JPS61269839A - 電磁レンズおよび該電磁レンズを用いる電子顕微鏡 - Google Patents

電磁レンズおよび該電磁レンズを用いる電子顕微鏡

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JPS61269839A
JPS61269839A JP6428986A JP6428986A JPS61269839A JP S61269839 A JPS61269839 A JP S61269839A JP 6428986 A JP6428986 A JP 6428986A JP 6428986 A JP6428986 A JP 6428986A JP S61269839 A JPS61269839 A JP S61269839A
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cooling
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magnetic core
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JP6428986A
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ビクトール ガブリロビチ ベプリク
レンゲニイ アレクサンドロビチ グリシン
ゲオルギ ドミトリエビチ キセル
イバン セメノビチ リヤルコ
ベニアミン イオシフオビチ ウダルツエフ
デイナ セルゲエブナ アレクセンコ
ユリ ミハイロビチ ボロニン
ユリ フエドロビチ シエトネフ
バレリイ バシリエビチ スコロバガトコ
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SUMUSUKOE PUROIZUBODOSUTOBENNOE OB EREKUTORON
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、電子顕微鏡、電子回折装置、(特に浴接にお
いて)部品全加工する定め、及び電子線IJ hグラフ
の定めの電子線装管等において用いられ得る電磁レンズ
に関し、ま12本発明は、このtiレンズ全用いる電子
顕微鏡に関する。
〔従来の技術、および発明が解決しようとする問題点〕
いか々る電子光学系も、a数の異る磁界パラメータを有
する!!電磁レンズ組合せから成る。一般に、電磁レン
ズは、その中をπ流が流れる励磁巻線と該励磁巻線を堰
り囲む関心型磁心より成る0計励磁巻線によつて生起す
れ、電子流に作用する磁場け、核開心型磁心のクリアラ
ンスの部分に集中される口 電磁レンズ?、設計する際には、磁心のクリアランスの
中の@場のある与えられた強さを保持しつつレンズの寸
法?小さくすること、オたけ、レンズの寸法を一定に保
持しつつ磁場を増大させるととという問題が発生する。
この問題は、電流が流れる励磁巻線によって放出される
熱の除去の効率によって決定される最大許容励磁巻線′
!!!流密度全増加上せることによつてのみ解決され得
るり該励磁巻線中の電流の最大許容密度を増加させる為
にけ、その冷却効率を改善することが必要である。
こうして、既知の技術としては、励磁巻線が、絶級熱伝
導被覆全施し念、正方形断面をもクワイヤから作られて
いる、電磁レンズがある。(M、 E。
C,Maclachan:In ScannlngEl
ectronMlcroacopy −8ystems
 and Applications 、 ed 。
by W、 C,N1xon (In5tltute 
of Ph5slca 。
London Conference  5eries
 Ml 18 、1973)p、 p、     ’4
6〜49参照)この電磁レンズでは、複数の水冷され念
銅板が該励磁巻線を巻回軸方向に複数の区域に分けてい
るう 該各区域の巻回軸方向の厚さは、これを超えると該各区
域が破損するかも知れない、該各区域の内側と外側との
間の許容し得る温e差によって決定される。このような
冷却方法は、冷却をしない励Fi&−4朦に比較して、
励磁巻線中の許容される電流密度?いくらか増加させる
こと全可能にする口しかし、水冷銅板による、巻線の間
接冷却によっては、レンズの寸法をかなり小さくするこ
とは不可能である。
他の既知の電磁レンズでは、許容される電流密度全増加
させるtめに冷却物質による励!a%線のif接冷却を
用いる。この励磁巻線は、ある熱伝導のよい複合物の入
った容器に入れられ念1円形断面全もつ、絶縁されたワ
イヤ(T、 Mulff 、 C,D−Newman 
: In Scanning Electron M1
cro9copy −3ystems and App
lications 、 ed 、 by W、 C−
N1xon (Irustitute of Phys
Ics 、 London 。
Conferenc65eri@a m 18.197
3) p、 p。
16〜21参照)、または、絶縁中間層をもつ銅のテー
プ(T、 Mulvy : In Scanning 
ElectronMicroscopy  l 974
  、 ed、 by  o−Johori  、  
I 。
Corvin (ITTRL Chicago  、 
l 974  Part  1゜p、 p、 43〜4
9参照)から作られ得る。
該冷却物質により、直接冷却される励磁巻線の巻回軸方
同厚さも″i念、該励磁巻線の内側及び外側の部分の間
の許容される′lX度差によって限定される口なぜなら
ば、熱はその外表面からのみ除去されるからである。4
ましい磁場の値全慢るためには、強力な′IL社レンズ
においては、磁心との間及び巻線同志の間にある間隔を
おいて設置され7’?、&多数の巻線を提供することが
必要である。この間隔は冷却物質が流ルる1ヒめに必要
である。水が冷却物質として使われるときには、該巻線
の導線は、極めてa!!な1造上の問題であるが、注意
深く節録されるべきである。このように励磁@@?設計
したt磁しンズV′!、  1つのは心にいくつ力鳥の
巻線を必要とするため、及び水を冷却′#5Nとして使
用することが実際上不可能であることから、広く使用さ
れるに致っていない。
既知の技術としてFi、また、励磁巻線を収容する、1
つの密封されたケーシングを具備し、該ケーシング内一
部がある冷却物質で満されており、該ケーシングが1つ
の磁心の中に据え付けられている、は、冷却されたフレ
ームの上に巻かれ、熱交換条件を改善するためにセラミ
ヴクスの棒の形のスペーサが用いられている0該励磁巻
線の冷却は、冷却物質が熱せられ友部分から蒸発するこ
と、及びそれに続いて起こる冷却されたフレーム表面上
での蒸気の凝縮によって行われる口 巻線全体から熱を除去する上記の方法は、レンズの寸法
をかなり小さくすることを可能にするか、または、同じ
寸法で磁心のクリアランスでの磁場を増加させることを
可能にするりこのことは、強力電磁レンズを作り出すに
は、必要外ことである。
しかし、上述の電磁レンズでは冷却物質の蒸発とそれに
続く、冷却されたフレーム上での蒸気の凝縮による励磁
巻線の冷却を効果的なものにするVCは、フレームの表
面積が小さ過ぎること金試駿結果は示している。励磁巻
線中の電流密度の増加と共に、冷却物質の蒸発は、より
激しくなるが、密封されたケーシング内で圧力が上昇す
ること、その結果として、励磁巻線の温度を決定する、
冷却物質の節点が上昇することVCよって、冷却されて
いるフレーム表面上に蒸気が完全に凝縮するに十分な時
間はないつ励磁巻線だけでなく、冷却さレテイたい、密
封されたケーシングの壁及びレンズ全体も熱せられる。
既知の技術としては、また、電子銃、及び電磁レンズを
中心に組み立てられていて、1つの電子光学基金形成し
ている、1子ビ一ム収束部、対物レンズ部、投射レンズ
部、電子銃からの電子ビームの進路上直列な位置に設置
され九螢光スクリーンを具備する電子顕微鏡がある。
電子顕微鏡EMIOC(西ドイツ0PTONのり一フレ
ヴト参照)においては、電子光学系の寸法を小さくする
tめに、電磁レンズの励磁巻線が、水冷された@板によ
って複数9区域に分けられている。最もよい分解能に達
する几めに必要な最大加速電圧及び最大倍率での電子顕
微鏡の操作時においては、電磁レンズの磁心を熱する、
レンズ巻線電流は最大となっている。
その磁心クリアランスの中に試料を動かすための駆動装
置を具備する試料ホルダーが設置されていて、電子ビー
ム収束部や投射レンズ部の電磁レンズの磁場に比較して
、最大の磁界強度をもつ、対物レンズ部の電磁レンズの
穴めの温度条件の安定性に対しては、最も厳しい要求が
課せられる。
対物レンズ部のレンズの磁心の温度が上昇するとき、レ
ンズの磁気パラメータが変化するかも知れずそして、試
料ホルダーが電磁レンズの磁心に接触して動くために、
対物部の構成要素が温度上昇すると、その移動によって
、試料ホルダーの熱ドリフトラ生ずるかも知れない口こ
の過程は、全てのレンズの磁心において加熱と熱放散の
間の平衡状態が確立されるまで、生じるであろう口こう
して、電子顕微鏡の安定し九温度条件が確立されるため
に要する時間は、主に、対物レンズ部のレンズの励磁巻
線及びレンズ全体の冷却効率に依存すると同様に、対物
レンズ部の電磁レンズの励磁巻線内の電流密度に依存す
る。
電子顕微鏡EMIQCにおいては、対物レンズ部の電磁
レンズの巻線における高い電流密度及びその不適切な冷
却により、安定しt温度条件を確立するために要する時
間は、1.5から2時間であるり他の電子顕微鏡3M−
125(モスクワ。
MASHPRIBORINTORGのリーフレット参照
)においては、安定し食温度条件を確立するために要す
る時間を少くするために、tFaレンズの励磁巻線内の
電流密度が減小させられ、そのため、前述の電子顕微鏡
EMIOCに比較してやや大きい電磁レンズが必要とな
る。電子顕微鏡3M−125の電子光学系の安定し北温
度条件を確立する念めに要する時間は、30〜40分で
ある。
電子顕微鏡の安定しt温度条件を確立するためには、長
時間を要するため、例えば、写真のマガジンの再装填、
電子銃の陰極、試料、ダイヤフラムの交換の間、電磁レ
ンズの電源スイヅチを切ることは実際的でないので、1
つの試料の調査に要する時間及び電力消費は高いものと
なる0本発明は、電磁レンズ、及び該電磁レンズを用い
る電子顕微鏡に、該電磁レンズの寸法、及び該電子顕微
鏡の安定した温度条件を確立するために要する時間を少
くすることができるような該電磁レンズの励磁巻線の冷
却を提供する問題に基くり〔問題を解決するための手段
、および作用〕前述の問題は、1つの励磁巻線を収容す
る密封されたケーシングを具備し、該ケーシングの一部
がある冷却物質で満されており、該ケーシングが磁心の
中に据え付けられている。電子レンズが、本発明に従っ
て、該密封されたケーシングの中で、該励磁巻線の上方
で、冷却物質蒸気の流れの方向に配置され念、冷却物質
蒸気の凝縮のための装置を具備することによって解決さ
れるt核電磁レンズの中において、紋冷却物質蒸気凝縮
のための装置は、好適には、同心円環状の複数のチュー
ブの形であることが望ましい。
前述の問題は、また、 電子銃、そして、電磁レンズを中心に組み立てられてい
る電子ビーム収束部、対物レンズ部、及び投射レンズ部
、そして、電子銃からの電子ビームの進路上に直列か位
置に設置された螢光スクリーンを具備する電子顕微鏡に
おいて、 本発明に従って、少くとも対物レンズ部の電磁レンズが
、 一部分がある冷却物質で満たされていて、1つの励磁巻
線を収容する、密封され九ケーシング、該密封されたケ
ーシングの中で、該励磁巻暇の上方で、冷却物質蒸気の
流れの方向に配置された、冷却物質蒸気の凝縮のための
装置、 を具備し、 該ケーシングが1つの磁心の中に設置されていて、 かつ、核対物レンズ部の電磁レンズにおいては、該密封
されたケーシングと該磁心との間にある      1
空間が定められ、この空間が冷却物質供給ラインと連絡
して、該励磁巻線及び電磁ひを冷却するためのチ謙ンバ
を形成するように、 該密封されたケーシングが、咳磁心内に設置されている
ことによって解決される。
冷却物質の蒸気の凝縮の究めに、該密封されたケーシン
グ内に配置された該冷却物質蒸気の凝縮のための装置の
提供は、冷却物質蒸気の凝縮の過程を加速することによ
り、該電磁レンズ励磁巻線の冷却の効率を改善すること
を可能にする0該冷却物質蒸気の凝縮のための装r#を
該励磁巻線の上方に配置することは、最も合理的な解決
策で、他のいかなる配貨と比較しても最もよい結果を与
える。該冷却物質蒸気の凝縮のための装置を同心円環状
の複数のチェープの形で提供することはその製造全非常
に容易にし、凝縮のtめの大きな表面積を得ることを可
能にする0 励磁巻線及び磁心の冷却のための付加的なチャンバに工
って、最も厳しい温度状態のもとにおいても機能する、
電子顕微鏡の対物レンズ部の電磁レンズを提供すること
け、該電磁レンズの磁心の温度上昇を避けること、及び
核電子顕微鏡全体の安定した温度条件を確立するために
要する時間を最小にすることを可能にする0更に、核付
加的な冷却用チ々ンパを提供することによって、冷却物
質蒸気が凝縮される表面積が増加されるnこうして、該
電磁レンズ励磁巻線の冷却の効率Vi、改善され、許容
される電流密度は、電子顕微鏡3M−125と比較して
3倍に増加され、電子光学系の寸法は半分に縮小される
口 〔実施例〕 以下に1本発明の実施例について、添付の図面を参考に
しつつ述べる。
1つの電磁レンズが1つの磁心l (IKI図及び簗2
図)を具備し、該磁心の中には、1つの励磁巻、1i1
3(ff1図)と共に1つの密封されたケーシング2が
設置されているり該密封されたケーシングの一部分は、
沸点が低く、絶縁性のよいある冷却物質(図示せず)で
清されている一部に該冷却物質は、訪励6!i巻線3の
ワイヤの絶縁物質を溶かしてFi々ら々い一以下に記述
される実施例においてけ、核励磁巻線3Fi、円形断面
をもつ絶縁されたワイヤの形と々っているコ該巻θは、
各々の次に続く巻PJ3の層が、前に巻かれた層のg!
胴となっている所に位置し1層と層の間の通路は、各層
の一端と次の1優の始まりの部分との、巻線の連絡部分
にシいて、巻回軸方向に形成されるう該電磁レンズは、
また、該°ケーシング2の中で、該励磁巻線3の上方に
、第1図で矢印で示したようfx該冷却物質蒸気の流れ
の方向に配置された、冷却物質蒸気の凝縮のための装置
ii4を具備するp該励磁巻線3の最適な冷却のために
、冷却物質の分itは、該巻線3が該冷却物質の中に浸
され、該冷却物質蒸気の凝縮のための装#4が、該冷却
物質の表面に接触しないようにすべきである。
該密封されるケーシング2より排気し、冷却物質を入れ
て、その後密封するために、該ケーシング2には、1つ
の弁51及び1つの耐熱ガスケット6が備えられている
一複数の断熱スペーサ7は、該励磁巻線3と共に該密封
されたケーシング2を該磁心lから熱絶縁するために備
えられている。
ここに記述される実施例においては、冷却物質蒸気の凝
縮のための装置14は、同心円環状の複数ノチェーフノ
形をしている。これらのチューブに該冷却物質液を供給
するために、該磁心lは1つのポー)8(82図)を備
えており、該ケーシング2は全てのチ為−ブと連絡して
いる通路9を備えている〇 該ケーシング2の上側には、該励磁曲線3へ電圧印加す
るための、密封され友供給電源取入れ口lOが設置され
ている口 電子顕微鏡Fi、 密封された容器12の中に設置され、*3図に矢印で示
したような電子ビームを形成する1つの電子銃111層
3図)、1つの電子ビーム収束部13.1つの対物レン
ズ1114.1つの投射レンズ部15%そして、ビーム
の進路上直列な位置に設置された1つの螢光スクリーン
16を具備する。
該電子ビーム収束部13Fi、電子ビームが該対物レン
ズ部14上で焦点ケ結ぶための電磁レンズ18及び19
を収容する1つのケーシング171具備する口 該対物レンズ部は、第1図及び第2図に従って製作され
た&1つの電磁レンズを中心に組立てられていて、磁心
lを具備している0核磁心lの中には、該励磁巻pJ、
3、及び該冷却物質蒸気の凝縮のための装置4を収容す
る、密封されたケーシング2が設置されているり 該投射レンズ部15は%1つのケーシング20を具備し
、該ケーシングの中に、電磁レンズ21゜22及び23
が、設置されている。
調べられるべき試料24は、該対物レンズ部14の電磁
レンズの磁心lのクリアランスの中に設置される。
ここに記述される電子顕微鏡の実施例においては、該電
子ビーム収束部13の電磁レンズ18及び19Fi、該
投射レンス部1517)iElat//ス21122及
び23と同様[。
冷却物質M気の凝縮のための装置を具備してい々いとい
う唯一の相違点以外は、主に、該対物レンズ部14の電
磁レンズに類似しているロ該電子ビーム収束部13及び
該投射レンズ部15にti、該対物レンズ部14に対し
て要求される程、温度条件の安定性について厳しい要求
Viaせられていないので、紋電子ビーム収束部及び該
投射レンズ部においては、冷却物質蒸気の凝縮は、冷却
され、密封されたケーシング2の壁で生じるが、これで
十分効果的である。
電子ビーム収束部13及び投射レンズ部15の電磁レン
ズ18.19,21,22及び23が、対物レンズ部1
4の電磁レンズと同様であるような選択も可能である0 対物レンズ部14の温度条件全安定させるために、該対
物レンズ部の電磁レンズにおいて、密封されたケーシン
グ2と磁心lとの間に1つの空間が定められ、この空間
が、冷却物質供給ライン26と連絡して、励磁巻線と該
磁心を冷却するためのチャンバ金形成するように、 該密封され九ケーシング2が該磁心lの中に設置されて
いる。該冷却物質供給ラインけ、1−[1aしy、(1
B、19,21..22及び23t7)密封されたケー
シング2、及び該対物レンズ部14の[!aレンズの冷
却物質蒸気の凝縮のための装置4とも連絡している。
電子顕微鏡の排気は、複数の分岐管27によって行われ
る。
以下に前述の電磁レンズの作用について記述するp 密封されたケーシング21E1図及び第2図)の中に設
置され7’C%励磁巻線3(第1図)K電流が流れると
、熱が放散されて、該励磁巻線3が浸されている冷却物
質が激しく蒸発する0該励磁巻1i13のワイヤ表面に
おいて該冷却物質の蒸発の間に生成された蒸気は、該励
磁巻線3を貫く通路を通って流れ、凝縮装置4の表面に
凝縮される。凝縮された冷却物質は、再び、該励磁巻線
3の所へ流れ落ちる口この間、該冷却物質の温度条件は
一定のままである− 冷却物質の蒸発、及び蚊凝縮装置14の拡大された表面
積の上での冷却物質蒸気の凝縮によって、該励磁巻線3
の全体積から熱が除去され、これによって、該励磁巻線
の電流督変金3倍に増加させ、一方%電磁レンズの寸法
を3分の2に、使用金属21i1?2分の1に減らすこ
とを可能にする。
以下に、前述のIIf磁レンズを用いた電子顕微鏡の作
用について記述するり 電子銃11 (簗3図)によって作られた電子と−ムは
、電子ビーム収束部13の電磁レンズ18及び19によ
って、対物レンズ部14の電磁レンズの磁場の中に設置
された試料24の上に焦点を結ぶ〇 該対物レンズ部14の電磁レンズは、v試料の上に一次
電子光学像を形成し、該−次電子光学像は、投射レンズ
部15の電磁レンズ21,22及び23によって拡大さ
れ、螢光スクリーン16上に表示されるり冷却チ々ンバ
25を通つて流れる冷却物質は、該対物レンズ部14の
tiレンズの磁心lの熱を除去する0該対物レンズ部1
4の電磁レンズの、安定した温度条件を確立するために
      1要する時間、す々わち、該電子顕微鏡全
体の、安定した温度条件を確立するために要する時間は
、対物レンズ部の電磁レンズの励磁巻線3の安定した温
度条件を確立するに要する時間によって決定される。該
対物レンズ部の電磁レンズの励磁巻線3の高い冷却効率
によって、安定した温度条件を確立するに要する時間は
、10分の1以下に減少サレ、約2分である。冷却チセ
ンパ25’l!用fる他の利点は、密封されたケーシン
グ2の壁を冷却することにより、冷却物質蒸気の凝縮の
ための表面積が拡大したことであり、これによって、励
磁巻線3の電流密度の増加を、そして、対物レンズ部の
寛容レンズの寸法、及び電子顕微鏡全体の寸法ケ小さく
することを可能、にする。
〔発明の効果〕
前述の電磁レンズ、及び該電磁レンズケ中心に組立てら
れ九電子顕微鏡の使用は、該レンズ及び該電子顕微鏡の
寸法と重itか々り減少させること、そして、温度条件
を安定rヒさせるに要する時間、及び電子顕微鏡使用中
の電力消費を減少させることを可能にし、つまり、この
改良は、生産性を向上させるものである口
【図面の簡単な説明】
箪五図は、本発明によるtFaレンズの縦断面図、第2
図は、本発明による電磁レンズの、駆1図に示されたI
I −IHの線に沿って切断した断面図、第3図は、本
発明による電子顕微鏡の縦断面図(符号の説明) 1−磁心 2−密封されたケーシング 3−励磁巻線 4−冷却剤蒸気の凝縮のための装置 5−弁 6−耐熱ガスケット 7−断熱スペーサ 8−磁心に開けられた管接続口 9−ケーシング中に作られた通路 l〇−密封された電源取入口 11−電子銃 12−電子銃の密封された容器 13−を子ビーム収束部 l4一対物レンズ部 】5−投射レンズ部 16−螢光スクリーン 17−を子ビーム収束部の1riFiBレンズヲ収容す
るケーシング 18.19−電子ビーム収束部の電磁レンズ2〇−投射
レンズ部の電磁レンズを収容するケーシング 21.22,23−投射レンズ部の電磁レンズ24−試
料 25一対物レンズ部のgt電磁レンズ励磁巻線と磁心?
冷却するための千謙ンバ 26一対物レンズ部の電磁レンズの励磁巻線と磁心を冷
却する九めのチャンバと連絡する、冷却剤供給ライン 27−@子顕微fi8全排気するための分岐管以下余日 E7

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、1つの励磁巻線(3)を収容する1つの密封された
    ケーシング(2)を具備し、該ケーシングの一部分があ
    る冷却物質で満されており、該ケーシングが1つの磁心
    (1)の中に設置されている、電磁レンズであって、 該密封されたケーシング(2)の中で、該励磁巻線(3
    )の上方で、該冷却物質の蒸気の流れの方向に設置され
    ている、該冷却物質蒸気の凝縮のための装置(4)を具
    備することによって特徴づけられる電磁レンズ。 2、該冷却物質蒸気の凝縮のための装置(4)が、同心
    円環状の複数のチューブの形を成していることによって
    特徴づけられる、特許請求の範囲第1項に記載の電磁レ
    ンズ。 3、1つの電子銃(11)、電磁レンズを中心に組み立
    てられている1つの電子ビーム収束部(13)、1つの
    対物レンズ部(14)、及び、1つの投射レンズ部(1
    5)、そして、該電子銃からの電子ビームの進路上に直
    列な位置に設置されている1つの螢光スクリーン(16
    )を具備する、電子顕微鏡であって、 少くとも、該対物レンズ部(14)の電磁レンズが、1
    つの励磁巻線(3)を収容し、一部分が、ある冷却物質
    で満されている、1つの密封されたケーシング(2)、 及び、該励磁巻線(3)の上方で、該冷却物質の蒸気の
    流れの方向に配置された、冷却物質蒸気の凝縮のための
    装置(4)、 を具備し、 該ケーシングが1つの磁心(1)の中に設置され、かつ
    、該対物レンズ部(14)の電磁レンズにおいては、 該密封されたケーシング(2)と該磁心(1)との間に
    1つの空間が定められ、この空間が、冷却物質供給ライ
    ン(26)と連結して、該励磁巻線と該磁心を冷却する
    ためのチャンバ(25)を形成するように、該密封され
    たケーシング(2)が、磁心(1)の中に、設置されて
    いることで特徴づけられる電子顕微鏡。
JP6428986A 1985-03-25 1986-03-24 電磁レンズおよび該電磁レンズを用いる電子顕微鏡 Pending JPS61269839A (ja)

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SU853871268A SU1415269A1 (ru) 1985-03-25 1985-03-25 Электронный микроскоп
SU3913770 1985-06-10

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Cited By (2)

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JPH02278641A (ja) * 1989-04-20 1990-11-14 Hitachi Ltd 電子レンズの冷却系
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JPH02278641A (ja) * 1989-04-20 1990-11-14 Hitachi Ltd 電子レンズの冷却系
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