JPS6134428A - 近赤外分光光度計 - Google Patents
近赤外分光光度計Info
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- JPS6134428A JPS6134428A JP15634784A JP15634784A JPS6134428A JP S6134428 A JPS6134428 A JP S6134428A JP 15634784 A JP15634784 A JP 15634784A JP 15634784 A JP15634784 A JP 15634784A JP S6134428 A JPS6134428 A JP S6134428A
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- G—PHYSICS
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の利用分野〕
本発明は近赤外ダブルビーム分光光度計に係り、特に、
熱輻射によるゼロ点の変動を少くして測光正確度を向上
させるに、好適な近赤外分光光度計に関する。
熱輻射によるゼロ点の変動を少くして測光正確度を向上
させるに、好適な近赤外分光光度計に関する。
近赤外分光光度計の光検知器は波長１μから２、．５μ
の範囲で感度を有する。一方、室温（約３００°Ｋ）で
の物質は１２μをピークと１して熱ａを輻射するが、わ
ずかＩＯＣ程度の変動でも波長２μでの輻射熱線のエネ
ルギーは約２倍も異なる。このことは、測定すべき試料
の温度が分光光度計の温度と異なったり、分光光度計の
回転や、シャッターが温度を持ったりすると、０（零）
点を測定するためにシャッターを入れたとキト、実際に
測定するためにシャッターがないときとの温度差を光検
知器が検知し、該温度差が測定誤差分となって測１定精
度を狂わせるという欠点を有していた。
の範囲で感度を有する。一方、室温（約３００°Ｋ）で
の物質は１２μをピークと１して熱ａを輻射するが、わ
ずかＩＯＣ程度の変動でも波長２μでの輻射熱線のエネ
ルギーは約２倍も異なる。このことは、測定すべき試料
の温度が分光光度計の温度と異なったり、分光光度計の
回転や、シャッターが温度を持ったりすると、０（零）
点を測定するためにシャッターを入れたとキト、実際に
測定するためにシャッターがないときとの温度差を光検
知器が検知し、該温度差が測定誤差分となって測１定精
度を狂わせるという欠点を有していた。
本発明の目的は、熱輻射の影＃を最小限にして測定誤差
の生じることのない近赤外分光光度計を提供することに
ある。
の生じることのない近赤外分光光度計を提供することに
ある。
本発明は光源と分散子の間に光束をしゃ断するシャッタ
ーを設けることによ）熱輻射の影響を最小限にして測定
誤差が生じないようにしようというものである。
ーを設けることによ）熱輻射の影響を最小限にして測定
誤差が生じないようにしようというものである。
本発明の詳細な説明する前に本発明するに至った背景に
ついて説明する。
ついて説明する。
第２図（Ａ）において、光源ｌから出射した光は分光器
２の入射スリット３に入射し、分散子４によって分散さ
れたあと出射スリット５から単色光となって出射す名。
２の入射スリット３に入射し、分散子４によって分散さ
れたあと出射スリット５から単色光となって出射す名。
単色□光は回転反射鏡６、および反射鏡７により試料光
束（８）−と対照光束（Ｒ）に別けられ、反射鏡８、お
よび回転反射鏡９１１？：より光検知器１０に入射して
電気量に変換される。光検知器１ｏＶｉ単色光の他に分
光光度計各部からの熱輻射を受け、また暗電流もあるの
で、ゼロレベルを常に検知する必要がある。そのため回
転反射鏡６、または回転反射鏡９に光しゃ断用のマスク
１１がとりつけてあり、光検知器ｌＯの出力電流工の時
間的変動は第２図（Ｂ）ＶＣ示される如きグラフのよう
になる。分光光度計では（Ｓ−Ｚ）／（Ｒ−Ｚ）Ｔｈ演
算し、その結果が測光値（透過度）になる。ここにＳは
試料光の光検知器出力を示し、Ｒは対照光の光検知器出
力を示し、Ｚは光検知器のゼロレベルをそれぞれ示す。
束（８）−と対照光束（Ｒ）に別けられ、反射鏡８、お
よび回転反射鏡９１１？：より光検知器１０に入射して
電気量に変換される。光検知器１ｏＶｉ単色光の他に分
光光度計各部からの熱輻射を受け、また暗電流もあるの
で、ゼロレベルを常に検知する必要がある。そのため回
転反射鏡６、または回転反射鏡９に光しゃ断用のマスク
１１がとりつけてあり、光検知器ｌＯの出力電流工の時
間的変動は第２図（Ｂ）ＶＣ示される如きグラフのよう
になる。分光光度計では（Ｓ−Ｚ）／（Ｒ−Ｚ）Ｔｈ演
算し、その結果が測光値（透過度）になる。ここにＳは
試料光の光検知器出力を示し、Ｒは対照光の光検知器出
力を示し、Ｚは光検知器のゼロレベルをそれぞれ示す。
第２図は理想的な測光方式を示しており、この場合の測
光精度は光検知器以降の光電的特性にのみ依存する。
光精度は光検知器以降の光電的特性にのみ依存する。
ところで、測定すべき試料は必ずしも分光光度計の温度
（一般的には室温）とは常に一致した値にするものでは
ない。測定の目的によっては試料の温度を高温に保つこ
とすらある。この場合、試料自体、あるいは試料保持機
構が周囲温度以上になっており、熱輻射は周囲と異なる
。例えば、周囲温度が３００°Ｋ （２７Ｃ）で、試料
温度が３１０°Ｋ （３７Ｃ）である場合は波長２μ
での熱輻射は２．２倍にもなる。従って光検知器ｌＯに
も試料の輻射熱が照射する。もし、第３図（Ａ）
′に示すように、温度が高い状態の試料１２が試
料側に置かれると、試料の熱輻射は試料側光束の時間帯
だけ光検知器ｌＯに照射する。従って一先検知器ｌＯの
出力電流工は第３図（Ｂ）に示すようになる。すなわち
光検知器ｌＯとしては試料光出力Ｓと輻射熱による出力
電流Ｈとの合成した電流（Ｓ＋Ｈ）を試料光出力電流と
して出力することになる。第３図の光学系で、試料光出
力電流Ｓと輻射熱による出力電流Ｈを弁別するためには
試料１２より前方で、回転反射鏡６エリもあとの間に光
シヤツター１３を入れ、輻射熱による出力電流Ｈだけを
検知し、演算処理中で輻射熱による出力電流Ｈ分を減す
るしか方法はない。しかしこの方法でも後述するように
測定試料の透過度が１．５μ以上波長で立ち上がってく
る試料では光シヤツター１３の熱輻射（１μの波長）の
影響を受けて光シヤツター１３金入れたときは測定値が
あり、光シヤツター１３がない状態になると測定値が出
ないことになり、試料の測定にはならず、測定値が狂う
。又、光シヤツター１３も測定のときは取り除かねばな
らず、常時入れることができないので、あくまでも暫定
的な対策である。
（一般的には室温）とは常に一致した値にするものでは
ない。測定の目的によっては試料の温度を高温に保つこ
とすらある。この場合、試料自体、あるいは試料保持機
構が周囲温度以上になっており、熱輻射は周囲と異なる
。例えば、周囲温度が３００°Ｋ （２７Ｃ）で、試料
温度が３１０°Ｋ （３７Ｃ）である場合は波長２μ
での熱輻射は２．２倍にもなる。従って光検知器ｌＯに
も試料の輻射熱が照射する。もし、第３図（Ａ）
′に示すように、温度が高い状態の試料１２が試
料側に置かれると、試料の熱輻射は試料側光束の時間帯
だけ光検知器ｌＯに照射する。従って一先検知器ｌＯの
出力電流工は第３図（Ｂ）に示すようになる。すなわち
光検知器ｌＯとしては試料光出力Ｓと輻射熱による出力
電流Ｈとの合成した電流（Ｓ＋Ｈ）を試料光出力電流と
して出力することになる。第３図の光学系で、試料光出
力電流Ｓと輻射熱による出力電流Ｈを弁別するためには
試料１２より前方で、回転反射鏡６エリもあとの間に光
シヤツター１３を入れ、輻射熱による出力電流Ｈだけを
検知し、演算処理中で輻射熱による出力電流Ｈ分を減す
るしか方法はない。しかしこの方法でも後述するように
測定試料の透過度が１．５μ以上波長で立ち上がってく
る試料では光シヤツター１３の熱輻射（１μの波長）の
影響を受けて光シヤツター１３金入れたときは測定値が
あり、光シヤツター１３がない状態になると測定値が出
ないことになり、試料の測定にはならず、測定値が狂う
。又、光シヤツター１３も測定のときは取り除かねばな
らず、常時入れることができないので、あくまでも暫定
的な対策である。
第４図（Ａ）には、試料１２からの熱輻射の影響を除去
する測光方式が示゛されている。すなわち、出射スリッ
ト５を通って出てきた単色光は回転反射鏡６、反射鏡７
，１４．１５により試料光束と対照光束に別けられ、反
射鏡１６．１７，１８゜１９により光検知器ｌＯで受光
される。回転反射鏡６には光シヤツター１１がもうけら
れている。
する測光方式が示゛されている。すなわち、出射スリッ
ト５を通って出てきた単色光は回転反射鏡６、反射鏡７
，１４．１５により試料光束と対照光束に別けられ、反
射鏡１６．１７，１８゜１９により光検知器ｌＯで受光
される。回転反射鏡６には光シヤツター１１がもうけら
れている。
この時、試料１２からの輻射熱は定常的に光検知器ｌＯ
に照射されており、光検知器ｌＯの出力電流工は第４図
（Ｂ）に示されるように、対照光束Ｒ５試料光束Ｓ１光
検知器１０のゼロレベルＺのいずれのタイミングでも、
輻射熱による出力電流Ｈだけ浮き上がる。試料１２の温
度は一般に１秒以下の短時間でｌＣ以上変動することは
ない。従って、回転反射鏡６によるチョッピング周期が
０．１秒以下であれば、その間の温度変化による輻射熱
量の変化はほとんど判別できない。したがって、１周期
の対照光束Ｒ１試料光束Ｓ１光検知器ｌＯのゼロレベル
Ｚ中の輻射熱による出力電流Ｈは一定と考えて良く、 （（Ｓ＋Ｈ）−（Ｚ−１−Ｈ））／（（Ｒｒ＋Ｈ）−（
Ｚ＋Ｈ））＝ （Ｓ−Ｚ）／（トＺ）・・・・・・・・
・・・・・・・・・・・・・（１）となり、求めるべき
値の透過間が得られる。
に照射されており、光検知器ｌＯの出力電流工は第４図
（Ｂ）に示されるように、対照光束Ｒ５試料光束Ｓ１光
検知器１０のゼロレベルＺのいずれのタイミングでも、
輻射熱による出力電流Ｈだけ浮き上がる。試料１２の温
度は一般に１秒以下の短時間でｌＣ以上変動することは
ない。従って、回転反射鏡６によるチョッピング周期が
０．１秒以下であれば、その間の温度変化による輻射熱
量の変化はほとんど判別できない。したがって、１周期
の対照光束Ｒ１試料光束Ｓ１光検知器ｌＯのゼロレベル
Ｚ中の輻射熱による出力電流Ｈは一定と考えて良く、 （（Ｓ＋Ｈ）−（Ｚ−１−Ｈ））／（（Ｒｒ＋Ｈ）−（
Ｚ＋Ｈ））＝ （Ｓ−Ｚ）／（トＺ）・・・・・・・・
・・・・・・・・・・・・・（１）となり、求めるべき
値の透過間が得られる。
第４図（Ａ）における測光系の特徴は、試料部と光検知
器ｌＯの間に回転反射鏡を有しないことである。
器ｌＯの間に回転反射鏡を有しないことである。
しかし、第４図（Ａ）の測光系は熱輻射に対して万全の
測光系ではない。第４図（Ａ）において、回転反射鏡は
一般にガラス材にアルミ等の反射率の高い物質を蒸着し
たもので、光シヤツター、１１は黒色板である。一方、
ガラスや反射率の高い金稿は放射能（エミツシビテイ）
が非常に低く、反面黒色板はｌに近い。既ち光シヤツタ
−１１自体編熱輻射が強い。また、この光シヤツター１
１は回転モータと機構的に連絡しているので、容易に温
度が上昇する。
測光系ではない。第４図（Ａ）において、回転反射鏡は
一般にガラス材にアルミ等の反射率の高い物質を蒸着し
たもので、光シヤツター、１１は黒色板である。一方、
ガラスや反射率の高い金稿は放射能（エミツシビテイ）
が非常に低く、反面黒色板はｌに近い。既ち光シヤツタ
−１１自体編熱輻射が強い。また、この光シヤツター１
１は回転モータと機構的に連絡しているので、容易に温
度が上昇する。
第５図（Ａ）において、回転反射鏡６の光シヤツタ一部
から放射する熱輻射をＨとすると、光検知器ｌＯの出力
電流Ｉは第５図（Ｂ）のようになり、ゼロ信号がＨ分だ
け浮き上がる。一方、反射鏡やガラス板の温度上昇もあ
るが、放射能が極めて低いので、対照光束Ｒ１試料光束
Ｓ分の浮き上がりは無視できる。
から放射する熱輻射をＨとすると、光検知器ｌＯの出力
電流Ｉは第５図（Ｂ）のようになり、ゼロ信号がＨ分だ
け浮き上がる。一方、反射鏡やガラス板の温度上昇もあ
るが、放射能が極めて低いので、対照光束Ｒ１試料光束
Ｓ分の浮き上がりは無視できる。
このように、光シヤツタ一部からの熱輻射は、試料側光
路と対照側光路の両光束をへて光検知器１０に到達する
ため、試料側光路に信号光（単色光）を完全にカットす
る試料を入ｎても対照側光路を通る熱輻射が検知され、
Ｈ／２だけ浮き上がる。そこで、試料側光路を室温のシ
ャッターを入れて（Ｚ十Ｈ／２）を検知し、以降（Ｚ十
Ｈ／２）をゼロ信号として用いれば測定誤差はなくなる
。
路と対照側光路の両光束をへて光検知器１０に到達する
ため、試料側光路に信号光（単色光）を完全にカットす
る試料を入ｎても対照側光路を通る熱輻射が検知され、
Ｈ／２だけ浮き上がる。そこで、試料側光路を室温のシ
ャッターを入れて（Ｚ十Ｈ／２）を検知し、以降（Ｚ十
Ｈ／２）をゼロ信号として用いれば測定誤差はなくなる
。
これまでの近赤外分光光度計ではこのような演算処理に
よる輻射熱の影響除去が主流であった。
よる輻射熱の影響除去が主流であった。
しかし、この方式では、試料側光路５ｖｉｌ−経由する
輻射熱は測定試料の透過度に比例すること全前提として
いる。例、ＩｔＩ／ｉ透過度Ｘの試料を設定した場会、
試料側光路Ｓを経由する輻射熱の信号量は（Ｈ／２）・
Ｘであることが前提条件であ゛る。しかし、現実に測定
する試料は全波長域にわたって一定の透過度を持つとは
限らず、選択的な波長においてのみ透過度が低くなるこ
とがめる。この場合には測定結果が極めて異常になる。
輻射熱は測定試料の透過度に比例すること全前提として
いる。例、ＩｔＩ／ｉ透過度Ｘの試料を設定した場会、
試料側光路Ｓを経由する輻射熱の信号量は（Ｈ／２）・
Ｘであることが前提条件であ゛る。しかし、現実に測定
する試料は全波長域にわたって一定の透過度を持つとは
限らず、選択的な波長においてのみ透過度が低くなるこ
とがめる。この場合には測定結果が極めて異常になる。
以下、その現象について解析する。
第６図はブランクの黒体輻射の波長特性を示す物体の温
度がＴ’に、波長２国のときの黒体の１′□ ’ ｔ
Ｍ１２の面積が立体角πラジアンに放射する輻射エネル
ギーＪｉ１次式で求められる。
度がＴ’に、波長２国のときの黒体の１′□ ’ ｔ
Ｍ１２の面積が立体角πラジアンに放射する輻射エネル
ギーＪｉ１次式で求められる。
ＣＨ＝ ５．９５５Ｘ１０− ”ｗａｔｔ ＊ｃｒｎ２
Ｃ２＝ １．４３’２ｃｒｒ１ｓ ｇｒａｄ３００°Ｋ
（２７Ｃ）と３１０°Ｋ（３７Ｃ）のときのＪを１μ
〜２５μの範囲で求めた結果が第１表に示される。
Ｃ２＝ １．４３’２ｃｒｒ１ｓ ｇｒａｄ３００°Ｋ
（２７Ｃ）と３１０°Ｋ（３７Ｃ）のときのＪを１μ
〜２５μの範囲で求めた結果が第１表に示される。
第１表において、ΔＪは各波長ごとのＪ３１０゜〜Ｊ３
００°の差を示す。
００°の差を示す。
第１表
この第１表から３００°と３１０° の温度差による輻
射熱の差は、長波長で急激に大きくなることがわかる。
射熱の差は、長波長で急激に大きくなることがわかる。
１μに比べ１０μでの差はｌＯ′。倍にもなる。
今、第７図（Ａ）に示す光学系で回転反射鏡６が周囲温
匿工りもＮｏＣ高温になったと考える。
匿工りもＮｏＣ高温になったと考える。
ここで試料側光路Ｓに試料１２’ｒ置くが、この試料ノ
透過パーセントスペクトルが、第７図（Ｂ）に示される
ようにｌμ近辺で０％Ｔ、１．５μ以上で約１００％Ｔ
であったとする。分光器２の出射スリット５を出射する
単色光がいま、１μであるとすると、信号光である１μ
の単色光は試料１２によって完全に吸引され、試料側光
Ｓ＝０となる。
透過パーセントスペクトルが、第７図（Ｂ）に示される
ようにｌμ近辺で０％Ｔ、１．５μ以上で約１００％Ｔ
であったとする。分光器２の出射スリット５を出射する
単色光がいま、１μであるとすると、信号光である１μ
の単色光は試料１２によって完全に吸引され、試料側光
Ｓ＝０となる。
一方回転反射鏡６にとりつけであるマスク１１が放射す
る輻射熱の内１，５μ以上は試料を透過する。
る輻射熱の内１，５μ以上は試料を透過する。
第１表かられかるように、温度差による輻射エネルギー
差は長波長側の強度差で決定づけられるため、試料１２
はマスク６からの輻射熱量のほとんどが検知器に到達す
る。即ちＨ／２はそのまま検知される。対照側光束Ｒも
加算するとゼロ信号はＨとなる。
差は長波長側の強度差で決定づけられるため、試料１２
はマスク６からの輻射熱量のほとんどが検知器に到達す
る。即ちＨ／２はそのまま検知される。対照側光束Ｒも
加算するとゼロ信号はＨとなる。
このことは、試料側信号（Ｓ＝Ｏ）Ｚυもゼロ信号（Ｚ
＝Ｈ／２）の方が大きくなり、Ｓ−Ｚ＜０となり、透過
度が負という極めて不自然な測定結果を生じる。ここで
シャッター１３に入れてゼロ信号のＨ／２（対照側光路
を経るもの）を記憶し、演算処理によって補正しても、
残りのＨ／２は残り、やはり負の透過度という現象は残
る。
＝Ｈ／２）の方が大きくなり、Ｓ−Ｚ＜０となり、透過
度が負という極めて不自然な測定結果を生じる。ここで
シャッター１３に入れてゼロ信号のＨ／２（対照側光路
を経るもの）を記憶し、演算処理によって補正しても、
残りのＨ／２は残り、やはり負の透過度という現象は残
る。
第１図には本発明の実施例が示されている。図において
、光遮断用のマスク１１は光源ｌと分散子４の間に置か
れ、回転反射鏡６はエミツシビテイの低いガラス又は反
射率の高い金属にてつくられている。試料部から光検知
器１００間には、回転反射鏡はない。マスク１１は９０
° ピッチの４枚の羽根によって作られ、回転反射鏡６
は１８０゜ピッチの２枚の反射鏡によって作られており
、夫々の回転体は４極のリアクションシンクロナスモー
タ２０，２１により回転するが、２個のモータ２０．２
１に供給される電源周波数は同一同期にある。使用する
シンクロナスモータの極性とマスク１１の羽根の枚数が
同一であれば、回転位相に対し、通電のタイミングの如
何を問わず、電源位相に対して羽根の位相は常に一定で
あることは特願昭４８−００１１５４号に示された実験
結果から公知である。回転反射鏡６の羽根の数はモータ
の極性の１／２であるため、通電のタイミングによって
は試料側光束Ｓと対照側光束Ｂめタイミングが反転する
。この場合、回転反射鏡６０位相を知るためにフォトカ
ブ２２２をとりつけておくことにエリ、試料側光束Ｓ１
対照側光束Ｒ１光検知器 １１０のゼロレベ
ルＺのタイミングは全て検知できる。
、光遮断用のマスク１１は光源ｌと分散子４の間に置か
れ、回転反射鏡６はエミツシビテイの低いガラス又は反
射率の高い金属にてつくられている。試料部から光検知
器１００間には、回転反射鏡はない。マスク１１は９０
° ピッチの４枚の羽根によって作られ、回転反射鏡６
は１８０゜ピッチの２枚の反射鏡によって作られており
、夫々の回転体は４極のリアクションシンクロナスモー
タ２０，２１により回転するが、２個のモータ２０．２
１に供給される電源周波数は同一同期にある。使用する
シンクロナスモータの極性とマスク１１の羽根の枚数が
同一であれば、回転位相に対し、通電のタイミングの如
何を問わず、電源位相に対して羽根の位相は常に一定で
あることは特願昭４８−００１１５４号に示された実験
結果から公知である。回転反射鏡６の羽根の数はモータ
の極性の１／２であるため、通電のタイミングによって
は試料側光束Ｓと対照側光束Ｂめタイミングが反転する
。この場合、回転反射鏡６０位相を知るためにフォトカ
ブ２２２をとりつけておくことにエリ、試料側光束Ｓ１
対照側光束Ｒ１光検知器 １１０のゼロレベ
ルＺのタイミングは全て検知できる。
一方、マスク１１の設置場所は可能な限り、光束の狭い
場所が良い。光束カットの立上り立下りと光量利用効率
の関係は、特願昭４７−５９７２５号に示されている計
算式から求めることができる。
場所が良い。光束カットの立上り立下りと光量利用効率
の関係は、特願昭４７−５９７２５号に示されている計
算式から求めることができる。
そのためには、スリット３の直前、又は直後にマスク１
ｌｔ−設置することが良い。
ｌｔ−設置することが良い。
したがって、本実施例によれば、マスクｌｌと回転反射
鏡６は常に一定の内置関係を保ち、あたかも回転反射鏡
の表面にマスクがあるごとく位相関係を持つことができ
る。また、本実施例によれば、Ｒ−Ｚ−８−Ｚ−の信号
切り換えの際の立上り立下りも短時間ですみ、光量利用
効率が向上する。なお、実施例において、光検知器１０
の出力信号線プリアンプ２３によ・り電流、電圧変換さ
れ、信号切り換え器２４に↓すＲ，Ｓ、Ｚの３種の信号
に弁別され、弁別のタイミングは、フォトカブ２２２の
信号を用いる。Ｒ，Ｓ、Ｚに弁別された信号は演算処理
器２５により（Ｓ−Ｚ ）／ （Ｒ，−Ｚ ）を演算し
、側光値會得る。
鏡６は常に一定の内置関係を保ち、あたかも回転反射鏡
の表面にマスクがあるごとく位相関係を持つことができ
る。また、本実施例によれば、Ｒ−Ｚ−８−Ｚ−の信号
切り換えの際の立上り立下りも短時間ですみ、光量利用
効率が向上する。なお、実施例において、光検知器１０
の出力信号線プリアンプ２３によ・り電流、電圧変換さ
れ、信号切り換え器２４に↓すＲ，Ｓ、Ｚの３種の信号
に弁別され、弁別のタイミングは、フォトカブ２２２の
信号を用いる。Ｒ，Ｓ、Ｚに弁別された信号は演算処理
器２５により（Ｓ−Ｚ ）／ （Ｒ，−Ｚ ）を演算し
、側光値會得る。
ところで、マスク１１は前述のとおり周囲温度に比べて
温度上昇するが、輻射熱は分散子により分散され、出射
スリット５から出射するマスク１１からの輻射熱は特定
波長のきわめて弱い信号になる。
温度上昇するが、輻射熱は分散子により分散され、出射
スリット５から出射するマスク１１からの輻射熱は特定
波長のきわめて弱い信号になる。
以上より、試料からの輻射熱は直流成分として除去され
、マスクからの輻射熱は分光話によってきわめて微弱な
信号とすることができる。回転反射鏡とマスクの位相会
わせはシンクロナスモータを用いることで可能である。
、マスクからの輻射熱は分光話によってきわめて微弱な
信号とすることができる。回転反射鏡とマスクの位相会
わせはシンクロナスモータを用いることで可能である。
マスクをスリット直前で回転することにより光量利用効
率が向上する。
率が向上する。
これｐの採用、近赤外分光光度計の精度向上に効果があ
る。
る。
第１図では４極のリアクションシンクロナスモータを用
い、マスクも４枚羽根であったが、同一のモータを用い
て８枚（１２，１６・・・）の羽根を持っても同一の効
果が得られる。この場合、回転反射鏡の羽根の枚数は、
マスクの羽根の枚数の１／２であれば良い。一般的な表
現をすれば、４極のリアクションシンクロナスモータを
用いる場合、マスクの形状がπ／２ｎラジアン周期（ｎ
＝１．２．３・・・）であり、回転反射鏡の形状がπ／
ｎラジアン周期であれば、本実施例の効果が達成できる
ことは特願１１８４８−００１１５４号から容易に類推
できる。
い、マスクも４枚羽根であったが、同一のモータを用い
て８枚（１２，１６・・・）の羽根を持っても同一の効
果が得られる。この場合、回転反射鏡の羽根の枚数は、
マスクの羽根の枚数の１／２であれば良い。一般的な表
現をすれば、４極のリアクションシンクロナスモータを
用いる場合、マスクの形状がπ／２ｎラジアン周期（ｎ
＝１．２．３・・・）であり、回転反射鏡の形状がπ／
ｎラジアン周期であれば、本実施例の効果が達成できる
ことは特願１１８４８−００１１５４号から容易に類推
できる。
また、第１図ではマスクと回転反射鏡を別々のモータで
回転させたが、１個のモータで歯車やタイミングベルト
で連結する方法は容易に考えつく方法であり、この回転
方法の変更は、本発明の本質的変更ではない。
回転させたが、１個のモータで歯車やタイミングベルト
で連結する方法は容易に考えつく方法であり、この回転
方法の変更は、本発明の本質的変更ではない。
このように、本実施例によれば、試料およびマスクの熱
輻射の影４１を受けることｎ＜、ｆｉｔ度良い近赤外の
分光測定が可能になる。
輻射の影４１を受けることｎ＜、ｆｉｔ度良い近赤外の
分光測定が可能になる。
以上説明したように、本発明によれば、輻射熱の影４１
ＩＩ全最少限にして測定誤差を生じることがな′い。
ＩＩ全最少限にして測定誤差を生じることがな′い。
第１図は本発明の笑施例會示す図、第２図はダブルビー
ム分光元警計の光学系概念図、第３図は試料の熱輻射の
影ｗ’ｉ説明する動作原理図、第４図は試料の熱輻射の
影響を除去する方式を説明する動作原理図、第５図はマ
スクからの熱輻射の影響を説明する動作原理図、第６図
は黒体の輻射熱の波長の特性を示すグラフ、第７図はマ
スクからの熱輻射がめった場合の測光値異常７を説明す
る動作原理図でるる。 ｌ・・・光源、２・・・分光器、３．５・・・スリット
、４・・・分散子、６，９・・・回転反射鏡、７，８，
１４゜１５．１６．１７，１８，１９・・・反射鏡、ｌ
Ｏ・・・光検知器、１１・・・マスク、１２・・・試料
、１３・・・シャッター、２０．２１・・・リアクショ
ンシンクロナスモータ、２２・・・フォトカブ２．２３
・・・プリアンプ、２４・・・信号切り換え器、２５・
・・演算処理器。
ム分光元警計の光学系概念図、第３図は試料の熱輻射の
影ｗ’ｉ説明する動作原理図、第４図は試料の熱輻射の
影響を除去する方式を説明する動作原理図、第５図はマ
スクからの熱輻射の影響を説明する動作原理図、第６図
は黒体の輻射熱の波長の特性を示すグラフ、第７図はマ
スクからの熱輻射がめった場合の測光値異常７を説明す
る動作原理図でるる。 ｌ・・・光源、２・・・分光器、３．５・・・スリット
、４・・・分散子、６，９・・・回転反射鏡、７，８，
１４゜１５．１６．１７，１８，１９・・・反射鏡、ｌ
Ｏ・・・光検知器、１１・・・マスク、１２・・・試料
、１３・・・シャッター、２０．２１・・・リアクショ
ンシンクロナスモータ、２２・・・フォトカブ２．２３
・・・プリアンプ、２４・・・信号切り換え器、２５・
・・演算処理器。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １、波長１μから２５μの範囲で感度を有する光検知器
と、光束を２方向に別ける回転反射鏡を有する近赤外分
光光度計において、光源と分散子の間に光束をしや断す
るシャッターを設けたことを特徴とする近赤外分光光度
計。 ２、特許請求の範囲第１項記載の発明において、上記シ
ャッターは回転体であることを特徴とする近赤外分光光
度計。 ３、特許請求の範囲第２項記載の発明において、上記回
転シャッターの形状は、π／２ｎラジアン周期（ｎ＝１
、２・・・）であり、上記回転反射鏡の形状がπ／ｎラ
ジアン周期であることを特徴とする近赤外分光光度計。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15634784A JPS6134428A (ja) | 1984-07-26 | 1984-07-26 | 近赤外分光光度計 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15634784A JPS6134428A (ja) | 1984-07-26 | 1984-07-26 | 近赤外分光光度計 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6134428A true JPS6134428A (ja) | 1986-02-18 |
| JPH0443222B2 JPH0443222B2 (ja) | 1992-07-15 |
Family
ID=15625770
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP15634784A Granted JPS6134428A (ja) | 1984-07-26 | 1984-07-26 | 近赤外分光光度計 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6134428A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63271126A (ja) * | 1987-04-28 | 1988-11-09 | Shimadzu Corp | 分光光度計 |
| JPH05126640A (ja) * | 1991-11-02 | 1993-05-21 | Kankiyouchiyou Chokan | 赤外分光装置 |
| US5719132A (en) * | 1996-06-27 | 1998-02-17 | Bristol-Myers Squibb Company | Compositions and methods of treating HIV with d4T, 5-fluorouracil/tegafur, and uracil |
| CN102564585A (zh) * | 2011-12-14 | 2012-07-11 | 上海元析仪器有限公司 | 一种紫外可见分光光度计的光路 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5213433A (en) * | 1975-07-22 | 1977-02-01 | Hoesch Werke Ag | Method of and device for treating mill scale |
| JPS52141684A (en) * | 1976-09-06 | 1977-11-26 | Hitachi Ltd | Spectrophotometry |
-
1984
- 1984-07-26 JP JP15634784A patent/JPS6134428A/ja active Granted
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5213433A (en) * | 1975-07-22 | 1977-02-01 | Hoesch Werke Ag | Method of and device for treating mill scale |
| JPS52141684A (en) * | 1976-09-06 | 1977-11-26 | Hitachi Ltd | Spectrophotometry |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63271126A (ja) * | 1987-04-28 | 1988-11-09 | Shimadzu Corp | 分光光度計 |
| JPH05126640A (ja) * | 1991-11-02 | 1993-05-21 | Kankiyouchiyou Chokan | 赤外分光装置 |
| US5719132A (en) * | 1996-06-27 | 1998-02-17 | Bristol-Myers Squibb Company | Compositions and methods of treating HIV with d4T, 5-fluorouracil/tegafur, and uracil |
| CN102564585A (zh) * | 2011-12-14 | 2012-07-11 | 上海元析仪器有限公司 | 一种紫外可见分光光度计的光路 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0443222B2 (ja) | 1992-07-15 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| EXPY | Cancellation because of completion of term |