JPS61272639A - パルプ中の夾雑物検出方法 - Google Patents

パルプ中の夾雑物検出方法

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JPS61272639A
JPS61272639A JP60114948A JP11494885A JPS61272639A JP S61272639 A JPS61272639 A JP S61272639A JP 60114948 A JP60114948 A JP 60114948A JP 11494885 A JP11494885 A JP 11494885A JP S61272639 A JPS61272639 A JP S61272639A
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JP
Japan
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pulp
impurities
light
signal
diluted
Prior art date
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Pending
Application number
JP60114948A
Other languages
English (en)
Inventor
Itaru Taniguchi
谷口 至
Tadashi Tanimoto
谷本 忠
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Kanzaki Paper Manufacturing Co Ltd
Original Assignee
Kanzaki Paper Manufacturing Co Ltd
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Publication date
Application filed by Kanzaki Paper Manufacturing Co Ltd filed Critical Kanzaki Paper Manufacturing Co Ltd
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  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、パルプ中に含まれている夾雑物の量を極めて
短時間に且つ精度よく検出できる方法に関するものであ
る。
〔従来の技術〕
各種のパルプは、−iに植物原料を機械的、化学的に処
理してセルロース繊維をバラバラに取り出すことによっ
て製造される。
例えば製紙工場の抄紙機で紙を製造するためにパルプを
使用する場合、パルプ中に塵、結束繊維、樹脂斑点など
の夾雑物が混入していると、製品である紙の外観が悪く
なるのみならず、抄紙7[程やその後の塗布機による塗
布工程等において、紙切れを起こし易く、また印刷機で
印刷する場合にはインキ抜けや版胴を汚す等のトラブル
を起こす原因となる。
その為、製紙工場では抄紙機に原ネニlパルプを送る前
に、各種の精選装置でパルプサスペンションを処理して
予め夾雑物を除去しているが、現状の精選装置の処理能
力では夾雑物を完全に除去することは難しく、−上記の
如きトラブルの原因となっている。
パルプ中に混入している夾雑物の大きさや、尾を予め検
出しておけば、何等かの対応処置を取ることが出来、結
果的に上記の如きトラブルの発生を抑えることが出来る
ため、抄紙機に送られる前のパルプサスペンション中に
含まれる夾雑物の検出を行う各種の試験方法が提案され
ている。
例えばJISP820Bに規定された試験方法では、パ
ルプ中に混入している夾雑物の検出を行うために、約1
00 g/n(のシートを6枚作成し、各シートを水で
湿潤さ・υてからガラス板」−に貼り付け、裏面から電
球で照らしながら夾雑物を目視検出して計測図表でその
大きさを分類する方法が採用されている。
このような検出方法では、パルプを勺ンプリングしてか
ら測定結果が出るまでに長時間を要するため、品質異常
を確認して適当な対応策を取るまでに多量の不良品が製
造されてしまう。また、紙切れトラブルを未然に防止出
来ないといった欠陥も付随する。しかも、測定自体が全
て作業員の手作業であるため作業員に多大の負担を掛け
ることになる。
〔発明が解決しようとする問題点〕
かかる現状に鑑み本発明者等は、上記の如き従来法に付
随する欠陥を解消するべく鋭意研究の結果、パルプ中に
含まれている夾雑物の量を極めて短時間にしかも精度よ
く検出できる方法を見出し本発明を達成するに至った。
〔問題点を解決するための手段〕
本発明は、1.0〜6.0 msの厚さで流下するO5
5重慴%以丁に希釈されたパルプザスベンショJンに、
投光器から光を照η、t L、ラインセンサー型受光器
で受けた反射光を受光器中の光電素子にビデオ情報とし
て蓄え、検出信号処理部で順次次f1を物の有無による
二値化処理を行い、二値化信号を制御部で演算して夾雑
物を検出することを特徴とするパルプ中の夾雑物検出方
法である。
〔作用〕
本発明の方法をより具体的に説明するために、図面に基
づきさらに詳細に説明する。
第1図は、本発明の方法を適用する場合の測定装置の概
略的な配置図である。
夾雑物の有無を検出するためのパルプあるい(,1パル
ブリ゛ヌペンシヨンは混合槽ill中で、アジテータ−
(2)で均一に分散されながら所望の固型分濃度に希釈
される。得られた希釈パルプザスペンジョンは、可変送
りポンプ(3)で供給量を1fJ節しながら配管部(4
)を経てヘッダータンク(5)に送られる。
ヘッダータンクは、その前面に傾斜水路部(6)を有し
ており、送られてきた希釈パルプサスペンションはこの
傾斜水路部の傾斜板」二を巾方向に亘ってほぼ均一な層
として流下する。
傾斜板の」二方には、傾斜水路部の金印に亘って均一に
光を照射できる投光器(7)が設置されている。
投光器としては、従来から使用されている異体型電球、
リボンフィラメント型電球、コイルフィラメント型電球
、ハロゲン電球、キセノン短アークランプ、クレット水
銀ランプなどの可視光源、ルビーなどをレーザー材料と
する固体レーザー、ヘリウムネオン、アルゴン、クリプ
トン、ヘリウムカドミウムなどをレーザー材料とするガ
スレーザー、GaAs、 ZnS 、 ZnO、CdS
 、 GaNなどをレーザー材料とする半導体レーザー
などの可視光レーザー光源などが使用される。なお、光
源は一般に適当なピッチで設けられるが、固定型光源に
は限られず、−個の光源からの光を細いビームに絞って
検査面上に光点を作り、ビームの光路中に回転ミラーや
振動ミラーを入れて検査面上を走査させる所謂フライン
グスポットタイプの投光器等を用いることもできる。
投光器(7)から一定レベルで照射された光は、流下す
る希釈パルプサスペンションで反射され、その反射光は
ラインセンサー型受光器(8)で受光される。受光器は
、電荷結合素子(CCD)や金属酸化膜半導体(MOS
)などの光電素子とシフトレジスターが組み合わされて
構成されており、照射された光の強さに比例して、全l
】に亘って設けられた各素子に電荷が蓄積され、シフト
パルスによって順次ビデオパルス信号(ビデオ情報)と
して蓄えられて検出信号処理部(9)に出力される。
検出信号処理部は、主にビデオ信号取込部、スライス部
、パルスカウント部から構成されており、受光器から送
られてくるビデオ信号に基づき、夾雑物の有無による二
値化処理が行われる。即ち、希釈バルプザスペンジョン
中に夾雑物があると、反射率、透過率、反射光軸などの
変化が起こり、受光器の光電素子に入射される光量が変
化する。
例えば第2図に示すように、A−Bの間が1ライン分に
相当するビデオ信号(+o+ beおいて、0点で夾雑
物が検出されると、その部分のビデオ信号レヘルが減衰
されて谷状となる。スライス部では、ポテンショメータ
ーやデジセット機構などによりスライス信号00が予め
設定されており、スライス信号より低いビデオ信号のラ
インナンバー、パルス個数(二値化信号)及びスキャン
アドレスの各情報がパルスカウント部に記tつされる。
かくして記taされた情報は制御部0乃に出力され、制
御部では、ラインナンバー、パルス個数(二値化信号)
及びスキャンアドレスの各情報に基づき、夾雑物の大き
さや個数が演算される。必要に応じてその結果は表示部
的に表示される。
本発明の検出方法はあらゆるタイプのパルプサスペンシ
ョンに適用可能であるが、所望の検出効率を得るために
は、希釈パルプサスペンションの固型分濃度と傾斜板−
にを流下させる際のパルプサスペンション流下層の厚み
が極めて重要な因子である。
因に、パルプサスペンションの固型分濃度が0゜55重
量%を越えると、団子状のパルプ粒子が形成されて、夾
雑物との明確な区別が困難となり検出効率が低下してし
まう。そのため、パルプサスペンションの固型分濃度は
0.55重量%以下に調節する必要がある。もっとも余
りに固型分濃度を下げると処理量の大幅な低下を来すた
め、0.3重量%程度までの希釈に留めるのが効率的で
ある。
また、傾斜板上を流下させる際のパルプサスペンション
流下層の厚みが6.0 mmを越えると、パルプ繊維が
重なり合って下層部に夾雑物を隠し、夾雑物の検出効率
を低下させてしまう。そのため、流下層の厚みは6.O
m−以下、より好ましくは5.511以下に調節される
。しかし、1.0 msより薄くなると、団子状のパル
プ粒子が形成されて夾雑物との区別が困難となるため、
1.0龍以上、より好ましくは2.5龍以上の厚みで測
定される。
〔実施例〕
以下に実施例を挙げて、本発明をより具体的に説明する
が、勿論かかる実施例に限定されるものではない。
実施例 完成フィルターで採取した固型分濃度15重量%の晒ク
ラフトパルプについて、第1図に示される夾雑物検出装
置を使用して検出テストを行った。
なお、投光器(7)としては500Wのハロゲン電球を
用い、受光器(8)としては素子数2048の電荷結合
素子(CCD)ラインセンサーを使用した。
具体的には、採取した晒クラフトパルプを混合槽(1)
中で、第1表に示されるような固型分濃度に希釈して得
られたパルプサスペンションを、可変送りポンプ(3)
の送り量を調節しながらヘッダータンク(5)に送り、
第1表に示されるような厚みで傾斜板上を流下させた。
本発明の方法で検出された夾雑物の個数と、目視検査に
よって検出された個数を第1表に記載したが、特定の厚
みで傾斜板上を流下させた、特定濃度のパルプサスペン
ションについては、目視検査結果と同等の検出結果が得
られており、本発明方法の精度の高さが確認された。
第1表 注) (1)*印ではパルプがダンゴ状になって、測定が出来
なかった。
(2)**印では特にダンゴ状のパルプ粒子の発生が著
しく、測定が出来なかった。
(3)判定結果の評価基準は以下の通りである。
◎:両者の相関性が極めて良好。
○:両者の相関性が良好。
×:両者の相関性が悪い。
なお、完成フィルターからパルプを採取して検査結果が
出るまでの時間は、僅か6〜10分程度であり、従来法
に比較して極めて短時間の間に、容易にしかも精度良く
夾雑物の検出が可能であった。
〔発明の効果〕
本発明の方法によれば、パルプ中に含まれている夾雑物
の検出が、」二記の如く極めて簡単な操作で、短時間の
間に精度良〈実施できるため、例えば品質異常が発生し
た場合などには、速やかに対策を講しることが可能であ
り、製品のl」スを最小限に抑えることが出来るもので
ある。
【図面の簡単な説明】
第1図は、本発明の方法を適用する場合の測定装置の概
略的な配置図である。また第2図は、本発明の方法にお
ける検出信号処理部での二値化処理に関する説明図であ
る。 (1)l昆合槽     (2)  アジテータ−(3
)可変送りポンプ (4)配管部 (5)  ヘソグータンク (6)傾斜水路部(7)投
光器     (8)受光器 (9)検出信号処理部 001  ビデオ信号(10ス
ライス信号  (12)制御部03)表示部

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1.0〜6.0mmの厚さで流下する0.55重量%以
    下に希釈されたパルプサスペンションに、投光器から光
    を照射し、ラインセンサー型受光器で受けた反射光を受
    光器中の光電素子にビデオ情報として蓄え、検出信号処
    理部で順次夾雑物の有無による二値化処理を行い、二値
    化信号を制御部で演算して夾雑物を検出することを特徴
    とするパルプ中の夾雑物検出方法。
JP60114948A 1985-05-28 1985-05-28 パルプ中の夾雑物検出方法 Pending JPS61272639A (ja)

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