JPS6148742A - レンズ偏芯測定機 - Google Patents

レンズ偏芯測定機

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JPS6148742A
JPS6148742A JP17121884A JP17121884A JPS6148742A JP S6148742 A JPS6148742 A JP S6148742A JP 17121884 A JP17121884 A JP 17121884A JP 17121884 A JP17121884 A JP 17121884A JP S6148742 A JPS6148742 A JP S6148742A
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lens
eccentricity
reflected
mirror
laser
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Kaneyasu Ookawa
金保 大川
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Olympus Optical Co Ltd
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01MTESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01M11/00Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
    • G01M11/02Testing optical properties
    • G01M11/0221Testing optical properties by determining the optical axis or position of lenses

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  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 発明の技術分野 本発明は、レンズの各面の偏芯量を測定する装置に関し
、特に、レンズに当てた光ビームの反射によりレンズ各
面の偏芯量を測定するものである。
従来技術 レンズの各面の偏芯量を光学的に測定する装置として、
@9図〜第12図に示すものが知られている。
第9図(=おいて、1はレーザー発振器、2はハーフミ
ラ−13は被検レンズで、該レンズ3の2つのレンズ面
3a 、 3bの偏芯量を測定するものである。4は被
検レンズ3の保持枠、5は被検レンズ3の位置決め用の
軸方向の基準面5aと、半径方向の基準面5bとを有す
るステージ、Bは、その表面に測定用の基準点Pが設け
られている評価スクリーンである。
そして、レーザー発振器1から出射されたレーザービー
ムは、位置決め用基準面5bの中心を通り、5aの面と
直角になるように配置されており、このレーザービーム
の被検レンズ3のレンズ面への入射角0°での反射光が
、ハーフミラ−2によって反射され、この反射ビームが
評価スクリーン6の基準点Pに、このスクリーンに直角
に入射するように配置されている。
以上の構成を有する偏芯測定機において、被検レンズ3
の2つのレンズ面3a 、 3aが、いずtも保持枠4
の基準軸線に対して無偏芯の場合は、第1(1(a)に
示すよう(=被検レンズ3の2つのレンズ面3a 、 
3bによる反射ビームは、各々ハーフミラ−2で1部反
射され、前記評価スクリーンの基準点Pを、両者が一致
した状態で照射する。
そして、2つのレンズ面3a 、 3bが偏芯している
場合は、第10図(b)に示すように、2つの光束は、
その偏芯量に応じて前記基準点Pよりずれた位置を照射
する。
したがって、前記基準点からの照射ビームの方位のずれ
量を観察するか、他の手段により計測すれば、各レンズ
面の偏芯の程度を知ることができる。
このような装置の特徴としては、各レンズ面の偏芯の程
度が同時に観察又は測定できるので操rF−性が良く、
安価にできるという利点がある反面。
照射ビームがどのレンズ面による反射ビームかというこ
とがきわめて困難であるという欠点を有する。
したがって、被検レンズ3の設計データが既知であった
としても、その偏芯量の絶対値を知ることはできないの
である。
第11図は、他の従来技術を示すものである。
1−1はランプ、12はコンデンサーレンズ、13はタ
ーゲット、14はハーフミラ−115は被検レンズ、1
6は被検レンズ15の保持枠、17は被検レンズ15の
位置決め用基準面17a 、 17bを有するステージ
、18は基準点Pが設けられている評価スフリースクリ
ーンである。
光軸配置については、第9図と同様であって、ランプ1
1からの光はコンデンサーレンズ12により集束され、
位置決め用基準面17bの中心を通り、17aと直角に
なるように配置されているが、ランフ11、コンデンサ
ーレンズ12、ターゲット13、ハーフミラ−14、及
び評価スクリーン18は、1体となって図面の上下方向
に連続的に移動できる機構を備えた移動部1日を有して
いる。
そこで、第11図に於ける作用を簡単に説明すると、ラ
ンプ10から発せられた照明光は、コンデンサーレンズ
12により集光され、ターゲット13を照明し、ターゲ
ット13の被検レンズ15の各面15a 、 15bに
よる反射1挫がハーフミラ−14により評価スクリーン
18(二結僚するように、前記移動部19を操作するの
である。
すると、第12図に示すように、被検レンズ15のいず
れか一方のレンズの反射面が保持枠の基準面17bに対
して無偏芯の場合は、第12図(a)に示すようにター
ゲツト像は評価スクリーン18の中央に結像するが、ど
ちらかのレンズの反射面が保持枠の基準面17bに対し
て偏芯している場合は、第12図(b)に示すように評
価スクリーン18の中央部からずれた状態で結像する。
したがって、移動部19を被検レンズの面数だけ操作し
て結像位置を探すことにより、どのレンズ面が偏芯して
いるのか知ることができる。すなわち、被検レンズの反
射面毎に移動部の位置が異ることになるので、被検レン
ズ15の設計データが既知である場合には、どの面によ
る反射像かを容易に判定できるので、この設計データを
用いて各面の偏芯量の絶対値を計算により知ることがで
きるのである。
しかしながら、この装置においては、次のような欠点を
有する。
(イ)移動部を被検面の数だけ操作しなければならない
ので、操作性が良くない。
(ロ)各被検面について、その被検面の像と、その被検
面による空中像の2つの像が形成され、この区別がつき
碓<、解析しにくい(これも操作性の良くない原因の1
つである)。
(ハ)移動部の移動ガタ等により、測定器i■が悪く、
このために所定位置で一担装置を固定し、被検物を回転
してターゲツト像の振れを読む方法を採用しているが、
この場合、装置が複雑化し、偏芯方位の測定については
精度が上らない。
したがって、これら従来技術の欠点を解消するど共に、
従来技術の特徴を活かすべく測定器の開発が望まれてい
たのである。
発明の目的 本発明は、前記問題点に鑑み、安価で操r[性が良く、
測定精度の高いレンズの偏芯測定機を提供することを目
的とするものである。
発明の概要 レーザービーム2被検レンズの間に回転可能な平行面透
明板を挿入することにより、レンズの面の反射光からレ
ンズ面の偏芯量を測定するものであって、第1図は、そ
の概要を示す図である。
図において、21はレーザー発振器、22はビーム走査
板、23はハーフミラ−124はレンズ面24a。
24bを有する被検レンズ、25は被検レンズ24の保
持枠、2Bは被検レンズ24の位置決め用基準面26a
 、 26bを有するステージ、27は基準点が設けら
れている評価スクリーンである。
したがって、この装置は従来技術を示す第8図において
、レーザー発振器とハーフプリズム2の間にビーム走査
板22を追加配置した構成となっており、他は第9図の
ものと同じ条件である。
今、ビーム走査板22を厚さt、屈折高n0の平行平面
透明板とし、平行平面の法線がレーザー光軸:二対しΔ
だけ傾けて配置し、これがレーザー光軸を回転軸として
回転できるものとする。そして、この時のビーム走査板
22からの出射光Sは、入射軸に常に平行で、この入射
軸のまわりを円状に回転する時、この回転半径なrとす
れば、の式で表わされる。これは、評価スクリーン27
上でも同様である。
第2図は、ビーム走査板22の回転による評価スクリー
ン上のレーザービームの反射光像を示すもので、第2図
(a)の場合は、被検レンズのレンズ面から反射する2
つのレーザービームの反射光像は、その軌跡が同心円と
なり、その回転中心は前記基準点Pに一致しており、こ
のことは、2つのレンズ面が2面共に無偏芯であること
を示しており、第2図(b)の場合は、いずれも2つの
レンズ面からの反射光像の軌跡が前記基準点Pから外れ
ており、両方とも偏芯していることを示している。
しかも第2図(b)の場合は、2つの被検レンズ面から
の反射光像の軌跡の半径が異っているが、これは、被検
レンズ面の曲率半径の違いによるものである。
一般式として、評価スクリーン上の軌跡の半径をrn、
被検面数をmとすれば、第n面の被検レンズ面からの反
射ビームの光像の軌跡の半径は次式%式% ここでR1+ R2”’ Rn+ ’1 # ’l””
nは、入射面番nに対応する面の曲率半径及び基準面2
6a(任意設定できる)からの中心位置で、N、 、 
N、・・・Nn−1は、その面の後側の屈折率で、lは
、評価スクリーンの基準面26aから評価スクリーン2
7までの中心軸に沿った光路長である。
(2)式において、見及びrを一定にした場合、r′n
は被検面までのレンズ面の各曲率半径及び各レンズ面の
基準面26bからの位置により決定され、一般には、r
1+ ”2r ”a・・・rmは全て異ることになる。
したがって、このrl l rl m T&・・・rm
の値を、定められた計算値と比較することにより、評価
スクリーン27での各照射ビームがどの被検面からの反
射光であるかを知ることができるのである。
また、第n面の被検面からの反射ビームの評価スクリー
ン27上での回転中心の位置は、前記基準点Pを含む適
当な直交座標(Xn+Yn)に対して式%式% は各々n面までの各レンズ面のX軸上での偏芯量で、δ
ア1.δy、・・・δynは各々n面までのy軸上での
偏芯量である。
(3)式において、Xs 、 Xm ””Xm及び’1
1rY*・”Ymの、計2m個のデータを評価スクリー
ン27上で得ることができるので、結局2m個の式が得
られる。ここで未知数はδ88.δx2・・・δXm及
びδ、1.δyi”’δ7mの、計2m個となり、これ
ら2m個の式から各レンズ面の偏芯量と、その偏芯方位
を知ることができるのである。
実  施  例 以下、本発明の実施例につき説明する。
第3図は本発明による第1実施例を示す図である。第3
図に於いて31はHe−Neレーザー発振器、32は細
い平行光束を得るためのビームコンバーター、33は第
1のハーフミラ−134はビームを円状に走査するため
のビーム走査板で、平行平面透明板により構成されてい
る。35は第2のノ蔦−7ミラー、36は第1のテレビ
カメラ、37は第1の全反射ミラー、38は第2の全反
射ミラー、39は、第1のテレビモニター、40は偏光
プリズム41ハシ′4波長板42は例えば2枚のレンズ
42 (a)及び42(b)で構成される被検レンズ、
43は被検レンズ42の位置決め用基準面43 (a)
及び43(b)を有するステージ、44は第2のテレビ
カメラ、45は第2のテレビモニターである。そして、
ビーム走査板34は、レーデ−光軸に対して連続的(矢
印A)に傾けられる機構部と、この状態でレーザー光軸
な回転軸として回転できる(矢印B)機構部とを有して
いる。又、ステージ43の配置については従来技術を示
す第8図と同様である。
次に第3図に於ける作用を説明する。まずレーザー発振
器31から出射したレーザービームはビームコンバータ
ー32によりきわめて細いレーザービームに変換される
。そして、第1のハーフミラ−33により2分され透過
ビームはビーム走査板34を通り、第2のハーフミラ−
35で反射され、第1のテレビカメラ36に入射し、反
射光は、第1の全反射ミラー37及び第2の全反射ミラ
ー38で反射し、第2のハーフミラ−35を透過し、第
1のテレビカメラ36に入射する。そして、これら2種
のビームを第1のテレビモニター39に表示する。第4
図はこの状態を示している。即ち、固定ビームを基準点
に表示し、又そのまわりを半径rで回転する移動ビーム
を、合わせて表示し、これを入力モニターとする。
さらに、ビーム走査板34を通り第2のハーフミラ−3
5を通過したビーム及び第1のハーフミラ−33で反射
され全反射ミラー37 、38で反射され、第2のハー
フミラ−35で反射されたビームは、共に、偏光プリズ
ム40及びV4波長板41を通り、被検レンズ42に入
射する。この入射ビームの状態は第4図に示すように、
入力モニターで表示される状態と全く同等である。
そして、これら2種類の入射ビームがレンズ42(a)
及び42(b)の各面で反射され、再びv4波長板41
を通り、偏光プリズム40で反射され、これが第2のテ
レビカメラ44に入射し、第2のテレビモニター45(
=この状態を表示する。第5図はこの状態を示したもの
であり、各被検反射面の偏芯に応じて、基準点からずれ
た位置に固定ビームとそのまわりを半径ビで回転する移
動ビームを同時に被検面数だ(す表示し、これを出力モ
ニターとしたものである。
したがって、r’++ビ1 r r/3 m ’4を計
算値と比較することにより、被検面を判定し、この面に
対応する偏芯量及び偏芯方位を図中の固定ビーム座標(
xt +y+) (X! +)’り (xa s7m)
 (X4 +)’4)より計算して求めることができる
のである。
又、第4図に於けるrの値はビーム走査板34の傾き角
を変えることにより任意に設定することができるから、
第5図の各r′の値が大きすぎる場合、又は小さすぎる
場合のPJ@整に使用することができ、この場合rを基
準スケールとしてビな判定すれば良い。
なお、この説明では被検レンズ面数を4としたが何面で
も構わないことはもちろんである。又、偏光プリズムと
V4波長板の代りにハーフミラ−を使用しても良い。
本実施例によれば、被検レンズをセットするだけで、全
ての面の偏芯量を短時間で測定できる。
また固定ビームの基準点からの距離及びレンズ性能への
影qi度は共にその面の曲率に大体比例することから、
各レンズ面の許容偏芯量をモニター上で設定できるため
、レンズ偏芯の総合検査器としても容易に使うことがで
きる等の効果を有する。
第6図は本発明による第2実施例を示す図である。第6
図1=於て、52はレーザーダイオード、53は、この
光を細い平行光束1:変換するためのビームコンバータ
ー、54は、ビーム走査板、55はハーフミラ−156
は第1のテレビカメラ、58は被検レンズ、58はステ
ージ、60は第2のテレビカメラ、61は画像処理部、
62はレンズデータ入力部、63はレンズデータ記憶部
、64は演算部、65はプリンターである。第1実施例
との構成上の違いは、光源をレーザーダイオードとし、
ハーフミラ−を1枚減らし、テレビカメラ位置を変更し
て固定ビームのテレビカメラへの入射をやめたこと、及
び表示方式をテレビモニターから、プリンターでの偏芯
量表示に変更したことである。
そこで、第6図に於ける作用を説明すると、まずレーザ
ーダイオード52からの光はビームコンバーター53に
よって、きわめて細い平行ビーム変換され、このビーム
は、ビーム走査板54を通りハーフミラ−55で2分さ
れる。そしてこのうちの反射光は、第1のテレビカメラ
5日に入射する。そして2分されたうちの透過光は被検
レンズに入射し、被検レンズの各面による反射ビームは
再びハーフミラ−55で反射され、第2のテレビカメラ
60に入射する。第7図及び第8図は各々第1のテレビ
カメラ56及び第2のテレビカメラ60への入射ビーム
の状態を示すもので、これらと第4図。
第5図との違いは、これは移動ビームのみの表示で固定
ビームは表示しないということである。
したがって、第2のテレビカメラの出力を画像処理部6
1で第7図及び第8図に於ける各移動ビームの軌跡の半
径r + ”5sビ1.ビ*ar′4及びこれらの中心
座標(xt +y*) l (xl +Yり p C”
a +yg) j(X4 + )’4)を測定する一方
、レンズデータ入力部62で、被検レンズの設計データ
をあらかン入力し、レンズデータ記憶部63に記憶して
おき、画像処理部B1の出力としての半径r 、 r’
t 、 rfl 、 r′s、 r′4及び中心座標(
X1+ )’1) s (”! + 71) t (x
l r Yl) t(X4174)とレンズデータ記憶
部63で記憶されているレンズデータとから演算部64
によって、各面番ごとの偏芯量とその偏芯方位とを計算
により求め、これをプリンター65で読取ることができ
るのである。
この実施例によれば、直接各面の偏芯量をプリンターで
表示し、読取り可能としたので測定者の疲労が少ない。
高い精度で測定できる等の効果を目すなわち、プリンタ
を付設した点は、本発明の測定機とは、機能上無関係で
あるから目的に応じて種々のプリンターや表示形式が採
用できる。
本発明によれば、従来のレンズ面の偏芯測定機の光軸に
、わずか1枚の平行平面透明板を挿入することにより、
極めて簡単な操rμでレンズ面の偏芯量を測定すること
が出来ると共に、安価で高精度のレンズ偏芯測定機を得
ることが出来る効果を有するものである。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の概要説明図、第2図は第1図における
評価スクリーン上のレーザービームの反射光像を示す図
、第3図は本発明の第1の実施例を示す図、第4図は第
1のテレビモニターの表示、第5図は第2テレビモニタ
ーの表示、第6図は第2実施例を示す図、第7図は入力
モニターの表示、第8図は出力モニターの表示、第9図
は従来技術における概要説明図、第10図は第9図にお
ける評価スクリーン上のレーザービームの反射光像を示
す図、第11図は他の従来技術、第12図は第11図に
おける評価スクリーン上のレーザービームの反射光像を
示す図である。 21・・・・・・レーザー発振器 22・・・・・・ビーム走査板(平行平面透明板)23
・・・・・・ハーフミラ− 24・・・・・・被検レンズ 25・・・・・・被検レンズ枠 26・・・・・・ステージ 27・・・・・・杆価スクリーン 第1図 第2図 第3図 第6図 C#r−52 第11図 第32図 手叙ご♀甫二王拡ト(白3壱〉 昭和60年3月27日 1、事件の表示 昭和59年特許願第171218号 2、発明の名称 レンズ偏芯測定機 3 、 ?ili正をする者 事件との関係  特許出願人 住 所  東京都渋谷区幡ケ谷2丁目43番2号4o代
理人 6、補正の対象 明細書の「発明の詳細な説明ヨの榴 7 、7+Ir正の内容 (1)明細書第8頁第6行目の (2)明細書第9頁第20行目および明細書第10頁第
1行目の’r++ r2+ r3+・・・・・・rmヨ
との記載を’r’++ r’2. r’3.・・・・・
・1−′□ヨと補正する。 )も(3 ン )明細書第10頁第1行目記載を次の通り7111正す
る。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)細いレーザービームを被検レンズに照射し、その
    反射ビームの方位を検出することにより、レンズの偏芯
    量を測定する装置に於て、レーザー発振器と被検レンズ
    との間に、透明な平行平面板を配置し、これを前記平行
    平面板の2つの平行面の法線と異る回転軸のまわりを回
    転できるようにした事を特徴とするレンズ偏芯測定機。
JP17121884A 1984-08-17 1984-08-17 レンズ偏芯測定機 Granted JPS6148742A (ja)

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JP17121884A JPS6148742A (ja) 1984-08-17 1984-08-17 レンズ偏芯測定機

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JPS6148742A true JPS6148742A (ja) 1986-03-10
JPH053537B2 JPH053537B2 (ja) 1993-01-18

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2019176805A1 (ja) * 2018-03-12 2019-09-19 富士フイルム株式会社 偏芯測定装置及び方法
JP2021096131A (ja) * 2019-12-17 2021-06-24 キヤノン株式会社 偏芯計測方法および偏芯計測装置

Cited By (3)

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WO2019176805A1 (ja) * 2018-03-12 2019-09-19 富士フイルム株式会社 偏芯測定装置及び方法
JPWO2019176805A1 (ja) * 2018-03-12 2021-02-04 富士フイルム株式会社 偏芯測定装置及び方法
JP2021096131A (ja) * 2019-12-17 2021-06-24 キヤノン株式会社 偏芯計測方法および偏芯計測装置

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