JPS6126279A - 半導体光双安定素子 - Google Patents

半導体光双安定素子

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JPS6126279A
JPS6126279A JP14604284A JP14604284A JPS6126279A JP S6126279 A JPS6126279 A JP S6126279A JP 14604284 A JP14604284 A JP 14604284A JP 14604284 A JP14604284 A JP 14604284A JP S6126279 A JPS6126279 A JP S6126279A
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optical
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浩二 菊島
Koichi Sano
浩一 佐野
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔技術分野〕 本発明は、高速光プンビュータに用いる光論理素子、光
通信用全光中継器に用いる光識別増幅器などに応用する
ことができる半導体光双安定素子に関するものである。
〔従来技術〕
光双安定素子の基本的構成は光学分野に広く利用されて
いるファブリ・ベロー干渉計におるOファプリ・ベロー
干渉計とは第1図に示すように2゛枚の半透鏡()・−
7ミラー)11と12とを所定の距離だけ離間させて平
行に向い合わせて配置した装置である0ここで、半透鏡
11と12との間は共振器(キャビティ)13と呼び、
ここには、対象となる光を通す物質を置く。光双安定性
を実現するためには共振器13の中の物質を非線形な屈
折率を持つ物質にしなければならない。
このような非線形屈折物質にレーザー光を集光すると、
レーザー光の強度によってその物質の屈折率が変わる0
共振器13内の物質の屈折率d(変わることにより共振
波長が変化し、したがって光の位相関係を変化させるこ
とができる0透過率もこれに従って変化するのは当然で
ある。一方の半透鏡11を通じて外部よシ入射光14が
共振器13内に入射され、その一部は反射光15として
共振器13に入ることなく反射され、共振器13内の光
の一部が半透鏡12から透過光16として射出される。
第2図は共振器13内の物質の長さとその屈折率の積で
与えられる光路長と、干渉計の透過率との関係を示す0
第1図の場合には、共振器13は固定長だから、これは
屈折率と透過率との関係とみてよい。Nを正の整数、ス
を波長とするときに、光路長が入射光14の半波長の整
数倍に等しいとき、すなわちN(A)、(N+1)()
などのときに最も強め合う干渉になシ、透過光16は最
大になる。第2図において、ピークとピークとの間では
透過率は小さくほとんど変化していない。光路長が半波
長の整数倍に近づくにつれ、透過率はある光路長まで徐
々にしか増加し表いが、それを過ぎると急激に増える0 共振器13内の物質は非線形屈折物質であるから、入射
レーザー光強度の変化により屈折率、つまυ光路長を変
化させることができる0そとでまず入射光14の強度を
、物質の屈折率が第2図のピークからはずれた領域の光
路長になるように選ぶ。この状態では透過率は低い0ζ
こで入射光強度が徐々に増加すると、屈折率と光路長は
徐々に変化し、透過率はわずかに増加する。
入射光14がある光強度に達すると、物質の屈折率と共
振器13内の光強度は互いに増大させ合う正のフィード
バック(帰還)状態になシ、屈折率の変化により内部の
干渉の強め合いの度合いが増加し、さらに光強度が増加
するので屈折率がますます変化する0入射光強度がある
値になると、屈折率変化と内部光強度増加との相互の強
め合いは非常に強くな)、第2図において透過率が急激
に増加するピーク領域に入る0このピークでは透過率が
1になる。
次に入射光強度を減少させていくoまずピークの状態で
は入射光14がいくらか弱くなっても、透過率はすぐに
低い状態にならない0これは共振器13内部の光強度が
最大透過率に対応する屈折率と光路長を維持するのに十
分な強度だからである。入射光強度をさらに減少させて
いっても透過率ははんのわずか減少するだけである0し
かしある光強度になると屈折率と共振器13内の光強度
り相互に減少させ合う。つt、b入射光強度をわずかに
減少しただけで屈折率の変化が共振器13内の光強度を
減少させ、その強度変化が屈折率を変化させるため透過
率は急激に減少する0以上の現象を入射光14の強度と
透過光16の強度との関係で示すと、第3図のように、
4つの部分17〜20から成るループになっている。こ
めような形のグラフはヒステリシス・ループと呼けれる
。まず、安定領域(オフ状態)17においては、入射光
140強度を微小な値から増加、していくと、最初は透
過光16の強度はわずかじか増加しない。しかし、入射
光14の強度がある値に達すると、曲線は急激に立ち上
が夛、透過光はきわめて大きくなる。この立ち上がり部
分がスイッチオン動作領域18である0次に、この状態
から逆に光強度を減少させていった場合、曲線は異なっ
た経路をたどる。初めははんの少しずつ下へ傾斜するグ
ラフで、入射晃が減少しても透過光は大きいままである
。この領域が安定領域(オン状態)19である。
しかし、入射光が減少しである値に達すると、曲線は急
激に下を向き、入射光がわずかに弱くなっただけでも透
過光拡大きく低下する。この立ち下がシはスイッチオフ
動作領域20である0また、第1図の構成によって、双
安定特性だけでなく、微分利得をも得ることができる。
入射光0の極限での共振器を1回通過する時の光の位相
の変化量をφ。とすると、φ。を変化させるとともに、
光の入力パワplと出力パワーPOとの入出力特性は第
4図(4)、ω’)1 (0)j @t @)?(7)
の順に変化してゆく。tこで、第4図(p)、佃)、(
至)は双安定特性を示し、第4図(6)〜(0)は微分
特性を示し、特に第4図(G)は顕著な微分利得を示し
ている。
光双安定性は気体レーザ、固体レーザを用いて実現する
ことはできるが、光計算機、光通信装置への応用を考え
ると、小形化、集積化が容易な半導体レーザを基本要素
とする素子で実現するのが望ましい。
第5図は、Nakai et alが’ 0ptica
l B15tabi−1ity in Sem1con
ductor La5er Amplifier ’ 
100 O’’83 、30 、 B1−2 (Jun
e 、 ’ro)cyo )  において、既に発表し
ている半導体光双安定素子の構造例を示す。
この半導体光双安定素子20においては、半導体層21
と22との間に光双安定素子の活性層(発成しておシ、
その接合と直角な両端のへき開面はび22の屈折率よシ
高くなるように定めておく。
バイアス回路26からは安定化コイル27を介して直流
電流が光双安定素子20に注入され、その電流レベルは
光双安定素子20のレーザー発振し舊い値以下になるよ
うに制御されている。なお、光双安定素子20への注入
電流がレーザー発振しきい値に比べて、十分大きいとき
には活性層23においてレーザー発振が得られる。
第1図との対応を説明すると、入射面24紘半透過鏡1
1と12に対応し、出射面25は半透過鏡12に対応し
、活性層23はキャビティ13に対応する。ここで、入
射光ビーム14の波長は無人力状態の光双安定素子20
の共振波長よシ長い。
入射光ビーム14のビーム径は集光レンズ(コリメート
レンズ)i8によって絞られ、入射面24側の活性層2
3に結合し、活性層23内を伝搬する。活性層23に入
射した光が増大するにつれ、活性層23内の注入キャリ
ア密度は下がシ、その結果、活性層23の屈折率が上昇
し、光双安定素子20の共振波長が長波長側へずれる。
このようにして、光双安定素子20の共振波長が入射光
ビーム140波長に近づくと、出射面25側の活性層2
3から外部に放射される出力光16の光強度は、第3図
に示したように、突然オフ状態17からスイッチオン動
作領域18を通シ、オン状態19に遷移する。その出力
光は集光レンズ29にょシ平行出力光ビーム16とされ
て取シ出される。
オン状態19においては、入射光14のパワーが増大し
ても、光双安定素子2oの増幅率が下がるため、出力光
16のパワーレベルははぼ一定となる。
理論式を用いると、入射光ビーム14のパワーVへk 
Pi ト、出射光ビーム16のパワーレベルPOとの間
には近似的に次式(1)〜(5)で表現される関係が成
シ立つ。
G = exp((g−α)・j、:]       
 (2)ここで、rlは入射面240反射率、roは出
射面25の反射率、g拡飽和利得係数、αは活性層23
の吸収係数、!、拡活性層23の長さ、g。
拡小信号入力利得、Ps n飽和出力パワー、φ社活性
層23を1回通過する時の光波の位相シストである。φ
。は共振状態からの位相ずれの初期値であって、無人力
光状態の光双安定素子20の共振波長と入射光ビーム1
4の波長で決まる。n。
は無人力光状態の活性層23の屈折率である。bは非導
波率で屈折率実数部の減少分と屈折率虚数部の増大分と
の比である。また、ここで、入射光ビーム14紘活性層
23に100チ結合すると仮定した。
第6図は、第5図示の従来の構造によるGaAノ18光
双安定素子にお秒る入射光パワーpiと出射光パワーP
。との関係を示す図でア夛、これらパワーP・およびP
oは、上述したレーザを増幅器として動作させたときの
光出力の飽和値Psで正規化して示しである。このよう
な関係は、K・Ot 5uKa and S 、 Ko
bayashiにより″0ptical B15tab
i−uty and Non1inear Re5on
ance in a Re5onant−t’/pe 
Sem1conductor La5er Ampli
fier”。
Electronics Letters 31 st
 March 1983 Vol、19陀7  pp、
262−263において既に発表されている。
その場合に、(1)〜(5)式中のb” 3 s  g
□= 48m ’。
cl=20cIn、  !、=300μm、R1=Ro
=0.3 である。ここで、φ。を変化させると、光入
出力特性が変化し、φ=−π+Nπ またはφ。=−百
π+Nπでは、双安定特性が得られ、他方、φ。−Nπ
では微分利得が得られることが第6図かられかる。ここ
で、Nは正の整数である。
以上の構成では、入射光の波長λを変えればφ。
紘変わるが、任意の波長λの入射光に対してφ。
を制御するととはできず、双安定特性や微分利得の選択
あるいは制御を行うことができ表いという欠点があった
〔目 的〕
本発明の目的は、これらの欠点を除去し、任意の波長の
入射光に対して、微分利得や双安定特性を自由に選択し
、かつ制御する仁とができる半導体光双安定素子を提供
することKある。
〔発明の構成〕
かかる目的を達成するために、本発明では、7アブリ、
ベロー共振器の内部に、活性層および該活性層と光結合
した導波路層を配設し、前記活性層および前記導波路層
にそれぞれ独立に電流を注入できるようになし、前記活
性層にはレーザー発振しきい値以下のレベルの電流を流
入し、前記導波路層の屈折率をその注入電流により変化
させるようになしたことを特徴とする。
〔実施例〕
以下に図面を参照して本発明の詳細な説明する。
第7図に本発明の一実施例を示し、ここで、第5図と対
応する部分には同一符号を付すことにする。バイアス回
路26からは安定化コイル27を介して直流電流が光双
安定素子20に注入され、その電流レベルは光双安定素
子20のレーザー発振しきい値以下に制御されている。
本発明においては、半導体層31と32との間に導波路
層33を配置し、その導波路層33を活性層23に光学
的に結合させる。ここで、導波路層33を入射光ビーム
14に対して低損失な半導体で形成し、導波路層33に
活性層23とは独立に電流を注入できるように半導体層
31および32を構成する。
ここで、活性層23と導波路層33とを同一基板上に半
導体多層構造として集積し、光集積回路の形態で光双安
定素子を形成するのが好適である。
第7図において、バイアス回路34から安定化コイル3
5を介して導波路層33へ直流電流を注入する。その直
流電流をバイアス回路34により制御することにより、
導波路層33の屈折率を制御できるようにし、この導波
路層33の活性層23との結合面36では入射光14に
対してはほとんど反射のない高効率な結合を行わせてい
る。活性層23と導波路層33とを集積した光双安定素
子21は半導体多層構造を有する。ここで、導波路層3
3に注入する電流を変化させると導波路層33の屈折率
n、が変化するのはプラズマ効果によるためである。
上述した構成の素子の具体的な構成の一例においては、
活性層23をp形のAf□、05 Ga 0095 A
sで形成し、この活性層23から発生する光の波長より
も、短い吸収端波長を有するALo、35 as o、
asAsによって導波路層33を構成する。これによっ
て、活性層23で発生した光を導波路層33ではあまり
吸収されることなく導波することができる。
さらに、半導体層21と31とを一体に形成し、半導体
#22と32とを一体に形成し、前者を活性層23およ
び導波路層33よりも屈折率の低いp形のAi 6.5
 Ga o、5 As  層で構成し、後者をn形のA
i6,6 Ga 0.5 As  層で構成し、これら
両層によって活性層23および導波路層33を紘さむこ
とによって、活性層23と導波路層33に光を閉じ込め
ることができ、さらに活性層23に注入された電子をか
かるヘテロ障壁によって活性層23に閉じ込めることが
できる。
活性層23と導波路層33とは結合部36において直接
結合させる。活性層23と導波路層330等価屈折率お
よび電界分布の整合が取れるように、活性層23および
導波路層33の各層厚を適切な厚さとする。このように
することによって、接合部36での反射を少なくし、9
8%程度の高効率な結合を行わせることができる。
なお、活性層23および導波路層33に対する半導体層
21と22および31と32に個別に電極を設けること
によって、これら活性層23および導波路層33に対し
て、それぞれ独立に電流を注入することができる。
本発明による上述した構成の光双安定素子の実施例にお
ける光入出力特性は、先に述べた式(1)。
(2)l (3)および(4)と次の式(6)で近似的
に表現できる。
φ。=2π(n、!、+n、!2)/λ      (
6)とこで、n2拡導波路33の屈折率、!、は導波路
層33の長さである。活性層23と導波路層33とはZ
oo %結合するものと仮定し、導波路層33の損失は
ないものと仮定した。
本発明によれば、導波路層33に注入する電流を変化さ
せることによって、導波路層33の屈折率n2が変化゛
するので、式(6)かられかるように、φ。を変化させ
ることができ、その結果、双安定特性や微分利得の選択
および制御が可能になる0φ。の増分Δφ。と導波路層
33の屈折率n2の増分Δn2 とは次式の関係にある
0 Δφ。=2πJ・Δn、           (7)
λ 第8図はこのようなΔφ0とΔn2  との関係を示す
。ここで、72 = 200 pm +  λ= 0.
84μmである。
φ。が変化すれば、第6図に示したように、φ。
の値に対応して双安定特性や微分利得が得られる0また
、入射光の波長λが変化してもφ。は変化するが、n2
  を制御することにょ多自由にφ。の値を選ぶことが
できるので、双安定特性や微分利得の選択や制御が可能
になる。
例えば、入射光の波長や温度の条件によって、導波路層
33に電流を流さないときの光入出力特性が第9図の特
性■で双安定特性となっていた場合、導波路層33に電
流を注入して、導波路層田の屈折率n2を8.4X10
’だけ小さくすると、光入出力特性は第9図の特性■に
々シ、微分利得を示す。さらに導波路層33に電流を注
入して、屈折率n2を電流を注入しない時に比べて1.
68X10   だけ小さくすると、光入出力特性は第
9図の特性■になシ、′双安定特性を示す。
また、入射光の波長や温度の条件によって、導波路層3
3に電流を注入しないときの光入出力特性が第9図の特
性■を示し、微分利得となっていた場合、導波路層33
に電流を注入して導波路層33の屈折率n2を8.4 
X 10−’だけ小さくすると、光入出力特性は第9図
の特性■になシ、双安定特性となる。
ここで、ノ2 = 200 pm p  λ=0.84
pm、 b=3 。
go=48備 、 α=20on   、  !、=3
00μm。
R1=Ro=0.3 とした。
〔効 果〕
以上説明したように、本発明では導波路層を設け、この
導波路層に注入する電流を制御することにより、任意の
波長の入射光に対して、双安定特性や微分利得の選択お
よび制御を行うことができる小形な半導体光双安定素子
を実現できる。
【図面の簡単な説明】
第1図は7アプリ・ぺp−干渉計の概念を示す線図、 第2図はそのファプリ・ペロー干渉計の透過率と光路長
との関係を示す図、 第3図は光双安定素子のヒステリシス特性図、第4図(
4)〜(ト)は入射光0の極限での共振器を一回通過す
る時の光の位相の変化量φ。を6通シに変化させた場合
の各光入出力特性を示す図、第5図は従来の半導体光双
安定素子の構成例を示す線図、 第6図はGa AJ As半導体光双安定素子を想楚し
てφ。を変化させた場合の光入出力特性を示す図、第7
図線本発明の一実施例を示す線図、第8図はφ。の増分
Δφ。とn2の増分Δn2の関係を示す図、 第9図は本発明の実施例における光入出力特性を示す図
である。 14・・・入射光ビーム、 16・・・出射光ビーム、 20・・・半導体光双安定素子、 21.22・・・半導・体層、 23・・・活性層、 24・・・入射端面、 25・・・出射端面、 26・・・バイアス回路、 27・・・安定化コイル、 28・・・集光レンズ、 29・・−出射用コリメートレンズ処 31.32・・・半導体層、 33・・・導波路層、 34・・・バイアス回路、 35・・・安定化コイル、 36・・・活性層23と導波路層33との結合部。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. ファブリ・ペロー共振器の内部に、活性層および該活性
    層と光結合した導波路層を配設し、前記活性層および前
    記導波路層にそれぞれ独立に電流を注入できるようにな
    し、前記活性層にはレーザー発振しきい値以下のレベル
    の電流を流入し、前記導波路層の屈折率をその注入電流
    により変化させるようになしたことを特徴とする半導体
    光双安定素子。
JP59146042A 1984-07-16 1984-07-16 半導体光双安定素子 Expired - Lifetime JPH0632328B2 (ja)

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JP2009104945A (ja) * 2007-10-24 2009-05-14 Sumitomo Wiring Syst Ltd ロック構造およびコネクタ

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