JPS6135332A - 微小粒子分析装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 この発明は、細胞等の微小粒子にレーザー光を照射して
その微小粒子による散乱光および／または蛍光を検出し
、その散乱光や蛍光の検出データに基づいて微小粒子を
分析する装置に関するものである。

従来技術 最近に至り、細胞等の微小粒子を液体に懸濁させた懸濁
液（試料）と生理食塩水等の不活性液を層流状態に保持
してその層流状態の試料にレーザー光を照射し、試料中
に含まれる微小粒子による角度の異なる散乱光や波長の
異なる蛍光を検出して、その検出データに基づいて微小
粒子を分析する装置、すなわちいわゆるフローサイトメ
ーターと称される微小粒子分析装置が開発・実用化され
ている。

従来のこの種のフローサイトメーターとしては、例えば
第３図に示すように生理食塩水等の不活性液（シース液
）１を加圧してこれを管状のフローセル２内に送り込み
、一方予め試料細胞等の微小粒子が懸濁された微小粒子
懸濁液（試料）３をフローセル２内のシース液のフロー
（シース流）の中心軸位置に注入して試料と不活性液を
層流状態に保持し、その層流状態の試料に対してレーザ
ー光Ｉ４からレーザー光を照射して、例えば２個の検出
器５．６を含む検出部７において試料中の微小粒子によ
る散乱光および／または蛍光を検出し、その検出データ
をＣＰＵ等のデータ処理部８に取込み、検出データを適
宜処理して微小粒子を分析するものが一般的である。こ
こで散乱光や蛍光は、異なる角度での散乱光（代表的に
は前方散乱光および直角散乱光）および異なる波長の蛍
光（代表的には赤色蛍光および緑色蛍光）のうちから２
種以上を検出し、それらの強度、あるいは対数強度、さ
らにはそれらの比などのうちから２種以上の値を選んで
分析のためのパラメータとし、その２種以上のパラメー
タによって細胞等の微小粒子がいずれの種類のものであ
るか、あるいは如何なる性状、機能のものであるか等を
分析するのが通常である。

発明が解決しようとする問題点 ところで本出願人は既に昭和５９年７月１４日付の特許
出願において、フローセル２に試料やシース流を供給す
る手段９として、第４図に示すようにいわゆるループイ
ンジェクタ１０を用いたも　ｊ　− のを提案している。このループインジェクタ１０は内部
に所定量の試料を保持し得る保持ループ１１を備え、モ
ータＭによって駆動される弁体１２の回転によって保持
ループ１１の両端に接続される流路を切替えることによ
り所定量の試料を保持ループ１１内に吸引保持させる工
程と、その保持ループ１１内の試料を押出してフローセ
ル２に供給する工程とが切替えられるようになっている
。

すなわち第４図において、ループインジェクタ１０は保
持ループの一端が第１ポートＰ１に、他端が第２ボート
Ｐ２に接続される状態と、保持ループ１１の一端が第３
ボートＰ３に、他端が第４ボートＰ４に接続される状態
とに切替えられるように構成されている。そしてシース
液１を収容したシース液容器１３は密閉容器とされて、
窒素ガス加圧源１４からのガス圧力によってシース液が
吐出されるように構成されており、そのシース液容器１
３からのシース液流路１５は、バルブ１６および抵抗流
路１７を介してループインジェクタ１０の第１ボートＰ
１に接続されるとともに、パル７１８および抵抗流路１
９を介してフローセル２のシース液供給管２Ａに接続さ
れている。一方試料３を収容した試料容器２０には試料
吸引ノズル２１が挿入され、その試料吸引ノズル２１の
基端側はループインジェクタ１０の第３ボートＰ３に接
続され、またループインジェクタ１０の第４ボートＰ４
は抵抗流路２２およびバルブ２３、緩衝容器２４を介し
て真空ポンプ２５に接続されており、さらにループイン
ジェクタ１１の第２ボートＰ２はフローセル２の試料注
入管２Ｂに接続されている。

第４図に示されるような供給手段９においては、先ずル
ープインジェクタ１０の保持ループ１１の一端を第３ボ
ートＰ３に、他端を第４ボートＰ４に接続した状態とし
、バルブ２３を開放させる。

斯くすれば試料吸引ノズル２１から保持ループ１１を経
てＷｉ衝容器２４に至る流路が形成されるため、試料容
器２０内の試料が真空ポンプ２５の負圧によって試料吸
引ノズル２１から保持ループ１１内に流入する。次いで
ループインジェクタ１０を切替えて、その保持ループ１
１の一端を第１ボートＰ１に、他端を第２ポートＰ２に
接続した状態とし、バルブ１６を開放させる。斯くすれ
ばシース液容器１３からループインジェクタ１０の保持
ループ１１を経てフローセル２の試料注入管２Ｂに至る
流路が形成されるから、保持ループ１１内の試料がシー
ス液容器１３からのシース液によって試料注入管２Ｂに
押出され、フローセル２内に注入される。なおこの段階
では予めバルブ１８を開いてシース液容器１３からバル
ブ１８および抵抗流路１９を介してフローセル２のシー
ス液供給管２Ａにシース液を供給し、フローセル２内に
シース流を形成しておくことは勿論である。また第４図
の試料供給手段では、前述のようにループインジェクタ
１０の保持ループ１１に試料を吸引保持する前の段階で
予め各管路をシース液で置換しておくのが通常である。

上述のような供給手段９においては、ループインジェク
タ１０の保持ループ１１に一旦試料を収容保持させてか
らその保持ループ１１内の試料をシース液で押出す。し
たがって試料注入管２Ｂからフローセル２内には、先ず
試料注入管２Ｂ内に残っているシース液が注入され、続
いて試料が注入されて、その後さらに押出しのためのシ
ース液が注入されることになる。すなわち試料のみが注
入されるのではなく、第５図に模式的に示すように時間
的にシース液１→試料３→シース液１の順で注入されこ
とになる。ここで、前後のシース液１と試料３との境界
付近２６．２７は試料とシース液とが混合した領域とな
る。シース液と試料液とは厳密には異なるものであるか
ら、この混合領域２６．２７ではノイズが発生するおそ
れがある。

しかるに従来のフローサイトローターでは、測定開始後
の検出器からの検出データは常時データ処理部に取込ま
れていたから、上述のような混合領域２６．２７で発生
するノイズも誤って検出データとして取込まれるおそれ
があり、そのため分析精度が低下するおそれがあった。

また従来のフローサイトメーターでは、前述のように測
定開始後の検出器からの検出データは常７一 時データ処理部に取込まれるため、測定開始後に分析対
象の微小粒子による検出データと誤認されるような信号
が検出器から発生するおそれがある操作は行なうことが
できず、その場合には測定を一旦停止せざるを得ない問
題があった。例えば第４図に示すような供給手段９にお
いて、次々に異なる種類の微小粒子を分析する場合、あ
る試料をフローセル２の試料注入管２Ｂに注入した後、
洗浄液を各管路に流して管路内を洗・浄する必要が生じ
るが、この場合管路内に残った微小粒子が洗浄液ととも
にフローセル内に流れ込み、それが検出器で検出されて
しまうことがあるが、従来のフローサイトメータではこ
の場合の検出信号も検出データとしてデータ処理部に取
込まれてしまう問題があり、したがって従来のフローサ
イトメータでは洗浄時には一旦測定を停止せざるを慢ず
、このことが多数の試料、多種類の試料を分析する場合
の処理時間短縮による分析能率向上に対するネックとな
っていた。

したがってこの発明は、微小粒子分析装置におＱ− ける供給手段等の各部の動作や状態に応じてデータ処理
部に対する検出データの取込みをＩｉＩＩｗＪシ得るよ
うになし、これによって分析精度が低下するおそれのあ
る領域での検出データをカットして分析精度を向上させ
たり、あるいは測定を停止させることなく洗浄等の種々
の操作を行ない得るようにした微小粒子分析装置を提供
することを目的とするものである。

問題を解決するための手段 この発明の微小粒子分析装置は、微小粒子が懸濁された
試料とシース液としての不活性液とが供給されるフロー
セルと、 前記不活性液をフローセル内に供給するとともに、その
不活性液によるシース流の中心軸位置に前記試料液を注
入してシース液と試料液との層流を形成するための供給
手段と、 前記層流状態の試料にレーザー光を照射するためのレー
ザー光源と、 前記レーザー光による微小粒子の散乱光および／または
蛍光を検出するための検出部と、前記検出部から得られ
た検出データを処理して前記微小粒子の性状を分析する
ためのデータ処理部と、 各部の動作を１ｊＪＩｉｌするための制御部とを有して
なる微小粒子分析装置において、 前記データ処理部における検出データの取込を指令する
データ取込指令回路と、 前記検出部から出力されたデータが微小粒子の到来によ
るものであることを判別する粒子到来判別回路と、 前記制御部からデータ取込指令回路に至る制御ゲート信
号系路とを設け、 前記粒子到来判別回路からの粒子到来信号と制御部から
の制御ゲート信号とがデータ取込指令回路に入力された
状態でそのデータ取込指令回路がデータの取込を指令す
るように構成したことを特徴とするものである。

ここで前記制御部は、例えば前記供給手段の動作をＩＩ
Ｉ　ｍする機能を有する構成とされる。

実施例 第１図はこの発明の微小粒子分析装置の電気的構成部分
の一例を概略的に示すものであり、微小粒子による散乱
光や蛍光を検出するための検出器を備えた検出部７から
の検出データは、分析用データ系路３０を経てパーソナ
ルコンピュータ等のデータ処理部８に入力されて、その
検出データに基づいて微小粒子が分析される。すなわち
例えば前方散乱光や直角散乱光（９０°敗乱光）などの
異なる角度での散乱光、あるいは赤色蛍光や緑色蛍光な
どの異なる波長での蛍光の強度、あるいはそれらの対数
強度、さらにはそれらの比などのうちから２種以上をパ
ラメータとし、その２種以上のパラメータにより形成さ
れる二次元ヒストグラムあるいは三次元以上の多次元ヒ
ストグラム上においである領域内に含まれるか否かによ
ってａｍ等の微小粒子の種類、性状、機能などを分析す
る。

またこのデータ処理部８は、検出データのうちあるデー
タを比較用データとして用いて、検出データのレベルが
データ処理部８において分析するに適した有効な範囲内
にあるか否かを判別するラインドウ機能、すなわち例え
ば不要なノイズを判別除去するための下限値と過大な信
号を判別除去するための下限値を設定して、比較用デー
タのレベルがその上限値と下限値との間にあるか否かを
判別する機能をも有する。なおここで比較用データの光
路は、分析用検出データの系１３０とは異なる比較用デ
ータ系路３７を経てデータ処理ａｌ１８に加えられる。

−力制御ＤｆＩＩ３１は、前述の供給手段９（第４図参
照）を含む各部をＩｔ御するためのものであり、このｉ
！ＩＩ！１ａｌ１３１からは供給手段９のバルブヤモー
タなどをｌｌ１ＩＪＩＩｌする信号が出力されるととも
に、逆にそれらからの信号が入力される。またこの制御
部３１からは、供給手段９などの動作もしくは状態に応
じ、かつ検出データレベルが前記範囲内にあるか否かの
データ処理部８でのウィンドウ機能による判別結果に応
じて制御ゲート信号ＳＡが制御ゲート信号系路３２に出
力される。

前記検出部７からの検出データは、粒子到来判別回路３
３へも加えられる。この粒子到来判別回路３３は、細胞
等の微小粒子が実際に到来したか−１２〜 否か、すなわち検出部７で検出したデータが実際に微小
粒子について測定されたデータであるか否かを判別する
ためのものであり、実際に微小粒子による検出データで
ある場合には粒子到来信号ＳＢを出力するように構成さ
れる。そして前記制御ａｌ１３１からの制御ゲートＳＡ
および粒子到来判別回路３３からの粒子到来信号８Ｂは
、アンドゲート３４の入力側に並列入力として加えられ
、そのアンドゲート３４の出力、すなわち前記２信号Ｓ
Ａ、８Ｂが揃った時の信号出力はデータ取込指令回路３
５に入力される。このデータ取込指令回路３５は、デー
タ処理部８における検出部７からの検出データの取込み
を指令するデータ取込指令信号ＳＤを発生するものであ
り、そのデータ取込信号ＳＤは例えば検出部７からデー
タ処理部８に至る分析用データ系路３０を開閉したりあ
るいはデータ処理部８の入力部の動作を制御することに
よってデータの取込みを＠御する。

第１図の基本構成においては、制御ゲート信号ＳＡと粒
子到来信号８Ｂとが揃った時、すなわち供給手段９にお
ける状態もしくは動作などがデータ取込みを行なうに適
した詩期であって、しかも検出データレベルがデータ処
理に適した範囲内にあり（ＩＩＩ　御ゲート信＠ＳＡ出
力）、シかもその時の検出データが微小ね子によるもの
であると粒子到来判別回路３３が判別（粒子到来信号Ｓ
Ｂ比出力したときに、はじめてデータ取込指令回路３５
がデータ取込指令信号ＳＯを出力し、データ処理部８に
分析用の検出データが取込まれ、その゛検出データに基
づいて微小粒子が分析される。

例えば試料供給手段９として、第４図に示す如くループ
インジェクタ１０を用いたものが使用されている場合、
ＩＩＩＶ！Ｊ８Ｉ！３１はループインジェクタ１０を切
替駆動するためのモータＭや各パルプ１６．１８．２３
を制御する信号を出力するが、この場合既に述べた如く
（第５図参照）、試料注入管２Ｂからフローセル２には
シース液１→試料３→シース液１の順で注入され、試料
３と前後のシース液１との境界付近は試料とシース液と
の混合領域２６．２７となり、その付近の検出データに
はノイズが含まれるおそれがある。そこでそれらの混合
領域２６．２７を避けた適正領域２８のみにおいて検出
データをデータ処理部８に取込むように、例えばループ
インジェクタ１０を試料の注入を行なう状態へ切替えた
後一定時間経過してから（すなわち前端側の混合領域２
６が過ぎてから）制御ゲート信号ＳＡを出力し得る状態
となり、さらに一定時間経過後（但し後端側の混合領域
２７が到来する前）に制御ゲート信号ＳＡを出力させ得
ない状態となるように制御部３１を設定する。

このように設定しておけば、適正領域２８の期間内に到
来した検出データであって、しかも前述した如（比較用
の検出データレベルが予め定めた上限値と下１ｆｉｆｆ
との間にある時にはじめて制御ゲート信号ＳＡが出力さ
れ、しかも同時に粒子到来信号８Ｂが得られた時に分析
用検出データの取込みが行なわれることになる。

なお第１図の例では比較用の検出データ処理部８におい
て分析するに適した有効な範囲内にあるか否かを判別す
るウィンドウ機能をデータ処理部８に持たせた構成とし
たが、場合によっては第１図の鎖線で示すように別にウ
ィンドウ機能を有するデータ条件判別回路３６を設けて
おき、このデータ条件判別回路３６ＧＣおいて比較用の
検出データが予め設定した範囲内にあるか否かを判別し
、比較用の検出データがその範囲内にある場合にデータ
条件適合信号ＳＣを出力するように構成しても良く、こ
の場合データ条件適合信号ＳＣをデータ取込指令回路３
５の入力側のアンドゲート３４に加え、制御ゲート信＠
ＳＡ、粒子到来信号ＳＢおよびデータ条件適合信号ＳＣ
とが揃った時にアンドゲート３４からデータ取込指令回
路３５に信号が加えられてデータ取込指令回路３５がデ
ータ取込信号ＳＯを出力するように構成すれば良い。

第２図には第１図の基本構成をさらに具体化した例を示
す。

第２図において、検出部７を構成する検出器。

すなわち４個の光電子増倍管ＰＭ１〜ＰＭ４およびフォ
トダイオードＰＤの出力は、それぞれ前層増幅器４１を
経て利得制御回路４２によりそのレベルが適切なレベル
にＴＡＮされた後、ホールド回路４３に入力されて、Ｃ
ＰＬＩ等からなる制御部３１からの制御信号に応じて信
号の波形のピーク値もしくは面積値がホールドされ、さ
らにそのホールドされたピーク値もしくは面積値が横軸
データ選択スイッチ群４４、Ｕ＠データ選択スイッチ群
４５、第１比較用データ選択スイッチ群４６、および第
２比較用データ選択スイッチ群４７を経て、それぞれＩ
＠データスケール回路群４８、縦軸データスケール回路
群４９、第１比較用スケール回路群５０．および第２比
較用スケール回路群５１に入力される。ここで前記横軸
データ選択スイッチ群４４および縦軸データ選択スイッ
チ群４５は、それぞれ微小粒子を分析するための二次元
ヒストグラム（サイトグラム）の横軸データおよびＭｌ
＠データとして前記検出器ＰＭＩ〜ＰＭ４、ＰＯのうち
のいずれの検出器のデータを用いるかを選択寸ろための
ものであり、−力筒１比較用データ選択スイッチ群４６
および第２比較用データ選択スイッチ群４７は、前述の
ように検出データのレベルがデータ処理部８において処
理するに適した範囲内にあるか否かをデータ処理部８の
ウィンドウ機能により判別するための第１比較用データ
、第２比較用データとしていずれの検出器からのデータ
を用いるかを選択するものであり、これらのスイッチ群
４４〜４７はいずれも制御部３１からの制御信号によっ
て制御される。また横軸データスケール回路群４８およ
び縦軸データスケール回路群４９は、それぞれスイッチ
群４４．４５によって選択された検出器の出力データを
前記二次元ヒストグラムの横軸データ、縦軸データとし
て使用するための各種のスケールに変換するためのもの
であり、図示の例では検出器の出力データを直線増幅す
るリニアスケール回路１−ｉｎと、対数増幅するログス
ケール回路Ｌｏａと、二種の検出器の出力データの比を
とる比スケール回路Ｑｉｖと、同じく二種の検出器の出
力データから偏光度を求める偏光度スケール回路Ｐとを
有するものとされている。

−力筒１比較用データスケール回路群５０および第２比
較用データスケール回路群５１は、それぞれスイッチ群
４６．４７によって選択された検出器の出力データをデ
ータ処理部８のウィンドウ機能で判別させるために使用
するスケール、すなわちリニアスケールもしくはログス
ケールに変換するためのものであり、それぞれリニアス
ケール回路Ｌ＋ｎおよびログスケール回路ＬＯ（］とに
よって椙成されている。

前記横軸データスケール回路群４８および縦軸データス
ケール回路群４つの出力は、それぞれ横軸スケール選択
スイッチ５２および縦軸スケール選択スイッチ５３を経
てサンプルホールド回路５４．５５に入力される。前記
横ねスケール選択スイッチ５２および縦軸スケール選択
スイッチ５３は、それぞれ横軸データのスケールおよび
縦軸データのスケールを制御部３１からの制御信号に従
って前述のりニアスケール、ログスケール、比スケール
、偏光度スケールのいずれかに選択するものであり、こ
れらのスケール選択スイッチ５２．５３によって選択さ
れたスケールの横軸データ、縦軸データはそれぞれサン
プルホールド回路５４、５５によってサンプルホールド
される。そしてそのサンプルホールド回路５４．５５の
出力（アナログ出力）はＡ／Ｄ変換器５６．５７によっ
てデジタル信号に変換され、後述するようにインターフ
ェース５８を介してデータ処理部（パーソナルコンピュ
ータ）８に取込まれる。但しＡ／Ｄ変換器５６．５７は
常に動作するのではなく、データ取込指令回路３５から
のデータ取込指令信号ＳＤが入力された時のみ動作して
、データ処理部８でのデータ取込を可能とする。

一方前記第１比較用データス、ケール回路群５０および
第２比較用データスケール回路群５１の出力は、それぞ
れ第１比較用スケール選択スイッチ５９および第２比較
用スケール選択スイッチ６０を経てサンプルホールド回
路６１．６２に入力され、さらにそのサンプルホールド
回路６１．６２の出力はＡ／Ｄ変換器６３．６４に入力
される。

前記第１比較用スケール選択スイッチ５９および第２比
較用スケール選択スイッチ６０は、データ処理部８のウ
ィンドウ機能で判別するための第１比較用データ、第２
比較用データとしていずれのスケールのデータを用いる
かを選択するためのものであり、制御部３１からの制御
信号によって一重部される。前記Ａ／Ｄ変換器６３．６
４の出力はインターフェース５８を介してデータ処理部
８に入力される。

一方前記利得制御回路４２の出力は、粒子到来判別回路
３３へも加えられる。この粒子到来判別回路３３は、利
得制御回路４２の各検出器の出力データのうちからいず
れの検出器からの出力を粒子到来判別用の信号として用
いるかを選択するための信号選択スイッチ６５と、その
信号選択スイッチ６５で選択された信号と基準信号回路
６６からの所定レベルの基準信号ＳＧとを比較する比較
器６７と、その比較器６７の出力が加えられる同期回路
６８とによって構成されている。前記比較器６７におい
ては、信号選択スイッチ６５で選択された信号が基準信
号ＳＧのレベルよりも高い場合には粒子到来をあられす
信号が出力され、さらにその信号が同期回路６８に入力
されて、粒子到来タイミングの基準となる発振器６９か
らの同期信号と同期がとられ、その同期をとられた信号
が前記粒子到来信号ＳＢとして出力され、その粒子到来
信号ＳＢが前記アンドゲート３４に加えられる。またそ
の粒子到来信号ＳＢは、カウント回路７０および近接粒
子検知回路７１にも加えられる。

カウント回路７０は、粒子の到来個数を計数するための
ものであり、粒子到来信号ＳＢが入力されるたびごとに
その信号をカウントする。また近接粒子検知回路７１は
、微小粒子が近接して到来したこと、すなわち微小粒子
がある間隔よりも短い間隔で到来したことを検出するた
めのものであり、この近接粒子検知回路７１において微
小粒子が近接して到来したことを検出された場合には、
近接粒子検知信号ＳＨが出力されてその信号ＳＨがキャ
ンセル回路７２に加えられる。このキャンセル回路７２
は、近接粒子検知信号ＳＨが加えられた状態で前記デー
タ取込指令回路３５を無効にして、データ取込指令信号
ＳＤを出力させないように制御する。

前記制御部３１は、前記各スイッチ群４４〜４７、各ス
イッチ５２．５３．５９．６０．６５およびホールド回
路４３を制御するほか、インターフェース７３を介して
前記供給手段９の制御ｌｌ（例えばモータＭやバルブ１
６．１８．２３の制ｔｅｌ）を行なうとともに、その供
給手段９の動作や状態に応じ、またデータ処理部８での
ウィンドウ機能による判別結果に応じ、インターフェー
ス７３から前述のアンドゲート３４の入力端に延びる制
御ゲート信号系路３２を介してデータ取込指令回路３５
のＭ御も行なう。

第２図に示される実施例においては、各検出器ＰＭＩ〜
ＰＭ４、ＰＤからの検出信号のピーク値もしくは面積値
がホールド回路４３によって選択され、そしてそのホー
ルド回路４３において選択された検出データのうちいず
れの検出器のデータをスケール回路群４８．４９の各ス
ケール回路に与えるかが横軸データ選択スイッチ群４４
および縦軸データ選択スイッチ群４５によって選択され
、さらにスケール回路群４８．４９の各スケール回路の
出力のうちいずれのスケールのデータを横軸データ、縦
軸データとして用いるかがスケール選択スイッチ５２．
５３によって選択される。そしてこのようにして選択さ
れた横軸データ、縦軸データがサンプルホールドされて
Ａ／Ｄ変換器５６．５７に加えられる。

一方ホールド回路４３から出力される各検出器の出力信
号のピーク値または面積値のデータのうちいずれの検出
器のデータを第１比較用データ、第２比較用データとし
て用いるかが第１比較用データ選択スイッチ群４６、第
２比較用データ選択スイッチ群４７によって選択され、
さらにそれらのデータがリニヤスケール、ログスケール
に変換された後、各一方のスケールが第１比較用スケー
ル選択スイッチ５９、第２比較用スケール選択スイッチ
６０により選択され、さらにサンプルホールド回路６１
．６２によりサンプルホールドされた後、Ａ／Ｄ変換器
６３．６４によってデジタル信号に変換され、インター
フェース５８を介してデータ処理部８に入力される。そ
してこれらの比較用データが予め設定した範囲（ウィン
ドウ）内にあるか否かが判別される。

また利得制御回路４２がら出力される利得制御済みの各
検出器のいずれかの出力が粒子到来判別回路３３の選択
スイッチ６５によって選択されて比較器６７に入力され
、その比較器６７においであるレベル以上であること、
すなわち微小粒子の検出によるデータレベルであること
が判別される。

換言すれば微小粒子を含まない液体のみの信号やノイズ
による信号ではないことが判別される。そしてその比較
器６７の出力は同期回路６８によって同期がとられ、粒
子到来信号ＳＢとしてアンドゲート３４の入力端に加え
られる。

そして既に述べたように供給手段９の状態が検出データ
の取込みを行なうに適した時期、例えば第５図の適正領
域２８の期間内の時期にあることが制御部３１において
認識され、しがも前記各比較用データが予め設定したウ
ィンドウ内にあることがデータ処理部８で判別されれば
、制御ゲート信号ＳＡが制御部３１がら出力され、制御
ゲート信号系路３２を経てアンドゲート３４の入力端に
加えられる。

結局、供給手段９の状態が検出データの取込みに適した
時期にあって、しかもデータが所定の範囲内にあり、か
つその検出データが微小粒子の到来によるものであると
きにはじめてアンドゲート３４の入力が揃い、そのアン
ドゲート３４の出力によってデータ取込指令回路３５が
データ取込指令信号ＳＤを出力し、そのデータ取込指令
信号ＳＤによってＡ／Ｄ変換器５６．５７が動作状態と
なり、それらのＡ／Ｄ変換器５６．５７に加えられた検
出データ（横軸データおよび縦軸データ）がＡ／Ｄ変換
され、インターフェース５８を介してデータ処理部８に
取込まれて、そのデータが処理されて微小粒子が分析さ
れる。例えば横軸データ、縦軸データによって定まるサ
イトグラム上の点が予め定めた領域の内側か外側かが判
別されて微小粒子の種類、性状などが分析される。

なお２個以上の微小粒子が近接して到来する場合、後続
の微小粒子に関しては近接粒子検知回路７１から近接粒
子検知信号ＳＨがキャンセル回路７２に与えられて、デ
ータ取込指令回路３５からデータ取込信号ＳＤが出力さ
れなくなり、これにより近接する後続粒子についての検
出データはデータ処理部８に取込まれないことになる。

なおまた、試料やシース液を供給するための供給手段９
において、管路の洗浄を行なう場合、すなわち試料をル
ープインジェクタの保持ループに吸引保持させる工程お
よびその保持ループ内の試料をフローセルに注入する工
程が終了した後、管路にシース液やあるいは純水等の洗
浄液を流す洗浄工程を行なう場合でも、装置全体の動作
は停止させずに、フローセルに試料を注入する時期（あ
るいはその時期のうちでもさらに前述のような適正領域
２８にある時期）のみにおいて検出データの取込みを行
なわせ得ることは勿論である。

発明の効果 この発明の微小粒子分析装置によれば、各部の動作を制
御する制御部からデータ取込指令回路までＩＩＪｉｌｌ
ゲート信号系路を設け光路とによって、試料やシース液
を供給するための供給手段などの各部の動作や状態に応
じてデータ処理部に対するデータの取込みを制御するこ
とができ、したがって分析精度を低下させるおそれがあ
る傾城での検出データを取込まずに分析精度を向上させ
たり、あるいは測定を停止させることなく洗浄等の操作
を行なうことができ、したがって分析精度の向上が図れ
るとともに、多挿類、多数の試料に対する連続自動処理
を回部にする等の種々の効果が得られる。

【図面の簡単な説明】

第１図はこの発明の一実施例の微小粒子分析装置の電気
的回路部分を示すブロック図、第２図は第１図の回路を
さらに具体化した例を示すブロック図、第３図は従来の
一般的な微小粒子分析装置の一例を示す略解図、第４図
はこの発明に先行して提案されている微小粒子分析装置
の供給手段を示す略解図、第５図は第４図の供給手段を
用いた場合のフローセルに対する試料の注入状況の時間
的経過を示す模式図である。 １・・・不活性液（シース液）、　２・・・フローセル
、３・・・試料、　４・・・レーザー光源、５．６、Ｐ
Ｍ１〜ＰＭ４、ＰＤ・・・検出器、７・・・検出部、　
８・・・データ処理部、９・・・供給手段。 １０・・・ループインジェクタ、　１１・・・保持ルー
プ。 ３１・・・制御部、　３２・・・副葬ゲート信号系路、
３３・・・粒子到来判別回路、　３５・・・データ取込
指令回路、　ＳＡ・・・制御ゲート信号、　ＳＢ・・・
粒子到来信号。 出願人　　日本分光工業株式会社 代理人　　弁理士　豊　１）武　久 （ばか１名） 図面の浄書（内容に変更なし）１ 第１図 手　　　続　　　補　　　正　　　書　　（方式）昭和
５９年１２月２５日 特許庁長官　　志　賀　　　学　　殿 ２、発明の名称 微小粒子分析装置 ３、補正をする者 事件との関係　特許出願人 住　所　　東京都八王子市石川町２９６７番地の５名　
称　　日本分光工業株式会社 ４、代理人 住　所　　東京都港区三田３丁目４番１８号二葉ビル８
０３号　電話（４５３）　６５９１昭和５９年１１月２
７日（発送日） ６、補正の対象 代理権を証明する書面および図面 ７、補正の内容 （１）　別紙の通り委任状１通を提出する。 （２）　図面の浄書（内容に変更なし）を提出する。

Claims (2)

【特許請求の範囲】
1. （１）微小粒子が懸濁された試料とシース液としての不
   活性液とが供給されるフローセルと、前記不活性液をフ
   ローセル内に供給するとともに、その不活性液によるシ
   ース流の中心軸位置に前記試料液を注入してシース液と
   試料液との層流を形成するための供給手段と、 前記層流状態の試料にレーザー光を照射するためのレー
   ザー光源と、 前記レーザー光による微小粒子の散乱光および／または
   蛍光を検出するための検出部と、 前記検出部から得られた検出データを処理して前記微小
   粒子の性状を分析するためのデータ処理部と、 各部の動作を制御するための制御部とを有してなる微小
   粒子分析装置において、 前記データ処理部における検出データの取込を指令する
   データ取込指令回路と、 前記検出部から出力されたデータが微小粒子の到来によ
   るものであることを判別する粒子到来判別回路と、 前記制御部からデータ取込指令回路に至る制御ゲート信
   号系路とを設け、 前記粒子到来判別回路からの粒子到来信号と制御部から
   の制御ゲート信号とがデータ取込指令回路に入力された
   状態でそのデータ取込指令回路がデータの取込を指令す
   るように構成したことを特徴とする微小粒子分析装置。
2. （２）前記制御部が、前記供給手段の動作を制御する機
   能を有する構成とされている特許請求の範囲第１項記載
   の微小粒子分析装置。