JPS6139722A - Delay time stabilizing circuit - Google Patents

Delay time stabilizing circuit

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JPS6139722A
JPS6139722A JP16078584A JP16078584A JPS6139722A JP S6139722 A JPS6139722 A JP S6139722A JP 16078584 A JP16078584 A JP 16078584A JP 16078584 A JP16078584 A JP 16078584A JP S6139722 A JPS6139722 A JP S6139722A
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voltage
control
delay time
inverter
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Toshio Tomizawa
富沢 祀夫
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Nippon Gakki Co Ltd
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Abstract

PURPOSE:To make a delay circuit in a gate circuit constant by obtaining an analog voltage corresponding to a signal delay time of the gate circuit and giving the said voltage as an operating voltage of the gate circuit. CONSTITUTION:A control voltage generating circuit 36 smoothes an output pulse of a comparator 30 to generate DC voltages Vc1, Vc2. The voltages Vc1, Vc2 are inputted to control input terminals c1, c2 of a ring oscillator 20 as control voltages to control the applied voltage. The delay characteristic of inverters 22, 24, 26 depends on the applied voltage, a PLL is constituted by forming a negative feedback through the said loop and each said inverter is controlled to a prescribed delay time independently of fluctuation of a power supply voltage and a temperature. In supplying the control voltages Vc1, Vc2 as the control voltages to a circuit 38 to be controlled, the delay characteristic of the circuit 38 is stabilized.

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は、ゲート回路の隼、号遅延特性を利用した遅
延回路において、電源電圧やmiの変化にかかわらず遅
延時間を一定化するようにしたものに関する。 。
[Detailed Description of the Invention] [Industrial Application Field] The present invention is directed to a delay circuit that utilizes the signal delay characteristics of a gate circuit, in which the delay time is made constant regardless of changes in the power supply voltage or mi. related to what was done. .

〔従来の技術〕[Conventional technology]

ゲート回路の信号R延時性を利用した遅延回路として、
CMOSインバータを用いたものがある。
As a delay circuit that utilizes the delay time of the signal R of the gate circuit,
Some use CMOS inverters.

これは、第2図に示すように、pチャネルMO8−FE
T12とnチャネルMO8−FET14をゲートどうし
、ドレインどうし互いにそれぞれ接続し、ソースに電源
電圧V、。、V88をそれぞれ印加し、入力端子13を
介してゲートに信号を人力し、ドレインから出力端子1
5に入力信号の反転信号を出力するようにしたものであ
る。
This is a p-channel MO8-FE as shown in FIG.
The gates of T12 and the n-channel MO8-FET14 are connected to each other, the drains are connected to each other, and the sources are connected to the power supply voltage V. , V88 respectively, input a signal to the gate via the input terminal 13, and input the signal from the drain to the output terminal 1.
5, an inverted signal of the input signal is output.

このCMOSインバータ10においては入力と出力との
間に遅延時間が生じる。この遅延時間は、第3図に示す
にうに、電源電圧V。1l−Vssと温度に依存し、電
m電圧VDD−■ssが小さいほど遅延時間が大きく、
その変化率も大きい。また、温度が高いほど遅延時間が
大きい。これらは電源電圧■Dll−v88や温度によ
って素子のフンダクタンスが変化するためである。
In this CMOS inverter 10, a delay time occurs between the input and the output. This delay time is determined by the power supply voltage V, as shown in FIG. Depends on 1l-Vss and temperature, the smaller the electric voltage VDD-■ss, the larger the delay time.
The rate of change is also large. Furthermore, the higher the temperature, the longer the delay time. This is because the element conductance changes depending on the power supply voltage (Dll-v88) and temperature.

CM O,Sインバータ10は1個あたり約3〜5μs
の遅延時間が得られ、これらを多段にカスケード接続す
ることによってより長い遅延時間を得ることもできる。
CM O,S inverter 10 is approximately 3 to 5 μs per piece.
A longer delay time can be obtained by cascading these in multiple stages.

こうして得られた遅延回路は発振回路、復調回路等広い
分野で利用されている。
The delay circuit thus obtained is used in a wide range of fields such as oscillation circuits and demodulation circuits.

しかし、前述のJ、うに電源電圧や温度の依存性が無視
できないほど大きいため、これらの影響が発振周期の不
安定さ、伝送系の歪の増加などに現われて、精度を要求
される回路への使用が困難であつ lこ 。
However, as mentioned above, the dependence on power supply voltage and temperature is so large that it cannot be ignored, and these effects appear in instability of the oscillation cycle, increased distortion in the transmission system, etc. It is difficult to use.

これを解決する方法として、厳密な安定化電源を用い、
かつ素子を恒温槽に段買するなどが考えられるが、人が
かりなものとなってしまう。
As a way to solve this problem, we use a strictly regulated power supply,
It is also conceivable to buy the elements in stages in a constant temperature bath, but this would be a labor-intensive process.

〔発明が解決しようとする問題点〕[Problem that the invention seeks to solve]

この発明は、前記従来の技術にお1ノる欠点を解決して
、筒中かつ確実に遅延時間を一定化することができる遅
延時間安定化回路を提供しようとするものである。
The present invention aims to solve one of the drawbacks of the conventional techniques and provide a delay time stabilizing circuit that can reliably stabilize the delay time in a cylinder.

〔問題点を解決するための手段〕[Means for solving problems]

この発明は、ゲート回路の信号′!!延詩間に対応した
アナログ電圧を得て、この電圧をゲート回路の動作電圧
どして与えることによってこのゲート回路におl−する
遅延時間を一定化するJ:うにしたものである。
In this invention, the gate circuit signal ′! ! By obtaining an analog voltage corresponding to the delay time and applying this voltage as the operating voltage of the gate circuit, the delay time of l- to the gate circuit is made constant.

〔作  用〕[For production]

この発明の前記解決手段によれば、電源電圧や温度に変
動があって遅延時間が変OJUようとしても、それに応
じてゲーI−回路の印加電圧が制御されるので、遅延時
間の変動が抑えられる。
According to the solving means of the present invention, even if the delay time attempts to change due to fluctuations in the power supply voltage or temperature, the voltage applied to the gate I-circuit is controlled accordingly, so fluctuations in the delay time are suppressed. It will be done.

〔実施例1〕 この発明の一実施例を第1図に示す。これは、リング発
振器の発振周波数を安定化すると共に、この安定化に用
いた制御電圧をインバータを含む他の回路の安定化に利
用するJζうにしたものである。
[Example 1] An example of the present invention is shown in FIG. This stabilizes the oscillation frequency of the ring oscillator and uses the control voltage used for this stabilization to stabilize other circuits including the inverter.

第1図において、リング発振器20は、インバータの遅
延特性を利用したもので、奇数個のインバータ22,2
4.26を縦列接続し、終段のインバータ26の出力を
初段のインバータ22に入力して構成される。リング発
振器20の発振周波数は、オーブンループの遅延時間で
決まる。
In FIG. 1, a ring oscillator 20 utilizes the delay characteristics of an inverter, and an odd number of inverters 22, 2
4.26 are connected in series, and the output of the inverter 26 at the final stage is input to the inverter 22 at the first stage. The oscillation frequency of the ring oscillator 20 is determined by the delay time of the oven loop.

リング発振器20の発振出力は、インバータ28で波形
整形された後コンパレータ30に入力される。コンパレ
ータ30は、この信号と、発振器32の出力パルスを分
周器34で分周して得ら  ・れる基準周波数信号とを
周波数および位相比較し、その差に応じたパルス幅の信
号を出力する。
The oscillation output of the ring oscillator 20 is waveform-shaped by the inverter 28 and then input to the comparator 30. The comparator 30 compares the frequency and phase of this signal with a reference frequency signal obtained by dividing the output pulse of the oscillator 32 by the frequency divider 34, and outputs a signal with a pulse width corresponding to the difference. .

制御電圧発生回路36では、コンパレータ30の出力パ
ルスを平滑して直流電圧Vc1、VC2を発生させる。
The control voltage generation circuit 36 smoothes the output pulses of the comparator 30 to generate DC voltages Vc1 and VC2.

この直流電圧VC1、Vc2がル11御電圧どして前記
リング発振器20を構成するインバータ22.24..
26の制御入力端子C1,c2に入力され、その印加電
圧を制御する。インバータ22.24..26の遅延特
性は、前述のように印加電圧によるので、以上のループ
にJ:って角の帰還と4するにうに構成してやれば、い
わゆるPLL(フェイス・ロックド・ループ)となるの
で、リング発振器20からは極めて安定した発振周波数
(基準周波数の精度)が得られる。つまり、電源電圧や
温度の変動にかかわらず、各インバータ22.24.2
6は一定の遅延時間に制御される。
These DC voltages VC1, Vc2 are used as voltages to control the ring oscillator 20, and the inverters 22, 24, . ..
26 control input terminals C1 and c2 to control the applied voltage. Inverter 22.24. .. As mentioned above, the delay characteristics of 26 depend on the applied voltage, so if the above loop is configured with angular feedback, it becomes a so-called PLL (face-locked loop), so it can be used as a ring oscillator. 20, an extremely stable oscillation frequency (accuracy of reference frequency) can be obtained. In other words, regardless of fluctuations in power supply voltage or temperature, each inverter 22.24.2
6 is controlled to a constant delay time.

以上はこの発明をリング発振器の発振周波数の安定化に
適用した場合であるが、ここで得られる制御電圧VC1
、VC2をインバータ22.24、26と同等の環境に
置かれた(例えば集積回路の同一基板上)インバータを
含む他の回路(被制御回路38)の制御電圧として供給
すれば、この被制御回路38における遅延特性も安定化
することができる。被制御回路38としては、例えば第
4図乃至第7図に示すものが考えられる。
The above is a case where this invention is applied to stabilizing the oscillation frequency of a ring oscillator, and the control voltage VC1 obtained here is
, VC2 as a control voltage for another circuit (controlled circuit 38) including the inverter placed in the same environment as the inverters 22, 24, 26 (for example, on the same board of an integrated circuit), this controlled circuit The delay characteristics at 38 can also be stabilized. As the controlled circuit 38, for example, those shown in FIGS. 4 to 7 can be considered.

第4図は、インバータ40−1.40−2・・・。FIG. 4 shows inverters 40-1, 40-2...

・・・、’40−nを縦列接続し、入力端子42から信
号を入力しf、出力端子44から遅延出力を取り出すよ
うにした遅延回路である。制御l電圧Vc1、Vc2で
インバータ71o−i乃至40−nの印加電圧を制御す
ることにより、遅延時間を一定化することができる。
, '40-n are connected in series, a signal is inputted from an input terminal 42, and a delayed output is taken out from an output terminal 44. By controlling the voltages applied to the inverters 71o-i to 40-n using the control voltages Vc1 and Vc2, the delay time can be made constant.

第5図は、奇数個のインバータ46−1.・・・。FIG. 5 shows an odd number of inverters 46-1. ....

46−nを縦列接続し、r4段のインバータ46−nの
出力を初段のインバータ46−1に入力して出力端子4
7から発振出力を行るJ:うに構成したリング発振器で
ある。制m電圧VCL VC2でインバータ46−1.
・・・、46−nの印加電圧制御することにより、各イ
ンバータ46−1.・・・、46−nの遅延時間を一定
化して、発振周波数を一定化することができる。
46-n are connected in series, and the output of the r4-stage inverter 46-n is input to the first-stage inverter 46-1 to output the output terminal 4.
This is a ring oscillator configured as J: which performs oscillation output from 7. Inverter 46-1.
. . , 46-n, each inverter 46-1 . . . , 46-n can be made constant to make the oscillation frequency constant.

第6図は、FM復調回路(パルスカウント検波回路)で
、入力端子48から入力した被変調信号を偶数個(ここ
では4個)のインバータ50−1゜50=2..50−
3.50−4を縦列接続した回路に入力し、終段50−
4の出力信号を排他的オア回路52に入力し、排他的オ
ア回路52の出力をローパスフィルタ53を介して取り
出して出力端子54に復調信号として導くようにしたも
のである。制御電圧MCI、V c、2でインバータ5
0−1乃至50−4の印加電圧を制御することにより、
歪の少ない正確な復調を行なうことができる。
FIG. 6 shows an FM demodulation circuit (pulse count detection circuit) which converts the modulated signal input from the input terminal 48 into an even number (four in this case) of inverters 50-1°50=2. .. 50-
3. Input 50-4 to the circuit connected in cascade, and the final stage 50-
4 is input to an exclusive OR circuit 52, and the output of the exclusive OR circuit 52 is taken out via a low-pass filter 53 and guided to an output terminal 54 as a demodulated signal. Inverter 5 with control voltage MCI, V c, 2
By controlling the applied voltage from 0-1 to 50-4,
Accurate demodulation with less distortion can be performed.

第7図は、FM変調回路で、入力端子5・6から変調信
号を入力してアンプ58に入力し、制御電圧VC1、V
C2をこの入力信号で変調し、この変調した制御電圧V
cl、VC2でリング発振器を構成するインバータ60
−1.60−2..60−3の印加電圧を制御1−るこ
とにJ:す、終段の印加電圧60−3から出力端子61
にFM変調出力を出力−するようにしたものである。制
御電圧Vcl、VC2を用いることにより、キャリア周
波数の変動の少ない正確な変調を行なうことができる。
FIG. 7 shows an FM modulation circuit in which modulation signals are input from input terminals 5 and 6 and input to an amplifier 58, and control voltages VC1 and V
C2 is modulated by this input signal, and this modulated control voltage V
An inverter 60 that constitutes a ring oscillator with cl and VC2
-1.60-2. .. In order to control the applied voltage of 60-3, the final stage applied voltage 60-3 is applied to the output terminal 61.
The FM modulation output is outputted at the same time. By using the control voltages Vcl and VC2, accurate modulation with less variation in carrier frequency can be performed.

ところで、前記第1図の回路においてリング発振器20
を構成するインバータ22.24.26および被制御回
路38を構成するインバータ(第4図乃至第7図)は、
例えば第8図乃至第13図に示すように構成すると都合
が良い。
By the way, in the circuit shown in FIG. 1, the ring oscillator 20
The inverters 22, 24, 26 constituting the circuit and the inverters constituting the controlled circuit 38 (FIGS. 4 to 7) are as follows:
For example, it is convenient to configure as shown in FIGS. 8 to 13.

第8図のインバータは、CMOSインバータ61を構成
するpチャネルMO3−FET62、nチャネルMO8
−FET6.6と電源電圧VDD、V8S間に印加電圧
制御用pヂャネルMO8−FET64、nチャネルMO
8−FET68をそれぞれ挿入したものである。信号は
入力端子70から入力され、出力端子72から出力され
る。前記制御電圧Vc1、VC2(第1図)は、制御入
力端子CI、C2から入力される。制御電圧Vcl、V
C2は基準電位XLQ 11− ’−5−5−に対して
対称の電圧(いいかえると、v cl−v ss =V
 DO−V C2)に設定される。V C1−V ss
 =V DO−V C2が小さければ、MO8−FET
62.66で構成されるCMOSインバータ61の5印
加電圧は大きくなって遅延時間は小さくなり、VC,1
−V ss =V DD −V C2,が大きければ、
CMOSインバータ61の印加電圧は小さくなって遅延
時間は大きくなる。
The inverter in FIG.
- P channel MO8 for voltage control applied between FET6.6 and power supply voltage VDD, V8S - FET64, n channel MO
8-FET68 are inserted respectively. A signal is input from an input terminal 70 and output from an output terminal 72. The control voltages Vc1 and VC2 (FIG. 1) are input from control input terminals CI and C2. Control voltage Vcl, V
C2 is a voltage symmetrical to the reference potential XLQ 11-'-5-5- (in other words, v cl-v ss = V
DO-V C2). V C1-V ss
=V DO-V If C2 is small, MO8-FET
The voltage applied to the CMOS inverter 61 composed of 62 and 66 becomes larger, the delay time becomes smaller, and VC,1
If −V ss =V DD −V C2, is large, then
The voltage applied to the CMOS inverter 61 becomes smaller and the delay time becomes longer.

・第9図のインバータは、第8図のインバータにおける
MO8−FET6.8を削除してMO8−FET64だ
けでCMOSインバータの印加型・圧を制御Jるように
したものである。同様に、第8図のインバータにおける
MO8−FET64を削除することも可能である。
- The inverter shown in FIG. 9 is such that the MO8-FET 6.8 in the inverter shown in FIG. 8 is deleted and the application type/pressure of the CMOS inverter is controlled only by the MO8-FET 64. Similarly, it is also possible to delete MO8-FET 64 in the inverter of FIG.

第10図のインバータは、制御用MO3−FFT64,
68をCMOSインバータ61の内側に設けたものであ
る。
The inverter in Fig. 10 includes control MO3-FFT64,
68 is provided inside the CMOS inverter 61.

第11図のインバータは、制御系統を2系統設0たもの
で、第8図におけるMO8−FET64゜68にMO8
−FET64’ 、68’ をそれぞれ並列に設置−ま
たものである。この場合、MO8−一  〇  − FET64’ 、68’に入力する制御電圧V C1’
 、V C2’ はマニュアル操作または制御電圧発生
回路を別に設けて別系統で入力する。
The inverter shown in Fig. 11 has two control systems, and MO8-FET 64°68 in Fig.
-FETs 64' and 68' are installed in parallel. In this case, the control voltage V C1' input to MO8-10-FET64', 68'
, V C2' are input manually or through a separate system by providing a separate control voltage generation circuit.

第12図のインバータは、第11図の制御用素子を直列
に接続したものである。
The inverter shown in FIG. 12 has the control elements shown in FIG. 11 connected in series.

第13図のインバータは、CMOSインバータ61を構
成するMO,S、−FET62,66の間に制御用MO
8−F E T、68を挿入し、MO3−FET62と
ffi源V8、o17)間に制御用MO8−FET64
を挿入したものである。
The inverter shown in FIG.
8-FET, 68 is inserted, and MO8-FET64 for control is inserted between MO3-FET62 and ffi source V8, o17).
is inserted.

なお、上記実施例ではインバータごどに印加電圧を制御
したが、インバータが複数段接続されている場合は、第
14図に示すようにまとめてIil+御をかけると合理
的である。すなわち、第14図の回路は複数段縦列接続
したCMOSインバータ61に制御用MO8−FET6
4.6Bを共通に接続して・電源■DI)、V88に接
続したものである。
In the above embodiment, the applied voltage was controlled for each inverter, but if multiple stages of inverters are connected, it is reasonable to apply Iil+ control all at once as shown in FIG. That is, the circuit shown in FIG.
4.6B is connected in common and the power supply ■DI) is connected to V88.

〔実施例2〕 この発明の他の実施例を第15図に示す。こ、れはパル
スカウント検波回路を利用して遅延時間の安定化を図っ
たものである。
[Embodiment 2] Another embodiment of the present invention is shown in FIG. This uses a pulse count detection circuit to stabilize the delay time.

第15図において、水晶発振器74から発振される基準
信号は、分周器76で゛分周された後パルスカウント検
波回路78に入力される。パルスカウント検波回路78
は、インバータ80−1乃至80−4を縦列接続して、
初段のインバータ8〇−1に分周器76からの分周信号
を入力し、終段のインバータ80−4の出力と分周器7
6の出力を排他的オア回路82゛に入力して構成される
。15+他的オア回路82の出力パルスはインバータ8
0−1乃至8(L−/Iの遅延時間によってパルス幅が
変動する。
In FIG. 15, a reference signal oscillated from a crystal oscillator 74 is frequency-divided by a frequency divider 76 and then input to a pulse count detection circuit 78. Pulse count detection circuit 78
Inverters 80-1 to 80-4 are connected in series,
The frequency divided signal from the frequency divider 76 is input to the first stage inverter 80-1, and the output of the final stage inverter 80-4 and the frequency divider 7
6 is input to an exclusive OR circuit 82'. The output pulse of the 15 + other OR circuit 82 is the output pulse of the inverter 8
The pulse width varies depending on the delay time of 0-1 to 8 (L-/I).

排他的オア回路82の出力パルスは基準レベルが変動し
ているので、]ンパレータ86で基tF電源87の基t
ltl雷圧V、。fど比較してレベルシフトしてレベル
合せを行なう。
Since the reference level of the output pulse of the exclusive OR circuit 82 fluctuates, the base tF of the base tF power supply 87 is
ltl lightning pressure V,. f and level matching by comparing and level shifting.

制御電圧発生回路88では、]ンパレータ86の出力パ
ルスを平滑して制御I雷電圧c1、Vc2を発生させる
。この制御電圧Vc1、VC2はパルスカウント検波回
路78を構成するインバータ80−1乃至80−4の制
御入力端子cl、c2に入力され、その印加電圧を制御
Jる。インバータ80−1乃至80−4の遅延特性は、
前)diのように印加電圧によるので、以上のループに
よって0帰)!となるJζうに構成してヤ)れぽ、常に
一定のパルス幅のパルスが検波出力どしてli他的オア
回路82から得られることになる。′)J、す、電源電
圧や温mの変動にかかわらず、各インバータ80−1乃
至80−4の遅延時間が一定値に制御される。
The control voltage generation circuit 88 smoothes the output pulse of the amparator 86 to generate control I lightning voltages c1 and Vc2. These control voltages Vc1 and VC2 are input to control input terminals cl and c2 of inverters 80-1 to 80-4 constituting the pulse count detection circuit 78, and control the applied voltages. The delay characteristics of inverters 80-1 to 80-4 are as follows:
Previous) Since it depends on the applied voltage like di, the above loop returns 0)! By configuring Jζ such that Jζ becomes, a pulse with a constant pulse width is always obtained from the li altruistic OR circuit 82 as a detection output. ') The delay time of each inverter 80-1 to 80-4 is controlled to a constant value regardless of fluctuations in power supply voltage or temperature m.

制御電圧発イ[回路88から出力される制御電圧VC1
、VC2は、被制御回路38に印加される。被制御回路
38は6Fi記第4図乃至第7図に示したように、遅延
回路、発振回路、FM復調回路、FM変調回路等インバ
ータを用いた回路で構成される。
Control voltage output [control voltage VC1 output from circuit 88
, VC2 are applied to the controlled circuit 38. The controlled circuit 38 is composed of circuits using inverters such as a delay circuit, an oscillation circuit, an FM demodulation circuit, and an FM modulation circuit, as shown in FIGS. 4 to 7 of 6Fi.

したがって、被制御回路38のインバータをパルスカウ
ント検波回路78のインバータ80−1乃至80−4と
同−IC内に性成すれば、被制御回路38内のインバー
タはパルスカウント検波回路78のインバータ80−1
乃至80−4を共通に制御されるので、そ□の遅延時間
は一定値に制御される。これにより、被制御回路38は
安定に動作する。
Therefore, if the inverter of the controlled circuit 38 is formed in the same IC as the inverters 80-1 to 80-4 of the pulse count detection circuit 78, the inverter in the controlled circuit 38 is connected to the inverter 80 of the pulse count detection circuit 78. -1
Since the signals 80-4 to 80-4 are controlled in common, their delay times are controlled to a constant value. Thereby, the controlled circuit 38 operates stably.

なお、この実施例にd′3いても、インバータは前記第
8図乃至第14図のJ:うに構成することができる。
Note that even if d'3 is used in this embodiment, the inverter can be configured as shown in J of FIGS. 8 to 14 above.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

以」二説明したJ:うに、この発明によれば、ゲート回
路の信号遅延時間に対応したアナログ電圧を得て、この
電圧をゲート回路の動作電圧として与えるようにしたの
で、厳密な安定化電源や恒温槽などを用いることなく簡
単かつ確実に遅延時間を一定化することができる。
According to the present invention, an analog voltage corresponding to the signal delay time of the gate circuit is obtained and this voltage is applied as the operating voltage of the gate circuit, so that a strictly stabilized power supply is required. The delay time can be easily and reliably made constant without using a thermostat or a thermostat.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図はこの発明の一実施例を示す回路図である。 第2図はCMOSインバータを示す回路図である。 第3図は、第2図のCMOSインバータ回路における電
源電圧−遅延時間特性を示す特性図である。 第4図乃至第7図は、第1図または第15図における被
制御回路38の構成例を示す回M図である。 第8図乃
至第14図は、第1図または第15図におけるインバー
タの構成例を示す回路図である。 第15図は、この発
明の伯の実施例を示す回路図である。 20・・・リング発振器、38・・・被制御回路、10
゜61・・・CMOSインバータ、78・・・パルスカ
ウント検波回路。 ■SS
FIG. 1 is a circuit diagram showing one embodiment of the present invention. FIG. 2 is a circuit diagram showing a CMOS inverter. FIG. 3 is a characteristic diagram showing power supply voltage-delay time characteristics in the CMOS inverter circuit of FIG. 2. FIGS. 4 to 7 are circuit diagrams showing configuration examples of the controlled circuit 38 in FIG. 1 or FIG. 15. FIGS. 8 to 14 are circuit diagrams showing configuration examples of the inverter in FIG. 1 or FIG. 15. FIG. 15 is a circuit diagram showing an embodiment of the present invention. 20... Ring oscillator, 38... Controlled circuit, 10
゜61...CMOS inverter, 78...Pulse count detection circuit. ■SS

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] ゲート回路の信号遅延時間に対応したアナログ電圧を得
て、この電圧をゲート回路の動作電圧として与えること
によってこのゲート回路における遅延時間を一定化する
ようにしたことを特徴とする遅延時間安定化回路。
A delay time stabilization circuit characterized in that the delay time in the gate circuit is made constant by obtaining an analog voltage corresponding to the signal delay time of the gate circuit and applying this voltage as the operating voltage of the gate circuit. .
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Cited By (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6346011A (en) * 1986-08-13 1988-02-26 Hitachi Ltd Delaying circuit
JPS6364409A (en) * 1986-09-04 1988-03-22 Sony Corp Phase distributor
JPS63189010A (en) * 1987-01-31 1988-08-04 Canon Inc Delay circuit
JPH01183911A (en) * 1988-01-18 1989-07-21 Oki Electric Ind Co Ltd Phase delaying circuit
JPH02296410A (en) * 1989-05-11 1990-12-07 Mitsubishi Electric Corp Delay circuit
WO1991017602A1 (en) * 1990-05-02 1991-11-14 Kabushiki Kaisha Toshiba Delay circuit
EP0467712A2 (en) * 1990-07-20 1992-01-22 Nec Corporation Phase demodulator for psk-modulated signals
JPH05136664A (en) * 1991-08-14 1993-06-01 Advantest Corp Variable delay circuit
JPH05199088A (en) * 1991-02-25 1993-08-06 Toshiba Corp Delay circuit
JPH06152334A (en) * 1992-11-06 1994-05-31 Mitsubishi Electric Corp Ring oscillator and constant voltage generating circuit
JPH098617A (en) * 1995-06-15 1997-01-10 Nec Corp Delay control circuit
JP2000341099A (en) * 1999-05-27 2000-12-08 Rohm Co Ltd Delay circuit
WO2001005034A1 (en) * 1999-07-07 2001-01-18 Advantest Corporation Variable delay circuit
JP2001053593A (en) * 1999-06-28 2001-02-23 Lucent Technol Inc Variable phase shift lock generator
WO2007114379A1 (en) * 2006-03-31 2007-10-11 Advantest Corporation Variable delay circuit, testing apparatus and electronic device
JP2009253729A (en) * 2008-04-08 2009-10-29 Nec Electronics Corp Semiconductor integrated circuit device
JP2018019118A (en) * 2016-07-25 2018-02-01 セイコーエプソン株式会社 Comparator, circuit device, physical quantity sensor, electronic apparatus, and movable body
JP2019512941A (en) * 2016-03-10 2019-05-16 アナログ ディヴァイスィズ インク Timing generator for generating high resolution pulses having arbitrary width

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS52123851A (en) * 1976-04-09 1977-10-18 Rca Corp Voltage controlled oscillator
JPS53135245A (en) * 1977-04-28 1978-11-25 Nec Corp Oscillator circuit
JPS5686509A (en) * 1979-12-17 1981-07-14 Seiko Epson Corp Voltage controlled oscillator

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS52123851A (en) * 1976-04-09 1977-10-18 Rca Corp Voltage controlled oscillator
JPS53135245A (en) * 1977-04-28 1978-11-25 Nec Corp Oscillator circuit
JPS5686509A (en) * 1979-12-17 1981-07-14 Seiko Epson Corp Voltage controlled oscillator

Cited By (22)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6346011A (en) * 1986-08-13 1988-02-26 Hitachi Ltd Delaying circuit
JPS6364409A (en) * 1986-09-04 1988-03-22 Sony Corp Phase distributor
JPS63189010A (en) * 1987-01-31 1988-08-04 Canon Inc Delay circuit
JPH01183911A (en) * 1988-01-18 1989-07-21 Oki Electric Ind Co Ltd Phase delaying circuit
JPH02296410A (en) * 1989-05-11 1990-12-07 Mitsubishi Electric Corp Delay circuit
WO1991017602A1 (en) * 1990-05-02 1991-11-14 Kabushiki Kaisha Toshiba Delay circuit
EP0467712A2 (en) * 1990-07-20 1992-01-22 Nec Corporation Phase demodulator for psk-modulated signals
JPH05199088A (en) * 1991-02-25 1993-08-06 Toshiba Corp Delay circuit
JPH05136664A (en) * 1991-08-14 1993-06-01 Advantest Corp Variable delay circuit
JPH06152334A (en) * 1992-11-06 1994-05-31 Mitsubishi Electric Corp Ring oscillator and constant voltage generating circuit
JPH098617A (en) * 1995-06-15 1997-01-10 Nec Corp Delay control circuit
JP2000341099A (en) * 1999-05-27 2000-12-08 Rohm Co Ltd Delay circuit
JP2001053593A (en) * 1999-06-28 2001-02-23 Lucent Technol Inc Variable phase shift lock generator
WO2001005034A1 (en) * 1999-07-07 2001-01-18 Advantest Corporation Variable delay circuit
US6549052B2 (en) 1999-07-07 2003-04-15 Advantest Corporation Variable delay circuit
WO2007114379A1 (en) * 2006-03-31 2007-10-11 Advantest Corporation Variable delay circuit, testing apparatus and electronic device
US7755407B2 (en) 2006-03-31 2010-07-13 Advantest Corporation Variable delay circuit, testing apparatus, and electronic device
JP2009253729A (en) * 2008-04-08 2009-10-29 Nec Electronics Corp Semiconductor integrated circuit device
JP2019512941A (en) * 2016-03-10 2019-05-16 アナログ ディヴァイスィズ インク Timing generator for generating high resolution pulses having arbitrary width
JP2018019118A (en) * 2016-07-25 2018-02-01 セイコーエプソン株式会社 Comparator, circuit device, physical quantity sensor, electronic apparatus, and movable body
CN107658292A (en) * 2016-07-25 2018-02-02 精工爱普生株式会社 Comparator, circuit arrangement, physical quantity transducer, electronic equipment and moving body
CN107658292B (en) * 2016-07-25 2023-08-08 精工爱普生株式会社 Comparator, circuit device, physical quantity sensor, electronic device, and moving object

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