JPS6134434A - 漏洩率を測定する方法 - Google Patents
漏洩率を測定する方法Info
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- JPS6134434A JPS6134434A JP8558285A JP8558285A JPS6134434A JP S6134434 A JPS6134434 A JP S6134434A JP 8558285 A JP8558285 A JP 8558285A JP 8558285 A JP8558285 A JP 8558285A JP S6134434 A JPS6134434 A JP S6134434A
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01M3/00—Investigating fluid-tightness of structures
- G01M3/02—Investigating fluid-tightness of structures by using fluid or vacuum
- G01M3/26—Investigating fluid-tightness of structures by using fluid or vacuum by measuring rate of loss or gain of fluid, e.g. by pressure-responsive devices, by flow detectors
- G01M3/32—Investigating fluid-tightness of structures by using fluid or vacuum by measuring rate of loss or gain of fluid, e.g. by pressure-responsive devices, by flow detectors for containers, e.g. radiators
- G01M3/3236—Investigating fluid-tightness of structures by using fluid or vacuum by measuring rate of loss or gain of fluid, e.g. by pressure-responsive devices, by flow detectors for containers, e.g. radiators by monitoring the interior space of the containers
- G01M3/3254—Investigating fluid-tightness of structures by using fluid or vacuum by measuring rate of loss or gain of fluid, e.g. by pressure-responsive devices, by flow detectors for containers, e.g. radiators by monitoring the interior space of the containers using a flow detector
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明は、テスト・ピース中のキャビティの漏洩試験に
関するもので、特に、テストピースのキャビティを流体
圧力源に連絡させて配置し、定常状態の流れの条件を確
立するのに充分な予め定められたR間後に圧力源から被
験キャビティへ向う流量率を測定してこのような漏洩率
を測定する方法に関するものであり、このような流量率
はテスト・ピースのキャビティからの流量率に対応する
ものである。
関するもので、特に、テストピースのキャビティを流体
圧力源に連絡させて配置し、定常状態の流れの条件を確
立するのに充分な予め定められたR間後に圧力源から被
験キャビティへ向う流量率を測定してこのような漏洩率
を測定する方法に関するものであり、このような流量率
はテスト・ピースのキャビティからの流量率に対応する
ものである。
[従来の技術とその問題点]
テストピースのキャビティへの流れの測定を″利用した
この種の検出器としては、ウエスタベルト(Weste
rvelt)等の米国特許NG 3,872,712と
、ディバー(Daver )の3,691,821に述
べられている。この方法は、キャビティが加圧され、次
いで圧力源から分離される、゛圧力減衰゛′漏
1洩率試験と呼ばれる別の方法とは対照をなすものであ
り、キャビティ内の圧力からの減衰率が、テストピース
のキャビティの漏洩率を与えるというものである。圧力
減衰システムの一例をストラング(StranO)への
米国特許k 3,331,237に示す。
この種の検出器としては、ウエスタベルト(Weste
rvelt)等の米国特許NG 3,872,712と
、ディバー(Daver )の3,691,821に述
べられている。この方法は、キャビティが加圧され、次
いで圧力源から分離される、゛圧力減衰゛′漏
1洩率試験と呼ばれる別の方法とは対照をなすものであ
り、キャビティ内の圧力からの減衰率が、テストピース
のキャビティの漏洩率を与えるというものである。圧力
減衰システムの一例をストラング(StranO)への
米国特許k 3,331,237に示す。
これまでは、圧力減衰システムは、試験終了までの要す
る時間が長いという欠点があるものと考えられてきた。
る時間が長いという欠点があるものと考えられてきた。
これに対して、空気流タイプのシステムは、試験時間が
短いという利点を持っている。
短いという利点を持っている。
フロー・タイプの漏洩試験においては、テスト・キャビ
ティ内の圧力を急速に上昇させることのできる、圧力源
関係のプレフィル回路が準備されていることが多い。プ
レフィル回路は、短い′″プレフィル″時間内に結合さ
れる大容積の流路から構成されており、その後、圧力源
との連絡は、テストピースへの流量率を測定する比較的
小さなキャビティ流路によって専用的に行なわれる。こ
のプレフィリングの操作と、その後のプレフィル回路を
圧力源からの切り離し操作のために、キャビティが完全
□に加圧されるにつれて、流ω率測定用流路には、複雑
な移動性の過渡流の状態が生じる。
ティ内の圧力を急速に上昇させることのできる、圧力源
関係のプレフィル回路が準備されていることが多い。プ
レフィル回路は、短い′″プレフィル″時間内に結合さ
れる大容積の流路から構成されており、その後、圧力源
との連絡は、テストピースへの流量率を測定する比較的
小さなキャビティ流路によって専用的に行なわれる。こ
のプレフィリングの操作と、その後のプレフィル回路を
圧力源からの切り離し操作のために、キャビティが完全
□に加圧されるにつれて、流ω率測定用流路には、複雑
な移動性の過渡流の状態が生じる。
この改良にも拘らず、流量率測定用流路内に定常状態を
達成するために、なお相当な時間間隔が必要となる。こ
れまでの方法は、過渡流れの状態が確定し、流量測定用
流路内に定常状態の層流条件が存在するようになってか
ら流量率を測定するというものであった。
達成するために、なお相当な時間間隔が必要となる。こ
れまでの方法は、過渡流れの状態が確定し、流量測定用
流路内に定常状態の層流条件が存在するようになってか
ら流量率を測定するというものであった。
その代表的なものは、層流エレメントを前述の流量率測
定用流路内に置いて、エレメントにかかる差圧を測定し
て流、量率を決定するものである。
定用流路内に置いて、エレメントにかかる差圧を測定し
て流、量率を決定するものである。
この型の層流装置の例については、ミラー()fill
ar)の米国特許NO3,123,900を参照のこと
。
ar)の米国特許NO3,123,900を参照のこと
。
プレフィル回路によって、テストピースのキャビティを
加圧するのに要する時間を低減することができるが、こ
れは、実質的に閉じた容積をもつキャビティにおいては
特にかなりの値となる。しかしながら、定常状態の流れ
の条件が確定するのを待つことが必要であるということ
は、また同時に、漏洩試験を行なうのに比較的長い時間
が必要であるということでもある。
加圧するのに要する時間を低減することができるが、こ
れは、実質的に閉じた容積をもつキャビティにおいては
特にかなりの値となる。しかしながら、定常状態の流れ
の条件が確定するのを待つことが必要であるということ
は、また同時に、漏洩試験を行なうのに比較的長い時間
が必要であるということでもある。
[発明の目的]
従って、流量漏洩試験法を用いて、しかも定常状態の流
量率を決定するのに必要な時間を従来の方法よりも短く
するような漏洩率測定法を提供すること、ならびに信頼
性が高く、正確な結果を与え、かつテストピースの配置
およびテスト・パラメータの変化にも容易に適応するこ
とのできる方法を提供することが、本発明の1つの目的
である。
量率を決定するのに必要な時間を従来の方法よりも短く
するような漏洩率測定法を提供すること、ならびに信頼
性が高く、正確な結果を与え、かつテストピースの配置
およびテスト・パラメータの変化にも容易に適応するこ
とのできる方法を提供することが、本発明の1つの目的
である。
[発明の概要]
本発明の上記目的ならびにその他の目的は以下の明細書
および特許請求の範囲を読めば明らかになるであろうが
、これらの目的は、定常状態の流れの条件が確立される
前にテストピースのキャビティへ流れ込む流量率を測定
して、この流量率の測定値を対応する定常状態の流量率
に変換することによって達成することができる。この変
換は、サンプル・テストピースに対して行なったキャリ
ブレーション・テストからキャリブレーション関数を発
生させることにより行なうことができる。
および特許請求の範囲を読めば明らかになるであろうが
、これらの目的は、定常状態の流れの条件が確立される
前にテストピースのキャビティへ流れ込む流量率を測定
して、この流量率の測定値を対応する定常状態の流量率
に変換することによって達成することができる。この変
換は、サンプル・テストピースに対して行なったキャリ
ブレーション・テストからキャリブレーション関数を発
生させることにより行なうことができる。
空気□回路によってゼロ漏洩試験部分を加圧して、ゼロ
漏洩試験部分のキャビティへ流れ込む流量率をテスト・
サイクル内の時刻tにおいて測定する。
漏洩試験部分のキャビティへ流れ込む流量率をテスト・
サイクル内の時刻tにおいて測定する。
時刻tは、実験などによって、ある定められたテストピ
ースの配置に対しては、その流量率が繰り返し再現でき
るような、サイクル時間中の最も早い点になるように予
め決定してお(。
ースの配置に対しては、その流量率が繰り返し再現でき
るような、サイクル時間中の最も早い点になるように予
め決定してお(。
一方、既知の漏洩率をもつ第二のサンプル・テストピー
スの漏洩試験をキャリブレーション・テスト中に行ない
、同一時刻tにおける流量率を決定する。
スの漏洩試験をキャリブレーション・テスト中に行ない
、同一時刻tにおける流量率を決定する。
次に、キャリブレーション・テストのデータからy=A
+Bxという形の線形キャリブレーション関数を導く。
+Bxという形の線形キャリブレーション関数を導く。
ここで、yは定常状態の流量率、Xはテスト・サイクル
中の時刻tにおける流量率であり、AおよびBはキャリ
ブレーション・テストのデータから針幹した定数である
。その後の漏洩試験中に、テストピースへ流れ込む時刻
tにおける流量率を測定し、この値をマイクロプロセッ
サなどを用いてキャリブレーション関数に基づいて、対
応する定常状態の流量率に変換する。
中の時刻tにおける流量率であり、AおよびBはキャリ
ブレーション・テストのデータから針幹した定数である
。その後の漏洩試験中に、テストピースへ流れ込む時刻
tにおける流量率を測定し、この値をマイクロプロセッ
サなどを用いてキャリブレーション関数に基づいて、対
応する定常状態の流量率に変換する。
定常状態の流量率の計算値は予め定められた″゛許容″
および゛拒絶″漏洩率値と比較されて、漏洩率テストピ
ースに対応する定常状態流量率の計棹値と共に表示され
る。
および゛拒絶″漏洩率値と比較されて、漏洩率テストピ
ースに対応する定常状態流量率の計棹値と共に表示され
る。
流れ試験装置は二本の並行な流路を設けることができ、
それぞれ1つの空気圧力源と結合させる。
それぞれ1つの空気圧力源と結合させる。
そのうちの1つは迅速なプレフィル手段から構成され、
もう1つの流路は容積が小さく、これを通して流量率の
測定を行なう。予め定められた漏れを持つテストピース
は、キャリブレーション・テストが、単一のゼロ濡洩サ
ンプル・テストピースについて行なえるように、空気回
路から流量計を経て制御された漏れを与えることによっ
てシミュレートすることができる。
もう1つの流路は容積が小さく、これを通して流量率の
測定を行なう。予め定められた漏れを持つテストピース
は、キャリブレーション・テストが、単一のゼロ濡洩サ
ンプル・テストピースについて行なえるように、空気回
路から流量計を経て制御された漏れを与えることによっ
てシミュレートすることができる。
[実施例]
第1図を見ると、フロー・タイプの漏洩試験において使
用される漏洩試験用装置の基本コンポーネントが、ブロ
ック図で示しである。これは、ポート流路14の上流に
置くなどしてテストピース12のキャビティと連絡する
ように配置されだ液圧源10から構成されている。また
、ポート流路14は、一対の並行流路16および18に
よって圧力?1110と連絡しており、流路16は、テ
スト・ボート14に比較的大容積の流路を提供するプレ
フィル回路から構成されている。液圧源10がらプレフ
ィル流路16を経てテスト・ボート14までの間は、テ
スト・サイクルの始めに弁2oを開き、テストピース1
2内のキャビティを迅速に加圧することのできるタイマ
22によって活性化される弁20を用いて制御される、
バイパス時間と呼ばれる予め定められた時間後に、タイ
マ22は弁20を閉じ、圧力源1oがらプレフィル流路
16を経てテストピース12に至るまでの連絡を遮断す
る。
用される漏洩試験用装置の基本コンポーネントが、ブロ
ック図で示しである。これは、ポート流路14の上流に
置くなどしてテストピース12のキャビティと連絡する
ように配置されだ液圧源10から構成されている。また
、ポート流路14は、一対の並行流路16および18に
よって圧力?1110と連絡しており、流路16は、テ
スト・ボート14に比較的大容積の流路を提供するプレ
フィル回路から構成されている。液圧源10がらプレフ
ィル流路16を経てテスト・ボート14までの間は、テ
スト・サイクルの始めに弁2oを開き、テストピース1
2内のキャビティを迅速に加圧することのできるタイマ
22によって活性化される弁20を用いて制御される、
バイパス時間と呼ばれる予め定められた時間後に、タイ
マ22は弁20を閉じ、圧力源1oがらプレフィル流路
16を経てテストピース12に至るまでの連絡を遮断す
る。
また、テスト・ポート14は、そこを通して連絡し、弁
24によって制御することのできる比較的容積の小さい
流路18によって圧力源1oと連絡するよう配置されて
いる。小容積の流路18は、サイクルのプレフィル操作
が終了した後、そこを通じて流量の測定が行なわれる流
路がら構成されている。
24によって制御することのできる比較的容積の小さい
流路18によって圧力源1oと連絡するよう配置されて
いる。小容積の流路18は、サイクルのプレフィル操作
が終了した後、そこを通じて流量の測定が行なわれる流
路がら構成されている。
これは、流路18の流量率に対応するとともに、流量率
トランスデユーサ28によって伝達される信号から対応
する流量率を発生するマイクロブ[]セセラおよびディ
スプレイ30に伝達される電気信号を発生する流量測定
用素子28によつ゛て達成することができる。
トランスデユーサ28によって伝達される信号から対応
する流量率を発生するマイクロブ[]セセラおよびディ
スプレイ30に伝達される電気信号を発生する流量測定
用素子28によつ゛て達成することができる。
このような目的に適ったトランスデユーかとしては、流
路内の流量率に対応する差圧を発生する米国特許Nα3
.123.900に記載されている前述の差圧測定素子
のように、その方面の技術に精通した人々にはよく知ら
れたものがいろいろある。
路内の流量率に対応する差圧を発生する米国特許Nα3
.123.900に記載されている前述の差圧測定素子
のように、その方面の技術に精通した人々にはよく知ら
れたものがいろいろある。
定常状態の条件の下での流路18の流量率を測定する場
合、テストピース・キャビティからの漏洩率は、当分野
の技術を熟知した人々には周知のやり方で測定される。
合、テストピース・キャビティからの漏洩率は、当分野
の技術を熟知した人々には周知のやり方で測定される。
第2図を見ると、テスト・サイクルの進行に伴う、流路
18の流量率の変化を理解することができる。典型的な
流路18の流れは、第2図に示したプレフィルまたはバ
イパス時間中はサージ状態で、その後減衰するが、弁2
0の閉止後再び増加に転じてピークに達し、その後減衰
しながら、平衡時間後に終には定常状態流の条件に達す
る。この様子は、すべて第2図に示されている。
18の流量率の変化を理解することができる。典型的な
流路18の流れは、第2図に示したプレフィルまたはバ
イパス時間中はサージ状態で、その後減衰するが、弁2
0の閉止後再び増加に転じてピークに達し、その後減衰
しながら、平衡時間後に終には定常状態流の条件に達す
る。この様子は、すべて第2図に示されている。
定常状態の条件は、テストピース12のキャビティから
の漏洩率に対応するものである。
の漏洩率に対応するものである。
第2図には、3本のプロットを示しである。すなわち、
予め定められた漏洩率を持つテストピースの1つ11
A 11と、低い漏洩率をもつ第2の“B IIそして
、漏洩のないテストピース″“C11である。
予め定められた漏洩率を持つテストピースの1つ11
A 11と、低い漏洩率をもつ第2の“B IIそして
、漏洩のないテストピース″“C11である。
平衡時間を経過し、定常状態の条件が達成された後、無
漏洩の試験部品は流路18中で流量率ゼロを示し、一方
、テストピースAおよびBは、テストピース12のキャ
ビティからの漏洩率に対応する正の流量率を示す。
漏洩の試験部品は流路18中で流量率ゼロを示し、一方
、テストピースAおよびBは、テストピース12のキャ
ビティからの漏洩率に対応する正の流量率を示す。
テスト・サイク、、ルの初期においては、ある一定の漏
洩率に対して、類似したテストピースの配置から生ずる
流量率は再現性があることがわかって 1いるが、
このような流量率は、定常状態の条件下での漏洩率、す
、なわち、定常状態の流れの条件が確定した後の流路1
8の流量率とは非常に異なったものである。
洩率に対して、類似したテストピースの配置から生ずる
流量率は再現性があることがわかって 1いるが、
このような流量率は、定常状態の条件下での漏洩率、す
、なわち、定常状態の流れの条件が確定した後の流路1
8の流量率とは非常に異なったものである。
さらに、時刻tにおいて測定した流量率の値と定常状態
の流量率の値との対応は、種々の漏洩率を有するテスト
ピースの時刻tにおける2つの流量率の測定に当って、
キャリブレーション関数が、初期時刻tにおける流量率
を利用して定常状態の流量値を発生させ、それによって
漏洩試験の完了までの所要時間を大幅に低減することが
できるように行なわれることが、本発明の発明者によっ
て決定されている。
の流量率の値との対応は、種々の漏洩率を有するテスト
ピースの時刻tにおける2つの流量率の測定に当って、
キャリブレーション関数が、初期時刻tにおける流量率
を利用して定常状態の流量値を発生させ、それによって
漏洩試験の完了までの所要時間を大幅に低減することが
できるように行なわれることが、本発明の発明者によっ
て決定されている。
さらに、このキャリブレーション関数は、f (V)=
A+Bxという形の線形関数から成り立っていることが
決定された。
A+Bxという形の線形関数から成り立っていることが
決定された。
この様子は、時刻tにおける流量率の測定値対定常状態
の流量率をプロットした第3図を参照すると理解するこ
とができる。ここで、時刻tにおける流量率の測定値は
、ゼロ漏洩テストピースに対して1070−・ユニット
に等しく、また、時刻tおよび漏洩試験試料Aにおける
流量率の測定値は12フロー・ユニットに等しく、B試
験試料に対する流量率は1170−・ユニットが存在す
ると仮定しである。
の流量率をプロットした第3図を参照すると理解するこ
とができる。ここで、時刻tにおける流量率の測定値は
、ゼロ漏洩テストピースに対して1070−・ユニット
に等しく、また、時刻tおよび漏洩試験試料Aにおける
流量率の測定値は12フロー・ユニットに等しく、B試
験試料に対する流量率は1170−・ユニットが存在す
ると仮定しである。
ゼロ漏洩テストピースCに対する定常状態の流量率は0
に等しく、Bテストピースに対するそれは5に等しく、
また、Aテストピースに対しては1070−・ユニット
に等しい。
に等しく、Bテストピースに対するそれは5に等しく、
また、Aテストピースに対しては1070−・ユニット
に等しい。
本発明の概念によれば、第3図に示すようにこれらの点
の間は一本の直線で結ぶことができ、時 −刻tにおけ
る流量率に関するすべての測定値は、本発明に基づくy
軸を切る関数を適用することによって定常状態の流量率
に変換することができる。
の間は一本の直線で結ぶことができ、時 −刻tにおけ
る流量率に関するすべての測定値は、本発明に基づくy
軸を切る関数を適用することによって定常状態の流量率
に変換することができる。
例えば、テストピースBが、時刻tにおいて1170−
・ユニットという測定流量率を持っていたとすると、定
常状態の流量率は、試料Aと試料Cの定常状態流量率の
中間に存在し、第3図のプロットでこれを見ると5ユニ
ツトであることがわかる。
・ユニットという測定流量率を持っていたとすると、定
常状態の流量率は、試料Aと試料Cの定常状態流量率の
中間に存在し、第3図のプロットでこれを見ると5ユニ
ツトであることがわかる。
かくして、キャリブレーション関数V=A+Bxは決定
される。ここで、yは定常状態の流量率であり、Aおよ
びBはキャリブレーション試験から計算した定数、そし
て、Xはテスト・サイクル中の時刻tにおいて測定した
流量率である。
される。ここで、yは定常状態の流量率であり、Aおよ
びBはキャリブレーション試験から計算した定数、そし
て、Xはテスト・サイクル中の時刻tにおいて測定した
流量率である。
上述の例においては、AおよびBは、本例に対するキャ
リブレーション関数がy= (−50) +5×となる
ように、それぞれ−50および5に等しいと計算するこ
とができ、また、それぞれのXに対する定常状態の流量
値yは、僅か2回のキャリブレーション試験を行なうだ
けで計算することができる。
リブレーション関数がy= (−50) +5×となる
ように、それぞれ−50および5に等しいと計算するこ
とができ、また、それぞれのXに対する定常状態の流量
値yは、僅か2回のキャリブレーション試験を行なうだ
けで計算することができる。
従って、上に説明したように、流量率漏洩試験−に適用
される本発明の方法は、第4図のようなブロック図で説
明することができる。
される本発明の方法は、第4図のようなブロック図で説
明することができる。
ステップ1においては、テスト・サイクルの最も初期の
時刻tに対して実験的決定がなされており、ここでは、
同一配置の連続テストピースにより流量率が再現されて
いる。
時刻tに対して実験的決定がなされており、ここでは、
同一配置の連続テストピースにより流量率が再現されて
いる。
ステップ2では、第4図に示すように、例えばゼロ漏洩
テストピースのような最初に知られた流量率を持つテス
トピースの時刻tにおける流量率の測定が行なわれる。
テストピースのような最初に知られた流量率を持つテス
トピースの時刻tにおける流量率の測定が行なわれる。
ステップ3においては、各種の既知の漏洩率を持つ第二
の時間間隔に対して、時刻tにおける流量率が測定され
る。
の時間間隔に対して、時刻tにおける流量率が測定され
る。
ステップ4では、キャリブレーション関数y=A+BX
が発生される。ここで、yは定常状態の流量、Xは測定
時刻tにおける流量率に等しく、そしてAおよびBはス
テップ2および3において発生されたデータから計算し
た定数である。
が発生される。ここで、yは定常状態の流量、Xは測定
時刻tにおける流量率に等しく、そしてAおよびBはス
テップ2および3において発生されたデータから計算し
た定数である。
ステップ5においては、時刻tにおける各連続テストピ
ースに対する流量率が測定され、次いでこの測定流量率
の値は、ステップ4で発生させたキャリブレーション関
数を用いて定常状態流量率または漏洩率に変換される。
ースに対する流量率が測定され、次いでこの測定流量率
の値は、ステップ4で発生させたキャリブレーション関
数を用いて定常状態流量率または漏洩率に変換される。
最後に、ステップ6では、流量率の計算値と前以って確
定しておいた許容および拒絶漏洩率の値との比較が行な
われる□とともに、許容または拒絶□ の指示が、望ましくは漏洩率の計算値のディス/レイと
共に与えられる。
lかくして、これにより最小間隔のテスト・サイクル1
Iflflを達成することができる。
定しておいた許容および拒絶漏洩率の値との比較が行な
われる□とともに、許容または拒絶□ の指示が、望ましくは漏洩率の計算値のディス/レイと
共に与えられる。
lかくして、これにより最小間隔のテスト・サイクル1
Iflflを達成することができる。
第5図は、本発明に基づく方法の実践において用いられ
る空気回路の図をその関連コンポーネントのブロック図
と共に描いたものである。
る空気回路の図をその関連コンポーネントのブロック図
と共に描いたものである。
空気圧j!40が準備されており、また、50ミクロン
のフィルタ42のような適当なフィルタが、霧状の油ま
たはその他類似の汚染物質を除去する油塗布フィルタ4
4と共に、空気圧源40と直列に入れられている。また
、調節装置46が準備されており、空気回路の残りの部
分に供給される圧力が、これによって精密に制御される
。さらに、適当な圧力計48も準備することができる。
のフィルタ42のような適当なフィルタが、霧状の油ま
たはその他類似の汚染物質を除去する油塗布フィルタ4
4と共に、空気圧源40と直列に入れられている。また
、調節装置46が準備されており、空気回路の残りの部
分に供給される圧力が、これによって精密に制御される
。さらに、適当な圧力計48も準備することができる。
上述の空気回路内などに、各テスト・サイクル中に流路
50との連絡時間を制御するタイマ55によって制御さ
れる弁54を備えた一対の並列な流路50および52が
準備されている。弁56は、流路50および52との連
絡においてテスト・ポート62と関連する流路52との
連絡を制御する。
50との連絡時間を制御するタイマ55によって制御さ
れる弁54を備えた一対の並列な流路50および52が
準備されている。弁56は、流路50および52との連
絡においてテスト・ポート62と関連する流路52との
連絡を制御する。
テスト・ポート62によって、図に示すJ:うにテスト
・ピース66のキャビティに圧力を加えることができる
。
・ピース66のキャビティに圧力を加えることができる
。
弁56は、また、ベント流路58および排出マフラ60
を通じてシステムにはけ口を与えるように配置されてお
り、これによって弁56を操作して流路52との連絡を
遮断して、空気回路およびテストピース66のキャビテ
ィ内の圧hダウンストリームを緩和させることができる
。また、テストピース66の大量漏洩時にポート流路6
2内で発生する圧力をモニタするゲート圧カドランスデ
ューサ64がポート流路62内に準備されており、この
分野の技術に精通した人にはよく知られたやり方で、そ
の時点でテスト・サイクルを中断させることができる。
を通じてシステムにはけ口を与えるように配置されてお
り、これによって弁56を操作して流路52との連絡を
遮断して、空気回路およびテストピース66のキャビテ
ィ内の圧hダウンストリームを緩和させることができる
。また、テストピース66の大量漏洩時にポート流路6
2内で発生する圧力をモニタするゲート圧カドランスデ
ューサ64がポート流路62内に準備されており、この
分野の技術に精通した人にはよく知られたやり方で、そ
の時点でテスト・サイクルを中断させることができる。
すなちわ、予め定めた時間内にポート流路62内に全く
圧力が発生しない場合には、これは大量の漏洩があるこ
とを示すものであり、試験はこの時点で終了させ、小量
の漏洩が生じているかどうかを決めるための試験をそれ
以上続行する必要はない。
圧力が発生しない場合には、これは大量の漏洩があるこ
とを示すものであり、試験はこの時点で終了させ、小量
の漏洩が生じているかどうかを決めるための試験をそれ
以上続行する必要はない。
流路52は、比較的容積の小さい流量率測定用流路から
構成されている。
構成されている。
この流路に直列に接続されているのは、前述のミラー(
Hillar)の特許3,123.’100に記載され
ているタイプと同じ層流素子68である。圧カドランス
デューサは流路69および71を通じて圧力信号を受信
して、層流素子68にかかる差圧に対応する電気信号を
発生し、これが、この分野に精通した人にはよく知られ
たやり方で流路72の流量率に対応することになる。
Hillar)の特許3,123.’100に記載され
ているタイプと同じ層流素子68である。圧カドランス
デューサは流路69および71を通じて圧力信号を受信
して、層流素子68にかかる差圧に対応する電気信号を
発生し、これが、この分野に精通した人にはよく知られ
たやり方で流路72の流量率に対応することになる。
マイクロプロセッサ82はこれらの電気信号を受信して
、本発明の方法に基づき対応する信号を発生するととも
に、ディスプレイ84によって許容/拒絶信号および流
量率値のディジタルな読み出し、もしくはその何れか片
方の表示を行なうことができる。
、本発明の方法に基づき対応する信号を発生するととも
に、ディスプレイ84によって許容/拒絶信号および流
量率値のディジタルな読み出し、もしくはその何れか片
方の表示を行なうことができる。
また、クロック信号は他の電気コンポーネントからも受
信され、タイマ55の時間が切れて弁54が閉止され、
平衡時間が始まるといったような、テスト・サイクルの
開始後の時間の関数としてml率のモニタリングを行な
うことができる。
信され、タイマ55の時間が切れて弁54が閉止され、
平衡時間が始まるといったような、テスト・サイクルの
開始後の時間の関数としてml率のモニタリングを行な
うことができる。
流量率を測定し、本発明の方法に基づいて定常状態の流
量率を計算する時刻tを決定するのは、この事象によっ
て行なう。
量率を計算する時刻tを決定するのは、この事象によっ
て行なう。
便利で迅速なキャリブレーション・テストが行なえるよ
うにするために、セレクタ弁74に接続しているバイパ
ス・キャリブレーション流路72が準備されており、こ
れによって、キャリブレーティング・リーク弁78を通
じてボート流路62に連絡し、かつ流量計80と流体的
に連絡し合っでいる点において空気回路のはけ口を制御
することができる。
うにするために、セレクタ弁74に接続しているバイパ
ス・キャリブレーション流路72が準備されており、こ
れによって、キャリブレーティング・リーク弁78を通
じてボート流路62に連絡し、かつ流量計80と流体的
に連絡し合っでいる点において空気回路のはけ口を制御
することができる。
従って、キャリブレーション・テストを行なうに当って
は、漏洩のないサンプル・テストをボート流路62に設
置し、圧カドランスデューサ70から受信した信号をモ
ニタする高速モニタリング性能を備えたマイクロプロセ
ッサ82を用いて、時刻tにおける流量率を決定するニ
セレクタ弁74を操作するに肖っては、前回と同様に、
流路76を通って流量計80へ流れ込む予め定められた
流量についてテストを繰り返して行なう。テス 1
ト・サイクルをもう一度繰り返して、時刻tにおける流
量率を発生させ、時刻tにおける2?の別個の流量率値
とそれに対応する定常状態流量率を与える。
は、漏洩のないサンプル・テストをボート流路62に設
置し、圧カドランスデューサ70から受信した信号をモ
ニタする高速モニタリング性能を備えたマイクロプロセ
ッサ82を用いて、時刻tにおける流量率を決定するニ
セレクタ弁74を操作するに肖っては、前回と同様に、
流路76を通って流量計80へ流れ込む予め定められた
流量についてテストを繰り返して行なう。テス 1
ト・サイクルをもう一度繰り返して、時刻tにおける流
量率を発生させ、時刻tにおける2?の別個の流量率値
とそれに対応する定常状態流量率を与える。
このデータを基に、マイクロプロセッサ82の適当なプ
ログラミングを用いてキャリブレーション関数y=A+
BXを発生することかできる。従って、テストピースに
関するその後の試験は時刻tにおいて実行することが可
能となり、サイクルの時刻tにおける任意の測定流量率
値に対する対応する定常状態流口漏洩率の正確な計算を
行なうことができる。
ログラミングを用いてキャリブレーション関数y=A+
BXを発生することかできる。従って、テストピースに
関するその後の試験は時刻tにおいて実行することが可
能となり、サイクルの時刻tにおける任意の測定流量率
値に対する対応する定常状態流口漏洩率の正確な計算を
行なうことができる。
それ故に、流量率タイプ漏洩試験に要するサイクル時間
を最小限に低減させることが可能となるとともに、正確
で再現性のある結果を得ることができる。ある定められ
た部品に対して再現性のある信頼度の高い流量率に関す
る結果が得られる最小の時刻tを決定するために、各テ
ストピースの配置に対して適当な実験を行なう必要があ
ることは考慮しておかなければならない。ある定められ
た部品配置に対してこのような時刻tがひとたび求めら
れてしまえば、すでに述べた簡単な試験手順によって適
当なキャリブレーション関数を発生させることができる
。
を最小限に低減させることが可能となるとともに、正確
で再現性のある結果を得ることができる。ある定められ
た部品に対して再現性のある信頼度の高い流量率に関す
る結果が得られる最小の時刻tを決定するために、各テ
ストピースの配置に対して適当な実験を行なう必要があ
ることは考慮しておかなければならない。ある定められ
た部品配置に対してこのような時刻tがひとたび求めら
れてしまえば、すでに述べた簡単な試験手順によって適
当なキャリブレーション関数を発生させることができる
。
試験圧力や時刻tなどの与えられた試験パラメータに対
する・このキャリブレーションは独特のものであるとい
う点は評価することができる。
する・このキャリブレーションは独特のものであるとい
う点は評価することができる。
また、適当なマイクロプロセッサ・プログラミングによ
って、ここに述べた比較的単純な計算を遂行することが
できるという点はこの分野に精通している人々から評価
されるかもしれないが、このような装置の詳細について
は、それがこの分野に精通した人々に周知のことであり
、本発明の一部を形成しないと判断される限り、ここに
は含めない。
って、ここに述べた比較的単純な計算を遂行することが
できるという点はこの分野に精通している人々から評価
されるかもしれないが、このような装置の詳細について
は、それがこの分野に精通した人々に周知のことであり
、本発明の一部を形成しないと判断される限り、ここに
は含めない。
第1図は、テストピースの流量率漏洩試験に使用する漏
洩試験用空気回路の図、第2図は、テスト・サイクルの
開始から時間を追って測定した流量率の値をプロットし
たもの、第3図は、定常状態の流量率に対するテスト・
サイクル中の時刻tにおける流量率の測定値をプロット
したもの、第4図は、本発明に従って水沫の基本ステッ
プを示したブロック図、第5図は、本発明に基づく方法
を実行するのに使用することので寄る流れ試験漏洩率測
定装置の空気回路の図である。 図中、10は圧力源、12はテストピース、14はテス
ト・ボート、16はプレフィル流路、18は流路、20
は弁、22は゛タイマ、24は弁、28は流量率トラン
スデユーサ、30はマイクロプロセッサおよびディスプ
レイである。 特許出願人 アンターレス エンジニアリングインコ
ーホレイティド 代理人弁理士 絹 谷 信 雄図面の浄書
(内容に変更なし) 流量 **4ラミ鮨ジ)うLtヨ甲ジ 手続補正書(方式) 昭和60年8月28日 特許庁長官 宇 賀 道 部 殿 3、補正をする者 事件との関係 特許出願人 アンターレス エンジニアリング インコーホレイティド 4、代理人 郵便番@ 105 東京都港区愛宕1丁目6番7号 愛宕山弁護士ビル 6、補正の対象 願書(代表者のlIり、委任状及び図面7、補正の内容
洩試験用空気回路の図、第2図は、テスト・サイクルの
開始から時間を追って測定した流量率の値をプロットし
たもの、第3図は、定常状態の流量率に対するテスト・
サイクル中の時刻tにおける流量率の測定値をプロット
したもの、第4図は、本発明に従って水沫の基本ステッ
プを示したブロック図、第5図は、本発明に基づく方法
を実行するのに使用することので寄る流れ試験漏洩率測
定装置の空気回路の図である。 図中、10は圧力源、12はテストピース、14はテス
ト・ボート、16はプレフィル流路、18は流路、20
は弁、22は゛タイマ、24は弁、28は流量率トラン
スデユーサ、30はマイクロプロセッサおよびディスプ
レイである。 特許出願人 アンターレス エンジニアリングインコ
ーホレイティド 代理人弁理士 絹 谷 信 雄図面の浄書
(内容に変更なし) 流量 **4ラミ鮨ジ)うLtヨ甲ジ 手続補正書(方式) 昭和60年8月28日 特許庁長官 宇 賀 道 部 殿 3、補正をする者 事件との関係 特許出願人 アンターレス エンジニアリング インコーホレイティド 4、代理人 郵便番@ 105 東京都港区愛宕1丁目6番7号 愛宕山弁護士ビル 6、補正の対象 願書(代表者のlIり、委任状及び図面7、補正の内容
Claims (5)
- (1)一連のサンプル・テストピースの各キャビティを
流体圧力源と連絡するように配置してテスト・サイクル
を開始させ、上記キャビティの各々を上記流体圧力源と
連絡するように配置した後に上記キャビティの各々へ流
れ込む流量率をモニタし、上記流量率が連続テストピー
スに対して再現性が得られる上記テスト・サイクルの開
始後の時刻を決定し、種々の実行漏洩率を有する2つの
サンプル・テストピースに対して、上記テスト・サイク
ルの開始後で、再現性の得られるように決定した上記時
刻から定常状態の流量条件が達成されるまでの予め定め
られた時刻において上記流体圧力源から上記キャビティ
へ流れ込む流量率を測定し、上記2つのサンプル・テス
トピースに対して対応する定常状態流量率を決定し、y
は流体圧力源と連絡するように配置されたテストピース
・キャビティに流れ込む定常状態流量率、Xはテスト・
サイクルの初期時に測定された流量率、そして、Aおよ
びBは2つのサンプル・テストピースの試験を基に計算
した定数である場合に、 y=A+BX という形のキャリブレーション関数を発生させ、上記流
体圧力源と連絡するように連続テストピースのキャビテ
ィを配置し、上記テスト・サイクル中の予め定められた
時刻に上記キャビティへ流れ込む流量率を測定し、上記
キャリブレーション関数を適用して上記測定された流量
率を対応する定常状態の流量率に変換し、それによって
、上記予め定められた時刻における上記流量率を測定し
て上記テスト・サイクルを短縮するというステップから
構成されたことを特徴とする漏洩率を測定する方法。 - (2)上記サンプル・テストピースからの流量率を測定
し、決定するステップが、ゼロ漏洩のマスター・テスト
ピースへ流れ込む流量率を測定し、決定するステップと
、それに続いて既知の流量率をバイパスさせて、そこか
ら与えられた漏洩率をシミュレートするステップとから
構成された上記特許請求の範囲第1項に記載の漏洩率を
測定する方法。 - (3)上記変換された流量率の値をディスプレイするス
テップを含む上記特許請求の範囲第2項に記載の漏洩率
を測定する方法。 - (4)上記変換された流量率と許容/拒絶漏洩率の比較
ならびに許容/拒絶指示の表示のステップを含む上記特
許請求の範囲第1項に記載の漏洩率を測定する方法。 - (5)トランスデューサの電気信号を発生させ、上記信
号をマイクロプロセッサに伝達することによって上記流
体圧力源からの流量率をモニタするステップを含む上記
特許請求の範囲第1項に記載の漏洩率を測定する方法。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US06/602,711 US4523452A (en) | 1984-04-23 | 1984-04-23 | Method of measuring leak rates |
US602711 | 1984-04-23 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6134434A true JPS6134434A (ja) | 1986-02-18 |
Family
ID=24412490
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP8558285A Pending JPS6134434A (ja) | 1984-04-23 | 1985-04-23 | 漏洩率を測定する方法 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4523452A (ja) |
EP (1) | EP0165402B1 (ja) |
JP (1) | JPS6134434A (ja) |
CA (1) | CA1226367A (ja) |
DE (1) | DE3566302D1 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS63274824A (ja) * | 1987-05-06 | 1988-11-11 | Minoru Morita | 写真用濃度測定器 |
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-
1984
- 1984-04-23 US US06/602,711 patent/US4523452A/en not_active Expired - Fee Related
-
1985
- 1985-04-19 EP EP85104776A patent/EP0165402B1/en not_active Expired
- 1985-04-19 DE DE8585104776T patent/DE3566302D1/de not_active Expired
- 1985-04-22 CA CA000479684A patent/CA1226367A/en not_active Expired
- 1985-04-23 JP JP8558285A patent/JPS6134434A/ja active Pending
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Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP0165402B1 (en) | 1988-11-17 |
US4523452A (en) | 1985-06-18 |
CA1226367A (en) | 1987-09-01 |
DE3566302D1 (en) | 1988-12-22 |
EP0165402A1 (en) | 1985-12-27 |
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