JP3050396B2 - シンチレーシヨンカメラ - Google Patents
シンチレーシヨンカメラInfo
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- JP3050396B2 JP3050396B2 JP16660490A JP16660490A JP3050396B2 JP 3050396 B2 JP3050396 B2 JP 3050396B2 JP 16660490 A JP16660490 A JP 16660490A JP 16660490 A JP16660490 A JP 16660490A JP 3050396 B2 JP3050396 B2 JP 3050396B2
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Description
【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、γ線の入射位置を計算する位置計算回路で
計算された位置信号の歪を補正する補正回路を備えたシ
ンチレーシヨンカメラの改良に関するものである。
計算された位置信号の歪を補正する補正回路を備えたシ
ンチレーシヨンカメラの改良に関するものである。
画像をデイジタルデータとして保存可能のシンチレー
シヨンカメラの構成例を第３図に示す。第３図におい
て、１は被検体（図示せず）に投与した放射性同位元素
（以下、RIと記す）から放射されるγ線を検出する検出
器、２は検出器１で検出されたγ線の入射位置を計算す
る位置計算回路、３は位置計算回路２で計算された位置
信号の歪を補正する補正回路である。４は補正回路３で
補正された位置信号に対応した位置に入射γ線の数を蓄
積記憶するメモリ、５はメモリ４に記憶したRI分布像を
CRT6に表示させる表示制御回路、７はこれら一連の処理
をコントロールする中央処理装置（以下、CPUと記
す）、８及び９はCPU7を動作させるプログラム及び前記
補正回路３の補正データなどを蓄えるフロツピデイスク
及び磁気デイスクである。
シヨンカメラの構成例を第３図に示す。第３図におい
て、１は被検体（図示せず）に投与した放射性同位元素
（以下、RIと記す）から放射されるγ線を検出する検出
器、２は検出器１で検出されたγ線の入射位置を計算す
る位置計算回路、３は位置計算回路２で計算された位置
信号の歪を補正する補正回路である。４は補正回路３で
補正された位置信号に対応した位置に入射γ線の数を蓄
積記憶するメモリ、５はメモリ４に記憶したRI分布像を
CRT6に表示させる表示制御回路、７はこれら一連の処理
をコントロールする中央処理装置（以下、CPUと記
す）、８及び９はCPU7を動作させるプログラム及び前記
補正回路３の補正データなどを蓄えるフロツピデイスク
及び磁気デイスクである。
ここで、前記補正回路３の機能につき第４図を併用し
て説明する。第４図の外形は、シンチレーシヨンカメラ
の有効視野を示している。図中、破線で示すような曲り
のない格子状の線源を用いてγ線のイメージングを行う
と、あるいは格子状にスリツトをもつ鉛板フアントムを
用い、そのスリツトを通過するγ線のイメージングを行
うと、検出器１及び位置計算回路２がもつ空間直線歪に
よつて実線で示すような曲り（ΔX,ΔＹ）を生ずる。そ
こで、予めこの曲り（ΔX,ΔＹ）を補正データとして収
集しておき、これに基づいて位置計算回路２からの位置
信号X,Yに与える補正量（位置信号歪補正データ）をテ
ーブルとしてフロツピデイスク８や磁気デイスク９に記
憶しておく。そして、実際の被検体のデータ収集時に
は、補正回路３において、位置計算回路２からの位置信
号X,Yに前記位置信号歪補正データ（以下、補正データ
と略記する）を用いて補正を行い、直線歪のない像を得
るようにするものである。
て説明する。第４図の外形は、シンチレーシヨンカメラ
の有効視野を示している。図中、破線で示すような曲り
のない格子状の線源を用いてγ線のイメージングを行う
と、あるいは格子状にスリツトをもつ鉛板フアントムを
用い、そのスリツトを通過するγ線のイメージングを行
うと、検出器１及び位置計算回路２がもつ空間直線歪に
よつて実線で示すような曲り（ΔX,ΔＹ）を生ずる。そ
こで、予めこの曲り（ΔX,ΔＹ）を補正データとして収
集しておき、これに基づいて位置計算回路２からの位置
信号X,Yに与える補正量（位置信号歪補正データ）をテ
ーブルとしてフロツピデイスク８や磁気デイスク９に記
憶しておく。そして、実際の被検体のデータ収集時に
は、補正回路３において、位置計算回路２からの位置信
号X,Yに前記位置信号歪補正データ（以下、補正データ
と略記する）を用いて補正を行い、直線歪のない像を得
るようにするものである。
従来のこの種の補正回路を第５図を示す。図示するよ
うに従来の補正回路３は、補正データテーブル10及び加
算回路11,12で構成されている。ここで補正データテー
ブル10は、予め収集してある前記補正データが前記フロ
ツピデイスク８又は磁気デイスク９よりCPU7を介して書
き込まれてなる。
うに従来の補正回路３は、補正データテーブル10及び加
算回路11,12で構成されている。ここで補正データテー
ブル10は、予め収集してある前記補正データが前記フロ
ツピデイスク８又は磁気デイスク９よりCPU7を介して書
き込まれてなる。
いま、位置計算回路２よりγ線入射位置に対応したX,
Y信号が出力されると、補正データテーブル10からは、
そのアドレス（X,Y）に対応した補正データ（ΔX,Δ
Ｙ）が出力され、加算回路11,12の一方の入力に送られ
る。加算回路11,12のもう一方の入力には、位置信号X,1
が与えられており、この加算回路11,12により直線歪が
補正された位置信号（Ｘ＋ΔX,Y＋ΔＹ）が出力され
る。そして、この補正後の位置信号によつて指示される
メモリ４のアドレスにγ線入射１個が計数記憶される。
Y信号が出力されると、補正データテーブル10からは、
そのアドレス（X,Y）に対応した補正データ（ΔX,Δ
Ｙ）が出力され、加算回路11,12の一方の入力に送られ
る。加算回路11,12のもう一方の入力には、位置信号X,1
が与えられており、この加算回路11,12により直線歪が
補正された位置信号（Ｘ＋ΔX,Y＋ΔＹ）が出力され
る。そして、この補正後の位置信号によつて指示される
メモリ４のアドレスにγ線入射１個が計数記憶される。
このような動作をγ線が検出器１に入射する毎に行う
ことにより、被検体から放射されたγ線の正しい位置を
検出し、被検体内の正確なRI分布像をメモリ４上に蓄積
することができる。
ことにより、被検体から放射されたγ線の正しい位置を
検出し、被検体内の正確なRI分布像をメモリ４上に蓄積
することができる。
ところで、検出器１及び位置計算回路２の物理的要因
（検出器１の光電子増倍管の並びなど）、電気的要因
（位置計算回路２の計算特性上など）による位置信号の
空間直線歪の大きさは入射するγ線のエネルギ（KeV）
によつて異なる。また、被検体に投与するRIの種類も検
査部位や検査目的によつて異なる。
（検出器１の光電子増倍管の並びなど）、電気的要因
（位置計算回路２の計算特性上など）による位置信号の
空間直線歪の大きさは入射するγ線のエネルギ（KeV）
によつて異なる。また、被検体に投与するRIの種類も検
査部位や検査目的によつて異なる。
通常、病院で使用されるRIは５〜７種類に及び、ま
た、各RIによつてγ線のエネルギが異なるため、実際の
データ収集に当つては、全てのRI（γ線のエネルギ）に
ついての補正データを収集しておかなければならない。
しかしこの作業は、収集された補正データによる補正が
正しく働いているか評価する時間も含めて15〜20時間に
達することもあり、そのために要する時間及び労力、更
にはRI使用量は多大である。
た、各RIによつてγ線のエネルギが異なるため、実際の
データ収集に当つては、全てのRI（γ線のエネルギ）に
ついての補正データを収集しておかなければならない。
しかしこの作業は、収集された補正データによる補正が
正しく働いているか評価する時間も含めて15〜20時間に
達することもあり、そのために要する時間及び労力、更
にはRI使用量は多大である。
以上のように従来技術では、γ線のエネルギが異なる
多種類のRIを使用する環境にあつては、補正データの収
集に、多くの時間，労力及びRIを要するという問題点が
あつた。
多種類のRIを使用する環境にあつては、補正データの収
集に、多くの時間，労力及びRIを要するという問題点が
あつた。
本発明の目的は、各RI（γ線のエネルギ）毎の補正デ
ータが簡単，迅速に、かつ最少のRI使用量で得られ、γ
線のエネルギが異なる多種類のRIを使用する環境にあつ
て有用なシンチレーシヨンカメラを提供することにあ
る。
ータが簡単，迅速に、かつ最少のRI使用量で得られ、γ
線のエネルギが異なる多種類のRIを使用する環境にあつ
て有用なシンチレーシヨンカメラを提供することにあ
る。
上記目的は、γ線を検出する複数の検出素子を２次元
に配列した検出器と、該検出したγ線から前記検出素子
の入射位置を計算する位置計算回路とを備えたシンチレ
ーションカメラにおいて、前記計算した入射位置から少
なくとも２つ以上の異なるエネルギを有するγ線の位置
を補正するデータを求める手段と、該求めた補正データ
から前記少なくとも２つ以上の異なるエネルギ以外のエ
ネルギを有するγ線の位置の補正データを補間で求める
手段と、前記少なくとも２つ以上の異なるエネルギとこ
れら以外のエネルギを有するγ線の位置の補正データに
基づいて前記入射位置を補正する手段とを備えたことに
より達成される。
に配列した検出器と、該検出したγ線から前記検出素子
の入射位置を計算する位置計算回路とを備えたシンチレ
ーションカメラにおいて、前記計算した入射位置から少
なくとも２つ以上の異なるエネルギを有するγ線の位置
を補正するデータを求める手段と、該求めた補正データ
から前記少なくとも２つ以上の異なるエネルギ以外のエ
ネルギを有するγ線の位置の補正データを補間で求める
手段と、前記少なくとも２つ以上の異なるエネルギとこ
れら以外のエネルギを有するγ線の位置の補正データに
基づいて前記入射位置を補正する手段とを備えたことに
より達成される。
前記計算した入射位置から少なくとも２つ以上の異な
るエネルギを有するγ線の位置を補正する補正データを
求め、該求めた補正データから前記少なくとも２つ以上
の異なるエネルギ以外のエネルギを有するγ線の位置の
補正データを補間で求め、前記少なくとも２つ以上の異
なるエネルギとこれら以外のエネルギを有するγ線の位
置の補正データに基づいて前記入射位置を補正する。
るエネルギを有するγ線の位置を補正する補正データを
求め、該求めた補正データから前記少なくとも２つ以上
の異なるエネルギ以外のエネルギを有するγ線の位置の
補正データを補間で求め、前記少なくとも２つ以上の異
なるエネルギとこれら以外のエネルギを有するγ線の位
置の補正データに基づいて前記入射位置を補正する。
これにより、各RI（γ線のエネルギ）毎の位置計算に
係る補正データが簡単、迅速に、かつ最少のRI使用量で
得られ、γ線のエネルギが異なる多種類のRIを使用する
環境にあって有用になる。
係る補正データが簡単、迅速に、かつ最少のRI使用量で
得られ、γ線のエネルギが異なる多種類のRIを使用する
環境にあって有用になる。
以下、図面を参照して本発明の実施例を説明する。第
１図は本発明によるシンチレーシヨンカメラの一実施例
の要部を示すブロツク図で、図中２及び４は第３図と同
様である。３も第１図と同様に、位置計算回路２で計算
された位置信号の歪を補正する補正回路であるが、ここ
では、補正データ（位置信号歪補正データ）を補間演算
により求める補間演算機能を備えている。すなわち本発
明の補正回路３は、予め収集しておいて少なくとも２種
類のエネルギのγ線の位置信号歪補正データ及び、これ
らの補正データから補間演算により求められた上記以外
のエネルギのγ線の位置信号歪補正データにより、３種
類以上のエネルギのγ線についての前記位置計算回路２
からの位置信号の歪を補正するように構成されている。
１図は本発明によるシンチレーシヨンカメラの一実施例
の要部を示すブロツク図で、図中２及び４は第３図と同
様である。３も第１図と同様に、位置計算回路２で計算
された位置信号の歪を補正する補正回路であるが、ここ
では、補正データ（位置信号歪補正データ）を補間演算
により求める補間演算機能を備えている。すなわち本発
明の補正回路３は、予め収集しておいて少なくとも２種
類のエネルギのγ線の位置信号歪補正データ及び、これ
らの補正データから補間演算により求められた上記以外
のエネルギのγ線の位置信号歪補正データにより、３種
類以上のエネルギのγ線についての前記位置計算回路２
からの位置信号の歪を補正するように構成されている。
本実施例では、補正回路３は、第１補正データテーブ
ル13Aと第２補正データテーブル13Bと補間回路14と加算
回路11,12よりなる。ここで、補正データテーブル13Aと
13Bには、異なるエネルギのシンチレーシヨンカメラの
補正データを書き込んでおくが、補間演算の精度を上げ
るために、一般にエネルギの低いγ線の補正データと高
いγ線の補正データを収集し、書き込んでおく。
ル13Aと第２補正データテーブル13Bと補間回路14と加算
回路11,12よりなる。ここで、補正データテーブル13Aと
13Bには、異なるエネルギのシンチレーシヨンカメラの
補正データを書き込んでおくが、補間演算の精度を上げ
るために、一般にエネルギの低いγ線の補正データと高
いγ線の補正データを収集し、書き込んでおく。
なお、その他の構成は第１図と同様である。
次に動作を説明する。γ線が１個、検出器１（第１図
参照）に入射すると、その入射位置の計算が位置計算回
路２で行われる。その位置信号X,Yが補正データテーブ
ル１と２のアドレスを指示すると、各々の補正量ΔX1,
ΔY1,ΔX2,ΔY2を補正データとして出力し、補間回路14
に送る。
参照）に入射すると、その入射位置の計算が位置計算回
路２で行われる。その位置信号X,Yが補正データテーブ
ル１と２のアドレスを指示すると、各々の補正量ΔX1,
ΔY1,ΔX2,ΔY2を補正データとして出力し、補間回路14
に送る。
補間回路14では、送られてきた補正データより、CPU7
（第１図参照）から送られてくるエネルギ信号E1,E2,EC
に基づいて補間演算を行い、求められた補正量ΔXC,ΔY
Cを加算回路11,12に送る。
（第１図参照）から送られてくるエネルギ信号E1,E2,EC
に基づいて補間演算を行い、求められた補正量ΔXC,ΔY
Cを加算回路11,12に送る。
加算回路11,12では補正量ΔXC,ΔYCと位置計算回路出
力X,Yが加算され、補正された位置信号Ｘ＋ΔXC,Y＋ΔY
Cで指示されるメモリ４上にγ線１個入射を計算蓄積す
る。これをγ線が入射する毎に行つてRI分布像を得る。
力X,Yが加算され、補正された位置信号Ｘ＋ΔXC,Y＋ΔY
Cで指示されるメモリ４上にγ線１個入射を計算蓄積す
る。これをγ線が入射する毎に行つてRI分布像を得る。
ここで上記補正演算について第２図を併用して詳述す
る。第２図において、E1（KeV）とE2（KeV）は、予め補
正データを収集したγ線のエネルギを示し、EC（KeV）
は、現に被検体から放射され、収集しようとするγ線の
エネルギを示す。いま、入射した１個のγ線の位置信号
（X,Y）のエネルギE1（KeV）のＸ方向の補正量をΔX1、
エネルギE2（KeV）のＸ方向の補正量をΔX2とすると、
エネルギEC（KeV）のＸ方向の補正量ΔXCは、２点を結
ぶ直線上で直線補間すると次式（１）で表わせる。
る。第２図において、E1（KeV）とE2（KeV）は、予め補
正データを収集したγ線のエネルギを示し、EC（KeV）
は、現に被検体から放射され、収集しようとするγ線の
エネルギを示す。いま、入射した１個のγ線の位置信号
（X,Y）のエネルギE1（KeV）のＸ方向の補正量をΔX1、
エネルギE2（KeV）のＸ方向の補正量をΔX2とすると、
エネルギEC（KeV）のＸ方向の補正量ΔXCは、２点を結
ぶ直線上で直線補間すると次式（１）で表わせる。
Ｙ方向についても同様に次式（２）で表わせる。
これを補間回路14で計算し、加算回路11,12にて補正
前のX,Y信号に加算すれば、エネルギEC（KeV）について
の位置計算回路２からの位置信号の歪補正が行われたこ
とになる。
前のX,Y信号に加算すれば、エネルギEC（KeV）について
の位置計算回路２からの位置信号の歪補正が行われたこ
とになる。
この補間演算は、単なる加減算，乗除算にて行うこと
ができるので、それぞれ専用のIC素子を組合せた回路構
成で容易に達成できる。
ができるので、それぞれ専用のIC素子を組合せた回路構
成で容易に達成できる。
なお上述実施例では、補間回路14を設けて構成した例
を述べているが、補間回路14に代えて補間テーブルを設
け、予めCPU7にて上記エネルギEC（KeV）用の補間演算
を行い、上記補間テーブル上に演算された補正データを
書込んでおき、γ線入射毎に入射位置信号に対応する補
間データを読み出すようにしてもよい。
を述べているが、補間回路14に代えて補間テーブルを設
け、予めCPU7にて上記エネルギEC（KeV）用の補間演算
を行い、上記補間テーブル上に演算された補正データを
書込んでおき、γ線入射毎に入射位置信号に対応する補
間データを読み出すようにしてもよい。
また上述実施例では、２種類のエネルギのγ線の補正
データから他のエネルギのγ線の補正データを求めた
が、より正確な補間を必要とする場合には、３種類以上
のエネルギのγ線の補正データによつて補正データを求
めることが好ましい。補間方法も、直線補間のみに限ら
ず、その他、曲線補間などを用いてもよい。
データから他のエネルギのγ線の補正データを求めた
が、より正確な補間を必要とする場合には、３種類以上
のエネルギのγ線の補正データによつて補正データを求
めることが好ましい。補間方法も、直線補間のみに限ら
ず、その他、曲線補間などを用いてもよい。
本発明によれば、最低２種類のエネルギ、特に高いエ
ネルギと低いエネルギのγ線の位置を補正する補正デー
タを求めておけば、前記高いエネルギと低いエネルギの
以外、例えば中間のエネルギの補正データは、前記高い
エネルギの補正データと低いエネルギの補正データを補
間演算して得ることができる。
ネルギと低いエネルギのγ線の位置を補正する補正デー
タを求めておけば、前記高いエネルギと低いエネルギの
以外、例えば中間のエネルギの補正データは、前記高い
エネルギの補正データと低いエネルギの補正データを補
間演算して得ることができる。
すなわち、前記中間のエネルギのγ線の補正データ
は、新たに前記中間のエネルギのγ線を検出器で検出
し、位置計算回路でその入射位置を計算し、その補正デ
ータを求めることなしに、補間演算によって得ることが
できる。
は、新たに前記中間のエネルギのγ線を検出器で検出
し、位置計算回路でその入射位置を計算し、その補正デ
ータを求めることなしに、補間演算によって得ることが
できる。
これにより、最少のRI使用量で他のエネルギの位置補
正データが得られ、γ線のエネルギが異なる多種類のRI
を使用する環境にあって有用である。
正データが得られ、γ線のエネルギが異なる多種類のRI
を使用する環境にあって有用である。
第１図は本発明シンチレーシヨンカメラの一実施例の要
部を示すブロツク図、第２図は第１図中の補間回路によ
る直線補間を説明するための図、第３図は画像をデイジ
タルデータとして保存可能のシンチレーシヨンカメラの
構成例を示すブロツク図、第４図は第３図中の補正回路
の機能を説明するための図、第５図は従来の補正回路を
示すブロツク図である。 １……検出器、２……位置計算回路、３……補正回路、
４……メモリ、５……表示制御回路、６……CRT、７…
…CPU、８……フロツピデイスク、９……磁気デイス
ク、10,13A,13B……補正データテーブル、11,12……加
算回路、14……補間回路。
部を示すブロツク図、第２図は第１図中の補間回路によ
る直線補間を説明するための図、第３図は画像をデイジ
タルデータとして保存可能のシンチレーシヨンカメラの
構成例を示すブロツク図、第４図は第３図中の補正回路
の機能を説明するための図、第５図は従来の補正回路を
示すブロツク図である。 １……検出器、２……位置計算回路、３……補正回路、
４……メモリ、５……表示制御回路、６……CRT、７…
…CPU、８……フロツピデイスク、９……磁気デイス
ク、10,13A,13B……補正データテーブル、11,12……加
算回路、14……補間回路。
Claims (1)
- 【請求項１】γ線を検出する複数の検出素子を２次元に
配列した検出器と、該検出したγ線から前記検出素子の
入射位置を計算する位置計算回路とを備えたシンチレー
ションカメラにおいて、前記計算した入射位置から少な
くとも２つ以上の異なるエネルギを有するγ線の位置を
補正する補正データを求める手段と、該求めた補正デー
タから前記少なくとも２つ以上の異なるエネルギ以外の
エネルギを有するγ線の位置の補正データを補間で求め
る手段と、前記少なくとも２つ以上の異なるエネルギと
これら以外のエネルギを有するγ線の位置の補正データ
に基づいて前記入射位置を補正する手段とを備えたこと
を特徴とするシンチレーションカメラ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16660490A JP3050396B2 (ja) | 1990-06-27 | 1990-06-27 | シンチレーシヨンカメラ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16660490A JP3050396B2 (ja) | 1990-06-27 | 1990-06-27 | シンチレーシヨンカメラ |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0458183A JPH0458183A (ja) | 1992-02-25 |
| JP3050396B2 true JP3050396B2 (ja) | 2000-06-12 |
Family
ID=15834379
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP16660490A Expired - Fee Related JP3050396B2 (ja) | 1990-06-27 | 1990-06-27 | シンチレーシヨンカメラ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3050396B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP3218380B2 (ja) * | 1995-03-22 | 2001-10-15 | 株式会社新川 | テープボンディング装置 |
| US8022357B2 (en) * | 2009-12-30 | 2011-09-20 | General Electric Company | Systems and methods for generating calibration maps for non-pixelated gamma detectors |
-
1990
- 1990-06-27 JP JP16660490A patent/JP3050396B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0458183A (ja) | 1992-02-25 |
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