JPS61281944A - 原子吸光分析装置 - Google Patents
原子吸光分析装置Info
- Publication number
- JPS61281944A JPS61281944A JP12397285A JP12397285A JPS61281944A JP S61281944 A JPS61281944 A JP S61281944A JP 12397285 A JP12397285 A JP 12397285A JP 12397285 A JP12397285 A JP 12397285A JP S61281944 A JPS61281944 A JP S61281944A
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- Japan
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- supplied
- measured
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- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（産業上の利用分野）
この発明は、光源の光強度変動の影響を防止した原子吸
光分析装置に関する。
光分析装置に関する。
（従来の技術とその問題点）
シングルビーム方式の原子吸光分析装置は、従来、第４
図のように構成されており、試料３が継続的に供給され
るバーナ２に光源１からの光を通し、この光を分光器４
によって分光した後に光検出器５による光検出を行なう
。そして、この検出出力に基いて、吸光度測定器６が吸
光度の測定を行なっている。ところが、光源１からの光
強度を時間的に一定の値に保持することは困難であるた
め、この光強度に時間的変動が発生してしまうのが通例
である。このため、このような装置では、第５図に示す
ように、吸光度曲線のベースライン７も時間的に変化し
てしまい、試料の吸光測定に誤差が生ずるという問題が
ある。
図のように構成されており、試料３が継続的に供給され
るバーナ２に光源１からの光を通し、この光を分光器４
によって分光した後に光検出器５による光検出を行なう
。そして、この検出出力に基いて、吸光度測定器６が吸
光度の測定を行なっている。ところが、光源１からの光
強度を時間的に一定の値に保持することは困難であるた
め、この光強度に時間的変動が発生してしまうのが通例
である。このため、このような装置では、第５図に示す
ように、吸光度曲線のベースライン７も時間的に変化し
てしまい、試料の吸光測定に誤差が生ずるという問題が
ある。
一方、このような問題に対処するために、第６図のよう
なダブルビーム方式の光学系が使用されている。この方
式では、ビームスプリッタ８やビームコンバイナ９を用
いて、光源１からの光をサンプル側■ とリファレンス
側ＩＲとに時分割し、これらを吸光度測定器６ａ、６ｂ
で個別に測定した後、それらの測定値の差を減算器１０
で求めることによって上記誤差の補正を行なっている。
なダブルビーム方式の光学系が使用されている。この方
式では、ビームスプリッタ８やビームコンバイナ９を用
いて、光源１からの光をサンプル側■ とリファレンス
側ＩＲとに時分割し、これらを吸光度測定器６ａ、６ｂ
で個別に測定した後、それらの測定値の差を減算器１０
で求めることによって上記誤差の補正を行なっている。
ところが、この方式では光学系の構造が複雑になるため
、装置のコストアップと、信号処理におけるＳ／Ｎ比の
劣化という問題が生じてしまう。
、装置のコストアップと、信号処理におけるＳ／Ｎ比の
劣化という問題が生じてしまう。
（発明の目的）
この発明は、上述のような欠点を克服することを意図し
ており、光源の光強度変動の影響による誤差を防止する
ことができるとともに、簡易かつ安価で、信号処理にお
けるＳ／Ｎ比の劣化を招くこともない原子吸光分析装置
を提供することを目的とする。
ており、光源の光強度変動の影響による誤差を防止する
ことができるとともに、簡易かつ安価で、信号処理にお
けるＳ／Ｎ比の劣化を招くこともない原子吸光分析装置
を提供することを目的とする。
（目的を達成するための手段）
上述の目的を達成するため、この発明にかかる原子吸光
分析装置には、試料を所定の時間間隔で間欠的に原子化
部に供給する試料供給手段と、上記原子化部を通した光
についての吸光度を測定する手段と、試料が供給されて
いない期間での吸光度測定値を記憶する記憶手段と、上
記記憶手段の記憶出力と試料の供給が行なわれている期
間についての吸光度測定値との差を求める減算手段とを
設けている。
分析装置には、試料を所定の時間間隔で間欠的に原子化
部に供給する試料供給手段と、上記原子化部を通した光
についての吸光度を測定する手段と、試料が供給されて
いない期間での吸光度測定値を記憶する記憶手段と、上
記記憶手段の記憶出力と試料の供給が行なわれている期
間についての吸光度測定値との差を求める減算手段とを
設けている。
（実施例）
第１図は、この発明の一実施例である原子吸光分析装置
の構成を示すブロック図であり、第４図の装置と同様の
部分についての重複説明は省略する。同図に示すように
、この装置では、溶液試料３をポンプ２１（たとえば、
しごきポンプ）を用いてＴ字型チューブ２４の一方から
供給するとともに、コンプレッサー等の空気源２３から
の圧縮空気を断続バルブ２２によって断続空気流として
、上記Ｔ字型チューブ２４の他の一端から供給する。
の構成を示すブロック図であり、第４図の装置と同様の
部分についての重複説明は省略する。同図に示すように
、この装置では、溶液試料３をポンプ２１（たとえば、
しごきポンプ）を用いてＴ字型チューブ２４の一方から
供給するとともに、コンプレッサー等の空気源２３から
の圧縮空気を断続バルブ２２によって断続空気流として
、上記Ｔ字型チューブ２４の他の一端から供給する。
すると、第２図に示すように、試料３は断続空気流と交
互に１時型チューブ２４の中を進み、所定の時間間隔で
間欠的に原子化部としてのバーナ２０へ供給される。
互に１時型チューブ２４の中を進み、所定の時間間隔で
間欠的に原子化部としてのバーナ２０へ供給される。
したがって、光源１からの光をバーナ２０に通した後に
、吸光度測定器２５において測定すると、第３図（ａ）
の曲線２８のように、試料が供給されている期間にピー
クを有する吸光度曲線となる。
、吸光度測定器２５において測定すると、第３図（ａ）
の曲線２８のように、試料が供給されている期間にピー
クを有する吸光度曲線となる。
一方、吸光度測定器２５の出力は、減算器２７の一方の
入力となるとともに、メモリ２６にも与えられる。この
メモリ２６は、各ピークの立下り完了時から次のピーク
の立上りまでの期間では入力信号をそのまま出力するが
、ピーク期間においては、そのピークの直前の時刻の信
号値をホールドし、その値を記憶出力として与えるよう
に構成されている（同図の曲線２９）。このため、この
メモリ２６は、試料が供給されていない期間における吸
光度測定値を記憶して、これを試料供給期間内において
も出力していることになる。
入力となるとともに、メモリ２６にも与えられる。この
メモリ２６は、各ピークの立下り完了時から次のピーク
の立上りまでの期間では入力信号をそのまま出力するが
、ピーク期間においては、そのピークの直前の時刻の信
号値をホールドし、その値を記憶出力として与えるよう
に構成されている（同図の曲線２９）。このため、この
メモリ２６は、試料が供給されていない期間における吸
光度測定値を記憶して、これを試料供給期間内において
も出力していることになる。
したがって、メモリ２６の出力を減算器２７に与え、こ
の減算器２７において吸光度測定器２５からのリアルタ
イムの測定出力から差引けば、光源１における光強度変
化の影響がキャンセルされ、第３図（ｂ）に示すように
、同図（ａ）のベースライン３０の変妨の影響を受けな
い出力となる。
の減算器２７において吸光度測定器２５からのリアルタ
イムの測定出力から差引けば、光源１における光強度変
化の影響がキャンセルされ、第３図（ｂ）に示すように
、同図（ａ）のベースライン３０の変妨の影響を受けな
い出力となる。
特に、試料供給期間内では、この期間内における吸光度
測定値から、試料が供給されていない期間での測定値が
差引かれて、吸光度曲線のピーク値が正確に検出される
ことになる。このため、光源１の光強度変動があっても
安定した吸光度測定値を得ることができる。
測定値から、試料が供給されていない期間での測定値が
差引かれて、吸光度曲線のピーク値が正確に検出される
ことになる。このため、光源１の光強度変動があっても
安定した吸光度測定値を得ることができる。
なお、この発明は、上記実施例に限定されるものではな
く、重水素ランプによるバックグランド補正を行なう光
学系を含む装置にも適応できる。
く、重水素ランプによるバックグランド補正を行なう光
学系を含む装置にも適応できる。
また、試料供給手段としては、連続した空気流の中に試
料を断続的に入れて、間欠的な供給を実現してもよい。
料を断続的に入れて、間欠的な供給を実現してもよい。
いずれにしても、試料の消費は少なくなるという利点も
ある。
ある。
（発明の効果）
以上説明したように、この発明によれば、間欠的に試料
を供給し、試料が供給されていない期間における測定値
の記憶を行なって、試料供給期間内の測定値から差し引
いているため、ダブルビーム方式のような複雑・高価な
装置を要せずに、光源の光強度変動の影響を防止できる
原子吸光分析装置を得ることができる。また、光学系や
信号処理系に複雑な要素を含まないため、Ｓ／Ｎ比の劣
化もない。
を供給し、試料が供給されていない期間における測定値
の記憶を行なって、試料供給期間内の測定値から差し引
いているため、ダブルビーム方式のような複雑・高価な
装置を要せずに、光源の光強度変動の影響を防止できる
原子吸光分析装置を得ることができる。また、光学系や
信号処理系に複雑な要素を含まないため、Ｓ／Ｎ比の劣
化もない。
第１図はこの発明の一実施例の構成を示すブロック図、
第２図は試料の間欠供給を説明するための図、第３図は
実施例における測定曲線を示す図、第４図および第６図
は従来の原子吸光分析装置を示すブロック図、第５図は
従来の装置における測定曲線を示す図である。
第２図は試料の間欠供給を説明するための図、第３図は
実施例における測定曲線を示す図、第４図および第６図
は従来の原子吸光分析装置を示すブロック図、第５図は
従来の装置における測定曲線を示す図である。
Claims (1)
- （１）試料を所定の時間間隔で間欠的に原子化部に供給
する試料供給手段と、前記原子化部を通した光について
の吸光度を測定する手段と、前記試料が供給されていな
い期間での吸光度測定値を記憶する記憶手段と、前記記
憶手段の記憶出力と前記試料の供給が行なわれている期
間についての吸光度測定値との差を求める減算手段とを
備えることを特徴とする原子吸光分析装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60123972A JPH0743319B2 (ja) | 1985-06-06 | 1985-06-06 | 原子吸光分析装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60123972A JPH0743319B2 (ja) | 1985-06-06 | 1985-06-06 | 原子吸光分析装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61281944A true JPS61281944A (ja) | 1986-12-12 |
| JPH0743319B2 JPH0743319B2 (ja) | 1995-05-15 |
Family
ID=14873866
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60123972A Expired - Lifetime JPH0743319B2 (ja) | 1985-06-06 | 1985-06-06 | 原子吸光分析装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0743319B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH05164688A (ja) * | 1991-12-17 | 1993-06-29 | Shimadzu Corp | フレーム原子吸光分析方法 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5550295A (en) * | 1978-10-06 | 1980-04-11 | Sony Corp | Driving voltageeformation circuit for liquid crystal display element |
-
1985
- 1985-06-06 JP JP60123972A patent/JPH0743319B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5550295A (en) * | 1978-10-06 | 1980-04-11 | Sony Corp | Driving voltageeformation circuit for liquid crystal display element |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH05164688A (ja) * | 1991-12-17 | 1993-06-29 | Shimadzu Corp | フレーム原子吸光分析方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0743319B2 (ja) | 1995-05-15 |
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