JPH023121Y2 - - Google Patents
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- JPH023121Y2 JPH023121Y2 JP17371983U JP17371983U JPH023121Y2 JP H023121 Y2 JPH023121 Y2 JP H023121Y2 JP 17371983 U JP17371983 U JP 17371983U JP 17371983 U JP17371983 U JP 17371983U JP H023121 Y2 JPH023121 Y2 JP H023121Y2
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- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
本考案は2コート1ベーク型のクリヤ層の膜厚
を測定するクリヤコート膜厚測定器に関する。
を測定するクリヤコート膜厚測定器に関する。
塗装膜厚は光沢やゆず肌(ゆずの皮に以た表面
性状)の良否、塗膜の耐久性などに影響し、かつ
経済性にも関連するため厳重に管理されなければ
ならない。自動車ボデイーの通常の塗装工程は1
コート1ベーク型で、塗るたびに乾燥されるので
乾燥後電磁式膜厚計などでその膜厚を測定するこ
とができる。それに対して、2コート1ベーク型
のメタリツク塗装の場合、塗膜の耐久性確保のた
めにクリヤ膜厚を、塗装品質確保のためベース膜
厚をそれぞれ単独に測定管理する必要があるが、
前記通常の膜厚計ではクリヤ膜厚とベース膜厚を
合せた膜厚しか測定することができない。
性状)の良否、塗膜の耐久性などに影響し、かつ
経済性にも関連するため厳重に管理されなければ
ならない。自動車ボデイーの通常の塗装工程は1
コート1ベーク型で、塗るたびに乾燥されるので
乾燥後電磁式膜厚計などでその膜厚を測定するこ
とができる。それに対して、2コート1ベーク型
のメタリツク塗装の場合、塗膜の耐久性確保のた
めにクリヤ膜厚を、塗装品質確保のためベース膜
厚をそれぞれ単独に測定管理する必要があるが、
前記通常の膜厚計ではクリヤ膜厚とベース膜厚を
合せた膜厚しか測定することができない。
干渉を利用する複合膜厚測定法(特公昭57−
9002号公報参照)は、光の波長オーダの膜厚(〜
0.5μm)に対しては有効であるが、クリヤ膜厚の
ように〜10μmの膜に対しては適用できない。
9002号公報参照)は、光の波長オーダの膜厚(〜
0.5μm)に対しては有効であるが、クリヤ膜厚の
ように〜10μmの膜に対しては適用できない。
赤外線の吸収を利用する複合膜厚測定法(米国
特許第4243882号明細書参照)は、それぞれが各
フイルム層の赤外線吸収波長に等しい複数のサン
プル波長の赤外線、および各フイルム層の赤外線
吸収波長からはずれた参照波長の赤外線を被検多
層フイルムへ照射し、それを透過したサンプル波
長および参照波長赤外線量の比を得て、膜厚を求
めるものである。塗膜の場合、下地がすけて見え
ないようにするために顔料濃度を高くしかつ膜厚
を大にする。したがつてクリヤ層に対するサンプ
ル波長、参照波長を探すことはできるが、ベース
層に対する両波長を探すことは不可能と考えられ
る。
特許第4243882号明細書参照)は、それぞれが各
フイルム層の赤外線吸収波長に等しい複数のサン
プル波長の赤外線、および各フイルム層の赤外線
吸収波長からはずれた参照波長の赤外線を被検多
層フイルムへ照射し、それを透過したサンプル波
長および参照波長赤外線量の比を得て、膜厚を求
めるものである。塗膜の場合、下地がすけて見え
ないようにするために顔料濃度を高くしかつ膜厚
を大にする。したがつてクリヤ層に対するサンプ
ル波長、参照波長を探すことはできるが、ベース
層に対する両波長を探すことは不可能と考えられ
る。
また、現在、多く用いられている2コート1ベ
ーク型のクリヤ膜厚測定は次のようにして行われ
ている。すなわち、乾燥後塗装膜を切断して断面
を顕微鏡観察するか、テスト板を使いベースコー
トのときテープでマスキングして、クリヤコート
のときそのテープをはがし、電磁式膜厚計でクリ
ヤ膜厚を測定している。したがつて、時間がかか
りかつ製品を直接測定できないという間題を有し
ている。
ーク型のクリヤ膜厚測定は次のようにして行われ
ている。すなわち、乾燥後塗装膜を切断して断面
を顕微鏡観察するか、テスト板を使いベースコー
トのときテープでマスキングして、クリヤコート
のときそのテープをはがし、電磁式膜厚計でクリ
ヤ膜厚を測定している。したがつて、時間がかか
りかつ製品を直接測定できないという間題を有し
ている。
以上のように、従来技術では2コート1ベーク
型の塗装膜におけるクリヤ膜厚とベース膜厚を非
破壊でかつ直接的に測定することができなかつ
た。
型の塗装膜におけるクリヤ膜厚とベース膜厚を非
破壊でかつ直接的に測定することができなかつ
た。
本考案の目的は従来技術ではできなかつたクリ
ヤ膜厚の非破壊かつ直接測定が可能で、しかも安
定度がよく高精度のクリヤコート膜厚測定器を実
現することである。
ヤ膜厚の非破壊かつ直接測定が可能で、しかも安
定度がよく高精度のクリヤコート膜厚測定器を実
現することである。
本考案によるクリヤコート膜厚測定器は、光フ
アイバープローブと、その光フアイバープローブ
を被測定面に取付けるためのアタツチメントと、
光フアイバープローブを介して被測定面に光を入
射させ、その反射光に基いて、クリヤ膜厚を表わ
す信号を得て表示する電気ユニツトとを備えてい
る。光フアイバープローブは多数の送光用および
受光用の光フアイバーからなつている。アタツチ
メントは光フアイバープローブの端面と被測定面
の法線を一致させるように、かつ被測定面の一定
の圧力で押し当てられるようにするためのもの
で、これにより安定度に優れ高精度の測定が可能
となる。電気ユニツトは、前記送光フアイバーに
光を入射させる送光部と、前記受光フアイバーよ
り前記被測定面のクリヤコート膜厚に対応する反
射光を受けその強度を電気量に変換する受光部
と、前記送光部から前記送光フアイバーへ入射さ
せる光の強度を電気量として検出する入射光強度
検出部と、前記受光部および前記入射光強度検出
部の出力信号に基いて前記被測定面のクリヤコー
ト膜厚に対応する信号を得る信号処理部と、およ
び信号処理部の出力信号によりクリヤコート膜厚
を表示する表示部とを備えている。
アイバープローブと、その光フアイバープローブ
を被測定面に取付けるためのアタツチメントと、
光フアイバープローブを介して被測定面に光を入
射させ、その反射光に基いて、クリヤ膜厚を表わ
す信号を得て表示する電気ユニツトとを備えてい
る。光フアイバープローブは多数の送光用および
受光用の光フアイバーからなつている。アタツチ
メントは光フアイバープローブの端面と被測定面
の法線を一致させるように、かつ被測定面の一定
の圧力で押し当てられるようにするためのもの
で、これにより安定度に優れ高精度の測定が可能
となる。電気ユニツトは、前記送光フアイバーに
光を入射させる送光部と、前記受光フアイバーよ
り前記被測定面のクリヤコート膜厚に対応する反
射光を受けその強度を電気量に変換する受光部
と、前記送光部から前記送光フアイバーへ入射さ
せる光の強度を電気量として検出する入射光強度
検出部と、前記受光部および前記入射光強度検出
部の出力信号に基いて前記被測定面のクリヤコー
ト膜厚に対応する信号を得る信号処理部と、およ
び信号処理部の出力信号によりクリヤコート膜厚
を表示する表示部とを備えている。
以下、本考案の実施例について説明する。
第1図ないし第3図は本考案の実施例を示すも
のである。第1図は本考案の実施例のクリヤコー
ト膜厚測定器における光フアイバープローブ1
と、被測定面である塗装面2の相互関係を示す拡
大図である。光フアイバープローブ1の一方の端
は、送光フアイバー12と受光フアイバー13を
ランダムに配置した断面形状をしている。他端は
図のようにY字状に2つに分かれており、その一
方は送光フアイバー12だけから成る送光フアイ
バー入射端14であり、他方は受光フアイバー1
3だけを集めた受光フアイバー出射端15であ
る。これらの光フアイバーには保護管11が被せ
られ、保護管11は光フアイバーを保護するとと
もにこれらを束ねて円形に保ちかつ外部光を遮へ
いする役割を持つている。塗装面2は、鉄板21
に下塗り22、中塗り23、上塗りのベースコー
ト24、上塗りのクリヤコート25が順次積層さ
れた断面形状をしている。
のである。第1図は本考案の実施例のクリヤコー
ト膜厚測定器における光フアイバープローブ1
と、被測定面である塗装面2の相互関係を示す拡
大図である。光フアイバープローブ1の一方の端
は、送光フアイバー12と受光フアイバー13を
ランダムに配置した断面形状をしている。他端は
図のようにY字状に2つに分かれており、その一
方は送光フアイバー12だけから成る送光フアイ
バー入射端14であり、他方は受光フアイバー1
3だけを集めた受光フアイバー出射端15であ
る。これらの光フアイバーには保護管11が被せ
られ、保護管11は光フアイバーを保護するとと
もにこれらを束ねて円形に保ちかつ外部光を遮へ
いする役割を持つている。塗装面2は、鉄板21
に下塗り22、中塗り23、上塗りのベースコー
ト24、上塗りのクリヤコート25が順次積層さ
れた断面形状をしている。
第2図はプローブ1の送光フアイバー12を介
して塗装面2に光を入射させ、そこで反射した光
を受光フアイバー13を介して受けて、光電変換
して信号処理する電気ユニツト4を示す図、第3
図は電気ユニツト内の信号処理回路6のブロツク
図である。電気ユニツト4のケーシング41の一
側面にプローブ1の送光フアイバー入射端14と
受光フアイバー出射端15との結合部が設けられ
ている。送光部は、光源であるタングステンラン
プ42およびそのタングステンランプ42の光を
送光フアイバー入射端14の固定部材44の部位
に入射させるためのコンデンサレンズ43から成
つている。受光部は、受光フアイバー出射端15
の固定部材45からの光を光電変換するフオトダ
イオード47および外部光を遮へいするための光
学フイルタ46から成つている。タングステンラ
ンプ42の近傍に、送光フアイバ入射端14へ入
射する光の一部を光電変換するフオトダイオード
48が設けられている。フオトダイオード47,
48で光電変換された電気信号は信号処理回路6
に入力され、その信号処理回路6それらの入力信
号に基いてクリヤコートの膜厚を算出する。ケー
シング41の前面には、信号処理回路6の出力に
よりクリヤコートの膜厚を表示するアナログ電圧
計による表示器50、電気ユニツト4の定電圧電
源(図示せず)をオンオフするメインスイツチ5
1、およびフオトダイオード47から信号処理回
路6への入力をオンオフする測定スイツチ52等
が取付けられている。
して塗装面2に光を入射させ、そこで反射した光
を受光フアイバー13を介して受けて、光電変換
して信号処理する電気ユニツト4を示す図、第3
図は電気ユニツト内の信号処理回路6のブロツク
図である。電気ユニツト4のケーシング41の一
側面にプローブ1の送光フアイバー入射端14と
受光フアイバー出射端15との結合部が設けられ
ている。送光部は、光源であるタングステンラン
プ42およびそのタングステンランプ42の光を
送光フアイバー入射端14の固定部材44の部位
に入射させるためのコンデンサレンズ43から成
つている。受光部は、受光フアイバー出射端15
の固定部材45からの光を光電変換するフオトダ
イオード47および外部光を遮へいするための光
学フイルタ46から成つている。タングステンラ
ンプ42の近傍に、送光フアイバ入射端14へ入
射する光の一部を光電変換するフオトダイオード
48が設けられている。フオトダイオード47,
48で光電変換された電気信号は信号処理回路6
に入力され、その信号処理回路6それらの入力信
号に基いてクリヤコートの膜厚を算出する。ケー
シング41の前面には、信号処理回路6の出力に
よりクリヤコートの膜厚を表示するアナログ電圧
計による表示器50、電気ユニツト4の定電圧電
源(図示せず)をオンオフするメインスイツチ5
1、およびフオトダイオード47から信号処理回
路6への入力をオンオフする測定スイツチ52等
が取付けられている。
信号処理回路6は第3図に示すように、フオト
ダイオード47からの信号を増幅する増幅器6
1、フオトダイオード48からの信号を増幅する
増幅器62、増幅器61,62からの信号E1,
E0を入力してE/E0を出力する除算器63、お
よび表示器50の目盛を校正するための減衰器6
4から成つている。
ダイオード47からの信号を増幅する増幅器6
1、フオトダイオード48からの信号を増幅する
増幅器62、増幅器61,62からの信号E1,
E0を入力してE/E0を出力する除算器63、お
よび表示器50の目盛を校正するための減衰器6
4から成つている。
以上の構成を有する実施例装置の作用について
以下説明する。
以下説明する。
まず、電気ユニツト4のメインスイツチ51を
オンにし、タングステンランプ42、フオトダイ
オード47,48、信号処理回路6を動作状態と
なし、他方、光フアイバープローブ1を、後述す
るアタツチメントによりクリヤコート25の上面
にぴつたりと一定の圧力で当接させる。そうする
と、タングステンランプ42から放射される光が
コンデンサレンズ43によつて固定部材44の部
位で送光フアイバー入射端14に入射される。
オンにし、タングステンランプ42、フオトダイ
オード47,48、信号処理回路6を動作状態と
なし、他方、光フアイバープローブ1を、後述す
るアタツチメントによりクリヤコート25の上面
にぴつたりと一定の圧力で当接させる。そうする
と、タングステンランプ42から放射される光が
コンデンサレンズ43によつて固定部材44の部
位で送光フアイバー入射端14に入射される。
一方、タングステンランプ42から放射される
光の一部は、フオトダイオード48に入射され、
電気信号に変換される。そこでフオトダイオード
48からの電気信号は、増幅器62で増幅され、
元のタングステンランプの放射光強度I0に比例し
た信号E0になる。この信号E0が除算器63に入
力され、そのとき測定スイツチ52がオフのとき
は零を出力し、表示器50の指針は零を表示す
る。コンデンサレンズ43によつて送光フアイバ
ー入射端14に入射された光は、送光フアイバー
12中をその内面で全反射しながら進行し、クリ
ヤコート25の上面と接触する送光フアイバ出射
端16から放射され、クリヤコート25を透過
し、ベースコート24の上面に入射される。ベー
スコート24の上面に入射された光はベースコー
ト24の上面の反射率に比例した分だけ反射され
るが、その反射光のうち第4図に示すように、入
射光領域A(送光フアイバー出射端16からの光
を直接ベースコート24の上表面が受ける領域)
と反射光領域B(ベースコート24の上表面で反
射した光が受光フアイバー入射端17に達するベ
ースコート24の上表面上の領域)の重なり合う
領域3からの反射光のみが受光フアイバー入射端
17へ入射る。この重なり合う領域3がクリヤコ
ート25の厚さdにほぼ比例するため、受光フア
イバー入射端17に入射する光の強度Iはクリヤ
コートの厚さdに比例する。即ち、第5図はその
関係を示すもので、クリヤコートの厚さdがある
値に達するまでは受光フアイバー入射端17の受
光量は厚さdに比例する(曲線a)。なお、厚さ
dがある値以上になると厚さdの2乗に反比例し
て受光量は減少する(曲線b)が、この領域は本
考案では使用しない。
光の一部は、フオトダイオード48に入射され、
電気信号に変換される。そこでフオトダイオード
48からの電気信号は、増幅器62で増幅され、
元のタングステンランプの放射光強度I0に比例し
た信号E0になる。この信号E0が除算器63に入
力され、そのとき測定スイツチ52がオフのとき
は零を出力し、表示器50の指針は零を表示す
る。コンデンサレンズ43によつて送光フアイバ
ー入射端14に入射された光は、送光フアイバー
12中をその内面で全反射しながら進行し、クリ
ヤコート25の上面と接触する送光フアイバ出射
端16から放射され、クリヤコート25を透過
し、ベースコート24の上面に入射される。ベー
スコート24の上面に入射された光はベースコー
ト24の上面の反射率に比例した分だけ反射され
るが、その反射光のうち第4図に示すように、入
射光領域A(送光フアイバー出射端16からの光
を直接ベースコート24の上表面が受ける領域)
と反射光領域B(ベースコート24の上表面で反
射した光が受光フアイバー入射端17に達するベ
ースコート24の上表面上の領域)の重なり合う
領域3からの反射光のみが受光フアイバー入射端
17へ入射る。この重なり合う領域3がクリヤコ
ート25の厚さdにほぼ比例するため、受光フア
イバー入射端17に入射する光の強度Iはクリヤ
コートの厚さdに比例する。即ち、第5図はその
関係を示すもので、クリヤコートの厚さdがある
値に達するまでは受光フアイバー入射端17の受
光量は厚さdに比例する(曲線a)。なお、厚さ
dがある値以上になると厚さdの2乗に反比例し
て受光量は減少する(曲線b)が、この領域は本
考案では使用しない。
受光フアイバー入射端17に入射する光の強度
Iはクリヤコート25の厚さdに比例する。受光
フアイバー入射端17に入射した光は、電気ユニ
ツト4のケーシング41に戻つて光学フイルタ4
6を通り、フオトダイオード47に入射し、電気
信号に変換される。測定スイツチ52をオンにす
ると、前記フオトダイオード47で光電変換され
た電気信号が増幅器61に入力され、増幅器61
からはクリヤコート25の厚さdに比例する光強
度Iに対応した信号Eが出力される。該厚さに対
応する信号Eが後段の除算器63に入力される
と、除算器63には一方で常にI0に比例する信号
E0も入力されているので、これによりE/E0が
出力され、それが後段の減衰器64で減衰されア
ナログ電圧計から成る表示器50の指針を振れさ
せる。表示器50の目盛を電圧と電記クリヤコー
ト25の厚さdの関係をあらかじめ校正すること
によつて厚さの表示としておけば、その指針の示
すところを読取ることにより各クリヤコートの厚
さを知ることができる。
Iはクリヤコート25の厚さdに比例する。受光
フアイバー入射端17に入射した光は、電気ユニ
ツト4のケーシング41に戻つて光学フイルタ4
6を通り、フオトダイオード47に入射し、電気
信号に変換される。測定スイツチ52をオンにす
ると、前記フオトダイオード47で光電変換され
た電気信号が増幅器61に入力され、増幅器61
からはクリヤコート25の厚さdに比例する光強
度Iに対応した信号Eが出力される。該厚さに対
応する信号Eが後段の除算器63に入力される
と、除算器63には一方で常にI0に比例する信号
E0も入力されているので、これによりE/E0が
出力され、それが後段の減衰器64で減衰されア
ナログ電圧計から成る表示器50の指針を振れさ
せる。表示器50の目盛を電圧と電記クリヤコー
ト25の厚さdの関係をあらかじめ校正すること
によつて厚さの表示としておけば、その指針の示
すところを読取ることにより各クリヤコートの厚
さを知ることができる。
次に光フアイバープローブ1を被測定面に当接
するためのアタツチメントについて第6図により
説明する。プローブ単体の場合、対象が平面であ
ればプローブ端面を対象面に垂直に押し当てるこ
と(正確にはプローブ端面と対象面の法線を一致
させること)も比較的容易であるが、自動車ボデ
イーのような凸面に垂直に押し当てることは難か
しい。また、もし手で押し当てると、押し付け力
が測定毎に変化し、測定値が変動するといつた欠
点がある。この欠点を除くために、プローブにア
タツチメントを取付け常にプローブ端面が対象面
に垂直にかつ一定の力で押し当てられるようにす
る。光フアイバープローブ1は、アタツチメント
7との結合をしやすくするため、結合部分の保護
管にステンレスチユーブを用いてある。ガイドバ
ー71は、この中にプローブ1が貫挿されネジ7
2で固定されてある。ホルダー73は、この中に
前記ガイドバー71が滑動できるように挿入され
ており、上部にはバネ押え74が、下部にはマグ
ネツトガイド75がそれぞれネジ79で固定され
ている。圧縮コイルバネ76は、下端が前記ホル
ダー73に接触し、上端は前記バネ押え74で押
えつけられている。3個の接触子77が、プロー
ブ1を測定対象面に垂直に押し当てるように、正
三角形をなすように前記マグネツトガイド75に
固定されている。マグネツトリング78は、前記
3個の接触子77に対応する位置で接触子より出
張らないように上部がマグネツトガイド75に固
定されている。接触子77はマグネツトリング7
8の下端、マグネツトガイド75の下端よりわず
か(〜0.5mm)出張つており、アタツチメント7
は測定対象面と接触子77だけで接触するように
してある。また、プローブ1を測定対象面に一定
の力で押し当てるために、前記圧縮コイルバネ7
6がフリーの状態でプローブ1の下端が一番出張
つている接触子77よりも2〜3mm出るように調
節してある。なお、プローブ1のY字状になつて
いる他端(第6図には図示せず)は、前述のよう
に電気ユニツト4(第2図)に接続されるもので
ある。
するためのアタツチメントについて第6図により
説明する。プローブ単体の場合、対象が平面であ
ればプローブ端面を対象面に垂直に押し当てるこ
と(正確にはプローブ端面と対象面の法線を一致
させること)も比較的容易であるが、自動車ボデ
イーのような凸面に垂直に押し当てることは難か
しい。また、もし手で押し当てると、押し付け力
が測定毎に変化し、測定値が変動するといつた欠
点がある。この欠点を除くために、プローブにア
タツチメントを取付け常にプローブ端面が対象面
に垂直にかつ一定の力で押し当てられるようにす
る。光フアイバープローブ1は、アタツチメント
7との結合をしやすくするため、結合部分の保護
管にステンレスチユーブを用いてある。ガイドバ
ー71は、この中にプローブ1が貫挿されネジ7
2で固定されてある。ホルダー73は、この中に
前記ガイドバー71が滑動できるように挿入され
ており、上部にはバネ押え74が、下部にはマグ
ネツトガイド75がそれぞれネジ79で固定され
ている。圧縮コイルバネ76は、下端が前記ホル
ダー73に接触し、上端は前記バネ押え74で押
えつけられている。3個の接触子77が、プロー
ブ1を測定対象面に垂直に押し当てるように、正
三角形をなすように前記マグネツトガイド75に
固定されている。マグネツトリング78は、前記
3個の接触子77に対応する位置で接触子より出
張らないように上部がマグネツトガイド75に固
定されている。接触子77はマグネツトリング7
8の下端、マグネツトガイド75の下端よりわず
か(〜0.5mm)出張つており、アタツチメント7
は測定対象面と接触子77だけで接触するように
してある。また、プローブ1を測定対象面に一定
の力で押し当てるために、前記圧縮コイルバネ7
6がフリーの状態でプローブ1の下端が一番出張
つている接触子77よりも2〜3mm出るように調
節してある。なお、プローブ1のY字状になつて
いる他端(第6図には図示せず)は、前述のよう
に電気ユニツト4(第2図)に接続されるもので
ある。
以上の構成よりなるアタツチメントの作用につ
いて以下説明する。
いて以下説明する。
まず、アタツチメント7を指でつまんで被測定
面である塗装面2(第1図)に3個の接触子77
を静かに近づける。そうすると、マグネツトリン
グ78が鉄板21(第1図)に吸引され三角形と
なす接触子77がクリヤコート25の上面に接
し、アタツチメント7がクリヤコート25の上面
に垂直に固定される。そのとき、一方ではプロー
ブ1の下端が、接触子77よりも早くクリヤコー
ト25の上面に当り、圧縮コイルバネ76を圧縮
する。従つて、アタツチメント7が前記のように
測定対象面に垂直にマグネツトリング78の磁力
で固定されると、自動的に光フアイバープローブ
1を測定対象面に垂直にかつ一定の力で圧縮コイ
ルバネ76の復元力で押し当てられる。従つて、
クリヤコートの厚さを再現性よくかつ高精度に測
定することができる。
面である塗装面2(第1図)に3個の接触子77
を静かに近づける。そうすると、マグネツトリン
グ78が鉄板21(第1図)に吸引され三角形と
なす接触子77がクリヤコート25の上面に接
し、アタツチメント7がクリヤコート25の上面
に垂直に固定される。そのとき、一方ではプロー
ブ1の下端が、接触子77よりも早くクリヤコー
ト25の上面に当り、圧縮コイルバネ76を圧縮
する。従つて、アタツチメント7が前記のように
測定対象面に垂直にマグネツトリング78の磁力
で固定されると、自動的に光フアイバープローブ
1を測定対象面に垂直にかつ一定の力で圧縮コイ
ルバネ76の復元力で押し当てられる。従つて、
クリヤコートの厚さを再現性よくかつ高精度に測
定することができる。
次に、第7図により本考案におけるアタツチメ
ントの他の例について説明する。この例は自動車
ボデイーのような3次元曲面のクリヤコート厚さ
でも高精度に、再現性よくかつ安全に測定できる
ようにしたものである。第6図のアタツチメント
は測定対象面と、三角形をなす3個の接触子で接
するため、測定対象面が球面であればプローブ端
面と対象面の法線が一致するが、球面以外の凸面
の場合は厳密には一致しないとか、接触子で測定
対象面を傷つけるといつた欠点があつた。第7図
により以下に説明するアタツチメント8はかかる
欠点を除くために、第6図のアタツチメントにお
ける接触子のかわりに磁性ゴムシートを用いるこ
とによりアタツチメント8が任意の測定対象面に
ならつて固定されると共にプローブ端面と測定対
象面の法線が一致するようにしたものである。プ
ローブガイド81の中にバネガイド82を付けた
前記プローブ1が滑動できるように挿入されてあ
り、上部には調整ナツト83がネジ止めされ、中
央部には後述の磁性ゴムシート85が測定対象面
にならつてすきまなく接触するように押えつける
ための押えナツト84がネジ止めされ、下部には
磁性ゴムシート85が直角に接着剤で固定されて
いる。圧縮コイルバネ86は、下端が前記バネガ
イド82に接触し、上端は前記調整ナツト83の
上部にネジ止めされてある上板87で押えつけら
れている。プローブ1を測定対象面に一定の力で
押し当てるために、前記圧縮コイルバネ86がフ
リーの状態でプローブ1の下端が磁性ゴムシート
85より2〜3mm出るように組付けられている。
ントの他の例について説明する。この例は自動車
ボデイーのような3次元曲面のクリヤコート厚さ
でも高精度に、再現性よくかつ安全に測定できる
ようにしたものである。第6図のアタツチメント
は測定対象面と、三角形をなす3個の接触子で接
するため、測定対象面が球面であればプローブ端
面と対象面の法線が一致するが、球面以外の凸面
の場合は厳密には一致しないとか、接触子で測定
対象面を傷つけるといつた欠点があつた。第7図
により以下に説明するアタツチメント8はかかる
欠点を除くために、第6図のアタツチメントにお
ける接触子のかわりに磁性ゴムシートを用いるこ
とによりアタツチメント8が任意の測定対象面に
ならつて固定されると共にプローブ端面と測定対
象面の法線が一致するようにしたものである。プ
ローブガイド81の中にバネガイド82を付けた
前記プローブ1が滑動できるように挿入されてあ
り、上部には調整ナツト83がネジ止めされ、中
央部には後述の磁性ゴムシート85が測定対象面
にならつてすきまなく接触するように押えつける
ための押えナツト84がネジ止めされ、下部には
磁性ゴムシート85が直角に接着剤で固定されて
いる。圧縮コイルバネ86は、下端が前記バネガ
イド82に接触し、上端は前記調整ナツト83の
上部にネジ止めされてある上板87で押えつけら
れている。プローブ1を測定対象面に一定の力で
押し当てるために、前記圧縮コイルバネ86がフ
リーの状態でプローブ1の下端が磁性ゴムシート
85より2〜3mm出るように組付けられている。
このように構成されたアタツチメントの使用に
おいては、まず、アタツチメント8を指でつまん
で被測定面である塗装面2(第1図)に磁性ゴム
シート85を静かに近づける。そうすると、磁性
ゴムシート85が鉄板21(第1図)に吸引され
てクリヤコート25の上面にならつて接触固定さ
れる。次に押えナツト84を回して磁性ゴムシー
ト85の外周部もクリヤコート25の上面にすき
まなく接触するように押しつける。そのとき、一
方ではプローブ1の下端が磁性ゴムシート85よ
り早くクリヤコート25の上面に当り、圧縮コイ
ルバネ86を圧縮するため、アタツチメント8が
測定対象面に磁性ゴムシート85で固定される
と、自動的にプローブ1もその端面と測定対象面
の法線が一致するように一定の力で測定対象面に
押し当てることができる。従つて、任意の凸面の
クリヤコートの厚さを再現性よく、高精度に、か
つ測定対象面を傷つけることなく測定することが
できる。
おいては、まず、アタツチメント8を指でつまん
で被測定面である塗装面2(第1図)に磁性ゴム
シート85を静かに近づける。そうすると、磁性
ゴムシート85が鉄板21(第1図)に吸引され
てクリヤコート25の上面にならつて接触固定さ
れる。次に押えナツト84を回して磁性ゴムシー
ト85の外周部もクリヤコート25の上面にすき
まなく接触するように押しつける。そのとき、一
方ではプローブ1の下端が磁性ゴムシート85よ
り早くクリヤコート25の上面に当り、圧縮コイ
ルバネ86を圧縮するため、アタツチメント8が
測定対象面に磁性ゴムシート85で固定される
と、自動的にプローブ1もその端面と測定対象面
の法線が一致するように一定の力で測定対象面に
押し当てることができる。従つて、任意の凸面の
クリヤコートの厚さを再現性よく、高精度に、か
つ測定対象面を傷つけることなく測定することが
できる。
以上詳述したように本考案によるクリヤコート
膜厚測定器はこれまで不可能であつたクリヤコー
トの膜厚を非破壊かつ直接的に測定することが可
能となり実用上極めて有用なものである。また、
光フアイバープローブを被測定面に当接するアタ
ツチメントを有することにより、被測定対象が自
動車ボデイーのような3次元物体でも再現性よ
く、高精度に測定することができる利点がある。
膜厚測定器はこれまで不可能であつたクリヤコー
トの膜厚を非破壊かつ直接的に測定することが可
能となり実用上極めて有用なものである。また、
光フアイバープローブを被測定面に当接するアタ
ツチメントを有することにより、被測定対象が自
動車ボデイーのような3次元物体でも再現性よ
く、高精度に測定することができる利点がある。
第1図は本考案における光フアイバープローブ
と被測定面の相互の関係を示す拡大図、第2図は
本考案における電気ユニツトを示す図、第3図は
上記電気ユニツト内の信号処理回路のブロツク
図、第4図は本考案における膜厚測定原理を説明
するための被測定面における光の入射と反射を示
す図、第5図はクリヤコートの膜厚dと受光量I
との関係を示す図、第6図は本考案によるアタツ
チメント付光フアイバープローブの構造の一例を
示す図で同図イは側断面図、ロは下面図、第7図
は他の態様のアタツチメント付光フアイバープロ
ーブの構造を示す図でイは上面図、ロは側断面図
である。 1……光フアイバープローブ、11……保護
管、12……送光フアイバー、13……受光フア
イバー、14……送光フアイバー入射端、15…
…受光フアイバー出射端、16……送光フアイバ
ー出射端、17……受光フアイバー入射端、2…
…塗装膜、21……鉄板、22……下塗り、23
……中塗り、24……上塗りのベースコート、2
5……上塗りのクリヤコート、4……電気ユニツ
ト、41……ケーシング、42……タングステン
ランプ、43……コンデンサレンズ、44,45
……固定部材、46……光学フイルタ、47,4
8……フオトダイオード、50……表示器、51
……メインスイツチ、52……測定スイツチ、6
……信号処理回路、61,62……増幅器、63
……除算器、64……減衰器、7……アタツチメ
ント、71……ガイドバー、72……ネジ、73
……ホルダー、74……バネ押え、75……マグ
ネツトガイド、76……圧縮コイルバネ、77…
…接触子、78……マグネツトリング、8……ア
タツチメント、81……プローブガイド、82…
…バネガイド、83……調整ナツト、84……押
えナツト、85……磁性ゴムシート、86……圧
縮コイルバネ、87……上板。
と被測定面の相互の関係を示す拡大図、第2図は
本考案における電気ユニツトを示す図、第3図は
上記電気ユニツト内の信号処理回路のブロツク
図、第4図は本考案における膜厚測定原理を説明
するための被測定面における光の入射と反射を示
す図、第5図はクリヤコートの膜厚dと受光量I
との関係を示す図、第6図は本考案によるアタツ
チメント付光フアイバープローブの構造の一例を
示す図で同図イは側断面図、ロは下面図、第7図
は他の態様のアタツチメント付光フアイバープロ
ーブの構造を示す図でイは上面図、ロは側断面図
である。 1……光フアイバープローブ、11……保護
管、12……送光フアイバー、13……受光フア
イバー、14……送光フアイバー入射端、15…
…受光フアイバー出射端、16……送光フアイバ
ー出射端、17……受光フアイバー入射端、2…
…塗装膜、21……鉄板、22……下塗り、23
……中塗り、24……上塗りのベースコート、2
5……上塗りのクリヤコート、4……電気ユニツ
ト、41……ケーシング、42……タングステン
ランプ、43……コンデンサレンズ、44,45
……固定部材、46……光学フイルタ、47,4
8……フオトダイオード、50……表示器、51
……メインスイツチ、52……測定スイツチ、6
……信号処理回路、61,62……増幅器、63
……除算器、64……減衰器、7……アタツチメ
ント、71……ガイドバー、72……ネジ、73
……ホルダー、74……バネ押え、75……マグ
ネツトガイド、76……圧縮コイルバネ、77…
…接触子、78……マグネツトリング、8……ア
タツチメント、81……プローブガイド、82…
…バネガイド、83……調整ナツト、84……押
えナツト、85……磁性ゴムシート、86……圧
縮コイルバネ、87……上板。
Claims (1)
- 【実用新案登録請求の範囲】 多数の送光フアイバーと受光フアイバーからな
る光フアイバープローブと、 その光フアイバープローブの端面と被測定面の
法線を一致させるように、かつ被測定面に一定の
圧力で押し当てられるように、前記光フアイバー
プローブを被測定面に取付けるアタツチメント
と、 前記送光フアイバーに光を入射させる送光部、
前記受光フアイバーより前記被測定面のクリヤコ
ート膜厚に対応する反射光を受けその強度を電気
量に変換する受光部、前記送光部から前記送光フ
アイバーへ入射させる光の強度を電気量として検
出する入射光強度検出部、前記受光部および前記
入射光強度検出部の出力信号に基いて前記被測定
面のクリヤコート膜厚に対応する信号を得る信号
処理部、および信号処理部の出力信号によりクリ
ヤコート膜厚を表示する表示部を備えた電気ユニ
ツトと、 を有することを特徴とするクリヤコート膜厚測定
器。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP17371983U JPS6082207U (ja) | 1983-11-11 | 1983-11-11 | クリヤコ−ト膜厚測定器 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP17371983U JPS6082207U (ja) | 1983-11-11 | 1983-11-11 | クリヤコ−ト膜厚測定器 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6082207U JPS6082207U (ja) | 1985-06-07 |
JPH023121Y2 true JPH023121Y2 (ja) | 1990-01-25 |
Family
ID=30378372
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP17371983U Granted JPS6082207U (ja) | 1983-11-11 | 1983-11-11 | クリヤコ−ト膜厚測定器 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6082207U (ja) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP5203832B2 (ja) * | 2008-07-24 | 2013-06-05 | 東海旅客鉄道株式会社 | 膜厚測定方法 |
-
1983
- 1983-11-11 JP JP17371983U patent/JPS6082207U/ja active Granted
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS6082207U (ja) | 1985-06-07 |
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