JPS6150048A - プロ−ブ針昇降装置 - Google Patents

プロ−ブ針昇降装置

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Publication number
JPS6150048A
JPS6150048A JP17155784A JP17155784A JPS6150048A JP S6150048 A JPS6150048 A JP S6150048A JP 17155784 A JP17155784 A JP 17155784A JP 17155784 A JP17155784 A JP 17155784A JP S6150048 A JPS6150048 A JP S6150048A
Authority
JP
Japan
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probe needle
arm
probe
wafer
bimetal
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Pending
Application number
JP17155784A
Other languages
English (en)
Inventor
Sosuke Kawashima
壯介 河島
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NSK Ltd
Original Assignee
NSK Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by NSK Ltd filed Critical NSK Ltd
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Publication of JPS6150048A publication Critical patent/JPS6150048A/ja
Pending legal-status Critical Current

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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N27/00Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
    • G01N27/02Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating impedance
    • G01N27/04Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating impedance by investigating resistance
    • G01N27/06Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating impedance by investigating resistance of a liquid
    • G01N27/07Construction of measuring vessels; Electrodes therefor

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  • Chemical & Material Sciences (AREA)
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  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
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  • Pathology (AREA)
  • Measuring Leads Or Probes (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)
  • Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 「産業上の利用分野」 この発明は、真空、低温の条件下において使用するブロ
ービング装置のプローブ針昇降装置に関する。
「従来の技術J 従来、半導体ウニ/%−の回路の導通を一対のブロービ
ング針によりチェックするブロービング装置としては、
大別して次の二種が使用されている。
一般に、大気、常温中で使用する自動ブロービング装置
としであるものは、マニビュL/−’yf固定し、ウェ
ハーがXY方向に移動し、また、上下に昇降するように
なっているが、ウェハーを水平状態で昇降させるために
複雑な機構を必要としている。
また、真空、低温中で使用する手動ブロービング装置は
、ウェハーを低温例えば約−200℃まで直接冷却する
のでウェハーを動かすことが体性であるため、第3図に
示すようにウェハーWを本体Hに固定し、プローブ針P
を把持するマニピュレータMを真空容器Sの外方へ突出
したつまみTを操作して移動させ、上部!Ei微鏡Kに
よりプローブ針Pの位置を確認しつつ送りねじ等(図示
省略)を利用して前記マニピュレータMを昇降させてウ
ェハーWの回路導通チェックを実施している。
「発明が解決しようとする問題点」 しかしながら、このような従来の手動ブロービンダ装置
に3いては、マニピュレータを真空容器外から機械的機
構によって動作する構成としであるため、真空容器内へ
大気が浸入することを阻止するのに回動部分で遮断する
機構を必要とし、また、チェックに際しても作業者は、
上部顕微鏡によりプローブ針の位置を確認しながらマニ
ピュレータと顕微鏡の両者を移動させなければならず、
作業能率が悪いものであった。
「問題点を解決するだめの手段」 この発明は、叙上の問題点に鑑みてなされたもので、真
空容器内に設置したXYテーブル装置の移・助合に載設
するプローブ針昇降装置において、プローブ針を具備す
るマニピュレータを、熱変化により変形をする特性を有
する部桐、例えば、ノくィメタルや形状記憶合金などの
熱応動部材を用いたアクチュエータにより昇降させる構
成とすることによって、これらの問題点を解決したもの
である。
「作用」 アクチュエータに付設した加熱手段であるニクローム線
に通電し加熱すると、該アクチュエータは、温度上昇に
伴なって徐々に湾曲し、一対の・平行板ばねによって弾
性的に支持されたマニピュレータを上昇、又は下降させ
るので、プローブ針は、ウェハーに対し、離脱、又は当
接する。
「実施例」 以下、この発明の第一実施例を第1図に基づいて説明す
る。
まず、構成を述べる。
プローブ針1は、メスピン2に保持され、真空容器(図
示省略)f、貫通して導入された信号線3に連結してい
る。4は、マニピュレータの一部のアームで、下端部に
胴めにメスビン2が貫設されている。アーム4の上方に
は一対の平行板はね5のうち下部板ばね5にの先端部が
スリーブ7に挾まれて固着されている。スリーブ7の上
端には上部板ばね5jが当接し止ねじ6で取り付けてい
る。
また1図示を省略した、XYテーブル装置の移動台に載
設される取付台8には、複数の昇降調節゛ねじ9により
高さ調節可能にベースブロック10が取付けられてχす
、ベースブロック10にはアーム40IIIに突出した
突起11tを設けた支柱部11が形成されている。該突
起11tにはバイメタル13の一方の端部がビス12に
よりビス止めされバイメタル13の他方の端部である先
端部には。
切込み13kが刻設されていて該切込み13には、前記
スリーブ7に設けた縮径部γSの段部γdに隣接した状
態でスリーブ7に嵌め込まれている。
そして、バイメタル13の表面には、真空容器を貫通し
て導入した電線14に連結した加熱手段であるニクロー
ム線15が載設しである。
更に、上部板ばね5J及び下部板ばね5にの基端ば、そ
れぞれ支柱部11の頂面及びベースブロック10の内底
面角に刻設された凹部10hにビス16.17(第2図
参照)により固定されている。すなわち、前記アーム4
は、一対の平行板ばね5によりベースブロック10に昇
降可能に弾性支持されているわけである。
なお、18は、真空容器の底板(図示せず)中央に設定
された半導体ウェハーでおる。
板ばね21は、支柱部11の突起11tの上方に同方向
に突設されたバランス用突起11bの根元に刻設した取
付溝11mに基端を挿入固着され、先端は、スリーブ7
に付設した係止具22の下面に当接して該スリーブ7、
すなわち、アーム4などの可動部を一ヒ方へ付勢してい
る。また、23は、バランス調節ボルトで、バランス用
突起11bの下面から上方へ貫通して螺入され、先端は
バランス調節用板ばね21の基端部下面に当接している
そして、前記調節ボルト23を回すことにより杉板ばね
21の湾曲度を変更することにより、前記可動部の重r
代を打ち消すバランスiL’d整を行う。
なお、24は、調節ボルト23の回り止めナツトである
また、可動部の重量は少し増加するが、・くランス調節
用板ばね21をアーム4に固着し、支柱部11に係止す
るようにしても良いし、・くランス調;窄用ばねとして
コイルスプリングを用いるようにすることもできる。
次に、作用を述べる。
最初に、紙上のプローブ針昇降装置をXYテーブル装置
を操作して半導体ウニ、、−18の上部に配置し、プロ
ーブ針1が規定圧で該クエ、1−18面に当接するよう
に昇降調節ねじ9を回して核外1の高さを調整する。
次に、ニクローム線15に通電すると、バイメタル13
が加熱されて上方へ湾曲するようにしであるので、該バ
イメタル13の先端部は段部7dに当接し、アーム4を
押し上げ、したがってプローブ針1ば、前記ウェハー1
8から離れる。
また、電流を切ると、バイメタル13の温度は下降する
ので、バイメタル13は下方へ湾曲し、その先端部は段
部7dから離れるため、プローブ針1は、平行板ばね5
の釣り合いにより規定圧で前記ウェハー18面に当接す
る。
そこで、プローブ針1.メスピン2.信号線3からなる
プローブ針ユニット19をアーム4に隣接し増設すれば
、紙上の動作により半導体ウェハー18の回路の導通を
チェックすることができる。
なお、申すまでもなくバイメタル13の湾曲方向は、上
記の逆方向でも差支えない。
また、バイメタル13の代りに二方向性形状記憶合金を
使用してもよい。
「発明の効果」 以上説明してきたようにこの発明は、XYテーブル装置
の移動台に載設するブロービング装置において、プロー
ブ針昇降装置を、ペースブロックに上下に平行して基端
を固着した板はねの先端部により、プローブ針ユニット
を保持するアームを弾性的に支持するとともに、熱変化
に伴ない変形する特性を有する熱応動部材とこの熱応動
部材に熱を与える加熱手段を用いてアクチュエータを構
成してアームに固定したプローブ針ユニットを昇降させ
るようにしたから、大気、常温中は申すまでもなく、・
!“1;空、低温の特殊環境下においても容易に使用が
でき、しかも真空容器に設置する場合は器内への貫入部
材は機械的に外部より作動させるものがないので、その
気密保持手段も簡単となり、また、大気中からの遠隔操
作も極めて容易である。
な方、プローブ針の針圧は、アームを保持する一対の平
行板はねにより、前記特性を有する部材とは無関係であ
るので、周囲の温度変化やニクローム線の電流値のバラ
ツキ等に基づく針圧変化を生ずることがなく、針圧は常
に一定にできる。そのうえプローブ針の昇降動作は徐々
に行なわれるので、プローブ針やウェハーを痛めること
もない。
しかもプローブ針は、平行板はねによりウェハーに対し
て直角方向にその先端を昇降するので、正確にウェハー
に当接させることができ、位置決めも迅速容易となると
いう効果がある。
更に、バランス調節用板ばねにより可動部の重)1;を
打ち消すようにしたものでは、平行板ばねのはね定数を
小さくすることができ、したがって。
ペースブロックとウェハー面との高さのバラツキによる
針圧変化も小さくなり、また、前記調節用板ばねの調整
により、平行板ばねの負荷を減少するので、プローブ針
の昇降動作をより安定させることができるという効果が
ある。
【図面の簡単な説明】
第1図は、この発明のプローブ針昇降装置の実施例を示
す斜視図、第2図は、第1図の装置の側面図、第3図は
、従来の手動ブロービング装置のJl!1F、要を示す
斜視図である。 1・・・・・・・・・プローブ針 4・・・・・・・・・アーム 5・・・・・・・・平行板ばね 8・・・・・・・・・取付台 10・・・・・・ペースブロック 13・・・・・・バイメタル 15・・・・・・ニクローム線 19・・・・・・プローブ針ユニット 21・・・・・・バランス調節用板はね第1図 第2図 第3図′

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)取付台に高さ調節可能に設けられたベースブロッ
    クと、該ベースブロックに上下に平行して基端部を固着
    した一対の平行板ばねを有する弾性支持手段と、該弾性
    支持手段の前記板ばねの先端部に支持されプローブ針ユ
    ニットを保持するアームと、熱変化に伴ない変形する特
    性を有し前記ベースブロックと前記アームとの間に介在
    させた熱応動部材と、該熱応動部材に熱を与える加熱手
    段とを有し、前記アームを熱応動部材の変形により昇降
    させるようにしたプローブ針昇降装置。
  2. (2)前記弾性支持手段は前記アームの重量を打ち消す
    弾力調整可能なバランス調整用ばねを具えている前記特
    許請求の範囲第1項記載のプローブ針昇降装置。
JP17155784A 1984-08-20 1984-08-20 プロ−ブ針昇降装置 Pending JPS6150048A (ja)

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JP17155784A JPS6150048A (ja) 1984-08-20 1984-08-20 プロ−ブ針昇降装置

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JPS6150048A true JPS6150048A (ja) 1986-03-12

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ID=15925338

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JP17155784A Pending JPS6150048A (ja) 1984-08-20 1984-08-20 プロ−ブ針昇降装置

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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01124576U (ja) * 1988-02-16 1989-08-24
JPH0284749A (ja) * 1988-06-03 1990-03-26 Tokyo Electron Ltd プローブ装置
JP2010056553A (ja) * 2008-08-26 2010-03-11 Jason C Caudill プローブ先端
WO2024081107A1 (en) * 2022-10-12 2024-04-18 Macom Technology Solutions Holdings, Inc. Voice coil leaf spring prober

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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01124576U (ja) * 1988-02-16 1989-08-24
JPH0284749A (ja) * 1988-06-03 1990-03-26 Tokyo Electron Ltd プローブ装置
JP2010056553A (ja) * 2008-08-26 2010-03-11 Jason C Caudill プローブ先端
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