JPS6134428A - 近赤外分光光度計 - Google Patents
近赤外分光光度計Info
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- JPS6134428A JPS6134428A JP15634784A JP15634784A JPS6134428A JP S6134428 A JPS6134428 A JP S6134428A JP 15634784 A JP15634784 A JP 15634784A JP 15634784 A JP15634784 A JP 15634784A JP S6134428 A JPS6134428 A JP S6134428A
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- G—PHYSICS
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の利用分野〕
本発明は近赤外ダブルビーム分光光度計に係り、特に、
熱輻射によるゼロ点の変動を少くして測光正確度を向上
させるに、好適な近赤外分光光度計に関する。
熱輻射によるゼロ点の変動を少くして測光正確度を向上
させるに、好適な近赤外分光光度計に関する。
近赤外分光光度計の光検知器は波長1μから2、.5μ
の範囲で感度を有する。一方、室温(約300°K)で
の物質は12μをピークと1して熱aを輻射するが、わ
ずかIOC程度の変動でも波長2μでの輻射熱線のエネ
ルギーは約2倍も異なる。このことは、測定すべき試料
の温度が分光光度計の温度と異なったり、分光光度計の
回転や、シャッターが温度を持ったりすると、0(零)
点を測定するためにシャッターを入れたとキト、実際に
測定するためにシャッターがないときとの温度差を光検
知器が検知し、該温度差が測定誤差分となって測1定精
度を狂わせるという欠点を有していた。
の範囲で感度を有する。一方、室温(約300°K)で
の物質は12μをピークと1して熱aを輻射するが、わ
ずかIOC程度の変動でも波長2μでの輻射熱線のエネ
ルギーは約2倍も異なる。このことは、測定すべき試料
の温度が分光光度計の温度と異なったり、分光光度計の
回転や、シャッターが温度を持ったりすると、0(零)
点を測定するためにシャッターを入れたとキト、実際に
測定するためにシャッターがないときとの温度差を光検
知器が検知し、該温度差が測定誤差分となって測1定精
度を狂わせるという欠点を有していた。
本発明の目的は、熱輻射の影#を最小限にして測定誤差
の生じることのない近赤外分光光度計を提供することに
ある。
の生じることのない近赤外分光光度計を提供することに
ある。
本発明は光源と分散子の間に光束をしゃ断するシャッタ
ーを設けることによ)熱輻射の影響を最小限にして測定
誤差が生じないようにしようというものである。
ーを設けることによ)熱輻射の影響を最小限にして測定
誤差が生じないようにしようというものである。
本発明の詳細な説明する前に本発明するに至った背景に
ついて説明する。
ついて説明する。
第2図(A)において、光源lから出射した光は分光器
2の入射スリット3に入射し、分散子4によって分散さ
れたあと出射スリット5から単色光となって出射す名。
2の入射スリット3に入射し、分散子4によって分散さ
れたあと出射スリット5から単色光となって出射す名。
単色□光は回転反射鏡6、および反射鏡7により試料光
束(8)−と対照光束(R)に別けられ、反射鏡8、お
よび回転反射鏡911?:より光検知器10に入射して
電気量に変換される。光検知器1oVi単色光の他に分
光光度計各部からの熱輻射を受け、また暗電流もあるの
で、ゼロレベルを常に検知する必要がある。そのため回
転反射鏡6、または回転反射鏡9に光しゃ断用のマスク
11がとりつけてあり、光検知器lOの出力電流工の時
間的変動は第2図(B)VC示される如きグラフのよう
になる。分光光度計では(S−Z)/(R−Z)Th演
算し、その結果が測光値(透過度)になる。ここにSは
試料光の光検知器出力を示し、Rは対照光の光検知器出
力を示し、Zは光検知器のゼロレベルをそれぞれ示す。
束(8)−と対照光束(R)に別けられ、反射鏡8、お
よび回転反射鏡911?:より光検知器10に入射して
電気量に変換される。光検知器1oVi単色光の他に分
光光度計各部からの熱輻射を受け、また暗電流もあるの
で、ゼロレベルを常に検知する必要がある。そのため回
転反射鏡6、または回転反射鏡9に光しゃ断用のマスク
11がとりつけてあり、光検知器lOの出力電流工の時
間的変動は第2図(B)VC示される如きグラフのよう
になる。分光光度計では(S−Z)/(R−Z)Th演
算し、その結果が測光値(透過度)になる。ここにSは
試料光の光検知器出力を示し、Rは対照光の光検知器出
力を示し、Zは光検知器のゼロレベルをそれぞれ示す。
第2図は理想的な測光方式を示しており、この場合の測
光精度は光検知器以降の光電的特性にのみ依存する。
光精度は光検知器以降の光電的特性にのみ依存する。
ところで、測定すべき試料は必ずしも分光光度計の温度
(一般的には室温)とは常に一致した値にするものでは
ない。測定の目的によっては試料の温度を高温に保つこ
とすらある。この場合、試料自体、あるいは試料保持機
構が周囲温度以上になっており、熱輻射は周囲と異なる
。例えば、周囲温度が300°K (27C)で、試料
温度が310°K (37C)である場合は波長2μ
での熱輻射は2.2倍にもなる。従って光検知器lOに
も試料の輻射熱が照射する。もし、第3図(A)
′に示すように、温度が高い状態の試料12が試
料側に置かれると、試料の熱輻射は試料側光束の時間帯
だけ光検知器lOに照射する。従って一先検知器lOの
出力電流工は第3図(B)に示すようになる。すなわち
光検知器lOとしては試料光出力Sと輻射熱による出力
電流Hとの合成した電流(S+H)を試料光出力電流と
して出力することになる。第3図の光学系で、試料光出
力電流Sと輻射熱による出力電流Hを弁別するためには
試料12より前方で、回転反射鏡6エリもあとの間に光
シヤツター13を入れ、輻射熱による出力電流Hだけを
検知し、演算処理中で輻射熱による出力電流H分を減す
るしか方法はない。しかしこの方法でも後述するように
測定試料の透過度が1.5μ以上波長で立ち上がってく
る試料では光シヤツター13の熱輻射(1μの波長)の
影響を受けて光シヤツター13金入れたときは測定値が
あり、光シヤツター13がない状態になると測定値が出
ないことになり、試料の測定にはならず、測定値が狂う
。又、光シヤツター13も測定のときは取り除かねばな
らず、常時入れることができないので、あくまでも暫定
的な対策である。
(一般的には室温)とは常に一致した値にするものでは
ない。測定の目的によっては試料の温度を高温に保つこ
とすらある。この場合、試料自体、あるいは試料保持機
構が周囲温度以上になっており、熱輻射は周囲と異なる
。例えば、周囲温度が300°K (27C)で、試料
温度が310°K (37C)である場合は波長2μ
での熱輻射は2.2倍にもなる。従って光検知器lOに
も試料の輻射熱が照射する。もし、第3図(A)
′に示すように、温度が高い状態の試料12が試
料側に置かれると、試料の熱輻射は試料側光束の時間帯
だけ光検知器lOに照射する。従って一先検知器lOの
出力電流工は第3図(B)に示すようになる。すなわち
光検知器lOとしては試料光出力Sと輻射熱による出力
電流Hとの合成した電流(S+H)を試料光出力電流と
して出力することになる。第3図の光学系で、試料光出
力電流Sと輻射熱による出力電流Hを弁別するためには
試料12より前方で、回転反射鏡6エリもあとの間に光
シヤツター13を入れ、輻射熱による出力電流Hだけを
検知し、演算処理中で輻射熱による出力電流H分を減す
るしか方法はない。しかしこの方法でも後述するように
測定試料の透過度が1.5μ以上波長で立ち上がってく
る試料では光シヤツター13の熱輻射(1μの波長)の
影響を受けて光シヤツター13金入れたときは測定値が
あり、光シヤツター13がない状態になると測定値が出
ないことになり、試料の測定にはならず、測定値が狂う
。又、光シヤツター13も測定のときは取り除かねばな
らず、常時入れることができないので、あくまでも暫定
的な対策である。
第4図(A)には、試料12からの熱輻射の影響を除去
する測光方式が示゛されている。すなわち、出射スリッ
ト5を通って出てきた単色光は回転反射鏡6、反射鏡7
,14.15により試料光束と対照光束に別けられ、反
射鏡16.17,18゜19により光検知器lOで受光
される。回転反射鏡6には光シヤツター11がもうけら
れている。
する測光方式が示゛されている。すなわち、出射スリッ
ト5を通って出てきた単色光は回転反射鏡6、反射鏡7
,14.15により試料光束と対照光束に別けられ、反
射鏡16.17,18゜19により光検知器lOで受光
される。回転反射鏡6には光シヤツター11がもうけら
れている。
この時、試料12からの輻射熱は定常的に光検知器lO
に照射されており、光検知器lOの出力電流工は第4図
(B)に示されるように、対照光束R5試料光束S1光
検知器10のゼロレベルZのいずれのタイミングでも、
輻射熱による出力電流Hだけ浮き上がる。試料12の温
度は一般に1秒以下の短時間でlC以上変動することは
ない。従って、回転反射鏡6によるチョッピング周期が
0.1秒以下であれば、その間の温度変化による輻射熱
量の変化はほとんど判別できない。したがって、1周期
の対照光束R1試料光束S1光検知器lOのゼロレベル
Z中の輻射熱による出力電流Hは一定と考えて良く、 ((S+H)−(Z−1−H))/((Rr+H)−(
Z+H))= (S−Z)/(トZ)・・・・・・・・
・・・・・・・・・・・・・(1)となり、求めるべき
値の透過間が得られる。
に照射されており、光検知器lOの出力電流工は第4図
(B)に示されるように、対照光束R5試料光束S1光
検知器10のゼロレベルZのいずれのタイミングでも、
輻射熱による出力電流Hだけ浮き上がる。試料12の温
度は一般に1秒以下の短時間でlC以上変動することは
ない。従って、回転反射鏡6によるチョッピング周期が
0.1秒以下であれば、その間の温度変化による輻射熱
量の変化はほとんど判別できない。したがって、1周期
の対照光束R1試料光束S1光検知器lOのゼロレベル
Z中の輻射熱による出力電流Hは一定と考えて良く、 ((S+H)−(Z−1−H))/((Rr+H)−(
Z+H))= (S−Z)/(トZ)・・・・・・・・
・・・・・・・・・・・・・(1)となり、求めるべき
値の透過間が得られる。
第4図(A)における測光系の特徴は、試料部と光検知
器lOの間に回転反射鏡を有しないことである。
器lOの間に回転反射鏡を有しないことである。
しかし、第4図(A)の測光系は熱輻射に対して万全の
測光系ではない。第4図(A)において、回転反射鏡は
一般にガラス材にアルミ等の反射率の高い物質を蒸着し
たもので、光シヤツター、11は黒色板である。一方、
ガラスや反射率の高い金稿は放射能(エミツシビテイ)
が非常に低く、反面黒色板はlに近い。既ち光シヤツタ
−11自体編熱輻射が強い。また、この光シヤツター1
1は回転モータと機構的に連絡しているので、容易に温
度が上昇する。
測光系ではない。第4図(A)において、回転反射鏡は
一般にガラス材にアルミ等の反射率の高い物質を蒸着し
たもので、光シヤツター、11は黒色板である。一方、
ガラスや反射率の高い金稿は放射能(エミツシビテイ)
が非常に低く、反面黒色板はlに近い。既ち光シヤツタ
−11自体編熱輻射が強い。また、この光シヤツター1
1は回転モータと機構的に連絡しているので、容易に温
度が上昇する。
第5図(A)において、回転反射鏡6の光シヤツタ一部
から放射する熱輻射をHとすると、光検知器lOの出力
電流Iは第5図(B)のようになり、ゼロ信号がH分だ
け浮き上がる。一方、反射鏡やガラス板の温度上昇もあ
るが、放射能が極めて低いので、対照光束R1試料光束
S分の浮き上がりは無視できる。
から放射する熱輻射をHとすると、光検知器lOの出力
電流Iは第5図(B)のようになり、ゼロ信号がH分だ
け浮き上がる。一方、反射鏡やガラス板の温度上昇もあ
るが、放射能が極めて低いので、対照光束R1試料光束
S分の浮き上がりは無視できる。
このように、光シヤツタ一部からの熱輻射は、試料側光
路と対照側光路の両光束をへて光検知器10に到達する
ため、試料側光路に信号光(単色光)を完全にカットす
る試料を入nても対照側光路を通る熱輻射が検知され、
H/2だけ浮き上がる。そこで、試料側光路を室温のシ
ャッターを入れて(Z十H/2)を検知し、以降(Z十
H/2)をゼロ信号として用いれば測定誤差はなくなる
。
路と対照側光路の両光束をへて光検知器10に到達する
ため、試料側光路に信号光(単色光)を完全にカットす
る試料を入nても対照側光路を通る熱輻射が検知され、
H/2だけ浮き上がる。そこで、試料側光路を室温のシ
ャッターを入れて(Z十H/2)を検知し、以降(Z十
H/2)をゼロ信号として用いれば測定誤差はなくなる
。
これまでの近赤外分光光度計ではこのような演算処理に
よる輻射熱の影響除去が主流であった。
よる輻射熱の影響除去が主流であった。
しかし、この方式では、試料側光路5vil−経由する
輻射熱は測定試料の透過度に比例すること全前提として
いる。例、ItI/i透過度Xの試料を設定した場会、
試料側光路Sを経由する輻射熱の信号量は(H/2)・
Xであることが前提条件であ゛る。しかし、現実に測定
する試料は全波長域にわたって一定の透過度を持つとは
限らず、選択的な波長においてのみ透過度が低くなるこ
とがめる。この場合には測定結果が極めて異常になる。
輻射熱は測定試料の透過度に比例すること全前提として
いる。例、ItI/i透過度Xの試料を設定した場会、
試料側光路Sを経由する輻射熱の信号量は(H/2)・
Xであることが前提条件であ゛る。しかし、現実に測定
する試料は全波長域にわたって一定の透過度を持つとは
限らず、選択的な波長においてのみ透過度が低くなるこ
とがめる。この場合には測定結果が極めて異常になる。
以下、その現象について解析する。
第6図はブランクの黒体輻射の波長特性を示す物体の温
度がT’に、波長2国のときの黒体の1′□ ’ t
M12の面積が立体角πラジアンに放射する輻射エネル
ギーJi1次式で求められる。
度がT’に、波長2国のときの黒体の1′□ ’ t
M12の面積が立体角πラジアンに放射する輻射エネル
ギーJi1次式で求められる。
CH= 5.955X10− ”watt *crn2
C2= 1.43’2crr1s grad300°K
(27C)と310°K(37C)のときのJを1μ
〜25μの範囲で求めた結果が第1表に示される。
C2= 1.43’2crr1s grad300°K
(27C)と310°K(37C)のときのJを1μ
〜25μの範囲で求めた結果が第1表に示される。
第1表において、ΔJは各波長ごとのJ310゜〜J3
00°の差を示す。
00°の差を示す。
第1表
この第1表から300°と310° の温度差による輻
射熱の差は、長波長で急激に大きくなることがわかる。
射熱の差は、長波長で急激に大きくなることがわかる。
1μに比べ10μでの差はlO′。倍にもなる。
今、第7図(A)に示す光学系で回転反射鏡6が周囲温
匿工りもNoC高温になったと考える。
匿工りもNoC高温になったと考える。
ここで試料側光路Sに試料12’r置くが、この試料ノ
透過パーセントスペクトルが、第7図(B)に示される
ようにlμ近辺で0%T、1.5μ以上で約100%T
であったとする。分光器2の出射スリット5を出射する
単色光がいま、1μであるとすると、信号光である1μ
の単色光は試料12によって完全に吸引され、試料側光
S=0となる。
透過パーセントスペクトルが、第7図(B)に示される
ようにlμ近辺で0%T、1.5μ以上で約100%T
であったとする。分光器2の出射スリット5を出射する
単色光がいま、1μであるとすると、信号光である1μ
の単色光は試料12によって完全に吸引され、試料側光
S=0となる。
一方回転反射鏡6にとりつけであるマスク11が放射す
る輻射熱の内1,5μ以上は試料を透過する。
る輻射熱の内1,5μ以上は試料を透過する。
第1表かられかるように、温度差による輻射エネルギー
差は長波長側の強度差で決定づけられるため、試料12
はマスク6からの輻射熱量のほとんどが検知器に到達す
る。即ちH/2はそのまま検知される。対照側光束Rも
加算するとゼロ信号はHとなる。
差は長波長側の強度差で決定づけられるため、試料12
はマスク6からの輻射熱量のほとんどが検知器に到達す
る。即ちH/2はそのまま検知される。対照側光束Rも
加算するとゼロ信号はHとなる。
このことは、試料側信号(S=O)Zυもゼロ信号(Z
=H/2)の方が大きくなり、S−Z<0となり、透過
度が負という極めて不自然な測定結果を生じる。ここで
シャッター13に入れてゼロ信号のH/2(対照側光路
を経るもの)を記憶し、演算処理によって補正しても、
残りのH/2は残り、やはり負の透過度という現象は残
る。
=H/2)の方が大きくなり、S−Z<0となり、透過
度が負という極めて不自然な測定結果を生じる。ここで
シャッター13に入れてゼロ信号のH/2(対照側光路
を経るもの)を記憶し、演算処理によって補正しても、
残りのH/2は残り、やはり負の透過度という現象は残
る。
第1図には本発明の実施例が示されている。図において
、光遮断用のマスク11は光源lと分散子4の間に置か
れ、回転反射鏡6はエミツシビテイの低いガラス又は反
射率の高い金属にてつくられている。試料部から光検知
器100間には、回転反射鏡はない。マスク11は90
° ピッチの4枚の羽根によって作られ、回転反射鏡6
は180゜ピッチの2枚の反射鏡によって作られており
、夫々の回転体は4極のリアクションシンクロナスモー
タ20,21により回転するが、2個のモータ20.2
1に供給される電源周波数は同一同期にある。使用する
シンクロナスモータの極性とマスク11の羽根の枚数が
同一であれば、回転位相に対し、通電のタイミングの如
何を問わず、電源位相に対して羽根の位相は常に一定で
あることは特願昭48−001154号に示された実験
結果から公知である。回転反射鏡6の羽根の数はモータ
の極性の1/2であるため、通電のタイミングによって
は試料側光束Sと対照側光束Bめタイミングが反転する
。この場合、回転反射鏡60位相を知るためにフォトカ
ブ222をとりつけておくことにエリ、試料側光束S1
対照側光束R1光検知器 110のゼロレベ
ルZのタイミングは全て検知できる。
、光遮断用のマスク11は光源lと分散子4の間に置か
れ、回転反射鏡6はエミツシビテイの低いガラス又は反
射率の高い金属にてつくられている。試料部から光検知
器100間には、回転反射鏡はない。マスク11は90
° ピッチの4枚の羽根によって作られ、回転反射鏡6
は180゜ピッチの2枚の反射鏡によって作られており
、夫々の回転体は4極のリアクションシンクロナスモー
タ20,21により回転するが、2個のモータ20.2
1に供給される電源周波数は同一同期にある。使用する
シンクロナスモータの極性とマスク11の羽根の枚数が
同一であれば、回転位相に対し、通電のタイミングの如
何を問わず、電源位相に対して羽根の位相は常に一定で
あることは特願昭48−001154号に示された実験
結果から公知である。回転反射鏡6の羽根の数はモータ
の極性の1/2であるため、通電のタイミングによって
は試料側光束Sと対照側光束Bめタイミングが反転する
。この場合、回転反射鏡60位相を知るためにフォトカ
ブ222をとりつけておくことにエリ、試料側光束S1
対照側光束R1光検知器 110のゼロレベ
ルZのタイミングは全て検知できる。
一方、マスク11の設置場所は可能な限り、光束の狭い
場所が良い。光束カットの立上り立下りと光量利用効率
の関係は、特願昭47−59725号に示されている計
算式から求めることができる。
場所が良い。光束カットの立上り立下りと光量利用効率
の関係は、特願昭47−59725号に示されている計
算式から求めることができる。
そのためには、スリット3の直前、又は直後にマスク1
lt−設置することが良い。
lt−設置することが良い。
したがって、本実施例によれば、マスクllと回転反射
鏡6は常に一定の内置関係を保ち、あたかも回転反射鏡
の表面にマスクがあるごとく位相関係を持つことができ
る。また、本実施例によれば、R−Z−8−Z−の信号
切り換えの際の立上り立下りも短時間ですみ、光量利用
効率が向上する。なお、実施例において、光検知器10
の出力信号線プリアンプ23によ・り電流、電圧変換さ
れ、信号切り換え器24に↓すR,S、Zの3種の信号
に弁別され、弁別のタイミングは、フォトカブ222の
信号を用いる。R,S、Zに弁別された信号は演算処理
器25により(S−Z )/ (R,−Z )を演算し
、側光値會得る。
鏡6は常に一定の内置関係を保ち、あたかも回転反射鏡
の表面にマスクがあるごとく位相関係を持つことができ
る。また、本実施例によれば、R−Z−8−Z−の信号
切り換えの際の立上り立下りも短時間ですみ、光量利用
効率が向上する。なお、実施例において、光検知器10
の出力信号線プリアンプ23によ・り電流、電圧変換さ
れ、信号切り換え器24に↓すR,S、Zの3種の信号
に弁別され、弁別のタイミングは、フォトカブ222の
信号を用いる。R,S、Zに弁別された信号は演算処理
器25により(S−Z )/ (R,−Z )を演算し
、側光値會得る。
ところで、マスク11は前述のとおり周囲温度に比べて
温度上昇するが、輻射熱は分散子により分散され、出射
スリット5から出射するマスク11からの輻射熱は特定
波長のきわめて弱い信号になる。
温度上昇するが、輻射熱は分散子により分散され、出射
スリット5から出射するマスク11からの輻射熱は特定
波長のきわめて弱い信号になる。
以上より、試料からの輻射熱は直流成分として除去され
、マスクからの輻射熱は分光話によってきわめて微弱な
信号とすることができる。回転反射鏡とマスクの位相会
わせはシンクロナスモータを用いることで可能である。
、マスクからの輻射熱は分光話によってきわめて微弱な
信号とすることができる。回転反射鏡とマスクの位相会
わせはシンクロナスモータを用いることで可能である。
マスクをスリット直前で回転することにより光量利用効
率が向上する。
率が向上する。
これpの採用、近赤外分光光度計の精度向上に効果があ
る。
る。
第1図では4極のリアクションシンクロナスモータを用
い、マスクも4枚羽根であったが、同一のモータを用い
て8枚(12,16・・・)の羽根を持っても同一の効
果が得られる。この場合、回転反射鏡の羽根の枚数は、
マスクの羽根の枚数の1/2であれば良い。一般的な表
現をすれば、4極のリアクションシンクロナスモータを
用いる場合、マスクの形状がπ/2nラジアン周期(n
=1.2.3・・・)であり、回転反射鏡の形状がπ/
nラジアン周期であれば、本実施例の効果が達成できる
ことは特願11848−001154号から容易に類推
できる。
い、マスクも4枚羽根であったが、同一のモータを用い
て8枚(12,16・・・)の羽根を持っても同一の効
果が得られる。この場合、回転反射鏡の羽根の枚数は、
マスクの羽根の枚数の1/2であれば良い。一般的な表
現をすれば、4極のリアクションシンクロナスモータを
用いる場合、マスクの形状がπ/2nラジアン周期(n
=1.2.3・・・)であり、回転反射鏡の形状がπ/
nラジアン周期であれば、本実施例の効果が達成できる
ことは特願11848−001154号から容易に類推
できる。
また、第1図ではマスクと回転反射鏡を別々のモータで
回転させたが、1個のモータで歯車やタイミングベルト
で連結する方法は容易に考えつく方法であり、この回転
方法の変更は、本発明の本質的変更ではない。
回転させたが、1個のモータで歯車やタイミングベルト
で連結する方法は容易に考えつく方法であり、この回転
方法の変更は、本発明の本質的変更ではない。
このように、本実施例によれば、試料およびマスクの熱
輻射の影41を受けることn<、fit度良い近赤外の
分光測定が可能になる。
輻射の影41を受けることn<、fit度良い近赤外の
分光測定が可能になる。
以上説明したように、本発明によれば、輻射熱の影41
II全最少限にして測定誤差を生じることがな′い。
II全最少限にして測定誤差を生じることがな′い。
第1図は本発明の笑施例會示す図、第2図はダブルビー
ム分光元警計の光学系概念図、第3図は試料の熱輻射の
影w’i説明する動作原理図、第4図は試料の熱輻射の
影響を除去する方式を説明する動作原理図、第5図はマ
スクからの熱輻射の影響を説明する動作原理図、第6図
は黒体の輻射熱の波長の特性を示すグラフ、第7図はマ
スクからの熱輻射がめった場合の測光値異常7を説明す
る動作原理図でるる。 l・・・光源、2・・・分光器、3.5・・・スリット
、4・・・分散子、6,9・・・回転反射鏡、7,8,
14゜15.16.17,18,19・・・反射鏡、l
O・・・光検知器、11・・・マスク、12・・・試料
、13・・・シャッター、20.21・・・リアクショ
ンシンクロナスモータ、22・・・フォトカブ2.23
・・・プリアンプ、24・・・信号切り換え器、25・
・・演算処理器。
ム分光元警計の光学系概念図、第3図は試料の熱輻射の
影w’i説明する動作原理図、第4図は試料の熱輻射の
影響を除去する方式を説明する動作原理図、第5図はマ
スクからの熱輻射の影響を説明する動作原理図、第6図
は黒体の輻射熱の波長の特性を示すグラフ、第7図はマ
スクからの熱輻射がめった場合の測光値異常7を説明す
る動作原理図でるる。 l・・・光源、2・・・分光器、3.5・・・スリット
、4・・・分散子、6,9・・・回転反射鏡、7,8,
14゜15.16.17,18,19・・・反射鏡、l
O・・・光検知器、11・・・マスク、12・・・試料
、13・・・シャッター、20.21・・・リアクショ
ンシンクロナスモータ、22・・・フォトカブ2.23
・・・プリアンプ、24・・・信号切り換え器、25・
・・演算処理器。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、波長1μから25μの範囲で感度を有する光検知器
と、光束を2方向に別ける回転反射鏡を有する近赤外分
光光度計において、光源と分散子の間に光束をしや断す
るシャッターを設けたことを特徴とする近赤外分光光度
計。 2、特許請求の範囲第1項記載の発明において、上記シ
ャッターは回転体であることを特徴とする近赤外分光光
度計。 3、特許請求の範囲第2項記載の発明において、上記回
転シャッターの形状は、π/2nラジアン周期(n=1
、2・・・)であり、上記回転反射鏡の形状がπ/nラ
ジアン周期であることを特徴とする近赤外分光光度計。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP15634784A JPS6134428A (ja) | 1984-07-26 | 1984-07-26 | 近赤外分光光度計 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP15634784A JPS6134428A (ja) | 1984-07-26 | 1984-07-26 | 近赤外分光光度計 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6134428A true JPS6134428A (ja) | 1986-02-18 |
JPH0443222B2 JPH0443222B2 (ja) | 1992-07-15 |
Family
ID=15625770
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP15634784A Granted JPS6134428A (ja) | 1984-07-26 | 1984-07-26 | 近赤外分光光度計 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6134428A (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS63271126A (ja) * | 1987-04-28 | 1988-11-09 | Shimadzu Corp | 分光光度計 |
JPH05126640A (ja) * | 1991-11-02 | 1993-05-21 | Kankiyouchiyou Chokan | 赤外分光装置 |
US5719132A (en) * | 1996-06-27 | 1998-02-17 | Bristol-Myers Squibb Company | Compositions and methods of treating HIV with d4T, 5-fluorouracil/tegafur, and uracil |
CN102564585A (zh) * | 2011-12-14 | 2012-07-11 | 上海元析仪器有限公司 | 一种紫外可见分光光度计的光路 |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5213433A (en) * | 1975-07-22 | 1977-02-01 | Hoesch Werke Ag | Method of and device for treating mill scale |
JPS52141684A (en) * | 1976-09-06 | 1977-11-26 | Hitachi Ltd | Spectrophotometry |
-
1984
- 1984-07-26 JP JP15634784A patent/JPS6134428A/ja active Granted
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5213433A (en) * | 1975-07-22 | 1977-02-01 | Hoesch Werke Ag | Method of and device for treating mill scale |
JPS52141684A (en) * | 1976-09-06 | 1977-11-26 | Hitachi Ltd | Spectrophotometry |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS63271126A (ja) * | 1987-04-28 | 1988-11-09 | Shimadzu Corp | 分光光度計 |
JPH05126640A (ja) * | 1991-11-02 | 1993-05-21 | Kankiyouchiyou Chokan | 赤外分光装置 |
US5719132A (en) * | 1996-06-27 | 1998-02-17 | Bristol-Myers Squibb Company | Compositions and methods of treating HIV with d4T, 5-fluorouracil/tegafur, and uracil |
CN102564585A (zh) * | 2011-12-14 | 2012-07-11 | 上海元析仪器有限公司 | 一种紫外可见分光光度计的光路 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0443222B2 (ja) | 1992-07-15 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
EXPY | Cancellation because of completion of term |