JPS61274327A - ドライエツチング装置 - Google Patents

ドライエツチング装置

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Publication number
JPS61274327A
JPS61274327A JP11437585A JP11437585A JPS61274327A JP S61274327 A JPS61274327 A JP S61274327A JP 11437585 A JP11437585 A JP 11437585A JP 11437585 A JP11437585 A JP 11437585A JP S61274327 A JPS61274327 A JP S61274327A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
gas
etching
discharge chamber
dry etching
polycrystalline
Prior art date
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Pending
Application number
JP11437585A
Other languages
English (en)
Inventor
Toshiro Mihashi
敏郎 三橋
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Oki Electric Industry Co Ltd
Original Assignee
Oki Electric Industry Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Oki Electric Industry Co Ltd filed Critical Oki Electric Industry Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は、ドライエツチング装置に係り1.特に、集積
回路(IC)の製造工程における光励起を利用したドラ
イエツチング装置に関するものである。
(従来の技術) プラズマ又は反応性イオンエツチングでは精度の高い微
細加工が可能な反面、種々のエツチング損傷を伴う。特
に、プラズマ中のイオンや電子などの荷電粒子がデバイ
スを衝撃しエツチング損傷を招き問題になってきている
。これに対して光励起によるケミカルドライエツチング
は、イオン衝撃による種々の損傷がないことからエツチ
ング技術として期待されている。
従来、係る光励起によるドライエツチング方法としては
、例えばr応用物理、第53巻、第11号、1984年
、979真〜984頁」や特開昭59−33830号公
報などに記載されているものがる。
以下、その構成を図を用いて説明する。
第2図は係る従来のドライエツチング装置の構成図であ
る。
図中、lは反応室、2はエツチングガス導入口、3は排
気口、4は試料としてのウェハ、5は光源、6は石英窓
である。
この図に示されるように、試料4を反応室lに設置し、
この反応室1を10−’Torr以下に排気した後にエ
ツチングガスを導入口2より導入する。
次に、光源5、例えばHg−Xランプ或いはXeC1エ
キシマレーザからのレーザ光を試料4に対して垂直に照
射し、このとき発生するエツチングガスの光解離電子と
試料4の被エツチング材料との化学反応によりエツチン
グが行われる。
被エツチング材料が多結晶Siの場合、エツチングガス
はCI!、を用い、この光吸収ピークは340nm付近
にあるため、光源にはXeCj!エキシマレーザ(波長
308nm)が用いられる。エツチング速度は多結晶S
iの伝導帯の電子濃度に依存しており、n”>n>アン
ドープ> p > p ”の順序になっている。
このことから、光エッチングの反応は次のように考えら
れる。
まず、光源からのレーザ光によりエツチングガスが光解
離して、その光解離したCl原子がSi表面に吸着する
。同時に光照射で正孔−電子対が生じ、その移動度の差
から10−1〜1v/nm程度の電場が81表面に生じ
るため、Si表面に向かってバンド曲がりを生じる。そ
の結果、電子が吸着しC1原子へ移動しやすくなり、C
I−イオンを生成する。これは電場においてSi内に引
き込まれSiと反応して5iCj!x(但し、x−1〜
4)を形成し、気相へ離脱する。
(発明が解決しようとする問題点) しかしながら、上記構成の装置においてはプラズマエツ
チング装置に比べてエツチング速度が遅い。このことは
、特にアンドープ多結晶Siやp型多結晶Siにおいて
顕著であるといった問題があった。
本発明は、上記問題点を除去し、高速でエツチングを行
うことができると共に高精度でしかも信鯨性の高いドラ
イエツチング装置を提供することを目的とする。
(問題点を解決するための手段) 本発明は、上記問題点を解決するために、被エツチング
材料をエツチングガスに晒すと共に光励起を利用してド
ライエツチングを行うにあたり、エツチングガスの導入
部に反応励起種を生成させる放電室を設けるようにした
ものである。
(作用) 本発明によれば、エツチングガスの導入部に反応励起種
を生成させる放電室を設、けるようにしたので、この放
電室より生成した反応励起種は光解離によって生成する
光励起種と作用し、被エツチング材料のエツチングを行
う。
(実施例) 以下、本発明の実施例を図面を参照しながら詳細に説明
する。
第1図は本発明に係るドライエツチング装置の構成図で
ある。
図中、11は反応室、12は試料913は石英窓、14
は光源、15はマイクロ波放電室、例えばマグネトロン
放電室、16はエツチングガスを導入する導入口、17
はガス導入管、18は排気口である。
この図に示されるように、この実施例においては、エツ
チングガスの導入部にマイクロ波放電室15を設置する
ようにしたものである。
以下、試料12、つまりエツチング対象を多結晶Siと
した例について説明する。
ガスとしてはCl、を使用し、光a114としては波長
が308r++sであるXeCJエキシマレーザを用い
る。エツチングガスの導入口16から供給されるガスC
2□は、まず、マイクロ波放電室15で励起され、これ
によってガスCJ zと共に中性の反応励起種がガス導
入口17を介して反応室11内に導入される。一方、光
源14から射出されるレーザ光は石英窓13を介して試
料としての多結晶5i12に対し垂直に照射される。す
ると、ガスCIt zは光解離によってC7!原子が生
成し、このCl原子と共に先にマイクロ波放電室15に
おいて生成したガスCβ2の中性の反応励起種が多結晶
Stのエツチングを行なう。
なお、本発明を一実施例により説明したが、本発明はこ
の実施例に限定されるものではなく、本発明の趣旨に基
づいて種々の変形が可能であり、それらを本発明の範囲
から排除するものではない。
(発明の効果) 以上、詳細に説明したように本発明によれば、エツチン
グガスの導入部に反応励起種を生成する放電室を設ける
ようにしたので、 (1)光励起によって発生する反応励起種に放電室で発
生した反応励起種が加わるために、エツチング速度は光
照射のみの場合と比べて高速にすることができる。
(2)反応励起種は放電室から供給できるため光の波長
を使用ガスの光子吸収帯のピークに必ずしも合わせる必
要がなくなり、光源の波長の選択範囲を広げることがで
きると共に短波長の光を用いて被エツチング材料の励起
をより高めることができ、エツチング速度の増大を図る
ことができる。
このように本発明は種々の利点を有し、それによっても
たらされる効果は顕著である。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明に係るドライエツチング装置の構成図、
第2図は従来のドライエツチング装置の構成図である。 ll・・・反応室、12・・・試料(多結晶Si)、1
3・・・石英窓、14・・・光源、15・・・マイクロ
波放電室、16・・・エツチングガス導入口、17・・
・ガス導入管、18・・・排気口。

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)被エッチング材料をエッチングガスに晒すと共に
    光励起を利用してエッチングを行うドライエッチング装
    置において、前記エッチングガスの導入部に反応励起種
    を生成する放電室を設けるようにしたことを特徴とする
    ドライエッチング装置。
  2. (2)前記エッチングガスとしてはCl_2を用いるよ
    うにしたことを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の
    ドライエッチング装置。
JP11437585A 1985-05-29 1985-05-29 ドライエツチング装置 Pending JPS61274327A (ja)

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JP11437585A JPS61274327A (ja) 1985-05-29 1985-05-29 ドライエツチング装置

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