2001-01-02 | Translucent Technologies, Llc | Capacitive method and apparatus for accessing contents of envelopes and other similarly concealed information |
US6025727A (en) * | 1997-11-21 | 2000-02-15 | Instrumar Limited | Device and method for detecting and measuring fiber properties |
DE59906553D1 (de) * | 1998-03-13 | 2003-09-18 | Uster Technologies Ag Uster | Vorrichtung zum Messen von Eigenschaften eines textilen Produktes |
CN1098799C (zh) * | 1998-07-31 | 2003-01-15 | 泽韦格路瓦有限公司 | 线形试样测量装置 |
US6202929B1 (en) | 1999-03-10 | 2001-03-20 | Micro-Epsilon Mess Technik | Capacitive method and apparatus for accessing information encoded by a differentially conductive pattern |
CA2899102C (en) | 2004-06-29 | 2017-08-01 | Instrumar Limited | Fibre monitoring apparatus and method |
US7983785B2 (en) | 2004-06-30 | 2011-07-19 | Instrumar Limited | Fibre monitoring apparatus and method |
US20090036800A1 (en) * | 2007-07-30 | 2009-02-05 | Michael Rabin | Hair Densitometer |
US9157729B1 (en) | 2013-01-10 | 2015-10-13 | DST Output West, LLC | Light sensor facilitated insert thickness detection system |
JP7362557B2 (ja) * | 2020-07-17 | 2023-10-17 | 株式会社東芝 | センサ及びセンサモジュール |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5883U (ja) * | 1981-06-26 | 1983-01-05 | 日産自動車株式会社 | 回転式作業装置の回転部二重固定安全装置 |
JPS587505A (ja) * | 1981-07-06 | 1983-01-17 | シ・エツセ・エ・エレ・チ・セントロ・ステユデイ・エ・ラボラトリ・テレコミニカチオ−ニ・エツセ・ピ−・ア− | 光フアイバの直径を測定する方法および装置 |
Family Cites Families (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US2992392A (en) * | 1957-04-26 | 1961-07-11 | Haynes And Haynes Ltd | Measuring and testing apparatus |
NL271951A (ja) * | 1961-07-25 | |||
FR1359960A (fr) * | 1963-04-05 | 1964-04-30 | Procédé et appareil de mesure de l'épaisseur sans contact | |
US3922601A (en) * | 1974-03-01 | 1975-11-25 | Du Pont | Spiral plate yarn measuring capacitance cell |
SU690283A1 (ru) * | 1977-09-05 | 1979-10-05 | Предприятие П/Я Р-4132 | Емкостный преобразователь дл измерени диаметра провода |
FR2494427A1 (fr) * | 1980-11-14 | 1982-05-21 | Gorbov Mikhail | Dispositif de determination de defauts de surface de produits filiformes |
-
1984
- 1984-09-06 IT IT67878/84A patent/IT1179098B/it active
-
1985
- 1985-08-02 US US06/762,157 patent/US4706014A/en not_active Expired - Fee Related
- 1985-08-26 BR BR8504076A patent/BR8504076A/pt unknown
- 1985-08-28 ES ES546495A patent/ES8700427A1/es not_active Expired
- 1985-08-29 JP JP60188752A patent/JPS6166902A/ja active Pending
- 1985-08-29 AU AU46946/85A patent/AU4694685A/en not_active Abandoned
- 1985-09-02 DK DK399785A patent/DK399785A/da not_active Application Discontinuation
- 1985-09-04 DE DE198585111156T patent/DE174017T1/de active Pending
- 1985-09-04 EP EP85111156A patent/EP0174017B1/en not_active Expired
- 1985-09-04 CA CA000489951A patent/CA1242579A/en not_active Expired
- 1985-09-04 DE DE8585111156T patent/DE3566575D1/de not_active Expired
- 1985-09-04 AT AT85111156T patent/ATE39023T1/de not_active IP Right Cessation
- 1985-09-05 NO NO853489A patent/NO853489L/no unknown
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5883U (ja) * | 1981-06-26 | 1983-01-05 | 日産自動車株式会社 | 回転式作業装置の回転部二重固定安全装置 |
JPS587505A (ja) * | 1981-07-06 | 1983-01-17 | シ・エツセ・エ・エレ・チ・セントロ・ステユデイ・エ・ラボラトリ・テレコミニカチオ−ニ・エツセ・ピ−・ア− | 光フアイバの直径を測定する方法および装置 |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009014546A (ja) * | 2007-07-05 | 2009-01-22 | Fujikura Ltd | 光ファイバ心線対照装置及び光ファイバ内の伝送光強度測定方法 |
JP2010145288A (ja) * | 2008-12-19 | 2010-07-01 | Fujikura Ltd | 空孔付き光ファイバの空孔径の測定方法および装置、ならびに空孔付き光ファイバの製造方法および装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
IT8467878A1 (it) | 1986-03-06 |
DE174017T1 (de) | 1986-10-16 |
IT1179098B (it) | 1987-09-16 |
US4706014A (en) | 1987-11-10 |
ATE39023T1 (de) | 1988-12-15 |
ES546495A0 (es) | 1986-10-16 |
EP0174017A1 (en) | 1986-03-12 |
DK399785D0 (da) | 1985-09-02 |
CA1242579A (en) | 1988-10-04 |
EP0174017B1 (en) | 1988-11-30 |
AU4694685A (en) | 1986-03-27 |
IT8467878A0 (it) | 1984-09-06 |
ES8700427A1 (es) | 1986-10-16 |
NO853489L (no) | 1986-03-07 |
DE3566575D1 (en) | 1989-01-05 |
BR8504076A (pt) | 1986-06-17 |
DK399785A (da) | 1986-03-07 |
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