JPS6140545A - エヤフイルタ汚れ検出装置 - Google Patents
エヤフイルタ汚れ検出装置Info
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- JPS6140545A JPS6140545A JP16320184A JP16320184A JPS6140545A JP S6140545 A JPS6140545 A JP S6140545A JP 16320184 A JP16320184 A JP 16320184A JP 16320184 A JP16320184 A JP 16320184A JP S6140545 A JPS6140545 A JP S6140545A
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- JP
- Japan
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- air filter
- light
- filter
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- dirt
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N15/00—Investigating characteristics of particles; Investigating permeability, pore-volume or surface-area of porous materials
- G01N15/06—Investigating concentration of particle suspensions
- G01N15/0606—Investigating concentration of particle suspensions by collecting particles on a support
- G01N15/0618—Investigating concentration of particle suspensions by collecting particles on a support of the filter type
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Dispersion Chemistry (AREA)
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- Pathology (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の属する分野〕
この発明は空気中より微少塵埃を捕集するエヤフィルタ
の汚れ具合を検知する装置に関する。
の汚れ具合を検知する装置に関する。
従来エヤフィルタの汚れ具合はエヤフィルタの目詰まシ
からエヤフィルタ面前後に圧力差が発生するため、この
圧力損失を測定する方法が一般的であった。近年、光に
よシ汚れ具合を検知する方他の片側面に受光部を設は光
がフィルタを透過するようにして、透過した光の量から
汚れ具合を測定する光透過法によるものである。また９
発光部受光部はフィルタ側近に取付けられた固定式の検
知装置である。この検知装置ではフィルタが小さい場合
は精度良く測定できるが、フィルタの両面側に発行素子
、受光素子又はミラーを設置できない場合は採用できず
、また、フィルタが大きかったり、多量にある場合、こ
の検知装置を大量に設置しなければならない欠点がある
。
からエヤフィルタ面前後に圧力差が発生するため、この
圧力損失を測定する方法が一般的であった。近年、光に
よシ汚れ具合を検知する方他の片側面に受光部を設は光
がフィルタを透過するようにして、透過した光の量から
汚れ具合を測定する光透過法によるものである。また９
発光部受光部はフィルタ側近に取付けられた固定式の検
知装置である。この検知装置ではフィルタが小さい場合
は精度良く測定できるが、フィルタの両面側に発行素子
、受光素子又はミラーを設置できない場合は採用できず
、また、フィルタが大きかったり、多量にある場合、こ
の検知装置を大量に設置しなければならない欠点がある
。
また、フィルタ面の両側に発光及び受光素子。
ミラーを置いて検知装置を移動しつつ、任意のフィルタ
面の汚れを測定する場合、エヤフィルタ前後の気密を維
持しながら、これを行なうには犬がかシな装置となって
しまう欠点がある。
面の汚れを測定する場合、エヤフィルタ前後の気密を維
持しながら、これを行なうには犬がかシな装置となって
しまう欠点がある。
この発明の目的は前記従来技術の欠点を解消し。
光をエヤフィルタの透過とせずにエヤフィルタ面ができ
る装置を提供するにある。
る装置を提供するにある。
この発明はエヤフィルタのガラス繊維網に空気中の微少
塵埃が耐着捕集することによシガラス繊維の反射率が変
化することを利用し、エヤフィルタの一片側のみからし
か汚れを検知することができない場合に、エヤフィルタ
の片側から光を当てガラス繊維面からの反射光をとらえ
るように、また精度よく反射光をとらえるよう被測定エ
ヤフィルタと同一の製作表面をもつ小型フィルタを補償
用に用いるように構成したものである。
塵埃が耐着捕集することによシガラス繊維の反射率が変
化することを利用し、エヤフィルタの一片側のみからし
か汚れを検知することができない場合に、エヤフィルタ
の片側から光を当てガラス繊維面からの反射光をとらえ
るように、また精度よく反射光をとらえるよう被測定エ
ヤフィルタと同一の製作表面をもつ小型フィルタを補償
用に用いるように構成したものである。
第１図は本発明の１実施例の系統図で被測定エヤフィル
タ１から一定距離面をガイド２１に沿って移動する発光
素子４と受光素子５が１体となった検出端２２と補償フ
ィルタ２と発光素子４．受光素子６をもつ補償部９．受
光素子から変換した電圧を増幅する増幅器８９発光素子
へ光を供給すの検出部からのアナログ電圧信号を、信号
の伝達距離により設ける増幅器１３とデジタル変換器１
４によりデジタル化し演算器１５により例えば “
補償電圧Ｖｏと測定電圧ＶｉＯ比γ１（＝Ｖｉ／Ｖｏ）
を計算し記憶装置１６に記憶しておく。測定終了後。
タ１から一定距離面をガイド２１に沿って移動する発光
素子４と受光素子５が１体となった検出端２２と補償フ
ィルタ２と発光素子４．受光素子６をもつ補償部９．受
光素子から変換した電圧を増幅する増幅器８９発光素子
へ光を供給すの検出部からのアナログ電圧信号を、信号
の伝達距離により設ける増幅器１３とデジタル変換器１
４によりデジタル化し演算器１５により例えば “
補償電圧Ｖｏと測定電圧ＶｉＯ比γ１（＝Ｖｉ／Ｖｏ）
を計算し記憶装置１６に記憶しておく。測定終了後。
記憶された値は表示器１８によシブラウン管１９まだは
リスト２０に１例えば値の小さな順に記号を変える等し
て、汚れの差異を表示する。また測定フィルタの金属面
を検知した場合ｒｉ は極端に大きな値となり、異常値
として判定することができ、これにより測定点の移動を
指示したり、測定値を削除することもできる。検出端２
２．補償部９の受光９発光素子はフィルタ面に対し各々
入射角１反射角がほぼ等しくなる方向に振動によシズレ
が発生しないように固定する。
リスト２０に１例えば値の小さな順に記号を変える等し
て、汚れの差異を表示する。また測定フィルタの金属面
を検知した場合ｒｉ は極端に大きな値となり、異常値
として判定することができ、これにより測定点の移動を
指示したり、測定値を削除することもできる。検出端２
２．補償部９の受光９発光素子はフィルタ面に対し各々
入射角１反射角がほぼ等しくなる方向に振動によシズレ
が発生しないように固定する。
第１図では検出部１１に移動手段１８を設はガイド２１
上を移動して順次フィルタの汚れを測定載して測定して
もよい。
上を移動して順次フィルタの汚れを測定載して測定して
もよい。
測定及び測定結果の信号を自動交換機の起動信号とした
９交換する順序を決める事が可能となシ。
９交換する順序を決める事が可能となシ。
多量のフィルタがある設備では全てを一度に交換せずに
汚れ具合の進んだ順に交換する事ができる。
汚れ具合の進んだ順に交換する事ができる。
本発明によればエヤフィルタにより隔離されている２つ
の空間で９反対側面に検知器、センサーを設けることな
く９片側面からのみ汚れを検知することができ、フィル
タ隔壁に余分な貫通穴を必要とせず、汚れを空気がバイ
パスする心配もない。
の空間で９反対側面に検知器、センサーを設けることな
く９片側面からのみ汚れを検知することができ、フィル
タ隔壁に余分な貫通穴を必要とせず、汚れを空気がバイ
パスする心配もない。
エヤフィルタが複数個ある場合１片側面を本発明の検出
装置を移動して順次汚れを測ることが可能となる。
装置を移動して順次汚れを測ることが可能となる。
また補償フィルタを測定開始する前に測定フィルタと同
一製作状態のものに変換しておくことによりフィルタの
材質、構造の相違による測定精度の変化を防止すること
ができる。
一製作状態のものに変換しておくことによりフィルタの
材質、構造の相違による測定精度の変化を防止すること
ができる。
第１図は本発明に係るエヤフィルタ汚れ検出装置の１実
施例の系統図である。 １・・・被測定エヤフィルタ ２・・・補償用小型フィ
ルタ３・・・発光素子 ４・・・発光素子５・
・・受光素子 ６・・・受光素子７・・・光発
生源 ８・・・増幅器９・・・補償部
１ｏ・・・光ファイバー１１・・・検出部
１２・・・信号線１３・・・増幅器 １４・・
・デジタル変換器１５・・・演算器 １６・・
・記憶装置１７・・・表示器 １８・・・移動
手段１９・・・ブラウン管 ２ｏ・・プリンタ２１
・・・ガイド ２２・・・検出端。 第１図
施例の系統図である。 １・・・被測定エヤフィルタ ２・・・補償用小型フィ
ルタ３・・・発光素子 ４・・・発光素子５・
・・受光素子 ６・・・受光素子７・・・光発
生源 ８・・・増幅器９・・・補償部
１ｏ・・・光ファイバー１１・・・検出部
１２・・・信号線１３・・・増幅器 １４・・
・デジタル変換器１５・・・演算器 １６・・
・記憶装置１７・・・表示器 １８・・・移動
手段１９・・・ブラウン管 ２ｏ・・プリンタ２１
・・・ガイド ２２・・・検出端。 第１図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １、被測定エヤフィルタに光を照射し、受光エネルギを
電流電圧に変換してフィルタの汚れを検知する装置にお
いて、被測定エヤフィルタの片側面に光の発光および受
光素子を具備したことを特徴としたエヤフィルタ汚れ検
知装置。 ２、被測定エヤフィルタと同一製作表面から成る交換可
能な小型エヤフィルタとこの片側面に光の発光および受
光部をもつ小型補償部を具備したことを特徴とした特許
請求の範囲第１項記載のエヤフィルタ汚れ検知装置。 ３、小型補償用エヤフィルタの散乱光と被測定エヤフィ
ルタの散乱光から変換した電気信号の比を演算しフィル
タの汚れ割合を表示することを特徴とした特許請求の範
囲第２項記載のエヤフィルタ汚れ検知装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16320184A JPS6140545A (ja) | 1984-07-31 | 1984-07-31 | エヤフイルタ汚れ検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16320184A JPS6140545A (ja) | 1984-07-31 | 1984-07-31 | エヤフイルタ汚れ検出装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6140545A true JPS6140545A (ja) | 1986-02-26 |
| JPH0426422B2 JPH0426422B2 (ja) | 1992-05-07 |
Family
ID=15769200
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP16320184A Granted JPS6140545A (ja) | 1984-07-31 | 1984-07-31 | エヤフイルタ汚れ検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6140545A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH02253141A (ja) * | 1989-03-27 | 1990-10-11 | Matsushita Electric Works Ltd | 空気清浄器の除塵フィルタの汚れ度検出装置 |
| CN104422641A (zh) * | 2013-09-02 | 2015-03-18 | 张卿 | 气体颗粒物测量仪 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5126081A (ja) * | 1974-08-28 | 1976-03-03 | Omron Tateisi Electronics Co | Dakudokei |
| JPS5531902A (en) * | 1978-08-29 | 1980-03-06 | Shigeru Tsubono | Measuring unit for floor dirt |
-
1984
- 1984-07-31 JP JP16320184A patent/JPS6140545A/ja active Granted
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5126081A (ja) * | 1974-08-28 | 1976-03-03 | Omron Tateisi Electronics Co | Dakudokei |
| JPS5531902A (en) * | 1978-08-29 | 1980-03-06 | Shigeru Tsubono | Measuring unit for floor dirt |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH02253141A (ja) * | 1989-03-27 | 1990-10-11 | Matsushita Electric Works Ltd | 空気清浄器の除塵フィルタの汚れ度検出装置 |
| CN104422641A (zh) * | 2013-09-02 | 2015-03-18 | 张卿 | 气体颗粒物测量仪 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0426422B2 (ja) | 1992-05-07 |
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