JPS6156469B2 - - Google Patents
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- JPS6156469B2 JPS6156469B2 JP5078480A JP5078480A JPS6156469B2 JP S6156469 B2 JPS6156469 B2 JP S6156469B2 JP 5078480 A JP5078480 A JP 5078480A JP 5078480 A JP5078480 A JP 5078480A JP S6156469 B2 JPS6156469 B2 JP S6156469B2
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- 238000012937 correction Methods 0.000 claims description 61
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 claims description 35
- 239000013598 vector Substances 0.000 claims description 32
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims description 23
- 230000004044 response Effects 0.000 claims description 4
- 230000002194 synthesizing effect Effects 0.000 claims description 3
- 238000013139 quantization Methods 0.000 description 12
- 238000000034 method Methods 0.000 description 6
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 101001123534 Nicotiana tabacum Putrescine N-methyltransferase 2 Proteins 0.000 description 3
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 3
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 3
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 2
- 230000005251 gamma ray Effects 0.000 description 2
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 2
- 101150036326 PMT2 gene Proteins 0.000 description 1
- 206010036618 Premenstrual syndrome Diseases 0.000 description 1
- 101100043108 Schizosaccharomyces pombe (strain 972 / ATCC 24843) spb1 gene Proteins 0.000 description 1
- 238000003745 diagnosis Methods 0.000 description 1
- 230000006870 function Effects 0.000 description 1
- 230000001771 impaired effect Effects 0.000 description 1
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 238000005070 sampling Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
- G01T1/00—Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
- G01T1/16—Measuring radiation intensity
- G01T1/161—Applications in the field of nuclear medicine, e.g. in vivo counting
- G01T1/164—Scintigraphy
- G01T1/1641—Static instruments for imaging the distribution of radioactivity in one or two dimensions using one or several scintillating elements; Radio-isotope cameras
- G01T1/1642—Static instruments for imaging the distribution of radioactivity in one or two dimensions using one or several scintillating elements; Radio-isotope cameras using a scintillation crystal and position sensing photodetector arrays, e.g. ANGER cameras
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- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Radiography Using Non-Light Waves (AREA)
- Nuclear Medicine (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は位置計算における非線形性を補正し均
一性の良い診断像を得るようにしたシンチレーシ
ヨンカメラに関するものである。
一性の良い診断像を得るようにしたシンチレーシ
ヨンカメラに関するものである。
第１図はシンチレーシヨンカメラの基本構成例
を示すブロツク図である。図において１は通常の
場合、NaI（Tl）等からなるシンチレータであ
り、入射したγ線をフオトマルチプライヤ２（以
下「PMT」と略称する）で計測し得る波長を有
する複数個の光子（フオトン）に変換する。これ
をシンチレーシヨンという。３はシンチレータ１
におけるシンチレーシヨンの光をPMT２に導く
ライトガイドである。これらシンチレータ１、
PMT２、およびライトガイド３によつて放射線
検出器を構成している。また、４は各PMT２の
出力に基づく位置計算を行ないシンチレーシヨン
位置の座標を示す一対の位置信号Ｘ，Ｙを得る位
置計算回路、５はPMT２の出力の総和から入射
γ線のエネルギを求めその値が予じめ設定された
検出すべきエネルギ範囲であるか否かを判別し予
定エネルギ範囲内であると判断すると輝点表示を
行なうためのアンブランク信号Ｕを出力する波高
分析器（以下「PHA」と略称する）、６は位置信
号Ｘ，Ｙに対応する点をアンブランク信号Ｕに応
動してたとえばブラウン管に輝点表示する表示器
である。
を示すブロツク図である。図において１は通常の
場合、NaI（Tl）等からなるシンチレータであ
り、入射したγ線をフオトマルチプライヤ２（以
下「PMT」と略称する）で計測し得る波長を有
する複数個の光子（フオトン）に変換する。これ
をシンチレーシヨンという。３はシンチレータ１
におけるシンチレーシヨンの光をPMT２に導く
ライトガイドである。これらシンチレータ１、
PMT２、およびライトガイド３によつて放射線
検出器を構成している。また、４は各PMT２の
出力に基づく位置計算を行ないシンチレーシヨン
位置の座標を示す一対の位置信号Ｘ，Ｙを得る位
置計算回路、５はPMT２の出力の総和から入射
γ線のエネルギを求めその値が予じめ設定された
検出すべきエネルギ範囲であるか否かを判別し予
定エネルギ範囲内であると判断すると輝点表示を
行なうためのアンブランク信号Ｕを出力する波高
分析器（以下「PHA」と略称する）、６は位置信
号Ｘ，Ｙに対応する点をアンブランク信号Ｕに応
動してたとえばブラウン管に輝点表示する表示器
である。
しかしながら、一般にこの種のシンチレーシヨ
ンカメラにおけるシンチレーシヨン位置の検出は
充分な線形性を得ることが容易でなく、検出器の
特性、その調整状態等によつて異なる非線形特性
を示す。このような非線形性を補正するために
は、例えば抵抗マトリクスを用いたアンガー型の
装置では前置増幅回路に非線形特性を有するもの
を用い、また遅延線方式の装置では時間軸で位置
計算する際の波形の調整等により補正することが
従来より行なわれているが、いずれも充分な結果
を得ることは容易ではなかつた。この非線形性と
は、この非線形性に起因する位置計算結果のバラ
ツキによつて位置検出の均一性が損なわれ、位置
計算の結果画像上にPMTの位置がホツトスポツ
トとして表われたり、コールドスポツトとして表
われたりすることを意味している。また、このよ
うな非線形性にはPMT相互間のバランスのくず
れ、種々の経時変化等に起因するものも含まれ
る。このような非線形性によつて測定精度が低下
し、正確な診断が行なえなくなる。
ンカメラにおけるシンチレーシヨン位置の検出は
充分な線形性を得ることが容易でなく、検出器の
特性、その調整状態等によつて異なる非線形特性
を示す。このような非線形性を補正するために
は、例えば抵抗マトリクスを用いたアンガー型の
装置では前置増幅回路に非線形特性を有するもの
を用い、また遅延線方式の装置では時間軸で位置
計算する際の波形の調整等により補正することが
従来より行なわれているが、いずれも充分な結果
を得ることは容易ではなかつた。この非線形性と
は、この非線形性に起因する位置計算結果のバラ
ツキによつて位置検出の均一性が損なわれ、位置
計算の結果画像上にPMTの位置がホツトスポツ
トとして表われたり、コールドスポツトとして表
われたりすることを意味している。また、このよ
うな非線形性にはPMT相互間のバランスのくず
れ、種々の経時変化等に起因するものも含まれ
る。このような非線形性によつて測定精度が低下
し、正確な診断が行なえなくなる。
そこで、このような非線形性を効果的に補正し
均一性の優れた画像を得るための方法として次に
述べるような方法がある。
均一性の優れた画像を得るための方法として次に
述べるような方法がある。
すなわち、位置計算回路から出力される座標軸
毎の位置信号により形成される座標空間の予定の
空間格子点毎の格子点補正ベクトルを予じめ記憶
しておき、シンチレーシヨンイベント毎に当該位
置信号をアナログ／デイジタル変換（以下「Ａ／
Ｄ変換」と略称する）し、このデイジタル化され
た位置信号に対応する座標点を含む単位格子領域
の各格子点における前記格子点補正ベクトルに基
づいて前記座標点に対応する入力点補正ベクトル
を求めこれをアナログ的に又はデイジタル的に前
記位置計算回路から出力される位置信号に加算合
成することにより位置計算における非線形性を補
正する方法である。この方法によれば、非線形性
の補正をデータ処理的に行なうので、経時変化等
に対する再調整も比較的容易に行なえ、しかも分
解能、画質等を損なうことなく高精度に補正が行
なえるという利点がある。
毎の位置信号により形成される座標空間の予定の
空間格子点毎の格子点補正ベクトルを予じめ記憶
しておき、シンチレーシヨンイベント毎に当該位
置信号をアナログ／デイジタル変換（以下「Ａ／
Ｄ変換」と略称する）し、このデイジタル化され
た位置信号に対応する座標点を含む単位格子領域
の各格子点における前記格子点補正ベクトルに基
づいて前記座標点に対応する入力点補正ベクトル
を求めこれをアナログ的に又はデイジタル的に前
記位置計算回路から出力される位置信号に加算合
成することにより位置計算における非線形性を補
正する方法である。この方法によれば、非線形性
の補正をデータ処理的に行なうので、経時変化等
に対する再調整も比較的容易に行なえ、しかも分
解能、画質等を損なうことなく高精度に補正が行
なえるという利点がある。
第２図はこの方法を用いたシンチレーシヨンカ
メラの具体的な一例の構成を示すものである。
メラの具体的な一例の構成を示すものである。
第２図において、第１図と同様の部分には同一
符号を付してその詳細な説明を省略する。そし
て、１１および１２はそれぞれ位置計算回路４か
ら位置信号ＸおよびＹが与えられこれらをデイジ
タル値に変換するＡ／Ｄ変換器である。１３はシ
ンチレーシヨン位置座標空間における予定の空間
格子点毎に当該格子点に対応する入力位置信号を
補正するための格子点補正ベクトルデータが予じ
め記憶されたメモリである。このメモリ１３に記
憶される格子点補正ベクトルは例えば平面上に規
則正しく配列された線源について測定を行ない位
置計算の結果と現実の線源位置との比較に基づい
て予じめ求めたもので、位置計算による位置座標
に対しどのような補正を加えればよいかというこ
とをあらわすものである。また、１４はメモリ１
３に記憶された格子点補正ベクトルデータに基づ
き実際に補正すべき量を後述のごとく補間計算等
によつて求める補正量計算回路、１５，１６は補
正量計算回路１４で求められた補正量を位置信号
Ｘ，Ｙそれぞれについてデイジタル／アナログ変
換（以下「Ｄ／Ａ変換」と略称する）するＤ／Ａ
変換器、１７，１８は位置計算回路４の出力位置
信号Ｘ，ＹにＤ／Ａ変換器１５，１６の出力をそ
れぞれ加算する加算回路である。そして、加算回
路１７，１８の出力およびPHA５の出力が表示
器６に与えられ表示が行なわれる。
符号を付してその詳細な説明を省略する。そし
て、１１および１２はそれぞれ位置計算回路４か
ら位置信号ＸおよびＹが与えられこれらをデイジ
タル値に変換するＡ／Ｄ変換器である。１３はシ
ンチレーシヨン位置座標空間における予定の空間
格子点毎に当該格子点に対応する入力位置信号を
補正するための格子点補正ベクトルデータが予じ
め記憶されたメモリである。このメモリ１３に記
憶される格子点補正ベクトルは例えば平面上に規
則正しく配列された線源について測定を行ない位
置計算の結果と現実の線源位置との比較に基づい
て予じめ求めたもので、位置計算による位置座標
に対しどのような補正を加えればよいかというこ
とをあらわすものである。また、１４はメモリ１
３に記憶された格子点補正ベクトルデータに基づ
き実際に補正すべき量を後述のごとく補間計算等
によつて求める補正量計算回路、１５，１６は補
正量計算回路１４で求められた補正量を位置信号
Ｘ，Ｙそれぞれについてデイジタル／アナログ変
換（以下「Ｄ／Ａ変換」と略称する）するＤ／Ａ
変換器、１７，１８は位置計算回路４の出力位置
信号Ｘ，ＹにＤ／Ａ変換器１５，１６の出力をそ
れぞれ加算する加算回路である。そして、加算回
路１７，１８の出力およびPHA５の出力が表示
器６に与えられ表示が行なわれる。
このような構成において、実際に非線形性を補
正した像を得る手順は次のようになる。
正した像を得る手順は次のようになる。
まず、位置計算回路４の位置信号Ｘ，ＹはＡ／
Ｄ変換器１１，１２でデイジタル値に変換され、
この位置信号Ｘ，Ｙに対応する入射γ線が、
PHA５により所要のエネルギのγ線であると判
断された場合は、メモリ１３から前記位置信号
Ｘ，Ｙにより座標点を含む単位格子領域の各格子
点に対応する４点（xi，yj）（xi，ｙj+1），（ｘi+
１，ｙj+1），（ｘi+1，yj）についての格子点補正
をベクトルが読み出され補正量計算回路１４によ
つて補正すべき量が求められる。この結果が位置
信号Ｘ，ＹそれぞれについてＤ／Ａ変換器１５，
１６でアナログ値に変換されこれらが加算回路１
７，１８で位置信号Ｘ，Ｙに加算され表示器６に
輝点等として表示される。
Ｄ変換器１１，１２でデイジタル値に変換され、
この位置信号Ｘ，Ｙに対応する入射γ線が、
PHA５により所要のエネルギのγ線であると判
断された場合は、メモリ１３から前記位置信号
Ｘ，Ｙにより座標点を含む単位格子領域の各格子
点に対応する４点（xi，yj）（xi，ｙj+1），（ｘi+
１，ｙj+1），（ｘi+1，yj）についての格子点補正
をベクトルが読み出され補正量計算回路１４によ
つて補正すべき量が求められる。この結果が位置
信号Ｘ，ＹそれぞれについてＤ／Ａ変換器１５，
１６でアナログ値に変換されこれらが加算回路１
７，１８で位置信号Ｘ，Ｙに加算され表示器６に
輝点等として表示される。
またデータ処理装置等へのデイジタル出力が必
要な場合は、補正量計算回路１４により求められ
た補正量を、第２図に仮想線で示すごとくデイジ
タル加算回路１７Ａ，１７Ｂにより前述のＡ／Ｄ
変換でデイジタル化された位置信号にデイジタル
的に加算すれば、線形性が補正されたアドレス出
力が得られる。
要な場合は、補正量計算回路１４により求められ
た補正量を、第２図に仮想線で示すごとくデイジ
タル加算回路１７Ａ，１７Ｂにより前述のＡ／Ｄ
変換でデイジタル化された位置信号にデイジタル
的に加算すれば、線形性が補正されたアドレス出
力が得られる。
そして補正量計算回路１４における演算は、た
とえば次のようにして行なわれる。すなわち、
Ａ／Ｄ変換器１１，１２によつてデジタル値に変
換した結果が第３図ａに示す点Ａ（Xi，Yj）Ｂ
（Xi，Ｙj+1），Ｃ（Ｘi+1，Ｙj+1）、Ｄ（Ｘi+1，
Yj）の中に入つたとする。このとき上記４点に
対応するメモリ１３のアドレスからそれぞれ格子
点補正ベクトル（ΔＸi,j，ΔＹi,j）｛第３図ｂ参
照｝，（ΔＸi,j+1，ΔＹi,j+1），（ΔＸi+1，j+1，Δ
Ｙi
＋１，j+1），（ΔＸi+1,j，ΔＹi+1,j）を読み出す。
そ
して入力位置信号をＸ，Ｙとしその座標点をＰと
する。そして上記各点Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄのそれぞれ
補正された位置をA′，B′，C′，D′とし点Ｐから
辺AB，BC，CD，DAへおろした垂線の足をそれ
ぞれＱ，Ｒ，Ｓ，Ｔとする。このとき次の関数の
成立する点Q′，R′，S′，T′は一意的に定まる。
とえば次のようにして行なわれる。すなわち、
Ａ／Ｄ変換器１１，１２によつてデジタル値に変
換した結果が第３図ａに示す点Ａ（Xi，Yj）Ｂ
（Xi，Ｙj+1），Ｃ（Ｘi+1，Ｙj+1）、Ｄ（Ｘi+1，
Yj）の中に入つたとする。このとき上記４点に
対応するメモリ１３のアドレスからそれぞれ格子
点補正ベクトル（ΔＸi,j，ΔＹi,j）｛第３図ｂ参
照｝，（ΔＸi,j+1，ΔＹi,j+1），（ΔＸi+1，j+1，Δ
Ｙi
＋１，j+1），（ΔＸi+1,j，ΔＹi+1,j）を読み出す。
そ
して入力位置信号をＸ，Ｙとしその座標点をＰと
する。そして上記各点Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄのそれぞれ
補正された位置をA′，B′，C′，D′とし点Ｐから
辺AB，BC，CD，DAへおろした垂線の足をそれ
ぞれＱ，Ｒ，Ｓ，Ｔとする。このとき次の関数の
成立する点Q′，R′，S′，T′は一意的に定まる。
BQ：QA＝B′Q′：Q′A′
BR：RC＝B′R′：R′C′
CS：SD＝C′S′：S′D′
DT：TA＝D′T′：T′A′
そして直線R′T′と直線Q′S′の交点P′を求め
る。ここでベクトルPP′が実際に補正すべき補正
量に対応する入力点補正ベクトルとなる。
る。ここでベクトルPP′が実際に補正すべき補正
量に対応する入力点補正ベクトルとなる。
このようにして非線形性の補正を行なつた場合
Ａ／Ｄ変換器１１，１２によるＡ／Ｄ変換の量子
化ビツド数が充分に細かければ高精度の非線形性
補正を行なうことができる。
Ａ／Ｄ変換器１１，１２によるＡ／Ｄ変換の量子
化ビツド数が充分に細かければ高精度の非線形性
補正を行なうことができる。
ところで、この場合におけるＡ／Ｄ変換器１
１，１２の量子化ビツド数は分解能について考え
るならば、さほど多くする（すなわち細かくＡ／
Ｄ変換する）必要はなく、装置自体により定まる
分解能に対応する空間周波数についてサンプリン
グ定理を適用して得られる程度の量子化ビツド数
でよいはずである。
１，１２の量子化ビツド数は分解能について考え
るならば、さほど多くする（すなわち細かくＡ／
Ｄ変換する）必要はなく、装置自体により定まる
分解能に対応する空間周波数についてサンプリン
グ定理を適用して得られる程度の量子化ビツド数
でよいはずである。
しかしながら、Ａ／Ｄ変換器１１，１２の量子
化ビツド数を少なくした場合、理論的には分解能
を低下させないものの次のような不都合が生ず
る。
化ビツド数を少なくした場合、理論的には分解能
を低下させないものの次のような不都合が生ず
る。
すなわち、第４図に示すＭ１，Ｍ２，Ｍ３を位
置座標空間のＡ／Ｄ変換による量子化の単位メツ
シユであるとすると、これら各単位メツシユＭ
１，Ｍ２，Ｍ３内の点はそれぞれ各単位メツシユ
Ｍ１，Ｍ２，Ｍ３におけるＡ／Ｄ変換による代表
点例えば図示MP１，MP２，MP３として認識さ
れ、これらの点MP１，MP２，MP３の各々に対
応する入力点補正ベクトルCV１，CV２，CV３
がそれぞれ求められる。これら補正ベクトルCV
１，CV２，CV３はそれぞれ単位メツシユＭ１，
Ｍ２，Ｍ３内のすべての点について適用されるた
め、入力点補正ベクトルCV１等に基づいて得た
補正量を位置信号に加算した結果、前記単位メツ
シユＭ１，Ｍ２，Ｍ３内に対応する入力点（入力
位置信号による点）はそれぞれ図示領域Ｍ１′，
Ｍ２′，Ｍ３′内に分布する。すなわち、各単位メ
ツシユＭ１等に該当する入力点はすべて代表点
MP１等についての入力点補正ベクトルCV１等に
より補正されるため単位メツシユ内の領域は補正
により単に平行移動することとなる。これに対
し、隣接する単位メツシユはその単位メツシユの
代表点に対応する入力点補正ベクトルにより補正
されるため、補正により位置関係が拡散する傾向
にある領域では図示領域Ｍ１′およびＭ２′のごと
く分布領域間に補正により全く分布のない部分が
あらわれ、また補正により位置関係が集束する傾
向にある領域では図示領域Ｍ１′およびＭ３′のご
とく分布領域間に補正により分布が重複する部分
があらわれる。このため、補正後の画像面に補正
に基づく不均一が生じてしまう。
置座標空間のＡ／Ｄ変換による量子化の単位メツ
シユであるとすると、これら各単位メツシユＭ
１，Ｍ２，Ｍ３内の点はそれぞれ各単位メツシユ
Ｍ１，Ｍ２，Ｍ３におけるＡ／Ｄ変換による代表
点例えば図示MP１，MP２，MP３として認識さ
れ、これらの点MP１，MP２，MP３の各々に対
応する入力点補正ベクトルCV１，CV２，CV３
がそれぞれ求められる。これら補正ベクトルCV
１，CV２，CV３はそれぞれ単位メツシユＭ１，
Ｍ２，Ｍ３内のすべての点について適用されるた
め、入力点補正ベクトルCV１等に基づいて得た
補正量を位置信号に加算した結果、前記単位メツ
シユＭ１，Ｍ２，Ｍ３内に対応する入力点（入力
位置信号による点）はそれぞれ図示領域Ｍ１′，
Ｍ２′，Ｍ３′内に分布する。すなわち、各単位メ
ツシユＭ１等に該当する入力点はすべて代表点
MP１等についての入力点補正ベクトルCV１等に
より補正されるため単位メツシユ内の領域は補正
により単に平行移動することとなる。これに対
し、隣接する単位メツシユはその単位メツシユの
代表点に対応する入力点補正ベクトルにより補正
されるため、補正により位置関係が拡散する傾向
にある領域では図示領域Ｍ１′およびＭ２′のごと
く分布領域間に補正により全く分布のない部分が
あらわれ、また補正により位置関係が集束する傾
向にある領域では図示領域Ｍ１′およびＭ３′のご
とく分布領域間に補正により分布が重複する部分
があらわれる。このため、補正後の画像面に補正
に基づく不均一が生じてしまう。
しかしながら、Ａ／Ｄ変換器は一般に量子化ビ
ツト数が多くなるほど構成が複雑化し且つ高価格
化する。このため、Ａ／Ｄ変換器１１，１２とし
て必要以上にすなわち分解能の面で要求される以
上にビツト数の多いＡ／Ｄ変換器を用いることは
好ましくなく、上述の補正に基づく不均一を除去
するという目的だけのためにビツト数の多いＡ／
Ｄ変換器を用いるのは極めて不合理である。
ツト数が多くなるほど構成が複雑化し且つ高価格
化する。このため、Ａ／Ｄ変換器１１，１２とし
て必要以上にすなわち分解能の面で要求される以
上にビツト数の多いＡ／Ｄ変換器を用いることは
好ましくなく、上述の補正に基づく不均一を除去
するという目的だけのためにビツト数の多いＡ／
Ｄ変換器を用いるのは極めて不合理である。
本発明は、このような事情を背景としてなされ
たもので、簡単な構成により、上述の非線形補正
に起因する不均一を除去し、必要最小限の範囲で
のＡ／Ｄ変換に基づく非線形補正であつても良好
な画像の得られるシンチレーシヨンカメラを提供
することを目的としている。
たもので、簡単な構成により、上述の非線形補正
に起因する不均一を除去し、必要最小限の範囲で
のＡ／Ｄ変換に基づく非線形補正であつても良好
な画像の得られるシンチレーシヨンカメラを提供
することを目的としている。
すなわち、本発明の特徴とするところは、位置
信号入力すなわちシンチレーシヨンイベントに対
応し位置信号の座標軸毎に各独立の乱数データを
発生する乱数発生手段を設け、この乱数データを
それぞれＡ／Ｄ変換によりデイジタル化された位
置信号に下位ビツトとして付加しこの乱数データ
の付加されたデータを入力位置信号とみなして入
力点補正ベクトルを求める構成とすることにあ
る。
信号入力すなわちシンチレーシヨンイベントに対
応し位置信号の座標軸毎に各独立の乱数データを
発生する乱数発生手段を設け、この乱数データを
それぞれＡ／Ｄ変換によりデイジタル化された位
置信号に下位ビツトとして付加しこの乱数データ
の付加されたデータを入力位置信号とみなして入
力点補正ベクトルを求める構成とすることにあ
る。
以下、図面を参照して本発明の一実施例を説明
する。
する。
第５図において第２図と同様の部分には同符号
を付してその詳細な説明を省略する。同図におい
て、１９および２０は予定ビツト数の乱数データ
を各独立に発生するそれぞれ第１および第２の乱
数発生器であり、PHA５からのアンブランク信
号Ｕの出力に応動して乱数データ出力が更新され
る。２１は第２図における補正量計算回路１４と
ほぼ同様の補正量計算回路であるが、この場合に
は、第１の乱数発生器１９の出力乱数データが
Ａ／Ｄ変換器１２の出力（デイジタル化された位
置信号Ｙ）の下位ビツトとして入力され、第２の
乱数発生器２０の出力乱数データがＡ／Ｄ変換器
１１の出力（デイジタル化された位置信号Ｘ）の
下位ビツトとして入力されて、それぞれ乱数デー
タを含めた値を入力位置信号データとみなして入
力点補正ベクトルを求め位置信号Ｘ，Ｙそれぞれ
についての補正量を算出する。
を付してその詳細な説明を省略する。同図におい
て、１９および２０は予定ビツト数の乱数データ
を各独立に発生するそれぞれ第１および第２の乱
数発生器であり、PHA５からのアンブランク信
号Ｕの出力に応動して乱数データ出力が更新され
る。２１は第２図における補正量計算回路１４と
ほぼ同様の補正量計算回路であるが、この場合に
は、第１の乱数発生器１９の出力乱数データが
Ａ／Ｄ変換器１２の出力（デイジタル化された位
置信号Ｙ）の下位ビツトとして入力され、第２の
乱数発生器２０の出力乱数データがＡ／Ｄ変換器
１１の出力（デイジタル化された位置信号Ｘ）の
下位ビツトとして入力されて、それぞれ乱数デー
タを含めた値を入力位置信号データとみなして入
力点補正ベクトルを求め位置信号Ｘ，Ｙそれぞれ
についての補正量を算出する。
このような構成とすれば、補正量計算回路２１
における入力点補正ベクトルの算出はＡ／Ｄ変換
器１１，１２の出力ではなく、Ａ／Ｄ変換器１
１，１２の各出力の下位に乱数発生器１９，２０
から与えられるそれぞれ独立の乱数ビツトを付加
したデータに基づいて行なわれる。このため、例
えば第４図に示したＡ／Ｄ変換の量子化単位メツ
シユＭ１内の点はＡ／Ｄ変換による代表点MP１
としては認識されず、該単位メツシユＭ１内に乱
数データに応じてランダムに散在する点（乱数デ
ータはＡ／Ｄ変換出力の下位ビツトとして付加さ
れるため乱数データはＡ／Ｄ変換出力により決定
される代表点を量子化単位メツシユＭ１内でラン
ダムに分散させるように働く）として認識され、
それについてそれぞれ入力点補正ベクトルが求め
られる。したがつて、このようにして得られた入
力点補正ベクトルに基づく補正量を位置信号Ｘ，
Ｙに加算した結果は、第４図に示したような領域
Ｍ１内に集中することなく、入力位置信号Ｘ，Ｙ
について充分に細かなＡ／Ｄ変換した場合つまり
入力位置信号Ｘ，Ｙによる入力点それぞれについ
て入力点補正ベクトルを求めたのとほぼ同様に充
分均一に分布する。他の領域についても同様であ
る。この場合、乱数データの付加により付加ビツ
トの範囲では現実の入力点に直接関係なく入力点
補正ベクトルが算出されるが、この乱数データに
よる分散は、もともと実際に分散している点を一
旦Ａ／Ｄ変換により代表点に統一したものが実際
に分散していた範囲内に分散されることになるの
で、Ａ／Ｄ変換の量子化数の所要の分解能を維持
し得る値に選んでおけば、所要の分解能が得られ
るはずである。
における入力点補正ベクトルの算出はＡ／Ｄ変換
器１１，１２の出力ではなく、Ａ／Ｄ変換器１
１，１２の各出力の下位に乱数発生器１９，２０
から与えられるそれぞれ独立の乱数ビツトを付加
したデータに基づいて行なわれる。このため、例
えば第４図に示したＡ／Ｄ変換の量子化単位メツ
シユＭ１内の点はＡ／Ｄ変換による代表点MP１
としては認識されず、該単位メツシユＭ１内に乱
数データに応じてランダムに散在する点（乱数デ
ータはＡ／Ｄ変換出力の下位ビツトとして付加さ
れるため乱数データはＡ／Ｄ変換出力により決定
される代表点を量子化単位メツシユＭ１内でラン
ダムに分散させるように働く）として認識され、
それについてそれぞれ入力点補正ベクトルが求め
られる。したがつて、このようにして得られた入
力点補正ベクトルに基づく補正量を位置信号Ｘ，
Ｙに加算した結果は、第４図に示したような領域
Ｍ１内に集中することなく、入力位置信号Ｘ，Ｙ
について充分に細かなＡ／Ｄ変換した場合つまり
入力位置信号Ｘ，Ｙによる入力点それぞれについ
て入力点補正ベクトルを求めたのとほぼ同様に充
分均一に分布する。他の領域についても同様であ
る。この場合、乱数データの付加により付加ビツ
トの範囲では現実の入力点に直接関係なく入力点
補正ベクトルが算出されるが、この乱数データに
よる分散は、もともと実際に分散している点を一
旦Ａ／Ｄ変換により代表点に統一したものが実際
に分散していた範囲内に分散されることになるの
で、Ａ／Ｄ変換の量子化数の所要の分解能を維持
し得る値に選んでおけば、所要の分解能が得られ
るはずである。
このように、Ａ／Ｄ変換器１１，１２の量子化
ビツト数を分解能維持に必要な最少限のビツト数
としても非線形性の補正された充分に均一な画像
を得ることができる。
ビツト数を分解能維持に必要な最少限のビツト数
としても非線形性の補正された充分に均一な画像
を得ることができる。
また、データ処理装置等に与えるデイジタル出
力が必要な場合には、第５図に仮想線で示すごと
く、Ａ／Ｄ変換器１１の出力に第２の乱数発生器
２０の出力を下位ビツトとして付加したデータに
補正量計算回路２１のＸ側出力を加算するデイジ
タル加算回路１７ＢおよびＡ／Ｄ変換器１２の出
力に第１の乱数発生器１９の出力を下位ビツトと
して付加したデータに補正量計算回路２１のＹ側
出力を加算するデイジタル加算回路１８Ｂを設
け、これらデイジタル加算回路１７Ｂ，１８Ｂの
加算出力をデイジタル位置（アドレス）信号とす
ればよい。
力が必要な場合には、第５図に仮想線で示すごと
く、Ａ／Ｄ変換器１１の出力に第２の乱数発生器
２０の出力を下位ビツトとして付加したデータに
補正量計算回路２１のＸ側出力を加算するデイジ
タル加算回路１７ＢおよびＡ／Ｄ変換器１２の出
力に第１の乱数発生器１９の出力を下位ビツトと
して付加したデータに補正量計算回路２１のＹ側
出力を加算するデイジタル加算回路１８Ｂを設
け、これらデイジタル加算回路１７Ｂ，１８Ｂの
加算出力をデイジタル位置（アドレス）信号とす
ればよい。
なお、本発明は、上述し且つ図面に示す実施例
にのみ限定されることなく、その要旨を変更しな
い範囲内で種々変形して実施することができる。
にのみ限定されることなく、その要旨を変更しな
い範囲内で種々変形して実施することができる。
例えば、上記実施例では乱数発生器１９，２０
の乱数データ出力は補正量計算回路２１の入力に
挿入するようにしたが、例えば、メモリ１３に記
憶された格子点補正ベクトルの空間格子がＡ／Ｄ
変換の量子化メツシユよりも細かい場合において
はＡ／Ｄ変換器１１，１２の出力点において乱数
データを挿入し、格子点補正ベクトルを求める際
にも乱数データを付加するようにする。
の乱数データ出力は補正量計算回路２１の入力に
挿入するようにしたが、例えば、メモリ１３に記
憶された格子点補正ベクトルの空間格子がＡ／Ｄ
変換の量子化メツシユよりも細かい場合において
はＡ／Ｄ変換器１１，１２の出力点において乱数
データを挿入し、格子点補正ベクトルを求める際
にも乱数データを付加するようにする。
また、メモリ１３に充分に細かな空間格子点に
ついて格子点補正ベクトルを保持させた場合は補
正量計算回路２１における補間計算は不要とな
る。
ついて格子点補正ベクトルを保持させた場合は補
正量計算回路２１における補間計算は不要とな
る。
さらに、乱数発生手段としていわゆる乱数発生
器を用いる代りに近似的にランダムな値を発生す
る手段を用いてもよい。一例を挙げれば、三角波
発生器の出力をアンプランク信号Ｕでサンプリン
グし、その値をＡ／Ｄ変換するようにしても、シ
ンチレーシヨンのイベントの発生が充分にランダ
ムであるので、ほぼ乱数とみなし得るデータが得
られる。この場合、座標軸毎に独立の乱数データ
を得るためには非同期の三角波発生器を用いれば
よい。
器を用いる代りに近似的にランダムな値を発生す
る手段を用いてもよい。一例を挙げれば、三角波
発生器の出力をアンプランク信号Ｕでサンプリン
グし、その値をＡ／Ｄ変換するようにしても、シ
ンチレーシヨンのイベントの発生が充分にランダ
ムであるので、ほぼ乱数とみなし得るデータが得
られる。この場合、座標軸毎に独立の乱数データ
を得るためには非同期の三角波発生器を用いれば
よい。
以上詳述したように、本発明によれば、シンチ
レーシヨン位置計算回路から出力される座標軸毎
の位置信号により形成される座標空間の予定の空
間格子点毎の格子点補正ベクトルを予じめ記憶し
ておき、シンチレーシヨンイベント毎に当該位置
信号をアナログ／デイジタル変換し、このデイジ
タル化された位置信号に対応する座標点を含む単
位格子領域の各格子点における前記格子点補正ベ
クトルに基づいて前記座標点に対応する入力点補
正ベクトルを求めこれをアナログ的に又はデイジ
タル的に前記位置計算回路から出力される位置信
号に加算合成することにより、位置計算における
非線形性を補正するようにしたシンチレーシヨン
カメラにおいて、簡単な構成により、必要最小限
の範囲でのＡ／Ｄ変換としても不均一のない良好
な画像の得られるシンチレーシヨンカメラを提供
することができる。
レーシヨン位置計算回路から出力される座標軸毎
の位置信号により形成される座標空間の予定の空
間格子点毎の格子点補正ベクトルを予じめ記憶し
ておき、シンチレーシヨンイベント毎に当該位置
信号をアナログ／デイジタル変換し、このデイジ
タル化された位置信号に対応する座標点を含む単
位格子領域の各格子点における前記格子点補正ベ
クトルに基づいて前記座標点に対応する入力点補
正ベクトルを求めこれをアナログ的に又はデイジ
タル的に前記位置計算回路から出力される位置信
号に加算合成することにより、位置計算における
非線形性を補正するようにしたシンチレーシヨン
カメラにおいて、簡単な構成により、必要最小限
の範囲でのＡ／Ｄ変換としても不均一のない良好
な画像の得られるシンチレーシヨンカメラを提供
することができる。
第１図はシンチレーシヨンカメラの基本構成を
示す概略構成図、第２図は非線形補正を施こした
シンチレーシヨンカメラの従来の一例の構成を示
す概略構成図、第３図ａ，ｂは同例の動作を説明
するための図、第４図は同例の問題点を説明する
ための図、第５図は本発明の一実施例の構成を示
す概略構成図である。 １……シンチレータ、２……フオトマルチプラ
イヤ（PMT）、３……ライトガイド、４……位置
計算回路、５……波高分析器（PHA）、６……表
示器、１１，１２……アナログ／デイジタル変換
器（Ａ／Ｄ変換器）、１３……メモリ、１５，１
６……デイジタル／アナログ変換器（Ｄ／Ａ変換
器）、１７，１８……加算回路、１９，２０……
乱数発生器、２１……補正量計算回路。
示す概略構成図、第２図は非線形補正を施こした
シンチレーシヨンカメラの従来の一例の構成を示
す概略構成図、第３図ａ，ｂは同例の動作を説明
するための図、第４図は同例の問題点を説明する
ための図、第５図は本発明の一実施例の構成を示
す概略構成図である。 １……シンチレータ、２……フオトマルチプラ
イヤ（PMT）、３……ライトガイド、４……位置
計算回路、５……波高分析器（PHA）、６……表
示器、１１，１２……アナログ／デイジタル変換
器（Ａ／Ｄ変換器）、１３……メモリ、１５，１
６……デイジタル／アナログ変換器（Ｄ／Ａ変換
器）、１７，１８……加算回路、１９，２０……
乱数発生器、２１……補正量計算回路。
Claims (1)
- １ シンチレーシヨン位置計算回路から出力され
る座標軸毎の位置信号により形成される座標空間
の予定の空間格子点毎の格子点補正ベクトルを予
じめ記憶しておき、シンチレーシヨンイベント毎
に当該位置信号をアナログ／デイジタル変換し、
このデイジタル化された位置信号に対応する座標
点を含む単位格子領域の各格子点における前記格
子点補正ベクトルに基づいて前記座標点に対応す
る入力点補正ベクトルを求め、これを前記位置計
算回路から出力される位置信号に加算合成するこ
とにより位置計算における非線形性を補正するよ
うにしたシンチレーシヨンカメラにおいて、前記
シンチレーシヨンイベントに対応し前記位置信号
の座標軸毎に各独立の乱数データを発生する乱数
発生手段を設け、この乱数データをそれぞれ前記
アナログ／デイジタル変換によりデイジタル化さ
れた位置信号に下位ビツトとして付加しこの乱数
データの付加されたデータを入力位置信号とみな
して前記入力点補正ベクトルを求める構成とした
ことを特徴とするシンチレーシヨンカメラ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5078480A JPS56147085A (en) | 1980-04-17 | 1980-04-17 | Scintillation camera |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5078480A JPS56147085A (en) | 1980-04-17 | 1980-04-17 | Scintillation camera |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS56147085A JPS56147085A (en) | 1981-11-14 |
| JPS6156469B2 true JPS6156469B2 (ja) | 1986-12-02 |
Family
ID=12868439
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5078480A Granted JPS56147085A (en) | 1980-04-17 | 1980-04-17 | Scintillation camera |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS56147085A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0649277U (ja) * | 1992-12-11 | 1994-07-05 | 日本軽金属株式会社 | コンテナ移動用溝レール |
| JPH0681826U (ja) * | 1993-05-11 | 1994-11-22 | 日本フルハーフ株式会社 | 荷物運搬具用案内レ−ル |
| JPH09317306A (ja) * | 1996-05-29 | 1997-12-09 | Taiwan Koshotoku Denki Yugenkoshi | 自動ドア用の軌道装置 |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5960383A (ja) * | 1982-09-30 | 1984-04-06 | Shimadzu Corp | シンチレ−シヨンカメラ |
-
1980
- 1980-04-17 JP JP5078480A patent/JPS56147085A/ja active Granted
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0649277U (ja) * | 1992-12-11 | 1994-07-05 | 日本軽金属株式会社 | コンテナ移動用溝レール |
| JPH0681826U (ja) * | 1993-05-11 | 1994-11-22 | 日本フルハーフ株式会社 | 荷物運搬具用案内レ−ル |
| JPH09317306A (ja) * | 1996-05-29 | 1997-12-09 | Taiwan Koshotoku Denki Yugenkoshi | 自動ドア用の軌道装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS56147085A (en) | 1981-11-14 |
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