JPS61240106A - 定寸装置 - Google Patents
定寸装置Info
- Publication number
- JPS61240106A JPS61240106A JP26365084A JP26365084A JPS61240106A JP S61240106 A JPS61240106 A JP S61240106A JP 26365084 A JP26365084 A JP 26365084A JP 26365084 A JP26365084 A JP 26365084A JP S61240106 A JPS61240106 A JP S61240106A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
［産業上の利用分野］
本発明は、周面の一部に起伏又は凹部を有する被測定材
の外径測定に有効である、定寸装置に関する。
の外径測定に有効である、定寸装置に関する。
［従来の技術］
従来、定寸装置の被測定物と接触するセンサ部は第１図
に示す破線枠６０のように構成されている。即ち、本体
６２と、該本体６２に対し相反対方向に摺動する外筒６
５．６７と、前記外筒６５．６７のそれぞれに弾性的に
固定されている可動軸６１．６３と、前記可動軸６１．
６３のそれぞれに固定された接触子４１．４３から成る
一対の接触子４０と、前記可動軸６１．６３の相対変位
に応じてパルス信号を出力する変位量検出部９０と、前
記外筒６５をボールネジ８１を介して駆動するサーボモ
ータ７９と、前記外筒６５．６７のそれぞれに配設され
たラックネジ６９．７７、を相対する方向に移動させる
歯車７１．７３．７５とで構成される。
に示す破線枠６０のように構成されている。即ち、本体
６２と、該本体６２に対し相反対方向に摺動する外筒６
５．６７と、前記外筒６５．６７のそれぞれに弾性的に
固定されている可動軸６１．６３と、前記可動軸６１．
６３のそれぞれに固定された接触子４１．４３から成る
一対の接触子４０と、前記可動軸６１．６３の相対変位
に応じてパルス信号を出力する変位量検出部９０と、前
記外筒６５をボールネジ８１を介して駆動するサーボモ
ータ７９と、前記外筒６５．６７のそれぞれに配設され
たラックネジ６９．７７、を相対する方向に移動させる
歯車７１．７３．７５とで構成される。
前述した従来装置で、例えば、第２図（ａ）に示す断面
形状の加工品の外形を、回転時に測定すると、次の問題
が生じる。
形状の加工品の外形を、回転時に測定すると、次の問題
が生じる。
該加工品の回転角度と共に、前記変位量検出部９０から
出力される直径に対応したパルスの総量りの時間変化は
、同図（ｂ）に示すように、周面の形状５４及至５７に
対応して、区間Ｓ１及至Ｓ４で示される水平部、区間Ｆ
１及至Ｆ４で示される凹部が山川する。従って、同図（
ａ）に示す直径の真の値Ｄ○の測定は、前述した凹部の
区間が山川するために、極めて困難である。
出力される直径に対応したパルスの総量りの時間変化は
、同図（ｂ）に示すように、周面の形状５４及至５７に
対応して、区間Ｓ１及至Ｓ４で示される水平部、区間Ｆ
１及至Ｆ４で示される凹部が山川する。従って、同図（
ａ）に示す直径の真の値Ｄ○の測定は、前述した凹部の
区間が山川するために、極めて困難である。
ところが、前記加工品の形状が類似して、回転数が同じ
場合は、前記真の値Ｄｏの発生する区間Ｓ１、Ｓ２が、
−周期中に起こる位置はほぼ確定している。
場合は、前記真の値Ｄｏの発生する区間Ｓ１、Ｓ２が、
−周期中に起こる位置はほぼ確定している。
該区間８１（該区間８２）が−周期中に起る位置と、該
周期が予測できれば、該区間８１（該区間８２）に於け
るレベル値りを読みとることで、真のＩＤＯが測定出来
る。
周期が予測できれば、該区間８１（該区間８２）に於け
るレベル値りを読みとることで、真のＩＤＯが測定出来
る。
［発明が解決しようとする問題点〕
そこで、本発明は、真の値Ｄｏの測定時期を示す前記区
間８１（又は、前記区間Ｓ２）を、前記周期との関連に
おいて、予め設定し、測定物の回転速度を下降させるこ
となく、溝、突起を有した測定物の直径に関連した真の
ｆｆ１Ｄｏを、迅速に測定することを目的とする。
間８１（又は、前記区間Ｓ２）を、前記周期との関連に
おいて、予め設定し、測定物の回転速度を下降させるこ
となく、溝、突起を有した測定物の直径に関連した真の
ｆｆ１Ｄｏを、迅速に測定することを目的とする。
［問題点を解決するための手段］
本発明は、測定物に弾性的に接触する一対の接触子と、
該一対の接触子をスライドさせるスライド装置と、
前記一対の接触子の相対変位量を検出し、信号を出力す
る変位置検出部と、 前記変位量検出部からの信号に応じて、測定物の外形を
求める信号処理部と、 を有する定寸装置において、 前記信号処理部は、前記変位ｌ検出部から入力した信号
により、回転している測定物の回転周期を検出する周期
検出部と、 前記測定物の種類に応じて、前記測定物の回転周期に対
応した寸法測定のサンプリングタイミングを記憶したサ
ンプリングタイミング記憶部と、前記周期検出部からの
信号を入力し、前記サンプリングタイミング記憶部から
測定された回転周期に対応し、寸法測定のサンプリング
タイミングを求め、該サンプリングタイミングにおいて
、前記変位量検出部からの入力信号をサンプリングして
測定する計測部と、 から成る・ことを特徴とする定寸装置である。
る変位置検出部と、 前記変位量検出部からの信号に応じて、測定物の外形を
求める信号処理部と、 を有する定寸装置において、 前記信号処理部は、前記変位ｌ検出部から入力した信号
により、回転している測定物の回転周期を検出する周期
検出部と、 前記測定物の種類に応じて、前記測定物の回転周期に対
応した寸法測定のサンプリングタイミングを記憶したサ
ンプリングタイミング記憶部と、前記周期検出部からの
信号を入力し、前記サンプリングタイミング記憶部から
測定された回転周期に対応し、寸法測定のサンプリング
タイミングを求め、該サンプリングタイミングにおいて
、前記変位量検出部からの入力信号をサンプリングして
測定する計測部と、 から成る・ことを特徴とする定寸装置である。
周期検出部は、変位ｍ検出部から入力された信号により
測定物の回転周期を検出する装置である。
測定物の回転周期を検出する装置である。
記憶部は測定物の種類に応じた前記周期に対応した、サ
ンプリングタイミングに関する値を記憶する装置である
。前記サンプリングタイミングに関する値としては、例
えば、周期Ｔ１と、第２図（ｂ）における信＠Ｄの立ち
上り開始点又は、立下り開始点（以下ｔＪＰ点、ＤＷ点
と略す。）を通過した時刻から、直径に対応した真の値
Ｄｏが現れるまでの時期時間ｔでもよいし、或いは、前
記周期Ｔ１、前記時期時間ｔとの比である時期時間比Ｒ
と、測定物の種別Ｗｌｌｌ等が利用できる。後者の場合
は、検出した周期Ｔ１に前記Ｒを乗ずれば時期時間【が
求まる。
ンプリングタイミングに関する値を記憶する装置である
。前記サンプリングタイミングに関する値としては、例
えば、周期Ｔ１と、第２図（ｂ）における信＠Ｄの立ち
上り開始点又は、立下り開始点（以下ｔＪＰ点、ＤＷ点
と略す。）を通過した時刻から、直径に対応した真の値
Ｄｏが現れるまでの時期時間ｔでもよいし、或いは、前
記周期Ｔ１、前記時期時間ｔとの比である時期時間比Ｒ
と、測定物の種別Ｗｌｌｌ等が利用できる。後者の場合
は、検出した周期Ｔ１に前記Ｒを乗ずれば時期時間【が
求まる。
前記ＵＰ点、前記ＤＷ点の検出方法としては、例えば、
時刻ＴＡ、ＴＢに入力した信号０のレベルがＳＡ、ＳＢ
であるとき、前記ＳＡと前記ＳＢの差ＳＯの絶対値が、
予め設定され、立ち上り、立ち下りの判定尺度となる判
定幅ＳＷ （ＳＷは正の値）を越えたことと、前記ＳＯ
の符号を調べることで検出できる。
時刻ＴＡ、ＴＢに入力した信号０のレベルがＳＡ、ＳＢ
であるとき、前記ＳＡと前記ＳＢの差ＳＯの絶対値が、
予め設定され、立ち上り、立ち下りの判定尺度となる判
定幅ＳＷ （ＳＷは正の値）を越えたことと、前記ＳＯ
の符号を調べることで検出できる。
計測部は、前記周期検出部から入力した周期Ｔ１に応じ
て、前記記憶部から前記サンプリングタイミングを入力
し、該周期、該サンプリングタイミングに応じて、変位
」検出部から信号を入力し、測定物の寸法に対応した信
号を出力する装置である。
て、前記記憶部から前記サンプリングタイミングを入力
し、該周期、該サンプリングタイミングに応じて、変位
」検出部から信号を入力し、測定物の寸法に対応した信
号を出力する装置である。
［作用］
スライド装置は一対の接触子を測定物の外形を測定可能
な状態に接触させる。変位量検出部は前記一対の接触子
の位置状態に応じて、信号を信号処理部へ出力する。信
号処理部の周期検出部は入力した前記信号により、測定
物の回転周期を検出し、計測部へ出力する。計測部は、
入力した該周期に対応したサンプリングタイミングを記
憶部から入力し、前記周期、前記サンプリングタイミン
グに応じて、変位量検出部からサンプリングして測定物
の外形を測定する。
な状態に接触させる。変位量検出部は前記一対の接触子
の位置状態に応じて、信号を信号処理部へ出力する。信
号処理部の周期検出部は入力した前記信号により、測定
物の回転周期を検出し、計測部へ出力する。計測部は、
入力した該周期に対応したサンプリングタイミングを記
憶部から入力し、前記周期、前記サンプリングタイミン
グに応じて、変位量検出部からサンプリングして測定物
の外形を測定する。
［実施例］
以下本発明を具体的な実施例に基づいて詳しく説明する
。第１図は、本発明の具体的な１実施例に係る定寸装置
を説明するブロックダイアグラムである。本第１実施例
ではその断面を第２図（ａ）り に示す溝部５４乃至５７を有する測定物９７の外形を測
定する。
。第１図は、本発明の具体的な１実施例に係る定寸装置
を説明するブロックダイアグラムである。本第１実施例
ではその断面を第２図（ａ）り に示す溝部５４乃至５７を有する測定物９７の外形を測
定する。
スライド装置は、本体６２に対して摺動する外筒６５．
６７と、前記外筒６５をボールネジ８１を介して移動さ
せるサーボモータ７９と、前記外筒６５．６７のそれぞ
れにスプリングの張力により弾性的に固定されている可
動軸６１．６３と、前記外筒６５．６７の外部に配設さ
れたラックネジ６９．７７を相対方向に移動させる歯車
７１．７３．７５とで構成する。又、一対の接触子４０
は、接触子４１．４３から成り、それぞれ、可動軸６１
．６３の先端に配設されている。
６７と、前記外筒６５をボールネジ８１を介して移動さ
せるサーボモータ７９と、前記外筒６５．６７のそれぞ
れにスプリングの張力により弾性的に固定されている可
動軸６１．６３と、前記外筒６５．６７の外部に配設さ
れたラックネジ６９．７７を相対方向に移動させる歯車
７１．７３．７５とで構成する。又、一対の接触子４０
は、接触子４１．４３から成り、それぞれ、可動軸６１
．６３の先端に配設されている。
変位量検出部９０は、前記可動軸６１と共に移動するブ
ラケット６４に配設された磁気読取り器と、前記可動軸
６３に配設されたマグネスケールが、相対的に移動した
時、該相対移動に対応して信号を発する電気回路である
。
ラケット６４に配設された磁気読取り器と、前記可動軸
６３に配設されたマグネスケールが、相対的に移動した
時、該相対移動に対応して信号を発する電気回路である
。
第２図（ｂ）は、前記測定物９７を回転した時の、前記
変位量検出部９０からパルス回路１１を通じて出力され
るパルス数を符号を考慮した総和の時間変化を示し、縦
軸に直径に対応したレベルＤを示し、横軸に時間経過を
示す。レベルＤｏは前記測定物９７の直径の真の値を示
し、前記測定物９７が一回転する間に２箇所の、区ｌｌ
ｌ５１、＄２が現れる。
変位量検出部９０からパルス回路１１を通じて出力され
るパルス数を符号を考慮した総和の時間変化を示し、縦
軸に直径に対応したレベルＤを示し、横軸に時間経過を
示す。レベルＤｏは前記測定物９７の直径の真の値を示
し、前記測定物９７が一回転する間に２箇所の、区ｌｌ
ｌ５１、＄２が現れる。
第３図は、前記測定物９７の回転周期Ｔ１と、前述した
待機時間ｔを示した測定条件設定表である。例えば、種
別がＷｌの加工品で、周期Ｔｏの値としてＸ１１が検出
されたときは、待機時間ｔとしてはｙｌｌが選択される
。
待機時間ｔを示した測定条件設定表である。例えば、種
別がＷｌの加工品で、周期Ｔｏの値としてＸ１１が検出
されたときは、待機時間ｔとしてはｙｌｌが選択される
。
信号処理部１０は、前記変位量検出部９０から入力した
信号を波形整形するパルス化回路１１と、前記パルス化
回路１１から入力したパルス信号を符号を含めてカウン
トするアップダウンカウンタ１２と、周期検出部、記憶
部、計測部の機能を有する演算処理部１３とで構成され
る装置である。
信号を波形整形するパルス化回路１１と、前記パルス化
回路１１から入力したパルス信号を符号を含めてカウン
トするアップダウンカウンタ１２と、周期検出部、記憶
部、計測部の機能を有する演算処理部１３とで構成され
る装置である。
前記演算処理部１３は、ＣＰＵ１３１、ＲＯＭ１３２、
ＲＡＭ１３３から成る装置である。
ＲＡＭ１３３から成る装置である。
測定物９７は、研＊＊の主軸のチャックに保持されて、
その表面を研磨されている。
その表面を研磨されている。
数値制御装置２０からの計測指令により、定寸装置が起
動し、スライド装置は、一対の接触子４０を前記測定物
９７の外径に接触させる方向に移動させ、該一対の接触
子４０が前記測定物９７の外形に接触した後、前記可動
軸６１と外筒６９が所定の相対位置になった位置で移動
を停止させる。
動し、スライド装置は、一対の接触子４０を前記測定物
９７の外径に接触させる方向に移動させ、該一対の接触
子４０が前記測定物９７の外形に接触した後、前記可動
軸６１と外筒６９が所定の相対位置になった位置で移動
を停止させる。
変位量検出部９０は前記可動軸６３と前記可動軸６５の
相対移動に応じて、その変位に応じた信号を信号処理部
に出力する。
相対移動に応じて、その変位に応じた信号を信号処理部
に出力する。
信号処理部１０のパルス化回路１１は、入力した前記信
号を所定の形状のパルス信号に変換し、アップダウンカ
ウンタ１２に出力する。前記アップダウンカウンタ１２
は入力したパルスを符号を考慮してカウントし、該カウ
ントの結果は演算処理部１３に出力される。
号を所定の形状のパルス信号に変換し、アップダウンカ
ウンタ１２に出力する。前記アップダウンカウンタ１２
は入力したパルスを符号を考慮してカウントし、該カウ
ントの結果は演算処理部１３に出力される。
前記演算処理部１３が、測定物９７の外径である真のＷ
ｉＤＯを検出する過程を、コンピュータの処理を示す第
４図のフローチャートに従って説明する。
ｉＤＯを検出する過程を、コンピュータの処理を示す第
４図のフローチャートに従って説明する。
数値制御装置２ｏの、計測指令により定寸装置のＣＰＵ
１３１はステップ１００から実行を開始 、する。
１３１はステップ１００から実行を開始 、する。
ステップ１００で、アップダウンカウンタ１２を起動し
、次ステツプ１０２においてＣＰｔＪ１３１は、数値制
御装置２０から加工中の種別番号Ｗｍを入力する。ステ
ップ１０４乃至１１０は、入力信号の周期を検出するル
ーチンである。
、次ステツプ１０２においてＣＰｔＪ１３１は、数値制
御装置２０から加工中の種別番号Ｗｍを入力する。ステ
ップ１０４乃至１１０は、入力信号の周期を検出するル
ーチンである。
ステップ１０４乃至１０８で、前記凹部に基因するＤＷ
１点、ＤＷ２点を検出し、周期Ｔ１が検出されると、次
ステツプに進み、ＲＯＭ１３２から、前記Ｔ１に対応し
た待機時間ｔ１を選択して入力し、計測カウンタをリセ
ットし、サンプリングの準備をする。
１点、ＤＷ２点を検出し、周期Ｔ１が検出されると、次
ステツプに進み、ＲＯＭ１３２から、前記Ｔ１に対応し
た待機時間ｔ１を選択して入力し、計測カウンタをリセ
ットし、サンプリングの準備をする。
ステップ１１６乃至１２２はサンプリングタイミングを
見出すための工程で、ＵＰ点を検出した後、待機時間ｔ
１の時間をカウントする。ステップ１２４及至１２８で
は、信号りをサンプリングし、仕上目的とするＤＳを、
ＲＡＭ１３３より入力し、前記りと前記Ｏ８を比較し、
前記りの値が真の値ＤＳと等しいと判定された時は、次
ステツプに進み加工完了の信号が出力されるが、前記Ｏ
と前記ＤＳが等しくないと判定された時は、ステップ１
３２にジャンプし、ステップ１３２及至１３８で、前記
カウンタの値を利用し、カウントを継続し、次回すンプ
リングのための周期を検出した後、ステップ１１６にジ
ャンプする。
見出すための工程で、ＵＰ点を検出した後、待機時間ｔ
１の時間をカウントする。ステップ１２４及至１２８で
は、信号りをサンプリングし、仕上目的とするＤＳを、
ＲＡＭ１３３より入力し、前記りと前記Ｏ８を比較し、
前記りの値が真の値ＤＳと等しいと判定された時は、次
ステツプに進み加工完了の信号が出力されるが、前記Ｏ
と前記ＤＳが等しくないと判定された時は、ステップ１
３２にジャンプし、ステップ１３２及至１３８で、前記
カウンタの値を利用し、カウントを継続し、次回すンプ
リングのための周期を検出した後、ステップ１１６にジ
ャンプする。
本第１実施例によれば、測定物の周期Ｔ１と、待機時間
ｔを記憶するサンプリング記憶部と、計測部を設けたこ
とで、回転数が変わっても、又、量産加工の場合に前記
ｔが任意に抽出でき、加工途中で被測定材の回転速度を
変更することなく、迅速に直径の測定ができ、加工の能
率が向上できる。
ｔを記憶するサンプリング記憶部と、計測部を設けたこ
とで、回転数が変わっても、又、量産加工の場合に前記
ｔが任意に抽出でき、加工途中で被測定材の回転速度を
変更することなく、迅速に直径の測定ができ、加工の能
率が向上できる。
次に本第２実施例について述べる。第２実施例は、第５
図（ａ）に断面を示す測定物９８の直径の測定を目的と
し、加工方法、定寸装置の構成はほぼ第１実施例と同一
である。
図（ａ）に断面を示す測定物９８の直径の測定を目的と
し、加工方法、定寸装置の構成はほぼ第１実施例と同一
である。
直径に対応したレベル信号りは同図Ｎ））の様に、測定
物９８が１回転する間に、凹部、凸部を示す区間Ｆ１１
、Ｆ１２、及び、真の１ｉｌｌＤＯｏを示す区間８１２
、区間８１３が出現する。前記区間Ｆ１１の次に出現す
る前記区間８１２に°出現する真の値ＤＯを検出するこ
とが目的である。従つて区間Ｆ１１の開始の０Ｗ１１点
、終了のＩＪＰ１１点が検出できれば、０８１１点を検
出後、待機時間ｔ１１が経過した後に、変位信号りをサ
ンプリングすれば、測定物９８の外形Ｄ００が求まる。
物９８が１回転する間に、凹部、凸部を示す区間Ｆ１１
、Ｆ１２、及び、真の１ｉｌｌＤＯｏを示す区間８１２
、区間８１３が出現する。前記区間Ｆ１１の次に出現す
る前記区間８１２に°出現する真の値ＤＯを検出するこ
とが目的である。従つて区間Ｆ１１の開始の０Ｗ１１点
、終了のＩＪＰ１１点が検出できれば、０８１１点を検
出後、待機時間ｔ１１が経過した後に、変位信号りをサ
ンプリングすれば、測定物９８の外形Ｄ００が求まる。
以下、前記ｔＪＰ１１点の検出方法を述べる。第６図（
ａ ）は前記レベルＤの変化を示し、同図（ｂ）及至（
ｅ）は、前記レベルＤの変化が、ＤＷ点、ＬＪＰ点を通
過した事を示した図であり、ＤＷ点、ＬＪＰ点ををそれ
ぞれ、通過する毎に合計ΣＰの値として（−１）、又は
、（＋１）を加算し、通過点に於ける合計ΣＰを示した
ものであり、４種類表示し°たのは、周期の可能な検出
開始位置が４箇所存在するからである。
ａ ）は前記レベルＤの変化を示し、同図（ｂ）及至（
ｅ）は、前記レベルＤの変化が、ＤＷ点、ＬＪＰ点を通
過した事を示した図であり、ＤＷ点、ＬＪＰ点ををそれ
ぞれ、通過する毎に合計ΣＰの値として（−１）、又は
、（＋１）を加算し、通過点に於ける合計ΣＰを示した
ものであり、４種類表示し°たのは、周期の可能な検出
開始位置が４箇所存在するからである。
同図で明白なように、前記ΣＰの値が最少になった時が
、前記ＤＷＩ １点であることがわかる。
、前記ＤＷＩ １点であることがわかる。
又、−回転中にＤＷ点が３箇所、ＵＰ点が２箇所である
から総計５箇所のＤＷ点、ＵＰ点を得るまで検出を継続
することと、前記ΣＰの最小値を検出することにある。
から総計５箇所のＤＷ点、ＵＰ点を得るまで検出を継続
することと、前記ΣＰの最小値を検出することにある。
前記ΣＰの最小値を◎印で示す。
以下第７図のフローチャートを用いて説明する。
ステップ２００乃至２１２は、総計５個のＤＷ点、ＵＰ
点を検出するまで前記ΣＰを算出し、該ΣＰの最小値を
レジスタＢに保存する工程である。
点を検出するまで前記ΣＰを算出し、該ΣＰの最小値を
レジスタＢに保存する工程である。
ステップ２２０及至２２８で、前記最小値ΣＰで示され
るＤＷｌ １点を検出する。その後次ステツプで周期Ｔ
１を検出し、ステップ２３０以降では、第１実施例と同
様の方法で、サンプリングし。
るＤＷｌ １点を検出する。その後次ステツプで周期Ｔ
１を検出し、ステップ２３０以降では、第１実施例と同
様の方法で、サンプリングし。
該サンプリング結果を判定する。
本第２実施例によれば、計測部の解析方法を変更したこ
とで、凹凸の複雑な測定物の直径も迅速に測定できる。
とで、凹凸の複雑な測定物の直径も迅速に測定できる。
〔発明の効果Ｊ
本発明によれば、周期検出部、サンプリングタイミング
記憶部、計測部を配設したことで、周面に凸部、溝等の
起伏のある被測定材であっても、その直径を回転速度を
下降させることなく、迅速に測定することができる。
記憶部、計測部を配設したことで、周面に凸部、溝等の
起伏のある被測定材であっても、その直径を回転速度を
下降させることなく、迅速に測定することができる。
第１図は本発明の具体的な第１実施例に係る定寸装置の
構成を示したブロックダイアグラムである。第２図（ａ
）、第５図（ａ）はそれぞれは同第１実施例、第２実施
例に於いて使用した被測定物の断面図であり、第２図（
ｂ）、第５図（ｂ）はそれぞれ、同第１実施例、第２実
施例に於いて使用した寸法信号の説明図である。第３図
は、同第１実施例に於いて使用した測定条件設定の説明
図である。第６図は、同第２実施例に於いて使用したサ
ンプリングタイムの開始点を求めるための説明図である
。第７図は同第２実施例に於いて使用した計算機の処理
するプログラムを示したフローチャートである。 特許出願人 豊田工機株式会社 代理人 弁理士 大川 宏 同 弁理士 藤谷 修 同 弁理士 丸山明夫 イ Ｏ（廊ｌ４ｒ１−ＩＩ７部憾−４と−に６率組第４図（
ａ） ゝ′ −ノ −ノ ＼ノ ζノ第７図
（ａ） 手続補正書（方式） ％式％ １、事件の表示 昭和５９年特許願第２６３６５０号 ２、発明の名称 定 寸 装 置 ３、補正をする者 事件との関係 特許出願人 愛知県刈谷市朝日町１丁目１番地 （３４７）豊田工機株式会社 代表者 浅 井 重 光 ４、代理人 〒４５０愛知県名古屋市中村区名駅３ 丁目３番の４ 児玉ビル（電話＜０５２＞５８３−９７２０）５、補正
命令の日付 昭和６１年３月３１日 （発送日 昭和６１年４月２２日） ６６補正の対象 ４、図面の簡単な説明 ７、補正の内容 明ｍ書の第１５頁の第８行目の「図である。」とのあと
に［第４図（ａ）及び第４図（ｂ）は同第１実施例に於
いて使用した計算機の処理するプログラムを示したフロ
ーチャー１・である。」を挿入します。
構成を示したブロックダイアグラムである。第２図（ａ
）、第５図（ａ）はそれぞれは同第１実施例、第２実施
例に於いて使用した被測定物の断面図であり、第２図（
ｂ）、第５図（ｂ）はそれぞれ、同第１実施例、第２実
施例に於いて使用した寸法信号の説明図である。第３図
は、同第１実施例に於いて使用した測定条件設定の説明
図である。第６図は、同第２実施例に於いて使用したサ
ンプリングタイムの開始点を求めるための説明図である
。第７図は同第２実施例に於いて使用した計算機の処理
するプログラムを示したフローチャートである。 特許出願人 豊田工機株式会社 代理人 弁理士 大川 宏 同 弁理士 藤谷 修 同 弁理士 丸山明夫 イ Ｏ（廊ｌ４ｒ１−ＩＩ７部憾−４と−に６率組第４図（
ａ） ゝ′ −ノ −ノ ＼ノ ζノ第７図
（ａ） 手続補正書（方式） ％式％ １、事件の表示 昭和５９年特許願第２６３６５０号 ２、発明の名称 定 寸 装 置 ３、補正をする者 事件との関係 特許出願人 愛知県刈谷市朝日町１丁目１番地 （３４７）豊田工機株式会社 代表者 浅 井 重 光 ４、代理人 〒４５０愛知県名古屋市中村区名駅３ 丁目３番の４ 児玉ビル（電話＜０５２＞５８３−９７２０）５、補正
命令の日付 昭和６１年３月３１日 （発送日 昭和６１年４月２２日） ６６補正の対象 ４、図面の簡単な説明 ７、補正の内容 明ｍ書の第１５頁の第８行目の「図である。」とのあと
に［第４図（ａ）及び第４図（ｂ）は同第１実施例に於
いて使用した計算機の処理するプログラムを示したフロ
ーチャー１・である。」を挿入します。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 測定物に弾性的に接触する一対の接触子と、該一対の接
触子をスライドさせるスライド装置と、 前記一対の接触子の相対変位量を検出し、信号を出力す
る変位量検出部と、 前記変位量検出部からの信号に応じて、測定物の外形を
求める信号処理部と、 を有する定寸装置において、 前記信号処理部は、前記変位量検出部から入力した信号
により、回転している測定物の回転周期を検出する周期
検出部と、 前記測定物の種類に応じて、前記測定物の回転周期に対
応した寸法測定のサンプリングタイミングを記憶したサ
ンプリングタイミング記憶部と、前記周期検出部からの
信号を入力し、前記サンプリングタイミング記憶部から
測定された回転周期に対応し、寸法測定のサンプリング
タイミングを求め、該サンプリングタイミングにおいて
、前記変位量検出部からの入力信号をサンプリングして
測定する計測部と、 から成ることを特徴とする定寸装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP26365084A JPS61240106A (ja) | 1984-12-13 | 1984-12-13 | 定寸装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP26365084A JPS61240106A (ja) | 1984-12-13 | 1984-12-13 | 定寸装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61240106A true JPS61240106A (ja) | 1986-10-25 |
| JPH0481126B2 JPH0481126B2 (ja) | 1992-12-22 |
Family
ID=17392419
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP26365084A Granted JPS61240106A (ja) | 1984-12-13 | 1984-12-13 | 定寸装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS61240106A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH10328993A (ja) * | 1997-05-26 | 1998-12-15 | Topcon Corp | レンズ形状測定装置 |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5582008A (en) * | 1978-11-14 | 1980-06-20 | Agency Of Ind Science & Technol | Measuring method of accuracy for revolution of or rotary shaft |
| JPS5698602A (en) * | 1980-01-11 | 1981-08-08 | Mitsubishi Electric Corp | Shape measurement method for cylinder or column |
| JPS589011A (ja) * | 1981-07-08 | 1983-01-19 | Tokyo Seimitsu Co Ltd | 円弧形状測定方法と装置 |
-
1984
- 1984-12-13 JP JP26365084A patent/JPS61240106A/ja active Granted
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5582008A (en) * | 1978-11-14 | 1980-06-20 | Agency Of Ind Science & Technol | Measuring method of accuracy for revolution of or rotary shaft |
| JPS5698602A (en) * | 1980-01-11 | 1981-08-08 | Mitsubishi Electric Corp | Shape measurement method for cylinder or column |
| JPS589011A (ja) * | 1981-07-08 | 1983-01-19 | Tokyo Seimitsu Co Ltd | 円弧形状測定方法と装置 |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH10328993A (ja) * | 1997-05-26 | 1998-12-15 | Topcon Corp | レンズ形状測定装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0481126B2 (ja) | 1992-12-22 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| EXPY | Cancellation because of completion of term |