JPH06222001A - 単光束反射測定装置 - Google Patents

単光束反射測定装置

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Publication number
JPH06222001A
JPH06222001A JP1048393A JP1048393A JPH06222001A JP H06222001 A JPH06222001 A JP H06222001A JP 1048393 A JP1048393 A JP 1048393A JP 1048393 A JP1048393 A JP 1048393A JP H06222001 A JPH06222001 A JP H06222001A
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JP
Japan
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light
white plate
sample
standard white
chopper
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Pending
Application number
JP1048393A
Other languages
English (en)
Inventor
Yasuro Tsukuda
康郎 佃
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shimadzu Corp
Original Assignee
Shimadzu Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Shimadzu Corp filed Critical Shimadzu Corp
Priority to JP1048393A priority Critical patent/JPH06222001A/ja
Publication of JPH06222001A publication Critical patent/JPH06222001A/ja
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  • Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 シングルビーム光学系で光量損失を少なく
し、さらに測定中の光源や検出器感度などの変動を補正
することができる単光束反射測定装置を提供する。 【構成】 単光束を試料上に照射し、その拡散反射光を
測定する装置において、試料直前の光路上に標準白板を
出し入れする機構を備えた。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、粉体試料などの拡散反
射光を測定するシングルビーム(単光束)方式の反射測
定装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来の反射測定装置においては、ダブル
ビーム(複光束)方式とシングルビーム方式とがあり、
ダブルビーム方式では測定試料に照射される測定光と標
準白板に照射される参照光とに光学的に光を分離して交
互に測定し、光源や検出器感度などの変動要因の補正を
行い、シングルビーム方式では試料測定前に標準白板を
予め測定し、あるいは測定後に試料と標準白板とを交換
して測定し、同様の補正を行っている(例えば、特公昭
63−29210号公報および特公平2−61701号
公報参照)。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】ダブルビーム方式の場
合には、その光学系構成より装置が大型となり、また、
検出器部に積分球などを使用する必要があるため、光量
損失が大きく、いわゆるS/N比の低下が避けられない
というという問題点があった。さらに、シングルビーム
方式の場合には、一般的に光の利用効率が高く、比較的
高いS/N比が望めるが、測定中の光源や検出器感度な
どの変動は補正できないという問題点があった。勿論、
シングルビーム方式の場合であっても、積分球を使用す
るときにはS/N比の低下が避けられないことはいうま
でもない。
【0004】本発明は、シングルビーム光学系で光量損
失を少なくし、さらに測定中の光源や検出器感度などの
変動を補正することができる単光束反射測定装置を提供
することを目的としている。
【0005】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、本発明の単光束反射測定装置においては、単光束が
照射される試料直前であってその光路上に標準白板を出
し入れする機構を備えたものである。
【0006】上記標準白板を出し入れする機構として
は、標準白板を回転ディスクで成形して一定周期でこれ
を回転させる構成が好適である。
【0007】また、試料と標準白板との検出器における
測定信号の弁別は、適宜の手段により行うことができる
が、一般的には、標準白板の光路上への出し入れ周期を
検出し、これと同期して検出器側出力ラインをスィッチ
ングして行うことができる。
【0008】
【作用】上記のように構成された単光束反射測定装置で
は、試料の直前の光路上に標準白板を挿入し、試料測定
の直前あるいは直後に同標準白板の測定を行い、これを
参照(リファレンス)信号として利用する。
【0009】
【実施例】以下、本発明のシングルビーム反射測定装置
について図面を参照して説明すると、図1において、ラ
ンプ1から放射された光は集光ミラー2で反射され、迷
光カットフィルター3を通過して分光器の入口スリット
5へ入る。入口スリット5から入射した光は反射ミラー
6によって凹面回折格子7に照射され、同凹面回折格子
7で分光された特定波長の単色光は出口スリット10を
通って試料14上に照射される。なお、8は凹面回折格
子7の駆動用モータである。
【0010】この測定光の光路上にはダーク用チョッパ
ー9が周期的に出し入れされ、測定光は断続的に遮断さ
れ、周期的にダーク信号が作られる。また、ダーク用チ
ョッパー9と同期してリファレンス用標準白板12も測
定光の光路上に周期的に出し入れされる。なお、13は
チョッパー9および標準白板12の駆動用モータであっ
て、通常はパルスモータが用いられる。
【0011】試料14上からの拡散反射光、ダーク信号
および標準白板12からの反射光は保持枠15に配置さ
れた検出器11で検出されるが、それぞれの測定信号の
弁別および信号処理は、不図示の適宜の手段によって行
われる。
【0012】図2にはダーク用チョッパー9の形状を示
し、45°間隔の45°幅で扇状に遮光用の羽根が設け
てある。また、図3には標準白板12の回転ディスクの
形状を示し、90°間隔の90°幅に扇状に標準白板が
設けてある。従って、これら両ディスク9および12の
位相を調整し、同軸で回転させることにより、図4に示
すような検出器11からの信号出力が得られる。この信
号出力はダブルビーム方式で得た信号出力波形(サンプ
リングパルス)と同じである。
【0013】
【発明の効果】本発明は、以上説明したように構成され
ているので、シングルビーム測定において、ダブルビー
ム方式のように、スキャニング中に参照信号を取り込む
ことができ、スキャニング中の光源変動や検出器出力の
変動を補正し、安定したデータを得ることができる。勿
論、光学的にシングルビーム方式であるので、装置構成
がコンパクトになり、光量損失が少なく、高いS/N比
が望める。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明装置の概略図である。
【図2】本発明装置に用いるダーク用チョッパー9の形
状を示す図である。
【図3】本発明装置に用いる標準白板12の回転ディス
クの形状を示す図である。
【図4】本発明装置の検出器出力を示す図である。
【符号の説明】
1…光源 2、6…反射ミラー 5…入口スリット 7…凹面回折格
子 9…ダーク用チョッパミラー 10…出口スリッ
ト 11…検出器 12…標準白板 14…試料

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 単光束を試料上に照射し、その拡散反射
    光を測定する装置において、 試料直前の光路上に標準白板を出し入れする機構を備え
    たことを特徴とする単光束反射測定装置。
JP1048393A 1993-01-26 1993-01-26 単光束反射測定装置 Pending JPH06222001A (ja)

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JP1048393A JPH06222001A (ja) 1993-01-26 1993-01-26 単光束反射測定装置

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JPH06222001A true JPH06222001A (ja) 1994-08-12

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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007013047A (ja) * 2005-07-04 2007-01-18 Dainippon Screen Mfg Co Ltd 反射光強度比測定装置、光エネルギー吸収比率の測定装置および熱処理装置
CN109060679A (zh) * 2018-09-07 2018-12-21 中国计量科学研究院 超高光谱透射比标准量具及能见度测量装置
CN109752348A (zh) * 2018-09-07 2019-05-14 中国计量科学研究院 透射比标准量具、透射比测量装置
CN113720792A (zh) * 2021-09-24 2021-11-30 江苏大学 一种提高测试效率及精度的植物叶片多成分检测装置

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