JPS61265553A - 光走査装置 - Google Patents

光走査装置

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JPS61265553A
JPS61265553A JP10773685A JP10773685A JPS61265553A JP S61265553 A JPS61265553 A JP S61265553A JP 10773685 A JP10773685 A JP 10773685A JP 10773685 A JP10773685 A JP 10773685A JP S61265553 A JPS61265553 A JP S61265553A
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JP
Japan
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mirror
light
reflecting
laser beam
optical axis
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Pending
Application number
JP10773685A
Other languages
English (en)
Inventor
Eiichi Sato
栄一 佐藤
Sadao Shigetomi
重富 貞夫
Asao Hayashi
林 朝男
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Olympus Corp
Original Assignee
Olympus Optical Co Ltd
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Publication date
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Publication of JPS61265553A publication Critical patent/JPS61265553A/ja
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  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
  • Mechanical Optical Scanning Systems (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野コ この発明は光ビームを利用してガス状、霧状の被検査体
、或いは光透過性の固体状被検査体の断層検査を行うこ
との出来るようにした光CTスキャナ等に用いる光走査
装置に関するものである。
[従来の技術] 生体や物体における内部の状態を非破壊でしかも精度よ
く測定できる断層検査装茸として、0丁スキャナ(コン
ピユーテッド・トモグラフィ・スキャナ)がある。
この装置は簡単に説明すると、例えば、放射線源として
薄い扇状の広がりを持つファンビームX線を発生するX
線管と、複数の放射線検出素子を前記ファンビームX線
の広がり方向に密接させて並べることにより空間分解能
を持たせた放射線検出器とを用い、これらXII管と放
射線検出器とを被検査体を介して互いに対向して配する
とともに、被検査体を中心にこのX線管と放射線検出器
を同方向に、例えば、1度程度の刻みで180度乃至3
60度にわたって順次回転走査しながら、被検査体断層
面の種々の方向からのX線の吸収データを集め、その後
、この集めた吸収データを用いてコンピュータにより演
算して画像再構成処理を施し、断層像を再構成するよう
にしたものである。
このようなCTスキャナは断層面多位置について、組成
に応じ、2000段階以上にもわたる階調で画像再構成
することができることから、被検査体の断層面の状態を
詳しく知ることができる。
このようなCTスキャナは、一般に第三世代と呼ばれる
もので、その概要を第13図に示す。
図において1はスキャナ部本体であり、このスキャナ部
本体1には回転可能に支持させるとともに中央に被検査
体2を配設するための孔1aを設けてなる回転架台1b
が設けである。前記孔1aは被検査体の撮影領域となる
。回転架台1bには前記孔1aを介して一方の面に所定
の広がり幅をもつファンビームX線を曝射するX線管3
が設けてあり、また、回転架台1bには前記孔1aを介
して放射線検出器4をこのX線管3に対峙して設けであ
る。この放射線検出器4は多数の微小な放射線検出素子
をファンビームXI!!Rfの広がり方向に並設してあ
って、これにより空間分解能をもってX線管3からのX
線強度を検出することが出来る。尚、X線管3と各放射
線検出素子を結ぶX線の透過路をバスと称し、各放射線
検出素子はこのバス上での到来X線を検出しその強さに
応じた信号を出力する。また、前記スキャナ部本体1の
回転架台1bは所定角度刻みに順次一方向に回転走査す
ることにより、孔(撮影領域)1aを中心に対向配置さ
れた前記xis管3と放射線検出器4とを順次一方向に
回転走査する。5はX線制御装置であり、上記X線管3
に与える電流、電圧およびX線曝射制御等を行うもので
ある。6はスキャナコントローラであり、前記スキャナ
部本体1の回転架台1bを回転駆動制御するものである
。7はシステム全体の制御をするシステムコントローラ
である。8は操作卓であり、オペレータが操作すること
によってシステムに対し各種操作指令を与えたり、デー
タ等のインプットをすることが出来る。9はデータ収集
装置であり、前記放射線検出器4の各放射線検出素子出
力信号をそれぞれ受けて、アナログ/デジタル変換し、
X線の吸収データとして出力する。10は再構成演算部
であり、前処理部10a、コンボリューション演算部1
0t)、逆投影部10Gよりなる。前処置部10aは前
記データ収集装置9で収集された各投影方向、すなわち
、各70ジエクシヨン毎の吸収データを受けて、この吸
収データに対し、ゲイン補正、オフセット補正等の処理
を施すものであり、また、コンボリューション演算部1
11)は前記前処理部10aの出力する前処理済みのデ
ータをフィルタ関数を用いてコンボリューションするも
のである。
逆投影部10Cは前記コンボリューション後のデータを
そのプロジェクション方向に逆投影して断層像を再構成
するものである。11はこの逆投影した再構成画像のデ
ータを記憶するメモリであり、12はこのメモリ11の
記憶データのうち、所望の範囲のCT値(放射線吸収の
レベルに応じた値としてのデータ)を濃淡像として出力
するビデオ信号変換器である。13はこのビデオ信号変
換器12の出力を受けて画像表示する例えばCRTによ
る表示装置である。また、14は収集データ等を保存す
る人容漫の外部記憶装置である。
このような装置において、オペレータが操作卓8を操作
して、撮影を開始させるとシステムコントローラ7はス
キャナコントローラ6を制御し、前記回転架台1bの所
定角度刻みの回転駆動制御を行う。またシステムコント
ローラ7はX線制御装置5を制御し、これによりこのX
線側m装置5からは前記所定角度刻みの回転走査が行わ
れる毎に設定した電流、電圧が設定時間幅分、出力され
てX線管3に加えられる。そのため、X線管3からは順
次ファンビームXIIRfが断続的に出力されることに
なる。回転架台1bの回転中心位置<m影領域)にはテ
ーブル1C上に載置されて被検査体4が配置されており
、また、回転架台1bにはX線管3と放射線検出器4と
が前記回転中心を介して対向して取付けであるので、X
線管3は被検査体2のX線照射断面について順次方向を
変えながらファンビームX線Rfを照射してゆくことに
なる。そして、このファンビームX線Rfにおける各バ
スのX線強度は放射線検出器4の各放射線検出素子によ
り検出され電気信号に変換され出力される。
そして、この変換された信号はデータ収集装置9でデー
タ収集され1プロジエクシヨン(1投彰方向)毎に前処
理部10aでゲイン補正、オフセット補正等の必要な前
処理がなされる。前処理された1プロジエクシヨン毎の
吸収データはコンボリューション演算部10bでコンボ
リューションされ、次の逆投影部10Cで次々に逆投影
されて重ね合されることによって個々の画素位置のCT
値が求められ、このCT値による断層像が再構成される
。再構成された像はメモリ11に保存され、操作卓8を
通して指令を与えることによりビデオ信号変換器12に
より所望とする範囲のCT値がその値に応じた階調度の
ビデオ信号に変換され、表示装置13に与えられる。こ
れにより、再構成像は映像として表示される。
以上は第三世代と呼ばれるCTスキャナの概要であるが
、この他、ペンシルビームX線を発生するX線源と検出
器とを被検査体を介して対向して配置し、X線源と検出
器とを被検査体に対して一方向に直線移動くトラバース
・スキャン)させ、1トラバース・スキャンさせると次
に被検査体に対してX線源と検出器とを例えば1度回転
させて後、再びトラバース・スキャンさせると云った動
作を繰返すようにした第一世代と呼ばれるCTスキャナ
、ペンシル・ビームに変えて幅狭のファンビームX線を
用い、第一世代と同様にトラバース・スキャンと回転走
査を交互に繰返す第二世代と呼ばれるCTスキャナ、検
出器を円周上に並設し、ファンビームX線を曝射するX
線源のみを回転走査するいわゆる第四世代と呼ばれるC
Tスキャナ等、種々のものが開発されている。
ところで、上述のようなX線CTスキャナの他、近年に
おいては核磁気共鳴現象を利用したNMR−CTスキャ
ナ、超音波を利用した超音波CTスキャナ等が研究され
一部実用に供されるようになった。そして、更に最近で
はレーザビームなど光を測定媒体として利用し、ガス状
の被検査体の解析を試みる動きがある。例えば、エンジ
^燃費、多種燃料性を目指してディーゼルエンジンや筒
内噴射成層燃焼エンジンなどの開発が進められているが
、このような形態のエンジンにおいては、燃料噴射の形
状、分散の状態を把握することが燃焼室を設計する上で
重要である。そして、通常、燃焼室内の噴霧の形状を調
べるためには、可視化エンジンを用いて高速度写真撮影
を行い、これを解析する手法を用いるが、多くは噴霧の
横方向からの撮影となるため、噴霧の断面構造成いは三
次元構造を把握することは困難である。そこで、このよ
うな解析に最適な断層測定装置としてレーザビームを用
いた光CTスキャナが注目される。
[発明が解決しようとする問題点] ところで、従来の光CTスキャナは均一な光層分布のフ
ァンビームが作り難いこと、また、ファンビームに於け
る各パス上の透過光量を検出する微小ピッチの多素子光
検出器として適当なものが無いことなどから、光走査装
置(スキャナ部本体)として第一世代の構成を利用して
いた。しかし、被検査体が噴霧であって、流速が速いこ
と、従って、−断面当りのデータ収集は瞬時に行わなけ
れば意味を持たないこと、等の点から、トラバース・ス
キャンと回転走査とを交互に繰返すと言う方式上、どう
してもデータ収集に時間がかかる第一世代の方式では実
用に成らなかった。
従って、本発明はこのような観点から高速で光ビームを
スキャンさせることが出来、瞬時に再構成に必要なデー
タを収集できるようにした光CTスキャナ用の光走査装
置を得ることを目的としている。
[問題点を解決しようとする手段] 上記問題点を解決するため本発明は、光ビームを発生す
る光源と、この光ビームの光軸上に配され該光ビームの
光軸と交差する軸線方向に反射する回転ミラーと、この
回転ミラーを回転駆動させる駆動装置と、前記回転ミラ
ーの回転軸を中心とする所定半径の円周上に配設され回
転ミラーより受けた光ビームをこの回転ミラーの回転軸
に沿って平行な方向に反射する複数の第一の反射ミラー
と、この第一の反射ミラーに対向して配設され、対向す
る第一の反射ミラーからの光を受けて前記回転ミラーの
回転軸と交差する平面に沿い、且つ、該回転軸線を中心
とする所定の領域内に向けて反射する第二の反射ミラー
と、この所定の領域を介して前記第二の反射ミラーに対
向して配されこの第二の反射ミラーの反射光を受けて導
く導光路と、この導光路により導かれた光を受けてその
受光量に対応した信号に変換する受光部とより構成する
[作  用] このような構成において、光源よりペンシルビーム状の
光ビームを発生すると、この光ビームは該光ビームの光
軸上に配された回転ミラーによって反射される。回転ミ
ラーは駆動装置により回転駆動されており、また、その
反射方向は前記光ビームの光軸と交差する軸線方向とな
っているので、入射光ビームは回転ミラーの回転軸を中
心に回転走査されながら反射光路が移動されることにな
る。
この反射光は回転ミラーの回転軸を中心とする所定半径
の円周上に配設された第一の反射ミラーに入射され、こ
の第一の反射ミラーは回転ミラーより受けた光ビームを
この回転ミラーの回転軸に沿って平行な方向に反射する
。この第一の反射ミラーには前記回転ミラーの回転軸と
交差する平面に沿って、且つ、該回転軸線を中心とする
所定の領域内に向けて反射する第二の反射ミラーが対向
して配設されており、従って、第一の反射ミラーの反射
光はこの第二の反射ミラーによって前記回転ミラーの回
転軸と交差する平面に沿い、且つ、該回転軸線を中心と
する所定の領域内に向けて反射される。このため、光源
から出射された光ビームは第二の反射ミラーの各位置を
基準にセクタ状にスキャンされることになり、第二の反
射ミラーの配設領域より見た方向より前記所定の領域内
について光ビームの走査が行える。この走査は回転ミラ
ーを回転させるだけで実現出来、従って走査速度は回転
ミラーの回転速度で定まる。そのため、高速で光ビーム
をスキャンさせることができるようになる。第二の反射
ミラーの反射光はこの第二の反射ミラーの反射光路に対
向して配設された導光路に導かれ、この導光路を経て受
光部に送られる。そして、ここで受光量に対応した信号
に変換される。
[実 施 例] 以下、本発明の一実施例について図面を参照しながら説
明する。
第1図は本発明による光走査装置の概略的な構成を示す
図であり、図中、11はレーザビームBを発生する光源
である。また、12はこの光源11の発生するレーザビ
ーム光路上に配された回転ミラーであり、その反射面は
入射レーザビーム8の光軸に対し、ここでは45度に設
定しである。
この回転ミラー12は前記光軸を軸に図示しないモータ
により回転駆動されるように構成されている。
13は平面ミラーを用いた第一の反射ミラーであり、前
記回転ミラー12の反射光路にに対向させて例えば前記
光軸を中心に所定の半径で描かれる円弧上に所定のピッ
チでおよそ180度近傍程度の領域に亙り複数個、固定
して配置しである。
この第一の反射ミラー13は前記光軸と平行、且つ、同
方向に反射させるため、45度の傾斜を持たせである。
14はこの第一の反射ミラー13にそれぞれ対向して配
設された第二の反射ミラーであり、平面ミラーを用いて
いる。この第二の反射ミラー14はそれぞれその反射光
軸が光源11の出射光軸と直交する平面に沿うように、
且つ、反射光路の少なくとも中心が前記光[11の出射
光軸Bを通るように固定して取付けである。また、第2
図に示すように細い紐状の複数本の可撓性導光体(ファ
イバ、例えば、光ファイバやライトガイド)を一端側は
捻り合わせて束ね、他端側は直線的に一列に密接させて
配設した導光部材16を複数組用意し、各々前記各第二
の反射ミラー14に一つずつ対応させるとともに各導光
部材16は前記他端側を各々対応する前記第二の反射ミ
ラーゴ4に対向させて且つこの第二の反射ミラー14に
反射された光の光路上に沿って各可撓性導光体の端面が
並ぶようにして固定配置する。各導光部材16は前記他
端側は光源11の光軸に対し、同一の距離を隔てて配設
しである。17は集光用のレンズであり、前記導光部材
16は夫々前記一端部側を取りまとめてこのレンズ17
に対向させである。18はレンズ17により集められた
光の光量を検出して電気信号に変換する受光素子である
尚、第二の反射ミラー14の反射光路側において、セク
タ・スキャンされるレーザビームにおける最外縁に位置
するレーザビームによって囲まれる領域が撮影可能な領
域15となる。
このような構成において、光源11よりレーザビームを
発生させ、回転ミラー12を回転させると、回転ミラー
12の反射方向が360度に亙り順次変化することから
、レーザビームは回転ミラー12を回転中心として回転
する。そして、第一の反射ミラー12に対し、その配設
方向に沿って直線的に移動しながら入射する。そして、
この第一の反射ミラー13により90度反射され、対向
する第2の反射ミラー14に入射されるとともにここで
再び90度反射されて導光部材16の前記他端面に入射
される。
従って、一対の第一、第二の反射ミラー13゜14につ
いて見てみると、回転ミラー12を出たレーザビームは
第二の反射ミラー14の反射面で許容される範囲内でセ
クタ状にスキャンされることになる。
第一、第二の反射ミラー13.14は片半分の領域に屋
り円弧状に配され、また、導光部材16は第二の反射ミ
ラー14の配設領域に対向する残りの半分の領域に円弧
状に配されているので、多対を成す反射ミラー13.1
4を経てセクタ状にスキャンされながら入射されるレー
ザビームは撮影可能領域15を透過後、導光部材16の
各可撓性導光体に順に入射することになる。
導光部材16に入射した光は導光部材16の可撓性導光
体内を反射しながら伝幡し、その前記一端部側より出射
される。そして、レンズ17により集光され、受光素子
18に与えられる。受光素子18はその受光光量に対応
した電気信号に変換して、出力する。
この信号は前述したデータ収集装置に送られて吸収デー
タとして収集され、前述の再構成処理が施され、断面像
が得られる。
この結果、およそ170〜180度近くの範囲にわたり
、反射ミラー13.14の配設方向からのセクタ・スキ
・ヤンによる撮影領域内の被検査体の光吸収に関するデ
ータを収集できる。尚、導光部材16は複数の可撓性導
光体を並設したものであり、収集した光吸収データの入
射レーザビームにおけるセクタ位置との関係がそのまま
では掴めないので、回転ミラー12の回転角度位置を検
出してその角度情報を参照したり、第一または第二の反
射ミラー13.14の両脇にレーザビーム検出用の導光
部材′または光検出器を配置してレーザビームがどの位
置にあるかを検出し、これを同期信号として参照して時
分割により、光吸収データを収集したセクタ位置に対応
づけて分離するようにする。
次に本発明による光走査装置の具体的な構成を説明する
第3図は本装置の構成を示す側面断面図、第4図はその
工方向から見た図、第5図は第3図における■方向から
見た図である。
図中11は光源であり、レーザ発振器等を用いている。
12は回転ミラーであり、13は第一の反射ミラー、1
4は第二の反射ミラーである。
16は導光部材である。21は装置の筐体であり、この
筺体21の一側壁に孔21aを設けて、ここに光源保持
筒22が取付けである。前記光!11は出射光軸をこの
光源保持筒22の軸線に平行となるようにしてこの光源
保持筒22内に収納され、光源11を出射したレーザビ
ームは孔21aを通して筒体21内に入射される。22
aは光源保持筒22の中央部外周に設けた通風用の網で
ある。
23は筒状の回転ミラー保持筒であり、この回転ミラー
保持筒23は一端側を前記光源保持筒22に対向させて
筺体21内に取付けである。
24a、24bは回転ミラー保持筒23内に取付けられ
たベアリングであり、また、回転ミラー保持筒23内に
は回転軸25が軸線を前記レーザビーム光軸に一致させ
た上で、前記ベアリング24a、24bより回転自在に
保持させである。
そして、回転軸25の前記光+[111側先端部に前記
回転ミラー12が取付けられている。また、回転軸25
の他端部側にはプーリ26が取付けられ、このプーリ2
6は筺体21内壁に取付けられたモータ27との間にベ
ルト28を掛渡すことにより、モータ27の回転、力が
伝達されて回転駆動される構成となっている。
筺体21内には前記回転ミラー保持筒23取付は側壁面
にリング状のミラー保持板29が取付けられ、また、同
様なミラー保持板30が筺体21内の前記ミラー保持板
29取付は壁と対向する壁面に互いに中心の孔の軸線を
一致させて平行に取付けである。また、筺体21の前記
ミラー保持板30取付は壁には該ミラー保持板3oの中
心の孔と一致させて被検査体を位置させる撮影孔21a
が開口されている。更にまた、筺体21内には前記ミラ
ー保持板30より適宜離間させてダクト31が配置され
ており、排気ガスや噴霧等の被検査体は撮影孔21aよ
り筺体21内部に送込まれるとともにこのダクトを介し
て吸引され、外部に排出される構成となっている。
また、前記ミラー保持板29にはその中心の孔を中心に
所定の半径で描かれる円弧の片半分の領域に該円弧に沿
って所定のピッチで第一の反射ミラー13が45度の傾
斜角で取付けられている。
また、同様に前記ミラー保持板30にはその中心の孔を
中心に所定の半径で描かれる円弧の片半分の領域に該円
弧に沿って、且つ、前記第一の反射ミラー13と対向さ
せて第二の反射ミラー14が45度の傾斜角で取付けら
れている。第一の反射ミラー13は例えば10組配設し
てあり、従って、第二の反射ミラー14はこれに対応さ
せて10組対向配設しである。
前記第一の反射ミラー13の入射光路を確保すべく、前
記回転ミラー保持筒23にはその収納した回転ミラー1
2の出射光路位置に、第一の反射ミラー13の配設領域
対応の領域に亙り、スリット23aが形成されている。
また、前記ミラー保持板30にはその中心の孔を中心に
所定の半径で描かれる前記円弧の残り半分の領域に該円
弧に沿って、且つ、前記第二の反射ミラー14に反射さ
れたレーザビームのスキャン経路に沿って導光部材16
の入射端面が配設され、セクタ・スキャンされて移動す
るレーザビームを受けてこれを導(ことが出来るように
しである。また、前記第二の反射ミラー14間にはレー
ザビームの通過位置に同期信号用の導光体(ファイバ)
32がその入射端面をレーザビーム光軸に一致させて配
設しである。その支持構造は第6図に示す如きもので、
中空の支持ビン32a内に導光体32の入射端面側を挿
入し、これを前記ミラー保持板30に植立させている。
第二の反射ミラー14は10組あるので、同期信号用の
導光体32は10本設けてあり、その導かれた光の検出
には受光素子を用いるがコストダウンのため、10本の
導光体32は出射口部側32bを第6図の如く、束ねて
一つにまとめ、第7図に示す如く、レンズ33aと受光
素子33bよりなる同期検出センサ33に接続してレン
ズ33aにより集光し、単一の受光素子33bに与えて
同期検出するようにしている。同期信号はレーザビーム
の回転走査が一定の速度で行われているとすれば、一定
のタイミングで、しかも、所定のパターンで発生するの
で、走査開始タイミングおよび走査位置が特定でき、こ
れをもとに導光部材16の検出レーザビームの位置とそ
の位置での光吸収データを特定できる。
導光部材16は第8図に示すように直径1mm程度のフ
ァイバを44本程度用いてフラット・ケーブル状にした
ものを用いており、このフラット・ケーブル状の導光部
材16を10111ilの第二の反射ミラー14各々に
対応させて前述の如く所定の位置に配置しておく。そし
て、光出射端部16b側は図の如く10本分をf*II
して束ね、第9図に示す如くレンズ34aと単一の受光
素子34 bとを筐体に納めてなるデータ検出センサ3
4に接続し、導光部材16より出射された光をレンズ3
4aで集光して受光素子34bに与えることで、被検査
体の透過レーザビームの光量をデータとして収集できる
ようにしである。
同期検出センサ33及びデータ検出センサ34は筺体2
1の光源11取付は側壁に固定する。
また、第一、第二の反射ミラー13.14は光軸を精密
に調整する必要がある。そこで、本装置では第10図の
ような構造とした。
すなわち、Mは反射ミラ一部であり、この反射ミラ一部
Mは直角三角柱状のミラー支持台BS上に取付ける。ミ
ラー支持台88の位置側面には三点支持構造を得るため
、等間隔で三点の位置に締付はボルト8T1用のネジ穴
H1が形成されている。また、ミラー保持板29.30
には締付はボルト8T1用の挿通口H2とその下に平面
調整ボルト挿通用のネジ穴H3が形成されている。そし
て、筺体21の壁面にはこれら挿通口H2と調整ボルト
挿通用のネジ穴H3に通すボルトの入る程度の大きさで
ネジ装着口21bが形成されている。
そして、平面調整ボルト挿通用のネジ穴H3に平面調整
ボルトBT2を螺着し、そのねじ込み量を調整してミラ
ー支持台BSの傾きを調整し、反射光軸を調整した後、
締付はボルトBT1を螺着して固定する。この支持構造
は三点支持構造であるので、個々の反射ミラーの光軸を
精密に調整出来る。
このような構成において、光源11より出射されたレー
ザビームは回転する回転ミラー12により回転ミラー1
2を中心軸として90度の方向に順次回転走査され、回
転ミラー保持筒23のスリット23aを通って第一の反
射ミラー13に入射され、ここで再び90度反射されて
第二の反射ミラー14に入射する。そして、第二の反射
ミラー14により90度反射され、撮影孔21aとダク
ト31の間隙を通って、導光部材16に入射する。
そして、この導光部材16を通ってデータ検出センサ3
4に入り、ここでその光量に対応した信号に変換される
一方、レーザビームは第二の反射ミラー14の脇に設け
られた同期信号検出用の導光体32に入射して検出され
るので、この検出信号からレーザビームの走査位置を知
ることができ、レーザビームの走査位置との関係を持っ
てデータ検出センサ34より出力される信号を識別出来
る。
例えば、次のようにする。
すなわち、データ検出センサ34からは、全反射ミラー
14からの光が入力される。また、同期検出センサ33
・からは、各反射ミラー14に光は入射する時点で各−
回づつ信号が検出される。従って、同期検出センサ33
からの信号をカウントする第一のカウンタC1を設けて
これにより周期検出センサ33からの信号をカウントす
ると、このカウンタC1のカウント埴は複数の第二の反
射ミラー14のうちのどの反射ミラー14からの信号で
あるかを特定する。一方、データ検出センサ34の出力
する″信号は各第二の反射ミラー14毎に連続しており
、従って、スキャン位置が特定された第二の反射ミラー
14からの反射光における検出信号が、今、どのスキャ
ン位置での検出信号であるかを認識する必要がある。そ
こで、第二のカウンタC2を設け、この第二のカウンタ
C2は前記同期検出センサ33からの信号を出力される
毎にリセットさせるとともに所定の基準クロック信号を
カウントさせる。これにより、第二のカウンタC2の値
で各第二の反射ミラー14の光スキヤン位置が特定出来
る。
故に第一のカウンタC1と第二のカウンタC2の値より
、レーザビームのスキャン位置が特定でき、この情報を
参照しながらデータ検出センサ34の出力をアナログ/
ディジタル変換すれば、各バス位置を特定した形で光吸
収データを収集出来ることになる。
レーザビームは各反射ミラー14の位置毎にこの反射ミ
ラー14から撮影領域に向かい、セクタ状にスキャンす
ることになり、本実施例では10個の反射ミラー14に
対応して10プロジェクション分の光吸収データを得る
ことが出来る。しかも、本装置は回転ミラー12を回転
させるだけでレーザビームをセクタ・スキャンと回転走
査をさせる光学的な走査機構であり、そのため、1断面
当りの走査は瞬時に行うことが可能となる。
因みに本装置では毎分、1000乃至3000回転程回
転速度で回転ミラー12を回転させることが可能であり
、流体のある断面のデータを実質的に時間づれなく、多
方向からデータ収集可能となる。従って、エンジンにお
ける排気ガスや燃料の噴霧等、比較高速で移動する被検
査体の断面を正確に再構成することができ、高速流体の
内部状態の解析が可能となる。
しかも、データ収集に細いペンシルビーム状の光ビーム
を利用し、これを高速でスキャンさせるようにしたので
、光のエネルギ分布にむらがなく、従って、S/Nの良
い断層像を得ることが出来る。
尚、本発明は上記し、且つ、図面に示す実施例に限定す
ることなく、その要旨を変更しない範囲内で適宜変形し
て実施し得る。
例えば、上記実施例では導光部材16を複数の可撓性紐
状導光体により構成したが、これは第11図に示すよう
に平ベルト状の透明部材41の外側に反射用のクラッド
42を形成したフラットなライトガイドを用いるようし
ても良く、また、導光部材16は複数個をまとめて一つ
の受光素子で信号検出する構造としたが、これは第12
図に示すように各導光部材16毎にそれぞれ専用の受光
素子18を設けて各別に検出するようにしても良い。
また、赤外線が生体を透過することが知られており、従
って、本装置はガスや噴霧状の被検査体の他、光ビーム
として赤外線を用いることで指等のような生体の断面の
データ収集することが出来、従って、光ビーム透過性で
あれば、固体状の被検査体の断層撮影にも利用すること
が出来る。更に本発明は、CTスキャナに限らず、レー
ザビームを物体の周囲についてスキャンさせ加工するレ
ーザ加工装置等にも応用することが出来る。
また、回転ミラーの回転数は駆動源であるモータの回転
数をas mすることで任意に可変して使用することが
出来る。
[発明の効果] 本発明によれば、高速で多方向より順次光ビームをスキ
ャンさせることが出来るので、第二の反射ミラーの配列
内における中心の位置に被検査体を配設すれば、その被
検査体の多方向からの光吸収データを瞬時に収集するこ
とが可能になり、エンジンの排気ガスや燃料の噴霧等の
高速で流れる流体の断面構造を解析することが可能にな
る。また、レーザビーム等のような細い光ビームを用い
、これを光学的に高速でスキャンさせるようにしたので
、照射する光のエネルギ分布にむらが無く、従って、S
/Nの良いデータが収集できるから、良質の再構成画像
を得ることができるようになる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の詳細な説明するための概略構成図、第
2図は導光部材と信号検出系の構成を説明するための図
、第3図は本発明による装置の一実施例を示す側面断面
図、第4図、第5図は第3図装置のI、If方向矢視図
、第6図は本装置に用いる同期信号検出用の導光体部分
の構成を示す図、第7図はその同期検出センサ部分の構
成を示す図、第8図は本装置に用いる導光部材の構成を
示す図、第9図はそのデータ検出センサ部分の構成を示
す図、第10図は本装置に用いる反射ミラーの支持構造
を説明するための図、第11図は導光部材の他の構成例
を示す斜視図、第12図は受光部を含めた導光部材の他
の例を示す図、第13図は従来のCTスキャナの概要を
説明するためのブロック図である。 B・・・レーザビーム、11・・・光源、12・・・回
転ミラー、13・・・第一の反射ミラー、14・・・第
二の反射ミラー、15・・・撮影可能な領域、16・・
・導光部材、16b・・・光出射端部、17・・・集光
用のレンズ、18・・・受光素子、21・・・筐体、2
1a・・・孔、21b・・・ネジ装着口、22・・・光
源保持筒、23・・・回転ミラー保持筒、24a、24
b・・・ベアリング、25・・・回転軸、26・・・プ
ーリ、27・・・モータ、27・・・ベルト、29.3
0・・・ミラー保持板、31・・・ダクト、32・・・
導光体(ファイバ)、32b・・・出射口部側、33・
・・同期検出センサ、33a、34a−Vンズ、33b
、34b・・・受光素子、34・・・データ検出センサ
、M・・・反射ミラ一部、BS・・・ミラー支持台、B
Tl、BT2・・・ボルト、Hl、H3・・・ネジ穴、
H2・・・挿通口。 出願人代理人  弁理士 外弁 淳 第1図 第2図 第6図 第8図 第7図 第1 第11図 フ図 (b) 9b 第12図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 光ビームを発生する光源と、この光ビームの光軸上に配
    され該光ビームの光軸と交差する軸線方向に反射する回
    転ミラーと、この回転ミラーを回転駆動させる駆動装置
    と、前記回転ミラーの回転軸を中心とする所定半径の円
    周上に配設され回転ミラーより受けた光ビームをこの回
    転ミラーの回転軸に沿つて平行な方向に反射する複数の
    第一の反射ミラーと、この第一の反射ミラーに対向して
    配設され、対向する第一の反射ミラーからの光を受けて
    前記回転ミラーの回転軸と交差する平面に沿い、且つ、
    該回転軸線を中心とする所定の領域内に向けて反射する
    第二の反射ミラーと、この所定の領域を介して前記第二
    の反射ミラーに対向して配されこの第二の反射ミラーの
    反射光を受けて導く導光路と、この導光路により導かれ
    た光を受けてその受光量に対応した信号に変換する受光
    部とを具備してなる光走査装置。
JP10773685A 1985-05-20 1985-05-20 光走査装置 Pending JPS61265553A (ja)

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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62277538A (ja) * 1986-05-27 1987-12-02 Hamamatsu Photonics Kk 3次元物体計測装置
JPS6326555A (ja) * 1986-07-18 1988-02-04 Hamamatsu Photonics Kk 光を用いた物体内部構造の3次元計測装置
JPH10260131A (ja) * 1997-03-19 1998-09-29 Seitai Hikarijoho Kenkyusho:Kk 光計測装置
TWI392952B (zh) * 2009-09-03 2013-04-11 Nat Univ Tsing Hua 多視角攝像方法及系統

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62277538A (ja) * 1986-05-27 1987-12-02 Hamamatsu Photonics Kk 3次元物体計測装置
JPS6326555A (ja) * 1986-07-18 1988-02-04 Hamamatsu Photonics Kk 光を用いた物体内部構造の3次元計測装置
JPH10260131A (ja) * 1997-03-19 1998-09-29 Seitai Hikarijoho Kenkyusho:Kk 光計測装置
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