JPS61277011A - カメラ位置姿勢校正用マ−クデ−タ収集方法 - Google Patents
カメラ位置姿勢校正用マ−クデ−タ収集方法Info
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- JPS61277011A JPS61277011A JP11875585A JP11875585A JPS61277011A JP S61277011 A JPS61277011 A JP S61277011A JP 11875585 A JP11875585 A JP 11875585A JP 11875585 A JP11875585 A JP 11875585A JP S61277011 A JPS61277011 A JP S61277011A
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- marks
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- Stereoscopic And Panoramic Photography (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明は、カメラ位置姿勢の校正において使用する基
準マークの構成方法とマークの位置データ収集方法忙関
するものである。
準マークの構成方法とマークの位置データ収集方法忙関
するものである。
カメラ位置姿勢の校正を行う場合には、空間座標系での
位置が既知である複数の点をカメラで観測し、得られた
像を用い′″ＣＣ複数の位置データを収集し、カメラ位
置姿勢パラメータを校正する。
位置が既知である複数の点をカメラで観測し、得られた
像を用い′″ＣＣ複数の位置データを収集し、カメラ位
置姿勢パラメータを校正する。
ここで、位置が既知である点をマークと呼ぶこととする
。従来はこのマークとして、直方体の頂点や直方体の稜
あるいは直方体の上面に書かれた格子の交点が用いられ
てきた。
。従来はこのマークとして、直方体の頂点や直方体の稜
あるいは直方体の上面に書かれた格子の交点が用いられ
てきた。
第９図に従来使用されてきた校正用直方体の例を示す。
直方体の頂点１〜７が校正用のマークとなる。
第１０図は他の例であり、第９図の頂点のマーク１〜７
に加え、核上の特徴点８〜２３が校正用のマークとなる
。
に加え、核上の特徴点８〜２３が校正用のマークとなる
。
また第１１図は格子を立方体上面釦描いた例である。第
９図の頂点１〜１に加え、格子の交点（黒丸印の部分）
が校正用のマークとして利用できる。（越後・谷内田「
輪状パターンステレオによる３次元位置検出」情報処理
学会コンピュータビジョン研究会３４−４（１９８５，
１，：２４）イー２５１１フ校正用立方体 参照。） 〔発明が解決しようとする問題点〕 第９図〜ｉｌ１図に示した従来のマークの与え方には、
次の共通した欠点がある。
９図の頂点１〜１に加え、格子の交点（黒丸印の部分）
が校正用のマークとして利用できる。（越後・谷内田「
輪状パターンステレオによる３次元位置検出」情報処理
学会コンピュータビジョン研究会３４−４（１９８５，
１，：２４）イー２５１１フ校正用立方体 参照。） 〔発明が解決しようとする問題点〕 第９図〜ｉｌ１図に示した従来のマークの与え方には、
次の共通した欠点がある。
ｌ）カメラの方向によってマークが見え隠れする。例え
ば第９図でマーク５，６．７．第１０図でマーク１６〜
２３がカメラから見えなくなる場合が発生する。カメラ
方向を正確に知るには一平面上にあるマークだけでは不
可能であるので、カメラの位置によっては、カーメラ位
置−姿勢パラメ−タを求めることができない。
ば第９図でマーク５，６．７．第１０図でマーク１６〜
２３がカメラから見えなくなる場合が発生する。カメラ
方向を正確に知るには一平面上にあるマークだけでは不
可能であるので、カメラの位置によっては、カーメラ位
置−姿勢パラメ−タを求めることができない。
２）マーク数が限られる。特にカメラから遠い位置にあ
るマークの故が限られるため、カメラ位置−姿勢パラメ
ータの精度が悪くなる。
るマークの故が限られるため、カメラ位置−姿勢パラメ
ータの精度が悪くなる。
３）カメラの一面に射影されたマークの位置が局在しｆ
丁い。例えば第９図のマーク５．６．７゜第１Ｏ図のマ
ーク１６〜２３は画面の下側に集中し易い。このため、
パラメータを求める際カメラ位置によってパラメータ値
が異常に変動し、精度が低くなることがある。このため
、校正の信頼性が低くなる。
丁い。例えば第９図のマーク５．６．７゜第１Ｏ図のマ
ーク１６〜２３は画面の下側に集中し易い。このため、
パラメータを求める際カメラ位置によってパラメータ値
が異常に変動し、精度が低くなることがある。このため
、校正の信頼性が低くなる。
４）マークを識別するのが難しい。マーク識別には、直
方体として認識処理が必要であり、かつ見え隠れする部
分の識別が必要である。従来はこの問題の解決策として
、マークをジョイスティックを使って会話的に与えてい
た。また会話的に与えた各マークが実ｙ！閾のどの位置
にあるかを指示するのも、その度にオペレータが判断し
て会話的に行っていた。このため、オペレータの手間が
かかり、パラメータの校正に時間がかかつていた。
方体として認識処理が必要であり、かつ見え隠れする部
分の識別が必要である。従来はこの問題の解決策として
、マークをジョイスティックを使って会話的に与えてい
た。また会話的に与えた各マークが実ｙ！閾のどの位置
にあるかを指示するのも、その度にオペレータが判断し
て会話的に行っていた。このため、オペレータの手間が
かかり、パラメータの校正に時間がかかつていた。
以上従来の欠点を列挙したが、上記欠点のｌ）〜３）は
校正の安定性、ｎ１度にとって重大な欠点であり、また
欠点４）により、校正の自動化が妨げられていた。
校正の安定性、ｎ１度にとって重大な欠点であり、また
欠点４）により、校正の自動化が妨げられていた。
この発明の目的は、マークが３次元分布したマーク集合
体を用い、カメラ入力したマーク画像からマークを自動
識別し、識別した各マークを実空間座標が既知なマーク
番号配列の各々に自動的に対応させることにより、カメ
ラ位置姿勢バラメ°−タを安定、かつ高精度に自動的に
校正するために必要なマーク像の位置データの自動収集
方法を提供することを目的とする◎ 〔問題点を解決するための手段〕 この発明に係るカメラ位置姿勢校正用マークゲータ収集
方法は、３次元分布する複数のマークを含み、その中に
他のマークと識別できる大きさ。
体を用い、カメラ入力したマーク画像からマークを自動
識別し、識別した各マークを実空間座標が既知なマーク
番号配列の各々に自動的に対応させることにより、カメ
ラ位置姿勢バラメ°−タを安定、かつ高精度に自動的に
校正するために必要なマーク像の位置データの自動収集
方法を提供することを目的とする◎ 〔問題点を解決するための手段〕 この発明に係るカメラ位置姿勢校正用マークゲータ収集
方法は、３次元分布する複数のマークを含み、その中に
他のマークと識別できる大きさ。
明るさ、または形状のマークを有するマーク集合体を用
い、上記の他のマークと識別できるマークを基準として
画像中におけるマーク像の配列順序を識別して、既知の
各配列位置の実空間座標と各マーク像の画像面上の座標
との対応を得るようにしたものである。
い、上記の他のマークと識別できるマークを基準として
画像中におけるマーク像の配列順序を識別して、既知の
各配列位置の実空間座標と各マーク像の画像面上の座標
との対応を得るようにしたものである。
この発明忙よれば、マーク集合体の複数のマークのうち
他のマークと識別できるマークを基準として他のマーク
像の配列順序が識別される。
他のマークと識別できるマークを基準として他のマーク
像の配列順序が識別される。
第１図はへの発明に用いるマーク集合体１００の第１の
実施例を真正面から見た図であり、第２図はマーク集合
体を斜め横方向から見た図である。
実施例を真正面から見た図であり、第２図はマーク集合
体を斜め横方向から見た図である。
円形部分が白丸のマーク１０１．１０２であり、その他
の部分は黒である。白丸のマークのサイズは、例えば奇
数番付のマーク１０１で４１１１１’ Ｉ偶数番付のマ
ーク１０２で６１！Ｉ１１ である。ただし。
の部分は黒である。白丸のマークのサイズは、例えば奇
数番付のマーク１０１で４１１１１’ Ｉ偶数番付のマ
ーク１０２で６１！Ｉ１１ である。ただし。
行番号４の左から３番目のマーク１０２ＡはｌＯ麿“１
行番号５の左から３番目のマーク１０２Ｂは８−；とじ
て他の〜−りと識別できるよう化する。またマーク間隔
は５０１１１１としている。偶数番付のマーク１０２は
第２図で示したように、マーク板面に立てられた黒色円
柱の上面に付けられている。この円柱の高さは、実施例
では５０ｔｒｍとした。なお、マークを黒之し、その他
の部分を白くしても構わない。
行番号５の左から３番目のマーク１０２Ｂは８−；とじ
て他の〜−りと識別できるよう化する。またマーク間隔
は５０１１１１としている。偶数番付のマーク１０２は
第２図で示したように、マーク板面に立てられた黒色円
柱の上面に付けられている。この円柱の高さは、実施例
では５０ｔｒｍとした。なお、マークを黒之し、その他
の部分を白くしても構わない。
第３図は各マークの番号配列を示したものであるａｌｏ
ｆｔｌｌ のマーク１０２ａには４５．８閣 のマー
ク１０２Ｂには５５の番号を付してあり、他のマークは
マーク番号４５．５５に基づき図のように着号が付けら
れている。番号の２桁目（１００位）は行番号を、１桁
目（ｌの位）は３から始まる左からの順番を表すようＫ
しである。
ｆｔｌｌ のマーク１０２ａには４５．８閣 のマー
ク１０２Ｂには５５の番号を付してあり、他のマークは
マーク番号４５．５５に基づき図のように着号が付けら
れている。番号の２桁目（１００位）は行番号を、１桁
目（ｌの位）は３から始まる左からの順番を表すようＫ
しである。
第４図はこの発明に用いるマーク集合体１００の他の実
施例を示すもので、第１図、８２図に示す実施例のマー
クの代わりに光フアイバ先端を用いたものである。これ
によれば暗いところのマーク読取りが可能である。この
図で、１０３は光ファイバを支える黒色筒、１０４は光
ファイバである。
施例を示すもので、第１図、８２図に示す実施例のマー
クの代わりに光フアイバ先端を用いたものである。これ
によれば暗いところのマーク読取りが可能である。この
図で、１０３は光ファイバを支える黒色筒、１０４は光
ファイバである。
第５図は第４図の断面と光入射装置を示したものである
。この図で、１０５はマーク基板であり、黒色塗装しで
ある。１０６は光入射装置である。
。この図で、１０５はマーク基板であり、黒色塗装しで
ある。１０６は光入射装置である。
黒色筒１０３の侵さと筒の内径を多種類用意しておく。
実験例では、第３図で示した奇数行のマーク位置には筒
が５ａｌ長、偶数行のマーク位置には５５ｍ長の筒を取
り付けた。筒の内径は、奇数行のマーク位置には４鰭、
偶数行のマーク位置には６隠とし、マーク番号５５と４
５にはそれぞれ８ｗ、１０ｍとした。光入射装置１０６
で各党ファイバ１０４に分配した光は、各党ファイバ先
端で放射する。したがって、元ファイバ先端の輝度が高
くなり、マークとして使える。光入射装置１０６におい
て、マーク位置によって個別に光源を用意し、光入射時
刻が異なるように個別ＩＣ，Ｑ灯することによって、マ
ーク番号識別が容易となる。例え ゛ば奇数行
番号のマーク１０１だけを点灯してマークの画像を入力
し、次に偶数行番号のマーク１０また妙を点灯してマー
ク画像を入力する。各画像で１−り番号を識別処理して
からマーク番号、マーク像位置（画像面上の座標）、マ
ーク実空間座標を記録したマークテーブルを作成する。
が５ａｌ長、偶数行のマーク位置には５５ｍ長の筒を取
り付けた。筒の内径は、奇数行のマーク位置には４鰭、
偶数行のマーク位置には６隠とし、マーク番号５５と４
５にはそれぞれ８ｗ、１０ｍとした。光入射装置１０６
で各党ファイバ１０４に分配した光は、各党ファイバ先
端で放射する。したがって、元ファイバ先端の輝度が高
くなり、マークとして使える。光入射装置１０６におい
て、マーク位置によって個別に光源を用意し、光入射時
刻が異なるように個別ＩＣ，Ｑ灯することによって、マ
ーク番号識別が容易となる。例え ゛ば奇数行
番号のマーク１０１だけを点灯してマークの画像を入力
し、次に偶数行番号のマーク１０また妙を点灯してマー
ク画像を入力する。各画像で１−り番号を識別処理して
からマーク番号、マーク像位置（画像面上の座標）、マ
ーク実空間座標を記録したマークテーブルを作成する。
９６図（ａ）、 （ｂ）は萬５図に示す実施例で用いた
元ファイバ１０４の代わりに発光ダイオードを用いたも
ので、暗いところの読４ｉつが可ＨＣである。
元ファイバ１０４の代わりに発光ダイオードを用いたも
ので、暗いところの読４ｉつが可ＨＣである。
この図で、１０１は黒色の発光ダイオードの支持棒、１
Ｇ８は発光ダイオード、１ｏ９は電極り一ド線である。
Ｇ８は発光ダイオード、１ｏ９は電極り一ド線である。
発光面積が異なる複数の発光ダイオード１０８と、長さ
の異なる複数の支持棒１０７を用意し、マーク基板１１
０上に配列することＫよりマーク集合体を構成する。各
発光ダイオ−、ド１０８の発光を時間的にずら丁ことに
より、マーク識別アルコリズ人を情単にすることもでき
る。
の異なる複数の支持棒１０７を用意し、マーク基板１１
０上に配列することＫよりマーク集合体を構成する。各
発光ダイオ−、ド１０８の発光を時間的にずら丁ことに
より、マーク識別アルコリズ人を情単にすることもでき
る。
アースは支持棒１０１．マーク基板１１０を経由してい
るので、電極リード線１０９は１本でよい。この電極リ
ード線１０９は支持棒１０７ＦＣ埋め込んで、電極リー
ド線１０９がマーク像検出の妨げとなることを防いでい
る。１１１は前記発光ダイオード１０８のドライバ回路
であり、１１２は電源である。なお、発光ダイオード１
０８の代わりに半導体レーザ等の発光素子や小型豆ラン
プを用いることができる。
るので、電極リード線１０９は１本でよい。この電極リ
ード線１０９は支持棒１０７ＦＣ埋め込んで、電極リー
ド線１０９がマーク像検出の妨げとなることを防いでい
る。１１１は前記発光ダイオード１０８のドライバ回路
であり、１１２は電源である。なお、発光ダイオード１
０８の代わりに半導体レーザ等の発光素子や小型豆ラン
プを用いることができる。
上記のマーク集合体１００は突起部付き板であたが、第
７図は透光性板を使ってマーク果合体１００を構成した
実施例を示したもので段付き板を用いた例である。この
図で、１１３は透光性板である。ガラスまたは透明プラ
スチック類を利用する。１１４はマークを示す。このマ
ーク１１４は薄い遮光板からなっている。全体の配列は
第３図で説明したようにする。１１５はランプであり、
螢光灯や白熱ランプ列を使用する。この実ＩＩａ例も暗
い場所でのカメラ位置−姿勢パラメータの校正が容易で
ある。
７図は透光性板を使ってマーク果合体１００を構成した
実施例を示したもので段付き板を用いた例である。この
図で、１１３は透光性板である。ガラスまたは透明プラ
スチック類を利用する。１１４はマークを示す。このマ
ーク１１４は薄い遮光板からなっている。全体の配列は
第３図で説明したようにする。１１５はランプであり、
螢光灯や白熱ランプ列を使用する。この実ＩＩａ例も暗
い場所でのカメラ位置−姿勢パラメータの校正が容易で
ある。
第８図はマーク像からマークを識別する処理手順を示す
流れ図で、（１）〜＠は各ステップを示す。
流れ図で、（１）〜＠は各ステップを示す。
以下、第１図〜第３図の実施例のマークを対象として説
明する＠ ゛ カメラによるマーク画像を人力しくｌ）、このマーク画
像を２値化しく２）、次いで個々のマーク画像より小さ
い孤立点を除去した後（３）、ラベリング処理を行う（
４）。次に、各ラベリング領域の円形度を調べ、円形度
の低いラベリング領域をマーク外不要画像として除去す
る。次に、入力画像辺縁部ｋかかるラベリング領域を除
去する（６）。その後、各ラベリング領域の面積を求め
るとともに、最大の面積をもつラベリング領域とその面
積を選び出す（７）。
明する＠ ゛ カメラによるマーク画像を人力しくｌ）、このマーク画
像を２値化しく２）、次いで個々のマーク画像より小さ
い孤立点を除去した後（３）、ラベリング処理を行う（
４）。次に、各ラベリング領域の円形度を調べ、円形度
の低いラベリング領域をマーク外不要画像として除去す
る。次に、入力画像辺縁部ｋかかるラベリング領域を除
去する（６）。その後、各ラベリング領域の面積を求め
るとともに、最大の面積をもつラベリング領域とその面
積を選び出す（７）。
この面積を基準とし、マークの大きさに応じた４つの面
積区分を選定し、各ラベリング領域を４つのクラスに分
類する（８）。この例では、ａ、最大面積をもつマーク
、ｂ、最大面積Ｘ（０，６４±０．１）の面積をもつマ
ーク、ｃ、１ｉｌｋ大面積Ｘ（０，３６±０．１）の面
積をもつマーク、ｄ、最大面積Ｘ（Ｑ、１６±０．１）
の面積をもつマーク、０４つのクラスにクラス分けした
。
積区分を選定し、各ラベリング領域を４つのクラスに分
類する（８）。この例では、ａ、最大面積をもつマーク
、ｂ、最大面積Ｘ（０，６４±０．１）の面積をもつマ
ーク、ｃ、１ｉｌｋ大面積Ｘ（０，３６±０．１）の面
積をもつマーク、ｄ、最大面積Ｘ（Ｑ、１６±０．１）
の面積をもつマーク、０４つのクラスにクラス分けした
。
ａＫ該当するマークは第３図の４５．ｂに該当するマー
クは５５が付けられ、また、ａまたはＣＫ該当するマー
クは偶数行番号のマーク１０２、ｂまたはｄＫ該当する
マークは奇数行番号のマーク１０１に分類される。
クは５５が付けられ、また、ａまたはＣＫ該当するマー
クは偶数行番号のマーク１０２、ｂまたはｄＫ該当する
マークは奇数行番号のマーク１０１に分類される。
ステップ（９）では、奇数行番号をもつマーク１０１に
ついて、マークＩ！ｌ１１ＩＲの縦方向座標および確定
マーク４５の座標を利用して行番号の識別を行う。
ついて、マークＩ！ｌ１１ＩＲの縦方向座標および確定
マーク４５の座標を利用して行番号の識別を行う。
２偶数行番号をもつ各マーク１０２についても同様に行
番号の識別を行う。次に、各行のマークの中からマーク
４５および５５を基準として、１５゜２５．３５，６５
゜？５，８５．９５を選別する。
番号の識別を行う。次に、各行のマークの中からマーク
４５および５５を基準として、１５゜２５．３５，６５
゜？５，８５．９５を選別する。
次Ｋ、そのマーク、すなわちｌ：Ｖ１目（ｌの位）が５
のマークを利用して他のマークの番号付けを行う顛。ス
テップＩでは、谷マークの外８量方形または重心を用い
て各マークの中心座標を求める。
のマークを利用して他のマークの番号付けを行う顛。ス
テップＩでは、谷マークの外８量方形または重心を用い
て各マークの中心座標を求める。
最後にステップａりにおいて、マーク誉号、マークの画
像面上の座標およびマーク番号とｌ対ＩＫ対応し既知で
あるマークの実空間座標を記録したマークテーブルを作
成する。
像面上の座標およびマーク番号とｌ対ＩＫ対応し既知で
あるマークの実空間座標を記録したマークテーブルを作
成する。
なお、ここでは第１図〜第３図のマーク配列を例にして
説明したが、他の実施例において、各行または各マーク
を選択発光する場合には、行萱号識別またはマーク番号
識別を簡略化できる。
説明したが、他の実施例において、各行または各マーク
を選択発光する場合には、行萱号識別またはマーク番号
識別を簡略化できる。
なお、上記実施例では、マーク形状を円形としたが、正
方形であってもかまわない。また、マークの中の特別な
マーク１０２Ａ、ＩＱ２Ｂは、大きさによる区別以外に
、形状、明るさであってもよく、また、他のマークに対
して配列に特別な意味をもたせ特殊マークであってもよ
く、その配列パターンを認識スることによりその特殊マ
ークを選び出す方法をとってもよい。
方形であってもかまわない。また、マークの中の特別な
マーク１０２Ａ、ＩＱ２Ｂは、大きさによる区別以外に
、形状、明るさであってもよく、また、他のマークに対
して配列に特別な意味をもたせ特殊マークであってもよ
く、その配列パターンを認識スることによりその特殊マ
ークを選び出す方法をとってもよい。
さらに、上記実ｍ例で示したようＫ、マークとして黒ま
たは白またはカラーのシールを使うことも、光ファイバ
のように元ガイドを使って光の放射口を使うことも、ま
た、発光ダイオード等の発光素子を使うことも可能であ
る。また、ランプを使うこと、あるいは透明板に遮光板
を取り付けそマークとすることも可能であり、要は発光
部材であればよい。
たは白またはカラーのシールを使うことも、光ファイバ
のように元ガイドを使って光の放射口を使うことも、ま
た、発光ダイオード等の発光素子を使うことも可能であ
る。また、ランプを使うこと、あるいは透明板に遮光板
を取り付けそマークとすることも可能であり、要は発光
部材であればよい。
また、上記実施例では、細い円柱状の棒を使って白マー
クシールを３次元分布させたマーク集合体を使ったとき
のマーク番号識別方法を示した。
クシールを３次元分布させたマーク集合体を使ったとき
のマーク番号識別方法を示した。
この方法は外部のノイズに対して安定であった。
以上説明したよ５Ｋ、この発明は３次元に分布したマー
クをもつマーク集合体を用い、また、マークの中に他の
マークと識別できる大きさをもつマークを含めて、マー
ク番号付は処理を行っているため以下の利点がある。
クをもつマーク集合体を用い、また、マークの中に他の
マークと識別できる大きさをもつマークを含めて、マー
ク番号付は処理を行っているため以下の利点がある。
ｌ）広い範囲にわたって分布した多数のマークデータを
収集できるので、カメラ位置姿勢パラメータの校正が安
定で１高精度、かつ信頼性が高い。
収集できるので、カメラ位置姿勢パラメータの校正が安
定で１高精度、かつ信頼性が高い。
２）カメラの見え隠れの留意が不要
３）マーク番号識別が容易で、全自動化が可能である。
このため、オペレータによる面倒な操作を全く必要とし
ない。実施例のマーク識別アルゴリズムでは、市販の汎
用画像処理装置とミニコンピユータを用いて全処理時間
４秒以内でマークデータの収集が可能である。
ない。実施例のマーク識別アルゴリズムでは、市販の汎
用画像処理装置とミニコンピユータを用いて全処理時間
４秒以内でマークデータの収集が可能である。
第１図はこの発明に用いるマーク果合体の正面図、第２
図は第１図の斜視図、第３図はマーク番号の配置例を示
す図、！！４（Ａはマーク集合体のマークの他の例を示
す斜視図、第５図は第４図のマークの断面図と光入射装
置を示す図、第６図（ａ）はマークのさらに他の実施例
を示す斜視図、第６図（ｂ）は同じく第６図（ａ）のマ
ークと′電源とを示１図、第７図はマークのさらに他の
実施例を示す断面略図、第８図はこの発明による処理手
順を示す流れ図、第９図、第１０図、第１１図はそれぞ
れ従来の校正用直方体を示す斜視図である。 図中、１００はマーク集合体、１０１．１０２はマーク
である。 第１図 杆 第２図 賀■ 第３図 竹 第４図 第５図 第６図 （ａ）（ｂ） 第７図 第８図 第９図 第１０図 第１１図
図は第１図の斜視図、第３図はマーク番号の配置例を示
す図、！！４（Ａはマーク集合体のマークの他の例を示
す斜視図、第５図は第４図のマークの断面図と光入射装
置を示す図、第６図（ａ）はマークのさらに他の実施例
を示す斜視図、第６図（ｂ）は同じく第６図（ａ）のマ
ークと′電源とを示１図、第７図はマークのさらに他の
実施例を示す断面略図、第８図はこの発明による処理手
順を示す流れ図、第９図、第１０図、第１１図はそれぞ
れ従来の校正用直方体を示す斜視図である。 図中、１００はマーク集合体、１０１．１０２はマーク
である。 第１図 杆 第２図 賀■ 第３図 竹 第４図 第５図 第６図 （ａ）（ｂ） 第７図 第８図 第９図 第１０図 第１１図
Claims (3)
- （１）複数のマークを突起部付き板または段付き板の板
底部および突起部先端または段上部に配置した構成を有
し、かつ複数のマークの中に他のマークと識別できる大
きさ、明るさまたは形状をもつ１つまたは複数のマーク
を含む３次元分布するマーク集合体の画像をマークデー
タ入力とし、前記他のマークと識別できるマークを基準
として前記画像中におけるマーク像の配列順序を識別し
て、既知の各配列位置の実空間座標と各マーク像の画像
面上の座標との対応を得ることを特徴とするカメラ位置
姿勢校正用マークデータ収集方法。 - （２）マーク集合体は、複数の発光部材により輝度の高
い複数のマークを３次元に配置した構成を有すことを特
徴とする特許請求の範囲第（１）項記載のカメラ位置姿
勢校正用マークデータ収集方法。 - （３）マーク集合体は、透光性を有した突起部付き板ま
たは段付き板に、遮光性のマークを３次元に配置し、後
方に発光体を取り付けた構成を有することを特徴とする
特許請求の範囲第（１）項記載のカメラ位置姿勢校正用
マークデータ収集方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11875585A JPH0615973B2 (ja) | 1985-06-03 | 1985-06-03 | カメラ位置姿勢校正用マ−クデ−タ収集方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11875585A JPH0615973B2 (ja) | 1985-06-03 | 1985-06-03 | カメラ位置姿勢校正用マ−クデ−タ収集方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61277011A true JPS61277011A (ja) | 1986-12-08 |
| JPH0615973B2 JPH0615973B2 (ja) | 1994-03-02 |
Family
ID=14744251
Family Applications (1)
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|---|---|---|---|
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|---|---|
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Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2003244521A (ja) * | 2002-02-14 | 2003-08-29 | Canon Inc | 情報処理方法、装置および記録媒体 |
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Families Citing this family (1)
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|---|---|---|---|---|
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-
1985
- 1985-06-03 JP JP11875585A patent/JPH0615973B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
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Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0615973B2 (ja) | 1994-03-02 |
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