JPS61263034A - 電子顕微鏡 - Google Patents
電子顕微鏡Info
- Publication number
- JPS61263034A JPS61263034A JP60104421A JP10442185A JPS61263034A JP S61263034 A JPS61263034 A JP S61263034A JP 60104421 A JP60104421 A JP 60104421A JP 10442185 A JP10442185 A JP 10442185A JP S61263034 A JPS61263034 A JP S61263034A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- electron microscope
- magnetic shield
- ball piece
- magnetic
- tip
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の技術分野〕
本発明は半導体ウェハを検査する際に用いられる電子顕
微鏡に関し、特にワーキングディスタンス領域における
磁場のシールドに改良を施した走査型電子顕微鏡に係わ
る。
微鏡に関し、特にワーキングディスタンス領域における
磁場のシールドに改良を施した走査型電子顕微鏡に係わ
る。
従来、電子ビームテスタのような装置においては、該装
置のボールピースと半導体ウェハとの距離(D)が従来
の走査型電子顕微鏡より広がる傾向にある。特に、ウェ
ハなどがそのまま入ってそのウェハに駆動信号を与えて
LSIを駆動してから計れるような電子ビームテスタの
ような装置においてはそのことが顕著である。
置のボールピースと半導体ウェハとの距離(D)が従来
の走査型電子顕微鏡より広がる傾向にある。特に、ウェ
ハなどがそのまま入ってそのウェハに駆動信号を与えて
LSIを駆動してから計れるような電子ビームテスタの
ような装置においてはそのことが顕著である。
ところで、上記距離りが大きくなると、上記装置が磁場
の影響を受は易い。これに対し、従来、磁場の対策とし
て、ボールピースにシールド材を導電テープなどで直接
貼りつけたりしており、シ−ルドの形状も適当に作って
いるのが現状であった。
の影響を受は易い。これに対し、従来、磁場の対策とし
て、ボールピースにシールド材を導電テープなどで直接
貼りつけたりしており、シ−ルドの形状も適当に作って
いるのが現状であった。
(発明の目的〕
本発明は上記事情に鑑みてなされたもので、簡単な手段
で磁場をシールドできる電子顕微鏡を提供することを目
的とする。
で磁場をシールドできる電子顕微鏡を提供することを目
的とする。
本発明は、ボールピースを設けることにより、磁場のシ
ールド効果を得ることを図ったものである。
ールド効果を得ることを図ったものである。
本発明に係る磁気シールドとしては、円筒形のもの、あ
るいは磁場方向に対し平行となるように対向して設けら
れた2枚の切片形のもの等種々挙けられる。
るいは磁場方向に対し平行となるように対向して設けら
れた2枚の切片形のもの等種々挙けられる。
また、磁気シールをボールピースに取付ける手段として
は、ボールピースの先端部に溝又はネジ穴を設けてこれ
を利用する方法等が挙げられる。
は、ボールピースの先端部に溝又はネジ穴を設けてこれ
を利用する方法等が挙げられる。
〔発明の実施例〕
以下、本発明の一実施例を第1図を参照して説明する。
図中の1は、先端形状が筒状のボールピースである。こ
のボールピース1には、円筒形の磁気シールド2が導電
性テープ3により固定されている。
のボールピース1には、円筒形の磁気シールド2が導電
性テープ3により固定されている。
ここで、磁気シールド2の内径はボールピース1の外形
と略同じである。なお、図において、4は試料ステージ
5上に載置された試料(半導体ウェハ)を、6は電子ビ
ームを夫々示す。また、Dは、上記ボルルピース1の先
端とウェハ4との距離を示す。
と略同じである。なお、図において、4は試料ステージ
5上に載置された試料(半導体ウェハ)を、6は電子ビ
ームを夫々示す。また、Dは、上記ボルルピース1の先
端とウェハ4との距離を示す。
しかして、本発明に係る電子顕微鏡によれば、ボールピ
ース1の先端部に円筒形の磁気シールド2を設けた構造
となっているため、電子顕微鏡の使用時、磁気シールド
2により磁場を遮断できる。
ース1の先端部に円筒形の磁気シールド2を設けた構造
となっているため、電子顕微鏡の使用時、磁気シールド
2により磁場を遮断できる。
また、磁気シールド2の内径はボールピース1の外径と
略同じであるとともに、導電性テープにより磁気シール
度2の端部を止めているため、磁気シールド2がボール
ピース1に拘止され、磁気シールド2の取外しも容易で
ある。
略同じであるとともに、導電性テープにより磁気シール
度2の端部を止めているため、磁気シールド2がボール
ピース1に拘止され、磁気シールド2の取外しも容易で
ある。
なお、本発明に係る電子顕微鏡は、第1図のものに限ら
ず、例えば第2図又は第3図に示す構造のものでもよい
。
ず、例えば第2図又は第3図に示す構造のものでもよい
。
第2図の電子顕微鏡は、ボールピース11の先端部の外
径を小さくし、この部分に円筒形の磁気シール12を嵌
合させた構造となっている。
径を小さくし、この部分に円筒形の磁気シール12を嵌
合させた構造となっている。
第3図の電子顕微鏡は、ボールピース21の先端部の外
周面に例えば2つ溝22a、22bを設けるとともに、
円筒形の磁気シールド23の上端部に上記溝22a、2
2bに夫々対応した固定ネジ24a、24bを設け、前
記磁気シールド23を固定ネジ24a、24bffi前
記溝228,22bに夫々螺合するようにボールピース
21に取付ける構造となっている。なお、第3図では、
ボールピース21に溝を設けたが、これに限らず、第4
図に示す如くネジ穴25a、25bを夫々設けてもよい
し、あるいは切込み(図示せず)でもよい。
周面に例えば2つ溝22a、22bを設けるとともに、
円筒形の磁気シールド23の上端部に上記溝22a、2
2bに夫々対応した固定ネジ24a、24bを設け、前
記磁気シールド23を固定ネジ24a、24bffi前
記溝228,22bに夫々螺合するようにボールピース
21に取付ける構造となっている。なお、第3図では、
ボールピース21に溝を設けたが、これに限らず、第4
図に示す如くネジ穴25a、25bを夫々設けてもよい
し、あるいは切込み(図示せず)でもよい。
また、本発明に係る磁気シールドとしては、前述した構
造のものに限らず、例えば第5図または第6図に示す構
造のものなどが挙げられる。第5図の磁気シールド31
は、上部に内側に突出したストッパ32を設けかつ下部
に外側に突出したストッパ33を設けた部材31a、3
1b、31G・・・を夫々各ストッパを介して連結した
構造となっている。したがって、第5図の磁気シールド
31によれば、部材31a、31b、・・・を多数積み
上げれば任意の長さの磁気シールドが得られる。つまり
、部材31aの長さdを10mgとすれば、10M刻み
で磁気シールドの長さを調節できる。第6図は2個の内
側に湾曲した切片418,41bからなり、ボールピー
スに取付ける時はこれら切片41a、41bがia場力
方向42対して平行となるように対向して設ける。なお
、これら切片の数は2個に限定されないことは勿論のこ
とである。
造のものに限らず、例えば第5図または第6図に示す構
造のものなどが挙げられる。第5図の磁気シールド31
は、上部に内側に突出したストッパ32を設けかつ下部
に外側に突出したストッパ33を設けた部材31a、3
1b、31G・・・を夫々各ストッパを介して連結した
構造となっている。したがって、第5図の磁気シールド
31によれば、部材31a、31b、・・・を多数積み
上げれば任意の長さの磁気シールドが得られる。つまり
、部材31aの長さdを10mgとすれば、10M刻み
で磁気シールドの長さを調節できる。第6図は2個の内
側に湾曲した切片418,41bからなり、ボールピー
スに取付ける時はこれら切片41a、41bがia場力
方向42対して平行となるように対向して設ける。なお
、これら切片の数は2個に限定されないことは勿論のこ
とである。
以上詳述した如く本発明によれば、簡単な手段で磁場を
シールドできる信頼性の高い電子顕微鏡を提供できる。
シールドできる信頼性の高い電子顕微鏡を提供できる。
第1図は本発明の一実施例に係る電子顕微鏡の説明図、
第2図及び第3図は本発明の他の実施例に係る電子顕微
鏡の説明図、第4図は本発明に係るボールピースの説明
図、第5図及び第6図は夫々本発明に係る磁気シールド
の説明図である。 1.11.21・・・ボールピース、 2.12.23.31.41・・・磁気シールド、3・
・・導電性テープ、4・・・半導体ウェハ、6・・・電
子ビーム、22a、22b”・溝、 24a、24 b ・・・固定ネジ、25a、25 b
・・・ネジ穴、32.33・・・ストッパ、41a、
41・・・切片。 出願人代理人 弁理士 鈴江武彦 第1図 巧2図 第3図 第4図 第6図 41a f
第2図及び第3図は本発明の他の実施例に係る電子顕微
鏡の説明図、第4図は本発明に係るボールピースの説明
図、第5図及び第6図は夫々本発明に係る磁気シールド
の説明図である。 1.11.21・・・ボールピース、 2.12.23.31.41・・・磁気シールド、3・
・・導電性テープ、4・・・半導体ウェハ、6・・・電
子ビーム、22a、22b”・溝、 24a、24 b ・・・固定ネジ、25a、25 b
・・・ネジ穴、32.33・・・ストッパ、41a、
41・・・切片。 出願人代理人 弁理士 鈴江武彦 第1図 巧2図 第3図 第4図 第6図 41a f
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 (1)半導体ウェハを試験する際に用いられる電子顕微
鏡において、ボールピースの先端部に磁気シールドを設
けたことを特徴とする電子顕微鏡。 〈2)磁気シールドの形状が円筒形であることを特徴と
する特許請求の範囲第1項記載の電子顕微鏡。 (3)2枚の磁気シールドが、ボールピースの先端部に
磁場方向に対し平行となるように対向して設けられてい
ることを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の電子顕
微鏡。 (4)ボールピースの先端部に溝又はネジ穴を設け、こ
れを利用して磁気シールドを前記ボールピースの先端部
に係止させることを特徴とする特許請求の範囲第1項記
載の電子顕微鏡。 (5)磁気シールドの軸方向に沿う両端部にストッパを
設け、このストッパにより磁気シールドを複数個軸方向
に連結できるようにしたことを特徴とする特許請求の範
囲第2項記載の電子顕微鏡。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60104421A JPS61263034A (ja) | 1985-05-16 | 1985-05-16 | 電子顕微鏡 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60104421A JPS61263034A (ja) | 1985-05-16 | 1985-05-16 | 電子顕微鏡 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS61263034A true JPS61263034A (ja) | 1986-11-21 |
Family
ID=14380227
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP60104421A Pending JPS61263034A (ja) | 1985-05-16 | 1985-05-16 | 電子顕微鏡 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS61263034A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2012507839A (ja) * | 2009-12-11 | 2012-03-29 | 漢民微測科技股▲分▼有限公司 | 多光軸磁気レンズ |
-
1985
- 1985-05-16 JP JP60104421A patent/JPS61263034A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2012507839A (ja) * | 2009-12-11 | 2012-03-29 | 漢民微測科技股▲分▼有限公司 | 多光軸磁気レンズ |
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