JPS61248614A - Pulse delay circuit - Google Patents

Pulse delay circuit

Info

Publication number
JPS61248614A
JPS61248614A JP60088576A JP8857685A JPS61248614A JP S61248614 A JPS61248614 A JP S61248614A JP 60088576 A JP60088576 A JP 60088576A JP 8857685 A JP8857685 A JP 8857685A JP S61248614 A JPS61248614 A JP S61248614A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
pulse
output
input
line resistance
inverter
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP60088576A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JPH0622318B2 (en
Inventor
Iwao Ayusawa
鮎沢 巖
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Ltd
Priority to JP60088576A priority Critical patent/JPH0622318B2/en
Publication of JPS61248614A publication Critical patent/JPS61248614A/en
Publication of JPH0622318B2 publication Critical patent/JPH0622318B2/en
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Pulse Circuits (AREA)

Abstract

PURPOSE:To attain a pulse delay time control by a single control voltage by using a MOS transistor (TR) so as to change an output line resistance value on output lines of a half of even number of lines when a pulse edge of an input pulse is transmitted on the lines. CONSTITUTION:MOS TRs 21 and 22, 31 and 32, and 41 and 42 form respectively the inverter of complementary MOS. Since the quantity of the conductive resistance value of a conductor path is controlled by a voltage 6 fed to gate terminals of N-MOS TRs 22, 23, the output line resistance is made variable when the N-MOS TR 22 or 32 is turned on with an inverter 2 or 3 at low level output state. Since the conductive resistance is lowered more as an applied voltage 6 to the gate of the N-MOS TRs 23, 33 gets higher, the variable control of the delay time decreasing/increasing t1, t2 is attained by increasing or decreasing the applied voltage so as to make the gradient of the discharging curve steep or gentle.

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の利用分野〕 本発明は、デジタル回路装置等に使用されるパルス遅延
回路に係り、特に遅延時間を可変するの忙好適なパルス
遅延回路に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Field of Application of the Invention] The present invention relates to a pulse delay circuit used in digital circuit devices and the like, and particularly to a pulse delay circuit suitable for varying delay time.

〔発明の背景〕[Background of the invention]

パルス遅延回路の従来例としては、特開昭59−506
10号公報に記載のものがある。この例では、一つの制
御電圧により遅延時間が可変であり、かつ出力パルスの
デユーティ(くり返し周期に対する高レベル出力期間あ
るいは低レベル出力期間の比)を検出してフィードバッ
クをかける構成であるので、一定のくり返し周期を有ス
ル入カパルスを、そのデユーティを厳密に保ったまま遅
延したり、所望のデー−ティとなるよう波形整形したり
する場合に有効である。
As a conventional example of a pulse delay circuit, Japanese Patent Application Laid-Open No. 59-506
There is one described in Publication No. 10. In this example, the delay time is variable using one control voltage, and the output pulse duty (the ratio of the high-level output period or low-level output period to the repetition period) is detected and feedback is applied, so the delay time remains constant. This is effective when delaying an input pulse with a repetition cycle while strictly maintaining its duty, or when shaping the waveform to obtain a desired duty.

しかし、電圧比較器が回路構成要素として必要であり、
回路規模が大きくなる。また、くり返し周期が一定では
ないパルスの遅延に用いることは困難である。
However, a voltage comparator is required as a circuit component;
The circuit scale becomes larger. Furthermore, it is difficult to use it to delay pulses whose repetition period is not constant.

〔発明の目的〕[Purpose of the invention]

本発明の目的は、上記従来技術の欠点を除き簡単な回路
構成により、一つの制御電圧でパルスの遅延時間が可変
であり、くり返し周期が一定のパルスの場合はもちろん
、周期が一定ではfz イパルスの遅延に用いても、そ
のパルス幅(高レベル出力時間あるいは低レベル出力期
間)を精度よく保ったまま遅延できるようなパルス遅延
回路を提供するにある。
An object of the present invention is to eliminate the drawbacks of the prior art described above and use a simple circuit configuration to make the delay time of a pulse variable with one control voltage. It is an object of the present invention to provide a pulse delay circuit which can be used for delaying a pulse while maintaining its pulse width (high level output time or low level output period) with high precision.

〔発明の概要〕[Summary of the invention]

この目的を達成するために、本発明は、論理ゲートを複
数個直列に接続し、ある論理ゲートから次段の論理ゲー
ト入力までのパルス伝送線路の線路抵抗を可変としてパ
ルス遅延時間をコントロールするパルス遅延回路におい
て、線路抵抗の可変素子として、PチャンネルMOSト
ランジスタあるいはNチャンネルMOSトランジスタの
いずれか一方のみを用いることにより、単一の制御電圧
での遅延時間可変を可能とし、かつ、上記MOSトラン
ジスタによる抵抗可変を偶数個のパルス伝送線路に施し
、このうち半数の線路にては入力パルスの立上り位相の
遅延時間を残りの半数の線路にては入力パルスの立下り
位相の遅延時間をコントロールするように構成したこと
により、遅延回路入出力のパルス幅保存を可能とした点
に特徴がある。
In order to achieve this object, the present invention connects a plurality of logic gates in series, and controls the pulse delay time by varying the line resistance of the pulse transmission line from one logic gate to the input of the next logic gate. In the delay circuit, by using only either a P-channel MOS transistor or an N-channel MOS transistor as a variable element for line resistance, it is possible to vary the delay time with a single control voltage, and the delay time can be varied with a single control voltage. Variable resistance is applied to an even number of pulse transmission lines, and on half of these lines, the delay time of the rising phase of the input pulse is controlled, and on the other half of the lines, the delay time of the falling phase of the input pulse is controlled. The feature is that by configuring this, it is possible to preserve the pulse width of the input and output of the delay circuit.

〔発明の実施例〕[Embodiments of the invention]

以下、本発明の実施例を図面でもって説明する。 Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings.

第1図は本発明によるパルス遅延回路の一実施例を示す
回路図であって、1は入力パルス、2.3は出力抵抗可
変インバータ、4は波形整形用ゲートとして用いるイン
バータ、5は遅延された出力パルス、6は遅延時間量制
御電圧、21゜31.41はインバータの構成要素素子
であるPチャンネルMOSトランジスタ(以下P −H
O5Tと略記する)、22,32.42は同じくインバ
ータの構成要素素子であるNチャンネルMOSトランジ
スタ(以下N −HO5Tと略記する)、23.33は
それぞれインバータ2,3の出力抵抗値を可変とするた
めのN−H05T 、7.8はインバータ3,40入力
部に配置したコンデンサである。
FIG. 1 is a circuit diagram showing an embodiment of a pulse delay circuit according to the present invention, in which 1 is an input pulse, 2.3 is an output resistance variable inverter, 4 is an inverter used as a waveform shaping gate, and 5 is a delayed pulse delay circuit. 6 is the delay time amount control voltage, 21°31.41 is a P-channel MOS transistor (hereinafter P-H) which is a component element of the inverter.
05T), 22, 32.42 are N-channel MOS transistors (hereinafter abbreviated as N-HO5T) which are also component elements of the inverter, and 23.33 is a variable output resistance value of the inverters 2 and 3, respectively. N-H05T, 7.8 is a capacitor placed at the input section of the inverters 3 and 40.

同図において、HO5T 21と22.31と32 、
41と42とでそれぞれ相補形Mos (c −xos
 )のインバータを形成する。N −MO5T 22 
、23はゲート端子に印加する電圧6の電圧値で導電路
の導通抵抗値の大小をコントロールできるので、インバ
ータ2あるいは3のローレベル出力時、すなわちN −
HO5T 22あるいは32がON(低抵抗状態、この
時P −MO5T 21 、32はOFFすなわち高抵
抗状態である)の時の出力線路抵抗値が可変される。な
お、コンデンサ7.8としては、インバータ入力部に寄
生する浮遊容量を用いることも可能であり、この場合に
はあらためてコンデンサを付加する必要はない。   
゛第1図の各都電圧波形を第2図に示す。第2図におい
て、入力パルス1が論理レベルの“0”レベルの時、F
 −HO5T 21がON 、 N −HO5T 22
はOFFとなり、インバータ3の入力端は、論理レベル
の”1”レベルの電圧値を有する電源ライン10に接続
されるので、インバータ3の入力パルス9は11”レベ
ルになる。
In the same figure, HO5T 21 and 22.31 and 32,
41 and 42 are respectively complementary Mos (c −xos
) form an inverter. N-MO5T 22
, 23 can control the magnitude of the conduction resistance value of the conductive path by the voltage value of the voltage 6 applied to the gate terminal, so when the inverter 2 or 3 outputs a low level, that is, N −
The output line resistance value when HO5T 22 or 32 is ON (low resistance state; at this time, P-MO5T 21 and 32 are OFF, that is, high resistance state) is varied. Note that as the capacitor 7.8, it is also possible to use a stray capacitance parasitic to the inverter input section, and in this case, there is no need to add a capacitor.
゛The voltage waveforms at each point in Figure 1 are shown in Figure 2. In Fig. 2, when input pulse 1 is at logic level “0”, F
-HO5T 21 is ON, N -HO5T 22
is turned OFF, and the input terminal of the inverter 3 is connected to the power supply line 10 having a voltage value of the logical "1" level, so the input pulse 9 of the inverter 3 becomes the 11" level.

この時、P −MO5T 31はOFF L、N −M
O5T32がONするので−インバータ4の入力端はN
−HO5T 33を介して”0”レベル電源ライン(第
1図ではアース)に接続され、インバータ4の入力パル
ス11は後に述べるレベル変動過渡時間以後は”0”レ
ベルになる。さらにこの時、P−MO5T alがON
 、 N −HO5T 42がOFFとなり、出力パル
ス5は″1#レベルになる。
At this time, P -MO5T 31 is OFF L, N -M
Since O5T32 is turned on, the input terminal of inverter 4 is N.
- It is connected to the "0" level power supply line (ground in FIG. 1) via the -HO5T 33, and the input pulse 11 of the inverter 4 becomes the "0" level after the level fluctuation transient time described later. Furthermore, at this time, P-MO5T al is ON
, N-HO5T 42 is turned off, and the output pulse 5 becomes "1# level."

次ニ、入カパルスーカll0lルベルかう+1“レベル
に変化すると、P −HO5T 21がOFF 、 N
 −MO5T22がONL、パルス9はコンデンサ7と
N−MO5T 25の導通抵抗とで決まる放電曲線を描
いて″1″レベルかう+0”レベルニ下降スル。ノくル
ス9のレベル力、インバータ3のしきい値レベル(一般
にC−MOBでは1”レベルと”0”レベルの中心値近
傍の電圧レベルを有する)を通過した時点で、P−HO
5T31がON 、 N −MO5T’52がOFFと
なり、パルス11は11ルベルとなる。
Next, when the input coupler level changes to +1, P-HO5T 21 turns OFF, N
-MO5T22 is ONL, the pulse 9 draws a discharge curve determined by the capacitor 7 and the conduction resistance of the N-MO5T 25, and descends from the "1" level to the +0" level. The level force of the pulse 9, the threshold of the inverter 3 At the point when the P-HO
5T31 is turned ON, N-MO5T'52 is turned OFF, and the pulse 11 becomes 11 levels.

同時ニパルス5は“0゛レベルになる。以上゛の動作に
よりパルス1の立上りエツジ(“0ルベルカラ”1”レ
ベルへのレベル変動部)を時間t、だけ遅らせたパルス
5が得られる。
The simultaneous double pulse 5 becomes the "0" level. Through the above operations, a pulse 5 is obtained in which the rising edge of the pulse 1 (level change part from "0 level color" to "1" level) is delayed by the time t.

上記の後、パルス1が@1ルベルから1IOlルベルに
変化すると、P −HO5T 21がON、N−MO5
T 22がOFF L−パルス9は即時に”0“レベル
から”1”レベルに変わる。この時、P−HO5T31
がOFF 、 N −HO5T 32がONとなり、パ
ルス11はコンデンサ8とN −MO5T 33の導通
抵抗とで決まる放電曲線を描いて”1″レベルから0”
レベル[Fll”る。パルス110レベルカインバータ
4のしきい値レベルを通過した時点でパルス5が“0”
レベルから”1”レベルに変化する。
After the above, when pulse 1 changes from @1 level to 1IOl level, P-HO5T 21 is ON, N-MO5
T22 is OFF L-pulse 9 immediately changes from "0" level to "1" level. At this time, P-HO5T31
is OFF, N-HO5T 32 is turned ON, and pulse 11 draws a discharge curve determined by the capacitor 8 and the conduction resistance of N-MO5T 33, and changes from "1" level to 0.
Level [Fll].When pulse 110 passes the threshold level of level inverter 4, pulse 5 becomes "0".
Changes from level to "1" level.

この動作により、パルス1の立下りエツジ(+1ルベル
から10″レベルへのレベル変動部)が時間t、だけ連
れてパルス5に出力される。N−MO5T 23 、3
3は、そのゲート端子の印加電圧6が高ければ高いほど
導通抵抗が低くなる特性を有するので、印加電圧を高く
して放電曲線の傾きを急峻にすることでtl + tt
を小さくするかまたは印加電圧を低くして放電曲線の傾
きを緩かにすることでt、+itを大きくするような遅
延時間の可変制御が可能である。
As a result of this operation, the falling edge of pulse 1 (the level change part from +1 level to 10'' level) is output as pulse 5 with a delay of time t.N-MO5T 23 , 3
3 has a characteristic that the higher the voltage 6 applied to the gate terminal, the lower the conduction resistance becomes. Therefore, by increasing the applied voltage and making the slope of the discharge curve steeper, tl + tt
Variable control of the delay time is possible by increasing t and +it by decreasing the value of t, +it or by lowering the applied voltage to make the slope of the discharge curve gentler.

ここで、N −HO5T 23と33とに、同一の幾伺
学的形状を有する半導体製造用マスクパターンを用いて
製造されたMOS )ランジスタを用いれば、同一の制
御電圧6を印加した時、その導通抵抗値はほぼ同一とな
る。そこで、コンデンサ7と8とを、外付はコンデンサ
等を用いて適宜設定すれば、第1図の構成により、単一
の制御電圧6を用いて、t、とt2とを同一に保ったま
まその時間量をコントロールすることができる。
Here, if MOS transistors manufactured using a semiconductor manufacturing mask pattern having the same geometrical shape are used for the N-HO5T 23 and 33, when the same control voltage 6 is applied, the The conduction resistance values are almost the same. Therefore, by appropriately setting capacitors 7 and 8 using external capacitors, etc., the configuration shown in FIG. 1 can be used to maintain t and t2 the same using a single control voltage 6. You can control the amount of time.

なお、第1図では、入力パルス1を遅延した出力パルス
5として、入力パルスの極性反転パルスを得る構成を示
したが、インバータ4の後段にさらに4と同様(ただし
コンデンサ8は不要)のインバータを追加するかまたは
インバータ4に代えて公知のノンインバーテイング論理
ゲートを用いる等により、入力パルスと同一極性の遅延
出力パルスを得ることも容易である。
In addition, in Fig. 1, a configuration is shown in which a polarity-inverted pulse of the input pulse is obtained as an output pulse 5 obtained by delaying input pulse 1, but an inverter similar to 4 (however, capacitor 8 is not required) is installed after inverter 4. It is also easy to obtain delayed output pulses having the same polarity as the input pulses by adding a 2-channel inverter 4 or using a known non-inverting logic gate in place of the inverter 4.

第3図に、第1図のインバータ2および3に代えて用い
ることのできる出力線路抵抗可変論理ゲート回路の構成
例を示す。
FIG. 3 shows a configuration example of an output line resistance variable logic gate circuit that can be used in place of inverters 2 and 3 in FIG. 1.

第3図(a)はP −MO5T 121 、 N−MO
5T 122 で構成されるインバータで、p−MO5
T 121 oN時(この時N−HO5T 122はO
FF )の出力線路抵抗をP −MO3T 123で可
変するようにしたものである。パルス入力端子を13.
出力端子を14として、第1図の2および3にかえて第
3図(α)の構成の回路を2構成用い、2構成に共通の
印加電圧6を与えて第1図と同様なパルス遅延時間のコ
ントロールが可能である。彦お、この場合には、第2図
のパルス9,11の放電曲線に代えて充電曲線(パルス
9,11が”0”レベルカラ”1゜レベルに変わる部分
の過渡波形特性)を変化させることにより遅延時間が制
御される。また、P −HO5T 123はゲート端子
印加電圧が低いほどその導通抵抗値が低くがる特性を持
つので、印加電圧6が低いほど遅延時間が小さくなるよ
うな遅延時間制御となる。
Figure 3(a) shows P-MO5T 121 , N-MO
An inverter composed of 5T 122, p-MO5
T 121 oN (At this time, N-HO5T 122 is O
The output line resistance of FF) is made variable by P-MO3T 123. Connect the pulse input terminal to 13.
Setting the output terminal as 14, using two circuits with the configuration shown in FIG. 3 (α) instead of 2 and 3 in FIG. 1, and applying a common applied voltage 6 to the two configurations, the same pulse delay as in FIG. Time can be controlled. Hiko, in this case, instead of the discharge curve of pulses 9 and 11 in Figure 2, change the charging curve (transient waveform characteristics of the part where pulses 9 and 11 change from "0" level to 1 degree level). The delay time is controlled by the P-HO5T 123. Since the P-HO5T 123 has a characteristic that its conduction resistance value decreases as the voltage applied to the gate terminal decreases, the delay time is set such that the lower the applied voltage 6, the smaller the delay time. Becomes control.

第3図(A)は、 P−MO5T 151 、 N −
MO5T 152からなる通常のインバータの出力端以
降にP−MO5T 153 、 N −MO5T 15
4  を挿入した構成であり、P −MO5T 151
がON時(この時N−MO5T152はopp )の出
力線路抵抗はほぼP −MO5T15′5の導通抵抗と
hす、N −HO5T 152がON時(この時P −
MO5T 151はopp )の出力線路抵抗はほぼN
 −MO5T 154の導通抵抗となる。
FIG. 3(A) shows P-MO5T 151 , N −
After the output end of a normal inverter consisting of MO5T 152, P-MO5T 153 and N-MO5T 15
4 is inserted, and P-MO5T 151
When N-MO5T152 is ON (at this time, N-MO5T152 is opp), the output line resistance is approximately equal to the conduction resistance of P-MO5T15'5, and when N-HO5T152 is ON (at this time, P-
The output line resistance of MO5T 151 (opp) is approximately N
- It becomes the conduction resistance of MO5T 154.

したがって、F −HO5T 153のゲート端子16
を゛0″レベル電源ライン(第6図ではアース)に接続
して同トランジスタを常にON状態とし、N −HO8
T 154のゲート端子17に制御電圧6を印加するよ
う如し、入力端子を15.出力端子を14とすれば、第
1図の2あるいは3と同一の機能ブロックとなる。また
、# −MO5T 154のゲート端子17を″Vレベ
ルの電源ライン10に接続して同トランジスタを常にO
N状態とし、?−H05T 153のゲート端子16に
制(財)電圧6を印加するように構成すれば、第3図(
α)の構成例と同一の機能ブロックとなる。
Therefore, the gate terminal 16 of F-HO5T 153
is connected to the ``0'' level power supply line (ground in Figure 6) to keep the transistor always on, and N - HO8
The control voltage 6 is applied to the gate terminal 17 of T 154, and the input terminal 15. If the output terminal is 14, it becomes the same functional block as 2 or 3 in FIG. In addition, the gate terminal 17 of the #-MO5T 154 is connected to the power supply line 10 at the ``V level, so that the transistor is always turned on.
Assuming N state? If the configuration is such that the control voltage 6 is applied to the gate terminal 16 of the -H05T 153, as shown in FIG.
This is the same functional block as the configuration example α).

よって、例えば第1図の2,3の両方にかえで第3図(
h)の構成の回路を2構成用いることもできるし、ある
いは第1図2,3のいずれか一方のみを第3図(A)の
構成の回路忙かえることも可能である。また第3図(a
) 、 (h)との組合せも可能である。
Therefore, for example, maple in both 2 and 3 of Figure 1 (Fig.
It is also possible to use two circuits having the configuration h), or it is also possible to use only one of the circuits 2 and 3 in FIG. 1 with the circuit having the configuration shown in FIG. 3(A). Also, Figure 3 (a
) and (h) are also possible.

以上説明した様に、P−MOSトランジスタあるいはN
−MOSトランジスタのいずれか一方のみを線路抵抗制
御素子として用いることにより一つの制御電圧で遅延時
間のコントロールが可能になる。ただし、この場合、1
ケ所の出力線路の線路抵抗制御では、入力パルスの片方
のパルスエツジの遅延コントロールのみが有効に実行さ
れ、他方のパルスエツジは遅延コントロールができない
ので、上述した実施例では、出力線路の2ケ所で線路抵
抗制御を行ない、一方の線路抵抗可変で入力パルスの立
上りエツジを、他方の線路抵抗可変で立下りエツジを遅
延コントロールするように構成し、入力パルスのパルス
幅を保存したま捷パルス遅延ができるようにしている。
As explained above, P-MOS transistor or N
- By using only one of the MOS transistors as a line resistance control element, it becomes possible to control the delay time with one control voltage. However, in this case, 1
In controlling the line resistance of the output line at the two points, only one pulse edge of the input pulse can be effectively delayed, and the other pulse edge cannot be delayed. The control is configured so that the rising edge of the input pulse is delayed by variable line resistance on one side, and the falling edge is controlled by variable line resistance on the other side, so that it is possible to delay the input pulse while preserving the pulse width of the input pulse. I have to.

第4図は本発明によるパルス遅延回路の他の実施例を示
す回路図であって、18.19は出力線路抵抗可変の論
理ゲートであり、第1図の2、第3図(a)または第3
図(A)に示したような回路ブロック図である。
FIG. 4 is a circuit diagram showing another embodiment of the pulse delay circuit according to the present invention, in which 18 and 19 are logic gates with variable output line resistance; Third
FIG. 2 is a circuit block diagram as shown in FIG.

この実施例と第1図に示した実施例との相違点は出力線
路抵抗可変論理ゲート18と19との間に、ノンインバ
ーテイングゲート20を挿入したことである。第5図に
は、論理ゲー) 18.19に第1図の2,3を用いた
場合の動作波形を示す。
The difference between this embodiment and the embodiment shown in FIG. 1 is that a non-inverting gate 20 is inserted between output line resistance variable logic gates 18 and 19. FIG. 5 shows operating waveforms when logic game (18.19) uses 2 and 3 of FIG. 1.

ノンインバーテイングゲート20を挿入したことにより
、2段目の出力線路抵抗可変論理ゲート19には、パル
ス9を波形整形したパルス9′が入力されることになる
が、その他の動作は第2図と同様であり、出力線路抵抗
可変論理ゲート18で入力パルス1の立上りエツジが、
19で立下りエツジがそれぞれ遅延時間コントロールさ
れる。
By inserting the non-inverting gate 20, a pulse 9', which is a waveform-shaped version of the pulse 9, is input to the second stage output line resistance variable logic gate 19, but other operations are as shown in FIG. is similar to, and the rising edge of input pulse 1 at the output line resistance variable logic gate 18 is
At step 19, the delay time of each falling edge is controlled.

第4図の構成は、C−MO5構造のLSIに本発明の回
路を集積する場合に特に好適である。この理由を以下に
説明する。
The configuration shown in FIG. 4 is particularly suitable when the circuit of the present invention is integrated into an LSI having a C-MO5 structure. The reason for this will be explained below.

第4図のノンインバーテイングゲート20の回路図を第
6図に示す。201,203はP−HO3T。
A circuit diagram of the non-inverting gate 20 of FIG. 4 is shown in FIG. 201 and 203 are P-HO3T.

202、204はN −HO3Tであり、インバータの
直列接続により構成される。
202 and 204 are N-HO3T, which are constructed by connecting inverters in series.

ここで、ノンインバーテイングゲートの入力部すなわち
P −MO8T 201 、 N −MO5T 202
で構成されるインバータ部に第1図あるいは第4図4の
インバータと同一の幾何学形状に設計したものを用いれ
ば、第4図のノンインバーテイングゲート20の入力部
浮遊容量とインバータ4の入力部浮遊容量とをほぼ同一
の容量値とすることができるので、LSI外部にコンデ
ンサを接続してその容量値を調整する等の必要なしに、
入力パルスのパルス幅を精度よく保ったパルス遅延が実
現できる。
Here, the input part of the non-inverting gate, that is, P-MO8T 201, N-MO5T 202
If an inverter section configured with the same geometric shape as the inverter shown in FIG. 1 or 4 is used, the input stray capacitance of the non-inverting gate 20 shown in FIG. Since the stray capacitance and the external stray capacitance can be made to have almost the same capacitance value, there is no need to connect a capacitor outside the LSI and adjust its capacitance value.
It is possible to realize a pulse delay that maintains the pulse width of the input pulse with high accuracy.

第7図は本発明のパルス遅延回路のさらに他の実施例を
示す回路図であ−て、71.72は電圧比較増幅器、7
3.74は基準電圧、75.76はP−HO5T、77
 、78はダイオードである。
FIG. 7 is a circuit diagram showing still another embodiment of the pulse delay circuit of the present invention, in which 71 and 72 are voltage comparison amplifiers;
3.74 is the reference voltage, 75.76 is P-HO5T, 77
, 78 are diodes.

第7図において、電圧比較増幅器71.72は市販され
ているバイポーラトランジスタを用いたものを利用して
も良い。衆知のように、電圧比較増幅器71.72は、
そのマイナス入力端子に基準電圧75.74を接続し、
プラス入力端子に入力パルスを加えればノンインバーテ
イングゲートとして動作する。電圧比較増幅器71. 
P−MO5T75、ダイオード77とで1”レベル出力
時の線路抵抗が可変の1段目の線路抵抗可変論理ゲート
In FIG. 7, the voltage comparison amplifiers 71 and 72 may use commercially available bipolar transistors. As is well known, the voltage comparison amplifiers 71 and 72 are
Connect the reference voltage 75.74 to the negative input terminal,
If an input pulse is applied to the positive input terminal, it operates as a non-inverting gate. Voltage comparison amplifier 71.
P-MO5T75 and diode 77 are used as the first stage variable line resistance logic gate where the line resistance at 1" level output is variable.

電圧比較増幅器72. P−MO5T76 、ダイオー
ド7Bとで1“レベル出力時の線路抵抗が可変の2段目
の線路抵抗可変論理ゲートを構成する。
Voltage comparison amplifier 72. The P-MO5T76 and the diode 7B constitute a second stage variable line resistance logic gate whose line resistance is variable when outputting a 1" level.

第7図に示した実施例の各部動作波形を第8図に示す。FIG. 8 shows operational waveforms of each part of the embodiment shown in FIG. 7.

電圧比較増幅器は入力パルス1と同一極性のパルスを出
力するが、P −MO8T 75の導通抵抗が”1”レ
ベル出力時にのみ出力線路に挿入されるので、この抵抗
とインバータ4′の入力部浮遊容量との積分特性により
、インバータ4′の入力端パルス79は第8図79に示
すように立上り部がなまった波形となる。これをインバ
ータ4′で波形整形すると出力パルス80が得られ入力
パルス1の立上りエツジの遅延(時間t+)が実現され
る。
The voltage comparator amplifier outputs a pulse with the same polarity as input pulse 1, but since the conduction resistance of P-MO8T 75 is inserted into the output line only when the "1" level is output, this resistance and the floating input of the inverter 4' Due to the integral characteristic with the capacitance, the input end pulse 79 of the inverter 4' has a waveform with a rounded rising portion as shown in FIG. 8 79. When this waveform is shaped by an inverter 4', an output pulse 80 is obtained, and the delay (time t+) of the rising edge of the input pulse 1 is realized.

同様にして、インバータ4の入力端パルス81は電圧比
較増幅器72の入力パルス8oの立上りエツジをなまら
せた波形となるので、これをインバータ4で波形整形す
れば、入力パルス1の立下りエツジの遅延(時間t2)
が実現され、出力パルス5は第8図5の波形となる。
Similarly, the input pulse 81 of the inverter 4 has a waveform that is the rising edge of the input pulse 8o of the voltage comparator amplifier 72, so if this waveform is shaped by the inverter 4, the falling edge of the input pulse 1 can be smoothed. delay (time t2)
is realized, and the output pulse 5 has the waveform shown in FIG. 8.

第7図の構成例にても、線路抵抗可変にP−HO5Tの
みを用いることができるので、単一の制御電圧6で遅延
コントロールが可能である。
Also in the configuration example shown in FIG. 7, since only P-HO5T can be used to vary the line resistance, delay control is possible with a single control voltage 6.

ガお、線路抵抗可変素子としてP −MO5T75,7
6に変えて# −HO5Tを用い、ダイオード77.7
8を第7図図示と逆方向に入れるか、あるいは第3図(
h)に示すN −MO5TとP −MO5Tの並列接続
を用いる等も可能である。
Gao, P-MO5T75,7 as a line resistance variable element
6, use #-HO5T, diode 77.7
8 in the opposite direction as shown in Figure 7, or insert it in the direction shown in Figure 3 (
It is also possible to use a parallel connection of N-MO5T and P-MO5T shown in h).

以上説明した第1図、第4図、第7図の実施例は、いず
れも出力線路抵抗可変論理ゲートを2ケ用いた例である
が、2以上の偶数個の出力線路抵抗可変論理ゲートを用
い、その半数で入力パルスの立上りエツジを、残りの半
数で入力パルスの立下りエツジを遅延コントロールスル
ように構成すれば、線路抵抗可変素子としてP−HO5
TあるいはN −HO5Tのいずれが一方を用いて、す
なわち、単一の遅延時間制御電圧により、パルスを保存
したパルス遅延制御が可能になる。
The embodiments shown in FIGS. 1, 4, and 7 described above are all examples in which two output line resistance variable logic gates are used, but an even number of output line resistance variable logic gates of two or more are used. If half of them are configured to delay the rising edge of the input pulse and the other half are configured to delay control the falling edge of the input pulse, P-HO5 can be used as a variable line resistance element.
Using either T or N-HO5T, that is, a single delay time control voltage, enables pulse delay control that preserves pulses.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

以上説明したように、本発明によれば、MOSトランジ
スタを用いて該MOSトランジスタの挿入された偶数個
の出力線路のうちの半数の出力線路上で入力パルスの一
方のパルスエッシノ伝送時の出力線路抵抗値を、残りの
半数の出力線路で上記入力パルスの他方のパルスエツジ
の伝送時の出力線路抵抗値を変化するようにしたので、
入力パルスのパルス幅を精度よく保ったままでパルス遅
延ができるので、単一の制(財)電圧によるパルス遅延
時間制御が可能で、捷た、電圧比較器を必須構成要素と
せず、簡単な回路構成で実現可能であり、さらに、全回
路をC−MOSプロセスで実現することも可能であって
、c−uoS構造のLSIへの集積にとくに有利で、上
記従来技術の欠点を除いて優れた機能のパルス遅延回路
を提供することができる。
As explained above, according to the present invention, the output line resistance at the time of pulse essino transmission of one of the input pulses on half of the output lines of the even number of output lines in which the MOS transistors are inserted is The value is changed by changing the output line resistance value during transmission of the other pulse edge of the input pulse on the remaining half of the output lines.
Since the pulse can be delayed while maintaining the pulse width of the input pulse with high precision, it is possible to control the pulse delay time using a single control voltage, and a simple circuit can be used without requiring a voltage comparator as an essential component. Furthermore, it is possible to realize the entire circuit using a C-MOS process, which is particularly advantageous for integration into an LSI with a c-uoS structure, and is superior to the above-mentioned disadvantages of the conventional technology. A functional pulse delay circuit can be provided.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図は本発明によるパルス遅延回路の一実施例を示す
回路図、第2図は第1図の各部動作波形図、第3図は出
力線路抵抗可変論理ゲートの第1図とは異なる実施例の
回路図、第4図は本発明によるパルス遅延回路の他の実
施例のブロック図、第5図は第4図の各部動作波形図、
第6図は第4図のノンインバーテイングゲートの回路図
、第7図は本発明によるパルス遅延回路の更に他の実施
例のブロック図、第8図は第7図の各部動作波形図であ
る。 1・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・
・・・入力パルス2.3.18.19・・・・・・・・
・出力線路抵抗可変論理ゲート4.4′・・・・・・・
・・・・・・・・・・・・・・インバータ5・・・・・
・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・出力パ
ルス21.31.41・・・・・・・・・・・・Pチャ
ンネルMOSトランジスタ22、32.42・・・・・
・・・・NチャンネルMOSトランジスタ
FIG. 1 is a circuit diagram showing one embodiment of a pulse delay circuit according to the present invention, FIG. 2 is a waveform diagram of each part of FIG. 1, and FIG. 3 is an implementation of an output line resistance variable logic gate different from FIG. An example circuit diagram, FIG. 4 is a block diagram of another embodiment of the pulse delay circuit according to the present invention, FIG. 5 is an operation waveform diagram of each part of FIG. 4,
6 is a circuit diagram of the non-inverting gate shown in FIG. 4, FIG. 7 is a block diagram of still another embodiment of the pulse delay circuit according to the present invention, and FIG. 8 is a diagram of operation waveforms of each part of FIG. 7. . 1・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・
...Input pulse 2.3.18.19...
・Output line resistance variable logic gate 4.4'...
・・・・・・・・・・・・・・・Inverter 5・・・・・・
・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・Output pulse 21.31.41・・・・・・・・・P channel MOS transistor 22, 32.42・・・・・・
...N-channel MOS transistor

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 複数の論理ゲートを直列に接続して初段の論理ゲートに
入力パルスを印加し、最終段の論理ゲート出力に遅延出
力パルスを有するパルス遅延回路において、相異なる偶
数個の論理ゲートからその次段の論理ゲートの入力端に
至る出力線路にMOSトランジスタの導電路を直列に挿
入し、該MOSトランジスタのゲート端子を共通に接続
して該MOSトランジスタの溝通路抵抗値を制御する電
圧印加端子となし、上記MOSトランジスタの挿入され
た偶数個の出力線路のうちの半数の出力線路で上記入力
パルスの一方のパルスエッジの伝送時の出力線路抵抗値
を、残りの半数の出力線路で上記入力パルスの他方のパ
ルスエッジの伝送時の出力線路抵抗値を変化するように
構成したことを特徴とするパルス遅延回路。
In a pulse delay circuit in which a plurality of logic gates are connected in series and an input pulse is applied to the first stage logic gate, and a delayed output pulse is applied to the final stage logic gate output, the input pulse is applied from a different even number of logic gates to the next stage logic gate. A conductive path of a MOS transistor is inserted in series in an output line leading to an input end of a logic gate, and the gate terminals of the MOS transistors are connected in common to serve as a voltage application terminal for controlling the groove path resistance value of the MOS transistor; The output line resistance value at the time of transmission of one pulse edge of the input pulse is determined by half of the output lines of the even number of output lines in which the MOS transistors are inserted, and the output line resistance value at the time of transmission of one pulse edge of the input pulse is determined by the output line resistance value of the other half of the output lines by the other half of the output lines. 1. A pulse delay circuit characterized in that the output line resistance value is changed during pulse edge transmission.
JP60088576A 1985-04-26 1985-04-26 Pulse delay circuit Expired - Lifetime JPH0622318B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP60088576A JPH0622318B2 (en) 1985-04-26 1985-04-26 Pulse delay circuit

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP60088576A JPH0622318B2 (en) 1985-04-26 1985-04-26 Pulse delay circuit

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS61248614A true JPS61248614A (en) 1986-11-05
JPH0622318B2 JPH0622318B2 (en) 1994-03-23

Family

ID=13946678

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP60088576A Expired - Lifetime JPH0622318B2 (en) 1985-04-26 1985-04-26 Pulse delay circuit

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH0622318B2 (en)

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS63136713A (en) * 1986-11-27 1988-06-08 Nec Corp Delay circuit
JPS63217820A (en) * 1987-03-06 1988-09-09 Nec Corp Cmos delay circuit
JPH01165212A (en) * 1987-10-05 1989-06-29 General Electric Co <Ge> Impedance converting circuit for multibit parallel digital signal circuit
JPH02131012A (en) * 1988-11-10 1990-05-18 Mitsubishi Electric Corp Delay circuit
JPH02189020A (en) * 1989-01-18 1990-07-25 Mitsubishi Electric Corp Delay element
JPH0332113A (en) * 1989-06-28 1991-02-12 Mitsubishi Electric Corp Semiconductor integrated circuit
JPH0818413A (en) * 1994-06-27 1996-01-19 Yamaha Corp Delay circuit
JPWO2008114699A1 (en) * 2007-03-21 2010-07-01 株式会社アドバンテスト Test equipment and measurement circuit

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2014045268A (en) 2012-08-24 2014-03-13 Toshiba Corp Time-to-digital conversion circuit and digital-to-time conversion circuit

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5039849A (en) * 1973-08-11 1975-04-12
JPS5339048A (en) * 1976-09-22 1978-04-10 Nec Corp Delay circuit

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5039849A (en) * 1973-08-11 1975-04-12
JPS5339048A (en) * 1976-09-22 1978-04-10 Nec Corp Delay circuit

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS63136713A (en) * 1986-11-27 1988-06-08 Nec Corp Delay circuit
JPS63217820A (en) * 1987-03-06 1988-09-09 Nec Corp Cmos delay circuit
JPH01165212A (en) * 1987-10-05 1989-06-29 General Electric Co <Ge> Impedance converting circuit for multibit parallel digital signal circuit
JPH02131012A (en) * 1988-11-10 1990-05-18 Mitsubishi Electric Corp Delay circuit
JPH02189020A (en) * 1989-01-18 1990-07-25 Mitsubishi Electric Corp Delay element
JPH0332113A (en) * 1989-06-28 1991-02-12 Mitsubishi Electric Corp Semiconductor integrated circuit
JPH0818413A (en) * 1994-06-27 1996-01-19 Yamaha Corp Delay circuit
JPWO2008114699A1 (en) * 2007-03-21 2010-07-01 株式会社アドバンテスト Test equipment and measurement circuit

Also Published As

Publication number Publication date
JPH0622318B2 (en) 1994-03-23

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3200703B2 (en) Delay circuit
US4972101A (en) Noise reduction in CMOS driver using capacitor discharge to generate a control voltage
US7042266B2 (en) Delay circuit and method
EP0195525A1 (en) Low power CMOS reference generator with low impedance driver
EP0254212A2 (en) MOS semiconductor circuit
JPH04345317A (en) Driver circuit, low noise driver circuit and low noise low vibration driver-receiver circuit
JPS60501931A (en) Chip group synchronizer
KR20010049227A (en) Level adjustment circuit and data output circuit thereof
US6072354A (en) Semiconductor device output buffer circuit for LSI
EP0606727B1 (en) Automatic control of buffer speed
US4532467A (en) CMOS Circuits with parameter adapted voltage regulator
JPS61248614A (en) Pulse delay circuit
US6380770B1 (en) Low ground bounce and low power supply bounce output driver with dual, interlocked, asymmetric delay lines
US6525569B1 (en) Driver circuit having shapable transition waveforms
US6614278B2 (en) Pulsed signal transition delay adjusting circuit
US6297688B1 (en) Current generating circuit
US7064587B2 (en) Output Buffer
US6930530B1 (en) High-speed receiver for high I/O voltage and low core voltage
US6114872A (en) Differential input circuit
US4130766A (en) Bucket brigade circuit
US4967104A (en) Circuit for increasing the output impedance of an amplifier
JPH10107598A (en) Delay circuit
WO1996038912A1 (en) Variable delay circuit
JPH1127057A (en) Semiconductor integrated circuit
JPS63185054A (en) Voltage step-up circuit