JPS61283186A - 半導体レ−ザ−素子 - Google Patents

半導体レ−ザ−素子

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JPS61283186A
JPS61283186A JP60123516A JP12351685A JPS61283186A JP S61283186 A JPS61283186 A JP S61283186A JP 60123516 A JP60123516 A JP 60123516A JP 12351685 A JP12351685 A JP 12351685A JP S61283186 A JPS61283186 A JP S61283186A
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JP
Japan
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refractive index
semiconductor
semiconductor laser
lens
plane
Prior art date
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Pending
Application number
JP60123516A
Other languages
English (en)
Inventor
Yoshiyuki Asahara
浅原 慶之
Hiroyuki Sakai
裕之 坂井
Shigeaki Omi
成明 近江
Shin Nakayama
伸 中山
Yoshitaka Yoneda
嘉隆 米田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hoya Corp
Original Assignee
Hoya Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Hoya Corp filed Critical Hoya Corp
Priority to JP60123516A priority Critical patent/JPS61283186A/ja
Publication of JPS61283186A publication Critical patent/JPS61283186A/ja
Pending legal-status Critical Current

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    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B6/00Light guides; Structural details of arrangements comprising light guides and other optical elements, e.g. couplings
    • G02B6/24Coupling light guides
    • G02B6/42Coupling light guides with opto-electronic elements
    • G02B6/4201Packages, e.g. shape, construction, internal or external details
    • G02B6/4204Packages, e.g. shape, construction, internal or external details the coupling comprising intermediate optical elements, e.g. lenses, holograms
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S5/00Semiconductor lasers
    • H01S5/02Structural details or components not essential to laser action
    • H01S5/022Mountings; Housings
    • H01S5/0225Out-coupling of light
    • H01S5/02253Out-coupling of light using lenses
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S5/00Semiconductor lasers
    • H01S5/005Optical components external to the laser cavity, specially adapted therefor, e.g. for homogenisation or merging of the beams or for manipulating laser pulses, e.g. pulse shaping

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  • Semiconductor Lasers (AREA)
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、発光ビームの形状を調整した半導体レーザー
素子に関するものである。光通信やレーザーディスクの
光源として最近頻繁に使用されるようになった半導体レ
ーザーは、通常半導体の接合面に対して平行な方向と垂
直な方向とで発光面の大きさが異なり、平行方向のビー
ム半径は3〜6μmであるが、垂直方向のビーム半径は
0.5〜0.8μmの値をとる。またビームの拡がり角
も前記接合面に対して平行な方向より垂直な方向の方が
一般に大きく、前者が10〜20°の拡がり角を示すの
に対して後者は20〜40’にも達する。このため、ビ
ーム形状は楕円状となり、このことがビームを集光して
光ファイバーに挿入する時の不整合の原因になることが
ある。
垂直方向に大きいビームの拡がり角を修正して上記のよ
うな不整合を解消するために、従来は第1図に示すよう
に、半導体レーザー1の接合面5より発したビームを屈
折率分布型のロッドレンズ2を介して、光ファイバー3
に挿入するに際し、半導体1とロッドレンズ2の間に円
柱状レンズ4を介在させて、接合面5と垂直な方向のビ
ームの拡がり角を補正する方法がとられていた。従って
、この方法の実施には円柱状レンズ4として半径3〜5
μmと極めて小さな円柱レンズが必要となるが、そうし
たレンズの製造は必ずしも容易ではなく、加えてレンズ
の設置方法や設置位置に関して厳しい要求が課せられる
面倒がある。
一方、気密型の半導体レーザー素子としては、第2図に
示す如くプレート7で支持されたパッケージ10の内部
に半導体レーザー1を収め、パッケージの開口部をカバ
ーしているガラス6を通して半導体からの光をとり出す
構造が知られている。
そこで本発明の目的は、一方向にのみ屈折率分布を有す
るスラブ状レンズにて、カバーガラスの光通過域を構成
させるという簡単な構造で、ビームの形状を整え得るよ
うにした半導体レーザー素子を提供することにある。
この目的を達成するためには、例えば特願昭59−14
6913号の発明で提案されているような一方向にのみ
屈折率分布を有するスラブ状レンズを使用することがで
きる。
以下に図面を参照して本発明の詳細な説明する。
第3図は本発明でカバーガラスとして用いるガラス板8
の斜視図であり、第4図及び第5図はそれぞれ第3図に
示すガラス板のy−z平面並びにX−Z平面に於ける断
面図と屈折率分布を示す図である。斜線部9で示される
屈折率分布領域では、屈折率がX方向にのみy−z平面
に関して対称的に第4図の如く変化し、X方向の屈折率
は第5図に示す如く変化しない。つまり、本発明のカバ
ーガラスは透明板状体のほぼ中央部に、スラブ状屈折率
分布型レンズを一体に組込んだものとみなすことができ
るものであって、そのレンズ部分はその表面(x−1平
面)に直交するX−Z平面に関して対称的に、屈折率が
レンズ表面からその厚さ方向に漸減し、X方向には屈折
率が一様で変化しな℃)特性を備えている。
第6図は本発明に係る半導体レーザー素子の構成を示す
側面図であって、図示の通り、半導体1を収めたパッケ
ージ10の開口部は、第3〜第5図に示されるようなス
ラブ状屈折率分布型レンズ9を組込んだガラス8でカバ
ーされている。第6図に示す態様では、スラブ状屈折率
分布型レンズ9内で屈折率が最大なX−Z平面と、半導
体1の接合面とを一致させているので(従って半導体の
発光点は前記のX−Z平面上にある)。半導体1から発
せられたビームは、カバーガラスの屈折率分布領域を通
過することによって垂直方向の拡がり角が絞られ、その
結果してビーム形状を楕円状から真円度の高い円形ビー
ムに整えることができるのである。
第7図は本発明の別の実施態様に示し、この例は第3〜
5図に示されるようなスラブ状屈折率分布型レンズ9を
それぞれ組込んだ2枚のガラス板8を、各レンズのX−
Z平面が直交するよう重ねてカバーガラスとしたもので
あり、2枚のガラス板の重ね合せ状態は第8図に示され
る。第7図に示す態様では各レンズのX−Z平面が交差
する直線上に、半導体の発光点が位置せしめられている
ので、半導体レーザービームの最大拡がり角および最小
拡がり角方向に合せてガラス板の厚さ又は屈折率の変化
度合を調整することによって、半導体レーザー素子から
出射する光線を平行光にすることができる。
以上述べたように本発明によれば、半導体レーザー素子
に必要な保護カバーガラスに一方向にのみ屈折率分布を
有するスラブ状レンズを組込むことによって、球レンズ
や屈折率分布型ロッドレンズなどの付加的な光学素手を
用いることなく、ビーム形状が整ったレーザー光を発す
る半導体レーザー素子を得ることができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は従来の半導体レーザービーム制御手段の説明図
、第2図は従来の気密型半導体レーザー素子の平面図、
第3図は本発明による半導体レーザー用カバーガラス板
の斜視図、第4図及び第5図はそれぞれ第3図に示すカ
バーガラス板のy−2平面並びにX−Z平面に於ける断
面図とそのガラス板の屈折率特性を示す図、第6図は本
発明の一実施態様を示す半導体レーザー素子の側面図、
第7図は本発明の別の実施態様を示す半導体レーザー素
子の側面図、第8図はカバーガラス板の重ね合せ状態を
示す説明図である。 1・・・半導体、2・・・屈折率分布型ロッドレンズ、
3・・・光ファイバー、4・・・円柱レンズ、5・・・
半導体接合面、6・・・保護用カバーガラス、7・・・
支持プレート、8・・・一方向性屈折率分布領域を有す
るガラス板、9・・・一方向性屈折率分布領域(スラブ
状屈折率分布型レンズ)、10・・・パッケージ。 出 願 人  ホーヤ株式会社 代  理  人   朝  倉  正  幸第1図 第2図 第3図 ■ 第4図 第8図 手続補正書 昭和60年 7月16日

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 ガラス板でカバーされた開口部を有するパッケージ
    内に半導体レーザーを収容し、半導体の光放出面をカバ
    ーガラスに対向させた半導体レーザー素子に於て、透明
    板状体の表面(x−y面)に直交する平面(x−z面)
    に関して対称に、屈折率が板状体の表面(x−y面)か
    ら厚さ方向に漸減し、x方向には屈折率が一様なスラブ
    状屈折率分布型レンズを、そのx−z面上に前記半導体
    の発光点が位置するよう前記カバーガラスに組込んだこ
    とを特徴とする半導体レーザー素子。 2 前記したスラブ状屈折率分布型レンズを2枚各レン
    ズのx方向が直交するよう積層させ、各レンズのx−z
    面が交差する直線上に前記半導体の発光点が位置するよ
    う上記2枚のレンズを前記カバーガラスに組込んだこと
    を特徴とする特許請求の範囲第1項記載の半導体レーザ
    ー素子。
JP60123516A 1985-06-08 1985-06-08 半導体レ−ザ−素子 Pending JPS61283186A (ja)

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JP60123516A JPS61283186A (ja) 1985-06-08 1985-06-08 半導体レ−ザ−素子

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JPS61283186A true JPS61283186A (ja) 1986-12-13

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0298348A (ja) * 1988-10-04 1990-04-10 Nidek Co Ltd レーザ治療装置
WO2002025253A1 (en) * 2000-09-25 2002-03-28 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Device for chromatographic quantitative measurement
JP2002098631A (ja) * 2000-09-25 2002-04-05 Matsushita Electric Ind Co Ltd 小型試料濃度測定装置

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