JPS6151543A - 電熱アトマイザ - Google Patents

電熱アトマイザ

Info

Publication number
JPS6151543A
JPS6151543A JP60124416A JP12441685A JPS6151543A JP S6151543 A JPS6151543 A JP S6151543A JP 60124416 A JP60124416 A JP 60124416A JP 12441685 A JP12441685 A JP 12441685A JP S6151543 A JPS6151543 A JP S6151543A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
tube
contact member
contact
grahite
hole
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP60124416A
Other languages
English (en)
Inventor
デイビツド・シドニー・ウイドマー
ジヨン・エドワード・チヤーチル
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Koninklijke Philips NV
Original Assignee
Philips Gloeilampenfabrieken NV
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Philips Gloeilampenfabrieken NV filed Critical Philips Gloeilampenfabrieken NV
Publication of JPS6151543A publication Critical patent/JPS6151543A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/62Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
    • G01N21/71Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light thermally excited
    • G01N21/74Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light thermally excited using flameless atomising, e.g. graphite furnaces

Landscapes

  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Nuclear Medicine, Radiotherapy & Molecular Imaging (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Environmental & Geological Engineering (AREA)
  • Geology (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)
  • Measuring Leads Or Probes (AREA)
  • Carbon And Carbon Compounds (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は導電材料から成り両端を開放した管体と、この
管体の一端をクランプするよう配置した1対の第1接触
部材と、前記管体の他端をタランブするうよ配置した1
対の第2接触部材とを具え、前記管体の縦軸線に垂直な
方向に前記第1接触部材と第2接触部材とを互に作用さ
せ、前記第1接触部材と第2接触部材とを介して前記管
体を横切って電位を加える装置を設けた原子分光分析の
電熱アトイザに関するものである。
このような電熱アトマイザは「パイ・ユニカム・リミテ
ッド」によって製造販売されている。この装置では、管
体の両端にフランジを設け、これにより銅電極として形
成した接触部材に剛強な部分を与えている。また、この
フランジは溶融しないよう水冷する銅電極と、管体の高
温(3000℃まで)の中心部との間にグラハイトイン
タフェイスを生ずる。この構成は成る欠点がある。即ち
銅電極と管体のフランジとの間の電気的接触は点接触に
なり、せいぜい線接触であるから、この状態では、製造
公差に起因し、フランジの表面が電極の表面に正確に整
合するのは不可能である。その結果、電極とフランジと
の間にアーキングを時々生じ、遂には電極を破壊し、フ
ランジを腐食する。更に、フランジの無い管よりもフラ
ンジ付き管は高価である。電流を管体に供給する代わり
の方法では管体をその縦方向にクランプする電極を設け
る必要がある。このようにすればフランジが無くても管
体を使用することかできるが、依然として電気的な接触
が悪いという問題は残っており、これは接触の通常の形
は円錐面を介して行なわれ、この円錐面は管体の両端に
圧着しており線接触になるためである。
本発明の目的は上述の従来技術の欠点を除去した電熱ア
トマイザを得るにある。
本発明電熱アトマイザは前記第1接触部材と第2接触部
材とによってクランプされる前記管体の区域を可撓性に
構成し、前記管体の区域の外面の形状を前記接触部材の
整合部分の形状に順応させるよう前記管体を前記接触部
材によって撓ませる装置を設けたことを特徴とする。
本発明電熱アトマイザは接触部材と管体との間の電気的
な接触が著しく大きくなる利点があり、これは管体の両
端の可撓性によって構成部材の製造公差が補われるから
である。更に、管体の両端のフランジを省略することが
できるから管体の製造コストが安価になる。管体全部を
熱分解グラハイトで構成する時、このととは特に重要で
ある。
各対の接触部材により管体に通る電流の一部を搬送する
。これにより、管体に一層均一な電流を流すことができ
有利である。
接触部材を管体同様、グラハイトで構成することができ
る。これにより、通常水冷される銅電極を管体の両端か
ら一層遠くに位置させることができ、管体による輻射熱
に対し、また管体内に堆積した試料の腐食性生成物に対
し銅電極を遮蔽するように接触部材を構成することがで
きる。
管体を全体として熱分解グラハイトで構成することがで
き、円形断面にすることができる。円形断面の管体は製
造が容易であり、管体の周縁の主要部に電圧を半径方向
に加えることによって、管体の周りに予測できする電流
密度を生ぜしめることができる。
図面につき本発明を説明する。
第1.2及び3図に本発明電熱アトマイザを示し、作動
中、グラハイト管である管体lの両端を上部グラハイト
接触部材2,3と下部グラハイト接触部材4,5との間
にクランプし、このグラハイト管1を高温に加熱する時
、保護雰囲気ガスを収容する包囲体6をこれ等接触部材
で構成する。
管体1に接近する必要があるため、この包囲体6は完全
にシールせず、投入孔7を通して、また溝孔8を通して
試料を管体1内に挿入する。溝孔8は管体1の壁に探針
管を挿入すためのもので、英国特許出願第830574
5号(PH832962)に記載されている。
第4.5及び6図に示すグラハイト接触管2゜4及び3
.5はほぼ同一形状で、左右対称に相違するだけである
。第4図に示すグライ/Sト接触部材4はほぼL字状で
、水平リム10の傾斜上面に半円形溝12を形成する。
この半円形溝12をリム10の自由端から他方のリム1
3に向は延在するが、これ等リムの接合点の手前で止め
る。半円形溝12の半径より小さい半径の半円形溝14
によって半円形溝12の延長部を形成し、部材4の他の
リム13まで延長する。溝14の半径を適切に選択して
、部材4と管体lの端部との間が良好に電気的に接触す
るようにすると共に、溝12の半径を適切に選択して、
管体1との間が電気的に離間するようにすると共に、管
体1を容易に取外し、交換できるようにする。溝14の
長さを適切に選択し、必要な接触面積が得られるように
して、電流が管体lに有効に流れるうにする。リム13
の表面16における管体1の内径にほぼ等しい直径の孔
15をリム13に形成し、この孔15をリム13に貫通
し、表面16で最小径の截頭円錐形になるよう孔15を
形成する。他の半円形溝17をリム10の自由端に隣接
して溝12内に半径方向に進入させる。
グラハイト接触部材2を第5図の斜視図に示し、第6図
には側面図で示す。部材2を構成する矩形ブロックの傾
斜下面20に半円形溝21を形成し、その長さと直径と
を部材4の半円形溝12の長さと直径とに等しくする。
溝12の端部と、第5図にはかくれて見えない部材20
表面との間に他の半円形溝22を形成し、その長さと直
径とを部材4の溝14の長さと直径とに等しくする。逆
り字状の部分23を部材2の上面24の上方に突出する
。止め27によって分離する2個の平行な面25.26
から成る端部から溝21を開始する。
第1〜3図において、グラハイト接触部材4゜5を銅電
極46.47上に取付け、これ等電極を絶縁材料から成
るブロック48によって分離する。ブロック48の直立
リブ49によって部材4.5が電気的に互に接触するの
を防止する。電極46.47の間に管体1を挿入した時
、リブ49と電極46.47との間に間隙が通常存在す
るようにして、管体1の両端を電極46.47に確実に
シールし得るようにする。
電極46.47の上面を研削仕上げし、通常1尋られる
最良の公差で同一平面に保持し、最良の電気的接触が得
られるようにする。部材4.5と部材2゜3とによって
銅電極をカバーし、試料によって腐食しないようにし、
管体lと電極46.47との間に着座した良好な電気的
接触が得られるようにし、ブライハト管である管体lの
内部に保護ガスを導入する手段になるようにする。
第1ガス人ロブロック30を部材4に軽くシールし、こ
のブロック30に室31を設け、部材4の孔15にこの
室31を開口し、この室31にガス導入孔32と、補給
孔33と、石英窓34とを設ける。第2ガス人ロブロッ
ク35を部材5に軽くシールし、このブロック35に室
36を設け、部材5の孔15にこの室36を開口し、こ
の室36にガス導入孔37と、補給孔38と、石英窓3
9とを設ける。
このようにして、石英窓34から、室31、部材4の孔
15、管体lの内部、部材5の孔15及び室36を経て
、石英窓39に達する光学通路を生ぜしめる。
更に、保護ガスの流れを停止した時、補給孔33゜38
を経て、また管体lの投入孔7を経る送出口を有する空
間が形成される。微細化すべき試料をグラハイト管lに
挿入するため投入ロアを設ける。
探針上のグラハイトの管体l内に試料を導入しなければ
ならない場合には、管体l内に縦方向に延びる溝孔8を
設けてもよい。 。
ガス入口ブロック30.35、グラハイトl触部材4.
5、及びグラハイトの管体lの組立体は電極46に取付
けた止め41と電極47に取付けた板ばね42との間に
位置する。電極46.47と絶縁ブロック48とを互に
ボルト締めして、剛強組立体を形成する。
第1図のA−A線上の断面図である第2図から明らかな
ように、上部グラハイト接触部材2.3を銅棒51によ
、て担持し、この銅棒51の他端を軸52に枢着し、こ
の軸52を端部材53に取付ける。上部グラハイト接触
部材3をその上昇位置に第2図に示し、この位置では、
グラハイトの管体lを取外し又は交換のため、このグラ
ハイトの管体に接近することができる。絶縁ブロック4
8に温度センサを担持し、グラハイトの管体1の温度を
測定する。この温度センサの管部材60内にレンズ61
を取付け、グラハイトの管体1から出る輻射線をこのレ
ンズにより光ファイバ62の端部に焦点合せする。
光ファイバ62の他端によって光学高温計を照射し、グ
ラハイトの管体1の温度を測定する。ブロック48内の
管部材63内に管部材60を取付け、この管部材630
両端を開放し、その壁に孔64を設け、ブロツク48の
通路65にこの孔64を連通ずる。部材4゜5の下ブロ
ック48にセラミック材料の板66を挿入し、グラハイ
トの管体1から来る高温に対し、絶縁ブロック48の材
料を遮蔽する。セラミック板66の孔67を部材4.5
の溝17に一線にし、グラハイトの管体lからの輻射線
をレンズ61に通し得るようにする。通路65と孔64
とを経て、管部材60.63間の環状室68に保護ガス
を達せしめ、次にレンズ61を覆い、さらに接触部材4
,5の溝17によって形成した通路に沿い孔67に通り
、グラハイトの管体1の外側の周りに流れる。
作動に当り、投入孔7を経て試料をグラハイ上の管体1
内に堆積する。次にグラハイトの管体lの温度を上げ、
試料を乾燥し、試料の組成に応じて更に温度を上昇し、
試料を灰化する。試料の性質に応じて、導入孔32.3
7及び通路65を通じて空気又は保護ガスのいずれかを
流してこの乾燥及び灰化を行なう。いずれの場合でも、
管体1の温度が微細化温度に上昇する以前に11.保護
ガスの流れを生ぜしめ、管体lに保護ガスを収容し、ま
た管体lを保護ガスで包囲する。微細化工程中、管体l
の内部へのガスの流れを停止するのが普通である。この
アトマイザに補給孔33.38がないと、測定された化
学的感受性が減少することがわかった。
この現象は管体lの温度が迅速に上昇すると、室31、
36、孔15及び管体1によって形成された空所内に含
まれるガスが膨張し、強制的に投入孔7から押し出され
、試料の一部が随伴されるためと信じられている。補給
孔33.38によって膨張ガスのための代わりの逸出通
路を設けることによって、投入孔を通ずる膨張ガスの逸
出を実質的に減らすことができ、これにつれて試料の損
失も対応して減少する。投入孔の直径にほぼ等しい直径
を有する補給孔を設けた場合、感受性の倍増は達成され
る。補給孔の直径を増大すれば、投入孔から逸出するガ
スの割合が減少すること明らかである。しかし、補給孔
の直径には限度があり、これはグラハイトの管体1の内
部をガスにより充填できることが必要なためであり、ま
た灰化工程中止じた組成物を運び去るよう若干の清掃作
用を有することも望ましい。
ここに説明したアトマイザについては、部材2゜4及び
3.5間の水平な分割によってグラハイトの管体lへの
接近を容易にしている。これは上部のグラハイト接触部
材2.3を上方に回動した時、下部グラハイト接触部材
4.5の表面16間で溝14内に管体1が保持されてい
るからである。次に管体1を容易に取外し、交換するこ
とができ、投入孔7及びもし設けていれば探針入口孔の
方向を調整する。所要に応じ、管体lを取外す前に、板
ばね42による管体lの両端に加わる軽い圧力は機械的
に釈放される。また、この構成は接触部材4゜5を容易
に取外し得る利点があり、これは接触部材2,3を上方
に回動した時、接触部材4,5に圧力が加わらないから
である。実際上、例えばばねクリップによって部材4,
5を電極46.47に緩く嵌着する。上部グラハイト接
触部材2.3の下降によって生じたクランプ力は良好な
電気的接触を生ずるのに十分である。
第7及び8図は管体1の両端と、接触部材2゜4及び3
.5との間の電気的接触がどのようにして生ずるかを示
す。管体lの各端部を上部グラハイト接触部材2.3と
下部グラハイト接触部材4゜5との間に位置させる。管
体lの両端を撓ませるのに十分な力でこれ等接触部材を
互にクランプし、管体1の表面を接触部材の溝14.2
2の内面に順応させる。このことを第7及び8図に示し
、クランプ力を加える前及び後の管体1の断面を示す。
第8図から明らかなように、クランプ力を加えた後は、
グラハイト接触部材に接触する管体1の面積は相当増大
し、一層電気的に良好に接触する。管体lは通常グラハ
イトで造られるが、それはこの材料が必要な化学的及び
物理的性質を有するからである。しかし、成る場合には
他の材料、例えば耐火材にしてもよい。エレクトログラ
バイトで造った時、管体1の代表的寸法は孔径5III
ITl、壁厚600μmである。熱分解グラハイトで全
体を造った時は、壁厚を役300 μmに減少させるこ
とができる。
これ等の寸法は単なる例示的なもので、例えば探針サン
プリングを使用する時は変更することができる。管体1
の外径と溝14.22の直径とを次のように造るのが有
利であることがわかった。即ち、管体1の外径を製造公
差の厳密な側にとり、l待14゜22を製造公差の低い
側にとる。グラハイト接触部材の端部間のクランプ力を
4〜5kgにとる。即ち管体1に加わる全体のクランプ
力を8〜10kgにとれば、接触面積が管の21Tlf
fl長さにわたっている時、上述の寸法の管体について
良好な電気的接触が得られることがわかった。
グラハイト接触部材2.4及び3.5の間に希望するク
ランプ力を生ぜしめるため、銅棒50.51を下側から
引張るか、上側から押出す機構が必要である。そのよう
な機構の設計は当業者にはよく知られている。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明電熱アトマイザの正面図、第2図は第1
図のA−A線上の断面図 第3図は第2図のB−B線上の断面図、第4図は下部グ
ラハイト接触部、材の斜視図、第5図は上部グラハイト
接触部材の斜視図、第6図は上部グラハイト接触部材の
側面図、第7図は締付ける前のグラハイトの管体とグラ
ハイト接触部材との関係を示す断面図、第8図は締付け
た後のグラハイトの管体とグラハイト接触部材との関係
を示す断面図である。 1・・・管体又はグラハイト管 2.3・・・上部グラハイト接触部材 4.5・・・下部グラハイト接触部材 6・・・包囲体     7・・・投入孔8・・・溝孔
      10・・・水平リム11・・・傾斜上面 
   12・・・半円形溝13・・・リム      
14・・・半円形溝15・・・孔       16・
・・表面17・・・半円形溝    20・・・傾斜下
面21・・・半円形溝    22・・・半円形溝23
・・・逆り字状の部分 24・・・上面27・・・止め
面     30・・・第1ガス人ロブロック31・・
・室       32・・・ガス導入孔33・・・補
給孔     34・・・石英窓35・・・第2ガス入
ロブロツク 36・・・室       37・・・ガス導入孔38
・・・補給孔     39・・・石英窓41・・・止
め      42・・・板ばね46、47・・・銅電
極   48・・・絶縁ブロック49・・・直立リブ 
   50,51・・・銅棒52・・・軸      
 53・・・端部材60・・・管部材     61・
・・レンズ62・・・光ファイバ   63・・・管部
材64・・・孔       65・・・通路66・・
・セラミック板  67・・・孔68・・・環状室 −2] 手  続  補  正  書 昭和60年9月6日 特許庁長官  宇  賀  道  部 殿1、事件の表
示 昭和60年特 許 願第124416号2、発明の名称 電熱アトマイザ 3、補正をする者 事件との関係 特許出廓人 4、代理人

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、導電材料から成り両端を開放した管体と、この管体
    の一端をクランプするよう配置した1対の第1接触部材
    と、前記管体の他端をクランプするよう配置した1対の
    第2接触部材とを具え、前記管体の縦軸線に垂直な方向
    に前記第1接触部材と第2接触部材とを互に作用させ、
    前記第1接触部材と第2接触部材とを介して前記管体を
    横切って電位を加える装置を設けた原子分光分析の電熱
    アトマイザにおいて、前記第1接触部材と第2接触部材
    とによってクランプされる前記管体の区域を可撓性に構
    成し、前記管体の区域の外面の形状を前記接触部材の整
    合部分の形状に順応させるよう前記管体を前記接触部材
    によって撓ませる装置を設けたことを特徴とする電熱ア
    トマイザ。 2、各対の前記接触部材によって前記管体に流れる電流
    の一部を搬送する特許請求の範囲第1項に記載の電熱ア
    トマイザ。 3、前記接触部材をグラハイトで形成した特許請求の範
    囲第1項に記載の電熱アトマイザ。 4、前記管体をグラハイトで形成した特許請求の範囲第
    1〜3項のいずれか1項に記載の電熱アトマイザ。 5、前記管体全体を熱分解グラハイトで形成した特許請
    求の範囲第4項に記載の電熱アトマイザ。 6、前記管体の断面を円形断面にした前記特許請求の範
    囲第1〜5項のいずれか1項に記載の電熱アトマイザ。 7、前記管体の各端部のクランプ力を4〜5kgにした
    前記特許請求の範囲第1〜6項のいずれか1項に記載の
    電熱アトマイザ。
JP60124416A 1984-06-11 1985-06-10 電熱アトマイザ Pending JPS6151543A (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
GB8414813 1984-06-11
GB08414813A GB2160397A (en) 1984-06-11 1984-06-11 Electrothermal atomiser

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS6151543A true JPS6151543A (ja) 1986-03-14

Family

ID=10562236

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP60124416A Pending JPS6151543A (ja) 1984-06-11 1985-06-10 電熱アトマイザ

Country Status (6)

Country Link
US (1) US4647200A (ja)
EP (1) EP0164805B1 (ja)
JP (1) JPS6151543A (ja)
AU (1) AU584338B2 (ja)
DE (1) DE3565318D1 (ja)
GB (1) GB2160397A (ja)

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101734652B (zh) * 2008-11-14 2012-08-22 上海光谱仪器有限公司 气动夹紧式石墨炉头
CN110520714B (zh) * 2017-03-27 2024-03-01 申克碳化技术股份有限公司 用于雾化炉的管式炉装置

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS58166243A (ja) * 1982-03-08 1983-10-01 エヌ・ベ−・フイリツプス・フル−イランペンフアブリケン 原子吸光分光測光用キユベツト

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE2314207C3 (de) * 1973-03-22 1979-11-15 Bodenseewerk Perkin-Elmer & Co Gmbh, 7770 Ueberlingen Atomisierungsvorrichtung zum Atomisieren einer Probe für flammenlose Atomabsorptionsmessungen
DE2735467C3 (de) * 1977-08-05 1980-05-22 Beckman Instruments Gmbh, 8000 Muenchen Verfahren zur automatischen Probenaufgabe bei der flammenlosen Atomabsorptions-Spektralphotometrie
DD152201A1 (de) * 1980-07-18 1981-11-18 Heinz Falk Vorrichtung zur elektrothermischen atomisierung einer analysenprobe
DD157280A1 (de) * 1981-03-17 1982-10-27 Heinz Falk Elektrothermischer atomisator fuer die atomspektrometrie
GB2102589B (en) * 1981-07-28 1984-12-12 Varian Techtron Pty Ltd Tubular furnace of spectroscopic apparatus
DE3140458A1 (de) * 1981-10-12 1983-04-21 Philips Patentverwaltung Gmbh, 2000 Hamburg Atomisierungsvorrichtung fuer die atomabsorptionsspektroskopie
DE3208744A1 (de) * 1982-03-11 1983-09-22 Philips Patentverwaltung Gmbh, 2000 Hamburg Rohrcuvette fuer die atomabsorptionsspektrometrie
GB2136144A (en) * 1983-03-02 1984-09-12 Philips Electronic Associated Atomic spectroscopy
GB2160399A (en) * 1984-06-11 1985-12-18 Philips Electronic Associated Electrothermal atomiser

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS58166243A (ja) * 1982-03-08 1983-10-01 エヌ・ベ−・フイリツプス・フル−イランペンフアブリケン 原子吸光分光測光用キユベツト

Also Published As

Publication number Publication date
EP0164805B1 (en) 1988-09-28
DE3565318D1 (en) 1988-11-03
AU4344785A (en) 1985-12-19
AU584338B2 (en) 1989-05-25
GB2160397A (en) 1985-12-18
EP0164805A1 (en) 1985-12-18
US4647200A (en) 1987-03-03
GB8414813D0 (en) 1984-07-18

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4232951B2 (ja) 誘導結合プラズマトーチ
JP2006038729A (ja) 誘導結合プラズマトーチ
JP2020020783A (ja) 改良溶湯サンプラー
FR2465691A1 (fr) Ensemble destine au montage d'une electrode sur le bati d'un avant-corps d'un four de fusion de verre
JPH04206431A (ja) 質量分析計イオン源装置
JPS6151543A (ja) 電熱アトマイザ
JPS6151544A (ja) 電熱アトマイザ
US4377749A (en) Photoionizer
US5367374A (en) Platform for a transversely-heated electrothermal atomizer furnace for atom absorption spectroscopy
US5408316A (en) Arrangement for electrothermally atomizing specimens to be analyzed
JPS60155946A (ja) 溶融装入物の試料の分析方法及び分析プロ−ブ
JP3118567B2 (ja) 高沸点気体状分子導入用誘導結合プラズマトーチ
US6111908A (en) High temperature vacuum heater supporting mechanism with cup shaped shield
US4308008A (en) Method for differential thermal analysis
GB2160398A (en) Electrothermal atomiser
GB2072337A (en) Heatable cell for photoacoustic axamination
JPS6381736A (ja) イオンビ−ム装置
KR100709085B1 (ko) 가열 요소를 노에 고정시키기 위한 장치
US6485675B1 (en) Bottom for a metallurgical vessel with a direct current electric arc device
SU1631312A1 (ru) Электродуговой плазмотрон дл спектрального анализа
JP2530883B2 (ja) ガスレ―トセンサ用ホットワイヤの製造方法
JP2000162185A (ja) ガスクロマトグラフ質量分析装置
JPS5935348A (ja) イオン生成装置
GB2088056A (en) Disposable sampling and temperature sensing unit
JPS62177851A (ja) 質量分析装置のイオン源