JPS61237066A - 配電盤の試験回路 - Google Patents
配電盤の試験回路Info
- Publication number
- JPS61237066A JPS61237066A JP60078812A JP7881285A JPS61237066A JP S61237066 A JPS61237066 A JP S61237066A JP 60078812 A JP60078812 A JP 60078812A JP 7881285 A JP7881285 A JP 7881285A JP S61237066 A JPS61237066 A JP S61237066A
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- JP
- Japan
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- relay
- test
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- auxiliary
- circuit
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- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明は配電盤の試験回路に関するものであり、例え
ば保護リレー盤と遮断器との組合わせ試験並びに保護リ
レーの単独試験を行う配電盤の試験回路に関するもので
ある。
ば保護リレー盤と遮断器との組合わせ試験並びに保護リ
レーの単独試験を行う配電盤の試験回路に関するもので
ある。
従来この種の試験回路としては第２図に示すものがあう
た。因において、保護リレーの出力接点（１）と第１の
補助リレーのコイル（２）と遮断器の補助メイク接点←
）とは直列接続されており、例えば直流電圧１１０ Ｖ
が印加される電源線ｑＱ、αη間に接続されている。メ
イク接点（２ａｔ）はトリップ出力端（６）にトリップ
出力を生じる。トリップロック（ト）は保護リレーの単
独テスト時に、メイク接点（２ａ１）とトリップ出力端
子（６）との接続を切るものである。
た。因において、保護リレーの出力接点（１）と第１の
補助リレーのコイル（２）と遮断器の補助メイク接点←
）とは直列接続されており、例えば直流電圧１１０ Ｖ
が印加される電源線ｑＱ、αη間に接続されている。メ
イク接点（２ａｔ）はトリップ出力端（６）にトリップ
出力を生じる。トリップロック（ト）は保護リレーの単
独テスト時に、メイク接点（２ａ１）とトリップ出力端
子（６）との接続を切るものである。
次に動作について説明する。保護リレー盤と遮断器との
組合わせ試験を行う場合に、保護リレー盤の試験端子か
ら変流器二次電流を入力することにより、保−リレーを
動作させ、その出力接点（１）を閉成させる。出力接点
（１）の閉成によって第１の補助リレーのコイル（２）
が励磁され、□そのメイク接点（２ａｌ）を閉成してト
リップ出力端子（６）にトリップ出力を生じさせ、遮断
器をトリップさせる。また、保護リレーの単独テストを
行う場合には、トリップロック（ト）においてメイク接
点（２ａ＋ ）とトリップ出力端子（６）との接続を切
って、上述と同様の動作により行う。
組合わせ試験を行う場合に、保護リレー盤の試験端子か
ら変流器二次電流を入力することにより、保−リレーを
動作させ、その出力接点（１）を閉成させる。出力接点
（１）の閉成によって第１の補助リレーのコイル（２）
が励磁され、□そのメイク接点（２ａｌ）を閉成してト
リップ出力端子（６）にトリップ出力を生じさせ、遮断
器をトリップさせる。また、保護リレーの単独テストを
行う場合には、トリップロック（ト）においてメイク接
点（２ａ＋ ）とトリップ出力端子（６）との接続を切
って、上述と同様の動作により行う。
従来の試験回路は以上のように構成されており、保護リ
レー盤の操作によって遮断器をトリップさせた場合、保
護リレー盤と遮断器とは遠く離れているため、遮断器が
トリップしたか否かをいちいち遮断器の股部個所まで確
認にいかなければならなかった。また、保護リレー盤に
おいて遮断器のトリップを確認しようとすると、遮断器
と保護リレー盤間にコレトロ□−ルケーブルを接続して
、遮断器の補助接点からの信号を、保護リレー盤におい
て受信する別図路を設けねばならない。さらに、保護リ
レーの単独テストを行う場合には、トリップロックを操
作して遮断器が動作しないようＫしているため、保護リ
レーの出力接点（１）に過電流が流れ続け、すばやくテ
ストを行わなければならないという問題点があった。
レー盤の操作によって遮断器をトリップさせた場合、保
護リレー盤と遮断器とは遠く離れているため、遮断器が
トリップしたか否かをいちいち遮断器の股部個所まで確
認にいかなければならなかった。また、保護リレー盤に
おいて遮断器のトリップを確認しようとすると、遮断器
と保護リレー盤間にコレトロ□−ルケーブルを接続して
、遮断器の補助接点からの信号を、保護リレー盤におい
て受信する別図路を設けねばならない。さらに、保護リ
レーの単独テストを行う場合には、トリップロックを操
作して遮断器が動作しないようＫしているため、保護リ
レーの出力接点（１）に過電流が流れ続け、すばやくテ
ストを行わなければならないという問題点があった。
この発明は、上記のような問題点を解消するためになさ
れたもので、例えば遮断器と保護リレー盤間に′コント
ロールケーブルを接続することなく、例えば保護リレー
盤において、一目瞭然に保護リレーと遮断器との良否を
確認でき、保護リレーの単独テスト時に、保護リレーの
出力接点に過電流を流し・続けることなく、容易にかつ
迅速にテストを行うことができる配電盤の試験回路を提
・供することを′目□的とする〇 〔問題点を解決するための手段〕 この□発明に係る配電盤の試験回路は、保護リレーと遮
、断器との組合わせテス゛ト時に、保護□リレーの出力
接点の閉成によって励磁され自己保持される補助リレー
と、この補助リレーのメイク接点に直列接続されたラン
プとを設け、保護リレーの単独テスト時に、前記補助リ
レーの励磁時に前゛記出力接点の回路を開放する前記補
助リレーのブレイク接点とを□設けたものである。
れたもので、例えば遮断器と保護リレー盤間に′コント
ロールケーブルを接続することなく、例えば保護リレー
盤において、一目瞭然に保護リレーと遮断器との良否を
確認でき、保護リレーの単独テスト時に、保護リレーの
出力接点に過電流を流し・続けることなく、容易にかつ
迅速にテストを行うことができる配電盤の試験回路を提
・供することを′目□的とする〇 〔問題点を解決するための手段〕 この□発明に係る配電盤の試験回路は、保護リレーと遮
、断器との組合わせテス゛ト時に、保護□リレーの出力
接点の閉成によって励磁され自己保持される補助リレー
と、この補助リレーのメイク接点に直列接続されたラン
プとを設け、保護リレーの単独テスト時に、前記補助リ
レーの励磁時に前゛記出力接点の回路を開放する前記補
助リレーのブレイク接点とを□設けたものである。
この発明における配電盤の試験回路は、保護リレーと遮
断器との組合わせテスト時に、保護リレーの出力接点の
閉成によって補助リレーを励磁、して自己保持させ、そ
のメイク接点によってランプを点□灯させて保護リレー
並びに遮断器の動作を確認し、保護リレーの単独テスト
時には、補助リレーのブレイク接点によって出力接点回
路を開放し、出力接点への過電流の流通を防止する。
断器との組合わせテスト時に、保護リレーの出力接点の
閉成によって補助リレーを励磁、して自己保持させ、そ
のメイク接点によってランプを点□灯させて保護リレー
並びに遮断器の動作を確認し、保護リレーの単独テスト
時には、補助リレーのブレイク接点によって出力接点回
路を開放し、出力接点への過電流の流通を防止する。
以下この発明の一実施例を図について説明する。、第１
図はこの発明に係る配電盤の試験回路の一実施例を示し
、図において、保護リレーの出力接点（１）と第１の補
助リレーのコイル（２）と運転時並びに遮断器と保護リ
レーとの共通テスト時に閉成される第１のスイッチ（３
）と遮断器の補助メイク接点（４）とは直列接続されて
、第１の直列回路（５）を形成している。トリップ出力
端子（６）には第１の補助リレーのメイク接点（２ａｙ
）と第１のスイッチ（３）とが直列接続されて、トリッ
プ回路（７）を形成している。
図はこの発明に係る配電盤の試験回路の一実施例を示し
、図において、保護リレーの出力接点（１）と第１の補
助リレーのコイル（２）と運転時並びに遮断器と保護リ
レーとの共通テスト時に閉成される第１のスイッチ（３
）と遮断器の補助メイク接点（４）とは直列接続されて
、第１の直列回路（５）を形成している。トリップ出力
端子（６）には第１の補助リレーのメイク接点（２ａｙ
）と第１のスイッチ（３）とが直列接続されて、トリッ
プ回路（７）を形成している。
第２のスイッチ（８）は共通テスト時並びに保護リレー
の単独テスト時に閉成されるもので、この第２のスイッ
チ（８）と第１の補助リレーのメイク接続（２ａ２）と
第２の補助リレーのコイル（９）とが直列接続され゛、
メイク接点（２ａ２）に自己保持用の第２の補助リレー
のメイク接点（ｓａｌ）が並列接続されて、第２の直列
口、路四を形成している。第３のスイッチα〃は保護リ
レーの単独テスト時に閉成されるもので、この第３のス
イッチ（ロ）と第２の補助リレーのブレイク接点（９ｂ
）との直列回路は、第１のスイッチ（３）と遮断器の補
助メイク接点（３）との直列回路に並列接続されて、保
護リレーの単独テスト回路（ロ）を形成している。第４
のスイッチ（２）は遮断器と保護リレーとの組合わせテ
スト時に閉成するもので、例えばグリーンランプである
弔１のランプ＜１４１に直列接続されている。第２のラ
ンプ（至）は例えばブルーランプであり、第２の補助リ
レーのメイク接点（ｓａｇ）と直列接続されている。電
源線ｒ：Ｊｆｊ、Ｑ′ｉ）は例えば直流電圧１１０ Ｖ
が印加されるものである。
の単独テスト時に閉成されるもので、この第２のスイッ
チ（８）と第１の補助リレーのメイク接続（２ａ２）と
第２の補助リレーのコイル（９）とが直列接続され゛、
メイク接点（２ａ２）に自己保持用の第２の補助リレー
のメイク接点（ｓａｌ）が並列接続されて、第２の直列
口、路四を形成している。第３のスイッチα〃は保護リ
レーの単独テスト時に閉成されるもので、この第３のス
イッチ（ロ）と第２の補助リレーのブレイク接点（９ｂ
）との直列回路は、第１のスイッチ（３）と遮断器の補
助メイク接点（３）との直列回路に並列接続されて、保
護リレーの単独テスト回路（ロ）を形成している。第４
のスイッチ（２）は遮断器と保護リレーとの組合わせテ
スト時に閉成するもので、例えばグリーンランプである
弔１のランプ＜１４１に直列接続されている。第２のラ
ンプ（至）は例えばブルーランプであり、第２の補助リ
レーのメイク接点（ｓａｇ）と直列接続されている。電
源線ｒ：Ｊｆｊ、Ｑ′ｉ）は例えば直流電圧１１０ Ｖ
が印加されるものである。
次に動作について説明する。運転状態時には第１のテス
トスイッチ（３）を閉成し、第２．第３．第４のテスト
スイッチ（８）、（ロ）、（至）を開、放する。この状
態においては、第１図の従来の回路構成と全く同じとな
る。次に遮断器と保護リレーとの共通テスト時には、第
１．第２．第４のテストスイッチ（ａ） 、 （８）
＊ Ｑ３を閉成する。第４のテストスイッチ（２）の閉
成によって第１のランプＱ４が点灯し、共通試験中であ
る仁とを表示する。この状態において保護リレー盤の試
験端子から変流器二次電流を入力し、保護リレーの出力
接点（１）を閉成させる。出力接点（１）の開成によっ
て第１の補助リレーコイル（２）が励磁され、そのメイ
ク接点（２ａｌ） 、 （２ａ２）を閉成させる。メイ
ク接点（２α１）の閉成によってトリップ出力端子（６
）にトリップ出力が生じ、遮断器をトリップさせると共
に、メイク接点（２１ｇ）の閉成によって第２の補助リ
レーコイル（９）を励磁し、そのメイク接点（９ａｔ）
−（９ａ＊）を閉成させる。メイク接点（９ａ１）の
閉成によって第２の補助リレーコイル（９）は自己保持
され、メイク接点（９ａｔ）の閉成によって第２のラン
プ四を点灯して、保護リレーが正常に動作したことを表
示する。
トスイッチ（３）を閉成し、第２．第３．第４のテスト
スイッチ（８）、（ロ）、（至）を開、放する。この状
態においては、第１図の従来の回路構成と全く同じとな
る。次に遮断器と保護リレーとの共通テスト時には、第
１．第２．第４のテストスイッチ（ａ） 、 （８）
＊ Ｑ３を閉成する。第４のテストスイッチ（２）の閉
成によって第１のランプＱ４が点灯し、共通試験中であ
る仁とを表示する。この状態において保護リレー盤の試
験端子から変流器二次電流を入力し、保護リレーの出力
接点（１）を閉成させる。出力接点（１）の開成によっ
て第１の補助リレーコイル（２）が励磁され、そのメイ
ク接点（２ａｌ） 、 （２ａ２）を閉成させる。メイ
ク接点（２α１）の閉成によってトリップ出力端子（６
）にトリップ出力が生じ、遮断器をトリップさせると共
に、メイク接点（２１ｇ）の閉成によって第２の補助リ
レーコイル（９）を励磁し、そのメイク接点（９ａｔ）
−（９ａ＊）を閉成させる。メイク接点（９ａ１）の
閉成によって第２の補助リレーコイル（９）は自己保持
され、メイク接点（９ａｔ）の閉成によって第２のラン
プ四を点灯して、保護リレーが正常に動作したことを表
示する。
この場合において、遮断器の補助メイク接点（４）が閉
成状態であっても、また開放状態であっても、何れの場
合においても第２のランプ（至）は点灯するため、゛こ
の状態では遮断器の動作は確認できない。
成状態であっても、また開放状態であっても、何れの場
合においても第２のランプ（至）は点灯するため、゛こ
の状態では遮断器の動作は確認できない。
このため、この状態において第２のテストスイッチ（８
）を一度開放して第２の補助リレーコイル（９）を無励
磁とし、その後再び閉成する。即ち、遮断器が正常に遮
断動作していれば、その補助メイク接点（４）が開放し
ているため、第１の補助リレーコイル（２）は励磁され
ず、そのメイク接点（２ａｚ ）は閉じず、第２の補助
リレーコイル（９）は励磁されない。
）を一度開放して第２の補助リレーコイル（９）を無励
磁とし、その後再び閉成する。即ち、遮断器が正常に遮
断動作していれば、その補助メイク接点（４）が開放し
ているため、第１の補助リレーコイル（２）は励磁され
ず、そのメイク接点（２ａｚ ）は閉じず、第２の補助
リレーコイル（９）は励磁されない。
従って、第２のランプ（至）は点灯せず、遮断器が正常
に動作したことが確認できる。
に動作したことが確認できる。
一方、遮断器が正常に遮断動作をしていなければ、その
補助メイク接点（４）は閉成状態を持続しているため、
前述の動作と同様にして再び第２のランプｃＬＩ１９が
点灯コ、遮断器の動作が正常でないことが確認できる。
補助メイク接点（４）は閉成状態を持続しているため、
前述の動作と同様にして再び第２のランプｃＬＩ１９が
点灯コ、遮断器の動作が正常でないことが確認できる。
次に保護リレーの単独テスト時には、第１．第４のテス
トスイッチ（３）ｅ（Ｊ３を開放し、第２．第３のテス
トスイッチ（８）、（６）を閉成する。この状態におい
て保′□護リレー盤の試験端子から変流器二次電流を入
力し、保護リレーの出力接点（１）を閉成させる。出力
接点（１）の閉成によって第１の補助リレーコイル（２
）が励磁され、そのメイク接点（２ａ ｓ） 、 （２
ａ ｚ）を閉成させる。メイク接点（２ａ１）が閉成し
ても第１のスイッチ（３）が開放しているため、トリッ
プ出力端子（６）にはトリップ出力が生じず、遮断器は
遮断しない。
トスイッチ（３）ｅ（Ｊ３を開放し、第２．第３のテス
トスイッチ（８）、（６）を閉成する。この状態におい
て保′□護リレー盤の試験端子から変流器二次電流を入
力し、保護リレーの出力接点（１）を閉成させる。出力
接点（１）の閉成によって第１の補助リレーコイル（２
）が励磁され、そのメイク接点（２ａ ｓ） 、 （２
ａ ｚ）を閉成させる。メイク接点（２ａ１）が閉成し
ても第１のスイッチ（３）が開放しているため、トリッ
プ出力端子（６）にはトリップ出力が生じず、遮断器は
遮断しない。
一方、メイク接点（２ａｔ）の閉成によって第２の補助
リレーのコイル（９）は励磁され、そのメイ多接点（ｓ
ａｘ）を閉じて自己保持すると共に、メイク接点（９ａ
２）を閉じて第２のランプ（ト）を点灯させ、保護リレ
ーが正常に動作したことを表示する。またブレイク接点
（９ｂ）の開放によって出力接点（１）の閉回路は開放
され、出力接点（１）に過電流が流れ続けることはない
。
リレーのコイル（９）は励磁され、そのメイ多接点（ｓ
ａｘ）を閉じて自己保持すると共に、メイク接点（９ａ
２）を閉じて第２のランプ（ト）を点灯させ、保護リレ
ーが正常に動作したことを表示する。またブレイク接点
（９ｂ）の開放によって出力接点（１）の閉回路は開放
され、出力接点（１）に過電流が流れ続けることはない
。
なお、第１．第２．第３．第４のスイッチ（３）。
（８）、αη、（Ｌｌを、運転時に閉成される運転接点
と、保護リレーと遮断器との共通テスト時に閉成される
共通試験接点と、保護リレーの単独テスト時に閉成され
る単独試験接点との三点切換スイッチで構成してもよい
。
と、保護リレーと遮断器との共通テスト時に閉成される
共通試験接点と、保護リレーの単独テスト時に閉成され
る単独試験接点との三点切換スイッチで構成してもよい
。
以上のようにこの発明によれば、尿膜リレーの動作並び
に遮断器の遮断、動作時にランプを点灯。
に遮断器の遮断、動作時にランプを点灯。
消灯させて、低膜リレーの動作並びに遮断器の遮断動作
が正常であることが容易に確認でき、保護リレーの単独
テスト時に、保護リレーの出力接点の閉成によって補助
リレーを励磁して自己保持させ、そのブレイク接点によ
って出力接点の閉回路を開き、かつそのメイク接点によ
ってランプを点灯させて保護リレーが正常であることを
表示しているため、出力接点に過電流が流れ続けること
がなく、テストを容易にかつ迅速に行うことができる効
果がある。
が正常であることが容易に確認でき、保護リレーの単独
テスト時に、保護リレーの出力接点の閉成によって補助
リレーを励磁して自己保持させ、そのブレイク接点によ
って出力接点の閉回路を開き、かつそのメイク接点によ
ってランプを点灯させて保護リレーが正常であることを
表示しているため、出力接点に過電流が流れ続けること
がなく、テストを容易にかつ迅速に行うことができる効
果がある。
第１図はこの発明に係る配電盤の試験回路の一実施例を
示す電気結線図、第２図は従来の配電盤の試験回路を示
す電気結線図である。 図において、（１）は保護リレーの出力接点、（２）は
第１の補助リレーのコイル、（３）は第１のスイッチ、
（４）は遮断器の補助メイク接点、（５）は第１の直列
回路、（７）はトリップ回路、（８）は第２のスイッチ
、（９）は第２の補助リレーのコイル、（９ａｔ） −
（９ａｔ）はメイク接点、叫は第２の直列回路、東は第
３のスイッチ、四は保護リレーの単独テスト回路、（至
）は第２のランプである。 なお、各図中同一符号は同一または相当部分を示す。
示す電気結線図、第２図は従来の配電盤の試験回路を示
す電気結線図である。 図において、（１）は保護リレーの出力接点、（２）は
第１の補助リレーのコイル、（３）は第１のスイッチ、
（４）は遮断器の補助メイク接点、（５）は第１の直列
回路、（７）はトリップ回路、（８）は第２のスイッチ
、（９）は第２の補助リレーのコイル、（９ａｔ） −
（９ａｔ）はメイク接点、叫は第２の直列回路、東は第
３のスイッチ、四は保護リレーの単独テスト回路、（至
）は第２のランプである。 なお、各図中同一符号は同一または相当部分を示す。
Claims (2)
- （１）保護リレーの出力接点と第１の補助リレーのコイ
ルと運転時及び前記保護リレーと遮断器との共通テスト
時に閉成する第１のスイッチと遮断器の補助メイク接点
とが直列接続されてなる第１の直列回路、前記第１の補
助リレーのメイク接点と前記第１のスイッチとが直列接
続されてなるトリップ回路、共通テスト時及び前記保護
リレーの単独テスト時に閉成する第２のスイッチと第１
の補助リレーのメイク接点と第２の補助リレーのコイル
とが直列接続され第２の補助リレーの自己保持用のメイ
ク接点が前記第１の補助リレーのメイク接点に並列接続
されてなる第２の直列回路、前記第１のスイッチと前記
遮断器の補助メイク接点との直列回路に並列接続された
単独テスト時に閉成する第３のスイッチと前記第２の補
助リレーのブレイク接点との直列回路からなる保護リレ
ー単独テスト回路、及び第２の補助リレーのメイク接点
に直列接続されたランプを備えたことを特徴とする配電
盤の試験回路。 - （２）第１〜第４のスイッチは、運転時に閉成される運
転接点と保護リレーと遮断器との共通テスト時に閉成さ
れる共通接点と保護リレーの単独テスト時に閉成される
単独接点とを切換える切換えスイッチで構成されている
特許請求の範囲第（１）項記載の配電盤の試験回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60078812A JPS61237066A (ja) | 1985-04-12 | 1985-04-12 | 配電盤の試験回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60078812A JPS61237066A (ja) | 1985-04-12 | 1985-04-12 | 配電盤の試験回路 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61237066A true JPS61237066A (ja) | 1986-10-22 |
Family
ID=13672254
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60078812A Pending JPS61237066A (ja) | 1985-04-12 | 1985-04-12 | 配電盤の試験回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS61237066A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5428294A (en) * | 1993-08-11 | 1995-06-27 | Chrysler Corporation | Reverse/forward bias tester for relay and diode packages |
| CN102590743A (zh) * | 2012-03-07 | 2012-07-18 | 甘肃电力科学研究院 | 直流电源动态模拟仿真系统 |
-
1985
- 1985-04-12 JP JP60078812A patent/JPS61237066A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5428294A (en) * | 1993-08-11 | 1995-06-27 | Chrysler Corporation | Reverse/forward bias tester for relay and diode packages |
| CN102590743A (zh) * | 2012-03-07 | 2012-07-18 | 甘肃电力科学研究院 | 直流电源动态模拟仿真系统 |
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