JPS6148527A - レ−ザ−ビ−ム走査処理装置 - Google Patents

レ−ザ−ビ−ム走査処理装置

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JPS6148527A
JPS6148527A JP59168904A JP16890484A JPS6148527A JP S6148527 A JPS6148527 A JP S6148527A JP 59168904 A JP59168904 A JP 59168904A JP 16890484 A JP16890484 A JP 16890484A JP S6148527 A JPS6148527 A JP S6148527A
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JP
Japan
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signal
laser beam
irradiation
scanner
detector
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JP59168904A
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JPH0215608B2 (ja
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Masakazu Yamada
正和 山田
Takeji Egashira
江頭 武二
Masaru Iwasaki
勝 岩崎
Yoshitada Tanaka
田中 祥直
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
YAMADA KOGAKU KOGYO KK
Nippon Steel Corp
Original Assignee
YAMADA KOGAKU KOGYO KK
Nippon Steel Corp
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    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C21METALLURGY OF IRON
    • C21DMODIFYING THE PHYSICAL STRUCTURE OF FERROUS METALS; GENERAL DEVICES FOR HEAT TREATMENT OF FERROUS OR NON-FERROUS METALS OR ALLOYS; MAKING METAL MALLEABLE, e.g. BY DECARBURISATION OR TEMPERING
    • C21D8/00Modifying the physical properties by deformation combined with, or followed by, heat treatment
    • C21D8/12Modifying the physical properties by deformation combined with, or followed by, heat treatment during manufacturing of articles with special electromagnetic properties
    • C21D8/1294Modifying the physical properties by deformation combined with, or followed by, heat treatment during manufacturing of articles with special electromagnetic properties involving a localized treatment

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  • Materials Engineering (AREA)
  • Metallurgy (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Laser Beam Processing (AREA)
  • Manufacturing Of Steel Electrode Plates (AREA)
  • Heat Treatment Of Sheet Steel (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 【産業上の利用分野】
本発明は、高出力パルスレーザ−ビームにより被加工物
体、例えば電磁鋼板の磁気特性を向上させるようにした
レーザービーム走査処理装置に関する。
【従来の技術】
方向性電磁鋼板の表面にYAGレーザー等のハイパワー
パルスレーザ−ビームを照射することによって、鋼板の
磁気的特性を改善できることは特公昭57−2252号
公報等によって公知の事実であるが、これを工業的規模
で実施する際には種々の解決すべき問題がある。 この
問題の重ようなものとして高速の鋼板移動速度に対する
対処方法がある。 レーザービーム走査装置によって鋼
板表面に与える平行線上の照射痕間隔を一定したまま鋼
板の移動速度を高めようとすれば、当然走査速度及びレ
ーザーパワーを比例的に高めなければならないが、走査
機構に振動ミラー等を使用した場合は、振動ミラーの動
特性によって制限される一定の振動周波数を越えること
はできない。 また、回転ミラー等の高速走査機構を使
用したとしても、今度はレーザーパワーの上限によって
走査速度が制限されてしまう。 特にハイパワーレーザ
ーの場合は、このレーザーパワーの制限が非常に厳しい
場合が多い。 I発明が解決しようとする問題点】 上記のように、一台の走査装置で高速の鋼板移動に対処
することは非常に困難であり、複数台の走査装置を鋼板
の長手方向に配置して、各々の走査装置の走査速度を高
めることなく各々の走査装置によって作られた鋼板上の
照射痕が重なることなく、全体として等間隔になるよう
に走査を制御すれば良い訳であるが、このような制御を
することは鋼板速度の微小な変動によって極めて困難な
ことであった。
【問題点を解決するための手段l 高出力レーザー光を被加工物体1例えば電磁鋼板等の表
面に照射して該電磁鋼板の磁性を向上さ1      
  せるようにした走査処理装置におt)て、複数個の
レーザービーム走査器を上記被加工物体の移動方向に沿
って間隔を置いて配置し、最上流に位置するレーザービ
ーム走査器によって作られた被加工物体上の平行線状照
射痕を下流に位置する各々のレーザービーム走査器の直
前に配置した照射痕検出器により検出すると共に、上記
被加工物体の速度信号をもとに照射痕検出信号を遅延さ
せ、この遅延信号に同期して走査することによって最上
流のレーザービーム走査器により作られた照射痕の間の
任意の正確な位置に下流のレーザービーム走査器により
平行線状照射痕を作ることによって、走査速度を高める
ことなく、複数個のレーザービーム走査器全体として照
射痕ピッチを狭くし、かつ照射パワーを増大させるよう
に構成したものである。 【実 施 例】 以下に、本発明の実施例を添付図面を参照しながら説明
すると、1はレーザー照射される被加工物体、例えば電
磁鋼板であって、ロール2上を矢印3で示す方向に所定
速度Vで移動する。 4aおよび4bは電磁鋼板1の移
動方向に沿って所定の間隔を置いて配置された第1およ
び第2のレーザービーム走査器であって、第1のレーザ
ービーム走査器4aは電磁鋼板1の流れに対して上流側
に位置し、第2のレーザービーム走査器4bは下流側に
位置している。 6aは第1のレーザービーム走査器4
aから発生したレーザービーム5aによって作られた電
磁鋼板1上の第1の照射痕、6bは第2のレーザービー
ム走査器4bのレーザービーム5bによって作られた第
2の照射痕である。 7は第2のレーザービーム走査器
4bの上流側のできるだけ近くに設置され、第1のレー
ザービーム走査器4aによって作られた照射痕6aを検
出する照射痕検出器、8はロール2に機械的に連結され
た移動速度検出器である。 9は移動速度検出器8の速
度検出信号S2と照射痕のピッチ指令信号S1を入力と
し、第1の走査基準信号S3を得る基準信号発生器であ
る。 10は照射痕検出器7の照射痕検出信号S4と移
動速度検出器8の速度検出信号S2を入力とし同期信号
S5を出力する信号遅延回路で、11は基準信号発生器
9の第1の走査基準信号S3と信号遅延回路10の同期
信号S5を入力とし第2の走査基準信号S6を出力する
信号同期装置である。 上記構成のレーザービーム走査処理装置において、第1
のレーザービーム走査器4aの走査タイミングを電磁鋼
板1の移動速度Vと第1.第2のレーザービーム走査器
4aと4b間の距離りに対しτ:L/vだけ遅延させた
信号を基準として第2のレーザービーム走査器4bの走
査タイミングを適当な位相に制御することになる訳であ
るが、このような方法では鋼板速度の計測誤差によって
第2のレーザービーム走査器4bによる照射痕の位置が
大きく変化してしまう。 例えば、L=1mとして速度
の計測誤差4V/Vを±1%とすれば、信号遅延時間の
誤差−7= L −av/v 、照射痕の位置誤差乙L
=a7y=±100011nl×0.01=±10mm
となる。また、第1のレーザービーム走査器4aによっ
て作る照射痕ピッチが10mmで第2のレーザービーム
走査器4bによって作る照射痕6bと合せて5+nmピ
ンチを得ようとした場合、照射痕6bの位置が±10m
mも変動してしまい、等間隔ピッチの照射痕は全く不可
能であることが判る。 そこで、本発明においては、第2のレーザービーム走査
器4bの上流側のできるだけ近くに照射痕検出器7を設
置した。 照射痕検出器7は、第1のレーザービーム検
出器4aによって作られた照射痕6aが該検出器7の直
下に来たときにパルス信号S4を発生するものであり、
照射痕が明確な白線となっているため、光学的手法によ
って容易に実現することができる。 第2のレーザービ
ーム走査器4bと照射痕検出器7の間隔αはできるだけ
小さくすることが望ましいが、50mm程度は容易に実
現可能である。 鋼板上の最終的な照射痕のピッチ指令信号S□が与えら
れると、鋼板の移動速度検出器8の速度検出信号S2と
の関係から照射痕のピッチが指令値の2倍になるような
第1の走査基準信号S3を基準信号発生器9によって作
り出す。 第1の走査基準ヤ      信号S3は上
流側に位置する第1のレーザービーム走査器4aに入力
され、レーザービーム5aを走査し、平行線状照射痕6
aを作ると共に信号同期装置11にも入力され、同期信
号S5に同期した第2の走査基準信号S6に変換されて
下流側に位置する第2のレーザービーム走査器4bに入
力し、レーザービーム5bを走査し平行線状照射痕6b
を作る。 同期信号S、は照射痕検出器7によって発生
する照射痕に対応したパルス信号S4を信号遅延回路1
0によって、鋼板の速度信号と照射痕検出器7と第2の
レーザービーム走査器4bの間隔Qで定まる遅延時間?
=Qlv+”lαだけ遅延させたものである。 ここで
、7αは照射痕6bが照射痕6aの間の望ましい位置に
なるように調節するための補正値である。 本実施例の
レーザービーム走査処理装置によれば、照射痕6aと6
bの間隔のバラツキは112 = 12−tv/vとな
り、Q =50mm、速度計測誤差乙シ/ド±1%とす
れば、4Q=±0.5mmとなって最終的な照射痕ピッ
チを5mmとしても十分等間隔な照射痕が得られること
になる。 本実施例の説明は、走査器が2台の場合を示
したが、3台以上の場合でも全く同様の方法で制御する
ことができる。 r発明の効果】 本発明は上記の如くであって、レーザー光発生手段のレ
ーザービーム走査器のうちのそれぞれ下流に位置する走
査器の直前に、最上流に位置するレーザービーム走査器
によって被加工物体に作られた照射痕を検出する照射痕
検出器を配設し、被加工物体の速度信号をもとに照射痕
検出器の検出信号を遅延させ、この遅延信号に同期して
下流に位置するレーザービーム走査器に走査させるよう
にしたので、個々の走査器の走査周波数を高めることな
く複数個の走査器によって高速移動する被加工物体、例
えば鋼板上に望ましいピッチでレーザー照射痕を作るこ
とができる。 したがって、本発明によれば高出力レー
ザースキャニングの工業的規模での実施において極めて
効率的で高性能の装置を提供できるものである。
【図面の簡単な説明】
図面は本発明の一実施例を示す構成図である。 図中、1は被加工物体である電磁鋼板、4aは第1のレ
ーザービーム走査器、4bは第2のレーザービーム走査
器、5a、5bはレーザービーム、6a、6bは照射痕
、7は照射痕検出器、8は移動速度検出器、9は基準信
号発生器、10は信号遅延回路、11は信号同期装置で
ある。 特許出願人 山田光学工業株式会社 外1名

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1.  複数個のレーザービーム走査器を、該レーザービーム
    走査器とは相対的に移動する被加工物体の移動方向に沿
    って間隔を置いて配置してなるレーザー光発生手段と、
    このレーザー光発生手段のレーザービーム走査器のうち
    の各々下流に位置するレーザービーム走査器の直前に配
    置され、最上流に位置するレーザービーム走査器によっ
    て上記被加工物体に作られた照射痕を検出する照射痕検
    出器と、上記被加工物体の速度信号をもとに上記照射痕
    検出器の検出信号を遅延させて、この遅延信号に同期し
    て上記下流に位置するレーザービーム走査器に走査させ
    ると共に、上記被加工物体に照射痕を形成する手段とに
    よって構成したことを特徴とするレーザービーム走査処
    理装置。
JP59168904A 1984-08-14 1984-08-14 レ−ザ−ビ−ム走査処理装置 Granted JPS6148527A (ja)

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JPS6148527A true JPS6148527A (ja) 1986-03-10
JPH0215608B2 JPH0215608B2 (ja) 1990-04-12

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JPH06142968A (ja) * 1992-10-30 1994-05-24 Hitachi Constr Mach Co Ltd パルスレーザ加工機及びパルスレーザ加工方法
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