JPS61296484A - 光学文字読取方法 - Google Patents

光学文字読取方法

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JPS61296484A
JPS61296484A JP60137727A JP13772785A JPS61296484A JP S61296484 A JPS61296484 A JP S61296484A JP 60137727 A JP60137727 A JP 60137727A JP 13772785 A JP13772785 A JP 13772785A JP S61296484 A JPS61296484 A JP S61296484A
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JP60137727A
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Kiyomichi Kurino
栗野 清道
Masatoshi Kurata
倉田 正敏
Takeyuki Sugimoto
杉本 建行
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Hitachi Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の利用分野〕 本発明は光学文字読取装置に係わり、特に印字位置ずれ
め大きい文字の読取りに好適な読取方法に関する。
〔発明の背景〕
従来の装置において、印字装置等で印字され−た帳票の
文字を読取る場合、印字装置による印′字ずれや、帳票
のカット精度による誤差が存在するため、特にフィール
ドとフィールドの間隔が小さい場合、あるいはスペース
を読取る場合、桁ずれを防止するため印字位置誤差を少
なくとも記入ピッチのλ以下にする必要がある。ところ
が一般に、前記印字位置すれか、前記値以下となる印字
装置は少なく、前記のようなフィールドを読取るため圧
は、印字位置ずれを検出して、位置を補正する必要があ
る。
この種の装置としては、特開昭59−206987号お
よび特開昭59−206989号に記載の装置が挙げら
れるが、いずれの場合も、基準とするフィールド内にス
ペースを含まないことを前提としているため、適用でき
る帳票が限定されるという問題がある。また一般的な印
字字体として使用されている0CRBフオントの文字′
げや1J″のように文字パターンの中心と印字の中心が
一致せずオフセットが存在する場合、オフセット量を考
慮して印字位置を求めることが必要であるが、この間頂
が考慮されでいない。
さらに、帳票搬送中において、帳票の搬送速度の変動や
、帳票傾きの変動が存在する場合、基準フィールドと読
取フィールドが隣接している場合は問題ないが、隔れて
いる場合上記変動により正確に位置補正を行なうことが
できなくなるという問題がある。
〔発明の目的〕
本発明の目的は、前記問題点を排除し、より多様な帳票
を印字ずれや@票の誤差、帳票搬送時における変動等に
影響されることなく読取る方法を提供することにある。
〔発明の概要〕
上記目的を達成するため、本発明においては、帳票((
印字される文字は、その大部分が記入フィールドに対し
、右寄せあるいは左寄せされて印字されることに着目し
、フィールド端の文字位置を基準としてフィールド位置
を求めることにより、スペースを含むフィールドにおい
てもフィールドの位置を検出することを可能とすると共
K、文字位置を求める際、対応する文字の認識結果を参
照し、文字パターン中心と文字位置のオフセット量の補
正を行なうことで文字位置を正確に検出する。
さらに複数のフィールドによシ位置誤差を検出すること
釦より印字ずれや帳票のカット誤差のみでなく帳票搬送
機構の変動による誤差まで補正することを特徴とする。
〔発明の実施例〕
以下、本発明の一実施例について説明する。
第1図は本発明の一実施例による光学文字読取装置の構
成ブロック図である。
第1図において1は搬送ローラーを含む帳票搬送機構、
2は帳票、3は発光源、4は受光素子、5は二値化回路
、6は記憶回路、7は切出し認識部でありマイクロプロ
セッサによシ構成される。8は辞書ファイル、9は利用
装置である。
帳票2は帳票搬送機構1により発行源6および受光素子
からなる読取部に搬送され、発光源5により光学的圧走
査される。この走査により帳票2上の印字文字パターン
の反射光は受光素子4に入射され、受光素子4は順次入
射されるパターンを電気信号に変換し出力する。受光素
子4としては一次元半導体CCDセンサ等が使用される
。二値化回路5は受光素子4からの出力信号を所定のN
値により10′″(IMの二値信号として記憶回路6に
出力する。記憶回路6は帳票上のパターンを10″#1
4Iの二値信号として記憶するもので、半導体メモリ等
が使用される。
切出し認識部7は記憶回路60文字パターンを一文字毎
切出し、切出した文字パターンを辞書ファイル8の標票
パターンと比較し、一致のとれた標準パターンを認識結
果として外部記憶装置や、中央処理装置等の利用装置?
に出力するとともに読取りの制御を行なう。
本実施例による光学文字読取装置は帳票のフィールドに
記入された文字をフィールド単位に読取るものであり、
帳票内圧少なくとも1つの右または左寄せして印写した
フィールドを含むものとする。例えば日付等を印字した
フィールド等がそうである。右または左寄せして印字し
たフィールドか否かはフォーマット情報により指定する
第2図は本発明の一実施例による切出し認識部7におけ
る読取動作のフローを示し、第5図はフィールド位置誤
差算出の一例を示す図である。
まず通常フィールドにおける読取動作を第2図を参照し
て説明する。文字をW1識するためには、文字を一文字
毎切出す必要があるが、文字の切出しは、フィールドの
左右端座標(Xs 、Xe )を基準に行なう、フィー
ルド左右端の位置は、フォーマット情報として指定され
るが、印字位置ずれがフィールド位置誤差として検出さ
れていれば、指定されたフィールド左右端座標を印字位
置に合わせるため、フィールド位置誤差で補正する(I
 DO)。補正は次式で行なう。
X5=X3o−)−欲、  X6=Xeo−1−泣ここ
でXs o 、Xe oはフォーマット情報で指定され
たフィールドの左右端座標、欲はフィールド位置誤差で
ある。フィールド位置誤差が未検出の場合は涼=0とし
て計算する。つづいて補正したフィールド左右座標を基
準に文字を一文字単位に切出し、切計したパターンと辞
書メモリB内の標準パターンとのマツチングにより文字
の認識を行なう。認識結果は一時的にマイクロブロセッ
チ内のメモリに格納する(110)。通常フィールドの
場合、フィールド位置誤差の算出を実行せず、次のフィ
ールドの読取りを行なう(120,150,160)。
次に右または左寄せして印字したフィールドの場合の読
取動作について同じく第2図を参照して説明する。
第2図において右または左寄せして印字したフィールド
の場合も通常フィールドと同様フィールド左右端座標の
補正を行ない(100) 、文字切出しg識処理を行な
う(110)。ただし右または左寄せして印字したフィ
ールドの場合、フィールド位置誤差算出のため、第3図
の例に示すように、文字パターン中心座標Z1.j12
.25.および文字切出し基準座標X1.X2 、Xs
 、さらに左端1文字基準座標℃あるいは右端文字基準
座標Xrを認識結果に対応させて一時点にメモリ内に格
納する。
つづいて、フィールド位置誤差を算出するため印字位置
を算出する(120,130)。印字位置は印字字体が
左右対称な文字なら文字パターン中心座標と同一である
が非対称な場合同一でない場合がある。同一でない場合
の例として例えばOCR用印字文字として一般に使用さ
れている0CRBフオントの文字11″や1J″′の例
がある。
このような場合フォーマット情報として指定された字体
と認識結果をもとに文字パターン中心位置から印字位置
を求める。第3図の例においては、zl、χ2.”!が
そのまま印字位置になる。
さらに印字位置を求めたなら、フィールド位置誤差(ハ
)を次式にて求める(140)。
ハ= zl−xz  (1) 、またはバ=χn−Xr
 (2)(1)氏は左寄せ印字のフィールドの場合に、
(2)式は右寄せ印字のフィールドの場合に適用する。
ここで町は左端文字の印字位置、”?L″は右端文字の
印字位置を示す。(りまたは(2)式はフィールドの左
端または右膚文字の印字位置からフィールド位置誤差を
求める場合の算出式であるが、印字された文字がフォー
マット情報で指定されたピッチとほぼ同間隔(P)で印
字される場合左端または右端以外の文字の印字位置を考
慮することKよりさらに高い精度でフィールド位置誤差
を求めることも可能である。この場合の式を(6)およ
び(4)K示す。(5) t、は左寄せ印字のフィール
ドに、(4)は右寄せ印字のフィールドに適用できる0
ジ二一、Σ (” L−XL) +Xt −XJ   
 (’)九 k暉1 ここで九はフィールド内の文字数を示す。
つぎに求めた、フィールド位置誤差が規定値に1よりも
大きけれは、再読取りを行なう(150)。
規定値に1は桁ずれを発生させない値に設定する。
再読取りの場合、先に検出したフィールド位置誤差によ
りフィールド位置補正を行ない、通常フィールドと同様
に切出し認識処理を実行し7、フィールド位置誤差算出
は行なわない。またすでに当該フィールドより以前にフ
ィールド位置誤差が検出されている場合すでに検出した
フィールド位#誤差(涜L−+ )と新たに求めた誤差
□Lを加算し新たなフィールド位置誤差(〜L)とする
。ここでフィールド位置誤差は正負の符号をもつ値とし
、符号が正ならば読取ったフィールドの位置が右側に、
負ならば左側にずれているものとする。
この様に本実施例によれば、印字装置で印字された帳票
において印字されたフィールドの大部分が右または左寄
せされて印字されるため、大多数の帳票を印字ずれや、
帳票のカット誤差に影響されることなく読取ることがで
きるため、特にフィールドの境界に文字の存在しないク
リアエリアの確保されていない一般の伝票の読取りに有
効である。
〔発明の効果〕
以北本発明によれば、右または左寄せして印字したフィ
ールドなら、フィールド位置誤差の検出がフィールド内
にスペースがあるか否かにかかわらず可能であり、また
字体が非対称で印字中心と文字パターン中心が一致しな
い文字が印字されても正確に文字位置の検出が可能であ
るので、印字ずれの大よい帳票や、フィールド境界にク
リアエリアの確保されていない帳票を桁ずれすることな
く正確に読取ることができる。
さらに複数のフィールドでフィールド位置誤差を求める
ことにより、帳票搬送機構の変動による文字切出しの誤
差をも補正できる効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例による光学文字読取装置の構
成ブロック図、第2図は読取動作のフローチャート、第
6図はフィールド位置誤差算出の一例を示す図である。 1・・・帳票搬送機構、2・・・帳票、5・・・発光源
、4・・・受光素子、5・・・二値化回路、6・・・記
憶回路7・・・マイクロプロセッサ、8・・・辞書ファ
イル、9・・・利用装置。 、、−。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、右または左寄せして記入されたフィールド内の文字
    の印字位置を検出し、フィールド端の文字の印字位置か
    ら該フィールドの位置を求めあらかじめ指定された位置
    との誤差を求め、求められた誤差により、誤差を検出し
    たフィールドを含め、帳票内のフィールド位置を補正す
    ることを特徴とする光学文字読取方法。 2、フィールド位置の誤差を求める際、スペースを含め
    てフィールドに印字された文字があらかじめ指定された
    ピッチとほぼ同一なら、フィールド端の文字に限定する
    ことなくフィールド内の複数の文字の印字位置からフィ
    ールド位置誤差を求めることを特徴とする前記特許請求
    の範囲第1項記載の光学文字読取方法。 3、印字の検出において、文字の認識結果を参照するこ
    とによって、文字パターンの中心と印字位置のオフセッ
    ト量を補正して印字位置を検出することを特徴とする前
    記特許請求の範囲第1項若しくは第2項記載の光学文字
    読取方法。 4、フィールド位置誤差を求める際、複数のフィールド
    位置誤差を求める場合、すでに求められている誤差と、
    すでに求められた誤差をもってフィールド位置を補正し
    て得られたフィールドの位置誤差の和を、新たにフィー
    ルド位置誤差とすることを特徴とする前記特許請求の範
    囲第1項乃至第3項いずれかに記載の光学文字読取方法
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Cited By (2)

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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
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