JPS616646A - Novel photosensitive composition - Google Patents

Novel photosensitive composition

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JPS616646A
JPS616646A JP12789584A JP12789584A JPS616646A JP S616646 A JPS616646 A JP S616646A JP 12789584 A JP12789584 A JP 12789584A JP 12789584 A JP12789584 A JP 12789584A JP S616646 A JPS616646 A JP S616646A
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JP
Japan
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group
formulas
tables
hydrogen
chemical
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Pending
Application number
JP12789584A
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Japanese (ja)
Inventor
Shunei Kaneko
金子 俊英
Akihiko Ikeda
章彦 池田
Hideo Ai
愛 英夫
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Asahi Kasei Corp
Asahi Chemical Industry Co Ltd
Original Assignee
Asahi Chemical Industry Co Ltd
Asahi Kasei Kogyo KK
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Publication date
Application filed by Asahi Chemical Industry Co Ltd, Asahi Kasei Kogyo KK filed Critical Asahi Chemical Industry Co Ltd
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Publication of JPS616646A publication Critical patent/JPS616646A/en
Pending legal-status Critical Current

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    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/004Photosensitive materials
    • G03F7/027Non-macromolecular photopolymerisable compounds having carbon-to-carbon double bonds, e.g. ethylenic compounds

Abstract

PURPOSE:To obtain a photopolymerizalbe composition having a high adhesive property and giving a photoresist by blending a nongaseous unsatd. compound with a photopolymn, initiator and a mixture of compounds selected out of at least two groups of compounds among groups of compounds represented by specified formulae. CONSTITUTION:A photopolymerizable composition is composed of a nongaseous unsatd. compound (a) having at least two carbon-carbon double bonds and capable of forming a polymer in the presence of a photopolymn. initiator, the photopolymn. initiator (b) which can be activated by active light,and a mixture (c) of compounds selected out of at least two groups of compounds among groups of compounds represented by formulae I -III. A thermoplastic org. polymer binder (d) may be added. The compounds represented by formulae I -III include 1- pheny-2-mercaptoimidazoline, thiadiazoles such as 3,5-dimercapto-1,2,4-thiadiazoles, and sulfenamides such as N-cyclohexyl-2-benzothiazylsulfenamide, respectively.

Description

【発明の詳細な説明】[Detailed description of the invention]

〔産業上の利用分野〕 本発明は新規な感光性組成物に関し、さらに詳しくは、
銅板等の基板に対する接着性及び耐メッキ性の改良され
た光重合性組成物に関する。本組成物の応用例としてプ
リント配線板等の作成に利用されるフォトレジスト、ソ
ルダーレジスト等があげられる。 〔従来の技術〕 フォトレジストを用いたプリント配線板の作成法は周知
でちる。まず、銅張り積層板やフレキシブル銅張板等の
画像形成用基板に、フォトレジスト組成物を塗布又は積
層して皮膜を形成し、次いで活性光によってフォトマス
クを通して照射を行なうと、露光された部分は重合硬化
する。次に未露光部分を有機溶媒、アルカリ水溶液等の
適当な現像液によって溶解除去し、レジスト画像を形成
する。この画像形成基板に、エツチング、銅メッキ、ハ
ンダメッキ等種々の操作をほどこすことによシ、レジス
トによって保護されていない銅面を処理しプリント配線
板を作成していく。 この時レジスト基板の接着力が十分大きくないと、エツ
チングやメッキ及びそれらの前処理の際に処理液がt/
レジスト基板の間に浸透し、硬化したレジストのアンダ
ーカットが起り、レジストが基板から浮き上るような現
象が発生し、昂くなる。 このような現象が起ると、エツチングによるレジスト端
部の欠損、メッキのもぐり (メッキがレジストの下部
にまで及ぶ現象)が生じ、画線の欠損や画像輪廓の不鮮
明化を招き、パターン精度が著しく低下して不合格品と
なってしまう。 このため、密着助剤が種々開発されており、特公昭50
−9177号公報及び特開昭53−702号公報等に開
示されている。 〔発明が解決しようとする問題点〕 しかし 、近年メッキ処理技術及び特にその前処理方法
は多岐に亘り、またより過酷な条件になシ従来の組成物
では銅面密着性、耐メッキ性の両面で満足な結果を与え
るものは少ないのが現状である。 上記の様なプロセスで作成されたプリント配線板には、
部品をハンダ付けする際に所望の部分以外へのハンダの
付着を避けるため、又、配線板表面の回路の保護を目的
として感光性のソルダーレジストが塗布されることが多
い。このソルダーレジストにはこれが永久的に製品に残
る材料であること、高温のハンダ浴に浸漬するハンダ付
は工程で、ハンダのもぐりが発生してはならないこと等
の理由から、接着性に対する高度の要求がある。 このためにはソルダーレジストに上に示した様な密着助
剤を添加することが効果的であることは公知であるが、
さらに高性能の密着助剤が求められている。 以上を1*まえて鋭意研究の結果、本発明者らは、金属
基板、特に銅面との接着性が高く、か2メツキ処理にお
いてメッキもぐり等の問題の発生しない7オトレジスト
を与える光重合性組成物を見い出しさらに本組成物が、
ソルダーレジストとしても有効であることを確認した。 〔問題点を解決するための手段〕 本発明で開示される組成物は(a)少なくとも2個の炭
素−炭素二重結合を有し、光重合開始剤によって重合体
を形成できる排ガス状不飽和化合物、(b)活性光によ
って活性化し得る光重合開始剤、(C)構造式(1)、
(It)及び(至)で示される各化合物群のうちの少な
くとも二種の化合物群から選ばれ九化合智の混合物よシ
なる光重合性組成物であシ、必要に応じて(d)熱可塑
性有機重合体バインダーを加える÷ (ここで■は炭素数5ないし20のアルキル基、シクロ
アルキル基、炭素数6ないし20のアリール基、アルキ
ルアリール基、アリールアルキル基、Wは無置換、又は
全炭素数が1ないし15のアルキル基、アリール基の置
換した単結合又は二重結合で直鎖状に結合した2個又は
3個の炭素又は窒素、又は炭素数6ないし14のオルト
又はペリ位に2価のア又は−N=C,−テあり、Ct 
、Ct it共に炭素テcIFisと結合し、C,はN
と結合する。Xr 、X!は水素又はR1ムは水素又は
R1んは水素、R1アミノ基、メルカプト基、フェニル
基、X?は水素、R又はフェニA4、Rは炭素数1ない
し8のアルキル基。)クロアルキル基、Yat′iR,
シクロアルキル基、Y4はR,−f)であり、Rは炭素
数1ないし8のアルキル基。) 構造式(1)、(ff)及び(砂で示される化合物の群
をそれぞれ群11群■、群■と称する。 群Iに於いてVとしては炭素数6ないし14のアリール
基、アリールアルキル基が好ましく、wとしては、−C
H,−cn、−1−CH=CH−、−C=N−1構造式
(1)で示される具体的な化合物を挙げるならば、1−
フェニル−5−メルカプトテトラゾール、1−ベンジル
−5−メルカプトテトラゾール、1−シフ四へキシル−
5−メルカプ)7−トラゾール、1−フェニル−2−メ
ルカプトイミダゾール、1−ベンジル−2−メルカプト
イミダゾール、1−フェニル−2−メルカプトイミダシ
リン等である。 群…に於いてXr 、Xsとしては水素又はメチル基が
好ましく、X、は水素又はアセチル基が好ましい。 人と
[Industrial Application Field] The present invention relates to a novel photosensitive composition, and more specifically,
The present invention relates to a photopolymerizable composition with improved adhesion and plating resistance to substrates such as copper plates. Application examples of this composition include photoresists, solder resists, etc. used in the production of printed wiring boards, etc. [Prior Art] Methods for producing printed wiring boards using photoresists are well known. First, a photoresist composition is coated or laminated on an image forming substrate such as a copper-clad laminate or a flexible copper-clad board to form a film, and then irradiation is performed with active light through a photomask. is polymerized and hardened. Next, the unexposed portions are dissolved and removed using a suitable developer such as an organic solvent or an alkaline aqueous solution to form a resist image. By performing various operations such as etching, copper plating, and solder plating on this image forming substrate, the copper surface not protected by the resist is processed to create a printed wiring board. At this time, if the adhesive strength of the resist substrate is not strong enough, the processing solution may leak during etching, plating, or their pretreatment.
It penetrates between the resist substrate and undercuts the hardened resist, causing a phenomenon in which the resist lifts up from the substrate. When such a phenomenon occurs, the edge of the resist will be damaged due to etching, and the plating will peel off (a phenomenon in which the plating extends to the bottom of the resist), leading to loss of image lines and blurring of the image outline, resulting in poor pattern accuracy. This results in a significant decrease in the quality of the product, resulting in a rejected product. For this reason, various adhesion aids have been developed, and
This method is disclosed in Japanese Patent Application Laid-Open No. 53-702, etc. [Problems to be Solved by the Invention] However, in recent years, plating technology and especially its pretreatment methods have become more diverse, and conventional compositions have poor adhesion to copper surfaces and poor plating resistance due to harsher conditions. At present, there are few methods that give satisfactory results. Printed wiring boards created using the above process include:
When soldering components, a photosensitive solder resist is often applied to prevent solder from adhering to areas other than desired areas and to protect circuits on the surface of wiring boards. This solder resist has a high degree of adhesion properties because it is a material that permanently remains on the product, and the soldering process involves soaking it in a high-temperature solder bath, so no solder leakage should occur. I have a request. It is known that it is effective to add adhesion aids as shown above to the solder resist for this purpose.
Furthermore, a high-performance adhesion aid is required. As a result of intensive research with the above in mind, the present inventors have discovered that a photopolymerizable photoresist provides a 7-to-resist that has high adhesion to metal substrates, especially copper surfaces, and does not cause problems such as plating peel-off during plating processing. The composition further comprises:
It was confirmed that it is also effective as a solder resist. [Means for Solving the Problems] The composition disclosed in the present invention comprises (a) an unsaturated exhaust gas having at least two carbon-carbon double bonds and capable of forming a polymer with a photopolymerization initiator; compound, (b) a photopolymerization initiator that can be activated by actinic light, (C) structural formula (1),
A photopolymerizable composition consisting of a mixture of nine compounds selected from at least two of the compound groups represented by (It) and (To), and optionally (d) heating. Add the plastic organic polymer binder ÷ (where ■ is an alkyl group having 5 to 20 carbon atoms, a cycloalkyl group, an aryl group having 6 to 20 carbon atoms, an alkylaryl group, an arylalkyl group, and W is unsubstituted or completely Alkyl group having 1 to 15 carbon atoms, aryl group substituted with 2 or 3 carbons or nitrogens connected in a straight chain with a single bond or double bond, or in the ortho or peri position of 6 to 14 carbon atoms With divalent a or -N=C, -te, Ct
, Ct it are both bonded to carbon technology, and C, is N
Combine with. Xr, X! is hydrogen or R1 is hydrogen or R1 is hydrogen, R1 amino group, mercapto group, phenyl group, X? is hydrogen, R or phenylA4, and R is an alkyl group having 1 to 8 carbon atoms. ) chloroalkyl group, Yat'iR,
cycloalkyl group, Y4 is R, -f), and R is an alkyl group having 1 to 8 carbon atoms. ) The groups of compounds represented by structural formulas (1), (ff) and (sand) are referred to as Group 11 Group ■ and Group ■, respectively. In Group I, V is an aryl group having 6 to 14 carbon atoms, arylalkyl A group is preferable, and w is -C
H, -cn, -1-CH=CH-, -C=N-1 Specific compounds represented by structural formula (1) include 1-
Phenyl-5-mercaptotetrazole, 1-benzyl-5-mercaptotetrazole, 1-Schiftetrazole-
5-mercap) 7-trazole, 1-phenyl-2-mercaptoimidazole, 1-benzyl-2-mercaptoimidazole, 1-phenyl-2-mercaptoimidacillin, and the like. In the group, Xr and Xs are preferably hydrogen or a methyl group, and X is preferably hydrogen or an acetyl group. with people

【7ては水素、メチル基、アミノ基、カルボキシル
基が好ましく、為としては水素、メチル基、フェニル基
が好ましい。さらK Xsとしては水素、メチル基、ア
ミノ基、メチルアミノ基、S−C%−COOH基、フェ
ニル基、メルカプト基が好ましく、X、はフェニル基又
はメルカプト基が好ましい。又、Rとしては炭素数1な
いし6のアルキル基が好ましい。群Mに含まれる好まし
い化合御名を具体的に挙げるならば、2−メルカプトチ
アゾリン、5,5−ジメチル−2−メルカプトチアゾリ
ン、4−メトキシカルボニル−5,5−ジメチル−2−
メルカグトチアゾリン等メルカグトチアゾリン類、2−
メルカプトチアゾール、2−メルカプト−4−メチルチ
アゾール、2−メルカプト−4−フェニルチアゾール、
2−メルカプト−4,5−ジメチルチアゾール、5−ア
ミノ−2−メルカプトチアゾール等2−メルカプトチア
ゾール類、2−メルカプト−5−フェニル−1,3,4
−チアジアゾール、2,5−ジメルカプト−1,3,4
−チアジアゾール、5−アばノー2−メルカプト−1,
3,4−チアジアゾール、5−メチルアミノ−2−メル
カプト−1,3,4−チアジアゾール、5−メチル−2
−メルカプト−1,3,4−チアジアゾール、3−フェ
ニル5−メルカプト−1,2,4−チアジアゾール、3
,5−ジメルカプ) −1,2,4−チアジアゾール等
チアジアゾール類等がある。この中でもさらにメルカプ
トチアゾリン類が好ましい。 群■に於いて、Ylとしてはベンゾチアジル基、モルホ
リフ基、Y!、Ylとしては水素、メチル基、エチル基
、グロビル基、ブチル基、t−ブチル基、シクロアキル
基、Y4としてはメチル基、モルホリノ基等が好ましく
、Yとしては一8Y、が特に好ましい。又Rとしては炭
素数1ないし8のアルキル基が好ましい。 群■に含まれる化合物の具体的名称としては、シヘンゾ
チアジルジスルフィド、2−(4−モルホリノジチオ)
ベンゾチアゾール等ジスルフィド、N、N −シェfk
−2−ペンゾチアジルスルフェンア、ミド、N、N−シ
イツブ四ビル−2−ベンゾチアジルスルフェンアミド、
N、N−ジシクロへキシル−2−ベンゾチアジルスルフ
ェンアミ)’、N−t−ブチル−2−ベンゾチアジルス
ルフェンアミド、N〜オキシジエチレン−2−ベンゾチ
アジルスルフェンアミド、N−シクロヘキシル−2−ベ
ンゾチアジルスルフェンアミド等スルフエンアξド類、
さらに2− (S−メチルメルカプト)ベンゾチアゾー
ル等が挙げられ、この中でも特にジスルフィド類が好ま
しい。 群1.II及び■から選ばれた化合物の添加量の合計に
制@はないが全組成物に対し0.05ないし5重量%が
好ましく、さらに0.2ないし2重量%が好ましい。又
、本発明で開示される各群から化合物を二種類以上用い
ても良い。さらに本発明で開示される化合物と、特開昭
55−65947号、特開昭55−65202号、特開
昭55−65203号9、特開昭56−51735号、
特開昭56−67844号、特開昭56−67845号
、特開昭58−100844号、特開昭57−1929
46号、特開昭53−124594j等の公報に開示さ
れている化合物を併用することもできる。具体的にはフ
タルイミド、7タラゾン、インダゾール、アセトグアナ
ミン、ベンゾグアナミン、モノアザインドール、ジフェ
ニルカルバゾン、2,4.6− )リメルカプトトリア
ジン、チオバルビッール酸、チオヒダントイン等が挙げ
られる。 上記光反応性組成物はエチレン性不飽和化合物(以下、
モノマーと称する)とそれに対する適当なバインダーか
ら成っており、モノマーは少なくとも2個の炭素−炭素
二重結合を有し、光重合開始剤によって重合体を形成し
、非ガス状で、大気圧下で100℃以上の沸点を有する
ものである。このようなエチレン性不飽和化合物の例は
、(メタ)アクリル酸エステル、 (メタンアクリルア
ミド、アリル化合物、ビニルエーテル化合物、ビニルエ
ステル化合物、ケイヒ酸、マレイン酸、7マル酸及びそ
れらのエステル等である。 (メタ)アクリル酸エステルとしては多価アルコールめ
ポリ (メタ)アクリレート (ここで言うポリとはジ
(メタ)アクリレート以上の化合物である。)であり、
多価アルコールとしてはポリエチレンクリコール、ポリ
プロピレングリコール、ネオペンチルグリコール、トリ
メチロールプロパン、ペンタエリスリトール、ブタンジ
オール、トリメチロールエタンがある。 又、好ましいモノマーとして、ウレタン(メタ)アクリ
レートが挙げられる。これは水酸基を有する (メタ)
アクリレートもしくは(メタ)アクリルアミドと、2個
以上のインシアナト基を有する化合物の付加生成物であ
り、これらの(メタ)アクリレートとしては、2−ヒド
ロキシエチル(メタ)アクリレート、2−ヒドロキシプ
ロピル(メタ)アクリレート、ポリエチレングリコール
モノ(メタ)アクリレート、2−ヒドロキシ−3−フェ
ノキシプロビル(メタ) アクリレート等が6る。 さらにアミドとしてはヒドロキシメチル(メタ)アクリ
ルアミドがある。さらにポリエチレングリコール、ポリ
プロピレングリコール等のポリオールにその2倍当量以
上のジイソシアナートを反応させて得られたポリイソシ
アナートと水酸基を有する(メタ)アクリレート等管反
応させて得られたウレタン(メタ)アクリレート等も有
効である。 2個以上のインシアナト基を有する化合物としては、ヘ
キサメチレンジインシアナート、トリレンジイソシアナ
ート、インホロンジイソシアナート、キシリレンジイソ
シアナート、4,4′−ジイソシアナートジフェニルメ
タン等がアシ、これらのウレタン(メタ)アクリレート
等については特願昭58−80445号明細書に詳しい
。これらのウレタン(メタ)アクリレートを用いると、
構造式(1)で示される化合物の耐メッキ性に対する効
果がさらに増大することは特筆に値する。さらに用いる
ことのできる七ツマ−として、フタル酸、アジピン酸、
マロン酸等のジアリルエステルや、ジビニルサクシネー
ト、ジビニルアジペート、ジビニルフタレート等のジビ
ニルエステル類、アシッドホスホキシジエチルメタクリ
レート、3−クロロ−2−アシッドホスホキシプロピル
メタクリレート、2−ビスメタクリロキシエチルホスフ
ェート、2−ビスアクリロキシホスフェート、ケイヒ酸
エステル類、マレイン酸エステル、フマル酸エステル、
フエニルマレイミド等がおる。 これらモノマーの量としては全組成物に対し重量で(以
下同様)10チないし99−が好ましく、さらKは20
%ないしsobが好ましい0以上のモノマーを二種以上
用いることも制限するものではない光反応性組成物に有
用な光重合開始剤又は増感剤は一般に使用されるもので
良いが、エチレン性不飽和化合物の重合に適するものは
、アントラキノン、2−メチルアントラキノン、2−エ
チルアントラキノン等のアントラキノン誘導体、ベンゾ
イン、ベンゾインメチルエーテル、ベンゾインエチルエ
ーテル等のベンゾイン誘導体、クロルチオキサントン、
ジイソプロビルチオギサントン等のチオキサントン誘導
体翫ベンゾフェノン、フェナントレンキノン、ミヒラー
ケトン(4,4’−ビス(ジメチルアミノ)ベンゾフェ
ノン)でア1ル。 これら光重合開始剤等の使用量に制限はないが、好まし
くは0.02%ないし15チ、さらに好ましくは0.1
チないし10チである。 父、本発明の組成物には、熱可塑性有機重合体バインダ
ーが含まれることが好ましくそれらとしては、エチレン
性不飽和化合物と相溶性のあるものが使用されるため、
その組合せは自ずと決まってくるが、本発明に使用され
るバインダーはポリメチルメタクリレート、ポリスチレ
ン、ポリ塩化ビニル、塩素化ポリエチレン、ポリビニル
アセテート、ポリビニルアルコール、ポリビニルブチラ
ール等のビニルモノマーの重合物及び共重合体が好まし
い。特にアルカリ水溶液で現像を行う場合は、アクリル
酸、メタクリル酸、イタコン酸等の共重合体が好ましい
。その使用量としては、5%ないし80チが好ましく、
さらに好ましくは20%ないし60チである。ソルダー
レジストとして本組成物を用いる場合はバインダーは用
いないかもしくは少量用いることが推奨される。 他に1光反応性組成物の貯蔵時の熱重合を防止するため
の重合禁止剤、レジストを見易くするための染料、顔料
や光感応性変色剤、可塑剤、難燃剤等を使用しても差し
支えない。ここで、染料としては、例えばベーシック・
ピュアー・ブルーBO。 マラカイトグリーン、ビクトリアブルー、ブリリアント
・グリーンα等の塩基性染料やC,、1,ソルベント・
クリーン3、C,1,ソルベント・ブルー21、C)■
、ソルベント・ブルー36等の油性染料が挙げられる。 本発明の光反応性組成物を基板上に成膜する方法として
は、該組成物の溶液を基板上に塗布し乾燥する方法と、
適当なフィルム上に塗布し乾燥して得られた積層体を基
板に加熱ロール等を用いて積層する方法がある。後者の
積層体は一般にドライフィルムと称されているが、二層
のフィルムに感光性組成物がサンドインチ状にはさまれ
た構造の本のが多く、基板への積層時には、一方のフィ
ルムを剥離しながら積層する。この剥離フィルムとして
はポリエチレン、ポリプロピレン、セロファンやさらに
これらを他のフィルムに積層したフィルムや特願昭58
−76190号明細書に開示されている剥離性フィルム
等がある。積層されたレジストの上には、もう一方のフ
ィルムである支持フィルムと称されるフィルムで覆われ
ているが、一般にはこの上にマスクな密着させ露光する
。この支持フィルムとしてはポリエチレンテレフタレー
ト、ポリビニルアルコール、ポリ塩化ビニル、ポリ塩化
ビニリデン、ポリスチレン、ポリメタクリル酸メチル、
ポリアミド、ポリアクリロニトリル、ポリビニルアルコ
ールやこれらの共重合体からなるフィルムが挙けられる
が、特に用いる現像液を溶解する材料を用いると、工程
の自動化や剥離時に於ける画像の浮き等がない等の利点
を享受できることが特開昭54−18732号に開示さ
れている。 感光層の積層に続く工程を簡単に述べる。即ち必要なら
ば支持フィルムを剥離し、ハーフトーン画像、プロセス
陰画、又は陽画を通して活性光によシ画像露光する。次
に、これを適当な現像液例えば有機溶剤としては1,1
.1− )リクロルエタン等又アルカリ水溶液としては
炭素水素ナトリウム水溶液等を用いて未露光部を除去し
、基板上に画像パターンを形成する。そしてこの基板を
例えば塩化第二鉄溶液、銅アンモニア溶液、塩化第二銅
溶液、過硫酸アンモニウム溶液等を用いて露出銅面を溶
解して銅の画像パターンを形成するか、あるいは半田メ
ッキを施して半田のパターンを形成する方法が代表的プ
ロセスであるが、メッキ工程では、まず、銅直に化学的
もしくは電気化学的処理をほど仁した後、硫酸銅やピロ
リン酸等を用いた銅メッキ、さらにハンダメッキを行う
が、本発明の組成物を用いることにより、基板、特に銅
面に対する密着性が向上し、メッキもぐりに著しい改善
がみられた。特に、本発明の効果として特筆するべきこ
とは、本組成物が、各種のメッキ条件で良好な成績を収
めるという事実である。例えば銅メツキ法の代表的なも
のに、硫酸銅メッキやビロリン酸銅メッキがらり、その
前段階に於ける基板の前処理法も、酸条件、中性条件、
アルカリ条件等種々の方法がある。従来の密着助剤を用
いたものは、この内のある種の条件のメッキに対しては
良好な成績を示すが、他の条件では極めて不満足な結果
しか示さないものが多く、メッキ法の選択は制限される
ことが多かった。さらに耐メッキ性は良好であるが、銅
面への感光層の密着性が不十分であり、現像工程で画線
が流れる様な不本意な現象がみられる例もあった。 〔発明の効果〕 それに対し本発明で開示され九種々の化合物群から選ば
れた複数の密着助剤を用いた組成物では、多くのメッキ
条件で良好な成績を示し、条件の選択の巾が広がり、よ
り高性能のプリント基板を高い信頼性で作成することが
可能となった。又、特筆すべき点は、本発明で開示され
た様に複数の銅面密着剤を使用した場合には、各々の単
独成分を使用した場合よりも大きな銅面密着力を示すと
いう意外な事実である。さらに、本発明で開示された銅
面密着剤は、有機溶剤現像及びアルカリ水溶液現像の両
方のタイプのドライフィルムレジストに対し良好な効果
を与えることも、強調されるべきである。 これらの諸性能の基礎的な評価法については、実施例中
に詳しく述べるが、銅面密着性は、銅面に積層された感
光層を露光前に引張り試験器を用いて剥離してその剥離
力を測定することにょシ求められる。又、耐メッキ性に
ついては、画像を形成させた後、メッキ前処理−銅メツ
キー半田メッキを行った後まず外観検査によりレジスト
部にメッキ液、メッキ金属のもぐりの有無を確認する。 さらにテープ剥離試験を行ってレジストの剥離を試験す
る。このテープ剥離試験は極めて過酷な試験であり、若
干の剥離がみられても、現実の使用には問題ない。勿論
より高い信頼性を追求する場合は全く剥離しないことが
要求される。 さらに、ソルダーレジストとして使用する場合はこの組
成物を印刷もしくは塗布又はドライフィルムを用いた積
層法等によ抄、プリント回路板上に積層せしめ直接又は
必要ならば、マスクを通して露光を行ない必要ならば現
像を行ない、硬化レジストパターンを形成していく。そ
の後例えば250℃ないし270℃のハンダ浴に1o数
秒の間接触させ部品の端子にハンダ付けを行っていくが
、この場合もハンダもぐりの面で良好な結果を得た。 さらに本組成物は、印刷インキ、印刷板、フォトエツチ
ングによる精密部品、精密パターン板の製作等にも応用
可能なものである。 以下に実施例を示す。 〔実施例〕 参考例1 滴下p斗、温度計及びかきまぜ機を備えた2を容の四ツ
ロフラスコに、トリレンジイソシアナー) 174 t
と、乾燥メチルエチルケトン153 を及びジブチルス
ズジラウレート0.8fを加え、かきまぜながら656
fのペンタエリトリトールトリアクリレート (東亜合
成化学工業株式会社製アロエックスM−305)と、5
0fのメチルエチルケトンの混合液を、内温か35℃を
超えないように滴下した。 滴下後も40℃で30時間かきまぜを続け、赤外吸収ス
ペクトルで2270os−’付近のイソシアネート基の
特性吸収がほぼ消失したことを確認した。次に、150
tのメチルエチルケトンを加えた。この混合物をモノマ
ー1と称する。 参考例2 参考例1で用い九四ツロフラスコに、ヘキサメチレンジ
インシアナー)100F、ジブチルスズジラウレー) 
0.12 f 、メチルエチルケトン40Pを加かきま
ぜなから20fのポリエチレングリコール(平均分子量
200のもの)を2時間かけて滴下した。 この間水浴の温度と滴下速度を調節することKよシ、内
温か40℃を超えないようにした。さらに40℃で1時
間かきまぜた後、アクリル酸2−ヒドロキシエチル13
4Fを、内温か40℃を超えないように滴下した。その
後、40℃で48時間かきまぜたのち、130fのメチ
ルエチルケトンを加え均一溶液とした。この混合物をモ
ノマー2と称する。 実施例1 300−のセパラブルフラスコに、溶剤として100f
のメチルエチルケトンを入れ、バインダーとしてデルペ
ラ)8ON(旭化成工業c株)製ポリメタクリル酸メチ
ル)を加え、70℃に加熱して均一溶液とする。ここに
、参考例1で調製したモノマー1をモノマーとして68
.6 F加え、さらに開始剤としてベンゾフェノン39
.  ミヒラーズケトン0.1?、染料としてベーシッ
ク・ピュアー・フルーBOを0.1f加え均一混合溶液
を調製した。この溶液全量を以下混合液−1と称する。 混合液−1に2−メルカプトチアゾリンを0.15f、
1−フェニル−5−メルカプトテトラゾールを0.25
?加え均一とした後、ブレードコーターを用い、38μ
のポリエチレンフィルムにこの混合溶液を塗工し60℃
で30分間乾燥し厚さ50μのレジスト膜を形成せしめ
、25μの配向ポリスチレンフィルムをレジスト表面に
ローラーで張り合わせ、ドライフィルムレジストを作成
した。次に、このドラ・fフィルムレジストを整面した
銅張積層板(ガラスエポキシ基板)にポリエチレンフィ
ルムを剥離しなからAL−70011ラミネーター(旭
化成工業(株)製)を用い、90℃で加圧積層させた。 この積層体を3枚作成した。その内1枚のレジスト面を
25 wm Q K切りインストロン万能試験器を用い
、レジストを銅面から剥離するのに要する力を室温で測
定した。この値を銅面密着力と定義するが、900 f
/ 25露 であった。次に、他の2枚の積層体のレジ
スト面に200μのポジラインが1000μ間隔で描か
れたマスクを密着させ100mJ/−の強度で高圧水銀
灯を用いて露光した。次に1クロロセンで現像を行ない
未露光部(画線部)を溶解除去した。その後メッキ前処
理液として“L−5B’”を用いた条件B(この条件の
内容は、他の条件A−Fと共に最後に備考と(−て示し
た。)でメッキ前処理を行なった後、1枚は硫酸銅メッ
キ(条件D)、他の1枚はピロリン酸銅メッキ(条件E
)を行なった。次に、それぞれの板を水洗後ハンダメッ
キ(条件F)を行なった。メッキされた画線の縁にメッ
キもぐりは全く観察されなかった。次に、透明粘着テー
プをレジスト表面に強く密着させ、−気にテープを剥離
したところ画線の両側が50−120μの幅で処々剥離
したのみであった(この試験を以下テープ剥離試験と称
する)。 実施例2〜7 実施例1で調製した混合液−1に表IK示すように銅面
密着剤を加え例1と同様の方法で各試験を行なった。結
果を表1に示す。 比較例1 実施例1でallil製した混合液−1を用い、実施例
1と全く同様の操作で試験サンプルを調製した。 銅面密着力は80 f725mでおり、条件B−条件D
−条件Fの操作を行なったものは、メッキもぐりは見ら
れなかったが、テープ剥離試験では画線の縁のレジスト
が処々250〜300μの幅で剥離した。 さらに条件B −E −Fの操作を行なったものは、メ
ッキされた画線の両側のレジスト部が変色しており、メ
ッキもぐシが観察された。さらにテープ剥離試験を行な
ったところ、画線間のレジスト部分のほとんどが剥離し
た。 比較例2 混合液−1に0.5fのベンゾトリアゾールを加え、実
施例2と同様の試験を行なった。銅面密着力は90(1
f/25 mであった。又、各メッキ条件でメッキを行
なったサンプルの外観、及びテープ剥離試験の結果を表
2に示す。 表  2 実施例8〜10、比較例3 溶剤として639のメチルエチルケトン、バインダーと
して40Fのデルペット70H(旭化成工業C株)製)
、モノマーとして参考例2で調製したモノマー2を92
f1開始剤としてジインプロピルチオキサントン2F7
!、N、N−ジメチル安息香酸メチル42、染料として
グリーンC(三菱化成工業c株ン製)を0.15 F加
え、実施例1と同様に混合液を調製した(これを混合液
−2と称する)。この混合液−2に各種の密着剤を加え
、実施例1と同様の試験を行なった。結果を表3に示す
。 参考例3 2を容のセパラブルフラスコに、600−の60℃の水
を加え、12fの食塩及びメチルセルロース〔信越化学
工業製“メトローズ” SH90〜lOo ) 6 f
を溶解し、均一になってから600−の氷水を加える。 内温を再度60℃にまで上げスチレン452、メタクリ
ル酸メチル180F、メタクリル酸752.4−4′−
アゾビスイソブチロニトリル1.5fの均一混合物を加
え150 rpmで攪拌を続ける。1時間60℃で攪拌
し、さらに70℃で2時間、80℃で1時間反応ヲ行な
い400メツシユのフルイにあけ温水で十分洗浄を行な
った後80℃の熱風で乾燥し、280rのピースを得た
。このポリマーをP−3と称する。 実施例11 300111/!のセパラブルフラスコに1002のイ
ソプロパツール、参考例3で調製したP−3を502、
七ツマ−としてトリメチロールプロパントリアクリレー
ト25P1テトラエチレングリコールシアクリv −ト
15 f s開始剤としてベンゾフェノン31゜ミヒ2
−ズケトン0.2F、染料としてグリーンC0,15F
を加え均一溶液とする。この溶液を混合液−3と称する
。この混合液に銅面密着剤として0.3 Fの2−〔N
−モルホリノメルカプトコベンゾチアゾールと0.2f
の1−フェニル−5−メルカグトテト2ゾールを加え均
一にした後、ブレードコーターを用いて、25μのポリ
エチレンテレフタレートフィルムにこの液を塗布し、6
0℃で30分乾燥して厚さ40μのレジスト膜を形成せ
しめた後、25μのポリエチレンフィルムを張り合せた
。次にポリエチレンフィルムを剥離しながら、加圧ロー
ルを用い105℃で銅張積層板にレジストを積層した。 次に実施例1と同様にマスクを通じて露光し、ポリエチ
レンテレフタレートフィルムを剥離した後、2チの炭酸
ナトリウム水溶液で現像を行なった後水洗し0.5%の
希塩酸で処理、水洗、乾燥を行なった。次に条件B−条
件り一条件Fの組み合わせでメッキを行なったが、外観
試験では異常がなく又、テープ剥離試験でも、50〜1
00μ幅で処々剥離がみられるのみであった。 実施例12 テトラエチレングリコールジアクリレートの代シに25
fのモノマー1を用いる以外は実施例11と同様の操作
、試験を行なった。テープ剥離試験では70〜100μ
幅で処々剥離がみられるのみであった。 比較例4 銅面密着剤を加えない以外は実施例】1と同様の操作、
試験を行なった。テープ剥離試験では250〜300μ
の幅で連続的にレジストの剥離がみられた。 実施例13 エポキシエステル3002A (共栄社油脂製)40f
とトリメチロールプロパントリアクリレート45fと2
−ヒドロキシエチルメタクリレート15f、  1−ク
ロロチオキサントン22からなる混合液(これを混合液
−4と称する)に0.52の2−(4’−モルホリノ・
ジチオ)ベンゾチアゾールと0.52の1−フェニル−
5−メルカプトテトラゾールを加え、銅張り積層板上に
40μの厚みで塗布し、高圧水銀灯で1500mJ/c
jの露光を行なった。露光後1篩幅で10 X 10の
クロスカットを入れてテープ剥離試験を行々つたが、1
00個のマスはすべて剥離しなかった。又、他の部分を
255℃のハンダ浴に15秒接触させたが、レジスト面
のふくれは認められなかった。 比較例5 実施例13で調製し九混合液−4を用い実施例10と同
様の試験を行なった。100個のクロスカットのマスの
うち85個所は剥離し、ハンダ浴に接触後はレジストの
ふくれが観察された。 備考 実施例、比較例中のメッキ前処理条件、及びメッキ条件
は次のようである。 条件A ;シラプレー・ファー・イースト社製「ニュー
トラ・クリーンC」25チ水溶液に40℃で3分間浸漬
。 条件B;マクダミツド社製rL5BJ50m水溶液に4
0℃3分間浸漬後、15チ過硫酸アンモニウム水溶液K
1分間、さらに2%希硫酸に2分間浸漬。 条件C;ダイヤフロック社製「オーカイト90」5チ水
溶液中で50℃で2分間、4A/dm”の電流密度で電
解脱脂後、15チ過硫酸アンモニウム水溶液に1分、さ
らに20%希硫酸に2分間浸漬。 条件D;ジャパンメタルフイニツシングqsr硫酸銅コ
ンク」を19チ硫酸で3.6倍に希釈したメッキ液中で
2.5A/d−の電流密度で室温下30分メッキを行な
う。 条件E;バーショー・村山社製「ピロトンコンク」の5
0チ水治液中で55℃で30分間2.5 k/d1r?
の電流密度でメッキを行なう。 条件F;マクダメット社製のノ・ンダメツキ液(錫/鉛
= 4/6) を用い、2A/dttt’の電流密度で
10分間メッキを行なう。
[7] Hydrogen, a methyl group, an amino group, and a carboxyl group are preferable, and hydrogen, a methyl group, and a phenyl group are preferable. Furthermore, as K Furthermore, R is preferably an alkyl group having 1 to 6 carbon atoms. Preferred compound names included in Group M are specifically 2-mercaptothiazoline, 5,5-dimethyl-2-mercaptothiazoline, 4-methoxycarbonyl-5,5-dimethyl-2-
Mercagtothiazolines such as Mercagtthiazoline, 2-
Mercaptothiazole, 2-mercapto-4-methylthiazole, 2-mercapto-4-phenylthiazole,
2-mercaptothiazoles such as 2-mercapto-4,5-dimethylthiazole, 5-amino-2-mercaptothiazole, 2-mercapto-5-phenyl-1,3,4
-thiadiazole, 2,5-dimercapto-1,3,4
-thiadiazole, 5-avanor-2-mercapto-1,
3,4-thiadiazole, 5-methylamino-2-mercapto-1,3,4-thiadiazole, 5-methyl-2
-mercapto-1,3,4-thiadiazole, 3-phenyl 5-mercapto-1,2,4-thiadiazole, 3
, 5-dimercap) -1,2,4-thiadiazole and other thiadiazoles. Among these, mercaptothiazolines are more preferred. In group ■, Yl is a benzothiazyl group, a morpholif group, Y! , Yl is preferably hydrogen, methyl group, ethyl group, globyl group, butyl group, t-butyl group, cycloalkyl group, Y4 is preferably a methyl group, morpholino group, etc., and Y is particularly preferably -8Y. Further, R is preferably an alkyl group having 1 to 8 carbon atoms. Specific names of compounds included in group ■ include cyhenzothiazyl disulfide, 2-(4-morpholinodithio)
Disulfides such as benzothiazole, N, N-shefk
-2-benzothiazylsulfenamide, mido, N, N-tetravir-2-benzothiazylsulfenamide,
N,N-dicyclohexyl-2-benzothiazylsulfenamide)', N-t-butyl-2-benzothiazylsulfenamide, N-oxydiethylene-2-benzothiazylsulfenamide, N- Sulfenamides such as cyclohexyl-2-benzothiazylsulfenamide,
Further examples include 2-(S-methylmercapto)benzothiazole, among which disulfides are particularly preferred. Group 1. There is no limit to the total amount of the compounds selected from II and (2), but it is preferably 0.05 to 5% by weight, more preferably 0.2 to 2% by weight, based on the total composition. Moreover, two or more types of compounds from each group disclosed in the present invention may be used. Furthermore, the compound disclosed in the present invention, JP-A-55-65947, JP-A-55-65202, JP-A-55-65203-9, JP-A-56-51735,
JP 56-67844, JP 56-67845, JP 58-100844, JP 57-1929
Compounds disclosed in publications such as No. 46 and JP-A-53-124594j can also be used in combination. Specific examples include phthalimide, 7-talazone, indazole, acetoguanamine, benzoguanamine, monoazaindole, diphenylcarbazone, 2,4.6-)rimercaptotriazine, thiobarbital acid, and thiohydantoin. The photoreactive composition is an ethylenically unsaturated compound (hereinafter referred to as
monomer) and a suitable binder thereto, the monomer has at least two carbon-carbon double bonds, forms a polymer with a photoinitiator, is non-gaseous, and is resistant to atmospheric pressure. and has a boiling point of 100°C or higher. Examples of such ethylenically unsaturated compounds are (meth)acrylic acid esters, (methaneacrylamide, allyl compounds, vinyl ether compounds, vinyl ester compounds, cinnamic acid, maleic acid, hexamaric acid and esters thereof, etc.). (Meth)acrylic acid esters include polyhydric alcohols such as poly(meth)acrylates (poly here refers to compounds greater than di(meth)acrylates),
Polyhydric alcohols include polyethylene glycol, polypropylene glycol, neopentyl glycol, trimethylolpropane, pentaerythritol, butanediol, and trimethylolethane. Moreover, urethane (meth)acrylate is mentioned as a preferable monomer. This has a hydroxyl group (meta)
It is an addition product of acrylate or (meth)acrylamide and a compound having two or more incyanato groups, and these (meth)acrylates include 2-hydroxyethyl (meth)acrylate, 2-hydroxypropyl (meth)acrylate , polyethylene glycol mono(meth)acrylate, 2-hydroxy-3-phenoxyprobyl (meth)acrylate, and the like. Furthermore, as an amide, there is hydroxymethyl (meth)acrylamide. Furthermore, urethane (meth)acrylate obtained by reacting a polyisocyanate obtained by reacting a polyol such as polyethylene glycol, polypropylene glycol, etc. with a diisocyanate of twice or more equivalent amount and a (meth)acrylate having a hydroxyl group. etc. are also valid. Examples of compounds having two or more incyanato groups include hexamethylene diisocyanate, tolylene diisocyanate, inphorone diisocyanate, xylylene diisocyanate, 4,4'-diisocyanate diphenylmethane, and urethanes of these. (Meth)acrylates and the like are detailed in Japanese Patent Application No. 80445/1983. When these urethane (meth)acrylates are used,
It is noteworthy that the effect of the compound represented by structural formula (1) on plating resistance is further increased. Further examples of salts that can be used include phthalic acid, adipic acid,
Diallyl esters such as malonic acid, divinyl esters such as divinyl succinate, divinyl adipate, and divinyl phthalate, acid phosphoxydiethyl methacrylate, 3-chloro-2-acid phosphoxypropyl methacrylate, 2-bismethacryloxyethyl phosphate, -bisacryloxyphosphate, cinnamate esters, maleate esters, fumarate esters,
There are phenylmaleimide, etc. The amount of these monomers is preferably 10 to 99 by weight based on the total composition, and K is 20
There is no restriction on the use of two or more monomers having a preferable value of % or sob of 0 or more. Photopolymerization initiators or sensitizers useful for photoreactive compositions may be those commonly used, but ethylenic initiators or sensitizers may be used. Those suitable for the polymerization of saturated compounds include anthraquinone, anthraquinone derivatives such as 2-methylanthraquinone and 2-ethylanthraquinone, benzoin, benzoin derivatives such as benzoin methyl ether and benzoin ethyl ether, chlorthioxanthone,
Thioxanthone derivatives such as diisoprobyl thiogysanthone, benzophenone, phenanthrenequinone, Michler's ketone (4,4'-bis(dimethylamino)benzophenone), etc. There is no limit to the amount of these photopolymerization initiators used, but it is preferably 0.02% to 15%, more preferably 0.1%.
It is between 1 and 10. Preferably, the composition of the present invention contains a thermoplastic organic polymer binder, which is compatible with the ethylenically unsaturated compound.
The combination is determined naturally, but the binder used in the present invention is a polymer or copolymer of vinyl monomers such as polymethyl methacrylate, polystyrene, polyvinyl chloride, chlorinated polyethylene, polyvinyl acetate, polyvinyl alcohol, and polyvinyl butyral. is preferred. In particular, when developing with an alkaline aqueous solution, copolymers of acrylic acid, methacrylic acid, itaconic acid, etc. are preferred. The amount used is preferably 5% to 80cm,
More preferably, it is 20% to 60%. When using this composition as a solder resist, it is recommended that no binder be used or that a small amount of binder be used. In addition, polymerization inhibitors to prevent thermal polymerization during storage of the photoreactive composition, dyes, pigments, photosensitive color change agents, plasticizers, flame retardants, etc. to make the resist visible may also be used. No problem. Here, as a dye, for example, basic dye
Pure Blue BO. Basic dyes such as Malachite Green, Victoria Blue, Brilliant Green α, C, 1, Solvent, etc.
Clean 3, C, 1, Solvent Blue 21, C) ■
and oil-based dyes such as Solvent Blue 36. The method of forming a film of the photoreactive composition of the present invention on a substrate includes a method of applying a solution of the composition onto a substrate and drying it;
There is a method in which a laminate obtained by coating on a suitable film and drying is laminated on a substrate using a heated roll or the like. The latter laminate is generally referred to as a dry film, but many books have a structure in which a photosensitive composition is sandwiched between two layers of film, and when laminating on a substrate, one film must be removed. Laminate while peeling. This release film may include polyethylene, polypropylene, cellophane, films laminated with other films, and
There are peelable films disclosed in Japanese Patent Application No. 76190. The laminated resist is covered with another film called a support film, and generally a mask is placed on top of this film and exposed. This supporting film includes polyethylene terephthalate, polyvinyl alcohol, polyvinyl chloride, polyvinylidene chloride, polystyrene, polymethyl methacrylate,
Examples include films made of polyamide, polyacrylonitrile, polyvinyl alcohol, and copolymers of these, but in particular, using materials that dissolve the developer used can help automate the process and prevent image lifting during peeling. It is disclosed in JP-A-54-18732 that the advantages can be enjoyed. The steps following the lamination of the photosensitive layer will be briefly described. That is, the support film is peeled off, if necessary, and imagewise exposed to actinic light through a halftone image, process negative, or positive. Next, this is mixed with a suitable developer such as an organic solvent of 1,1
.. 1-) An image pattern is formed on the substrate by removing the unexposed portion using lychloroethane or the like, or an aqueous alkali solution such as a sodium bicarbonate solution. Then, the exposed copper surface of this substrate is dissolved using a ferric chloride solution, cupric ammonia solution, cupric chloride solution, ammonium persulfate solution, etc. to form a copper image pattern, or solder plating is applied. The typical process is to form a solder pattern, but in the plating process, the copper is first subjected to chemical or electrochemical treatment, then copper plating using copper sulfate, pyrophosphoric acid, etc. Solder plating is performed, and by using the composition of the present invention, the adhesion to the substrate, especially the copper surface, was improved, and a significant improvement in plating penetration was observed. Particularly noteworthy as an effect of the present invention is the fact that the present composition achieves good results under various plating conditions. For example, typical copper plating methods include copper sulfate plating and copper birophosphate plating, and the pretreatment methods for the substrate in the previous stage include acid conditions, neutral conditions,
There are various methods such as alkaline conditions. Conventional methods using adhesion aids show good results when plating under certain conditions, but under other conditions they often show very unsatisfactory results, making it difficult to choose a plating method. were often restricted. Furthermore, although the plating resistance was good, the adhesion of the photosensitive layer to the copper surface was insufficient, and in some cases, undesirable phenomena such as image lines flowing during the development process were observed. [Effects of the Invention] On the other hand, the composition disclosed in the present invention using a plurality of adhesion aids selected from nine different compound groups shows good results under many plating conditions, and the range of conditions selection is wide. This has made it possible to create higher-performance printed circuit boards with higher reliability. Also noteworthy is the surprising fact that when multiple copper surface adhesives are used as disclosed in the present invention, greater adhesion to the copper surface is exhibited than when each component is used alone. It is. Furthermore, it should be emphasized that the copper surface adhesive disclosed in the present invention provides good effects on both organic solvent developed and alkaline aqueous developed types of dry film resists. The basic evaluation method of these various performances will be described in detail in the examples, but the adhesion to the copper surface was measured by peeling off the photosensitive layer laminated on the copper surface using a tensile tester before exposure. Required for measuring force. Regarding plating resistance, after forming an image and performing plating pre-treatment - copper metal key solder plating, the presence or absence of plating liquid and plating metal in the resist area is checked by visual inspection. Furthermore, a tape peel test is performed to test for resist peeling. This tape peeling test is an extremely severe test, and even if some peeling is observed, there is no problem in actual use. Of course, if higher reliability is sought, it is required that no peeling occurs at all. Furthermore, when used as a solder resist, this composition is printed, coated, or laminated using a dry film, and then laminated onto a printed circuit board and exposed directly or, if necessary, through a mask. Development is performed to form a hardened resist pattern. Thereafter, the terminals of the components were soldered by contacting them with a solder bath at 250° C. to 270° C. for several seconds, for example, and good results were obtained in terms of solder penetration in this case as well. Furthermore, this composition can be applied to the production of printing inks, printing plates, precision parts by photoetching, precision pattern plates, etc. Examples are shown below. [Example] Reference Example 1 Tolylene diisocyaner (tolylene diisocyaner) 174 t was placed in a 2-volume four-cylinder flask equipped with a dropping pouch, a thermometer, and a stirrer.
Add 153% of dry methyl ethyl ketone and 0.8f of dibutyltin dilaurate, and add 656% of dry methyl ethyl ketone while stirring.
pentaerythritol triacrylate of f (Aloex M-305 manufactured by Toagosei Chemical Industry Co., Ltd.), and
A mixed solution of 0f methyl ethyl ketone was added dropwise so that the internal temperature did not exceed 35°C. Stirring was continued for 30 hours at 40° C. after the dropwise addition, and it was confirmed in the infrared absorption spectrum that the characteristic absorption of the isocyanate group near 2270 os−′ had almost disappeared. Next, 150
t of methyl ethyl ketone was added. This mixture is called Monomer 1. Reference Example 2 Into the 94 flask used in Reference Example 1, hexamethylene diyne cyanide (100F) and dibutyltin dilaure (100F) were added.
After stirring 0.12 f methyl ethyl ketone 40P, 20 f polyethylene glycol (average molecular weight 200) was added dropwise over 2 hours. During this time, the temperature of the water bath and the dropping rate were adjusted so that the internal temperature did not exceed 40°C. After further stirring at 40°C for 1 hour, 2-hydroxyethyl acrylate 13
4F was added dropwise so that the internal temperature did not exceed 40°C. Thereafter, after stirring at 40°C for 48 hours, 130f of methyl ethyl ketone was added to form a homogeneous solution. This mixture is called Monomer 2. Example 1 100f as a solvent was added to a 300mm separable flask.
methyl ethyl ketone was added as a binder, and polymethyl methacrylate (DELPERA) 8ON (manufactured by Asahi Kasei Kogyo C Co., Ltd.) was added thereto as a binder, and the mixture was heated to 70°C to form a homogeneous solution. Here, monomer 1 prepared in Reference Example 1 was used as a monomer of 68
.. 6 F plus benzophenone 39 as an initiator.
.. Michler's Ketone 0.1? A uniform mixed solution was prepared by adding 0.1 f of Basic Pure Flu BO as a dye. The total amount of this solution is hereinafter referred to as mixed solution-1. Mixed liquid-1 contains 0.15f of 2-mercaptothiazoline,
0.25 1-phenyl-5-mercaptotetrazole
? After adding it evenly, use a blade coater to coat it with 38μ
Coat this mixed solution on a polyethylene film and heat it at 60°C.
The resist was dried for 30 minutes to form a resist film with a thickness of 50 μm, and a 25 μm oriented polystyrene film was laminated onto the resist surface using a roller to prepare a dry film resist. Next, the polyethylene film was peeled off from the copper-clad laminate (glass epoxy board) prepared with this Dora/F film resist, and then the film was pressed at 90°C using an AL-70011 laminator (manufactured by Asahi Kasei Corporation). Laminated. Three pieces of this laminate were created. One of the resist surfaces was cut at 25 wm QK using an Instron universal tester, and the force required to peel the resist from the copper surface was measured at room temperature. This value is defined as the copper surface adhesion force, and is 900 f
/ 25 dew. Next, a mask in which positive lines of 200 μm were drawn at intervals of 1000 μm was brought into close contact with the resist surfaces of the other two laminates, and exposure was performed using a high-pressure mercury lamp at an intensity of 100 mJ/−. Next, development was performed with 1 chlorocene to dissolve and remove the unexposed area (image area). After that, after performing plating pretreatment under condition B using "L-5B'" as the plating pretreatment liquid (the contents of this condition are shown with a note (-) at the end along with other conditions A-F). , one sheet is copper sulfate plated (condition D), the other sheet is copper pyrophosphate plated (condition E).
) was carried out. Next, each plate was washed with water and solder plated (condition F). No plating was observed at the edge of the plated image. Next, the transparent adhesive tape was tightly adhered to the resist surface, and when the tape was peeled off, it was found that both sides of the image line were only peeled off in places with a width of 50-120μ (this test is hereinafter referred to as tape peeling test). ). Examples 2 to 7 Each test was conducted in the same manner as in Example 1 by adding a copper surface adhesive as shown in Table IK to the mixed solution-1 prepared in Example 1. The results are shown in Table 1. Comparative Example 1 A test sample was prepared in exactly the same manner as in Example 1 using the mixed liquid-1 manufactured by Allil in Example 1. The adhesion force to the copper surface is 80 f725m, condition B - condition D
- In the case where the operation under condition F was performed, no plating was observed, but in the tape peeling test, the resist at the edge of the image was peeled off in a width of 250 to 300 μ in some places. Further, in the case where the operations under conditions B-E-F were performed, the resist portions on both sides of the plated image were discolored, and plating stains were observed. Furthermore, when a tape peeling test was conducted, most of the resist portions between the images were peeled off. Comparative Example 2 A test similar to Example 2 was conducted by adding 0.5 f of benzotriazole to Mixed Liquid-1. Copper surface adhesion strength is 90 (1
It was f/25 m. Further, Table 2 shows the appearance of the samples plated under each plating condition and the results of the tape peel test. Table 2 Examples 8 to 10, Comparative Example 3 639 methyl ethyl ketone as the solvent, 40F Delpet 70H (manufactured by Asahi Kasei Corporation C) as the binder
, Monomer 2 prepared in Reference Example 2 was used as a monomer at 92
Diinpropylthioxanthone 2F7 as f1 initiator
! , N,N-dimethylbenzoate methyl 42, and 0.15 F of Green C (manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation C Co., Ltd.) as a dye were added to prepare a mixed solution in the same manner as in Example 1 (this was mixed with mixed solution-2). ). Various adhesive agents were added to this mixed solution-2, and the same tests as in Example 1 were conducted. The results are shown in Table 3. Reference Example 3 To a separable flask with a capacity of 2, add 600 - 60°C water, add 12 f of common salt and methyl cellulose (Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. "Metrose" SH90-100) 6 f
Dissolve it and add 600ml of ice water after it becomes homogeneous. Raise the internal temperature to 60°C again, Styrene 452, Methyl methacrylate 180F, Methacrylic acid 752.4-4'-
Add a homogeneous mixture of 1.5 f of azobisisobutyronitrile and continue stirring at 150 rpm. Stir at 60°C for 1 hour, react at 70°C for 2 hours, and at 80°C for 1 hour, pour into a 400 mesh sieve, wash thoroughly with warm water, and dry with hot air at 80°C to obtain a 280r piece. Ta. This polymer is designated P-3. Example 11 300111/! In a separable flask, 1002 isopropanol, 502 P-3 prepared in Reference Example 3,
trimethylolpropane triacrylate 25P1 as a 7-mer; tetraethylene glycol cyacrylate 15; benzophenone 31° as an initiator;
- Zuketone 0.2F, green C0.15F as dye
Add to make a homogeneous solution. This solution is called mixed solution-3. Add 0.3F 2-[N
-morpholinomercaptocobenzothiazole and 0.2f
After adding 1-phenyl-5-mercagtoteto disol and making it uniform, this solution was applied to a 25μ polyethylene terephthalate film using a blade coater.
After drying at 0° C. for 30 minutes to form a resist film with a thickness of 40 μm, a 25 μm polyethylene film was laminated thereon. Next, while peeling off the polyethylene film, a resist was laminated on the copper-clad laminate at 105° C. using a pressure roll. Next, the film was exposed to light through a mask in the same manner as in Example 1, and the polyethylene terephthalate film was peeled off. After that, development was performed with a 2-liter aqueous sodium carbonate solution, followed by washing with water, treatment with 0.5% diluted hydrochloric acid, washing with water, and drying. . Next, plating was carried out under the combination of Condition B - Condition 1 Condition F, but there was no abnormality in the appearance test, and the tape peeling test showed 50 to 1
Only peeling was observed here and there at a width of 00μ. Example 12 25 in place of tetraethylene glycol diacrylate
The same operations and tests as in Example 11 were performed except that monomer 1 of f was used. 70-100μ in tape peel test
Only peeling was observed here and there along the width. Comparative Example 4 Same operation as in Example 1 except that copper surface adhesive was not added.
I conducted a test. 250-300μ in tape peel test
Continuous peeling of the resist was observed over a width of . Example 13 Epoxy ester 3002A (manufactured by Kyoeisha Yushi) 40f
and trimethylolpropane triacrylate 45f and 2
0.52 of 2-(4'-morpholino
dithio)benzothiazole and 0.52 1-phenyl-
Add 5-mercaptotetrazole, apply it to a thickness of 40μ on a copper-clad laminate, and apply 1500mJ/c using a high-pressure mercury lamp.
j exposure was performed. After exposure, a 10 x 10 cross cut was made with 1 sieve width and a tape peeling test was performed.
All 00 squares did not peel off. Further, other parts were brought into contact with a solder bath at 255° C. for 15 seconds, but no blistering on the resist surface was observed. Comparative Example 5 The same test as in Example 10 was conducted using Mixed Liquid-4 prepared in Example 13. Out of 100 cross-cut squares, 85 were peeled off, and blistering of the resist was observed after contact with the solder bath. Remarks The plating pretreatment conditions and plating conditions in Examples and Comparative Examples are as follows. Condition A: Immersed in a 25% aqueous solution of "Nutra Clean C" manufactured by Silapray Far East Co., Ltd. at 40°C for 3 minutes. Condition B;
After immersion at 0°C for 3 minutes, 15 ammonium thipersulfate aqueous solution K
Immerse for 1 minute, then 2 minutes in 2% dilute sulfuric acid. Condition C: After electrolytic degreasing in a 50% aqueous solution of Diafloc's "Okite 90" at 50°C for 2 minutes at a current density of 4A/dm, electrolytic degreasing was carried out in a 15% ammonium persulfate aqueous solution for 1 minute, and then in a 20% dilute sulfuric acid solution for 2 minutes. Condition D: Plating was carried out at room temperature for 30 minutes at a current density of 2.5 A/d- in a plating solution prepared by diluting "Japan Metal Finishing QSR Copper Sulfate Conc" 3.6 times with 19-thiosulfuric acid. Condition E: 5 of “Piroton Conch” manufactured by Barshaw Murayama Co., Ltd.
2.5 k/d1r for 30 minutes at 55°C in 0-chi flood control solution?
Plating is carried out at a current density of . Condition F: Plating is performed for 10 minutes at a current density of 2 A/dttt' using a non-dammet plating solution (tin/lead = 4/6) manufactured by McDammet.

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] (1)(a)少なくとも2個の炭素−炭素二重結合を有
し、光重合開始剤によって重合体を形成できる、非ガス
状不飽和化合物、 (b)活性光によって活性化し得る光重合開始剤、 (c)構造式( I )、(II)及び(III)で示される各
化合物群のうちの少なくとも二種の化合物群から選ばれ
た化合物の混合物 よりなる感光性組成物。 ▲数式、化学式、表等があります▼( I ) (ここでVは炭素数5ないし20のアルキル基、シクロ
アルキル基、炭素数6ないし20のアリール基、アルキ
ルアリール基、アリールアルキル基、Wは無置換、又は
全炭素数が1ないし15のアルキル基、アリール基の置
換した単結合又は二重結合で直鎖状に結合した2個又は
3個の炭素又は窒素、又は炭素数6ないし14のオルト
又はペリ位に2価のアリール基。) ▲数式、化学式、表等があります▼(II) (ここでXは、▲数式、化学式、表等があります▼、▲
数式、化学式、表等があります▼、▲数式、化学式、表
等があります▼ 又は▲数式、化学式、表等があります▼であり、C_1
、C_2は共に炭素でC_1はSと結合し、C_2はN
と結合する。X_1、X_2は水素又はR、X_3は水
素又はR、X_4は水素、R、アミノ基、カルボキシル
基、X_5は水素、R、又はフェニル基、X_6は水素
、R、アミノ基、▲数式、化学式、表等があります▼、
S−CH_2−COOH、メルカプト基、フェニル基、
X_7は水素、R又はフェニル基、Rは炭素数1ないし
8のアルキル基。) ▲数式、化学式、表等があります▼(III) (ここでYは、−SY_1、▲数式、化学式、表等があ
ります▼、−Y_4であり、Y_1は▲数式、化学式、
表等があります▼、▲数式、化学式、表等があります▼
、▲数式、化学式、表等があります▼、Y_2は水素、
R、シクロアルキル基、Y_3はR、シクロアルキル基
、Y_4はR、▲数式、化学式、表等があります▼であ
り、Rは炭素数1ないし8のアルキル基。)
(1) (a) a non-gaseous unsaturated compound having at least two carbon-carbon double bonds and capable of forming a polymer with a photoinitiator; (b) a photoinitiator that can be activated by actinic light; (c) a mixture of compounds selected from at least two compound groups represented by structural formulas (I), (II), and (III). ▲There are mathematical formulas, chemical formulas, tables, etc.▼(I) (Here, V is an alkyl group having 5 to 20 carbon atoms, a cycloalkyl group, an aryl group having 6 to 20 carbon atoms, an alkylaryl group, an arylalkyl group, and W is an arylalkyl group. Unsubstituted or substituted with an alkyl group or aryl group having 1 to 15 carbon atoms, 2 or 3 carbons or nitrogen connected in a straight chain with single or double bonds, or having 6 to 14 carbon atoms Divalent aryl group at the ortho or peri position.) ▲There are mathematical formulas, chemical formulas, tables, etc.▼(II) (Here, X is ▲There are mathematical formulas, chemical formulas, tables, etc.▼, ▲
There are mathematical formulas, chemical formulas, tables, etc.▼, ▲There are mathematical formulas, chemical formulas, tables, etc.▼ or ▲There are mathematical formulas, chemical formulas, tables, etc.▼, and C_1
, C_2 are both carbon, C_1 is bonded to S, and C_2 is N
Combine with. X_1, X_2 are hydrogen or R, X_3 is hydrogen or R, X_4 is hydrogen, R, amino group, carboxyl group, X_5 is hydrogen, R, or phenyl group, X_6 is hydrogen, R, amino group, ▲ Numerical formula, chemical formula, There are tables etc.▼,
S-CH_2-COOH, mercapto group, phenyl group,
X_7 is hydrogen, R or a phenyl group, and R is an alkyl group having 1 to 8 carbon atoms. ) ▲There are mathematical formulas, chemical formulas, tables, etc.▼(III) (Here, Y is -SY_1, ▲There are mathematical formulas, chemical formulas, tables, etc.▼, -Y_4, and Y_1 is ▲Mathematical formulas, chemical formulas,
There are tables, etc. ▼, ▲ There are mathematical formulas, chemical formulas, tables, etc. ▼
, ▲There are mathematical formulas, chemical formulas, tables, etc. ▼, Y_2 is hydrogen,
R is a cycloalkyl group, Y_3 is R, a cycloalkyl group, Y_4 is R, ▲numerical formula, chemical formula, table, etc.▼, and R is an alkyl group having 1 to 8 carbon atoms. )
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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01223444A (en) * 1988-03-02 1989-09-06 Toyobo Co Ltd Photopolymerizable composition
JPH0284652A (en) * 1988-09-21 1990-03-26 Hitachi Chem Co Ltd Photosensitive resin composition and laminate composed of photosensitive resin composition
EP0675411A1 (en) * 1994-03-31 1995-10-04 Hitachi Chemical Company, Ltd. Photosensitive resin composition and photosensitive film using the same
JP2007328049A (en) * 2006-06-06 2007-12-20 Nitto Denko Corp Photosensitive resin composition and wiring circuit board obtained by using the same

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