JPS61263038A - イオン注入装置 - Google Patents

イオン注入装置

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JPS61263038A
JPS61263038A JP60104879A JP10487985A JPS61263038A JP S61263038 A JPS61263038 A JP S61263038A JP 60104879 A JP60104879 A JP 60104879A JP 10487985 A JP10487985 A JP 10487985A JP S61263038 A JPS61263038 A JP S61263038A
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wafer
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ion implantation
wafers
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Tei Kawai
河合 禎
Tsukasa Nogami
野上 司
Tomoshige Ogawa
小川 智滋
Nobuo Nagai
宣夫 長井
Katsuo Naito
勝男 内藤
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は、イオンビームを電気的に垂直方向に平行走
査し、ウェハを機械的に水平方向に並進させるようにし
たイオン注入装置に関する。
〔従来の技術〕
第7図は、従来のイオン注入装置の一例を示す概略平面
図である。真空中において、イオン源(図示省略)から
引き出され、質量分析され、加速されたイオンビーム2
は、垂直走査電極4によって垂直方向に走査されると共
に、水平走査電極6によって水平方向に走査されてウェ
ハ8に入射する。この場合、垂直走査電極4、水平走査
電極6にはそれぞれ例えば数百ないし数十Hzで土十数
KV程度の電圧(三角波電圧)が印加される。
これによって、イオンビーム2はウェハ8の表面を満遍
なく走査される。この場合、ウェハ8は1枚ずつ処理(
枚葉処理)されるけれども、処理前後のウェハ8の入れ
換えによるロス時間を無くして処理能力を向上させるた
めに、水平走査電極6でイオンビーム2を左右に振り分
けて、左右両側に準備したウェハ8にイオン注入にする
、いわゆるデュアルエンドステーションを備えるイオン
注入装置も考えられている。符号12は、その場合の振
り分はラインである。尚符号10は、偏向されない中性
ビームである。
C発明が解決しようとする問題点〕 第7図に示したようなイオン注入装置においては、ウェ
ハ8に対するイオンビーム2の入射角度を抑える必要か
ら、符号8゛、8パのようにウェハが大きくなるにつれ
て、ビームラインを長くしてウェハの位置を後退させな
ければならず、そのために装置が大形化するという問題
がある。
またイオンビーム2の走査に伴う入射角度の変化をなく
するためには、イオンビーム2を平行走査(パラレルス
キャン)しなければならず、そのためには例えば第8図
に示すように、更に平行化用の垂直走査電極14及び水
平走査電極16を備えなければならず、やはりビームラ
インが長くなって装置が大形化する。
更に、イオンビーム2を2方向に振り分けるデュアルエ
ンドステーションの場合には、装置の幅が太き(なって
装置が大形化する問題以外に、制御の複雑化、高コスト
化等の問題もある。
従ってこの発明は、上述のような問題点を解決したイオ
ン注入装置を提供することを目的とする。
〔問題点を解決するための手段〕
この発明のイオン注入装置は、イオンビームを電気的に
垂直方向に平行走査するビーム走査系と、水平状態でウ
ェハを着脱可能であり、起立状態でそこに装着されたウ
ェハにイオン注入可能な2つのプラテンと、2つのプラ
テンを交互に水平状態及び起立状態にし、かつ起立状態
のプラテンを水平方向に並進させるプラテン駆動機構と
、水平状態のプラテンに対してウェハの供給及び回収を
行うウェハ供給・回収機構とを備えている。
〔作用〕
ビーム走査系によってイオンビームは垂直方向に平行走
査され、かつプラテンに装着されたウェハはプラテン駆
動機構によって水平方向に並進させられるので、ウェハ
面内のイオン注入の均一性が確保される。この場合、イ
オンビームは平行走査されるため、入射角度の制限から
来るビームラインの伸長はなく、しかもビーム走査系に
おける走査は垂直方向のみなのでビーム走査系は簡略化
され、これらによって装置の小形化を図ることができる
。また、2つのプラテンに対するウェハの着脱及びそこ
に装着されたウェハへのイオン注入が2つのプラテン間
で交互に行われるため、デュアルエンドステーションの
ように装置を大形化することなく、処理能力の向上等を
図ることもできる。
〔実施例〕
まずイオンビームを垂直方向に平行走査するビーム走査
系につき説明する。第3図はこの発明に係るイオン注入
装置のビーム走査系の一例を示す概略平面図であり、第
4図はその概略側面図である。前述したイオンビーム2
は、中性ビームlO除去のために偏向電極18において
偏向された後、2段の垂直走査電極22及び24におい
て矢印Bのように垂直方向に平行に走査され、そして矢
印Aのように水平方向に並進させられるウェハ8に入射
される。この場合、偏向電極18には、偏向電源20か
ら例えば数KVの定電圧がイオンビーム2のビームエネ
ルギーに対応して印加される。
また、垂直走査電極22及び24のそれぞれの電極間隔
をdI、dt、電極長を15.1□、印加電圧をV、 
、Vtとした場合、垂直走査電極22及び24にはVt
l□/dz =  V11+/dlの関係を保ちつつ、
例えば走査電源28等から十数KV程度の三角波電圧が
印加される。これによって、イオンビーム2は垂直走査
電極24の出口部で平行にされる。尚、ウェハ8の水平
方向の並進機構は後述する。
第5図はこの発明に係るイオン注入装置のビーム走査系
の他の例を示す概略平面図であり、第6図はその概略側
面図である。第3図及び第4図に示したビーム走査系と
の相違点を説明をすると、この場合は第3図に示したよ
うな偏向電極18及び偏向電源20を用いずに、垂直走
査電極22が中性ビーム10除去のための偏向電極とイ
オンビーム2の最初の走査電極とを兼ねている。そのた
め、バイアス電源30を設けてバイアス電圧の上に三角
波の走査電圧を重畳させており、かつ垂直走査電極24
を垂直走査電極22に対してやや上方にずらして配置し
ている。そしてこの場合も、垂直走査電極22と24と
の間に前述と同様にVzlz/di −Volt/d+
なる関係を保つことによって、イオンビーム2を矢印B
のように垂直方向に平行走査するようにしている。
尚、上記2例はいずれもイオンビーム2を静電的に垂直
方向に平行走査するものであるが、イオンビーム2を電
磁的に垂直方向に平行走査しても良い。
次に、上述のようにして垂直方向に平行走査されたイオ
ンビーム2をウェハ8に照射してイオン注入するための
エンドステーションにつき説明する。
第1図はこの発明に係るイオン注入装置のエンドステー
ションの一例を示す概略図であり、第2図は第1図の線
n−nに沿う概略断面図である。
このエンドステーションは、太き(言えば、前述したビ
ーム走査系につながっていて、そこで垂直方向に平行走
査されたイオンビーム2が導入される真空室40と、当
該真空室40と大気中との間に設けられたエアロック室
32R132L等から成り、エアロツタ室32R132
L内には複数枚のウェハ8を収納するキャリア38R1
38Lが設けられており、真空室40内にはキャリア3
8R,38Lからのウェハ8を一旦貯えるストッカー4
2R142Lや、そこからのウェハ8を装着してそれに
イオンビーム2を照射してイオン注入するためのプラテ
ン58R158L等が設けられている。この場合、この
例ではビームラインの右側Rと左側りとは同等のものが
ほぼ左右対称に設けられているため、以下においては主
に右側Rを例に詳述する。
このエンドステーションにおいては、エアロック室32
R1ストツカー42R及びプラテン58R間に、可逆転
式の搬送ベルト46R〜49Rが互いに同一レベルに設
けられている。エアロツク室32Rは、ゲートバルブ3
4R,36Rによって、大気側及び真空室40側と隔離
されている。
キャリア38Rは、昇降機構68Rによって段階的に昇
降させられ、当該キャリア38R内のウェハ8のレベル
ヲ搬送ベルト46Rのレベルに合わせることができる。
ストフカ−42Rは、ウェハ8がプラテン58R側にも
キャリア38R側にも移動できるように両側に開いてお
り、かつ昇降機構69Rによって段階的に昇降させられ
、それによって当該ストッカー42R内のウェハ8のレ
ベルを搬送ベルl−47Rのレベルに合わせることがで
きる。更に右側Rと左側りとの間に搬送ベルト50が設
けられており、当該搬送ベルト50は昇降機構70によ
って昇降させられ、上昇位置で右側Rと左側りとの間の
ウェハ8のやりとりができるようになっている。
プラテン58Rは、水平状態でウェハ8を着脱可能であ
り、起立状態でそこに装着されたウェハ8にイオン注入
可能なようになっている。即ちプラテン58Rは、ベー
ス54Rと、ウェハ8に相当する開口部を有するウェハ
押え56Rとを備えており、それらの間にウェハ8を挟
持できるようになっている。具体的には、ウェハ押え5
6Rはばね(図示省略)によって常時ベース54Rの方
へ付勢されており、水平状態にされたプラテン58Rの
当該ウェハ押え56Rを、昇降機構71Rの先端部の押
上げ部74Rによって押し上げ、その際に搬送ベルト4
9Rを駆動することによってウェハ8の着脱が可能であ
る。そして当該プラテン58Rは、イオンビーム2のビ
ーム軸と垂直な軸66Rに取り付けられており、当該軸
66Rはシリンダー64Rによって矢印Cのように回転
させられる。これによって、プラテン58Rは、ウェハ
8を着脱するための水平状態と、ウェハ8にイオン注入
するための起立状態とに保たれる。
更に、軸66Rは、プラテン58Rを起立状態にした状
態で水平方向に、即ちイオンビーム2に対して垂直方向
に並進させられる。具体的には、パルスモータ60Rの
回転軸にボールねじ61Rが連結されており、当該パル
スモータ60Rの回転によって、連結部63R及びそれ
に結合された軸66R更にはそれに取り付けられたプラ
テン58Rの並進制御が精密に行われる。尚、符号62
Rはガイド軸である。
次に、上述したイオン注入装置の全体的な動作の一例を
右側Rを中心に説明する。まず、複数枚の未注入のウェ
ハ8を収納したキャリア38R138Lを各エアロツク
室32R132L内に装着した後、ゲートバルブ34R
,34Lを閉じて各エアロツク室32R132Lの真空
引きを行う。
次にゲートバルブ36R136Lを開いてキャリア38
R138L内のウェハ8をストッカー42R542L内
にそれぞれ移し替えて、各キャリアを一旦空にする。
次に、例えば(空の)プラテン58Rを水平状態にして
おき、ストッカー42Rの最下段のウェハ8を搬送ヘル
ド47R〜49Rによってプラテン58Rまで搬送して
そこに装着する。そして当該プラテン58Rを時計方向
に約90度回転させて起立状態にした後、イオンビーム
2の照射領域へ移動させてそこで水平方向に並進運動を
させる。
この場合、前述したビーム走査系で垂直方向に平行走査
されたイオンビーム2は、ウェハ8に同一角度をもって
(例えば垂直に)入射し、ウェハ8上に上下の軌跡を描
く。一方つエバ8自身は、注入ドーズ量及びビーム電流
値に比例し、並進往復回数に反比例する速度で並進させ
られる。これによって、ウェハ8の面内でのイオン注入
量の均一性が確保される。しかも、大口径のウェハ8へ
のイオン注入の場合にも、従来(第7図参照)のように
イオンビーム2の走査のみを行う場合と違って、入射角
度の制限から来るビームラインの伸長はなくなる。従っ
て装置を小形化することができるや更に、第8図の場合
のように水平、垂直の各走査電極を2段にしなくて良い
ので、この面からもビームラインが短くなり、装置が小
形化される。
尚、上述のように一方のプラテン58Rにおいてイオン
注入が行われている間に、他方のプラテン58Lは水平
位置に倒されて、注入済みのウェハ8と未注入のウェハ
8との交換が行われ、次のイオン注入のために待機して
いる。
次に、プラテン58Rに装着したウェハ8へのイオン注
入が終了すると、プラテン58Rを元の位置に戻して水
平位置に倒すと共に、もう一方のプラテン58Lをイオ
ンビーム2の照射領域に移動させてイオン注入を開始す
る。そして搬送ベルト46R〜49Rを駆動することに
よって、プラテン58Rから注入済みのウェハ8を取り
出して、ストッカー42Rの空間部を通過させて元のキ
ャリア38R内の元あった位置に回収する。そして、ス
トッカー42R内の次のウェハ8をプラテン58Rに装
着する。以降、上記と同様の動作を繰り返す。これによ
って、2つのプラテン58R158Lにおいて交互に連
続してイオン注入を行うことができ、従ってイオン注入
のロス時間は殆どなくなる。また、左右のエアロツク室
32R,32Lがあるため、キャリア38R,38Lの
入れ換え時のロス時間も解消される。このようにこの装
置においては、前述したようなデュアルエンドステーシ
ョンにすることなく、それと同等以上に処理能力を向上
させることができる。そのため、デュアルエンドステー
ションの場合のように装置が大形化したり、制御が複雑
化したり、高コスト化したりすることもない。
尚、プラテン58R,58Lに対するウェハ8の供給・
回収手段及び方法は、上述のようなものに限定されるも
のではない。例えば、プラテン58Rがウェハ8の入れ
換え中等の場合には、ストッカー42Rからプラテン5
8Lに対してウェハを供給・回収することもできる。ス
トッカー42L側についても同様である。これによって
待ち時間を少なくして更に効率良くイオン注入すること
もできる。更に左右それぞれの側に、エアロツク室、キ
ャリア、ストッカー等を複数組ずつ設けても良く、その
ようにすると処理能力は更に向上する。あるいは、キャ
リアを大気中に設けることも可能である。
〔発明の効果〕
以上のようにこの発明においては、イオンビームを垂直
方向に平行走査し、ウェハを水平方向に並進させるため
、ウェハに対するイオン注入の均−性が確保されると共
に、ウェハに対する一定の入射角とビームラインの短縮
化、装置の小形化とが実現される。しかも、2つのプラ
テンにおいて交互に連続してイオン注入が可能なため、
イオン注入の効率が向上し、これによって処理能力も大
幅に向上する。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明に係るイオン注入装置のエンドステー
ションの一例を示す概略図であり、第2図は第1図の線
n−nに沿う概略断面図である。 第3図はこの発明に係るイオン注入装置のビーム走査系
の一例を示す概略平面図であり、第4図はその概略側面
図である。第5図はこの発明に係るイオン注入装置のビ
ーム走査系の他の例を示す概略平面図であり、第6図は
その概略側面図である。 第7図は、従来のイオン注入装置の一例を示す概略平面
図である。第8図は、従来のイオン注入装置の他の例を
示す概略平面図である。 2・・・イオンビーム、8・・・ウェハ、22,24・
・・垂直走査電極、38R,38L・・・キャリア、4
2R,42L・・・ストッカー、46R〜49R,50
・・・搬送ベルト、58R,58L・・・プラテン、6
0R・・・パルスモータ、64R・・・シリンダー

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)真空中でウェハにイオンビームを照射してイオン
    注入を行う装置において、 イオンビームを電気的に垂直方向に平行走査するビーム
    走査系と、 水平状態でウェハを着脱可能であり、起立状態でそこに
    装着されたウェハにイオン注入可能な2つのプラテンと
    、 2つのプラテンを交互に水平状態及び起立状態にし、か
    つ起立状態のプラテンを水平方向に並進させるプラテン
    駆動機構と、 水平状態のプラテンに対してウェハの供給及び回収を行
    うウェハ供給・回収機構とを備えることを特徴とするイ
    オン注入装置。
JP60104879A 1985-05-16 1985-05-16 イオン注入装置 Expired - Lifetime JPH0673294B2 (ja)

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JP60104879A JPH0673294B2 (ja) 1985-05-16 1985-05-16 イオン注入装置

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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS63160659U (ja) * 1987-04-08 1988-10-20
JPS647464A (en) * 1987-06-30 1989-01-11 Nippon Telegraph & Telephone Ion implanting device
JPH0374040A (ja) * 1989-05-15 1991-03-28 Nissin Electric Co Ltd イオン注入装置
JP2013101898A (ja) * 2011-10-17 2013-05-23 Nissin Ion Equipment Co Ltd エネルギー線照射装置及びワーク搬送機構

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