JPS6134473A

JPS6134473A - ネツトワ−ク・アナライザ

Info

Publication number: JPS6134473A
Application number: JP262485A
Authority: JP
Inventors: Dei Shiyaritsuto Deibitsudo; デイビツド・デイ・シヤリツト; Shii Kiyanon Uein; ウエイン・シー・キヤノン; Buruusu Donetsukaa Esu; エス・ブルース・ドネツカー; Jiei Niiringu Mikaeru; ミカエル・ジエイ・ニーリング; Dei Suchiyuwaato Ronarudo; ロナルド・デイ・スチユワート; Eru Furederitsuku Uein; ウエイン・エル・フレデリツク; Jii Deirudain Robaado; ロバード・ジー・デイルダイン; Donarudo Ruusu Maaku; マーク・ドナルド・ルース; Tei Baa Fuoosu Jiyon; ジヨン・テイ・バー．フオース; Ii Furuma Dagurasu; ダグラス・イー・フルマ
Original assignee: Yokogawa Hewlett Packard Ltd
Current assignee: Hewlett Packard Japan Inc
Priority date: 1984-01-09
Filing date: 1985-01-09
Publication date: 1986-02-18
Anticipated expiration: 2009-07-20
Also published as: DE3475571D1; US4703433A; EP0150410A1; JPH0654334B2; EP0150410B1

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】〔発明の技術分野〕本発明は改良されたネットワーク・アナライザに関する
。

〔従来技術及びその間頃点〕

以前は、マイクロ波領域での振幅と位相とのベクトル測
定はほとんど、１９６９年ヒユーレットｅバッカード社
の刊行になる「自動ネットワーク・アナライザ８５４２
Ａ、第４章ネットワーク・アナライザの基礎」およびＭ
ａｒｚａｌｅｋ他発明の１９８１年１月６日に発行され
た米国特許第４，２４４．０２４号に述べらｔているよ
うな技法を用いるネットワーク・アナライザによって行
われてきた。このようなベクトル・ネットワーク・アナ
ライザは装置、構成部品、およびシステム等の回路網の
特性を、周波数に対するその回路網の伝達係数および反
射係数の大きさと位相とを測定することによって求めて
いる。群遅延の測定は伝達の場合の特殊な形態であり反
射にも使用できるのだが、この群遅延を測定する能力も
ベクトル・ネットワーク・アナライザにはよ（取り入れ
られている。

一般に、ベクトル・ネットワーク解析測定システムには
い（つかの別々のモジュールが組込まれている。第１に
は、被試験装置素子等（ｄｅ１４Ｊｃｅｕｎｄｅｒ　ｔ
ｅｓｔ　、以下ＤＯＴと称する）に刺戟を与える高周波
源である。この刺戟は通常、限定された周波数範囲な掃
引モードと呼ばれる連続アナログ掃引、ステップ・モー
ドと呼ばれる飛び飛びに、あるいは単一点モードにより
カバーする。第２には刺戟なり　Ｕ　Ｔ　Ｋ導くととも
に％ＤＯＴから反射する、あるいはＤ　Ｕ　’Ｉ’を通
って伝わるエネルギをサンプルする手段を与える信号分
離回路網であムまた、エネルギはすべての相対的測定の
基準とするためにＤ　Ｕ　’Ｔ’に入射する信号からサ
ンプルされる。第３には得られた信号を更に処理するた
めに中間周波数（ＩＦ’）に変換する同調受信器である
。

有効な測定のため、諸々の原信号の振幅及び位相の関係
はＩＦへの周波数変換において維持されなければならな
い。第４にはＩＰ倍信号振幅と位相の特性を検出する検
出器であり、第５は測定結果を表示する表示装置である
。

測定精度を向上するため、特性が知られている一組の「
標準」素子をコンピュータ制御システムで測定すること
ができる。このデータから、−組の複素方程式を解いて
ネットワーク・アナライザ・プロセスに関連する多くの
誤差を表わすモデルを求めることができる。次にこのモ
デルをコンピュータに記憶し、後に未知の装置を測定す
るとき、モデルを「生の」測定データから実際のデータ
を分離するのに使用して、ベクトル誤差補正として知ら
れているプロセスによりマイクロ波測定における精度な
高めることができる。

精度の向上はマイクロ波測定においては非常に重要であ
る。何故なら現在の最新技術の公差に収まる様に製作し
た最良の信号発生分離装置を用（・てさえも、低周波測
定と比較するとより大きな誤差が生ずるからである。た
とえば、ベクトル誤差補正を行わなければ、一般的なベ
クトル測定システムは３０％の誤差を生ずる。未知の装
置の位相あるいはインピーダンスのどちらか一方だけの
測定で良いとした場合でも、最新式のスカシ・ネットワ
ーク・アナライザがそ′れでも誤差を１０％に減らすこ
とができるだけである。他方従来のベクトル誤差補正を
用いれば、誤差を約１％に減らすことかできる。

残念ながら、従・来の「自動」ネットワーク・アナライ
ザにはいくつかの重大な間頃が残っている。

すなわち、そのアナライザは誤差補正モードでは非常に
おそい。システムは使用に全く不便なことが屡々、ある
。順方向および逆方向の反射および伝送のパラメータ（
たとえば、Ｓ１１　＋　Ｓ１２９　Ｓ２１および５２２
）を完全に誤差を補正して自動的に測定することができ
ない。無線周波数からミリメートル帯まで（たとえば、
４５ＭＨｚから２６．５ＧＨｚまで）の広帯域ベクトル
試験を人手により何度も接続替えせずに高精度且つ高分
解能で行うことができない。

最後に、従来のシステムではデータは通常周波数領域で
のみ表示され解析されていた。時間領域での解析のため
には、］）　Ｕ　Ｔの応答を時間の関数として直接測定
するために時間領域反射率計（′ｒＤｌ（）のような別
の計器を使用すφか、回路網アナライザと結合した強力
な外部コンピュータを使用して周波数領域のデータを取
り、フーリエ級数を途中で打切って計算したつ、あるい
はもつと速いＣｏｏｌｅｙ　−Ｔｕｋｅｙ　　アルゴリ
ズムその他を使用して逆フーリエ変換を行うかしなげれ
ばならない。

従来のＴＤＲの方法はかなり速いけれども、信号対雑音
比は小さくしかもこの方法はジッタや基線ドリフトの影
響を受けやすい。逆に、従来のコンピュータと結合され
たネットワーク・アナライザは信号対雑音比、ジッタ、
およびドリフ）Ｋ関して’［’　Ｄ　Ｒ法よりかなり改
善されているが、このシステムは非常におそく、１つの
ＤＵＴの時間領域解析と表示を行うには数分間も必要と
する。

〔発明の目的〕

本発明は上記従来技術の間頂を解消し、高速・高精度で
かつ使いやすいネットワーク・アナライザを提供するこ
とを目的とする。

〔発明の概要〕

測定できることによって、先行技術の数々の制限を克服
している。４００点を越す周波数点を１秒かからずに解
析および表示する能力により、４個のベクトル伝達・反
射パラメータの測定を完全に誤差を補正して「実時間」
で行うことができる。この高速性により、まず第１に、
高精度で測定を行いながら試験中の回路網に関する調整
の効果を見ることができる。同時に、測定精度は市場か
ら入手できる計器類を用いて今まで達成することのでき
たものの１０倍も精密にすることができる。その上、Ｄ
ＵＴＫついてのただ−通りの設定によへベクトル試験を
まず第１に無線周波数からミリメートル帯までの広い周
波数帯域にわたり行うことができる。オペレータの技側
な含む多くの要素が全体としての測定精度に影響するが
、挿入損失５０ｄＢのＤＵＴの場合、振幅で０．０５ｄ
Ｂ、位相で０．３度の動的精度を達成することができる
。使用される周波数範囲およびテスト・セットにもよる
が総合ダイナミック・レンジ１００ｄＢ、１１振幅の分
解能０．００１ｄＢ、位相の分解能００１度、群遅延１
０ピコ秒、および対応する測定安定度が得られる。更に
、誤差補正したデータは周波数領域と時間領域との間で
実時間で精度あるいは分解能を犠牲にすることをく変換
できる。またこれらのデータは、単一の陰極線管（ＣＲ
Ｔ）、プロッタあるいは他の表示装置に周波数領域、時
間領域のいずれかで、あるいは同時に二つの領域で表示
することができる。

本発明にＳいては１時間領域のフーリエ変換により、刺
戟を加えることＫよるＤＵＴの応答を時間の関数として
観測することができる。Ｉ）ＵＴの周波数領域の応答は
試験周波数範囲全体についての総合的応答であるが、時
間領域の応答は個々の応答を距離の関数として表わすの
で、ＤＩＪＴおよび／あるいはテスト・セットの特定の
不連続性を見わけることができる。次に応答を設定可能
な「ゲート」内に単離することができる。これにより結
局ゲート外の応答を無視することができるようになる。

そして、ゲート内の応答な、希望するならば、周波数領
域に変換し戻すことができる。このように、測定システ
ムの応答から、ケーブル、コネクタ、８よび取付具（ｆ
ｉｘｔｕｒｅ　）　　によるものをゲートによって除去
することにより、Ｄ　Ｕ　’Ｔ’のみを測定することが
可能である。更に、時間領域データは周波数領域測定の
データと同じ速さで計算さ１ｔ、周波数領域におけるも
のと同じ「実時間」能力、融通性、および便利さが得ら
れる。また、時間領域データは誤差補正さｊｔたＳパラ
メータ測定値から計算される結果、時間および周波数の
データが共に同じ精度を持つことになる。

本発明の主な要素はＩＦ、信号処理、内部計算。

および表示回路に加えて関数を選定し測定システム全体
を制御するのに使用する操作パネルを備えている主アナ
ライザと、ＲＦ’テスト・セットおよびマイクロ波から
中間周波数への変換ユニット、および希望の周波数範囲
をカバーするシンセサイザ型金ｊ辰器または掃引発娠器
のような試験信号源である。主アナライザと信号源との
間に専用のインタフ１−スが設けらｎていて、必要な制
御機能やデータ交換（・・ンドシェーク）を容易にして
いる。これにより、信号源の制御や監視はすべて主アナ
ライザから行うことができる。広帯域信号分離装置、広
帯域平衡電力分割器、および周波数特性が平坦でクロス
トークの少い変換効率の高いサンプラを組込んだいくつ
かのテスト・セットが各種の周波数範囲および形式に対
して性能が最適になるように設けら２ｔている。専用イ
ンタフー−ス　　　　１は主ネットワーク・アナライザ
からの制御な伝える。

主ネットワーク・アナライザは信号処理および誤差補正
、データ・フォーマツ）　付ケ（ｄａｔａｆｏｒｍａｔ
ｔｉｎｇ）、変換に関連するすべての計算を行うマイク
ロプロセッサ・−ペースの装置である。ここでは以下の
様な多様な表示モードを使用することができる二対数目
盛や線形目盛の娠幅対周波数または時間、直線位相（工
１ヤ、ヒ黒鴇）、直線位相からのずれ、群遅延対周波数
、標準スミス、＼図表、圧縮スミス図表、拡大スミス図
表、逆スミス図表、および「ブルズアイ（Ｂｕｌｌ’ｓ
　Ｅｙｅ）　Ｊ極、図表（Ｐｏ１ａｒ　（：：ｈａｒｔ
）颯多様なマーカ読取フォーマットも設けられている。

設けら几でいる表示装置の融通性の例としては、たとえ
ばｃａ’ｒ上に互いに独立な２つのフォーマットを表示
する分割スクリーンや、共通フォーマット上に２つの応
答を重ねて表示する表示法等がある。更に％ｃｔｔ’ｒ
上の表示のいずｎかあるいはすべてを外部コンピュータ
の必要とせずにディジタル・プリンタまたはプロッタに
直接転送することができる。

主アナライザの制御パネルは完全な測定プロセスを指定
する独特の階層構造に配列した多数のボタンを用いてい
る。数個の制御ボタンは代表的な測定用に最も一般に使
用される機能専用となっているが、あまり一般的に使用
されない機能については、内部ファームウェアの制御下
にあるいくつかの「ソフトキー」を介してアクセスされ
る一連の論理メニューを通して利用さする。全体で、３
２゜を超す機能を備えた７ｏな超すメニューにソフトキ
ーを用いて到達し広範囲のマイクロ波回路網測定を行う
ことができる。

〔発明の実施例〕

プロッタ図の説明第１図を参照すると、本発明の好ましい実施例のプロッ
タ図が示されている。測定システムは先ず第２１Ｆ’／
検出器セクシヨン１０３とデータ・プロセッサ／表示器
セクション１０５とを備えろ主ネットワーク・アナライ
ザ１０１から構成さ７’してぃム主ネットワーク・アナ
ライザｌｏｌは組立てられた４個のテスト−セットｌｏ
７の−っから信号を受ける。こｊ’Ｌらテスト・セット
１０７は信号分離回路１０８と第１ＩＦ周波数変換回路
１１３とから成り１８ＧＨｚまでまたは２６．５ＧＨｚ
までの反射／透過　（入射信号が１つのとき）またはＳ
パラメータ（入射信号が２つのとき）の測定を行う。第
ｔｔｒ周波数変換回路１１３だけは、特別な構成の試験
のためユーザが供給する分離回路１０８を追加するのに
利用すト・バラカード社から入手できるＨＰ８３４０Ａ
合成掃引器のような両立可能な（ｃｏｍｐａｔｉｂｌｅ
　）高周波源１０９である。ＨＰ８３４（ｌは、ステッ
プ・モード、掃引モードのどちらでも使用できる。その
ステップ・モードにおいては、主ネットワーク・アナラ
イザ１０１が選定した周波数範囲にわたり４００を超え
る周波数ステップの谷々で高周波源１０９を位相ロック
することによりシンセサイザ級の周波数精度と再現性を
得ることができる。また、この装置の掃引モードは、５
Ｍ１（Ｚ　　未満の掃引による狭帯域測定の場合のよう
な、極端な周波数範囲、高い安定度、およびスペクトル
純度が必要な用途囲あるいはより狭いスパンをカバーｆ
ルＨＰ　８３５００シリーズＲＦプラグ・イン付きのＨ
Ｐ８３５０Ｂ掃引器を利用することができる。）（Ｐ８
３４０人とＨＰ８３５０Ｂはどちらも、主ネットワーク
・アナライザ１０１と完全にディジタル的にハンドシェ
ークでつなげることができるとともに必安なアナログイ
ンタフェース信号を備えている。このディジタル・ハン
Ｑシーーりの能力により主ネットワーク・アナライザ１
０１はシステム全体の制御装置として働き、高周波源１
０９を直制御することにより、そのスタート周波数、停
止周波数、中心合せ、スパン、および変調のようなすべ
ての入力を与えまた高周波源１０９がそ２を自身に対し
て内部的に与える制約条件なも与えることができる。た
とえば、ユーザが、１主ネットワーク拳アナライザ１０１により、高周波源１
０９に５０ＧＨｚのような適合不可能な周波数まで掃引
するように要求すると、高周波源１０９はこのような周
波数には設定できないことを主アナライザ１０１に返答
する。主ネットワーク・アナライザ１０１はこれを受け
てユーザにその状況を報告する。したがって、ユーザは
、主ネットワーク・アナライザ１０１のインタフェース
に対してのみ気を使うだけで、必要なハンド７ｚ−り・
プロトコールを備えている任意の高周波源１０９を使用
することができる。主ネットワーク・アナライザ１０１
は高周波源１０９を制御しているので、別々の周波数範
囲あるいはモード（ステップ−モードまたは掃引・モー
ド）を自動的に選択してポート１および２のそｉｔぞ扛
に加えることもできる。

第１ＩＦ周波数変換回ｖｆ！ｒｌ１３が各テスト・セッ
ト１０７に組込んである。本回路中の４つのチャネル１
１３ａ＝ｌ１３ｄのうちチヤ不ｋ　ｌ　ｌ　３　ａ−１
１３ｃは反射／伝達測定用に用いらＺｔ、Ｓパラメータ
測定用には全チャネル１１３ａ・−１１３ｄが用いらｚ
ｔ％高周波から中間周波への変換は高調波混合（ｈａｒ
ｍｏｎｉｃｍｉｘｉｎｇ）と同等なサンプリング技術を
用いて行なわれる。同調可能な局部発振器（Ｖ’［’０
）１１５の高調波が高調波発生器１１６で作られ到来す
る高周波信号と混合して２０ＭＨｚの第１ＩＦ信号を生
成する。この第１１Ｆ信号は入力ポートｌ上の入射信号
ａ１％出力ポート２上の入射信号８２′入方ポートＬヒ
の反射または伝達信号ｂ１、および出力ポート２上の反
射または伝達信号ｂ２　　に対して作られ′る。局部発
振器１１５の周波数同調は、基準チャネルの第１ＩＦ中
の信号ａｌまたはａ２な第２１Ｆ／検波器セクシヨン１
０３中のＩＰ基準発撮器１１９と比較するＰ　Ｌ　Ｌ　
１１７で制御される。基準チャネルの第１ＩＦ’中の信
号ａｔまたはａ２の周波数とＩＦ’基準発振器１１９と
の間で差があれば、局部発振器１１５を希望する第１中
間周波数を作り出す周波数に同調させる様に、スイッチ
１２３　ｋ介して誤差電圧信号Ｉｖｉｉ１２１に誤差電
圧が発生する。スイッチ１２３はシステム内の判断基準
に基いであるいはユーザの指示に基いてロック・オン（
１ｏｃｋ　ｏｎ　）する信号を信号ａｌまたはａ２から
切換選択する。

内部判断基準を使用するときは、入射信号ポートがポー
トｌであれば、スイッチ１２３により信号ａｌが選択さ
２″Ｌ、入射信号ポートがポート２であれば。

スイッチ１２３により信号ａ２が選択される。この機構
により、無線周波数信号が掃引モードの場合のように時
間と共に変るとき、局部発振器１１５が到来高周波信号
に追随できるようになる。組込み型のテスト響セット（
ｉｎｔｅｇｒａｔｅｄ　ｔｅｓｔ　５ｅｔ）　１０７を
用いることにより高周波から第１ＩＦへの変換効率を２
６．５　ＧＨｚ　においてさえも高くすることができ、
高感度でダイナミック・レンジの広い測定が可能になる
。この様なテスト・セットの構成により、従来のテスト
・セットに必要だった広範な高周波の切換えか無くなり
、機械的スイッチの再現性の乏しさから生ずるかなりな
不確かさが除かオする。反射／伝達測定用のテスト・セ
ット１０７には、第４チヤネル１１３ｄが不要のため内
部切換えの必要はなく、Ｓパラメータ測定用のテスト・
セットｌＯ７は信号分離回路１０８の内部にあるＰＩＮ
ダイオードによる一つの電子的スイッチだけを使用して
いるので、電子分割器の比率ノード（ｒａｔｉ。

ｎｏｄｅ　）に先立って切換えるとぎ不確かさが生ずる
ことはあり得ない。

主ネットワーク・アナライザ１０１の第２　Ｉ　Ｆ／検
波器セクション１０３にはいくつかの新しい概念が取入
れられていて、ＩＦ’処理と信号検出の精度が増してい
る。ＰＬＬの位相ロック・ハードウェア１２５０大部分
はこの第２１　Ｆ／検波器セクション１０３に配置さ１
ｔている。高調波混合数（ｈａｒｍｏｎｉｃｍｉｘｉｇ
　ｎｕｍｂｅｒ）と局部発振器の予備同調はライン１２
７と１２９とを介してディジタル的に制御さオｔ１掃引
毎に精密に再現可能な位相ロックとトラッキング能力を
与える。信号ａｌ、ａ２）ｂｌおよびｂ２に比例する第
１ＩＰ信号が同期検波器１３１および１３３に送らｊす
る前に、ミクサ１３８により１００ｋＨｚの第２ＩＦに
変換され第２１Ｆ部１３５にあるマルチプレクサ１３６
と可変利得増幅器１３４０組を通過する。増幅器のゲイ
ンは制御さ７ｔ、ディジタル的に校正さオｔ、自動レン
ジ調節（ａｕｔｏｒａｎｇｉｎｇ　）により変化さｊ’
Ｌることによって、同期検波器１３１゜１３３が用いる
第２１Ｆ信号１３０．１３２のレベルを最適化する。こ
２ｔにより、検波器出力信号ｘｉ、　ｙｌ、ｘ２）およ
びｙ２のＳ／Ｎ比及び動的精度の大きさが１桁改養さａ
ｔ、る。同様に、同期検波器１３１．１３３はディジタ
ル構成となっていて、その９０°移相機能を精密に制御
できる。この結果、精度が向上するとともに、局部発振
器の同相雑音を排除できる。

最後に、検波信号ｘｉ、　ｙｌ、　ｘ２）およびｙ２は
サンプル・ホールド／出力マルチプレクサ（ＭＵＸ）１
３７で多重化され、アナログ・ディジタル変換器（ＡＤ
Ｃ）１３９で１９ビツトの分解能でディジタル化される
。各ＡＤＣ変換には約４０マイクロ秒かかり、各高周波
データ点ごとに４回の読取りが回わｊｔて、基準信号の
第２１Ｆ’信号１３０と試験信号の第２１Ｆ信号１３２
との双方について実部および虚部のデータが得られる。

ＡＤＣ１３９の出力は１６ビツト・バスのインタフ２−
ス１４１を通って、モトローラ社製のＭ０６８０００　
　のようなマイクロプロセッサ及びその他これに組会わ
せて使用さｊするマイクロプロセッサ・システム割込回
路および入出力装置制御回路を備えている高速中央処理
装置（ＣＰＵ）１４３に達する。ＣＰ　（Ｊ　１４３は
主ネットワーク・アナライザｌＯ１に組込まｎているの
で、マルチ・タスキング・アーキテクチャを利用して従
来可能であった以上に一層有効に時間を利用することが
可能である。

このアーキテクチャを用いることにより、データ処理の
融通性とシステムの制御性能とを本質的に増大すること
にもなる。専用のシステム・インタフ！−スを組込んだ
システム・バス１４５を介して、ＣＰ　Ｃｌ　１４３は
高周波源１０９、テスト・セットｌｏ７、および、サン
プル選択／タイミング回路１４６とともに１位相ロック
・ハードウェア１２５、ＩＦ用の可変利得増幅器１３４
における自動レンジ調節、同期検波器１３１．１３３　
とによる検波、およびＡＤＣ１３９によるディジタル化
等のすべてのＩＩ’処理機能を制御する。ＣＰ　Ｕ　１
４３は可変利得増幅器１３４、同期検波器１３１．１３
３、およびＡＤＣ１３９のために周期的に自己校正シー
ケンスを開始し、得られたゲイン、オフセット、および
丸さの変化（ｃｉ　ｒｃｕｌａｒｉ　ｔｙ　ｃｈａｎｇ
ｅ　）はメモリ１４７に記憶される。したがって、可変
利得増幅器１３４の変化を測定結果か−ら差引くことが
できる。ＣＰ　Ｌｌ　１４３はまたシステムに関するす
べてのデータ処理機能を実行する。第２１　Ｆ／検出器
セクション１０３の信号はベクトル量の線形の実部およ
び虚部成分として検出さＡｌＣＰ　Ｕ　１４３は検出さ
オｔたデータを処理し、ＣＩ′ｔＴ１４９に表示するた
め多様なフォーマットに変換する。各種の測定フォーマ
ツドナディジタル的に計算することにより、従来のアナ
ログ回路処理技術よりもダイナミック・レンジ及び有効
な分解能の改善が得らする。

今までのネットワーク拳アナライザ・システムでは、シ
ステム誤差を特性づけ且つ除去するために外部のコンピ
ュータが必要であった。本発明によｉｔば、この能力は
内部に備わっていて、メモリ１４７には充分な記憶容置
（すなわち、２５６にバイトのランダムアクセス・メモ
リ（ＩＭ）と２５６にバイトのバブルのメモリ）により
最大２　Ｘ　４０１点１２項（１２−ｔｅｒｍ）の誤差
補正データ・トレースを保持することができる（記憶装
置の各バイトは８ビツトから構成されている）。更に、
測定データは内蔵のツーＩＪ　ｚ変換プロセスを利用し
てＤ　Ｕ　Ｔ１１１の応答を時間の関数（時間領域）と
して示すように変換することができる。データ処理はす
べて高速ベクトル計算用に特に設計された専用の浮動小
数点複素数ベクトル演算用のベクトル・プロセッサ１５
１の助けを借りて（：”ＰＵ　１４３の中で並列データ
処理によってほぼ実時間で行われる。ベクトルプロセッ
サ１５］による二つの複素数の乗算には１回だけの演算
でよく２０マイクロ秒以内に積が得られるので、誤差補
正した測定結果が先行技術によるよりも１０００倍も速
く得らオする。内蔵のベクトル図形発生器１５３により
、実時間で処理されたデータは次に直ちＫＣＲＴ１４９
、ディジタル自プリンタ／プロッタ１５５、または）Ｉ
Ｐ−ＩＢ（Ｉ　ＥＥＥ　４８８）インタフエースとバス
１５７とを介して外部装置に送られ仝、。前面パネル１
５９の制御状態の現在及び過去の状態、過去と現在との
データ・トレースおよびシステム全体の較正がメモリ１
４７へ、あるいはＣＰＵ１４３の制御のもとにシステム
・バス１４５によって内蔵のテープ・ドライブ１６１へ
記憶されまた読出される。

組込みプロセッサ先に説明し更に詳しく第２図に示す通り、組込みの（：
’ＰＵ１４３　には１６ビツトのマルチタスキングを行
なうマイクロプロセッサ２０１．Ｉ１０インタフ２−ス
２０３、および割込みシステム／Ｉ１０制御回路２０５
が設けられている。またベクトル・プロセッサ１５１に
は算術プロセラ？　２０７と算術制御部２０９が設けら
ｎている。これらが本発明の高速性能の鍵となっている
。ベクトル・プロセッサ１５１は可変精度、可変機能の
アーキテクチャであることから、浮動小数点と複素数と
の双方の算術演算を行うのに適している。ベクトル・プ
ロセッサ１５１はマイクロプロセッサ内２０１で発生す
る１６ＭＨ２のクロック２０８で動作し、またマイクロ
コード記憶用のＩＫバイトの続出専用記憶装置（ＲＯＭ
）を備える状態機械２１０で制御される。

最大処理速度を確保するため、処理能力はマイクロプロ
セッサ２０１と算術プロセッサ２０７の他にもいくつか
の内部制御装置に分散されている。ｌＫバイトのマイク
ロコードな有する他の状態機械を設け、ベクトル図形発
生器１５３はこれを用いることによりディスプレイＲＡ
Ｍ　２１７にあるリストからデータと表示フォーマット
の表示データを作り出す。この表示データにより表示セ
クション２１８にあるＣＰＵ１４３を線分発生器２１９
から駆動し約４マイクロ秒ごとに新しいＸ−Ｙ座標点の
対（つまりベクトル）を置いてい（。同様にシステム・
バス１４５と外部ＨＰ−ＩＢバス１５７はそ１を自身の
プロセッサであるＨＰ−ＩＢコントローラ２２１．２２
３を備えている。最後に、他の専用コントローラとして
、テープドライブ１６１用のテープ制御装置２２５、メ
モ１Ｊ１４７内のバブル・メモリ２３１用のバブル・メ
モリ制御部＃ｔ２２７、およびフロント会パネル１５９
　用のフロント・パネル・インタフエース２２９がある
。

メモリはまた機能の必要性によっても配分される。メモ
リ１４７内のＲＯＭ２３３の１６にバイトは内部試験ン
フトウｔアとシステムの立上げに使用される。メイン・
システム・ソフトウェアは記憶装置１４７内の不揮発の
バブル−メモリ２３５の最初の１２８にバイトから読出
され、これもメモリ１４７内にある１２８にバイトの主
ＲＡＭ　２３７に入れられる。８にバイトのＲＯＭ　２
３９はバブル・メモリ２３１専用であり、試験と起動と
に使用さ１する。バブル拳メモリ２３５の次の１２８に
バイトの中の６０にバイトはベクトル誤差補正に使用さ
ｇる方程式の係数を記憶するのに使用さ扛る。バブル・
メモリ２３５の残りの６８にバイトには呼出し可能な測
定器状態、測定記憶データ、およびその他のシステム・
ソフトウェアが入っている。Ｃ）ｔ′ｒディスプレイの
内容はディスプレイＲＡＭ２１７中の３２にバイトに記
憶さ几ている。ディスプレイＲＡＭ２１７の残りの９６
にバイトはデータ、係数、および制御テーブルに使用さ
ｉする。個人のバックアップ用記憶。

試験ソフトウェア、その他のシステム・ソフトウェア、
およびデータを希望に応じてテープ・ドライブ２４１の
カートリッジに記憶させ、またアクセスすることができ
る。

第３．１図から第３．９９図まモに第２図に示したプロ
ッタ図の詳細な回路図を系す。（”ＰＩＪ１４３は第３
．１図ないし第３．１１図と第３，４７図ないし第３．
５２図とに示してあり、その中では、マイクロプロセッ
サ２０１を第３．２図に、入出力インタフェース２０３
と割込システム／Ｉ１０制御回路２０５を第３．４７図
ないし第３．５２図に示しである。ＲＯＭ２３３は第３
．５図に、ＲＡＭ　２３７は第３．８図ないし第３．１
０図に、バブル・メモリ！４７は第３．２３図ないし第
３．３０図に示しである。ベクトル図形発生器１５３は
第３，３１図ないし第３，４６図に１表示セクション２
１８は第３．６２図ないし第３．８７図に示しである。

その中で線分発生器２１９は第３．７７図ないし第３．
８７図に示しである。インタフェース１４１は第３，４
９図に、外部ＨＰ−ＩＢ用のＨｐ−ＩＢコントローラ２
３３とシステム−インタフ、−ス用のＨＰ−ＩＢコント
ローラ２２１は第３．５６図に示しである。タイマ２１
１は第３．５０図に示しである。フロント＝パネルーイ
ンタフーース２２９は第３．５３図及び第３．５４図に
、フロント・バネ　　　　′［ル１５９の残りは第３．
５８図ないし第３．６１図に示しである。テープ・ドラ
イブ１６１は第３．５５図に示しである。最後に、デー
タ・プロセッサ／表示セクシ目ン１０５用の各種低電圧
の電源２５０は第３゜８８図ないし第３．９９図に示し
である。

第３．１２図ないし第３．２１図に示しであるようにベ
クトル・プロセッサ１５１は次のような市場で入手でき
る一連のＭＳＩから構成されている。Ｕ５６、［７４，
および０９７は７４　Ｓ　１５３マルチプレクサであり
、Ｕ３７は７４　Ｓ　１７５Ｄ型フリツプ・フロップで
あり、Ｕ９１は？４ＬＳ３８５アダー、Ｕ６５ないしＵ
６８とＵ８２ないしＬｉ２Ｓは２５ＬＳ１４マルチプレ
クサ、Ｕ６９７．Ｃいし０７２と０８６ないしＵ８９は
２５ＬＳ２９９シフト・レジスタである。

１６ＭＨｚのクロック２０８は第３．１図に詳細を示し
てあり状態機械２１０は第３．１２図及び第３．１３図
に詳細を示しである。

フロント・パネル、メニュー、およびディスプレイの説
明第４図はチャネル・ボタン４０５．４０７で選択される
二つの測定チャネルを用いて二つの独立な測定を設定し
制御する能力のある本発明のフロント・パネル１５９を
示す。チャネル・ボタン４０５，４０７の上方にあるイ
ンジケータ４０１あるいは４０３が点燈したとき、それ
ぞれのチャネルが選択されてフロント・パネル１５９で
制御される。Ｃ）ＬＴ１４９は前面パネル１．５９で見
るために利用することもできる。ＣＲＴ１４９には測定
データだけではなく、もし望むなら方眼目盛（ｇｒａｔ
ｉｃｕｌｅ　）も表示できるし、また、一つまたは二つ
のデータが隣り合ってまたは重なっているデータ・トレ
ースのためのラベに基準線位置記号、および示されてい
るバラメース表示のフォーマット、基準線の呟、縦と横
との尺度、および使用されているマーカの喧、のための
ラベルが含まれている。高周波源の周波数または他の刺
戟情報はＣＦＬ’ｒ　１４９に示される。ｃｔｔ’ｒソ
フトキー４１１を介して選択することができる現在活性
化されている（　ａｃｔｉｖｅ）機能を識別するために
、データ・トレースが表示されない活性化されているエ
ントリ・メニュー領域４０９もＣＲ’ｒ１４９に設けら
れている。したがってソフトキー４１１はフロント・パ
ネルを複雑にしないで、選択可能な機能を追加すること
により機器のアクセス可能な能力を拡大するものである
。エントリ・オフ・キー４１３はエントリの活性状態を
クリアするものである。プロンプト、測定機能の表示、
手続きの指示、エラー・メツセージ、手続きに関する助
言なども（：”Ｉ（’ｒ　１４９　Ｋ表示される。メツ
セージが測定に重要である場合にはビープ音（ｂｅｅｐ
ｓｏｕｎｄ　）によってオペレータにメツセージを見る
よう合図する。観測さｊｔている測定についての５０字
までの情報のため標噸領域４１５も設けら几ている。標
蹟機能を使用するには、補助メニュー・システム・ボタ
ン４１７を押す。するとソフト−キー４１１の１つに’
ｒｉｔｌｅというラベルが与えられるので、そのソフト
・キーを押す。そして、ＲＰＧノブ４１９を回転して、
希望の且つＣＲ’ｒ１４９に表示されている最初の文字
の下に矢印を持ってくる。次に５ｅｌｅｃｔＬｅｔｔｅ
ｒ　　とラベルされたソフト・キー４１１　Ｙ押すと選
択された文字が標題部分４１５に現われる。このプロセ
スは希望するなら５ｐａｃｅ　（空白）ソフト・キー４
１１およびバックスペース（後退）ソフト・キー４１１
も用いながら、希望に応じて反復できる。また１）ｏｎ
ｅ　ソフト・キー４１１を押せばこのプロセスは終７　
Ｌ、Ｃ１ｅａｒ　；）Ｋソフト・キー４１１を押せばク
リアさ扛る。

すべての基本測定機能はそれぞれＳ’ｒＩＭＵＬＵＳ（
刺戟）　、ＰＡＲＡＭＥ’ｒＥＦＬ　（パラメータ）、
ＦＯＲＭＡ’ｒ　　（７オーマツト）およびＲｇＳ　Ｐ
ＯＮＳ　Ｅ（応答）とラベル付けされた４群のキー（Ｓ
ＰＦ’）Ｌ）４２３．４２５．４２７、および４２９で
制御さ１する。これらのキーは夫々希耀する測定に関す
る刺戟の設定、パラメータの選択、フォーマントの選択
、および応答の調節に使用される。刺戟用のキー４２３
は高周波源１０９を直接制御して周波数、高周波源の電
力、掃引時間、その他の関連機能を設定する。

パラメータ用のキー４２５は測定すべきパラメータを選
択する。高周波源１０９をポート１に加えた状態で、Ｓ
ｏは反射（ｒｅｆｌｅｃｔｉｏｎ　）　　（戻り損失（
ｒｅｔｕｒ口１ｏｓｓ））測定のために、またＳ２１は
伝達（ｔｒａｎｓｍｉｓｓｉｏｎ）　（挿入損失すなわ
ちゲイン）測定のために選択される。同様に、高周波源
１０９をポート２に加えた状態で、Ｓ２２は反射測定の
ために、またＳｔ２は伝達測定のために選択される。選
択さｊｔ　ｆｓ　パラメータに基いて、テスト６セツト
１０７の適切な制御が自動的に活性化される。フォーマ
ット用のキー４２７は測定したパラメータ虐データ、　
　を希望するフォーマット、すなわち対数（ｄＢ）、位
相、群遅延、スミス図表、あるいは、かわりに、ＳＷ＆
′Ｌ、線形な大きさく　１ｉｎｅａｒ　ｍａｇｎｉｔｕ
ｄｅ）　、Ｒ＋ｊｘ　　インピーダンス、その他のフォ
ーマットで表示する。応答用のキー４２９はｌ目盛あた
りの尺度、基準値、または基準位置を設定するか、ある
いはＡ　Ｕ　’ｒ　ｏキー４３０を押すことにより、オ
ート機能を用いて測定したデータのすべてを基準値およ
び尺度に対して満足な値としてＣｔｔ’ｒ　１４９全体
に表示させる。その他のら各機能としては平均化。

平滑化、および電子的ライン伸長器（ｅｌｅｃｔｒｏｎ
ｉｃｌｉｎｅ　５ｔｒｅｔｃｈｅｒ　）などがある。

本発明に使用する階層的チャネル−パラメーターフォー
マット一応答（ＣＰＦＲ）構造を第５図に示す。ＣＰＦ
’Ｒｇ造を通る特定の径路を一旦選定すると、この径路
は後に参照するためメモ１Ｊ１４７に記憶される。次に
、Ｃ’ＰＦＲ構造の項目の一つを、たとえばパラメータ
をＳ１１から８２２に変えるといったように、変更する
と、この新しい項目に以前関連付ゆられていた径路全体
がシステム全体で使用するように自動的に再設定さＲる
。従って、たとえば、チャネルｌが現在パラメータ８１
１の測定に使用されていて、その表示については対数振
幅のフォーマットで縦方向スケールはｌ目盛０．２ｄＢ
であるとする。また、チャネルｌは以前パラメータ８２
２の測定に用いられており、線形振幅フォーマットで縦
方向スケールの１目盛５７１０００単位の表示を行りて
いたとする。パラメータを８１１かうＳｚ２に変えると
、フォーマットは対数振幅から線形振幅に自動的に変り
、スケールは１目盛０．２ｄ１３から１目盛５／１００
０　　単位に自動的に変る。

更に、ＣＰＰＲ構造は階層水（ｈｉｅｒａｒｃｈａｌ　
ｔｒｅｅ）であり、パラメータはチャネルより低い階層
にあるから、パラメータが上に示した例のように変えら
れてもチャネル番号は変化しない。同様に、もしチャネ
ルを変えると、パラメータ、フォーマット、および応答
はすべて自動再設定に付さ几、またもしフォーマットだ
けを変更すれば、応答だけが自動再設定に付さＪする。

当然、ＳＰＦ’Ｒの直はユーザの頃む通りにフロント・
パネル１５９から変更を行うことができる。この階層的
５ＰＰＲ構造が採用された結果、ユーザにとっては速さ
と便利さが大幅に向−ヒした。

ａｔエントリ・キー４３１は数値を入力したいときに使
用される。ここで、１つの数値直の入力な終結するとき
には、４（＠の終結キー４３３．４３５．４３７．４３
９の１つを押す。終結キー４３３．４３５．４３７．４
３９には夫ｋ　Ｑ　／　ｎ、Ｍ／μ、ｋ／ｍ、ｘｌ供陣
−と書かれており、終結される入力数値の位取りがそ２
ｔぞｉｔギガ（ｔｏ″１′）またはナノ（ｌＯ−リ、メ
ガ（ｔ　ｏ＋６　）またはマイクロ（１０−’）　、キ
ロ（１ｏ＋３　）またはミリ（ｔ　ｏ−３）　、あるい
はｄＢ、ｌｉ、秒またはＨ２のような基本単位（１０°
）になりでいるときに使用される。

従って、４個の終結キー４３３〜４３９はいずれのキー
にも特定の測定単位が永久的に割当てられて（Ｊないと
いう点で独特のものであり、そのため先行技術の場合よ
りも本質的に終結キーの個数がかなり少くて済む。

セーブ−キー４４１を押し、次いでＣＲＴソフト・キー
４１１の一つを押すと、ネットワーク轡アナライザ１０
１の現在の全状態及び高周波源１０９とテスト・セット
１０７の制御を受けている機能とが保存される。リコー
ル・キー４４３とその後でＣＲＴのソフト−キー４１１
とを押すと前に記憶した測定器状態が呼出さ１する。階
層Ｓｌ’ＦＲ１１造は測定器状態の中に組込まれている
。

補助メニュー・プロッタ４７１のテープ・キー４６９を
押すと、内蔵テープ・ドライブ２４１を制御するソフト
−キー４０９が表示される。テープ機能は、カセット、
・テープを初期状態にすること、データをテープに記憶
させること、データをテープからロードすること、テー
プ上のデータを削除すること、最後に削除したデータを
消去すること、テ〜　　　　１プ内容のディレクトリを
ＣＩ（’ｒ１４９に表示させることである。テープのデ
ータは次のいずれかに組合せたものとすることができる
。

１、第２ＩＦおよび検波器補正後の測定データ（生デー
タ）、あるいは、誤差補正および／または時間領域変換
後の測定データ（データ）、あるいは、いずれか一方ま
たは両方の測定チャネルについてフォーマットを行った
後の測定データ（フォーマットタ肴ηデータ）。

２）以前の測定から時間領域変換後でフォーマット化す
る前に記憶されたメモリ・データな、藺別にあるいはす
べてを一度に。

３、ユーザが第４図のＣｆｔＴ１４９に作り出したグラ
フィクス・データ。

４、第４図のセーブ・キー４１１を押して記憶させた一
つあるいはすべての機械状態セット。

５、ＣＡＬキー４５７を押し、続いて使用可能エントリ
・メニュー領域４０９に現れたラベルにより指示される
較正ソフトキー４１１を押して測定し記憶させた一つあ
るいはすべての誤差係数セット。

６、較正標準説明の１あるいは全セラ）（Ｃａｌキット
）。

７、　１から６までに述べたすべてのデータのすべての
セットから成る完全なマシン働ダンプ。

８、オプション、改訂版数、および新しいソフトウェア
を含むシステム、保守あるいはデモ用ソフトウェア。

測定データがテープからデータ処理径路中の任意の点に
ロードされると、ＣＲＴ１４９の表示が更新され、ロー
ドされたデータを後続のデータ処理と共に表示する。

外部装置がＨＰ−ＩＢインタ＼フェース１５７　ヲ使っ
て本システムを制御している場合、ローカル・キー４４
５を押すとシステムの制御がフロント・パネル１５９に
戻る。

再始動キー４４７は先に開始した掃引や平均化等の測定
あるいはデータ処理操作を再開するのに使用される。

フロント１１　パネル・キーの３つのプロッタをソフト
・キー４１１と共に用いることにより、専用キーが割当
てられている機能よりも使用頻度が少い機能に対して設
けられているメニューと呼ばれるもう一つの特徴が提供
される。４−りのメニュー・キー４４９．４５１，４５
３、および４５５は５ＰＦＲ用のキー４２３．４２５．
２４７、および４２９を拡張する。メニュー・プロッタ
４６５内のＣＡＬキー４５７、領域キー４５９、表示キ
ー４６１１およびマーカーキー４６３によって各種の測
定モードあるいは表示モードを選択することができる。

また補助メニュー・プロッタ４７１の下にあるコピー・
キー４６７、テープ・キー４６９、およびシステム・キ
ー４１７は入出力動ＣｔｔＴ１４９上では、現在の選択
されている項目のラベルの下に直線が表示される。また
相互に排他的および／または密接に関連する選択肢同志
は点線で結ばれる。使用可能エントリ・メニュー領域４
０９の任意のラベルの脇にあるソフト・キー４１１を押
すと、機能が実行されるかあるいは他のメニュー・ラベ
ルが表示される。選択された機能が入力な必要とする場
合には、Ｉ（ＰＧノブ４１９と数値エントリ・キー４３
１を使ってその要求に答える。他のキーを押せば他の機
能が選択される。前メニュｍ−キー４７３は一連のメニ
ューの中で先に表示されたメニューに戻るのに使用され
る。先に表示されたメニューが一連のメニューの最初の
ものであったとぎは、そのメニューはＣＩ（Ｔ１４９か
もクリアされる。

ＣＲ゛ｒ　１４９またはディジタル・プリンタ／プロッ
タ１５５で利用できる多様な表示の幾つかを第６図から
第１５図、第１７図、および第１８図に示す。第６図は
たとえばサーキュレータのインピーダンスと分離とを同
時に実時間で調節するのに使用される、それぞれトレー
ス番号６０１および６０２で示される２つの異なるパラ
メータＳｌｌおよび８１２の典型的な二重トレースを、
同じ対数値辰幅フォーマットで示している。第７図は３
ポート多相フイルタのそれぞれポート２および３に対す
る二つのトレース７０１．７０２を重ねて表示している
。第８図は能動回路の総合閉ループ応答を示すために増
幅器と減衰器との組合わされたもののトレースを１つ表
示している。第９図は第８図におけると同じ能動増幅器
の測定トレースを、電子直線伸張器（ｅｌｅｃｔｒｏｎ
ｉｃ　１ｉｎｅ　５ｔｒｅｔｃｈｅｒ）　ｆ′用いて６
．０４２１ナノ秒の電気的おくれでユーザが規定した基
準面に校正して示したものである。第１θ図は二つの異
なるパラメータ８１１と８２１　の二つの同時測定をＣ
Ｒ’ｒ１４９に表示した独特の分割画面を示す。第１１
図は分割画面表示の他の形式を示す。ここでは表面音響
波フィルタ（ＳＡＷ素子）の応答を周波数と時間との両
領域で同時に示すように分割しである。時間領域の応答
に三重進行ピーク（ｔｒｉｐｌｅｔｒａｖｅｌ　ｐｅａ
ｋ）　１１０１　　が現われていることに注意、第１２
図は二つの異なるパラメータのトレース１２０１、１２
０２について二つの異なるフォーマット（すなわち、Ｓ
ＷＲと線形位相からのずれ）で示している。第１３図は
同じパラメータ８２１のメモリから取り出した以前の測
定のトレース１３０１と現在の測定トレース１３０２と
を示しており、これは伝送線路を０．０１度以内に整合
する（ｍａｔｃｈｉ口ｇ）のに使用することができる。

第１４図は典型的な高周波通信フィルタの群遅延特性の
表示を示す。

本発明によればこのフィルタの群遅延特性の平坦度が最
適になるように実時間で観察しながら調節することがで
きる。第１５図は変形時間領域（ｔｒａｎｓｆｏｒｍｅ
ｄ　ｔｉｍｅ　ｄｏｍａｉｎ）における高周波回路の線
形表示を示し、第１６図に示すような同軸線路１６１０
のそれぞ□れ対応する５つの異なる不連続点（すなわち
、コネ・フタ１６０１、コネクタ１６０２）アダプタ１
６０３、コネクタ１６０４、および終端１６０６　）を
標示する一連の５−りのマーカ１５０１−１５０５が付
記しである。第１７図は二つの極図表（ｐｏｌａｒ　ｐ
ｌｏｔ）の分割画面がｃＲＴｔ、ｉ９に同時に表示され
たところを示す。第６図から第１５図までと第１７図は
それぞれＣ）ｔＴ１４９に実時間で表示された、実際プ
ロッタ１５５に希望する大きさで且ついろいろな色で印
刷することもできる。希望すれば、第１８図に示すよう
に各種のＣＩ（Ｔ表示をディジタル拳プリンタ／プロッ
タ１５５上で４象限描画として組合せることもできる。

第１５図に示すように、マーカ嗜キー４６３をソフト・
キー４１ｉと共に用いて、マーカ１５０１−１５０５に
よりＣＲＴ　１４９上のトレースに対する最大５つの異
なるマーカにアクセスできる。マーカは多数の異なる仕
方で制御される。数匝エントリ・キー４３１はマーカを
正確な数値の位置にセットするのに使用され、ＲＰＧ／
フ４１９＆’ｉｖ−：／ＬヲＣＲ’［’１４９のトレー
スに清って動かすのに使用され、アップ・ステップ・キ
ー４７５とダウン拳ステップ・キー４７７はマーカを１
水平目盛だけ左右に動かす。マーカ位置の精密な直も第
８図に示すようにマーカｓｏｌト表示ｆｌｔｓｏｚ　ト
ＫＪ：　リＣＲ’［’　１４９−ｈＫｉｌｆチに移動す
るにつれて、マーカ注釈はマーカと共に移動するのでユ
ーザは常にとのマーカと関連の注釈がどれであるかとを
直ちに見分けることができもソフト・キー４１１を通じ
て利用できるその他の機能としては、第７図にマーカ７
０３．７０６により示した様に、基準マーカとデルタ・
マーカ（ｄｅｌｔａｍａｒｋｅｒ　）のトレース呟の差
を読取るためのデルタ拳マーカがある。ＲＰＧノブ４１
９は基準マーカとデルタ・マーカとを逐次位置ぎめする
のに使用され、この両者が乗つているトレースの値の差
がＣＲ’ｒｔ４９上に直ちに表示される。゛ノット−キ
ー４１１の助けを借りて、第１０図にマーカ１００１と
１００２　とで示す様に、選択したマーカな表示された
トレースの最小値または最大直に動かすマーカ最小およ
びマーカ最大の機能をも利用することができる。その他
の機能は第１０図に１００３で示すマーカ周波数の表示
、あるいは第１５図に１５０７と１４０６とで示すその
他の刺戟値の表示の機能である。

イコールｅマーカーキー４７９は現在の能動機能に対し
て最も最近活性化されていたマーカの現在の刺戟あるい
は撮幅値のいずれか該当するものを入力する。たとえば
５基準頃用のキー（第４図４２９　）を押した後、続い
てイコール拳マーカ・キ　　　　　、［−４７９を選択
すれば、マーカの嵌幅が基′＄匝として入力される。同
様に、刺戟開始用のキー（第４図４２３）を押した後、
続いてイコール・マーカ・キー４７９を選択すれば、マ
ーカの周波数、あるいは他の刺戟値が始動機能に対して
入力される。

テストｅセットの説明２６．５　ＧＨｚまでの広帯域のテスト・セラ）　１０
７には１９８４年１月９日付１３ｏｔｋａ　、他による
「高周波三軸方向性ブリッジ」と題する米国特許出願（
出願番号５６８，９８６　）に述べられ第１９Ａ図およ
び第１９Ｂ図に示されている高性能高周波方向性ブリッ
ジ１９０１が入りており第２０図および第２１図に示す
ようにＤＵＴポートｌおよび２のそれぞれに結合してい
る。方向性ブリッジ１９０１は非平衡（ｓｉｎｇｌｅ　
−ｅｎｄｅｄ　）終端検出器システムでの測定に際し平
衡構成を乱さずに浮動ベクトル信号を抜き出す平衡ホイ
ートストーン・ブリッジ１９０３である。この高性能高
周波方向性ブリッジ１９０１には基準負荷／バラン組合
せ体（ｃｏｍｂｉｎａｔｉｏｎｒｅｆｅｒｅｎｃｅ　１
ｏａｄ　ａｎｄ　ｂａＪｕｎ　）、１９０５が入ってお
り４５ＭＨ２から２６．５０Ｈ２までの全周波数範囲に
わたり信号分離を行うと共に、従来からある高周波バイ
ア　ス１１　ｆ　イー　（ａＦ　ｂｉａｓ　ｔｅｅ）　
２１０５を介してＤＵ’［’ｌｌｌ　に高周波人力Ｖｉ
ｎの一部としてＤＣバイアスを加えることもできる。こ
れとは対照的に、第２２図および第２３図に示す狭帯域
テスト・セット１０７は各ポートに対して従来の方向性
結合器２２０１を利用して０．５から１８ＧＨｚの周波
数レンジをカバーしている。テスト−セット１０７に信
号分離回路１０８を組入れることにより、ポートｌとポ
ート２との間でのＤＵＴＩＩＩ　　Ｗりの接続だけで広
帯域ベクトル測定が可能となる。

各テスト・セラｌ−１０７はそれ自身の内蔵電源２００
１を備えており、各種システム構成が簡単になっている
。各テスト・セラ）　１０７はそれ自身のＨＰ−ＩＢゼ
インフェース２００３を備えている。

このＨＰ−ＩＢインタ７Ｌ−スをシステム・バス１４５
に接続することにより、主ネットワーク・ア□ナライザ
１０１の制御と識別とを行う。いくつかのテストＯセッ
トのいもづる式接続（ｄａｉｓｙ　ｃｈａｉｎｉｎｇ　
）を行うため、各テスト・セット１０７はそれぞれ第１
ＩＰマルチプレクｆ　２００２あるいは２１０２　　を
介して第２１　Ｆ’／検波器セクション１０３に接続さ
れている。第１ＩＦマルチプレクサ２００２．２１０２
はそれぞれ第２０図、第２２図の反射／伝達のテスト・
セットに対するａｌ、ｂｌ、およびｂ２接続と、第２１
図、第２３図のＳパラメータのテスト・セットに対する
ａｌ、　ａ２）ｂｌ、およびｂ２接続とに接続されてい
る。Ｓパラメータのテスト・セットに更に設けられてい
るものは以下の通りである：能動試験ポートに信号を送
るフロント・パネル・インジケータ２１０４　　（すな
わち、第４図の表示灯４９０．４９２）　　；能動装置
の試験に必髪な電圧バイアス２１０７を与えるため各試
験チャネルに設けられる従来のバイアス・ティー２１０
５　；ポート１゜２間で高周波入力を切換えるため、シ
ステム・バス１４５と切換インタフＬ−ス２１１０を介
して主ネットワーク・アナライザ１０１　Ｑ制御下にあ
るＰＩＮダイオード・トランスファ・□スイッチ２１０
９　；システム・バス１４５と減衰器インタフＬ−ス２
１１３を介して主ネットワーク・アナライザ１０１の制
御下にある可変減衰器２１１１゜高周波電力レベルな調
節し平衡させるため各種高周波バッド２０１５および試
験／基準延長部（ｔｅｓｔ　ａｎｄ　ｒｅｆｅｒｅｎｃ
ｅｅｘｔｅｎｓｉｏｎ　）　２１１７が設けられている
。

各試験セットは第１ＩＦ’周波数変換器回路１１３を備
えて、高周波入力および試験ポートの直近で高周波信号
を第１ＩＦ信号に変換する。第１ＩＦ’周波数変換回路
１１３の中には、局部発擾器（ＶＴＯ）１１５、第１Ｉ
Ｆサンプラ２０１９．第１ＩＦ’サンプラを駆動するパ
ルス発生器２０２１．および第１■Ｆ増幅器２０２３．
２１２３　　が設けられている。第１ＩＦ増幅器２１２
３は入力バンドバス・フィルタ２１３１　、フィルタ増
幅器２１３３、および更に信号整形を行うための出力ロ
ーパス・フィルタ２１３５を備えている。ＶＴＯ１１５
は各々、サンプル・ホールド回路２０２５、加算ノード
２０２７、および第２　Ｉ　Ｆ／検波器セクション１０
３にある位相ロック・バードウｉアに結合しているバッ
ファ増幅器２０２９で駆動される。

第２４．１図から第２４．３３図までは第２０図から第
２３図までに示すテスト・セットｌＯ７に関連する回路
の詳細な回路図を示す。第２４．１図から第２４．４図
はフロント・パネル・インジケータ２１０４、第２４．
５図から第２４．８図は第１ＩＰマルチグレクサ２００
２．２１０２）第２４．９図から第２４．１４図はＶＴ
Ｏｌｌｓおよび関連するドライバ、第２４．１５図から
第２４．２０図は１（Ｐ−１１３インタフー−ス２００
３、第２４．２１図から第２４．２５図は可変減衰器２
１１１とＰＩＮダイオード・トランスファ・スイッチ２
１０９、第２４．２６図から第２４．２８図は第１　Ｉ
　Ｆｔンフ５２０１９　オヨヒ第１　Ｉ　Ｆ’増幅器２
ｏ２３．２１２３、第２４．２９図から第２４．３３図
はテストｅセット用の電源２００１を示す。

第２ＩＦ’ 第１図に示す第２　Ｉ　Ｆ／検波器セクション１０３の
詳細なプロッタ図を第２５．１図から第２５．６図゛に
示す。信号ａＩ、ａ２）ｂ＋ｊｔｔよびｂ２が第２１Ｆ
’用のミクサ１３８により第２ＩＦ’に変換された後、
得られた信号ａ１％ａ２）ｂ、’、　　オヨＵ　ｂ２’
　）！第２５．２図に示すように第２４Ｆ用のマルチプ
レクサ（ＭＬＩＸ）　１３６　　に送られる。ＩＦ基準
発振器（クロック）１１９から発生した１００Ｊ（ｚの
較正信号２５０１と接地人力２５０２とも第２１Ｆ用の
マルチプレクサ１３６に送られるので、第２ＩＰチヤネ
ルはゲインとオフセットとのニ一つの誤差について自動
的に較正することができる。この自動較正は、ＡＤＣ１
３９の助けを借りて、増幅器２５０３を構成する４１固
のカスケード接崎された１　２　ｄＢ増幅器のベクトル
・ゲインを個別にＱ、ＯＯｌ　ｄＢ以内で測定すること
によって行われる。オフセット誤差を除くには、接地人
力２５０２をＭ　Ｕ　Ｘ　１３６に加えることによって
除かれ、増幅器２５０３のすべてのゲインをターン・オ
□）し、その結果得られる信号を同期検波器１３１、１
３３　　の４つの位相オフセット（すなわち、０°、９
００，１８０°、およ□び２７００）　　の各々につい
てＡＤＣ１３９を用いて測定し、このようにして同期検
波器１３１．１３３で使用されている測定面を回転させ
る。この位相オフセットの変化と同期検波器１３１．１
３３　　とにおける測定面の回転は、第２５．３図に示
す可変位相シレタ２５０５を用いて同期検波に使用され
る復調信号の位相角を調節することによって行われる。

第２６図を参照すると、Ｘと−Ｙとの真の直が脂とＹｍ
との測定値から以下に示す方程式によって求め得ること
がわかる。

（Ｈ）先ず、オフセットＸ０９Ｙｏを求めるには第２６図に示
すようＫＭＬＩＸｔ３６の入力を接地し、すべてのゲイ
ンＧｌ、Ｇ２．　Ｇ３．およびＧ４をターン・オフし、
４つの位相オフセット０°、９０°％１８億および２７
０°の各々に対してＸｍとＹｍ　　とを測定する。

すると下式に示す関係を用いてＸｏとＹＯが計算される
。

ｘＯ−１Σ勉Ｙｏ＝−ΣＹｍマトリクスＨは、較正信号２５０１を選択しゲインＧ４
　　をターン・オンすることによって定まる。次にＸｍ
とＹｍとを４つの位相オフセットの各々について測定し
、ＸＯとＹｏとを差引く。次ＫＨは下に示す４つの象限
関係　　　　　゛−−計算することができる。

Σは４つの象限測定値の相である。増幅器２５０３を構
成する４個の増幅器のゲインと位相ＧＩ、Ｇ２）Ｇ３、
Ｇ４　　を求めるには、Ｈ＝、ＧＩＸＧ２ＸＧ３ＸＧ４
であるから各々は互いに独立でなければならない。まず
Ｇ１だけを生かして、４通りの位相オフセットの各々に
ついてＸｍとＹｍ　とを測定し、先にオフセット補正の
間に求めた補正係数を用いて補正後のＩｌｔ　Ｘ’とｒ
とを計算する。下に示す式を用いて複素ゲイン（ａ＋ｉ
ｂ）を計算することができる。

これは、４つのＸ′およびＹ′データ点を先の式で示し
た４つの象限関係に最もよく移し変える。

上述のＸｍ、　Ｙｍの測定とａｌ、ｂ、　　の計算はゲ
インＧ２．　Ｇ３、およびＧ４に対応する増幅器につい
ても、一度に一つづつ順次繰返される。

第２７．１図から第２７．９０図は第２５．１図カラ第
２５．６図に示したプロッタ図の詳細な回路図である。

第２７．１図から第２７．６図はクロック１１９を示し
、第２７．７図から第２７．　ｌ　１図は１９．９ＭＨ
２の局部発振器２５１１を示し、第２７．１２図から第
２７、１５図は第２ＩＰ用のミクサ１３８　　を示し、
第２７、１６図から第２７．２６　　図は第２ＩＰ用の
可変利得増幅器１３４を示し、第２７．２８図から第２
７．３１図と第２７．７９図から第２７．８２図は第２
　Ｉ　Ｆ／検波器セクション１０３に使用するレギュレ
ータを示し、第２７．３２図から第２７．３７図はサン
プル・ホールド／出力マルチプレクサ１３７を示し、第
２７．３８図から第２７．５５図はＡＤＣ１３９を示し
、第２７．５６図から第２ン、６１図はＩＦカウンタ２
５１３を示し、第２７゜６２図から第２７．６７図まで
はＶＴＯ前同調（ｐｒｅｔｕｎｅ　）回路２５１５を示
し、第２７．６８図から第２７．７３図までは主位相ロ
ック回ｙ＆２５１７を示し、第２７．７４図から第２７
．７８図−までは第２ＩＦ／検波器セクシヨン１０３へ
のシステム・バス１４５を示し、第２７．８３図から第
２７．８６図は第２ＩＦ／検波器セクシ田ン１０３のフ
ロント・パネル１５９を示し、第２７．８７図から第２
７．９０図は同期検波器１３１．１３３を示す。

ソフトウェア信号処理第２８図に示す通り１本発明における信号！６埋は試験
信号および基準信号の実数部（Ｘ）と虚数部（Ｙ）を発
生する同期検波器対１３１．１３３の出力から始まる。

先に説明した通り、オフセット、ゲイン、および象限誤
差はＩＦゲイン・テスト２８０３とＩＦ補正２８０５の
プロッタとして構成されているリフトウ１アを介して中
間周波と検波器の両チ□インについて補正されている。

その結果得られたテスト・データと基準データは次に適
切なＳパラメータを得るためプロッタ２８０７内で比を
計算サレテ生データ・アレイ　（ｒａｗ　ａｒｒａｙ）
　２８０９　に記憶される。ユーザが要求すれば、同じ
周波数で取られた後続のデータがＩＦ平均化２８１１の
プロッタでいっしょに平均されてシステム雑音な下げし
たがってダイナミック・レンジを高める。

にする）の制御のもとにデータが充填されているが、デ
ータ処理ソフトウェアは同時に生データ・アレイ２８０
９かもデータを取り出して更に信号処理を実行している
。マイクロ波測定ノ・−ドウｉアの１項のモデル（ｏｎ
ｅ　ｔｅｒｍ　ｍｏｄｅｌ　）　（ベクトル周波数応答
の正規化）、３項のモデル（ｌポートのモデル）、およ
び最大１２項の誤差補正モデルを　　　　　　ｌ使用し
て、ベクトル誤差補正ソフトウェア２８１３はベクトル
・プロセッサ１５１と共に誤差アレイ２８１５を生デー
タ・アレイに適用することによって正しい゛データを発
生する。ユーザの金型に応じて、ゲート処理（ｇａｔｉ
ｎｇ）　２８１７を行５とともに別のゲート・アレイ２
８１９、電気長／基準面拡張（ｅｌｅｃｔｒｉｃａｌ　
ｌｅｎｇｔｈ／ｒｅｆｅｒｅｎｃｅ　ｐｌａｎｅ　ｅｘ
ｔｅｎｓｉｏｎ）２８２１、およびパラメータ変換２８
２２を用いれば、更にデータ処理を進めることができる
。補正されたデータはチャープＺ変換（Ｃｈｉｒｐ　Ｚ
　ｔｒａｎｓｆｏｒｍ）２８２３を用いて周波数領域か
ら時間領域に変換してもよい。なお、チャープＺ変換そ
れ自体の説明はたとえばアメリカ合衆国ニュー・ジャー
シイ州のプリンストン拳ホール社刊行のｍＴＨＥＯＦｔ
ＹＡＮＤ　　Ａ）’ＰＬＩＣＡＴＩＯＮ　　ＯＦ　　Ｄ
ＩＧＩＴＡＬＳＩＧＮＡＬ　　ＰＲＯＣｇＳＳＩＮＧ”
ＰＰ・３９２〜３９９に記“　載されている。ウィンド
ウ２８２５とウィンド・アレイ２８２７を用い、帯域制
限された周波数領域入力信号による時間領域のリンギン
グを除去し、次いでチャープＺ変換２８２３を用いて時
間領域に変換する。データ・アレイ２８２９内のデータ
はメモリ・アレイ２８３３内のメモリ内に記憶させ、第
２の装置からのデータと共にベクトル計算に使用するこ
とができる。現在のデータ（Ｄ）とメモリ・データ（Ｍ
）はベクトル計算によって比較され、ＤスＭ、Ｄ／Ｍ、
Ｄ十Ｍ、およびＤ−Ｍの４つの数学関数のすべてを発生
する。補正され処理されたデータＤをデータ・アレイ２
８２９に、またトレース演算データ（ｔｒａｃｅ　ｍａ
ｔｈ　ｄａｔａ）　　Ｍをメモリ・アレイ２８３３に記
憶させることによって、フォーマットやトレース演算変
更のとき、ユーザに対して迅速に応答することができる
。

次にベクトル・データはフォーマット２８３５なるブＣ
Ｉ７りで脹＋＠；　（ｍａｇｎｉ　ｔｕｄｅ　）　、位
相、群遅延、あるいは他の希望するフォーマットに変換
さ２する。

もし希望すルば、次に隣接するフォーマットされた点を
平滑化２８３７７ｊるプロッタ２８３７でまとめること
ができる。その結果得られたフォーマット化データはフ
ォーマット・アレイ２８３９に記憶されここでスケール
２８４３なるプロッタにより提供される尺度およびオフ
セット変化に際して便利にアクセスできる。希望に応じ
マーカ読出し２８４１なるプロッタを介してフォーマッ
トされたデータにマーカを入れることもできる。尺度を
定められた（　５ｃａｌｅｄ　）データはディスプレイ
ＲＡＭ２１７のディスプレイ・アレイ２８４５に記憶さ
れ、これに基いてベクトル図形発生器１５３のバードウ
１アがＣＦＬＴ１４９にフリッカの無い表示として繰返
しプロットを作り出す。

すべてのアレイに対し、ＨＰ−ＩＢババス５７およびテ
ープ・ドライブ１６１を介して出力が可能である。Ｓパ
ラメータはデータ・アレイ２８２９および他の可能なア
レイから得られる。ディジタル會プリンタ／プロッタ１
５５への直接プリンタ出力はフォーマット・アレイ２８
３９から行われる。ディジタル・プリンタ／プロッタ１
５５への直接プロッタ出力はディスプレイ・アレイ２８
４５から行われる。ユーザはまたデータ更新速度とデー
タ点の数（この分解能は５１点から４０１点まで選択で
きる）の間でのトレード・オフをとることができる。

ラフトウ２アはマルチ・タスキング・システムとして構
成されており、データ取込みソフトウ、アがビジィでな
いときはデータ処理を行うことができるようにして迅速
にデータを更新するようになっている。コマンドおよび
制御のタスクを重ね会わせることによってデータ処理と
データ取込みサイクルをインターリーブし、これによっ
て２ポート誤差補正と二重チャネル表示モードの両者が
できる様になる。

先に述べたソフトウェア信号処理は第２９図に示すプロ
セス構造により制御される。このプロセス構造は本発明
が高周波データを実質的に実時間で処理できる一つの理
由である。たとえば、高周波源１０９の制御、テスト・
セットｌＯ７の制御、およびｃｔｔ’ｒｔ４９のフォー
マットのような優先度の低い処理は、データ取込み処理
がビジィでないときだけ行われる。以前のシステムでは
、ブータラ受取り５これを完、全に処理して表示装置に
送り、各掃引が終りになると、プロセッサはハードウェ
アがリセットするのを待たなければならなかった。　　
　′１本発明はこれとは異なり、後続の掃引のリセット
のような制御機能を行いながら、あるいはＳパラメータ
の切換えを進めるなど（−ながら１、実際の処理を実行
する。コマンド源２９０１はフロント・パネル１５９お
よびｆ（Ｐ−ＩＢババス５７を介してユーザからのコマ
ンドを受取る。そしてそのコマンドを解析し、それがど
こを介して久方されたかに関係なく共通の内部コマンド
・トークンに変換してコマンド待ち行列２９０３に入れ
る。コマンド・プロセッサ２０９５はコマンドをコマン
ド待ち行列２９０３から取出して実行する。後２実行時
間効率を改褥する一回の予備計算（ｏｎｅ　ｔｉｍｅ　
ｐｒｅｃｏｍｐｕｔａｔｉｏｎ　）がこのとき行われる
。コマンド−プロセッサ２９ｏ５は測定器状態を修正し
、スケール変更後のトレースの更新、データ・アレイの
出力、およびデータ・アレイをメモリ・アレイに写し取
るなどのような単発の動作（ｏｎｅ　ｔｉｍｅ　ｏｐｅ
ｒａｔｉｏｎ　）を実行する。

この測定器状態に基いて、制御２９ｏ７は希望のデータ
が規定された態様および条件で得られたかの確認を受持
つ。これには高周波源１０９、テストｅセット１０７、
位相ロック・ハードウェア１２５、ＩＦマルチプレクサ
１３６、入Ｊ）ｃ１３９の制御、およびデータ取込み処
理の段取りが含まれる。掃引モードかステップ・モード
か、交互方式（ａｌｔｅｒｎａｔｅ　）かチョップ方式
（ｃｈｏｐｐｅｄ）か、単独信号掃引か連続信号掃引か
の制御は制御２９０７内で行われる。

掃引のメンテナンスも制御装賃２９０７内で制御されて
、帯域交差（ｂａｎｄｃｒｏｓｓｉｎｇ　）　　および
周波数ステツピングを常時監視している。取込み２９０
９はＡＤＣ１３９の割込、ＩＦゲインの自動調節、比率
計算、データの平均化と生データ・アレイ２８０９への
記憶を行う。処理２９１１は生データ−アレイ２８０９
からのデータをそのデータがＣＲＴ１４９に表示される
まで処理する。この処理には外部誤差のベクトル誤差補
正、パラメータ変換、時間領域処理（ゲート処理、窓あ
け、および変換）、トレース演算（ＤＸＭ、Ｄ／Ｍ、Ｄ
＋Ｍ、Ｄ−Ｍ）、フォーマティング（対数、直線、およ
び遅延）、および応答（スケール、基準値、および画面
分割）が含まれる。

制御変数２９１３を導出するのに使用されるマシン状態
変数には以下の様ｌｆものがある：テスト・セットの設
定状態、受信機の設定状態、および比率／非比率（ｒａ
ｔｉｏ　／ｎｏｎ　−ｒａｒｉｏ　）のようなパラメー
タの説明；周波数、電力、皓引時間、様式、■目盛の尺
度、平均化情報、取るべき点の数、誤差補正の形式、Ｒ
よび時間領域の係数に関するユーザの選択；およびデー
タ曇アレイ、生データ・アレイ、誤差係数入アレイ、補
正ずみデータ・アレイ、フォーマット済みデータ・アレ
イ、メモリ・デ汀夕・アレイ、およびディスプレイ・デ
ータ・アレイへの内部管理ポインタ。データが生データ
・アレイに記憶されるまでｋＤＣ１３９の制御に関連す
る取込み変数２９１５は、効率の同上のため制御変数２
９１３から圧縮されたデータを提供する。

取込み変数２９１５には以下のものが含まれる：工Ｆゲ
イン、受信機誤差、比率計算（ｒａｔ鳳ｏｉｎｇ）、平
均化、および生データ・アレイ内の現在のポインタ位置
。処理変数２９１７は生データ・アレイからディスプレ
イまでのデータの処理に関連する。

処理変数２９１７は効率同上のため、グループ制御変数
から圧縮されたデータを提供する。処理変数２９１７に
含まれるものは以下の通りである：各種アレイへの現在
のポインタ位置、誤差補正の形式、時間領域情報、トレ
ース演算、フォーマット、および応答。シグナル２９１
９はもしそうしなければ互いに独立に働くプログラムを
同期化する。

先に述べたソフトウェアの機能のいくつかをここで説明
−することにするつ段付掃引（ｓｔｅｐｐｅｄｓｗｅｅ
ｐ　）において、ＩＦ平均化２８１１は周波数が一定で
ある間に取られたデータ点の線形平均を計算する。この
処理は段付掃引の周波数ごとに繰返される。ｉ例式周波
数掃引（ｓｗｅｐｔ　ｆｒｅｑｕｅｎｃｙｓｗｅｅｐ　
）ではＩＦ平均化２８１１は周期到来データの重味づけ
指数走行平均（ｗｅｉｇｈｔｅｄ　ｅｘｐｏｎｅｎｔｉ
ａｌａｖｅｒａｇｅ　）　　を計算する。したがって入
力雑音帯域幅が減り、その結果雑音が減りダイナミック
・レンジが拡大する９時間平均化が再開されるごとに、
トこの平均化は小さな平均化係数（ａｖｅｒａｇｉｎｇ　
ｆａｃｔｏｒ　）で始め、ｌ乃至８掃引おきにこの平均
化係数を増分して、選定した平、均化係数にまで増大さ
せる。

これにより、最終値に速（収束できるようになる。

一方平滑化２８３７は隣接データ点の線形移動平均を表
示の百分率として供給することにより、処理されたデー
タで動作する。その結果はビデオ・フィルタと似ており
、基線トレースに関するようなビーク−ビーク雑音が減
るが、信号のダイナミック・レンジは改善されない。こ
れに加えて、本発明における平滑化には群遅延測定への
新しい用途がある。群遅延（すなわち、ｔｇ　＝、　（
度で表現した位相の変化）／　（３６０度Ｘ　（Ｈ２で
表わした周波数の変化））２は微分測定であってしたが
って残念ながら雑音が強調される。従って古典的には、
群遅延測定が行われる周波数（アパーチャと呼ばれる）
を増加させ、群遅延測定が更に有効に行われる様にする
。本発明では、処理した群遅延データを平滑化してこれ
と同じ結果が得られる。このようにして、群遅延データ
を平滑化（すなわち、隣接データ点を平均）すれば古典
的な可変群遅延アパーチャを利用して得られると同じ効
果が得られる。

これＫよればまた、平滑化を３以上の隣接データ点に適
用すると、アパーチャの両端に渡って１８０　’より大
きな位相変化を生ずることができる。

本発明による高周波誤差補正は較正を速く且つ容易にす
るのにも適合している。測定は一遅の較正標準に基いて
行われ、次に生データ拳アレイ２８０９のデータを誤差
アレイ２８１５に記憶させる。

同軸コネクタに使用されている開−負荷−短絡の方法（
ｏｐｅｎ−１ｏａｄ−ｓｈｏｒｔ　ａｐｐｒｏａｃｈ）
　、導波管技術に使用されているオフセット−短絡−負
荷の方法（ｏｆｆｓｅｔ−ｓｈｏｒｔ−１ｏａｄ　ａｐ
ｐｒｏａｃｈ　）　、およびマイクロ・ストリップ装置
に使用されている多数オフセット短絡（ｍｕｌｔｉｐｌ
ｅ　ｏｆｆｓｅｔ　５ｈｏｒｔ）等の多数の異なる形式
の較正標準を使用することができる。較正標準は、すべ
てのデータがディジタルで記憶されているため特定の順
序で使用する必要はない。

また較正中においてさえ実時間で更新されている表示フ
ォーマットは較正自身に影響を及ぼさずに任意の時点に
変更することができる。平均化は生データ・アレイ２８
０９上で作用するので、ＩＦ’平均化は較正中にも使用
することができる。希望に応じ複数の一定負荷および変
動負荷（ｓｌ　ｉｄｉｎｇ　ｌｏａｄ）をも使用するこ
とができる。補正データ・セットそれ自身がメモリに記
憶されているので、いくつかの補正データ・セットを測
定器内に一度に記憶させることができる（たとえば、異
なる補正データ・セットを異なるＳパラメータについて
記憶させることができ、また同じＳパラメータについて
、異なる周波数範囲にわたる補正データ・セットを記憶
させることもできる）。トレース演算２８３１とメモリ
ーアレイ２８３３とにより、補正されたトレースも補正
されていないトレースも見ることができ、且つ同時に使
用することができる。

ゲート処理２８１７を使って、ユーザの指定によりディ
スプレイのある部分を見ることができる。

ゲート処理は時間領域または周波数領域で使用すること
ができ、ゲートを提供してこれを通してデータを見るこ
とができる様にする。このゲートはより選択される。ゲ
ート処理を行いたい場合、ゲート外の時間領域データを
使用しているデータから取り去って表示データを計算す
るのではなく、本発明においては、ゲートの周波数領域
の形状を計算して、周波数操作として到来する周波数デ
ータに直接たたみ込みを行う（ｃｏｎｖｏｌｖｅ　）。

その結果ゲートされた領域内からデータが除かれること
はなく、周波数から時間への変換を行うとき帯域制限さ
れた時間データのサンプリングが過少である（　ｕｎｄ
ｅｒｓａｍｐｌ　ｉｎｇ）という問題が無くなる。その
結果ゲートされた時間領域データは情報の全スペクトル
を保持しているとともに、もし希望するならば、情報を
失うことなく周波数領域に逆変換することもできる。こ
のように、ユーザは時間領域データを見ながらゲートを
セットすることができでも、実際のゲート処理はたたみ
込み（ｃｏｎｖｏｌｕｔｉｏｎ）を用いて周波数領域で
行われる。

電気長／基準面拡張２８２１の電気的遅延と基準面の拡
張は、それぞれ、たとえばエア・ライン（ａｌｔ　１ｉ
ｎｅ）の電気的遅延を測定するためあるい　　　　１は
Ｓパラメータ測定に使用する測定面をテスト・セットの
ポート１．または２の物理的平面以外に、移動するため
に、電気的遅延を変更するのに使用される。電気的遅延
と基準面の拡張は、共に時間の単位で（すなわち、プラ
ス、マイナス１００秒まで）規定され、しかも同じ数学
公式を使用するが、電気的遅延はパラメータ毎に変り、
一方基準面拡張はポート毎に変る。距離の等価読出しは
電気的遅延といっしょに行われる。

時間領域の処理通常のマイクロ波ＤＵＴＩＩＩは伝送線部で相互に結ば
れた多数の要素から構成されている。従来の周波数領域
の技術を用いて試験した場合入り混った応答が生成され
る。特定の不連続（ｄｉｓｃｏｎｔｉｎｕｉｔｙ　）を
個別に調べることはできない。時間領域において、本発
明はその通常の周波数領域のデータを取り、まず最初に
ＲａｂｉｎｅｒとＧｏｌｄが１９７５年発行の［ディジ
タル信号処理の理論と応用Ｊ　ＰＰ、　３９３〜３９８
に述べているあまり知られていないチャープＺ変換を施
して周波数領域から時間領域に変換する。従来の時間変
換法は通常伝統的な高速フーリエ技術を使用してきたが
、これは高調波的に関連する周波数入力を加える必要が
あると共に、周波数ウィンドウ全体が時間ウィンドウ全
体に変換される。たとえば、幅ｌＯナノ秒の時間窓を１
０１データ点をとって観測しているとき、各データ点は
０．１ナノ秒だけしか離れていない。また幅ｌＯナノ秒
の時間ウィンドウ中の一部分のデータの部分だけを見よ
うとすると、僅かなデータ点しか利用できなくなる。こ
れはデータ点をもっと多くすれば克服できるが、速さが
劇的に落ちてしまう。

この代りＫ、周波数データを古典的な完全フーリエ級数
展開にかけて任意の数のデータ点を観察できるようにす
る方法もあったが、このような方法は極めて遅（、必要
な計算を行うのに数分を要する。完全フーリエ級数展開
の場合と同様、チャープＺ変換も所与の時間窓内に任意
の数の観察用データ点を与えるものであるが、この変換
は１秒未満で計算することができる。

本発明のシステムには二つの時間領域動作モードがある
。第１のモードはロー・バス・モートド呼ばれ、伝統的
な時間領域反射率計（ＴＤＦＬ）をりミュレートするた
めに使われるが、チャープＺ変換を利用している。伝統
的なＴＤＲのように、ロー・パス・モードでは利用可能
な最低の周波数データ点から外挿されるＤＣから利用可
能な最大周波数まで高調波的に関連する周波数データを
必要とする。ロー・パス・モードでは最も速い立上り時
間と最良の時間領域分解能とが得られ、ステップあるい
はインパルスのいずれの励起についても使用することが
できる。ロー・パス・モードでのインパルス応答を積分
することにより、ＤＵＴをステップ波形で刺戟する際の
応答が得られる。第２の時間領域動作モードはハンド・
パス・モードと呼ばれ、Ｌ）Ｃを含む必要はなく任意の
周波数スパンで使用することができる。チャープＺ変換
を使用しているため、バンド−パス・モードは高調波的
に関連する周波数データを必要としないが、唯励起周波
数のステップは同じ大ぎさでなければならない（たとえ
ばｌから２　ＧＨｚまでのスパンの間でＩＯＭＨ２ずつ
の等間隔で）。バンド・パス・モードは代表的には帯域
制限された装置についての、反射測定または伝達測定の
いずれかに使用される。このモードではインパルス励起
だけを使用することができる。

ロー・パス・モートオヨヒハンド・パスのモード、およ
び使用される励起の説明を第３０Ａ図ないし第３０Ｅ図
に示す。第３０Ａ図に示すＤＯＴの周波数領域の応答を
第３０Ｂ図に示す。また、時ｒｌｆ域ロー・パス・モー
ドのステップ励起を第３０Ｃ図に示し、時間領域ロー〇
パス・モードのインパルス励起を第３０Ｄ図に示し、時
間領域バンド・パス・モードのインパルス励起ヲ第３０
　Ｅ図に示す。データには周波数の上限があり、またそ
の限界では、データ有りからデータ無へと突然に遷移す
るから、時間領域の応答はＧｉｂｂｓ現象と呼ばれるリ
ンギングとオーバーシュートを生ずる。

リンギングは実際の装置からの二つの非常に接近した応
答を区別する能力の邪魔に７よると共に、実際の応答と
データの導出（ｒｅｄｕｃｔｉｏｎ　）　　により生じ
た応答との分離についての混乱を生ずる。本発明では、
第３１図の（へ）ないしくＤ）に示す様に、周波数領域
データを修正しフィルタＫかけるウィンド能力（ゲート
処理と混同しないように）を備えており、このリンギン
グを減らしている（第３１図（Ｄ）では第３１図（Ｂ）
よりも幅広だがリンギングのない時間領域応答が得られ
ている）。Ｋａｉｓｅｒ−Ｂｅｓｓｅｌパラメータの三
つのレベル０．６．１３について、三つの異なるレベル
のウィンドウを持つＫａｉｓｅｒ−１３ｅｓｓｅｌウイ
ンドウを、より高い周波数のデータを減衰し除（（ｒｏ
ｌｌ　ｏｆｆ）ために使用することができ、分解能を犠
牲にしてリンギングを減少できる。というのは最小窓あ
け（すなわち、０）では立上り時間が最良で最大窓あけ
時にはサイドローブの抑制が最良になるからである。最
小窓あけでは最小幅のインパルス刺戟に対してサイドロ
ーブが一１４ｄＢとなり、通常の址の窓あけではサイド
ローブが一５０ｄＢとなりで初期応答の幅が２倍増加す
る。−力量大窓あけではサイドローブは一９０ｄＢとな
って初期応答の幅が４倍増加する。

ベクトル誤差補正された測定を行う能力は、時間領域で
の測定結果の指示の質に重大な効果をもたらしている。

この例を第３２Ａ図および第３２Ｂ図に示す。これらの
図においては、端部をシ目−トした３０ｃＩＩＬのエア
・ラインの時間領域測定の結果をそれぞれ補正なしおよ
び補正ありについて対照しである。結合器の等画高周波
源整合（ｅｐｕｉｖａｌｅｎｔｓｏｕｒｃｅ　ｍａｔｃ
ｈ　）は４０ｄＢに増加し、等価結合器方向性（ｅｑｕ
ｉｖａｌｅｎｔ　ｃｏｕｐｌｅｒ　ｄｉｒｅｃｔｉｖｉ
ｔｙ　）は優に５０ｄＢを越えて上昇した。

先に述べたとおり、ゲート処理は本発明における時間領
域能力の更に強力な特徴である。これを第３３Ａ図ない
し第３３Ｄ図に示す。第３３Ａ図は定在波比（ＳＷａ）
が１．５の負荷についてゲート処理した場合の周波数領
域表示３３０１および時間領域表示３３０３を分割画面
で見たものを示す。

！３３Ｂ図は１２ｄＢのリアクタンス・ミスマツチが加
わった場合の効果を示す。周波数領域表示３３０５に大
きなリップル効果を生じていることがわかる。第３３Ｃ
図はマーカ３３１１．３３１５で強調された負荷のまわ
りのゲート処理の効果を示している。第３３Ｃ図の周波
数領域表示３３０９のデータと第３３．Ａ図の周波数領
域表示３３０１のデータとの間の大きな対照性に注目さ
れたい。第３３Ｄ図は第３３Ｃ図と同じデータを、第３
３Ｃ図上の周波数領域表示３３０９および時間領域表示
３３１３のトレースをそれぞれトレース３３１７．３３
１９として重ね合せて示しである。

〔発明の効果〕

以上説明した様に、本発明によれば高速・高精度でかつ
使いやすいネットワーク・アナライザが得られる。

？ン’　　　ＴＡＰＥ　　ＭＥＮＵ　　　＜＜＜”ＤＩ
ＲＥＣＴＯＲＹ” ｃｍｄ　ｄｉｒｅｃｔｏｒｙ ”ＲＥＣＯＲＤ” ”ＲＥＳＴＯＲＥ’書 ”ＤＥＬＥＴＥ” ’ＩＵＮ−ＤＥＬＥＴＥ” ＝：；；＝＝＝＝＝＝±＝；； ”’ＩＮＩＴＩＡＬＩＺＥ” ”ＴＡＰＥ’嘗ン＞　ＩＮＩＴ　ＴＡＰＥ　ＭＥ廟ぐζ”Ｎｏ” ＝＝ズ；；寞＝！＝＝〉）ン　ＤＩＲＥＣＴＯＲＹ　　ＭＥＮＵ、　　（Ｅ−
□ ＩＩＲＥＳＴＯＲＥＩ＋瞥電ＤＩＳＰＬＡＹ” ”ＰＡＧＥ” ｃｍｄ　ｎｅｘｔ　ｐａｇｅ＝＝；−＝＝＝社＝＝　　□ ”ＰＲＥＶＩＯＵＳ” ＩＩＰＡＧＥ’言ｃｍｄ　ｐｒｅｙ　ｐａｇｅ ”ＦＩＲ５Ｔ” ”ＰＡＧＥ” ｃｍｄ　ｆｉｒｓ’ｔ　ｐａｇｅ＝＝冨＝＝＝；＝＝＃＝鵞＝＝＝ｃｍｄ　１ａｓｔ　ｐａｇｅン）　ＤＡＴＡ２　ＭＥＮＵ　＜ｔ、ζ”ＤＡＴＡ” ”ＤＡＴＡ’菅ＩＩＵＳＥＲ” ”ＤＩＳＰＬＡＹＩ’ ”ＭＡＣＨＩＮＥ” ”ＤＬＪＭＰ” ｃｍｄ　ｍａｃｈｉｎｅ−ｄｕｍｐ＞＞＞　　ＤＡＴＡＩ　ＭＥＮＵ　＜＜（”ＩＮＳＴＲ
ＵＭＥＮＴ” ”５ＴＡＴＥＩ＋ ”ＭＥＭＯＲＹ” ”ＴＲＡＣＥ” ”ＭＥＭＯＲＹｌ＋ ”ＴＲＡＣＥＳＩ−４” ”ＣＡＬ　　ＳＥＴ” １℃ＡＬ　　５ＥＴＳ” ＋＋１４＋＋ ”ＣＡＬ　　ＫＩＴ” ”ＭＯＲＥ” ｃｍｄ　ｍｏｒｅ）〉）　　　ＦＩＬＥ　　ＭＥＮＬＩ　　＜（く””　
ＦＩＬＥ　２ＩＩｃｍｄ　ｆｉｌｅ　２＋＋ｉ″　ＦＩＬＥ　３１＋電電台ＦＩＩＪミ４＋１１１″ＦＩＬＥ　ＳＬ＋＋＋会ＦＩＬＥ６’嘗 ””　　ＦＩＬＥ　　７” ＋＋費　ＦＩＬＥ　８” ｃｍｄ　ｆｉｌｅ８）〉フ　ＲＥＧ　ＮＥＮＵ　　＜（＜ ”ＤＡＴＡ　　ＴＹＰＥ　　” ＋＋☆　１　　＋＋ｃｍｄ　ｒｅｇ　ｌｌ１１″　２　　＋＋ｃｍｄ　ｒｅｇ　２１１☆３Ｉ嘗ｃｍｄ−ｒｅｇ　３ ■す４Ｉ書ｃｍｄ　ｒｅｇ　４＆＋Ｆ＝慄＝＋＋Ｆ！ＳＳ− ＋１☆　６Ｉ＋ｃｍｄ　ｒａｇ　６１１☆　７■ ｃｍｄ　ｒｅｇ　７ ”ＬＡＳＴ　５ＴＡＴＥ” ｃｍｄ　ｒａｇ　８〉ンＲＥＳＰＯＮＳＥ　　ＭＥＮＵ　＜＜＜菅’ＥＬＥ
ＣＴＲＩＣＡＬ”＋ｓｋ　　ｂｒａｃｋｅｔ　　２”Ｄ
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−ｉｆｎｏ　ｇａｉｎ＋＋　　１　　＋＋ｃｕｄ−ｉｆ　１２ｄｂ　ｇａｉｎ＋＋２＋曽ｃｍｄ−ｉｆ−２４ｄｂ　ｇａｉｎＩＩ　　３　　＋＋ｃｍｄ　ｉｆ　３６ｄｂ−ｇａｉｎ ―菅４　　（ＭＡＸ、）　” ｃｍｄ　ｉｆ　４８ｄｂ−ｇａｉｎ＊＠ｇ＝±＝＝＝＝モ；ｌ警ＡＵＴＯ” ｃｍｄ　ｉｆ　ｇａｉｎ　ａｕｔ。

〉ン）　　ＳＴＩＭＵＬＵＳ二憾ＥＮＵ　　＜＜＜ｃｍ
ｄ　ｐｏｗｅｒ　ｍｅｎｕ５ＷＥＥＰ” 會’ＴＩＭＥ” ｃｍｄ　ｓｗｅｅ’ｐ　ｔｉｍｅｃｍｄ　ｎ　ｐｏｉｎｔｓ　ｍｅｎｕ ”ＲＡＭＰ” ｃｍｄ　ｓｗｅｐｔ ”５ＴＥＰ” ｃｍｄ　５ｔｅｐｐｅｄ會雷ＭＯＲＥ” ｃｍｄ　ｍｏｒｅン）ン　Ｎ　　ＰＯＩＮＴＳ　　ＭＥＮＵ　　（ζζ”
ｐｏｉｎｔｓ：ｌＴ＋ｓｋ　ｂｒａｃｋｅｔ−４＋′５
１１′ ｃｍｄ　５ｌ−ｐｏｉｎｔｓ ”１０１” ｃｍｄ−１０１−ｐｏｉｎｔｓ ”２０１” ｃｍｄ−２０１ｐｏｉｎｔｓ ”４０１” ｃｍｄ−４０１−ｐｏｉｎｔｓ＝＝＝＝＝＝＝；＝＝＞＞＞　ＰＯＷＥＲＭＥＮＵ　＜＜（ ”ＰＯＩＩＥＲ” ｃｍｄ　ｓｏｕｒｃｅ−ｐｏｗｅｒ ”５ＬＯＰＥ”＋ｓｋ　ｂｒａｃｋｅｔ　２１１ＯＮＩ
＋ｃｍｄ　ｐｏｗｅｒ　５ｌｏｐｅ ”ｏｐｐ” ｃｍｄ　ｐｏｗｅｒ　５ｌｏｐｅ　ｏｆｆ”ＡＴＴＥＮ
ＵＡＴＯＲ”＋５ｋｂｒａｃｋｅ’ｔ２！電ＰＯＲＴ１
” ｃｍｄ　ａｔｔｅｎ　ｐｏｒｔｌ ”ＰＯＲＴ２’！ｃｍｄ　ａｔｔｅｎ　ｐｏｒｔ２）〉ンＳＴＩＭＵＬＵＳ２ＭＥＮＵ＜＜＜ｓｋ　ｂｒａ
ｃｋｅｔ　　４ｈａｌｆ　ｖｔ＋”ＨＯＬＤ” ｃｍｄ　ｈｏｌｄ ”５ＩＮＧＬＥ” ｃｍｄ　ｓｉｎｇｌｅ ”ＮＩＪＭＢＥＲｏｆ” ”ＧＲＯ１ＪＰＳ’１ｃｍｄ　ｎ　ｇｒｏｕｐｓ　ｋｂｄ１℃０ＮＴＩＮＵＡＬ” ｃｍｄ　　ｃｏｎｔｉｎｕｏｕｓ ”５ＴＺ１１ｆＵＬＵＳ” ”０ＦＦＳＥＴ” ｓｋ　ｂｒａｃｋｅｔ−２ｈａｌｆ　ｖｔ＋”Ｃｈｌ　　＝　　Ｃｈ２”ｃｍｃｌ
　ｃｏｕｐｌｅ　ｓｔｉｍｕｌｕｓ”Ｃｈｉ　　＋１６
３＋”　Ｃｈ２１’ｃｍｄ　ｕｎｃｏｕｐｌｅ　ｓｔｉ
ｍｕｌｕｓ−’＞＞　ＤＥＶＩＣＥ　ＲＥＡＤＹ　ＭＥ
ＮＵ　（’（１’ＰＲＥＳＳ　　Ｔｏ” ”Ｃ０ＮＴＩＮｔＪＥ” ）＞＞ＰＡＲＡＭＭＥＮＵ＜＜（ ”ａ”＋１７７＋ｓｋ　ｂｒａｃｋｅｔ　４ｃｍｄ　ｕ
ｓｅｒｌ１’ｂ”＋１７８ｃｍｄ　ｕｓｅｒ２ＩＩ　ａ１１４１７８ＣｍｄｕＳｅｒ３ ”ｂ”＋１７７ｃｍｄ　ｕｓｅｒ４ ”ＲＥＤＥＦＩＮＢ’電 ”ＰＡＲＡＭＥＴＥＲＩ＋ｃｍｄ　ｒｅｄｅｆｉｎｅ７ａｒａｍ＞））ＲＥＤＥＦ　　ＭＥＮＵ　　（’−’−”ＲＥＤ
ＥＦＩＮＥｌｌ＋ｓｋ　ｂｒａｃｋｅｔ　６”ＤＲＩＶ
Ｅ” ”ＰＨＡＳＥ　　ＬＯＣＫ” ”ＮＵＭＥＲＡＴＯＲ” ”ＤＥＮＯＭＩ−＋＋ ”ＮＡＴＯＲ” 菅’Ｃ０ＮＶＥＲ５ＩＯＮ” ！’ＰＡＲＡＭＥＴＥＲ” ”ＬＡＢＥＬ’１ｃｍｄ　１ａｂｅｌ　ｐａｒａｍｅｔｅｒ１″ＲＥＤＥ
ＦＩＮＥ” ”ＤＯＮＢ” ｃｍｄ　ｒｅｄｅｆｉｎｅ　　ｄｏｎｅ＝　−＞ＲＥＤ
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ｌ會１＋＋ｂ２　＋＋！言ａＩＩ＋ＩＩａ２Ｉ＋ ”５ＥＲＶＩＣＥ菅菅 ”５ＥＬＥＣＴＩＯＮＳ” ）ン）ＲＥＤＥＦ　　Ｎ０Ｍ２　　ＭＥＮＵ　　（（’
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雷’ＤＥＮＯＭ、”＋５ｋｂｒａｃｋｅｔ４＋ｌＢＩ　
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（”１００　　ｋＨｚ” ”ＲＥＦ　ＣＡＬ” ’ＩＤＥＴＥＣＴＯＲ’電 ”ＧＲＯＵＮＤ” ”ＡＤＣＧＲＯＵＮＤ” ”ＶＣＡＬ” ”ＶＲＥＦ” ”ＴＥＭＰ、　　１１’ ”ＴＥＭＰ、　　２１１〉）ンＲＥＤＥＦ　　ＤＥＮＯＭ　　ＭＥＮＵ　　＜＜
ど”ＤＥＮＯＭ、”＋ｓｋ　ｂｒａｃｋｅｔ　　４１１
ａｌ　　＋＋ＩＩａ２菅電＋＋ｂ１　　＋＋ ”Ｎｏ　　ＲＡＴＩＯ” ＞＞＞ＲＥＤＥＦ　　Ｃ０ＮＶ　ＭＥＮＵ　　＜＜＜”
Ｃ０ＮＶＥＲＴ”＋ｓｋ　ｂｒａｃｋｅｔ　４０ｔｏ　
　　　Ｓ’マ ”ｔｏ１／Ｓ’菅＋　＋　ｔ　ｏ　　　　ｌ　＋　＋＝＝：＝＝＝＝＝＝＝１１ｔＱ　　　Ｙ　＋＋＞＞＞　　ＦＯＲｌｖｌＡＴ　　ＭＥＮＵ　　　＜＜（
。

ｓｋ　ｂｒａｃｋｅｔ　　８ｈａｌｆ　ｖｔ＋”ＳＷＲ″ ｃｍｄ　ｓｗｒ ”ＬＩＮＥＡＲ” ”ＭＡＧＮ■ＴＵＤＥ’１ｃｍｄ　１ｉｎｅａｒ　ｍａｇ ”ＰＯＬＡＲｗ／” ”ＬＩＮ　ＭＫＲ” ｃｍｄ　１ｉｎｅａｒ７ｏ１ａｒ ”ＰＯＬＡＲｗ／” ！’ＬＯＧＭＫＲ” ｃｍｄ　ｌｏｇ−ｐｏｌａｒ ”ＰＯ，ＬＡＲｗ／” ”Ｒｅ／Ｉｍ　ＭＫＲ” ｃｍｄ　ｉｍａｇ　ｖｓ　ｒｅａｌ ”ＩＮＶＥＲＴＥＤ” ｌｌ５Ｍ工ＴＨ１１ｃｍｄｙ　５ｍ１ｔｈ９言エト４）＼ＧＩＮＡＲＹ” ｃｍｄ　ｉｍａｇｉｎａｒｙ ”ＲＥＡＬ” ｃｍｄ　ｒｅａｌン＞）ＤＯＭＡＩＮ　ＭＥＮＵ　　ζζζｓｋ　ｂｒａ
ｃｋｅｔ　　４ｈａｌｆ−ｖｔ＋”ＦＲＥＱＵＥＮＣＹ”−ｃｍｄ　ｆ
ｒｅｑ−ｄｏｍａｉｎ ”ＴＩＭＥ” ”ＬＯＷ　ＰＡＳＳ” ｃｍｄ　ｌｏｗ　ｐａｓｓ−ｒｅｑｕｅｓｔ曾’ＴＩＭ
Ｅ” ”ＢＡＮＤ　　ＰＡＳＳ” ｅｎｄ　ｔｉｍｅ　　ｄｏｍａｉｎ ”ＡＵＸ、ＶＯＬＴ” ”０ＵＴＰＵＴ” ｃｍｄ　ａｕｘ　　ｄｏｍａｉｎ ”５ＰＥＣＩＦＹ”＋５ｋｂｒａｃｋｅｔ　　２”ＴＩ
ＭＥＩ＋ｃｍｄ、５ｅｔｕｐ　ｔｉｍｅ　ｄｏｍａｉｎ”ＧＡＴ
Ｅ” ｃｍｄ　５ｅｔｕｐ　ｇａｔｅ　ｄｏｍａｉｎ、ｙ＞、
＞　　ＬＯＷ　ＰＡＳＳ　１ｉｌＥＮＬ＋　　＜＜ぺ”
５ＥＴＦＲＥＱ、書− ”（ＬＯＷ　ＰＡＳＳ）” ｃｍｄ　　ｔｄｒ　　ｄｏｍａｉｎ χ〉スＴＩＭＥ　５ＥＴＵＰ　ＭＥＮＵ　＜＜＜”ＬＯ
Ｗ　　ＰＡＳＳ：”＋ｓｋ　　ｂｒａｃｋｅｔ　　２”
５ＴＥＰ” ｃｍｄ　　ｔｄｒ　　５ｔｅｐ ”ＩＭＰＵＬＳＥ” ｃｍｄ　ｔｄｒ　ｉｍｐｕｌｓｅ ”ＷＩＮＤＯＷ＋”＋ｓｋ　ｂｒａｃｋｅ’ｔ　　３”
ＭＩＮＩＭＵＭ” ｃｍｄ　　ｍｉｎ　　ｔｉｍｅ　ｗｉｎｄｏｗ”ＮＯＲ
ＭＡＬ” ｃｍｄ　ｎｏｒｍａｌ　　ｔｉｍｅ　ｗｉｎｄｏｗ”！
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ＴＥ　　５ＥＴＵＰ　　ＭＥＮＵ　　＜、くく”ＧＡＴ
Ｅ”＋ｓｋ　ｂｒａｃｋｅｔ　　２１１ＯＮＩ＋ｃｍｄ　ｇａｔｅ　ｏｎ ”ＯＦＦ” ｃｍ’ｄ　ｇａｔｅ　ｏｆｆ菅’ＧＡＴＥ”＋ｓ’ｋｂｒａｃｋｅｔ４”５ＴＡＲＴ
” ｅｍｄ　ｇａｔｅ　５ｔａｒｔ ”５ＴＯＰ” ｃｍｄ　ｇａｔｅ　５ｔｏｐＩＩＣＥＮＴＥＲ” ｃｍｄ−ｇａｔｅ　ｃｅｎｔｅｒ１’５ＰＡＮ” ｃｍｄ　ｇａｔｅ　５ｐａｎ ”ＧＡＴＥ　　５ＷＡＰＥ” ））ンＧＡＴＥ　　５ＨＡＰＥ　　ＭＥＮＵ　　＼くべ
”ＧＡＴＥ　　５ＨＡＰＥ”＋ｓｋ　ｂｒａｃｋｅｔ　
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Ｌ’！ｃｍｄ　ｎｏｒｍａｌ　ｇａｔｅ−ｗｉｎｄｏｗｌｌＭ
ＡＸＩＭＵＭ” ｃｍｄ　ｍａｘ　ｇａｔｅ　ｗｉｎｄｏｗ：＞＞＞　　
ＣＡＬ−￥ＥＮＵ　　＜＜＜”Ｃ０ＲＲＥＣＴＩＯＮ”
＋ｓｋ　ｂｒａｃｋｅｔ　３１１０　Ｎ　Ｉ＋ｃｍｄ　ｃｏｒｒｅｃｔｉｏｎ　　ｏｎＩＩＯＦＦＩ＋ｃｍｄ　ｃｏｒｒｅｃｔｉｏｎ　ｏｆｆ”５ＥＬＥＣＴ
” 市’ＣＡＬ　　ＳＥＴ” ｃｍｄ　ｃｏｒｒｅｃｔｉｏｎ　　ｄｅｆａｕｌｔ”Ｃ
ＡＬＩＢＲＡＴＥＩ′＋ｓｋ　ｂｒａｃｋｅｔ　３”（
ＫＩＴ　ｔｔｌ）１１ｃｍｄ　　ｃａｌ　ｋｉｔ　　１ ”ＣＡＬＩＢＲＡＴＥ” ”（ＫＩＴ　＃２　）’すｃｍｄ　ｃａｌ　　ｋｉｔ　　２ ”ＲＥＳＵＭＥ　　ＣＡＬ” ”５ＥＱＵＥＮＣＥ” ”ＭＯＲ）ミ電１ｃｍｄ　ｍｏｒｅ

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の一実施例の概略プロッタ図、第２図は
本発明の一実施例のディジタル部分を中心とした部分プ
ロッタ図、第３−１図ないし第３−９９図は第２図の部
分プロッタ図の回路図及び接続図、第４図は本発明の一
実施例のフロント・パネルを示す図、第５図は本発明の
一実施例のフロント・パネルよりの各種設定の階層構造
を示す図、第６図ないし第１５図、第１７図及び第１８
図はを示す図、第１９Ａ図、第１９Ｂ図は本発明の一実
施例で用いられる広帯域の双方同性ブリッジを示す図、
第２０図ないし第２３図は本発明の一実施例で用いられ
るテスト・セットのプロッタ図、第２４−１図ないし第
２４−３３図は第２０図ないし第２３図のプロッタ図の
詳細な回路図及び接続図、第２５−１図ないし第２５−
６図は第１図中の第２ＩＦ’／ｌ波器セクシヨンのプロ
ッタ図及び接続図、第２６図は本発明のＩＦ部における
オフセット及びゲイン誤差補正を説明するプロッタ図、
第２７−１図ないし第２７〜９０図は第２５ご１図ない
し第２５〜６図に示したプロッタ図の詳細な回路図及び
接続図、第２８図は本発明の一実施例のソフトウェア信
号処理フローな示す図、第２９図は本発明の一実施例に
おけるソフトウェア信号処理のプロセス構造な示す図、
第３ＯＡ図ないし第３０Ｅ図は本発明の一実施例におけ
るローパス・モード及ヒバンド・バス・モードを説明す
るための図、第３１図は本発明の一実施例における夜ウ
ィンドウ処理を説明するための図、第３２Ａ図及び第３
２Ｂ図は本発明の一実施例におけるベクトル誤差補正効
果を説明するための図、第３３人図ないし第３３Ｄ図は
本発明の一実施例におけるゲート処理の効果を説明する
ための図である。１０１：主ネットワーク・アナライザ、１０３：第２Ｉ
Ｆ／検波器セクシｌン、１０５　：データｅプロセッサ
／表示器セクション、１０７：テスト−セット、１０８：信号分離回路、　　１０９：高周波源、Ｉｌｌ
：ＤＵＴ。１１３：第１中間周波変換回路、１１５：局部発振器、１１６　：高調波発生器、　　１１７：ＰＬＬ１１９　
：　Ｉ　Ｆ基準発振器１２５：位相ロック・ハードウェア、１３１．１３３　：同期検波器、１３４：可変利得増幅器、１３５：第２ＩＦ’部、１３
６：マルチプレクサ、１３７：サンプル・ホールド／出力マルチプレクサ、１
３８：ミクサ、１３９：アナログ・ディジタル変換器、１４１　：イン
タフエース、　１４３：中央処理装置、１４５ニジステ
ム−バス、１４６：サンプル選択／タイミング回路、１４７：メモ
リ、　　　　１４９　：　ＣＲＴ。１５１　：ベクトル・プロセッサ、１５３：ベクトル図形発生器、１５５：ディジタル・プリンタ／プロッタ、１５７：Ｈ
Ｐ−ＩＢババス１５９：フロント・パネル、１６１：テープ・ドライブ。出願人　横河・ヒユーレット・パッカード株式会社代理
人　弁理士　　長　谷　川　　次　　男「１− ムーし− トに’＞ご＼Ｌ′Ｌ（り一周波数＠成（Ａ）ロー・ｌでス・モード（Ｃ）吋間領威（Ｂ）ＦＩＧ、’：！、１ペ介へに認一１ＩＪ、３７　ｄＢスタート　０，０４５００００００　　Ｇｓ’　　　　
　中□”　０．０００　ｎＳストップ１０．０００００
００００　Ｇｓ　　　　ｘ／ｒｙ２，０００　ｎｓ？−
＃ｌ　　　　　　２０５゜０００　ｐｓ−１４，８旬ｄ
Ｂ［相］発　明　者　　ロジャー・ピー・オブ　　アラド
　　　　　　　　　　サ［相］発明者　　　グレン・イー・エルモ　　ア。ア　　　　　　　　　　　　　　　アメリカ合衆国カリフォルニア州すンタ・ローザ・マリボ
ードライブ　１６３５ぎリカ合衆国カリフォルニア州すンタ・ローザ・ディ・
パーク・ドライブ　３５２８手続補正書〔放）昭和６０年　８月２９日１、事件の表示　　　　　昭和６０年　特許　願第２６
２４号３、補正をする者事件との関係　　　　　　特　許　出　願　人４、代理
人住所　　　　　　東京都　へ王子市　高倉町　９番　１
号６、　補正の対象　　　　図面

Claims

【特許請求の範囲】

（１）試験対象の応答を解析するネットワーク・アナラ
イザにおいて、前記試験対象を表す高周波信号をディジタル化するコン
バータ手段と、前記コンバータ手段に接続され前記ディジタル化された
高周波信号を周波数領域でディジタル的に処理して前記
試験対象を表す周波数領域信号を発生するプロセッサ手
段と、前記プロセッサ手段に接続されチャープＺ変換を用いて
前記周波数領域信号をほぼ実時間で時間領域信号に変換
する変換手段とを設けたことを特徴とするネットワーク・アナライザ
。
（２）特許請求の範囲第１項記載のネットワーク・アナ
ライザにおいて、前記プロセッサ手段に接続され前記周波数領域信号のベ
クトル誤差補正を行い前記コンバータ手段に関連する測
定誤差を除去する誤差補正手段を設け、前記変換手段によって変換される周波数領域信号が前記
誤差補正手段によってベクトル誤差補正されることを特徴とするネットワーク・アナライザ。
（３）特許請求の範囲第２項記載のネットワーク・アナ
ライザにおいて、前記時間領域信号をほぼ実時間で表示する表示手段を設
けたことを特徴とするネットワーク・アナライザ。
（４）特許請求の範囲第１項記載のネットワーク・アナ
ライザにおいて、前記変換手段に接続され前記周波数領域信号のたたみ込
みされた部分から前記時間領域信号の時間領域部分を選
択するゲート手段を設けたことを特徴とするネットワー
ク・アナライザ。
（５）特許請求の範囲第４項記載のネットワーク・アナ
ライザにおいて、前記時間領域信号の前記選択された部分をほぼ実時間で
表示する表示手段を設けたことを特徴とするネットワー
ク・アナライザ。
（６）特許請求の範囲第４項記載のネットワーク・アナ
ライザにおいて、前記ゲート手段に接続され前記時間領域信号の前記選択
された部分をゲートされた周波数領域信号として前記周
波数領域へ変換し戻す逆変換手段を設けたことを特徴と
するネットワーク・アナライザ。
（７）特許請求の範囲第６項記載のネットワーク・アナ
ライザにおいて、前記ゲートされた周波数領域信号をほぼ実時間で表示す
る表示手段を設けたことを特徴とするネットワーク・ア
ナライザ。
（８）特許請求の範囲第６項記載のネットワーク・アナ
ライザにおいて、前記時間領域信号の前記選択された部分と前記ゲートさ
れた周波数領域信号とをほぼ同時にほぼ実時間で表示す
る表示手段を設けたことを特徴とするネットワーク・ア
ナライザ。
（９）特許請求の範囲第２項記載のネットワーク・アナ
ライザにおいて、前記変換手段に接続され前記周波数領域信号のたたみ込
みされた部分から前記時間領域信号の時間領域部分を選
択するゲート手段を設けたことを特徴とするネットワー
ク・アナライザ。
（１０）特許請求の範囲第９項記載のネットワーク・ア
ナライザにおいて、前記時間領域信号の前記選択された部分をほぼ実時間で
表示する表示手段を設けたことを特徴とするネットワー
ク・アナライザ。
（１１）特許請求の範囲第９項記載のネットワーク・ア
ナライザにおいて、前記ゲート手段に接続され前記時間領域信号の前記選択
された部分をゲートされた周波数領域信号として前記周
波数領域へ変換し戻す逆変換手段を設けたことを特徴と
するネットワーク・アナライザ。
（１２）特許請求の範囲第１１項記載のネットワーク・
アナライザにおいて、前記ゲートされた周波数領域信号をほぼ実時間で表示す
る表示手段を設けたことを特徴とするネットワーク・ア
ナライザ。
（１３）特許請求の範囲第１１項記載のネットワーク・
アナライザにおいて、前記時間領域信号の前記選択された部分と前記ゲートさ
れた周波数領域信号とをほぼ同時にほぼ実時間で表示す
る表示手段を設けたことを特徴とするネットワーク・ア
ナライザ。
（１４）試験対象の応答を解析するネットワーク・アナ
ライザにおいて、前記試験対象を表す高周波信号をディジタル化するコン
バータ手段と、前記コンバータ手段に接続され前記ディジタル化された
高周波信号を周波数領域でディジタル的に処理して前記
試験対象を表す周波数領域信号を発生するプロセッサ手
段と、前記プロセッサ手段に接続され前記周波数領域信号を時
間領域信号に変換する変換手段と、前記変換手段に接続
され前記周波数領域信号のたたみ込みされた部分から前
記時間領域信号の時間領域部分を選択するゲート手段とを設けたことを特徴とするネットワーク・アナライザ
。
（１５）特許請求の範囲第１４項記載のネットワーク・
アナライザにおいて、前記時間領域信号の前記選択された部分を表示する表示
手段を設けたことを特徴とするネットワーク・アナライ
ザ。
（１６）特許請求の範囲第１４項記載のネットワーク・
アナライザにおいて、前記ゲート手段に接続され前記時間領域信号の前記選択
された部分をゲートされた周波数領域信号として前記周
波数領域へ変換し戻す逆変換手段を設けたことを特徴と
するネットワーク・アナライザ。
（１７）特許請求の範囲第１６項記載のネットワーク・
アナライザにおいて、前記ゲートされた周波数領域信号を表示する表示手段を
設けたことを特徴とするネットワーク・アナライザ。
（１８）特許請求の範囲第１６項記載のネットワーク・
アナライザにおいて、前記時間領域信号の前記選択された部分と前記ゲートさ
れた周波数領域信号とをほぼ同時に表示する表示手段を
設けたことを特徴とするネットワーク・アナライザ。
（１９）特許請求の範囲第１４項記載のネットワーク・
アナライザにおいて、前記プロセッサ手段に接続され前記周波数領域信号のベ
クトル誤差補正を行い前記コンバータ手段に関連する測
定誤差を除去する誤差補正手段を設け、前記変換手段によって変換される周波数領域信号が前記
誤差補正手段によってベクトル誤差補正されることを特
徴とするネットワーク・アナライザ。
（２０）特許請求の範囲第１９項記載のネットワーク・
アナライザにおいて、前記周波数領域の前記選択された部分を表示する表示手
段を設けたことを特徴とするネットワーク・アナライザ
。
（２１）特許請求の範囲第１９項記載のネットワーク・
アナライザにおいて、前記ゲート手段に接続され前記時間領域信号の前記選択
された部分をゲートされた周波数領域信号として前記周
波数領域へ変換し戻す逆変換手段を設けたことを特徴と
するネットワーク・アナライザ。
（２２）特許請求の範囲第２１項記載のネットワーク・
アナライザにおいて、前記ゲートされた周波数領域信号を表示する表示手段を
設けたことを特徴とするネットワーク・アナライザ。
（２３）特許請求の範囲第２１項記載のネットワーク・
アナライザにおいて、前記時間領域信号の前記選択された部分と前記ゲートさ
れた周波数領域信号とをほぼ同時に表示する表示手段を
設けたことを特徴とするネットワーク・アナライザ。
（２４）試験対象の応答を解析するネットワーク・アナ
ライザにおいて、数値データ入力用の数値キーと数値データ入力終結を指
示する複数個の終結キーを有し該終結キーの各々には前
記数値の重みを指示する一対の互いに逆数関係にある指
数が関連付けられている様に構成されたキーボードと、前記終結キーに接続され前記一対の互いに逆数関係にあ
る指数の一方を選択するプロセッサ手段とを設けたこと
を特徴とするネットワーク・アナライザ。
（２５）試験対象の応答を解析するネットワーク・アナ
ライザにおいて、使用頻度が高い測定データ処理機能を選択するための複
数個の専用のファンクション・キーと、前記ファンクション・キーの少なくとも１つとともに用
いられ使用頻度が少ない測定データ処理機能を選択する
ための複数個のメニュー・キーとを設けたことを特徴とするネットワーク・アナライザ
。
（２６）特許請求の範囲第２５項記載のネットワーク・
アナライザにおいて、前記メニュー・キーの各々には機能及び名前が対応付け
られた複数のソフト・キーを有し、前記機能及び名前は
前記プロセッサによって変更されることを特徴とするネットワーク・アナライザ。
（２７）試験対象の応答を解析するネットワーク・アナ
ライザにおいて、測定データをディジタル的に処理するプロセッサと、前記プロセッサに接続され前記ディジタル的に処理され
た測定データを記憶するメモリ手段と、前記プロセッサ及びメモリ手段に接続され前記測定デー
タの２つのトレースを並べてほぼ同時に可視的に表示す
る表示手段とを設けたことを特徴とするネットワーク・アナライザ
。
（２８）特許請求の範囲第２７項記載のネットワーク・
アナライザにおいて、前記並べて表示されるトレースの各々は実時間データで
あることを特徴とするネットワーク・アナライザ。
（２９）特許請求の範囲第２７項記載のネットワーク・
アナライザにおいて、前記並べて表示されるトレースの各々は前記メモリ手段
に記憶された過去の測定データであることを特徴とする
ネットワーク・アナライザ。
（３０）特許請求の範囲第２７項記載のネットワーク・
アナライザにおいて、前記並べて表示されるトレースの一方は実時間データで
あり他方は前記メモリ手段に記憶された過去の測定デー
タであることを特徴とするネットワーク・アナライザ。
（３１）特許請求の範囲第２７項記載のネットワーク・
アナライザにおいて、前記プロセッサに接続され前記表示手段上の並べて表示
されたトレースのハード・コピー出力を作成するプロッ
タ手段を設けたことを特徴とするネットワーク・アナラ
イザ。
（３２）特許請求の範囲第３１項記載のネットワーク・
アナライザにおいて、前記プロッタ手段は前記表示手段上の並べて表示された
トレースの複数組のハード・コピー出力を作成すること
を特徴とするネットワーク・アナライザ。
（３３）試験対象の応答を解析するネットワーク・アナ
ライザにおいて、測定データをディジタル的に処理するプロセッサと、前記プロセッサに接続され前記測定データのトレースを
可視的に表示する表示手段を設け、前記表示手段は表示
されたトレース上に基準マーカとデータ・マーカとを表
示し、前記測定データのトレースの振幅値の前記両マーカ間で
の差を測定することを特徴とするネットワーク・アナライザ。
（３４）特許請求の範囲第３３項記載のネットワーク・
アナライザにおいて、前記基準マーカ及びデルタ・マーカの位置を選択するた
めのキーボードを設けたことを特徴とするネットワーク
・アナライザ。
（３５）試験対象の応答を解析するネットワーク・アナ
ライザにおいて、測定データをディジタル的に処理するプロセッサと、前記プロセッサに接続され前記測定データのトレースを
表示するとともに該トレース上にマーカを表示し該マー
カ位置のトレースの現在の値を表示する表示手段と、前記プロセッサに接続され値キーとイコール・マーカ・
キーとを有するキーボードとを設け、前記値キーとイコ
ール・マーカ・キーとを連続して付勢することにより前
記マーカ位置のトレースの現在位置が前記値キーの値と
して前記プロセッサに入力されることを特徴とするネットワーク・アナライザ。
（３６）試験対象の応答を解析するネットワーク・アナ
ライザにおいて、高周波刺激信号を前記試験対象へ導く電子スイッチを有
する信号分離手段と、前記信号分離手段に接続され前記測定対象の反射あるい
は伝達高周波応答を選択する応答経路選択手段と、前記応答経路選択手段に接続され前記高周波応答を中間
周波信号へ変換する周波数変換手段とを有する信号分離
回路を設けたことを特徴とするネットワーク・アナライ
ザ。
（３７）試験対象の応答を解析するネットワーク・アナ
ライザにおいて、高周波信号を前記試験対象へ接続される第１及び第２の
試験ポートへ逆転可能に導く信号逆転手段と、前記第１及び第２の試験ポートに接続され前記試験対象
の反射及び伝達高周波応答をサンプルする第１及び第２
信号サンプリング手段と、前記信号逆転手段に接続され
夫々前記試験対象に入射される高周波信号と前記試験対
象を通して伝達される高周波信号を表わす第１及び第２
基準信号を供給する第１及び第２基準パスと、前記第１
及び第２基準パスに接続され前記第１及び第２基準信号の一方を選択する基準パス選択手
段と、前記基準パス選択手段に接続され前記第１及び第２基準
信号の選択された一方に応答して前記試験対象の反射及
び伝達高周波応答を中間周波信号へ変換する周波数コン
バータ手段とを設けたことを特徴とするネットワーク・アナライザ
。
（３８）特許請求の範囲第３７項記載のネットワーク・
アナライザにおいて、前記信号逆転手段はＰＩＮダイオード電子スイッチを有
することを特徴とするネットワーク・アナライザ。
（３９）特許請求の範囲第３８項記載のネットワーク・
アナライザにおいて、信号逆転スイッチとセレクタ・スイッチとを連帯的に付
勢して前記試験対象のＳパラメータの完全な測定を行う
ようにしたネットワーク・アナライザ。
（４０）試験対象の応答を解析するネットワーク・アナ
ライザにおいて、信号分離回路を設け、該信号分離回路は、高周波信号を受信する高周波入力ポートと、前記高周波
入力ポートに接続され第１高周波基準信号を与える第１
基準パスと、前記高周波入力ポートに接続された逆転スイッチと、前記逆転スイッチに接続され前記高周波信号を前記試験
対象に逆転可能に導く第１及び第２試験ポートとを有し
、前記逆転スイッチと第１試験ポートとの間で前記基準パ
スは更に前記高周波信号に接続され、更に、前記第１試験ポートに接続され前記試験対象から前記第
１試験ポートに入力された高周波信号より第１高周波サ
ンプル信号を導出する第１サンプリング手段と、前記第２試験ポートに接続され前記試験対象から前記第
２試験ポートに入力された高周波信号より第２高周波サ
ンプル信号を導出する第２サンプリング手段と、前記逆転スイッチと第２試験ポート間の前記高周波信号
に接続され第２高周波基準信号を与える第２基準パスと
、前記第１及び第２高周波基準信号及び前記第１及び第２
高周波サンプル信号を夫々第１及び第２中間周波信号及
び第１及び第２中間周波サンプル信号に変換する周波数
変換器とを有することを特徴とするネットワーク・アナライザ
。
（４１）特許請求の範囲第４０項記載のネットワーク・
アナライザにおいて、前記逆転スイッチとセレクタ・スイッチとを連帯的に付
勢して前記試験対象のＳパラメータの完全な測定を行うように
したことを特徴とするネットワーク・アナライザ。
（４２）特許請求の範囲第４０項記載のネットワーク・
アナライザにおいて、前記信号分離回路に位相ロック手段の第２入力ポートを
前記第１中間周波基準信号あるいは第２中間周波基準信
号に選択的に結合して前記第１中間周波基準信号あるい
は第２中間周波基準信号を選択的に基準発振器信号に位
相ロックさせる選択スイッチを設けたことを特徴とする
ネットワーク・アナライザ。
（４３）特許請求の範囲第４０項記載のネットワーク・
アナライザにおいて、前記逆転スイッチはＰＩＮダイオード電子スイッチを有
することを特徴とするネットワーク・アナライザ。
（４４）特許請求の範囲第４０項記載のネットワーク・
アナライザにおいて、前記セレクタ・スイッチは電子スイッチを有することを
特徴とするネットワーク・アナライザ。
（４５）特許請求の範囲第４０項記載のネットワーク・
アナライザにおいて、前記第１及び第２サンプリング手段は方向性結合器を有
することを特徴とするネットワーク・アナライザ。
（４６）特許請求の範囲第４０項記載のネットワーク・
アナライザにおいて、前記第１及び第２サンプリング手段は方向性ブリッジを
有することを特徴とするネットワーク・アナライザ。
（４７）特許請求の範囲第４０項記載のネットワーク・
アナライザにおいて、前記周波数変換器に基準発振器信号を受信する第１入力ポートを有する位相
ロック手段と、前記基準発振器信号に位相ロックされるべき信号を受信
する第２入力ポートとを設けたことを特徴とするネットワーク・アナライザ
。
（４８）特許請求の範囲第４７項記載のネットワーク・
アナライザにおいて、前記信号分離回路に前記逆転スイッチとセレクタ・スイ
ッチとを連帯的に付勢して前記試験対象のＳパラメータ
の完全な測定を行うようにした制御手段を設けたことを
特徴とするネットワーク・アナライザ。
（４９）特許請求の範囲第４７項記載のネットワーク・
アナライザにおいて、前記信号分離回路に、前記位相ロック手段の第２入力ポ
ートを前記第１中間周波基準信号あるいは第２中間周波
基準信号に選択的に接続して前記第１中間周波基準信号
あるいは第２中間周波信号を選択的に前記基準発振器信
号に位相ロックさせることを特徴とするネットワーク・
アナライザ。
（５０）特許請求の範囲第４７項記載のネットワーク・
アナライザにおいて、前記逆転スイッチはＰＩＮダイオード電子スイッチを有
することを特徴とするネットワーク・アナライザ。
（５１）特許請求の範囲第４７項記載のネットワーク・
アナライザにおいて、前記セレクタ・スイッチは電子スイッチを有することを
特徴とするネットワーク・アナライザ。
（５２）特許請求の範囲第４７項記載のネットワーク・
アナライザにおいて、前記第１および第２のサンプリング手段は方向性結合器
を有することを特徴とするネットワーク・アナライザ。
（５３）特許請求の範囲第４７項記載のネットワーク・
アナライザにおいて、前記第１および第２のサンプリング手段は方向性ブリッ
ジを有することを特徴とするネットワーク・アナライザ
。
（５４）試験対象の応答を解析するネットワーク・アナ
ライザにおいて、同期検波器の対と、前記同期検波器の出力を互いに結合するマルチプレクサ
と、前記マルチプレクサに接続されたサンプル・ホールド回
路と、前記マルチプレクサの出力をディジタル化するアナログ
・ディジタル変換器と、中間周波列として結合された前記同期検波器とサンプル
・ホールド回路とアナログ・ディジタル変換器に接続さ
れ該中間周波列の複素ゲイン及びオフセットをディジタ
ル的に較正する較正手段とを設けたことを特徴とするネットワーク・アナライザ
。
（５５）試験対象の応答を解析するネットワーク・アナ
ライザにおいて、縦続接続された複数の増幅器と該増幅器に結合され互い
に並列接続された同期検波器の対とを含む中間周波列と
、前記中間周波列に接続されて中間周波列の真のベクトル
・ゲインを定めるベクトル・ゲイン手段とを有し、前記ベクトル・ゲイン手段は前記縦続接続された複数の増幅器のゲインをオフにする
第１の手段と、前記縦続接続された複数の増幅器の入力を接地する第２
の手段と、４通りの位相オフセット０°、９０°、１８０°、２７
０°の各々について前記同期検波器の出力を測定して前
記中間周波列の測定されるオフセットを定める第３の手
段と、前記同期検波器の各々について前記４通りの位相オフセ
ット値を平均して前記中間周波列のオフセットの真の複
素値を計算する第４の手段とを有することを特徴とする
ネットワーク・アナライザ。
（５６）特許請求の範囲第５５項記載のネットワーク・
アナライザにおいて、前記ベクトル・ゲイン手段は更に、前記縦続接続された複数の増幅器の１つのゲインをオン
にする第５の手段と、前記縦続接続された複数の増幅器の入力に較正周波数信
号を与える第６の手段と、前記４通りの位相オフセットの各々について前記同期検
波器の出力を測定して前記１つの増幅器のゲインがオン
になっている中間周波列の複素ゲインを定める第７の手
段と、前記中間周波列のオフセットの真の複素値を減算して前
記１つの増幅器のゲインがオンになっている状態で測定
された複素ゲインのオフセット補正された値を定める第
８の手段と、前記オフセット補正された値の最小自乗誤差近似を計算
して前記１つの増幅器のゲインがオンになっている中間
周波列の複素ゲインの真の複素値を定める第９の手段とを有することを特徴とするネットワーク・アナライザ
。
（５７）特許請求の範囲第５６項記載のネットワーク・
アナライザにおいて、前記ベクトル・ゲイン手段は更に、前記縦続接続された複数の増幅器中のゲインをオンにす
る増幅器を切換えながら前記第５ないし第９の手段をく
りかえし作用させる第１０の手段と、前記複数の増幅器の各々について得られた前記真の複素
値を乗算して前記中間周波列全体の複素ゲインの真の複
素値を計算する第１１の手段とを設けたことを特徴とするネットワーク・アナライザ
。
（５８）試験対象の応答を解析するネットワーク・アナ
ライザにおいて、高周波信号源と、前記高周波信号源及び高周波信号源に接続されたテスト
・セットと、主アナライザとを設け、前記高周波信号源は、高周波信号出力と、前記高周波信号源の動作を制御するとともに、前記高周
波信号出力の周波数変化及び再トレースの制御を行う手
段を含む第１制御手段と、前記第１制御手段に接続され
前記高周波信号源との交信を行う第１ハンドシェーク手
段とを有し、前記テスト・セットは、アナログ信号出力と、前記テスト・セットの動作を制御する第２制御手段と、前記第２制御手段に接続され前記テスト・セットとの交
信を行う第２ハンドシェーク手段とを有し、前記主アナライザは、前記テスト・セットのアナログ信号出力に接続されたア
ナログ信号入力と、前記アナログ信号入力をディジタル化してディジタル化
された出力信号を与えるアナログ・ディジタル変換器と
、前記第１及び第２ハンドシェーク手段と接続された第３
ハンドシェーク手段と、前記第３ハンドシェーク手段及びアナログ・ディジタル
変換器に接続され前記高周波信号源の周波数変化を選択
するとともに前記高周波信号出力の周波数変化及び再ト
レースの間に前記ディジタル化された測定出力信号の処
理を行うプロセッサとを有することを特徴とするネットワーク・アナライザ。
（５９）特許請求の範囲第５８項記載のネットワーク・
アナライザにおいて、前記第１、第２及び第３ハンドシェーク手段は夫々共通
の交信バスに接続されるディジタル・インタフェース回
路を有することを特徴とするネットワーク・アナライザ
。
（６０）特許請求の範囲第５８項記載のネットワーク・
アナライザにおいて、単一のフロント・パネルと、前記フロント・パネルの内部動作を制御する第３制御手
段と、前記フロント・パネルに接続され更に前記第３ハンドシ
ェーク手段を介して前記プロセッサに接続され使用者が
前記フロント・パネルから前記高周波信号源とテスト・
セットと主アナライザとを操作できるようにする第４ハ
ンドシェーク手段とを設けたことを特徴とするネットワーク・アナライザ
。
（６１）特許請求の範囲第６０項記載のネットワーク・
アナライザにおいて、前記第１、第２、第３及び第４ハンドシェーク手段は夫
々共通のディジタル交信バスに接続されるディジタル・
インタフェース回路を有することを特徴とするネットワ
ーク・アナライザ。
（６２）試験対象の応答を解析するネットワーク・アナ
ライザにおいて、オープン高周波応答を測定してディジタル的に記憶する
第１の手段と、ショート高周波応答を測定してディジタル的に記憶する
第２の手段と、負荷高周波応答を測定してディジタル的に記憶する第３
の手段とを設けて較正を行うことにより、高周波応答の測定を任意の順序でできる様にしたことを
特徴とするネットワーク・アナライザ。
（６３）特許請求の範囲第６２項記載のネットワーク・
アナライザにおいて、前記ディジタル的に記憶された高周波応答を用いてネッ
トワーク・アナライザの高周波応答を計算することを特
徴とするネットワーク・アナライザ。
（６４）試験対象の応答を解析するネットワーク・アナ
ライザにおいて、オフセット・ショート高周波応答を測定してディジタル
的に記憶する第１の手段と、ショート高周波応答を測定してディジタル的に記憶する
第２の手段と、負荷高周波応答を測定してディジタル的に記憶する第３
の手段とを設けて較正を行うことにより、高周波応答の測定を任意の順序でできる様にしたことを特徴とするネットワーク・アナライザ。
（６５）特許請求の範囲第６４項記載のネットワーク・
アナライザにおいて、前記ディジタル的に記憶された高周波応答を用いてネッ
トワーク・アナライザの高周波応答を計算することを特
徴とするネットワーク・アナライザ。
（６６）試験対象の応答を解析するネットワーク・アナ
ライザにおいて、複数のオフセット・ショート高周波応答を測定してディ
ジタル的に記憶する手段を設けて較正を行うことにより
、高周波応答の測定を任意の順序でできる様にしたことを
特徴とするネットワーク・アナライザ。
（６７）特許請求の範囲第６６項記載のネットワーク・
アナライザにおいて、前記ディジタル的に記憶された高周波応答を用いてネッ
トワーク・アナライザの高周波応答を計算することを特
徴とするネットワーク・アナライザ。
（６８）試験対象の応答を解析するネットワーク・アナ
ライザにおいて、任意の３つの較正規準の高周波応答を任意の順序で測定
してディジタル的に記憶する手段を設けて較正を行う様
にしたことを特徴とするネットワーク・アナライザ。
（６９）特許請求の範囲第６８項記載のネットワーク・
アナライザにおいて、前記ディジタル的に記憶された高周波応答を用いてネッ
トワーク・アナライザの高周波応答を計算することを特
徴とするネットワーク・アナライザ。
（７０）試験対象の応答を解析するネットワーク・アナ
ライザにおいて、測定のための構成情報を入力するキーボードと、前記キーボードに接続され前記構成情報を階層的木とし
て記憶する木構造化メモリを有するプロセッサとを設け、前記構成情報を自動的に退避し再呼出しすることを特徴
とするネットワーク・アナライザ。
（７１）特許請求の範囲第７０項記載のネットワーク・
アナライザにおいて、前記階層的木は測定を行う複数のチャネルと、前記チャネルの各々についての複数の測定パラメータと
、前記測定パラメータの各々についての複数の表示フォー
マットと、前記表示フォーマットの各々についての複数のスケール
応答とを有することを特徴とするネットワーク・アナライザ
。
（７２）特許請求の範囲第７１項記載のネットワーク・
アナライザにおいて、前記複数の測定パラメータはＳ＿１＿１、Ｓ＿１＿２、
Ｓ＿２＿１、Ｓ＿２＿２を含むことを特徴とするネット
ワーク・アナライザ。
（７３）特許請求の範囲第７１項記載のネットワーク・
アナライザにおいて、前記複数の表示フォーマットは対数表示、位相表示、群
遅延表示及びスミス・チャートを含むことを特徴とする
ネットワーク・アナライザ。
（７４）特許請求の範囲第７１項記載のネットワーク・
アナライザにおいて、前記複数のスケール応答はスケール／区分、基準値、基
準位置及び自動スケーリングを含むことを特徴とするネ
ットワーク・アナライザ。
（７５）試験対象の応答を解析するネットワーク・アナ
ライザにおいて、前記試験対象の群遅延を測定して複数の群遅延データ点
を与える手段と、前記複数の群遅延データ点を平滑して前記群遅延の測定
に用いられる等価アパーチャを変化させ、もって前記群
遅延の測定の雑音含有量を変化させる手段とを設け、群
遅延アパーチャを計算することを特徴とするネットワー
ク・アナライザ。
（７６）特許請求の範囲第７５項記載のネットワーク・
アナライザにおいて、前記平滑操作を少なくとも３つの隣接する前記群遅延デ
ータ点に対して行うことにより、前記等価アパーチャ内
にわたっての１８０°よりも大きな位相変化を達成する
ことができることを特徴とするネットワーク・アナライ
ザ。
（７７）試験対象の応答を解析するネットワーク・アナ
ライザにおいて、出力周波数を変化させまた該出力周波数を出発周波数に
戻すとともに該出力周波数の変化においては少なくとも
１周期の遊び時間を持たせる手段を備える高周波信号源
と、前記高周波信号源に接続され前記試験対象の高周波応答
を表す取込みディジタル・データ点を与える信号手段と
、前記高周波源及び信号手段に接続され前記ディジタル・
データ取込み点間の前記遊び時間の間に前記取込みディ
ジタル・データ点を表示データへ変換する表示手段とを設けたことを特徴とするネットワーク・アナライザ
。
（７８）特許請求の範囲第７７項記載のネットワーク・
アナライザにおいて、前記信号手段、高周波源及び表示手段間での交信のため
の専用内部バスを設けたことを特徴とするネットワーク
・アナライザ。
（７９）特許請求の範囲第７７項記載のネットワーク・
アナライザにおいて、前記信号手段は、前記取込みディジタル・データ点からほぼ実時間でシス
テム誤差を除去する中央処理装置と、前記中央処理装置
に接続され前記取込みディジタル・データ点をベクトル
量として数学的に処理するベクトル算術プロセッサとを有することを特徴とするネットワーク・アナライザ
。
（８０）特許請求の範囲第７７項記載のネットワーク・
アナライザにおいて、前記表示手段は、可視表示器と、前記可視表示器上へ表示されるべきデータをフォーマッ
トするための命令の組を記憶する表示メモリと、前記表示メモリ内に記憶された命令の組に従って前記取
込みデータ点を処理する表示制御装置とを有することを特徴とするネットワーク・アナライザ
。